JP7468117B2 - 電子部品評価方法、電子部品評価装置及び電子部品評価プログラム - Google Patents
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Description
特許文献1には、部品の下方からライン光を照射し、カメラによりライン光の投光像を撮像し、ライン光による光切断線から端子の平坦度やボールの高さデータを得る装置が記載されている。
特許文献1、特許文献2に記載の公知技術によれば、電子部品を水平な面に置いたときに電子部品が水平方向の軸を中心に左右に回動する度合い(平坦度)を検出することができる。平坦度は、実装不良に関するパラメータであり、平坦度が規定の範囲内にある電子部品を良品(ОK)として出荷することによって実装の信頼性を保証することができる。
本発明は、以上の点に鑑みてなされたものであり、電子部品の平坦度をより高精度に検出すると共に、端子個々の状態をも判定して電子部品を評価することができる電子部品評価方法、電子部品評価装置及び電子部品評価プログラムに関する。
先ず、本発明の実施形態の説明に先立って、その概略について説明する。本実施形態の電子部品評価方法は、部品本体及びこの本体に取り付けられた複数の端子を有する電子部品を撮像した撮像データから、電子部品の状態を評価することに適用される。
上記の電子部品は、部品本体と端子とを有している。部品本体は、コイル部品や半導体素子といった電気部品を封入した樹脂製のパッケージで、端子はパッケージ内の部品等と電気的、機械的に接続される金属製の部材である。本発明の電子部品評価方法等は、実装基板に搭載される前の電子部品を評価対象とする。
本実施形態は、このような基準点を複数の端子の各々について複数設定する。例えば、8つの端子を持つ電子部品に対して一つの端子に4つの基準点を設定した場合、一つの電子部品の基準点は合計32個になる。
複数の基準点情報に基づいて端子の形状に係る状態を判定するとは、例えば一つの端子の複数の基準点情報、または上記の32個の基準点情報を用い、端子の個々の形状や複数の端子(端子群)の状態を判定することをいう。
電子部品の形状に係る状態とは、部品本体、端子及び両者の形状や位置関係によって決まる電子部品の一部または全体の状態を指す。このような状態は、例えば、実装後の電子部品の傾きの角度や方向であってもよいし、端子の実装面からの浮きの有無や、浮きの程度であってもよい。
図1(a)は、第一実施形態の電子部品評価方法等によって評価される電子部品5を例示した斜視図である。図1(b)は、図1(a)に示した電子部品5を上方から撮像した画像を例示する図である。本実施形態においては、図1に示したx,y,z座標軸のz方向を「上」と記し、z軸のz方向と反対の図示しない-z方向を「下」と記す。ただし、このような上下方向は、電子部品5が基板に実装されて使用される際の上下方向と反対になる。すなわち電子部品5の底面側に設けられた実装面の側を本実施形態では上側と記す。
図1(a)に示したように、電子部品5は、部品本体51と、複数(8個)の端子511から端子518を有している。このような電子部品5の端子511~518は、リードを部品本体51の側(内側)にJ字形に曲げて構成される、SOJ(Small Outline J-leaded)と呼ばれるものである。また、端子511~518の各々について、z方向に向かう面(上面)上にある点のうち、例えば所定の位置にある4つの点を基準点Pmとする。
なお、上記した平面部Cは、凹凸や傾きのない面を指すものでなく、折り曲げ部Eのような曲面でないことを指している。
ただし、本明細書において、基準点を区別する必要がない場合、基準点を単に基準点Pmとも記す。
