JP7452323B2 - ガス濃度検出装置 - Google Patents

ガス濃度検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7452323B2
JP7452323B2 JP2020138191A JP2020138191A JP7452323B2 JP 7452323 B2 JP7452323 B2 JP 7452323B2 JP 2020138191 A JP2020138191 A JP 2020138191A JP 2020138191 A JP2020138191 A JP 2020138191A JP 7452323 B2 JP7452323 B2 JP 7452323B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas concentration
heater
timing
energization
detection device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020138191A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2022034413A (ja
Inventor
充 青木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2020138191A priority Critical patent/JP7452323B2/ja
Priority to US17/403,601 priority patent/US11953467B2/en
Publication of JP2022034413A publication Critical patent/JP2022034413A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7452323B2 publication Critical patent/JP7452323B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/62Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
    • G01N27/626Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using heat to ionise a gas
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0004Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0009General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
    • G01N33/0027General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/403Cells and electrode assemblies
    • G01N27/406Cells and probes with solid electrolytes
    • G01N27/4067Means for heating or controlling the temperature of the solid electrolyte
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/403Cells and electrode assemblies
    • G01N27/406Cells and probes with solid electrolytes
    • G01N27/407Cells and probes with solid electrolytes for investigating or analysing gases
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/50Analogue/digital converters with intermediate conversion to time interval
    • H03M1/56Input signal compared with linear ramp

Description

本開示は、ガス濃度検出装置に関する。
ガス濃度検出装置の一例として、特許文献1に開示されたものがある。ガス濃度検出装置は、マイクロコンピュータにおいて、所定間隔でサンプリングされたガスセンサからのセンサ信号に移動平均処理を行う。移動平均の範囲をヒータのPWM制御周期の自然数倍に設定することで、移動平均で演算されるサンプリング値に、PWM制御周期の立ち上がりエッジで発生する第1の種類のノイズを含むものと、立ち下がりエッジで発生する第2の種類のノイズを含むものとを同数とする。第1の種類のノイズと第2の種類のノイズとでは逆方向に現れるから、これらが相殺してノイズの影響を好適に回避することができる。
特開2004-93386号公報
しかしながら、ガス濃度検出装置は、センサ信号の移動平均処理ではノイズの影響を十分に回避できない可能性がある。このため、ガス濃度検出装置は、ガス濃度の検出精度のさらなる改良が求められている。
開示されるひとつの目的は、ガス濃度の検出精度が向上できるガス濃度検出装置を提供することである。
ここに開示されたガス濃度検出装置は、
