JP7468138B2 - 乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置、乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定方法、および乗客コンベアの手摺の製造方法 - Google Patents

Description

本開示は、乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置、乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定方法、および乗客コンベアの手摺の製造方法に関する。

特許文献１は、乗客コンベアの手摺の点検装置の例を開示する。点検装置は、手摺の表面の凹凸状態を検出する。

特開２００２－２１１８７２号公報

特許文献１の点検装置は、手摺の表側に接触するローラーの変位によって凹凸状態を検出するが、ローラーと手摺の間に異物が入る場合、またはローラーがスムーズに回転しない場合などには，手摺の表面に傷が付く可能性がある。また、ローラーの接触位置が手摺の頂点部から外れた場合に、断面寸法の正確な測定が難しい場合がある。

本開示は、このような課題の解決に係るものである。本開示は、手摺の表面への傷付きを防止し、手摺の断面寸法を正確に測定できる乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置、乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定方法、および乗客コンベアの手摺の製造方法を提供する。

本開示に係る乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置は、乗客コンベアの手摺の長手方向に垂直な変位を抑制する保持部と、表側計測光を発する投光部および表側計測光を検出する受光部を有し、投光部および受光部が手摺を挟むように配置され、受光部による表側計測光の検出の有無によって手摺の表側形状を計測する表側計測部と、裏側計測光を発する光源および裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部を有し、裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離および光案内部を介して裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離を取得することで手摺の裏側形状を計測する裏側計測部と、表側計測部が計測した表側形状および裏側計測部が計測した裏側形状に基づいて手摺の断面寸法を算出する算出部と、を備え、算出部は、裏側形状に基づいて手摺の傾きを算出し、手摺の傾きに基づいて断面寸法を算出する。
本開示に係る乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置は、乗客コンベアの手摺の長手方向に垂直な変位を抑制する保持部と、表側計測光を発する投光部および表側計測光を検出する受光部を有し、投光部および受光部が手摺を挟むように配置され、受光部による表側計測光の検出の有無によって手摺の表側形状を計測する表側計測部と、裏側計測光を発する光源および裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部を有し、裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離および光案内部を介して裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離を取得することで手摺の裏側形状を計測する裏側計測部と、表側計測部が計測した表側形状および裏側計測部が計測した裏側形状に基づいて手摺の断面寸法を算出する算出部と、を備え、算出部は、裏側形状における特徴点を抽出し、抽出した特徴点の位置に基づいて手摺の断面寸法を算出する。
本開示に係る乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置は、乗客コンベアの手摺の長手方向に垂直な変位を抑制する保持部と、表側計測光を発する投光部および表側計測光を検出する受光部を有し、投光部および受光部が手摺を挟むように配置され、受光部による表側計測光の検出の有無によって手摺の表側形状を計測する表側計測部と、裏側計測光を発する光源および裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部を有し、裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離および光案内部を介して裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離を取得することで手摺の裏側形状を計測する裏側計測部と、表側計測部が計測した表側形状および裏側計測部が計測した裏側形状に基づいて手摺の断面寸法を算出する算出部と、表側計測部および裏側計測部が取り付けられ、手摺の長手方向に移動する移動機構と、を備える。
本開示に係る乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置は、乗客コンベアの手摺の長手方向に垂直な変位を抑制する保持部と、表側計測光を発する投光部および表側計測光を検出する受光部を有し、投光部および受光部が手摺を挟むように配置され、受光部による表側計測光の検出の有無によって手摺の表側形状を計測する表側計測部と、裏側計測光を発する光源および裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部を有し、裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離および光案内部を介して裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離を取得することで手摺の裏側形状を計測する裏側計測部と、表側計測部が計測した表側形状および裏側計測部が計測した裏側形状に基づいて手摺の断面寸法を算出する算出部と、を備え、保持部は、手摺の表側を上方から押さえるクランプ機構、および手摺の裏側を下方から支持する２つ以上のローラーを有し、２つ以上のローラーが手摺の長手方向においてクランプ機構の両側に配置される。
本開示に係る乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置は、乗客コンベアの手摺の長手方向に垂直な変位を抑制する保持部と、表側計測光を発する投光部および表側計測光を検出する受光部を有し、投光部および受光部が手摺を挟むように配置され、受光部による表側計測光の検出の有無によって手摺の表側形状を計測する表側計測部と、裏側計測光を発する光源および裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部を有し、裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離および光案内部を介して裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離を取得することで手摺の裏側形状を計測する裏側計測部と、表側計測部が計測した表側形状および裏側計測部が計測した裏側形状に基づいて手摺の断面寸法を算出する算出部と、を備え、保持部は、手摺の左右方向に開閉することで左右方向の幅が可変であり、手摺の裏側を下方から支持する開閉機構を備える。

本開示に係る乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定方法は、乗客コンベアの手摺を挟むように配置された投光部および受光部によって、投光部が発する表側計測光の受光部による検出の有無によって手摺の表側形状を計測し、裏側計測光を発する光源および裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部によって、裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離および光案内部を介して裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離を取得することで手摺の裏側形状を計測する計測工程と、計測工程において計測された表側形状および裏側形状に基づいて、手摺の断面寸法を算出する算出工程と、を備え、算出工程は、裏側形状に基づいて手摺の傾きを算出する手順を含み、算出工程において、手摺の断面寸法は、手摺の傾きに基づいて算出される。
本開示に係る乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定方法は、乗客コンベアの手摺を挟むように配置された投光部および受光部によって、投光部が発する表側計測光の受光部による検出の有無によって手摺の表側形状を計測し、裏側計測光を発する光源および裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部によって、裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離および光案内部を介して裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離を取得することで手摺の裏側形状を計測する計測工程と、計測工程において計測された表側形状および裏側形状に基づいて、手摺の断面寸法を算出する算出工程と、計測工程の後に、裏側形状における特徴点を抽出する抽出工程と、を備え、算出工程において、手摺の断面寸法は、抽出工程において抽出された特徴点の位置に基づいて算出される。

本開示に係る乗客コンベアの手摺の製造方法は、乗客コンベアの手摺を成形する成形工程と、成形工程において成形された手摺の断面寸法を上記の測定方法によって測定する測定工程と、測定工程において測定された手摺の断面寸法および予め設定された断面寸法に対する基準値の比較に基づいて、手摺の断面寸法の良否判定を行う良否判定工程と、を備える。

本開示に係る乗客コンベアの手摺の製造方法は、乗客コンベアの手摺を成形する成形工程と、成形工程によって成形された手摺を切り出し、切り出された手摺の両端部をつなぎ合わせて輪を形成するつなぎ工程と、つなぎ工程のつなぎ目における手摺の断面寸法を上記の測定方法によって測定する測定工程と、測定工程において測定された手摺の断面寸法および予め設定された断面寸法に対する基準値の比較に基づいて、手摺の断面寸法の良否判定を行う良否判定工程と、を備える。
本開示に係る乗客コンベアの手摺の製造方法は、乗客コンベアの手摺を成形する成形工程と、成形工程によって成形された手摺を切り出し、切り出された手摺の両端部をつなぎ合わせて輪を形成するつなぎ工程と、つなぎ工程のつなぎ目における手摺の断面寸法を所定の測定方法によって測定する測定工程と、測定工程において測定された手摺の断面寸法および予め設定された断面寸法に対する基準値の比較に基づいて、手摺の断面寸法の良否判定を行う良否判定工程と、を備える乗客コンベアの手摺の製造方法であり、所定の測定方法は、手摺を挟むように配置された投光部および受光部によって、投光部が発する表側計測光の受光部による検出の有無によって手摺の表側形状を計測し、裏側計測光を発する光源および裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部によって、裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離および光案内部を介して裏側計測光を反射した手摺の部分までの距離を取得することで手摺の裏側形状を計測する計測工程と、計測工程において計測された表側形状および裏側形状に基づいて、手摺の断面寸法を算出する算出工程と、を備える測定方法である。