図3は、第一実施形態の電子部品評価方法を説明するためのフローチャートである。図3に示す処理は、第一実施形態において実行される電子部品評価プログラムによって実行される。この電子部品評価プログラムは、コンピュータに、複数の端子の少なくとも一つについて、この端子の複数の基準点の位置情報及び第一高さ情報の少なくとも一方を含む基準点情報を取得する基準点情報取得機能と、複数の基準点情報に基づいて、端子の形状に係る状態を判定する状態判定機能と、を実現させるものである。基準点情報取得機能及び状態判定機能は、いずれもコンピュータを有する電子部品評価装置のハードウェア上で動作するプログラムである。
以上の処理を、この処理を実行する電子部品評価装置の構成と共に具体的に説明する。
以下、図4に示す各構成を順に説明する。
図5に示すように、3Dカメラ2は、基台62と天板61とを有するテーブル上に置かれた電子部品5を天板61の上方から撮像する。天板61の高さは昇降ネジ63によって変更可能である。このため、3Dカメラ2は、電子部品5の高さによらず電子部品5の基準点に焦点を合わせることが可能になる。
また、このようなシステムは、3Dカメラ2を二つ備えて二方向から電子部品5を撮像し、画像において影になる部分が生じないようにしてもよい。
なお、TOF方式では、ライン光を高速のパルス光とし、投射光に対する反射光の位相遅れを計測するようにしてもよい。ただし、第一実施形態は、TOF方式を使って高さ情報を得ることに限定されず、撮像データから高さを得るものであれば、三角測距方式等の他の方法によって高さ情報を求めるものであってもよい。
3Dカメラ2から撮像データを直接入力する場合、入力部35は、データの入力インターフェースとして機能する。ただし、第一実施形態は、電子部品評価装置3に3Dカメラ2を接続してリアルタイムで撮像データを入力するものに限定されるものではない。例えば、3Dカメラ2によって生成された撮像データを記録媒体に保存し、後に入力部35から電子部品評価装置7に入力して処理するものであってもよい。また、第一実施形態は、3Dカメラ2と電子部品評価装置7とを離れた場所に設置し、3Dカメラ2によって生成された撮像データを、ネットワーク回線等を通じて電子部品評価装置7に送信するものであってもよい。このよう構成にあっては、電子部品評価装置7に設けられた受信装置が入力部35として機能する。
基準点情報取得部44は、図3に示すステップS501の処理を実行する。基準点情報の取得にあたり、基準点情報取得部44は、例えば、撮像データから端子511~518の基準点Pm1~Pm32を検出する。基準点Pm1~Pm32の検出は、例えば、端子511~518のエッジ部分を検出し、検出されたエッジ部分を撮影した画素から予め定められた距離及び方向に移動した位置にある画素によって撮像された点が基準点Pm1~Pm32であると判断するようにしてもよい。そして、基準点情報取得部44は、例えば、エッジ部分を撮像した画素の既知の座標から基準点Pm1~Pm32を撮像した画素の方向及び距離により基準点Pm1~Pm32の座標を算出するようにしてもよい。
また、基準点情報取得部44は、縞状のライン光のうち、基準点Pm1~Pm32に投光されたライン光の投光から受光までの時間差によって生じる位相差を算出して電子部品5の表面からCMOSセンサまでの距離hを算出する。算出された高さが第一高さとなる。
状態判定部45は、図3に示すステップS502の処理を実行する。図2(a)に示すように、第一実施形態の端子511等は、いずれも電子部品5の実装面に沿う平面部を有し、基準点Pmが平面部の上に複数配置されている。第一実施形態では、状態判定部45が端子511等の傾きの大きさ及び方向を判定する例を挙げて説明する。
状態判定部45は、上記のようにして取得した基準点Pmの座標及び第一高さから各測定点の傾き(高低差)の大きさを取得することができる。さらに、面状の端子511等の上に二次元の広がりを持って基準点が配置されているので、面内において傾きの方向が複数ある場合、この方向を識別、評価することも可能である。第一実施形態の状態判定部45は、基準点Pmの座標から電子部品5が置かれた天板61の面方向の傾きを算出し、また、基準点Pmの第一高さにより端子511~518の面方向と直交する方向の傾きを算出する。