ガス濃度検出装置であって、
ガス濃度検出装置の外部に設けられた電子制御装置から制御信号が入力され、
ガス濃度に応じた電気信号を出力するガスセンサ素子(11)と、ガスセンサ素子を加熱するヒータ(12)と、を有するガス濃度センサ(10)と、
制御信号に基づいて、ヒータへの通電と非通電の通電制御を行うヒータ制御部(30a~30e)と、
サンプリングクロックに同期して電気信号をアナログ信号からデジタル信号にAD変換するAD変換器(27a,27b)を有し、AD変換器の出力信号に基づいてガス濃度を検出するセンサ制御部(20)と、
通電制御の切替タイミングをAD変換器がAD変換を行う変換タイミングからずらすタイミング調整部(32a~32c,34,35,40)と、を備えている。
このように、ガス濃度検出装置は、タイミング調整部を備えているため、ヒータの通電制御の切替タイミングで、AD変換器によるAD変換が実施されない。このため、ガス濃度検出装置は、ヒータの通電制御に伴って発生するノイズが、AD変換器によるAD変換に悪影響をおよぼすことを抑制できる。よって、ガス濃度検出装置は、ガス濃度の検出精度を向上できる。
この明細書において開示された複数の態様は、それぞれの目的を達成するために、互いに異なる技術的手段を採用する。請求の範囲およびこの項に記載した括弧内の符号は、後述する実施形態の部分との対応関係を例示的に示すものであって、技術的範囲を限定することを意図するものではない。この明細書に開示される目的、特徴、および効果は、後続の詳細な説明、および添付の図面を参照することによってより明確になる。
第1実施形態におけるガス濃度検出装置の概略構成を示すブロック図である。 第1実施形態における同期回路の概略構成を示すブロック図である。 第1実施形態におけるガス濃度検出装置の動作を示すタイミングチャートである。 第2実施形態におけるガス濃度検出装置の概略構成を示すブロック図である。 第2実施形態における同期回路の概略構成を示すブロック図である。 第2実施形態におけるガス濃度検出装置の動作を示すタイミングチャートである。 第3実施形態におけるガス濃度検出装置の概略構成を示すブロック図である。 第3実施形態における同期回路の概略構成を示すブロック図である。 第3実施形態におけるガス濃度検出装置の動作を示すタイミングチャートである。 第4実施形態におけるガス濃度検出装置の概略構成を示すブロック図である。 第4実施形態における調整回路の概略構成を示すブロック図である。 第1実施形態におけるガス濃度検出装置のノイズ発生期間を示すタイミングチャートである。 第5実施形態におけるガス濃度検出装置の概略構成を示すブロック図である。 第5実施形態における調整回路の概略構成を示すブロック図である。
以下において、図面を参照しながら、本開示を実施するための複数の形態を説明する。各形態において、先行する形態で説明した事項に対応する部分には同一の参照符号を付して重複する説明を省略する場合がある。各形態において、構成の一部のみを説明している場合は、構成の他の部分については先行して説明した他の形態を参照し適用することができる。
(第1実施形態)
図1~図3を用いて、第1実施形態のガス濃度検出装置101に関して説明する。ガス濃度検出装置101は、ガス濃度センサ10、センサ制御部20、ヒータ制御部30a、遅延回路40などを備えている。
ガス濃度センサ10は、センサ素子11とヒータ12とを備えている。ガス濃度センサ10は、エンジンの排気通路に配置される。センサ素子11は、固体電解質体を含んでいる。センサ素子11は、排気中の特定成分に応じてリニアな電気信号を出力する。言い換えると、センサ素子11は、ガス濃度に応じた電気信号を出力する。特定成分は、酸素濃度や、CO,HC,H2等の未燃成分などである。ヒータ12は、センサ素子11(固体電解質体)を加熱するものである。ガス濃度センサ10は、例えば、センサ素子11にヒータ12が積層配置された積層型センサなどを採用できる。センサ素子11は、ガスセンサ素子に相当する。
センサ制御部20は、ガス濃度センサ10を駆動して、ガス濃度を検出するものである。センサ制御部20は、主に、検出部21とADC27aとを備えている。さらに、本実施形態では、一例として、第1AMP22、抵抗素子23、第2AMP24、DAC25、AFE26、発振器28を備えたセンサ制御部20を採用している。第1AMP22とDAC25は、例えば、制御ロジック回路などに接続されている。また、第1AMP22は、例えば、DAC25とは異なるDACを介して制御ロジック回路などに接続されている。
なお、ADC(Analog-to-digital converter)27aは、アナログ信号をデジタル信号にAD変換するAD変換器である。AFE(Analog Front End)26は、センサ素子11から出力された電気信号のレベルを増幅したり揃えたりするアナログ回路である。DAC(Digital-to-Analog Converter)25は、デジタル信号をアナログ信号にDA変換するDA変換器である。
検出部21は、ADC27aの出力端子に接続されている。検出部21は、ADC27aの出力信号に基づいてガス濃度を検出する。なお、検出部21は、例えばロジック回路などによって構成することができる。
第1AMP22は、出力端子が自身の反転入力端子とガス濃度センサ10に接続されている。DAC25は、出力端子が第2AMP24の非反転入力端子に接続されている。第2AMP24は、出力端子が自身の反転入力端子に接続されていると共に、抵抗素子23を介してガス濃度センサ10に接続されている。抵抗素子23は、シャント抵抗である。