本開示に係る測定装置、測定方法、または製造方法によれば、乗客コンベアの手摺の表面への傷付きを防止し、手摺の断面寸法を正確に測定できる。

実施の形態１に係る測定装置の側面図である。 実施の形態１に係る測定装置の正面図である。 実施の形態１に係る手摺の断面寸法の例を示す図である。 実施の形態１に係る光案内部の上面図である。 実施の形態１に係る光案内部の正面図である。 実施の形態１に係る光案内部の側面図である。 実施の形態１に係る保持部の正面図である。 実施の形態１に係る保持部の側面図である。 実施の形態１に係る保持部の上面図である。 実施の形態１に係る手摺の製造方法の例を示すフローチャートである。 実施の形態１に係る手摺の表側形状の計測の例を示す図である。 実施の形態１に係る算出部による特徴点の抽出の例を示す図である。 実施の形態１に係る手摺の傾きの例を示す図である。 実施の形態１に係る手摺の裏側形状の計測の例を示す図である。 実施の形態１に係る測定装置の主要部のハードウェア構成図である。 実施の形態２に係る測定装置の側面図である。 実施の形態２に係る測定装置の正面図である。 実施の形態２に係る開閉機構の正面図である。 実施の形態２に係る開閉機構の上面図である。 実施の形態２に係る開閉機構の側面図である。 実施の形態２に係るローラーの側面図である。 実施の形態２に係るクランプ機構の側面図である。 実施の形態２に係るクランプ機構の正面図である。

本開示を実施するための形態について添付の図面を参照しながら説明する。各図において、同一または相当する部分には同一の符号を付して、重複する説明は適宜に簡略化または省略する。

実施の形態１．
図１は、実施の形態１に係る測定装置１の側面図である。

測定装置１は、乗客コンベアの手摺２の断面寸法を測定する装置である。

乗客コンベアは、例えば、循環移動するステップまたはパレットなどに乗っている乗客を輸送する装置である。乗客コンベアは、例えばエスカレーターである。手摺２は、ステップまたはパレットなどに乗って輸送される乗客コンベアの乗客が掴む部分である。手摺２は、乗客コンベアにおいてステップまたはパレットなどと連動して循環移動する無端状の部材である。乗客コンベアにおいて、手摺２の長手方向は、乗客の輸送方向に向けられる。手摺２は、製造過程において測定装置１によって断面寸法を測定される。手摺２の断面寸法は、手摺２の長手方向に垂直な断面における寸法である。手摺２は、例えばウレタン樹脂などの弾性材料および帆布などによって形成される。

この例において、手摺２の長手方向をｘ軸の方向とする。測定装置１によって断面寸法を測定されるときに、手摺２の長手方向は、水平方向に向けられる。このとき、手摺２の上面の法線は、鉛直方向の上側を向く。この例において、鉛直方向をｚ軸の方向とする。また、ｘ軸に垂直な水平面内の方向をｙ軸とする。ｘ軸、ｙ軸、およびｚ軸は、互いに垂直である。手摺２の前後方向は、ｘ軸の方向に向けられる。手摺２の左右方向は、ｙ軸の方向に向けられる。手摺２の上下方向は、ｚ軸の方向に向けられる。

測定装置１は、保持部３を備える。保持部３は、手摺２を保持する部分である。保持部３は、手摺２の長手方向に垂直な変位を抑制する。保持部３は、２つのガイド４を備える。一方のガイド４は、断面寸法が測定される手摺２の部分の前方に配置される。他方のガイド４は、断面寸法が測定される手摺２の部分の後方に配置される。

図２は、実施の形態１に係る測定装置１の正面図である。

図２において、手摺２の断面形状が示される。この例において、手摺２の断面は、Ｃ字状の形状である。

測定装置１は、表側計測部５と、裏側計測部６と、演算装置７と、を備える。

表側計測部５は、手摺２の表側形状を計測する部分である。手摺２の表側形状は、例えば手摺２の上端、左端、および右端の各々の位置を含む。表側計測部５は、上端計測部８と、左端計測部９と、右端計測部１０と、を備える。上端計測部８は、手摺２の上端の位置を計測する部分である。左端計測部９は、手摺２の左端の位置を計測する部分である。右端計測部１０は、手摺２の右端の位置を計測する部分である。上端計測部８、左端計測部９、および右端計測部１０の各々は、投光部１１および受光部１２を備える。

投光部１１は、表側計測光１３を発する部分である。表側計測光１３は、表側形状の計測に用いられる光である。この例において、投光部１１は、表側計測光１３として帯状光を発する。表側計測光１３は、例えば、レーザ光源、ＬＥＤ照明光源（ＬＥＤ：Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）、またはハロゲン光源などの光源が発する光を、シリンドリカルレンズまたはスリットなどを通じて帯状にした光などである。あるいは、表側計測光１３は、レーザ光源などの指向性の高い点光源が発する光をポリゴンミラーなどによって直線状に走査することで帯状にした光であってもよい。あるいは、表側計測光１３は、レーザ光源などの指向性の高い点光源を直線状に複数並べることで、当該複数の点光源が発する光を帯状にしたものであってもよい。

受光部１２は、投光部１１が発した表側計測光１３を検出する部分である。受光部１２は、例えば投光部１１が発する表側計測光１３の幅のうちどの範囲を受光したかを検出する１次元撮像デバイスを有する。ここで、１次元撮像デバイスは、投光部１１、受光部１２、および手摺２の配置に応じた倍率を有するレンズを備えていてもよい。１次元撮像デバイスは、表側計測光１３のうちのいずれかの波長または偏光成分を選択的に透過させるフィルタを備えていてもよい。１次元撮像デバイスは、入射する光量を調整する絞り機構またはＮＤフィルタ（ＮＤ：Ｎｅｕｔｒａｌ Ｄｅｎｓｉｔｙ）などを備えていてもよい。

投光部１１および受光部１２は、手摺２を挟むように配置される。受光部１２は、手摺２によって遮蔽されずに投光部１１から伝播した表側計測光１３を１次元撮像デバイスが検出した範囲に基づいて、手摺２の端部の位置を出力する。

この例において、上端計測部８の投光部１１は、手摺２の上端部の左側に配置される。上端計測部８の投光部１１は、手摺２の上端を含む範囲に表側計測光１３を発する。上端計測部８の受光部１２は、手摺２の上端部の右側に配置される。上端計測部８の受光部１２は、表側計測光１３のうち手摺２によって遮蔽された部分と遮蔽されずに伝播した部分との境界の位置に基づいて、手摺２の上端の位置を計測する。

この例において、左端計測部９の投光部１１は、手摺２の左端部の上側に配置される。左端計測部９の投光部１１は、手摺２の左端を含む範囲に表側計測光１３を発する。左端計測部９の受光部１２は、手摺２の左端部の下側に配置される。左端計測部９の受光部１２は、表側計測光１３のうち手摺２によって遮蔽された部分と遮蔽されずに伝播した部分との境界の位置に基づいて、手摺２の左端の位置を計測する。

この例において、右端計測部１０の投光部１１は、手摺２の右端部の上側に配置される。右端計測部１０の投光部１１は、手摺２の右端を含む範囲に表側計測光１３を発する。右端計測部１０の受光部１２は、手摺２の右端部の下側に配置される。右端計測部１０の受光部１２は、表側計測光１３のうち手摺２によって遮蔽された部分と遮蔽されずに伝播した部分との境界の位置に基づいて、手摺２の右端の位置を計測する。

裏側計測部６は、手摺２の裏側形状を計測する部分である。手摺２の裏側形状は、例えば手摺２の下面および内側などの形状を含む。裏側計測部６は、手摺２の裏側形状を２次元上で計測する。裏側計測部６は、裏側計測光１４を発する図示されない光源を有する。裏側計測光１４は、裏側形状の計測に用いられる光である。この例において、裏側計測部６は、２次元撮像デバイスを搭載する。裏側計測部６は、例えば２次元撮像デバイスによって、手摺の裏側の表面から反射された裏側計測光１４の像を取得し、三角測量などの方法を用いて手摺２の裏側の表面までの距離に変換する。裏側計測部６は、例えばレンズなどを用いて裏側計測光１４を手摺２の裏側の左右方向にわたって拡げることで手摺２の裏側形状の２次元の計測を行う。裏側計測部６は、例えば光切断法によって裏側形状を計測する。ここで、裏側計測部６が取得した裏側計測光１４の像から変換する距離は、例えば裏側計測部６からの距離である。裏側計測部６からの距離は、例えば裏側計測部６の投光光学系または受光光学系などからの距離である。投光光学系は、光源を含む裏側計測光１４を発する光学系である。受光光学系は、２次元撮像デバイスなどを含む裏側計測光１４を受ける光学系である。裏側計測部６からの距離は、例えば裏側計測部６の投光光学系および受光光学系を結ぶ基線などからの距離であってもよい。

裏側計測部６は、光案内部１５を備える。光案内部１５は、裏側計測光１４の伝播方向を変換して案内する部分である。光案内部１５は、断面寸法が測定される手摺２の部分の裏側に配置される。