さらに、第一実施形態は、3Dカメラ2の画角を一度に複数の電子部品5を撮像可能に設定することができる。このようにすれば、一回の撮像で二つの電子部品5の撮像データを取得することができて、いっそうの処理の短時間化を図ることができる。なお、電子部品5の撮像の処理時間は、状態判定部45の状態判定処理よりも十分長い。このため、一回の撮像の処理時間に二つの電子部品5の状態を判定することは十分可能である。
図7(a)は、リードフレーム521において複数の基準点Pm41、Pm42、Pm43を設定した状態を説明するための図である。図7(a)に示す例では、リードフレーム521に半田Sが付けられていて、画像においては半田Sの縁部に基準点Pm41~Pm43が設定されている。このような画像は、リードフレーム521を有する電子部品8を上面81aの側から電子部品5と同様に撮像することによって撮像することができる(図4)。
ただし、第一実施形態は、このような構成に限定されるものではなく、半田Sを塗布する以前に電子部品8のリードフレーム521を撮影し、リードフレーム521上に基準点Pm41~Pm43を設定するものであってもよい。
電子部品の端子の状態に要求される条件は様々であり、例えば、図7(b)のように、リードフレーム521が基端部521bから先端部521aに向かって高くなるように傾くか、リードフレーム522が基端部522bから先端部522aに向かって低くなるように傾くかを判定することができる。
なお、第一実施形態は、一つの端子の傾きの状態を判定する例を挙げて説明したが、第一実施形態は、このような構成に限定されるものではない。例えば、第一実施形態は、複数の端子の形状を検出し、この電子部品が傾きながらも端子と実装基板との十分な電気伝導を得られるか否か(良品であるか否か)を判定するようにしてもよい。このようにすれば、第一実施形態は、一つの端子の形状ばかりでなく、複数の端子の形状によって決まる端子の浮きや電気的導通の状態を評価することができる。
次に、本発明の第二実施形態を説明する。第二実施形態は、第一実施形態が端子511~518の個々の形状を判定しているのに対し、複数の端子511~518の形状によって決まる端子の浮きや実装面に対する電子部品5の傾きといった状態を判定する点で相違する。第二実施形態では、電子部品評価装置3が電子部品5の傾き(平坦度)を評価する例を挙げて説明する。
図8は、第二実施形態の電子部品評価装置3を使って行われる電子部品評価方法を説明するためのフローチャートである。図9は、図8に示す処理を実行する電子部品評価装置3を説明するための機能ブロック図であって、電子部品評価装置3に3Dカメラ2及び出力装置4を組み合わせた電子部品評価システム1を示している。
第二実施形態の電子部品評価方法は、状態判定工程が、複数の基準点のうち、選択された少なくとも三つの選択点の位置情報及び第一高さ情報により仮想平面を作成する仮想平面作成工程(ステップS605)と、選択点を除く基準点の仮想平面を基準にした第二高さ情報により、当該仮想平面が有効平面であるか、または無効平面であるか判定する仮想平面判定工程(ステップS607)と、を含んでいる。そして、第二実施形態では、有効平面を基準にして複数の端子でなる端子群の平坦度を検出する。
以下、このような構成について、具体的に説明する。
第二実施形態では、基準点情報取得部44が、基準点情報を取得する工程を実行する(ステップS601)。ステップS601においては、32(n)個の基準点を有する8(m)個の端子511~518について、異なる端子の基準点を予め設定された順番で測定する処理を8回繰り返す。第二実施形態では、端子511~518に対して端子511、518、517、516、515、514、513、512の順番で基準点情報を取得する。このとき、第二実施形態では、各端子の4つの基準点のうち、対応する基準点の基準点情報を取得し、一巡すると再度他の基準点について端子511、518、517、516、515、514、513、512の順番で基準点情報を取得する。