ADC27aは、入力端子が差動入力となっている。ADC27a各入力端子は、AFE26の差動出力端子にそれぞれ接続されている。ADC27aは、出力端子が検出部21に接続されている。
ADC27aは、サンプリングクロックfsに同期してセンサ素子11が出力した電気信号をAD変換する。図3に示すように、ADC27aは、例えばサンプリングクロックfsの立上りエッジに同期してAD変換する。ADC27aは、サンプリングクロックfsに同期してセンサ素子11流れる電流をAD変換するともいえる。また、ADC27aは、センサ素子11流れる電流を検出するともいえる。
なお、ADC27aがAD変換を行うタイミングは、AD変換タイミングやデータ取得タイミングといえる。これに対して、ADC27aがAD変換を行っている時間は、AD変換時間といえる。
発振器(OSC)28は、ADC27aと、後ほど説明する遅延回路40を介して、ヒータ制御部30aに接続されている。発振器28は、サンプリングクロックfsを出力する。
なお、図1におけるセンサ制御部20は、一例に過ぎない。つまり、本開示のセンサ制御部20は、上記構成に限定されない。センサ制御部20は、サンプリングクロックfsに同期してセンサ素子11から出力された電気信号をAD変換するADC27aを有し、ADC27aの出力信号に基づいてガス濃度を検出する構成であれば採用できる。
ヒータ制御部30aは、ヒータスイッチ31、同期回路32a、入力部33などを備えている。ヒータ制御部30aは、ヒータ12への通電と非通電の通電制御を行う。
ヒータスイッチ31は、一例として、MOSFETを採用している。ヒータスイッチ31は、ゲート端子が同期回路32aに接続されている。ヒータスイッチ31は、ドレイン端子がヒータ12に接続されている。ヒータスイッチ31は、ソース端子がグランドに接続されている。ヒータスイッチ31は、同期回路32aから出力された同期信号がゲート端子に入力される。
ヒータスイッチ31は、同期信号のオンが入力されるとオンし、同期信号のオフが入力されるとオフする。ヒータ制御部30aは、ヒータスイッチ31がオンすることでヒータ12に通電する。また、ヒータ制御部30aは、ヒータスイッチ31がオフすることでヒータ12を非通電とする。ヒータ12への通電は、デューティ比制御によって行われる。
同期回路32aは、入力部33と遅延回路40とヒータスイッチ31のゲート端子に接続されている。図2に示すように、同期回路32aは、Dフリップフロップによって構成されている。同期回路32aは、後ほど説明する遅延回路40から遅延回路信号がCK端子に入力される。また、同期回路32aは、後ほど説明する入力部33からヒータ制御信号がD端子に入力される。そして、同期回路32aは、Q端子から同期信号を出力する。
つまり、同期回路32aは、遅延回路信号に同期して、D端子に入力されたヒータ制御信号に対応する同期信号をQ端子から出力する。同期回路32aは、例えば遅延回路信号の立上りエッジに同期して同期信号を出力する。なお、同期回路32aは、例えば、同期信号のオンとしてHレベルの信号を出力する。また、同期回路32aは、例えば、同期信号のオフとしてLレベルの信号を出力する。
同期信号は、ヒータ12の通電と非通電を切り替える信号である。よって、同期信号は、ヒータ駆動信号ともいえる。
入力部33は、同期回路32aと接続されている。入力部33は、ガス濃度検出装置101の外部に設けられた電子制御装置などから制御信号が入力される。入力部33は、制御信号に基づいて、ヒータ12の通電および非通電を示すヒータ制御信号を出力する。入力部33は、例えば、ヒータ12の通電を示すヒータ制御信号としてHレベルの信号(1)を出力する。また、入力部33は、例えば、ヒータ12の非通電を示すヒータ制御信号(0)としてLレベルの信号を出力する。
遅延回路40は、発振器29から出力されるサンプリングクロックfsを遅延させる回路である。遅延回路40は、サンプリングクロックfsを遅延させて、同期回路32aに出力する。遅延回路40で遅延されたサンプリングクロックfsは、遅延後クロックに相当する。また、遅延後クロックは、遅延回路信号とも称する。遅延回路40は、サンプリングクロックfsを、AD変換時間よりも十分に遅い時間だけ遅延させる。
また、同期回路32aと遅延回路40は、タイミング調整部に相当する。よって、ガス濃度検出装置101は、タイミング調整部として、同期回路32aと遅延回路40とを有しているといえる。タイミング調整部は、図3に示すように、通電制御の切替タイミングをADC27aがAD変換を行う変換タイミングからずらす構成要素である。
つまり、タイミング調整部は、ヒータ12に対する非通電から通電への切替タイミングを、ADC27aの変換タイミングからずらす。また、タイミング調整部は、ヒータ12に対する通電から非通電への切替タイミングを、ADC27aの変換タイミングからずらす。
なお、切替タイミングは、同期信号の出力タイミングと一致するとみなせる。つまり、非通電から通電への切替タイミングは、同期回路32aによるHレベルの信号の出力タイミングと一致する。通電から非通電への切替タイミングは、同期回路32aによるLレベルの信号の出力タイミングと一致する。
遅延回路40は、サンプリングクロックfsを遅延させて遅延回路信号を出力する。同期回路32aは、遅延回路40から遅延回路信号がCK端子に入力される。同期回路32aは、遅延回路信号に同期して通電制御を行う。このようにして、タイミング調整部は、切替タイミングを変換タイミングからずらす。
<効果>