演算装置７は、表側計測部５および裏側計測部６の計測結果などの演算処理を行う部分である。演算装置７は、例えばパーソナルコンピュータなどの電子計算機である。あるいは、演算装置７は、マイクロコントローラなどの演算素子を有する装置であってもよい。演算装置７は、算出部１６と、良否判定部１７と、表示部１８と、を備える。算出部１６は、表側計測部５および裏側計測部６の計測結果に基づいて、手摺２の断面寸法を算出する部分である。良否判定部１７は、算出部１６が算出した断面寸法と、予め設定された断面寸法に対する基準値との比較に基づいて、手摺２の断面寸法の良否を判定する部分である。良否判定部１７は、例えば、算出部１６が算出した断面寸法が基準値に対して公差の範囲内にあるときに、手摺２の断面寸法を「良」と判定する。表示部１８は、良否判定部１７の判定結果を表示する部分である。表示部１８は、例えばディスプレイ装置である。

続いて、図３を用いて、手摺２の断面寸法の例を説明する。
図３は、実施の形態１に係る手摺２の断面寸法の例を示す図である。

手摺２の断面形状は、Ｃ字状の形状である。手摺２の断面寸法は、開口幅Ａ、内形幅Ｂ、外形幅Ｃ、上部の最大厚さＪ、および内形上部の膨らみの高さＭを含む。左側について、手摺２の断面寸法は、外形高さＤ１、開口左端から外形左端までの幅Ｅ１、開口左端から内形左端までの幅Ｆ１、内形下端から内形上端までの高さＧ１、外形下端から内形下端までの高さＫ１、および内形左端から外形左端までの幅Ｌ１を含む。右側について、手摺２の断面寸法は、外形高さＤ２、開口右端から外形右端までの幅Ｅ２、開口右端から内形右端までの幅Ｆ２、内形下端から内形上端までの高さＧ２、外形下端から内形下端までの高さＫ２、および内形右端から外形右端までの幅Ｌ２を含む。

続いて、図４から図６を用いて、裏側計測部６の構成を説明する。
図４は、実施の形態１に係る光案内部１５の上面図である。
図５は、実施の形態１に係る光案内部１５の正面図である。
図６は、実施の形態１に係る光案内部１５の側面図である。

図４に示されるように、裏側計測部６の光源の光軸の方向は、裏側計測光１４の光源から手摺２の裏側の中心に向く方向である。裏側計測部６の２次元撮像デバイスの光軸の方向は、裏側計測光１４の２次元撮像デバイスから手摺２の裏側の中心に向く方向である。

図５に示されるように、光案内部１５は、例えばミラーまたはプリズムなどの光学部品を有する。この例において、光案内部１５は、反射によって光の伝播方向を変換する２つのミラー１９を有する。ミラー１９の反射面は、裏側計測部６の左右の対称面に対して４５°傾いて配置される。２つのミラー１９は、左右に並んで配置される。左側のミラー１９は、下方から入射する裏側計測光１４を手摺２の左側の内面に案内する。右側のミラー１９は、下方から入射する裏側計測光１４を手摺２の右側の内面に案内する。

裏側計測部６は、手摺の裏側の表面から反射された裏側計測光１４の像を取得し、三角測量などの方法を用いて手摺２の裏側の表面までの距離の情報に変換する。ここで、裏側計測光１４が光案内部１５によって案内されている場合に、裏側計測部６は、光案内部１５を介して手摺２の裏側の表面から反射された裏側計測光１４の像を取得し、三角測量などの方法を用いて手摺２の裏側の表面までの距離の情報に変換する。このとき、裏側計測部６が変換して得た距離の情報は、例えば光案内部１５までの距離および光案内部１５から手摺２の裏側の表面までの距離の和の情報などである。

図６に示されるように、裏側計測部６の光源は、断面寸法が測定される手摺２の部分の真下に配置される。裏側計測部６の２次元撮像デバイスの光軸は、手摺２の前後方向に傾いている。すなわち、裏側計測部６の２次元撮像デバイスは、断面寸法が測定される手摺２の部分の前方または後方に配置される。

続いて、図７から図９を用いて、保持部３の構成を説明する。
図７は、実施の形態１に係る保持部３の正面図である。
図８は、実施の形態１に係る保持部３の側面図である。
図９は、実施の形態１に係る保持部３の上面図である。

図７に示されるように、手摺２の長手方向に垂直な面内における各々のガイド４の断面形状は、Ｔ字状の形状である。手摺２は、各々のガイド４に下部の開口端から被せられるように配置される。各々のガイド４は、手摺２の内側に接することで、長手方向に垂直な面内における手摺２の変位を抑制する。各々のガイド４は、手摺２に傷がつくことを予防するように、角の部分にＲ面取り加工が施されている。また、各々のガイド４は、ネジによる固定部を有する場合に、ネジ穴の部分にザグリ加工が施されている。

図８に示されるように、各々のガイド４の上面は、光案内部１５の上端部より上方に配置される。これにより、光案内部１５は手摺２の裏面に干渉しにくくなる。

図９に示されるように、手摺２は、ｘ軸の正側から負側に向けて各々のガイド４に通される。すなわち、ｘ軸の正側が上流側である。各々のガイド４の上面の上流側の端部の形状は、左右方向の幅が端部に向かうにつれて狭くなる形状である。この例において、各々のガイド４の上面の上流側の端部の形状は、台形状である。これにより、手摺２は各々のガイド４にスムーズに通されるようになる。

続いて、図１０を用いて、測定装置１を用いた手摺２の製造方法の例を説明する。
図１０は、実施の形態１に係る手摺２の製造方法の例を示すフローチャートである。

手摺２の製造方法は、成形工程と、測定工程と、良否判定工程と、を備える。測定工程は、計測工程と、抽出工程と、補正工程と、算出工程と、を備える。

まず、ステップＳ１において、成形工程の作業が行われる。成形工程において、乗客コンベアの手摺２は、例えば押出成形機によってＣ字状の断面形状を有するように長手方向に対称に成形される。

次に、測定工程において、手摺２の製造作業の作業員は、手摺２を測定装置１に設置する。このとき、作業員は、例えば手摺２を始端から保持部３の各々のガイド４に被せるように設置する。作業員は、手摺２を上流側から下流側に移動させながら測定工程における各工程の作業を行う。

次に、ステップＳ２の計測工程において、表側計測部５および裏側計測部６によって、手摺２の表側形状および裏側形状が計測される。手摺２の計測結果は、演算装置７の算出部１６に入力される。

次に、ステップＳ３の抽出工程において、算出部１６は、計測された裏側形状における特徴点を抽出する。抽出される特徴点は、例えば手摺２および光案内部１５の形状および配置に対応する。抽出される特徴点は、計測された２次元の裏側形状における極大点、極小点、またはエッジの位置などである。ここで、エッジは、例えば勾配が極大または極小になる点などである。

次に、ステップＳ４の補正工程において、算出部１６は、予め設定された補正パラメータに基づいて、抽出された特徴点の位置を補正する。特徴点は、裏側計測部６の裏側計測光１４による計測に基づいて抽出されている。ここで、裏側計測光１４の一部は、光案内部１５を経由して伝播している。光案内部１５を経由する裏側計測光１４の光路は、光案内部１５の取付け誤差などの影響を受ける。また、光案内部１５が裏側計測光１４を透過させるプリズムなどである場合に、裏側計測光１４の光路は、プリズムの屈折率などの影響を受ける。このような裏側計測光１４への影響による特徴点の位置の誤差を、算出部１６は、予め設定された補正パラメータに基づいて例えば次のように補正する。

算出部１６は、抽出された特徴点の位置の値Ｖ_ｍを、式（１）によって補正後の値Ｖ_ｔに変換する。ここで、Ｖ_ｊ、α_ｕ、β_ｕ、α_ｌ、およびβ_ｌは、特徴点の種類ごとに予め設定される補正パラメータである。補正パラメータは、例えば光案内部１５の屈折率または反射率などの光学特性、および光案内部１５の配置および形状などに基づいて設定されてもよい。

・・・・・・（１）

あるいは、算出部１６は、取付け誤差による手摺２の基準位置からの変位Δｄが得られる場合に、抽出された特徴点の位置の値Ｖｍを、式（２）によって補正後の値Ｖ_ｔに変換する。ここで、αは、特徴点の種類ごとに予め設定される補正パラメータである。取付け誤差による手摺２の変位Δｄは、例えば表側計測部５の計測結果に基づいて取得される。