具体的には、基準点情報取得部44は、一巡目で基準点Pm1からpm8の基準点情報を取得する。次に、基準点情報取得部44は、二巡目で基準点Pm9からPm16の基準点情報を取得し、三巡目で基準点Pm17からPm24の基準点情報を取得し、四巡目で基準点Pm25からPm32の基準点情報を取得する。
すなわち、第二実施形態では、基準点Pの後に続く1、2、・・・32の数字が基準情報取得の順番を示し、この順番を8で除算する処理を実行する。この結果、端子511の基準点Pm9、Pm17、Pm25の順番を8で除算すると余りはいずれも1となり、8以下の順番も1である。基準点情報取得部44は、このような基準点情報を対応する基準点Pm1、Pm9、Pm17、Pm25に対応つけて記憶すると共に、基準点Pm1、Pm9、Pm17、Pm25を一つのグループにする。このような処理によれば、同一の端子にある基準点の基準点情報をグループ化する処理を自動的、かつ簡易に行うことが可能になる。なお、この処理は、後に実行する仮想三角形の作成処理の負荷を軽減するものである。
プレ処理部37は、仮想三角形作成部38及び仮想三角形判定部39を有している。仮想三角形作成部38は、32個の基準点から三つの基準点を選択する。そして、選択された三つの基準点の基準位置情報を取得する。さらに、仮想三角形作成部38は、各基準点を頂点にする三角形を作成する。このような処理によれば、32C3通りの仮想三角形を作成することになる。
仮想三角形作成部38は、三つの選択点の組み合わせを変更しながら全ての組み合わせについて仮想三角形を作成する。
このようなプレ処理によれば、多くの場合、端子511~518のうちの隣接する端子を含む三端子によって規定された仮想三角形が無効三角形であると判定される。このような三端子は、電子部品5を支えられない可能性が高いためである。
以上の処理は、上面51aの局所的な傾きや凹凸が反映された仮想平面が有効平面として採用されることを防ぐことができる。
さらに、プレ処理は、重心点o1が仮想三角形tに含まれている場合に仮想三角形tが有効三角形であると認定してもよい。そして、このような場合、製品の製造上のばらつきや測定のばらつきにより有効三角形の判定がばらつくことを、以下のようにして抑えている。図11(a)、図11(b)は、仮想三角形の内部に重心点o1があるか外部にあるかによって有効三角形であるか否かを判定する場合に、判定のばらつきを抑えるオフセット処理を説明するための図である。図11(a)はこの処理の対象となる電子部品を示し、図11(b)は、処理の具体例を示している。
具体的には、オフセット処理の対象となる電子部品は、図11(a)に示すように、辺が重心点o1を通るように仮想三角形tが生成されるものである。このような電子部品にあっては、この三角形tが有効三角形であるか否かの判断がばらつくことにより、本来有効三角形であると判定されるものが無効三角形と判断されることがある。また、反対に、無効三角形であると判定されるものが有効三角形と判断されることがある。このようなことにより、第二実施形態では、後に行われる良品、不良品の判定に用いられる端子高さのばらつきが大きくなって端子高さの測定の信頼性が低下する。オフセット処理は、良品、不良品の判定時の端子高さのばらつきを小さくし、判定の精度を高めることに有効な処理である。
第二実施形態のオフセット処理では、8つの点о11のうちの一つでも三角形tの内部にある場合、この三角形tを有効三角形と判断する。そして、有効三角形と判断された三角形tを使って後の仮想平面の作成処理を実行する。
