JP2018179508A - 表面形状測定方法および表面形状測定システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】遮光性を有する薄膜シート22を測定対象物Tの表面形状測定面T1に押し当てる押当て工程と、表面形状測定面T1に押し当てられている薄膜シート22に対して光学式の距離センサ4を走査する検出工程と、前記検出工程で得られたデータに基づいて制御装置5が表面形状測定面T1の表面形状を決定する決定工程とを含む。
【選択図】図3
Description
ところが、測定対象物が透光性を有する場合には、光学式の距離センサを用いると、走査光が部分的に測定対象物を透過してしまうため、適切な反射光を検出することができず、良好な測定結果を得ることができないという不具合がある。
そこで、本発明が解決しようとする課題は、測定対象物が透光性を有する場合に、光学式の距離センサを用いて簡易な手段により、測定対象物の表面形状を精度よく測定することである。
本発明によれば、薄膜シートが弛むことがなく、薄膜シートに測定対象物の表面形状を的確に転写することができる。
本発明によれば、枠に薄膜シートが張られているので、測定対象物に薄膜シートを押しつける作業が容易となる。
本発明によれば、樹脂製、ゴム製または布製の薄膜シートによって薄膜シートに測定対象物の表面形状測定面の形状を的確に転写することができる。
図1は、本実施形態の表面形状測定システムの斜視図である。この表面形状測定システム1は、光学式の距離センサを用いて透光性の測定対象物の表面形状を測定するシステムである。表面形状測定システム1は、薄膜シート枠2と、台座3と、光学式の距離センサ4(以下、単に距離センサ4ということがある)と、制御装置(コンピュータ)5とを備えている。
台座3は、測定対象物Tを載置するための台である。測定対象物Tは、透光性を備えており、透明又は半透明である。測定対象物Tは、本実施形態では平面視矩形の板状を呈する。測定対象物Tは、他の形状であってもよいし、板厚方向に湾曲した形状でもよい。測定対象物Tは、例えば、サンルーフパネルで用いられる透明パネル等としてもよい。
さらに、準備工程で薄膜シート22を枠21に張った薄膜シート枠2を用いて薄膜シート22を測定対象物Tに押しつけるので、測定対象物Tへの薄膜シート22の押しつけ作業が容易である。
その上、樹脂製、ゴム製または布製の薄膜シート22を用いる場合は、これらは伸縮性等が高く、薄膜シート22に測定対象物の表面形状測定面T1の形状を的確に転写することができる。
2 薄膜シート枠
21 枠
22 薄膜シート
4 光学式の距離センサ
5 制御装置
T 測定対象物
T1 表面形状測定面
Claims (5)
- 光学式の距離センサを用いて透光性の測定対象物の表面形状を測定する表面形状測定方法であって、
遮光性を有する薄膜シートを前記測定対象物の表面形状測定面に押し当てる押当て工程と、
前記表面形状測定面に押し当てられている前記薄膜シートに対して前記距離センサを走査する検出工程と、
前記検出工程で得られたデータに基づいて前記表面形状測定面の表面形状を決定する決定工程とを含むことを特徴とする表面形状測定方法。 - 前記薄膜シートは伸縮性を有することを特徴とする請求項1に記載の表面形状測定方法。
- 前記表面形状測定面より大きな枠に前記薄膜シートを取り付ける準備工程を含み、
前記押当て工程では、前記枠と前記測定対象物とを相対移動させて、前記薄膜シートを前記測定対象物の表面形状測定面に押し当てることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の表面形状測定方法。 - 前記薄膜シートは、樹脂製、ゴム製または布製であることを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れかの一項に記載の表面形状測定方法。
- 光学式の距離センサと、
遮光性を有し、前記距離センサによる測定対象物の表面形状測定面より大きい薄膜シートとを有し、
前記薄膜シートを前記測定対象物の表面形状測定面に押し当てるとともに、前記距離センサと前記薄膜シートとの距離を測定することを特徴とする表面形状測定システム。
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JP2017073486A JP2018179508A (ja) | 2017-04-03 | 2017-04-03 | 表面形状測定方法および表面形状測定システム |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2020173141A (ja) * | 2019-04-09 | 2020-10-22 | 株式会社ミツトヨ | 表面形状測定システムおよび表面形状測定器を用いた表面形状測定方法 |
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2017
- 2017-04-03 JP JP2017073486A patent/JP2018179508A/ja active Pending
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JP2020173141A (ja) * | 2019-04-09 | 2020-10-22 | 株式会社ミツトヨ | 表面形状測定システムおよび表面形状測定器を用いた表面形状測定方法 |
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