・・・・・・（２）

なお、算出部１６は、式（１）および式（２）による補正を組み合わせて行ってもよい。また、算出部１６は、ステップＳ４の補正工程を省略してもよい。

次に、ステップＳ５の算出工程において、算出部１６は、補正された特徴点の位置に基づいて、手摺２の断面寸法を算出する。

次に、ステップＳ６の良否判定工程において、良否判定部１７は、算出工程において算出された断面寸法と、予め設定された断面寸法に対する基準値とを比較する。良否判定部１７は、比較の結果に基づいて、手摺２の断面寸法の良否を判定する。良否判定部１７は、例えば、算出部１６が算出した断面寸法のうち基準値に対して公差の範囲外のものがないときに、手摺２の断面寸法を「良」と判定する。

なお、ステップＳ２からステップＳ６までの工程は、手摺２の長手方向において一定の距離ごとの測定点において繰り返し行われてもよい。あるいは、手摺２が上流側から下流側に連続して移動している場合に、ステップＳ２からステップＳ６までの工程は、一定の時間ごとに繰り返し行われてもよい。

その後、作業員は、手摺２を予め定められた長さの部分に切り出す。このとき、切り出された手摺２の部分は、良否判定部１７によって「否」と判定された部分を含まない。作業員は、切り出した手摺２の部分の両端を例えばプレス加工によってつなぎ合わせて輪を形成する。このように、無端状の手摺２が製造される。

続いて、図１１を用いて、手摺２の表側形状の計測の例を説明する。
図１１は、実施の形態１に係る手摺２の表側形状の計測の例を示す図である。

表側計測部５は、手摺２の表側形状として、上端、左端、および右端の各々の位置を計測する。上端計測部８は、上端のｚ座標ｄ_０を計測する。左端計測部９は、左端のｘ座標ｃ_１を計測する。右端計測部１０は、右端のｘ座標ｃ_２を計測する。

続いて、図１２を用いて、算出部１６による特徴点の抽出の例を説明する。
図１２は、実施の形態１に係る算出部１６による特徴点の抽出の例を示す図である。

図１２において、裏側計測部６によって計測された２次元の裏側形状のデータが示される。算出部１６は、裏側計測部６より、ｙｚ平面における座標として２次元の裏側形状のデータを取得する。図１２において、横軸のｙ軸は、裏側形状のデータにおける水平方向の座標を表す。縦軸のｚ軸は、裏側形状のデータにおける鉛直方向の座標を表す。

算出部１６は、鉛直方向のｚ座標の極小点２０を左右の各々から２点抽出する。算出部１６は、２つの極小点２０の間の範囲において、鉛直方向のｚ座標の極大点２１を左右の各々から２点抽出する。

算出部１６は、左右の各々において、第１エッジ２２の水平方向のｙ座標を抽出する。第１エッジ２２は、左右の各々において、２つの極小点２０の内側にある最も外側のエッジである。算出部１６は、左右の各々において、第２エッジ２３の水平方向のｙ座標を抽出する。第２エッジ２３は、左右の各々において、２つの極大点２１の内側にある最も外側のエッジである。算出部１６は、左右の各々において、第３エッジ２４の水平方向のｙ座標を抽出する。第３エッジ２４は、左右の各々において、２つの第１エッジ２２の内側にあり、かつ、２つの極大点２１の外側にあるエッジである。

算出部１６は、例えば水平方向に対する鉛直方向の勾配が極大値または極小値を取る点の水平方向の座標をエッジの座標として抽出する。あるいは、算出部１６は、水平方向のデータ点の間隔が等間隔または大きく変動しない間隔である場合に、隣接するデータ点との鉛直方向の座標の差分値が極大値または極小値を取る点の水平方向の座標をエッジの座標として抽出してもよい。あるいは、算出部１６は、裏側形状のデータ点を結んだ曲線または折線がエッジに応じて予め設定された鉛直方向の高さと交わる点の座標をエッジの座標として抽出してもよい。算出部１６は、例えば抽出されたデータ点の左右のｚ座標の変化幅が予め設定された変化幅より小さい場合に、当該点をエッジではないとして除外してもよい。

続いて、図１３を用いて、手摺２の傾きの例を説明する。
図１３は、実施の形態１に係る手摺２の傾きの例を示す図である。

手摺２は、保持部３に保持されているときに、長手方向に垂直な面内において傾くことがある。この例において、手摺２は、水平面に対して角度θだけ傾いている。算出部１６は、手摺２の傾きの角度θに基づいて、手摺２の断面寸法を算出する。

続いて、図１４を用いて、断面寸法の算出の例を説明する。
図１４は、実施の形態１に係る手摺２の断面寸法の算出の例を示す図である。

図１４において、断面寸法の算出に用いられる２次元の裏側形状のデータが示される。断面寸法の算出に用いられる裏側形状のデータは、裏側計測部６によって計測されたデータまたは算出部１６によって補正されたデータのいずれであってもよい。図１４において、横軸のｙ軸は、裏側形状のデータにおける水平方向の座標を表す。縦軸のｚ軸は、裏側形状のデータにおける鉛直方向の座標を表す。

裏側形状のデータにおいて、案内領域のデータが含まれる。案内領域のデータは、光案内部１５を経由した裏側計測光１４によって計測された部分のデータである。この例において、光案内部１５の２つのミラー１９の反射面の傾きによって、案内領域の座標軸は回転および反転している。左側の案内領域において、裏側形状のデータにおけるｙ軸の正の方向は、手摺２の下方向であるｚ_１軸の負の方向に対応する。左側の案内領域において、裏側形状のデータにおけるｚ軸の正の方向は、手摺２の左方向であるｙ_１軸の負の方向に対応する。右側の案内領域において、裏側形状のデータにおけるｙ軸の正の方向は、手摺２の上方向であるｚ_２軸の正の方向に対応する。右側の案内領域において、裏側形状のデータにおけるｚ軸の正の方向は、手摺２の右方向であるｙ_２軸の正の方向に対応する。２つの第３エッジ２４は、左右の案内領域の境界である。すなわち、２つの第３エッジ２４は、光案内部１５の端部の位置に対応する。

算出部１６は、裏側形状のデータにおいて、データ点の座標を次のように取得する。

算出部１６は、左側の極小点２０の（ｙ，ｚ）座標を（ｑ_１，ｄ_１）として取得する。算出部１６は、右側の極小点２０の（ｙ，ｚ）座標を（ｑ_２，ｄ_２）として取得する。２つの極小点２０は、左右の外形下端の位置に対応する。

算出部１６は、左側の極大点２１のｙ座標をｂ_１として取得する。算出部１６は、右側の極大点２１のｙ座標をｂ_２として取得する。２つの極大点２１は、内形左端および内形右端の位置に対応する。

算出部１６は、左側の第１エッジ２２のｙ座標をａ_１として取得する。算出部１６は、右側の第１エッジ２２のｙ座標をａ_２として取得する。２つの第１エッジ２２は、開口左端および開口右端の位置に対応する。

算出部１６は、左側の第２エッジ２３のｙ座標をｇ_１として取得する。算出部１６は、右側の第２エッジ２３のｙ座標をｇ_２として取得する。２つの第２エッジ２３は、開口左側の先端曲げ部分の上端および開口右側の先端曲げ部分の上端の位置に対応する。

算出部１６は、左側の第１エッジ２２から予め設定された第１距離の分内側の基準点のｙ座標をｈ_１として取得する。当該基準点は、開口左端より予め設定された距離の分内側における手摺２の裏面の位置に対応する。算出部１６は、基準点から予め設定された第２距離の分の左右の点のｚ座標の平均値をｊ_１として取得する。ここで、第２距離は、第１距離より短い。同様に、算出部１６は、右側の第１エッジ２２から第１距離の分内側の基準点のｙ座標をｈ_２として取得する。当該基準点は、開口右端より予め設定された距離の分内側における手摺２の裏面の位置に対応する。算出部１６は、基準点から予め設定された第２距離の分の左右の点のｚ座標の平均値をｊ_２として取得する。