このように、ガス濃度検出装置101は、同期回路32aと遅延回路40と有したタイミング調整部を備えている。このため、ガス濃度検出装置101は、切替タイミングでADC27cによるAD変換が実施されない。よって、ガス濃度検出装置101は、ヒータ12の通電制御に伴って発生するノイズが、ADC27cによるAD変換に悪影響をおよぼすことを抑制できる。したがって、ガス濃度検出装置101は、ガス濃度の検出精度が低下することを抑制できる。
以上、本開示の好ましい実施形態について説明した。しかしながら、本開示は、上記実施形態に何ら制限されることはなく、本開示の趣旨を逸脱しない範囲において、種々の変形が可能である。以下に、本開示のその他の形態として、第2~第5実施形態に関して説明する。上記実施形態および第2~第5実施形態は、それぞれ単独で実施することも可能であるが、適宜組み合わせて実施することも可能である。本開示は、実施形態において示された組み合わせに限定されることなく、種々の組み合わせによって実施可能である。
(第2実施形態)
図4、図5、図6を用いて、第2実施形態のガス濃度検出装置102に関して説明する。ガス濃度検出装置102は、ADC27bと同期回路32bの構成がガス濃度検出装置101と異なる。また、ガス濃度検出装置102は、タイミング調整部の構成がガス濃度検出装置101と異なるともいえる。ガス濃度検出装置102は、ガス濃度検出装置101と同様の構成に同じ符号を付与している。
ADC27bは、ADC27aと同様にAD変換を行う。さらに、ADC27bは、AD変換が完了すると完了信号を出力する。完了信号は、AD変換が完了したことを示す信号である。
図6に示すように、ADC27bは、サンプリングクロックfsと同じ周期で完了信号を出力する。ADC27bは、サンプリングクロックfsに対して、AD変換に要する時間だけ遅れて完了信号を出力する。本実施形態では、サンプリングクロックfsの立上りエッジから遅れて完了信号が出力される。
図4、図5に示すように、ヒータ制御部30bは、入力部33と同期回路32bを備えている。同期回路32bは、入力部33とADC27bとヒータスイッチ31のゲート端子に接続されている。同期回路32bは、Dフリップフロップによって構成されている。同期回路32bは、同期回路32aと同様、ヒータ制御信号がD端子に入力される。そして、同期回路32bは、同期回路32aと同様、Q端子から同期信号を出力する。しかしながら、同期回路32bは、ADC27bから出力された完了信号がCK端子に入力される。
同期回路32bは、完了信号に同期して、D端子に入力されたヒータ制御信号に対応する同期信号をQ端子から出力する。つまり、同期回路32bは、完了信号に同期して通電制御を行う。上記のように、完了信号は、サンプリングクロックfsの立上りエッジから、AD変換に要する時間だけ遅れて出力される。よって、同期回路32bは、AD変換が完了した後に、同期信号を出力することになる。ADC27bと同期回路32bは、タイミング調整部に相当する。
このようにして、タイミング調整部は、ヒータ12に対する非通電から通電への切替タイミングを、ADC27aの変換タイミングからずらす。また、タイミング調整部は、ヒータ12に対する通電から非通電への切替タイミングを、ADC27aの変換タイミングからずらす。
ガス濃度検出装置102は、ガス濃度検出装置101と同様の効果を奏することができる。
(第3実施形態)
図7、図8、図9を用いて、第3実施形態のガス濃度検出装置103に関して説明する。ガス濃度検出装置103は、同期回路32cの構成がガス濃度検出装置101と異なる。また、ガス濃度検出装置103は、タイミング調整部の構成がガス濃度検出装置101と異なるともいえる。ガス濃度検出装置103は、ガス濃度検出装置101と同様の構成に同じ符号を付与している。
図7、図8に示すように、ヒータ制御部30cは、入力部33と同期回路32cを備えている。同期回路32cは、Dラッチ回路32c1、比較器32c2、カウンタ32c3、リセット回路32c4を備えている。同期回路32cは、タイミング調整部に相当する。
Dラッチ回路32c1は、D端子に入力部33が接続されており、かつ、CK端子に比較器32c2の出力端子が接続されている。Dラッチ回路32c1は、Q端子から同期信号を出力する。
比較器32c2は、判定値とカウント値が入力される。判定値は、ノイズ発生期間nopに基づいて設定されている。ヒータ12に流れる電流(ヒータ電流)は、同期信号が出力されてから流れ始め、一定の電流値まで上昇する。流れ始めから一定の電流値となるまでの期間nopは、ADC27aによるAD変換に悪影響をおよぼすノイズが発生する可能性がある。よって、この期間nopは、ノイズ発生期間nopといえる。ノイズ発生期間nopは、実験やシミュレーションなどによって得ることができる。判定値は、ノイズ発生期間nop中に変換タイミングとならないように設定されている。
カウンタ32c3は、カウンタ用クロックが入力される。カウンタ32c3は、カウンタ用クロックをカウントして、カウント値を比較器32c2に出力する。カウンタ32c3は、後ほど説明するリセット信号が入力されるとカウント値をリセットする。このため、カウンタ32c3は、サンプリングクロックfsの1周期内の時間を計測する計測部に相当する。
リセット回路32c4は、サンプリングクロックfsに同期して、カウンタ32c3にリセット信号を出力する。例えば、リセット回路32c4は、サンプリングクロックfsの立上りエッジに同期してリセット信号を出力する。
比較器32c2は、カウント値と判定値によって生成された信号を出力する。比較器32c2は、Dラッチ回路32c1のCK端子に信号を入力する。図9に示すように、比較器32c2が出力する信号は、ヒータ制御信号の出力タイミングと、ヒータ制御信号をマスクするマスク期間とを示す期間信号である。図9では、出力タイミング黒点で示し、マスク期間にハッチングを施している。