仮想平面作成部32は、複数の基準点のうち、選択された少なくとも三つの選択点の位置情報及び第一高さ情報により仮想平面を作成する。この際、仮想平面作成部32は、仮想三角形判定部39の判定結果に基づいて、有効三角形のみを抽出する。そして、有効三角形の頂点となった三つの基準点Pmの基準点情報により仮想平面を作成する(ステップS605)。仮想平面は、三つの基準点Pmを通る平面であり、第二実施形態でいう仮想平面の作成は、このような平面を表す演算式、あるいは平面に含まれる点を表すデータの集合を作成することによって行われる。
次に、仮想平面判定部33は、選択点を除く基準点の仮想平面を基準にした第二高さ情報により、この仮想平面が有効平面であるか、または無効平面であるか判定する。そして、この有効平面を基準にする端子の平坦度を検出する。
すなわち、仮想平面判定部33は、全ての基準点Pm1~Pm32についてCMOSセンサ21aから基準点Pmまでの距離hで表されている高さ情報(第一高さ)を、仮想平面作成部32によって作成された仮想平面から各基準点Pmまでの高さ情報(第二高さ)に変換する。変換により、高さ情報は高さの基準がCMOSセンサ21aの受光面から仮想平面に変化する。なお、変換前の高さ情報の基準はCMOSセンサ21aの受光面に限定されるものでなく、任意の点でよい。
仮想平面判定部33は、仮想平面作成部32によって作成された複数の仮想平面が有効平面であるか、または無効平面であるかを判定する。ここで、有効平面は、第二実施形態において電子部品5が適正に実装された実装基板の面を模擬したものである。有効平面は一つではない場合もあり、電子部品5の置かれる方向や置かれた状態の重心の位置等によって複数存在し得る。無効平面は、全ての仮想平面から有効平面と判定された仮想平面を除いたものである。
このような処理は、基準点Pmが仮想平面よりも上方に突出すると、電子部品5の端子が実装面に向かうように実装した際に端子が実装面に埋まることになるからである。第二実施形態は、図1(a)から図2に示したように表面実装型の端子511~518に適用されるので、端子511~518が実装面に埋まることは起こり得ないとして仮想平面が無効平面であると判定している。
言い換えれば、実際の実装においては、端子を実装面に埋め込むことは不可能であるので、上方に基準点Pmがあるとの演算結果が得られた仮想平面は実際の実装面と相違する。実状に則した実装面を求めるため、このような結果を得た仮想平面は有効平面から排除される。
平坦度検出部34は、仮想平面判定部33によって有効平面であると判定された仮想平面のみに基づいて、有効平面から各端子の基準点Pm1~Pm32までの高さにより電子部品5の平坦度(傾き)を算出する。第二実施形態でいう平坦度は、電子部品5を図示しない実装基板上に置いたときの「ガタツキ」の指標となる。ガタツキは、電子部品5の傾きや端子の取り付け角度等によって基準点Pm1~Pm32、すなわち端子511~518の高さにばらつきがあるときに生じる。このため、第二実施形態では、平坦度検出部34が端子511~518の有効平面を基準にした高さを検出することによって平坦度を検出している。ただし、このときに電子部品5が天板61に対して傾いて接している場合、端子の高さを正確に検出することができなくなる。このため、第二実施形態は、基準点Pm1~Pm32の高さを有効平面のみを基準にして測定し、電子部品5の傾きによらず端子それぞれの有効平面を基準にした高さを正確に検出することができる。
良・不良判定部36は、例えば基準点Pm1~Pm32の高さが予め定められている許容範囲内にない場合、この基準点Pm1~Pm32を持つ電子部品5を不良品と判定する。また、基準点Pm1~Pm32の高さが全て許容範囲内にある場合、この端子を持つ電子部品5を良品と判定する。