算出部１６において、２つの第２エッジ２３の内側の水平方向の座標の範囲に指定範囲が予め設定される。指定範囲は、手摺２の左右の中心を含むように設定される。指定範囲は、例えば２つの第２エッジ２３から予め設定された距離分内側の範囲であってもよい。算出部１６は、指定範囲に含まれるＮ点のデータ点について、鉛直方向のｚ座標の値の列をｍ＝｛ｍ_０，ｍ_１，…，ｍ_ｉ，…ｍ_Ｎ－１｝として取得する。算出部１６は、Ｎ点のデータ点の各々を、左右の基準点（ｈ_１，ｊ_１）および（ｈ_２，ｊ_２）を結んだ線分について鉛直方向に射影した点のｚ座標の値の列をｓ＝｛ｓ_０，ｓ_１，…．ｓ_ｉ，…ｓ_Ｎ－１｝として取得する。算出部１６は、ｍのうち最小の値をｊ_０として取得する。

算出部１６は、以上のように取得した座標の値に基づいて、手摺２の断面寸法を例えば次のように算出する。

算出部１６は、手摺２の傾きの角度θを式（３）に基づいて算出する。

・・・・・・（３）

算出部１６は、開口幅Ａを式（４）に基づいて算出する。ここで、ε_Ａは、開口幅Ａについて予め設定されたオフセット補正値である。

・・・・・・（４）

算出部１６は、内形幅Ｂを式（５）に基づいて算出する。ここで、ε_Ｂは、内形幅Ｂについて予め設定されたオフセット補正値である。また、左側の案内領域においてｚ軸の向きとｙ_１軸の向きとが反転しているため、ｂ_１に負号が付されている。

・・・・・・（５）

算出部１６は、外形幅Ｃを式（６）に基づいて算出する。ここで、ε_Ｃは、外形幅Ｃについて予め設定されたオフセット補正値である。

・・・・・・（６）

算出部１６は、外形高さＤ１および外形高さＤ２を式（７）に基づいて算出する。ここで、ε_Ｄ１は、外形高さＤ１について予め設定されたオフセット補正値である。ε_Ｄ２は、外形高さＤ２について予め設定されたオフセット補正値である。

・・・・・・（７）

算出部１６は、開口左端から外形左端までの幅Ｅ１および開口右端から外形右端までの幅Ｅ２を式（８）に基づいて算出する。ここで、ε_Ｅ１は、幅Ｅ１について予め設定されたオフセット補正値である。ε_Ｅ２は、幅Ｅ２について予め設定されたオフセット補正値である。

・・・・・・（８）

算出部１６は、開口左端から内形左端までの幅Ｆ１および開口右端から内形右端までの幅Ｆ２を式（９）に基づいて算出する。ここで、ε_Ｆ１は、幅Ｆ１について予め設定されたオフセット補正値である。ε_Ｆ２は、幅Ｆ２について予め設定されたオフセット補正値である。また、左側の案内領域においてｚ軸の向きとｙ_１軸の向きとが反転しているため、ｂ_１に負号が付されている。

・・・・・・（９）

算出部１６は、左側における内形下端から内形上端までの高さＧ１および右側における内形下端から内形上端までの高さＧ２を式（１０）に基づいて算出する。ここで、ε_Ｇ１は、高さＧ１について予め設定されたオフセット補正値である。ε_Ｇ２は、高さＧ２について予め設定されたオフセット補正値である。また、左側の案内領域においてｙ軸の向きとｚ_１軸の向きとが反転しているため、ｇ_１に負号が付されている。

・・・・・・（１０）

算出部１６は、上部の最大厚さＪを式（１１）に基づいて算出する。ここで、ε_Ｊは、厚さＪについて予め設定されたオフセット補正値である。

・・・・・・（１１）

算出部１６は、左側における外形下端から内形下端までの高さＫ１および右側における外形下端から内形下端までの高さＫ２を式（１２）に基づいて算出する。ここで、ε_Ｋ１は、高さＫ１について予め設定されたオフセット補正値である。ε_Ｋ２は、高さＫ２について予め設定されたオフセット補正値である。また、左側の案内領域においてｙ軸の向きとｚ_１軸の向きとが反転しているため、ｇ_１に負号が付されている。

・・・・・・（１２）

算出部１６は、内形左端から外形左端までの幅Ｌ１および内形右端から外形右端までの幅Ｌ２を式（１３）に基づいて算出する。ここで、ε_Ｌ１は、幅Ｌ１について予め設定されたオフセット補正値である。ε_Ｌ２は、幅Ｌ２について予め設定されたオフセット補正値である。また、左側の案内領域においてｚ軸の向きとｙ_１軸の向きとが反転しているため、ｂ_１に負号が付されている。

・・・・・・（１３）

算出部１６は、内形上部の膨らみの高さＭを式（１４）に基づいて算出する。ここで、ε_Ｍは、高さＭについて予め設定されたオフセット補正値である。

・・・・・・（１４）

以上に説明したように、実施の形態１に係る測定装置１は、保持部３と、表側計測部５と、裏側計測部６と、算出部１６と、を備える。保持部３は、乗客コンベアの手摺２の長手方向に垂直な変位を抑制する。表側計測部５は、投光部１１および受光部１２を有する。投光部１１は、表側計測光１３を発する。受光部１２は、投光部１１が発した表側計測光１３を検出する。投光部１１および受光部１２は、手摺２を挟むように配置される。表側計測部５は、受光部１２による表側計測光１３の検出の有無によって手摺２の表側形状を計測する。裏側計測部６は、光源、光案内部１５、および２次元撮像デバイスなどの２次元受光部を有する。光源は、裏側計測光１４を発する。光案内部１５は、裏側計測光１４の伝播方向を変換して案内する。裏側計測部６は、手摺２の裏側の表面から反射された裏側計測光１４の像を取得し、三角測量などの方法を用いて距離に変換する。裏側計測部６は、光案内部１５を介して手摺２の裏側の表面から反射された裏側計測光１４の像を取得し、三角測量などの方法を用いて距離に変換する。裏側計測部６は、これらの距離を取得することで手摺２の裏側形状を計測する。算出部１６は、表側計測部５が計測した表側形状および裏側計測部６が計測した裏側形状に基づいて手摺２の断面寸法を算出する。
また、実施の形態１に係る手摺２の断面寸法の測定方法は、計測工程と、算出工程と、を備える。計測工程は、投光部１１および受光部１２によって、投光部１１が発する表側計測光１３の受光部１２による検出の有無によって手摺２の表側形状を計測する手順を含む。計測工程は、光源、光案内部１５、および２次元受光部によって、手摺２の裏側の表面から反射された裏側計測光１４の像を取得し、三角測量などの方法を用いて距離に変換する手順を含む。計測工程は、光案内部１５を介して手摺２の裏側の表面から反射された裏側計測光１４の像を取得し、三角測量などの方法を用いて距離に変換する手順を含む。計測工程は、これらの距離を取得することで手摺２の裏側形状を計測する手順を含む。算出工程は、計測工程において計測された表側形状および裏側形状に基づいて、手摺２の断面寸法を算出する工程である。

測定装置１は、光案内部１５によって案内された裏側計測光１４によって裏側形状を計測する。これにより、測定装置１は、複雑な形状を裏側に有する手摺２であっても断面寸法を測定できる。また、測定装置１は、手摺２を挟んで配置される投光部１１および受光部１２によって表側形状を計測する。これにより、裏側形状より単純な表側形状の計測をより簡易な装置によって計測できる。このため、測定装置１の材料コスト、および製造コストなどが低減される。また、表側計測装置および裏側計測装置は、手摺２の表面に接触することなく光によって形状を計測する。このため、手摺２の表面に傷がつくことが予防される。また、手摺２の変形によって計測に誤差が生じることが予防される。

また、計測装置は、良否判定部１７を備える。良否判定部１７は、算出部１６が算出する手摺２の断面寸法および予め設定された断面寸法に対する基準値の比較に基づいて、手摺２の断面寸法の良否判定を行う。
また、実施の形態１に係る手摺２の製造方法は、成形工程と、測定工程と、良否判定工程と、を備える。成形工程は、乗客コンベアの手摺２を成形する工程である。測定工程は、成形工程において成形された手摺２の断面寸法を、測定装置１などを用いた測定方法によって測定する工程である。良否判定工程は、測定工程において測定された手摺２の断面寸法および予め設定された断面寸法に対する基準値の比較に基づいて、手摺２の断面寸法の良否判定を行う工程である。

複雑な形状を裏側に有する手摺２であっても、計測された断面寸法に基づいて良否判定を容易に安定して行うことができる。このため、製造された手摺２の品質が高められる。

また、表側計測部５は、表側形状として手摺２の上端、左端、および右端の各々の位置を計測する。

表側形状は、３つの代表点によって計測される。表側形状を包絡する最低限の位置を計測すればよいので、測定装置１の構成が単純になる。このため、測定装置１の材料コスト、および製造コストなどが低減される。