図9に示すように、比較器32c2は、カウント値が判定値以下の場合、出力期間を示す期間信号を出力する。出力タイミングは、通電制御を許可する許可タイミングである。このようにすることで、比較器32c2は、カウンタ32c3の計測結果から、変換タイミングまで所定時間ある場合に出力タイミングと設定する。つまり、比較器32c2は、変換タイミングまでに十分時間がある場合に出力タイミングとする。また、ノイズ発生期間nopと変換タイミングが重ならない場合に出力タイミングとするともいえる。
図9に示すように、比較器32c2は、カウント値が判定値を超えた場合、マスク期間を示す期間信号を出力する。マスク期間は、通電制御を禁止する期間である。このようにすることで、比較器32c2は、カウンタ32c3の計測結果から、変換タイミングまで所定時間ない場合にマスク期間と設定する。つまり、比較器32c2は、変換タイミングまでに十分時間がない場合にマスク期間とする。また、ノイズ発生期間nopと変換タイミングが重なる場合にマスク期間とするともいえる。
このようにして、タイミング調整部は、ヒータ12に対する非通電から通電への切替タイミングを、ADC27aの変換タイミングからずらす。また、タイミング調整部は、ヒータ12に対する通電から非通電への切替タイミングを、ADC27aの変換タイミングからずらす。
ガス濃度検出装置103は、ガス濃度検出装置101と同様の効果を奏することができる。
(第4実施形態)
図10、図11、図12を用いて、第4実施形態のガス濃度検出装置104に関して説明する。ガス濃度検出装置104は、ヒータ制御部30dの構成がガス濃度検出装置101と異なる。また、ガス濃度検出装置104は、タイミング調整部の構成がガス濃度検出装置101と異なるともいえる。ガス濃度検出装置104は、ガス濃度検出装置101と同様の構成に同じ符号を付与している。
図10、図11に示すように、ヒータ制御部30dは、入力部33と同期回路32aと調整回路34を備えている。ヒータ制御部30dは、タイミング調整部として調整回路34を備えている。調整回路34は、通電時間調整回路に相当する。また、ヒータ制御部30dは、ヒータ12と電気的に接続されたヒータスイッチ31のオンとオフを切り替えることで通電制御を行うものである。ヒータスイッチ31は、半導体スイッチに相当する。
調整回路34は、ヒータスイッチ31のTr時間と、ヒータスイッチ31のTf時間を調整する回路である。Tr時間は、ヒータスイッチ31であるMOSFETオン時の立ち上がり時間である。言い換えると、Tr時間は、ヒータ12への非通電状態から通電状態とする通電時間といえる。Tf時間は、ヒータスイッチ31であるMOSFETオフ時の立ち下がり時間である。言い換えると、Tf時間は、ヒータ12への通電状態から非通電状態とする非通電時間といえる。
ヒータスイッチ31であるMOSFETをオンオフするためには、MOSFETのゲートソース間容量およびドレインゲート間容量への充放電時間を制御する。そして、調整回路34は、この容量への充放電電流を増減させて、Tr時間およびTf時間を調整する。特に、調整回路34は、複数の抵抗によってTr/Tf時間を調整する。
なお、本実施形態では、Tr時間とTf時間の両方を調整する例を採用している。しかしながら、本開示は、これに限定されず、Tr時間とTf時間の少なくとも一方を調整するものであれば採用できる。
図11に示すように、調整回路34は、入力段にNOT回路5、第1入力スイッチ6a、第2入力スイッチ6bを備えている。第1入力スイッチ6aと第2入力スイッチ6bは、電源とグランドとの間に直列に接続されている。第1入力スイッチ6aと第2入力スイッチ6bは、同期信号に応じてオンオフする。第1入力スイッチ6aは、NOT回路5を介して同期信号が入力される。第2入力スイッチ6bは、NOT回路5を介することなく同期信号が入力される。
調整回路34は、出力段に第1抵抗素子1a、第2抵抗素子1b、第1出力スイッチ2a、第2出力スイッチ2b、第3出力スイッチ2cを備えている。第1抵抗素子1aは、第1出力スイッチ2aと直列回路を構成している。第2抵抗素子1bは、第3出力スイッチ2cと直列回路を構成している。これらの直列回路は、第2出力スイッチ2bと並列回路を構成している。また、この並列回路は、第1入力スイッチ6aと第2入力スイッチ6bの接続点と、ヒータスイッチ31のゲート端子との間に設けられている。
なお、第1抵抗素子1aと第1出力スイッチ2aの直列回路は、第1経路と称する。第2抵抗素子1bは、第2経路と称する。第2抵抗素子1bと第3出力スイッチ2cの直列回路は、第3経路と称する。
第1抵抗素子1aと第2抵抗素子1bは、抵抗値が異なるものを採用する。例えば、第2抵抗素子1bの抵抗値は、第1抵抗素子1aの抵抗値の2倍とする。
また、調整回路34は、第1出力スイッチ2a、第2出力スイッチ2b、第3出力スイッチ2cをオンオフ駆動するスイッチ駆動回路3を備えている。また、調整回路34は、Tr/Tf調整値が記憶されているROM4を備えている。スイッチ駆動回路3は、ガス濃度検出装置104の外部に設けられた電子制御装置などからの制御信号と、Tr/Tf調整値とに基づいて、第1出力スイッチ2a、第2出力スイッチ2b、第3出力スイッチ2cをオンオフ駆動する。Tr/Tf調整値は、第1出力スイッチ2a、第2出力スイッチ2b、第3出力スイッチ2cのどれをオンするかを示す値である。