なお、複数の有効平面が得られた場合、第二実施形態は、複数得られた有効平面のうち、電子部品5が良品と判定されるのに最も不利な有効平面を基準にして平坦度を算出してもよい。電子部品5が良品と判定されるのに最も不利な有効平面とは、例えば、基準点Pm1~Pm32の高さが許容範囲の上限あるいは下限に最も近くなる有効平面である。このようにすれば、第二実施形態は、電子部品5の検査のマージンを充分にとって信頼性を高めることができる。
図7に示したように、複数の端子のいずれかがNGと判定された場合、電子部品5は不良品であると判定される。
図13は、他の電気部品に第一実施形態、あるいは第二実施形態の電子部品評価方法を適用する例を説明するための図である。図13に示す電子部品は、端子部85と巻線部86とを有する面実装の空芯コイルである。このような空芯コイルにあっても、本発明の第一実施形態、第二実施形態によれば、二つの端子部85に基準点Pm111からPm1112の合計12個を設定し、端子部85の高さの面分布を測定することができる。そして、この高さが許容範囲内にあるか否かによって空芯コイルの良、不良を判定することが可能になる。
(1)部品本体及び当該部品本体に取り付けられた複数の端子を有する電子部品を撮像した撮像データから、前記電子部品の状態を評価する電子部品評価方法であって、複数の前記端子の少なくとも一つについて、当該端子の複数の基準点の位置情報及び第一高さ情報の少なくとも一方を含む基準点情報を取得する基準点情報取得工程と、複数の前記基準点情報に基づいて、前記電子部品の形状に係る状態を判定する状態判定工程と、を含む電子部品評価方法。
(2)前記状態判定工程は、複数の前記基準点のうち、選択された少なくとも三つの選択点の前記位置情報及び前記第一高さ情報により仮想平面を作成する仮想平面作成工程と、前記選択点を除く前記基準点の前記仮想平面を基準にした第二高さ情報により、当該仮想平面が有効平面であるか、または無効平面であるか判定する仮想平面判定工程と、を含み、前記有効平面を基準にする前記端子の平坦度を検出する、(1)の電子部品評価方法。
(3)前記仮想平面作成工程は、前記電子部品が前記端子を二つ有する場合には一つの前記端子上にある二つの前記選択点を通る仮想平面を作成し、四つ以上の前記端子を有する場合には一つの前記端子上にある複数の前記選択点を通る仮想平面を作成しない、(2)の電子部品評価方法。
(4)前記端子が前記部品本体に沿って折り曲げられた折り曲げ部および前記電子部品の実装面に沿う平面部を有し、前記基準点情報取得工程に先立って前記電子部品の実装面側の表面全体を三次元撮像し、少なくとも前記折り曲げ部と前記平面部との高さの差を識別表示する全体画像を生成する予備工程をさらに含み、前記予備工程においては、前記折り曲げ部と前記平面部との境界よりも前記平面部の内側から前記基準点が選択される、(1)から(3)のいずれか一つの電子部品評価方法。
(5)前記基準点情報取得工程は、n個の前記基準点を有するm個の前記端子について、異なる前記端子の前記基準点情報を予め設定された順番で取得する処理をn回繰り返し、取得の順番と、得られた前記基準点情報とを対応つけて、前記順番をmで除算した場合の余りが等しい前記端子及び前記順番が当該余りに一致する前記基準点情報を同一のグループとする、(1)から(4)のいずれか一つの電子部品評価方法。
(6)前記端子が前記電子部品の実装面に沿う平面部を有し、前記基準点が前記平面部の上に複数配置され、前記状態判定工程は、前記端子の傾きの大きさ及び方向を判定する、(1)から(5)のいずれか一つの電子部品評価方法。
(7)部品本体及び当該部品本体に取り付けられた複数の端子を有する電子部品を撮像した撮像データから、前記電子部品の状態を評価する電子部品評価装置であって、複数の前記端子の少なくとも一つについて、当該端子の複数の基準点の位置情報及び第一高さ情報の少なくとも一方を含む基準点情報を取得する基準点情報取得部と、複数の前記基準点情報に基づいて、前記電子部品の形状に係る状態を判定する状態判定部と、を有する電子部品評価装置。