また、算出部１６は、裏側形状に基づいて手摺２の傾きを算出する。算出部１６は、手摺２の傾きに基づいて断面寸法を算出する。
また、算出工程は、裏側形状に基づいて手摺２の傾きを算出する手順を含む。算出工程において、手摺２の断面寸法は、手摺２の傾きに基づいて算出される。

これにより、測定装置１に手摺２を設置する際の設置精度の要求を緩和できる。これにより、装置の組み立て精度などが緩和される。このため、測定装置１の製造コストおよび組み立てコストなどが低減される。

また、算出部１６は、裏側形状における特徴点を抽出する。算出部１６は、抽出した特徴点の位置に基づいて手摺２の断面寸法を算出する。
また、測定方法は、計測工程の後に抽出工程を備える。抽出工程は、裏側形状における特徴点を抽出する工程である。算出工程において、手摺２の断面寸法は、抽出工程において抽出された特徴点の位置に基づいて算出される。
また、算出部１６は、予め設定された補正パラメータに基づいて特徴点の位置を補正する。
また、測定方法は、抽出工程の後に補正工程を備える。補正工程は、予め設定された補正パラメータに基づいて特徴点の位置を補正する工程である。算出工程において、手摺２の断面寸法は、補正工程において補正された特徴点の位置に基づいて算出される。

測定装置１は、光案内部１５の形状および配置、ならびに手摺２の形状および配置などを表す特徴点を抽出することで断面寸法を算出する。これにより、算出される断面寸法がより正確になる。また、測定装置１は、光案内部１５の光学特性などを含む既知の特性に基づいて特徴点の位置を補正する。これにより、算出される断面寸法がより正確になる。

なお、表側計測部５は、手摺２を挟んで回転または平行移動する投光部１１および受光部１２の組を含んでもよい。これにより、１組の投光部１１および受光部１２によって表側計測部５が構成される。また、表側計測部５は、線状光を走査することによって表側形状を計測してもよい。

また、裏側計測部６の光源が発する裏側計測光１４は、例えば、レーザ光源、ＬＥＤ照明光源、またはハロゲン光源などの光源が発する光を、シリンドリカルレンズまたはスリットなどを通じて線状にした光などであってもよい。あるいは、裏側計測光１４は、レーザ光源などの指向性の高い点光源が発する光をポリゴンミラーなどによって直線状に走査したものであってもよい。あるいは、裏側計測光１４は、直線状に複数並べられたレーザ光源などの指向性の高い点光源が発する光であってもよい。裏側計測部６は、反射光に対して、計測範囲および計測の分解能に応じた倍率を有するレンズを備えていてもよい。裏側計測部６は、反射光のうちのいずれかの波長または偏光成分を選択的に透過させるフィルタを備えていてもよい。裏側計測部６は、反射光の光量を調整する絞り機構またはＮＤフィルタなどを備えていてもよい。

また、光案内部１５は、反射面に傷がつくことを予防するために、測定を行わないときに退避しうるように上下移動機構を有していてもよい。また、光案内部１５は、取付けを容易にするために、裏側計測部６の光源の光軸に対して４５°傾いた傾斜面を有する位置決めブロックを有していてもよい。また、光案内部１５は、取付けを容易にするように、裏側計測部６の光源の光軸に対して４５°傾いて配置される位置決めピンを有していてもよい。

また、演算装置７は、測定装置１の動作の制御を行ってもよい。演算装置７が行う測定装置１の動作は、例えば光案内部１５が上下移動機構を有している場合に、上下移動機構の上下の移動などを含む。また、演算装置７は、無停電電源装置に接続されていてもよい。停電の発生を表す信号を検知するときに、演算装置７は、測定装置１の停止処理を開始してもよい。電源の投入を表す信号を検知するときに、演算装置７は、測定装置１の起動処理を開始してもよい。

また、測定装置１は、表側計測部５が発する表側計測光１３、および裏側計測部６が発する裏側計測光１４が作業員などの目に入ることを防ぐ遮蔽板を有してもよい。測定装置１は、測定中であることを周囲に報知する表示灯を有してもよい。測定装置１は、測定の開始および終了の操作を受け付けるボタンを有してもよい。測定装置１は、手摺２の始端および終端を検知するセンサを有してもよい。このとき、測定装置１は、例えば手摺２の始端および終端を検知することによって測定の開始および終了を自動で行ってもよい。

続いて、図１５を用いて、測定装置１のハードウェア構成の例について説明する。
図１５は、実施の形態１に係る測定装置１の主要部のハードウェア構成図である。

測定装置１の各機能は、処理回路により実現し得る。処理回路は、少なくとも１つのプロセッサ１００ａと少なくとも１つのメモリ１００ｂとを備える。処理回路は、プロセッサ１００ａおよびメモリ１００ｂと共に、あるいはそれらの代用として、少なくとも１つの専用ハードウェア２００を備えてもよい。

処理回路がプロセッサ１００ａとメモリ１００ｂとを備える場合、測定装置１の各機能は、ソフトウェア、ファームウェア、またはソフトウェアとファームウェアとの組み合わせで実現される。ソフトウェアおよびファームウェアの少なくとも一方は、プログラムとして記述される。そのプログラムはメモリ１００ｂに格納される。プロセッサ１００ａは、メモリ１００ｂに記憶されたプログラムを読み出して実行することにより、測定装置１の各機能を実現する。

プロセッサ１００ａは、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＤＳＰともいう。メモリ１００ｂは、例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭ、フラッシュメモリ、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭなどの、不揮発性または揮発性の半導体メモリなどにより構成される。

処理回路が専用ハードウェア２００を備える場合、処理回路は、例えば、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ＡＳＩＣ、ＦＰＧＡ、またはこれらの組み合わせで実現される。

測定装置１の各機能は、それぞれ処理回路で実現することができる。あるいは、測定装置１の各機能は、まとめて処理回路で実現することもできる。測定装置１の各機能について、一部を専用ハードウェア２００で実現し、他部をソフトウェアまたはファームウェアで実現してもよい。このように、処理回路は、専用ハードウェア２００、ソフトウェア、ファームウェア、またはこれらの組み合わせで測定装置１の各機能を実現する。

実施の形態２．
実施の形態２において、実施の形態１で開示される例と相違する点について特に詳しく説明する。実施の形態２で説明しない特徴については、実施の形態１で開示される例のいずれの特徴が採用されてもよい。

図１６は、実施の形態２に係る測定装置１の側面図である。

測定装置１は、移動機構２５を備える。移動機構２５は、手摺２の長手方向に移動可能な機構である。移動機構２５は、例えば１軸ロボットまたは１軸のエアシリンダなどである。移動機構２５は、リニアブッシュまたはリニアガイドなどのガイド機構を有してもよい。移動機構２５は、例えば演算装置７からの制御信号に基づいて動作する。

測定装置１の保持部３は、２つの開閉機構２６と、クランプ機構２７と、複数のローラー２８と、を備える。一方の開閉機構２６は、断面寸法が測定される手摺２の部分の前方に配置される。他方の開閉機構２６は、断面寸法が測定される手摺２の部分の後方に配置される。クランプ機構２７は、手摺２の表側を上方から押さえる機構である。クランプ機構２７は、断面寸法が測定される手摺２の部分の前後方向における両側を抑えうる位置に配置される。各々のローラー２８は、手摺２の裏側を下方から支持する機器である。いずれかのローラー２８は、断面寸法が測定される手摺２の部分の前方に配置される。他のいずれかのローラー２８は、断面寸法が測定される手摺２の部分の後方に配置される。複数のローラー２８のうちのいずれか２つは、手摺２の長手方向においてクランプ機構２７の両側に配置される。

２つの開閉機構２６、クランプ機構２７、および複数のローラー２８の各々を含む保持部３の機構および部材などは、手摺２に傷がつくことを予防するように、角の部分にＲ面取り加工が施されている。また、２つの開閉機構２６、クランプ機構２７、および複数のローラー２８の各々を含む保持部３の機構および部材などは、ネジによる固定部を有する場合に、ネジ穴の部分にザグリ加工が施されている。

図１７は、実施の形態２に係る測定装置１の正面図である。

表側計測部５および裏側計測部６は、移動機構２５に取り付けられる。この例において、表側計測部５および裏側計測部６は、手摺２の長手方向に垂直な面内における手摺２に対する相対位置が変わらないように取り付けられている。