また、スイッチ駆動回路3は、Tr/Tf調整値によって、第1出力スイッチ2a、第2出力スイッチ2b、第3出力スイッチ2cをオンオフ駆動することでゲート端子に接続する抵抗値を選択する。つまり、スイッチ駆動回路3は、第1経路から第3経路を選択する。スイッチ駆動回路3は、経路を選択して、ヒータスイッチ31のオン時に流れ込む電流、およびオフ時に流れ込む電流を制限する。また、調整回路34は、ヒータスイッチ31との間に複数の抵抗素子1a,1bを有し、使用する抵抗素子1a,1bによって通電時間と非通電時間を調整するといえる。
例えば、スイッチ駆動回路3は、Tr時間を早くしたいときにはTr/Tf調整値によって、例えば第2経路を選択して、ゲート端子に接続する抵抗値を減少させる。また、スイッチ駆動回路3は、Tr時間を遅くしたいときには、Tr/Tf調整値によって、例えば第3経路を選択して、ゲート端子に接続する抵抗値を増加させる。
調整回路34は、Tr時間を調整することで、サンプリングクロックfsの1周期よりも短い期間に、非通電状態から通電状態までの立ち上がり時間の完了を行う。また、調整回路34は、Tf時間を調整することで、サンプリングクロックfsの1周期よりも短い期間に、通電状態から非通電状態までの立ち下がり時間の完了を行う。このようにして、調整回路34は、切替タイミングを変換タイミングからずらす。調整回路34は、Tr時間を調整することで、ヒータ12への通電開始時における切替タイミングを変換タイミングからずらす。また、調整回路34は、Tf時間を調整することで、ヒータ12への非通電開始時における切替タイミングを変換タイミングからずらす。なお、本開示は、これらの少なくとも一方を行う調整回路であっても採用できる。
例えば、図12では、ヒータ12への通電開始時のタイミングチャートを示している。タイミングt1~t6のそれぞれがサンプリングクロックfsの立上りエッジを示している。よって、ADC27aは、タイミングt1~t6のそれぞれのタイミングでAD変換する。
ヒータ12に流れる電流(ヒータ電流)は、同期信号が出力されてから流れ始め、一定の電流値まで上昇する。流れ始めから一定の電流値となるまでの期間は、ノイズ発生期間nopである。そして、調整回路34は、Tr時間を調整することで、ヒータ12への通電開始時のノイズ発生期間nopを調整する。なお、調整回路34は、Tf時間を調整することで、ヒータ12への非通電開始時のノイズ発生期間nopを調整する。
ガス濃度検出装置104は、ガス濃度検出装置101と同様の効果を奏することができる。
(第5実施形態)
図13、図14を用いて、第5実施形態のガス濃度検出装置105に関して説明する。ガス濃度検出装置105は、ヒータ制御部30eの構成がガス濃度検出装置104と異なる。また、ガス濃度検出装置105は、タイミング調整部の構成がガス濃度検出装置104と異なるともいえる。さらに、ガス濃度検出装置105は、定電流回路によって通電時間と非通電時間を調整する点がガス濃度検出装置104と異なる。ガス濃度検出装置105は、ガス濃度検出装置104と同様の構成に同じ符号を付与している。
図13、図14に示すように、ヒータ制御部30eは、入力部33と同期回路32aと調整回路35を備えている。調整回路35は、通電時間調整回路に相当する。調整回路35は、スイッチ駆動回路3a、ROM4a、NOT回路5を備えている。
調整回路35は、入力段にTr時間の調整を行うための第1AND回路9a、第2AND回路9b、第3AND回路9cを備えている。また、調整回路35は、入力段にTf時間の調整を行うための第4AND回路9x、第5AND回路9y、第6AND回路9zを備えている。
さらに、調整回路35は、出力段にTr時間の調整を行うための第1定電流回路7a、第2定電流回路7b、第3定電流回路7cを備えている。調整回路35は、各定電流回路7a~7cと接続された第1出力スイッチ8a、第2出力スイッチ8b、第3出力スイッチ8cを備えている。
また、調整回路35は、出力段にTf時間の調整を行うための第4定電流回路7x、第5定電流回路7y、第6定電流回路7zを備えている。調整回路35は、各定電流回路7x~7z接続された第4出力スイッチ8x、第5出力スイッチ8y、第6出力スイッチ8zを備えている。
ROM4aは、Tr調整値とTf調整値とが記憶されている。スイッチ駆動回路3aは、ヒータスイッチ31をオンする際に、制御信号とTr調整値に基づいて、第1出力スイッチ8a、第2出力スイッチ8b、第3出力スイッチ8cをオンオフ駆動する。これによって、スイッチ駆動回路3aは、ヒータスイッチ31をオンする際の定電流回路を、第1定電流回路7a、第2定電流回路7b、第3定電流回路7cから設定する。なお、制御信号は、ガス濃度検出装置104の外部に設けられた電子制御装置などから出力される。
例えば、スイッチ駆動回路3は、Tr時間を早くしたいときにはTr調整値によって、例えば第1出力スイッチ8a~第3出力スイッチ8cをオンして、ゲート端子に接続する定電流回路を増加させる。また、スイッチ駆動回路3は、Tr時間を遅くしたいときには、Tr/Tf調整値によって、例えば第1出力スイッチ8aのみをオンして、ゲート端子に接続する定電流回路を減少させる。
また、スイッチ駆動回路3aは、ヒータスイッチ31をオフする際に、制御信号とTf調整値に基づいて、第4出力スイッチ8x、第5出力スイッチ8y、第6出力スイッチ8zをオンオフ駆動する。これによって、スイッチ駆動回路3aは、ヒータスイッチ31をオフする際の定電流回路を、第4定電流回路7x、第5定電流回路7y、第6定電流回路7zから設定する。