(8)前記撮像が複数の前記電子部品に対して順次連続して行われ、前記状態判定部は、先に撮像される第一電子部品の撮像終了から後に撮像される第二電子部品の撮像開始までの時間の少なくとも一部の間に前記第一電子部品の形状に係る状態を判定する、(7)の電子部品評価装置。
(9)部品本体及び当該部品本体に取り付けられた複数の端子を有する電子部品を撮像した撮像データから、前記電子部品の状態を評価する電子部品評価装置において実行される電子部品評価プログラムであって、コンピュータに、複数の前記端子の少なくとも一つについて、当該端子の複数の基準点の位置情報及び第一高さ情報の少なくとも一方を含む基準点情報を取得する基準点情報取得機能と、複数の前記基準点情報に基づいて、前記電子部品の形状に係る状態を判定する状態判定機能と、を実現させる、電子部品評価プログラム。
2・・・3Dカメラ
3・・・電子部品評価装置
4・・・出力装置
5、8、75・・・電子部品
6・・・電子部品評価システム
7・・・電子部品評価装置
21a、21b・・・CMOSセンサ
22a、22b・・・結像レンズ
23・・・ハーフミラー
24・・・集光レンズユニット
25・・・光源
26・・・投光レンズユニット
32・・・仮想平面作成部
33・・・仮想平面判定部
34・・・平坦度検出部
35・・・入力部
36・・・良・不良判定部
37・・・プレ処理部
38・・・仮想三角形作成部
39・・・仮想三角形判定部
44・・・基準点情報取得部
45・・・状態判定部
51・・・部品本体
51a・・・上面
51b・・・下面
61・・・天板
62・・・基台
63・・・昇降ネジ
70、71、72・・・画像
81・・・部品本体
81a・・・上面
85・・・端子部
86・・・巻線部
511~518、711・・・端子
521、522・・・リードフレーム
521a・・・先端部
521b・・・基端部
C・・・平面部
E・・・曲げ部
Pm1~Pm32、111~1112・・・基準点
S・・・半田
h・・・距離
o1、o2・・・重心点
Claims (9)
- 部品本体及び当該部品本体に取り付けられた複数の端子を有する電子部品を撮像した撮像データから、前記電子部品の状態を評価する電子部品評価方法であって、
複数の前記端子について、当該端子それぞれの複数の基準点の位置情報及び第一高さ情報を含む基準点情報を取得する基準点情報取得工程と、
複数の前記基準点情報に基づいて、前記電子部品の形状に係る状態を判定する状態判定工程と、を含み、
前記状態判定工程は、各端子におけるそれぞれの前記複数の前記基準点を含んだ基準点群から各基準点を選択肢として選択された、少なくとも三つの選択点の前記位置情報及び前記第一高さ情報により複数の仮想平面を作成する仮想平面作成工程と、前記選択点を除く前記基準点の前記仮想平面を基準にした第二高さ情報により、当該仮想平面が有効平面であるか、または無効平面であるか判定する仮想平面判定工程と、を含み、前記有効平面を基準にする複数の前記端子でなる端子群の平坦度を検出する、電子部品評価方法。 - 前記仮想平面作成工程は、前記電子部品が前記端子を二つ有する場合には一つの前記端子上にある二つの前記選択点を通る仮想平面を作成し、四つ以上の前記端子を有する場合には一つの前記端子上にある複数の前記選択点を通る仮想平面を作成しない、請求項1に記載の電子部品評価方法。
- 前記端子が前記部品本体に沿って折り曲げられた折り曲げ部および前記電子部品の実装面に沿う平面部を有し、
前記基準点情報取得工程に先立って前記電子部品の実装面側の表面全体を三次元撮像し、少なくとも前記折り曲げ部と前記平面部との高さの差を識別表示する全体画像を生成する予備工程をさらに含み、