続いて、図１８から図２０を用いて開閉機構２６の構成を説明する。
図１８は、実施の形態２に係る開閉機構２６の正面図である。
図１９は、実施の形態２に係る開閉機構２６の上面図である。
図２０は、実施の形態２に係る開閉機構２６の側面図である。

図１８に示されるように、手摺２の長手方向に垂直な面内における各々の開閉機構２６の断面形状は、Ｔ字状の形状である。開閉機構２６は、手摺２の長手方向に平行な中心線を含む鉛直面によって左右に分割されている。開閉機構２６は、分割された部分の少なくとも一方が左右に移動することで開閉する機構である。開閉機構２６の左右方向の幅は、開閉によって変化する。開閉機構２６の上面の左右方向の幅は、開いた状態において手摺２の内形幅の程度である。開閉機構２６の上面の左右方向の幅は、閉じた状態において手摺２の開口幅の程度である。手摺２は、閉じた状態の開閉機構２６に下部の開口端から被せられるように配置される。開閉機構２６は、手摺２が被せられた後に開かれることで、長手方向に垂直な面内における手摺２の変位を抑制する。開閉機構２６は、例えば作業員によって開閉させられる。あるいは、開閉機構２６は、例えば演算装置７からの制御信号に基づいて開閉してもよい。

図１９に示されるように、各々の開閉機構２６は、閉じた状態において、手摺２の長手方向の中心線から左右方向にずれた位置に配置されてもよい。このとき、各々の開閉機構２６は、開いた状態において手摺２の長手方向の中心線について対称に配置される。

図２０に示されるように、各々の開閉機構２６の上面は、光案内部１５の上端部より上方に配置される。これにより、光案内部１５は手摺２の裏面に干渉しにくくなる。

続いて、図２１を用いてローラー２８の構成を説明する。
図２１は、実施の形態２に係るローラー２８の側面図である。

この例において、保持部３は、４つのローラー２８を備える。４つのローラー２８は、前後に並ぶ。この例において、４つのローラー２８は、固定して設けられる。前方の２つのローラー２８は、断面寸法が測定される手摺２の部分の前方に配置される。後方の２つのローラー２８は、断面寸法が測定される手摺２の部分の後方に配置される。両端の２つのローラー２８は、中間の２つのローラー２８の下方に配置される。

続いて、図２２および図２３を用いてクランプ機構２７の構成を説明する。
図２２は、実施の形態２に係るクランプ機構２７の側面図である。
図２３は、実施の形態２に係るクランプ機構２７の正面図である。

図２２に示されるように、クランプ機構２７は、弾性体２９を有する。弾性体２９は、手摺２の表面に接触する部分に取り付けられる。弾性体２９は、例えばゴムなどである。弾性体２９は、例えばスポンジ状に形成される。

図２３に示されるように、クランプ機構２７は、例えばハンドル３０の操作によって弾性体２９が上下する。クランプ機構２７は、弾性体２９によって手摺２の表面を上方から押さえる。このとき、手摺２は、閉じた状態の開閉機構２６によって保持されている。

続いて、測定装置１を用いた手摺２の製造方法の例を説明する。

手摺２の製造方法は、成形工程と、つなぎ工程と、測定工程と、良否判定工程と、を備える。

成形工程において、手摺２は、例えば押出成形機によってＣ字状の断面形状を有するように長手方向に対称に成形される。

次に、つなぎ工程において、作業員は、成形された手摺２を予め定められた長さの部分に切り出す。作業員は、切り出した手摺２の部分の両端を例えばプレス加工によってつなぎ合わせて輪を形成する。このように、無端状の手摺２が成形される。

次に、測定工程において、作業員は、手摺２を測定装置１に設置する。このとき、作業員は、例えば閉じた状態の開閉機構２６の上に手摺２の裏面を載せる。作業員は、手摺２のつなぎ目の部分の断面寸法が計測されるように、光案内部１５の上方に手摺２のつなぎ目を配置する。その後、作業員は、開閉機構２６を開くことで手摺２を保持させる。その後、作業員は、クランプ機構２７によって手摺２を上方から押さえる。これにより、手摺２はより安定して保持される。

保持された手摺２のつなぎ目の部分に対して、測定装置１は、計測工程と、抽出工程と、補正工程と、算出工程と、を含む測定工程の動作を行う。ここで、計測工程において、手摺２の表側形状および裏側形状は、移動機構２５を移動させながら行われる。算出部１６は、表側形状および裏側形状として、移動機構２５の移動範囲において平均化された形状を取得する。

次に、良否判定工程において、良否判定部１７は、算出工程において算出された断面寸法と、予め設定された断面寸法に対する基準値とを比較する。良否判定部１７は、比較の結果に基づいて、手摺２の断面寸法の良否を判定する。良否判定部１７は、例えば、算出部１６が算出した断面寸法のうち基準値に対して公差の範囲外のものがないときに、手摺２の断面寸法を「良」と判定する。良否判定工程において良と判定された手摺２が、製品の手摺２となる。

以上に説明したように、実施の形態２に係る手摺２の製造方法は、成形工程と、つなぎ工程と、測定工程と、良否判定工程と、を備える。成形工程は、乗客コンベアの手摺２を成形する工程である。つなぎ工程は、成形工程によって成形された手摺２を切り出し、切り出された手摺２の両端部をつなぎ合わせて輪を形成する工程である。測定工程は、つなぎ工程のつなぎ目における手摺２の断面寸法を、測定装置１などを用いた測定方法によって測定する工程である。良否判定工程は、測定工程において測定された手摺２の断面寸法および予め設定された断面寸法に対する基準値の比較に基づいて、手摺２の断面寸法の良否判定を行う工程である。

複雑な形状を裏側に有する手摺２であっても、計測された断面寸法に基づいて良否判定を容易に安定して行うことができる。このため、製造された手摺２の品質が高められる。

また、実施の形態２に係る測定装置１は、移動機構２５を備える。表側計測部５および裏側計測部６は、移動機構２５に取り付けられる。移動機構２５は、手摺２の長手方向に移動する。

これにより、算出部１６は、移動機構２５の移動範囲において平均化された手摺２の形状を取得できる。このため、断面寸法の測定は、手摺２の表面の微小な形状の変化の影響を受けにくくなる。

また、保持部３は、クランプ機構２７および２つのローラー２８を備える。クランプ機構２７は、手摺２の表側を上方から押さえる。２つのローラー２８は、手摺２の裏側を下方から支持する。２つのローラー２８は、手摺２の長手方向においてクランプ機構２７の両側に配置される。

保持部３はクランプ機構２７およびローラー２８によって挟み込むことで手摺２をより安定して保持できるので、断面寸法の測定がより安定に行われる。

また、保持部３は、開閉機構２６を備える。開閉機構２６は、手摺２の左右方向に開閉することで左右方向の幅が可変な機構である。開閉機構２６は、手摺２の裏側を下方から支持する。

これにより、開口幅より広い内形幅を有する手摺２においても、開閉機構２６の開口によって手摺２の保持がしやすくなる。これにより、手摺２の断面寸法の測定作業および手摺２の製造作業の作業効率が高くなる。

なお、複数のローラー２８は、位置が可変であってもよい。例えば、少なくともいずれかのローラー２８は、開閉式のアームまたはスライド式のアームなどに取り付けられていてもよい。

また、クランプ機構２７は、例えば演算装置７からの制御信号に基づいて手摺２を押さえる動作を行ってもよい。

１ 測定装置
２ 手摺
３ 保持部
４ ガイド
５ 表側計測部
６ 裏側計測部
７ 演算装置
８ 上端計測部
９ 左端計測部
１０ 右端計測部
１１ 投光部
１２ 受光部
１３ 表側計測光
１４ 裏側計測光
１５ 光案内部
１６ 算出部
１７ 良否判定部
１８ 表示部
１９ ミラー
２０ 極小点
２１ 極大点
２２ 第１エッジ
２３ 第２エッジ
２４ 第３エッジ
２５ 移動機構
２６ 開閉機構
２７ クランプ機構
２８ ローラー
２９ 弾性体
３０ ハンドル
１００ａ プロセッサ
１００ｂ メモリ
２００ 専用ハードウェア

Claims (14)