調整回路35は、Tr時間を調整することで、サンプリングクロックfsの1周期よりも短い期間に、非通電状態から通電状態までの完了を行う。また、調整回路35は、Tf時間を調整することで、サンプリングクロックfsの1周期よりも短い期間に、通電状態から非通電状態までの完了を行う。このようにして、調整回路35は、切替タイミングを変換タイミングからずらす。調整回路35は、Tr時間を調整することで、ヒータ12への通電開始時における切替タイミングを変換タイミングからずらす。また、調整回路34は、Tf時間を調整することで、ヒータ12への非通電開始時における切替タイミングを変換タイミングからずらす。なお、本開示は、これらの少なくとも一方を行う調整回路であっても採用できる。
ガス濃度検出装置105は、ガス濃度検出装置104と同様の効果を奏することができる。
本開示は、実施形態に準拠して記述されたが、本開示は当該実施形態や構造に限定されるものではないと理解される。本開示は、様々な変形例や均等範囲内の変形をも包含する。加えて、様々な組み合わせや形態が本開示に示されているが、それらに一要素のみ、それ以上、あるいはそれ以下、を含む他の組み合わせや形態をも、本開示の範畴や思想範囲に入るものである。
10…ガス濃度センサ、11…センサ素子、12…ヒータ、20…センサ制御部、21…検出部、22…第1AMP、23…抵抗素子、24…第2AMP、25…DAC、26…AFE、27a,27b…ADC、28…発振器、30a~30e…ヒータ制御部、31…ヒータスイッチ、32a~32c…同期回路、33…入力部、34,35…調整回路40…遅延回路、101~105…ガス濃度検出装置

Claims (7)

  1. ガス濃度検出装置であって、
    前記ガス濃度検出装置の外部に設けられた電子制御装置から制御信号が入力され、
    ガス濃度に応じた電気信号を出力するガスセンサ素子(11)と、前記ガスセンサ素子を加熱するヒータ(12)と、を有するガス濃度センサ(10)と、
    前記制御信号に基づいて、前記ヒータへの通電と非通電の通電制御を行うヒータ制御部(30a~30e)と、
    サンプリングクロックに同期して前記電気信号をアナログ信号からデジタル信号にAD変換するAD変換器(27a,27b)を有し、前記AD変換器の出力信号に基づいて前記ガス濃度を検出するセンサ制御部(20)と、
    前記通電制御の切替タイミングを前記AD変換器が前記AD変換を行う変換タイミングからずらすタイミング調整部(32a~32c,34,35,40)と、を備えているガス濃度検出装置。
  2. 前記AD変換器は、前記AD変換が完了すると完了信号を出力し、
    前記タイミング調整部は、前記ヒータ制御部に設けられ前記完了信号が入力される同期回路を有し、前記同期回路が、前記完了信号に同期して前記通電制御を行うことで、前記切替タイミングを前記変換タイミングからずらす請求項1に記載のガス濃度検出装置。
  3. 前記ヒータ制御部は、前記サンプリングクロックの1周期内の時間を計測する計測部を有し、
    前記タイミング調整部は、前記ヒータ制御部に設けられており、前記通電制御を許可する許可タイミングと、前記通電制御を禁止するマスク期間とを設定可能であり、前記計測部の計測結果から前記変換タイミングまで所定時間ある場合に前記許可タイミングと設定し、前記変換タイミングまで前記所定時間ない場合に前記マスク期間と設定することで、前記切替タイミングを前記変換タイミングからずらす請求項1に記載のガス濃度検出装置。
  4. ガス濃度に応じた電気信号を出力するガスセンサ素子(11)と、前記ガスセンサ素子を加熱するヒータ(12)と、を有するガス濃度センサ(10)と、
    前記ヒータへの通電と非通電の通電制御を行うヒータ制御部(30a~30e)と、
    サンプリングクロックに同期して前記電気信号をアナログ信号からデジタル信号にAD変換するAD変換器(27a,27b)を有し、前記AD変換器の出力信号に基づいて前記ガス濃度を検出するセンサ制御部(20)と、
    前記通電制御の切替タイミングを前記AD変換器が前記AD変換を行う変換タイミングからずらすタイミング調整部(32a~32c,34,35,40)と、を備え、
    前記ヒータ制御部は、前記タイミング調整部として、非通電状態から通電状態とする立ち上がり時間と、前記通電状態から前記非通電状態とする立ち下がり時間の少なくとも一方を調整する通電時間調整回路を有し、
    前記通電時間調整回路は、前記サンプリングクロックの1周期よりも短い期間に、前記非通電状態から前記通電状態までの前記立ち上がり時間の完了、または、前記通電状態から前記非通電状態までの前記立ち下がり時間の完了を行うガス濃度検出装置。
  5. 前記ヒータ制御部は、前記ヒータと電気的に接続された半導体スイッチのオンとオフを切り替えることで前記通電制御を行うものであり、
    前記通電時間調整回路は、前記半導体スイッチとの間に複数の抵抗素子を有し、使用する前記抵抗素子によって前記立ち上がり時間と前記立ち下がり時間を調整することで、前記サンプリングクロックの1周期よりも短い期間に、前記非通電状態から前記通電状態までの完了、または、前記通電状態から前記非通電状態までの完了を行う請求項に記載のガス濃度検出装置。
  6. 前記ヒータ制御部は、前記ヒータと電気的に接続された半導体スイッチのオンとオフを切り替えることで前記通電制御を行うものであり、
    前記通電時間調整回路は、前記半導体スイッチとの間に複数の定電流回路を有し、使用する前記定電流回路によって前記立ち上がり時間と前記立ち下がり時間を調整することで、前記サンプリングクロックの1周期よりも短い期間に、前記非通電状態から前記通電状態までの完了、または、前記通電状態から前記非通電状態までの完了を行う請求項に記載のガス濃度検出装置。
  7. 前記ヒータ制御部は、前記ヒータの温度を検出することなく、前記ヒータへの通電と非通電の通電制御を行う請求項1~のいずれか1項に記載のガス濃度検出装置。