前記予備工程においては、前記折り曲げ部と前記平面部との境界よりも前記平面部の内側から前記基準点が選択される、請求項1または2に記載の電子部品評価方法。 - 前記基準点情報取得工程は、n個の前記基準点を有するm個の前記端子について、異なる前記端子の前記基準点情報を予め設定された順番で取得する処理をn回繰り返し、取得の順番と、得られた前記基準点情報とを対応つけて、前記順番をmで除算した場合の余りが等しい前記端子及び前記順番が当該余りに一致する前記基準点情報を同一のグループとする、請求項1から3のいずれか一つに記載の電子部品評価方法。
- 前記端子が前記電子部品の実装面に沿う平面部を有し、前記基準点が前記平面部の上に複数配置され、前記状態判定工程は、前記端子の傾きの大きさ及び方向を判定する、請求項1から4のいずれか一項に記載の電子部品評価方法。
- 前記仮想平面作成工程に先だって行われるプレ処理工程をさらに含み、
前記プレ処理工程は、
複数の前記基準点から三つの前記基準点を選択し、当該三つの前記基準点の前記位置情報を取得して前記三つの前記基準点を頂点にする三角形である仮想三角形を作成する仮想三角形作成工程と、
当該仮想三角形が有効三角形か無効三角形かを判定する仮想三角形判定工程と、を含み、
前記仮想三角形判定工程において、上下方向に見て前記電子部品の重心が前記仮想三角形の範囲内に含まれている場合に当該仮想三角形が前記有効三角形であると判定され、前記電子部品の重心が前記仮想三角形の辺上にある場合であって当該重心と所定の距離を隔てた複数の点のうち一の前記点が前記仮想三角形の範囲内にある場合にも当該仮想三角形が前記有効三角形であると判断される、請求項1から5のいずれか一項に記載の電子部品評価方法。 - 部品本体及び当該部品本体に取り付けられた複数の端子を有する電子部品を撮像した撮像データから、前記電子部品の状態を評価する電子部品評価装置であって、
複数の前記端子について、当該端子それぞれの複数の基準点の位置情報及び第一高さ情報を含む基準点情報を取得する基準点情報取得部と、
複数の前記基準点情報に基づいて、前記電子部品の形状に係る状態を判定する状態判定部と、を有し、
前記状態判定部は、各端子におけるそれぞれの前記複数の前記基準点を含んだ基準点群から各基準点を選択肢として選択された、少なくとも三つの選択点の前記位置情報及び前記第一高さ情報により複数の仮想平面を作成する仮想平面作成部と、前記選択点を除く前記基準点の前記仮想平面を基準にした第二高さ情報により、当該仮想平面が有効平面であるか、または無効平面であるか判定する仮想平面判定部と、を有し、前記有効平面を基準にする複数の前記端子でなる端子群の平坦度を検出する、電子部品評価装置。 - 前記撮像が複数の前記電子部品に対して順次連続して行われ、前記状態判定部は、先に撮像される第一電子部品の撮像終了から後に撮像される第二電子部品の撮像開始までの時間の少なくとも一部の間に前記第一電子部品の形状に係る状態を判定する、請求項7に記載の電子部品評価装置。
- 部品本体及び当該部品本体に取り付けられた複数の端子を有する電子部品を撮像した撮像データから、前記電子部品の状態を評価する電子部品評価装置において実行される電子部品評価プログラムであって、
コンピュータに、
複数の前記端子について、当該端子それぞれの複数の基準点の位置情報及び第一高さ情報を含む基準点情報を取得する基準点情報取得機能と、
複数の前記基準点情報に基づいて、前記電子部品の形状に係る状態を判定する状態判定機能と、を実現させ、
前記状態判定機能は、各端子におけるそれぞれの前記複数の前記基準点を含んだ基準点群から各基準点を選択肢として選択された、少なくとも三つの選択点の前記位置情報及び前記第一高さ情報により複数の仮想平面を作成する仮想平面作成機能と、前記選択点を除く前記基準点の前記仮想平面を基準にした第二高さ情報により、当該仮想平面が有効平面であるか、または無効平面であるか判定する仮想平面判定機能と、を実現させ、前記有効平面を基準にする複数の前記端子でなる端子群の平坦度を検出する、電子部品評価プログラム。
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