1. 乗客コンベアの手摺の長手方向に垂直な変位を抑制する保持部と、
   表側計測光を発する投光部および前記表側計測光を検出する受光部を有し、前記投光部および前記受光部が前記手摺を挟むように配置され、前記受光部による前記表側計測光の検出の有無によって前記手摺の表側形状を計測する表側計測部と、
   裏側計測光を発する光源および前記裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部を有し、前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離および前記光案内部を介して前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離を取得することで前記手摺の裏側形状を計測する裏側計測部と、
   前記表側計測部が計測した前記表側形状および前記裏側計測部が計測した前記裏側形状に基づいて前記手摺の断面寸法を算出する算出部と、
   を備え、
   前記算出部は、前記裏側形状に基づいて前記手摺の傾きを算出し、前記手摺の傾きに基づいて断面寸法を算出する
   乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置。
2. 乗客コンベアの手摺の長手方向に垂直な変位を抑制する保持部と、
   表側計測光を発する投光部および前記表側計測光を検出する受光部を有し、前記投光部および前記受光部が前記手摺を挟むように配置され、前記受光部による前記表側計測光の検出の有無によって前記手摺の表側形状を計測する表側計測部と、
   裏側計測光を発する光源および前記裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部を有し、前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離および前記光案内部を介して前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離を取得することで前記手摺の裏側形状を計測する裏側計測部と、
   前記表側計測部が計測した前記表側形状および前記裏側計測部が計測した前記裏側形状に基づいて前記手摺の断面寸法を算出する算出部と、
   を備え、
   前記算出部は、前記裏側形状における特徴点を抽出し、抽出した特徴点の位置に基づいて前記手摺の断面寸法を算出する
   乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置。
3. 前記算出部は、予め設定された補正パラメータに基づいて前記特徴点の位置を補正する
   請求項２に記載の乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置。
4. 乗客コンベアの手摺の長手方向に垂直な変位を抑制する保持部と、
   表側計測光を発する投光部および前記表側計測光を検出する受光部を有し、前記投光部および前記受光部が前記手摺を挟むように配置され、前記受光部による前記表側計測光の検出の有無によって前記手摺の表側形状を計測する表側計測部と、
   裏側計測光を発する光源および前記裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部を有し、前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離および前記光案内部を介して前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離を取得することで前記手摺の裏側形状を計測する裏側計測部と、
   前記表側計測部が計測した前記表側形状および前記裏側計測部が計測した前記裏側形状に基づいて前記手摺の断面寸法を算出する算出部と、
   前記表側計測部および前記裏側計測部が取り付けられ、前記手摺の長手方向に移動する移動機構と、
   を備える乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置。
5. 乗客コンベアの手摺の長手方向に垂直な変位を抑制する保持部と、
   表側計測光を発する投光部および前記表側計測光を検出する受光部を有し、前記投光部および前記受光部が前記手摺を挟むように配置され、前記受光部による前記表側計測光の検出の有無によって前記手摺の表側形状を計測する表側計測部と、
   裏側計測光を発する光源および前記裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部を有し、前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離および前記光案内部を介して前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離を取得することで前記手摺の裏側形状を計測する裏側計測部と、
   前記表側計測部が計測した前記表側形状および前記裏側計測部が計測した前記裏側形状に基づいて前記手摺の断面寸法を算出する算出部と、
   を備え、
   前記保持部は、前記手摺の表側を上方から押さえるクランプ機構、および前記手摺の裏側を下方から支持する２つ以上のローラーを有し、前記２つ以上のローラーが前記手摺の長手方向において前記クランプ機構の両側に配置される
   乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置。
6. 乗客コンベアの手摺の長手方向に垂直な変位を抑制する保持部と、
   表側計測光を発する投光部および前記表側計測光を検出する受光部を有し、前記投光部および前記受光部が前記手摺を挟むように配置され、前記受光部による前記表側計測光の検出の有無によって前記手摺の表側形状を計測する表側計測部と、
   裏側計測光を発する光源および前記裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部を有し、前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離および前記光案内部を介して前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離を取得することで前記手摺の裏側形状を計測する裏側計測部と、
   前記表側計測部が計測した前記表側形状および前記裏側計測部が計測した前記裏側形状に基づいて前記手摺の断面寸法を算出する算出部と、
   を備え、
   前記保持部は、前記手摺の左右方向に開閉することで左右方向の幅が可変であり、前記手摺の裏側を下方から支持する開閉機構
   を備える
   乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置。
7. 前記表側計測部は、前記表側形状として前記手摺の上端、左端、および右端の各々の位置を計測する
   請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置。
8. 前記算出部が算出する前記手摺の断面寸法および予め設定された断面寸法に対する基準値の比較に基づいて、前記手摺の断面寸法の良否判定を行う良否判定部
   を備える
   請求項１から請求項７のいずれか一項に記載の乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定装置。
9. 乗客コンベアの手摺を挟むように配置された投光部および受光部によって、前記投光部が発する表側計測光の前記受光部による検出の有無によって前記手摺の表側形状を計測し、裏側計測光を発する光源および前記裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部によって、前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離および前記光案内部を介して前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離を取得することで前記手摺の裏側形状を計測する計測工程と、
   前記計測工程において計測された前記表側形状および前記裏側形状に基づいて、前記手摺の断面寸法を算出する算出工程と、
   を備え、
   前記算出工程は、前記裏側形状に基づいて前記手摺の傾きを算出する手順を含み、
   前記算出工程において、前記手摺の断面寸法は、前記手摺の傾きに基づいて算出される
   乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定方法。
10. 乗客コンベアの手摺を挟むように配置された投光部および受光部によって、前記投光部が発する表側計測光の前記受光部による検出の有無によって前記手摺の表側形状を計測し、裏側計測光を発する光源および前記裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部によって、前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離および前記光案内部を介して前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離を取得することで前記手摺の裏側形状を計測する計測工程と、
    前記計測工程において計測された前記表側形状および前記裏側形状に基づいて、前記手摺の断面寸法を算出する算出工程と、
    前記計測工程の後に、前記裏側形状における特徴点を抽出する抽出工程と、
    を備え、
    前記算出工程において、前記手摺の断面寸法は、前記抽出工程において抽出された特徴点の位置に基づいて算出される
    乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定方法。
11. 前記抽出工程の後に、予め設定された補正パラメータに基づいて前記特徴点の位置を補正する補正工程
    を備え、
    前記算出工程において、前記手摺の断面寸法は、前記補正工程において補正された特徴点の位置に基づいて算出される
    請求項１０に記載の乗客コンベアの手摺の断面寸法の測定方法。
12. 乗客コンベアの手摺を成形する成形工程と、
    前記成形工程において成形された前記手摺の断面寸法を請求項９から請求項１１のいずれか一項に記載の測定方法によって測定する測定工程と、
    前記測定工程において測定された前記手摺の断面寸法および予め設定された断面寸法に対する基準値の比較に基づいて、前記手摺の断面寸法の良否判定を行う良否判定工程と、
    を備える乗客コンベアの手摺の製造方法。
13. 乗客コンベアの手摺を成形する成形工程と、
    前記成形工程によって成形された前記手摺を切り出し、切り出された前記手摺の両端部をつなぎ合わせて輪を形成するつなぎ工程と、
    前記つなぎ工程のつなぎ目における前記手摺の断面寸法を請求項９から請求項１１のいずれか一項に記載の測定方法によって測定する測定工程と、
    前記測定工程において測定された前記手摺の断面寸法および予め設定された断面寸法に対する基準値の比較に基づいて、前記手摺の断面寸法の良否判定を行う良否判定工程と、
    を備える乗客コンベアの手摺の製造方法。
14. 乗客コンベアの手摺を成形する成形工程と、
    前記成形工程によって成形された前記手摺を切り出し、切り出された前記手摺の両端部をつなぎ合わせて輪を形成するつなぎ工程と、
    前記つなぎ工程のつなぎ目における前記手摺の断面寸法を所定の測定方法によって測定する測定工程と、
    前記測定工程において測定された前記手摺の断面寸法および予め設定された断面寸法に対する基準値の比較に基づいて、前記手摺の断面寸法の良否判定を行う良否判定工程と、
    を備える乗客コンベアの手摺の製造方法であり、
    前記所定の測定方法は、
    前記手摺を挟むように配置された投光部および受光部によって、前記投光部が発する表側計測光の前記受光部による検出の有無によって前記手摺の表側形状を計測し、裏側計測光を発する光源および前記裏側計測光の伝播方向を変換して案内する光案内部によって、前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離および前記光案内部を介して前記裏側計測光を反射した前記手摺の部分までの距離を取得することで前記手摺の裏側形状を計測する計測工程と、
    前記計測工程において計測された前記表側形状および前記裏側形状に基づいて、前記手摺の断面寸法を算出する算出工程と、
    を備える測定方法である、
    乗客コンベアの手摺の製造方法。

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