JP2020138191A 2020-08-18 2020-08-18 ガス濃度検出装置 Active JP7452323B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020138191A JP7452323B2 (ja) 2020-08-18 2020-08-18 ガス濃度検出装置
US17/403,601 US11953467B2 (en) 2020-08-18 2021-08-16 Gas concentration detection device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020138191A JP7452323B2 (ja) 2020-08-18 2020-08-18 ガス濃度検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2022034413A JP2022034413A (ja) 2022-03-03
JP7452323B2 true JP7452323B2 (ja) 2024-03-19

Family

ID=80270651

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020138191A Active JP7452323B2 (ja) 2020-08-18 2020-08-18 ガス濃度検出装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11953467B2 (ja)
JP (1) JP7452323B2 (ja)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004077328A (ja) 2002-08-20 2004-03-11 Denso Corp ガスセンサのヒータ制御装置
JP2007024538A (ja) 2005-07-12 2007-02-01 Yamaha Motor Co Ltd ガス検出装置の温度制御装置ならびにそれを備える空燃比制御装置及び内燃機関
US20080099333A1 (en) 2006-10-26 2008-05-01 Nair Balakrishnan Nair Vijayak Control circuit for multiple oxygen sensor heater elements
JP2008203190A (ja) 2007-02-22 2008-09-04 Ngk Spark Plug Co Ltd センサ制御装置
JP2015514980A (ja) 2012-03-27 2015-05-21 ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 加熱可能な排ガスセンサを作動させる方法および装置
JP2020003296A (ja) 2018-06-27 2020-01-09 株式会社デンソー 排気ガスセンサの信号処理装置。

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3117790A1 (de) 1981-05-06 1982-11-25 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Verfahren und vorrichtung zur temperaturmessung bei sauerstoffsonden
EP1026501B1 (en) * 1999-02-03 2010-10-06 Denso Corporation Gas concentration measuring apparatus compensating for error component of output signal
JP3843880B2 (ja) * 2001-05-31 2006-11-08 株式会社デンソー ガス濃度センサのヒータ制御装置
JP4178885B2 (ja) * 2002-08-30 2008-11-12 株式会社デンソー ガス濃度検出装置
JP2007024539A (ja) * 2005-07-12 2007-02-01 Yamaha Motor Co Ltd ガス検出装置の制御装置ならびにそれを備える空燃比制御装置及び内燃機関
JP6147630B2 (ja) * 2013-09-24 2017-06-14 日本特殊陶業株式会社 ガスセンサのヒータ制御装置
JP6989336B2 (ja) * 2017-10-06 2022-01-05 日本特殊陶業株式会社 センサ制御装置およびセンサユニット
CN112074729B (zh) * 2018-01-05 2024-05-07 汉席克卡德应用研究协会 气体传感器以及用于运行气体传感器的方法
CN112055811B (zh) * 2018-01-05 2023-12-26 汉席克卡德应用研究协会 用于热学气体传感器的评估装置、方法和计算机可读介质

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004077328A (ja) 2002-08-20 2004-03-11 Denso Corp ガスセンサのヒータ制御装置
JP2007024538A (ja) 2005-07-12 2007-02-01 Yamaha Motor Co Ltd ガス検出装置の温度制御装置ならびにそれを備える空燃比制御装置及び内燃機関
US20080099333A1 (en) 2006-10-26 2008-05-01 Nair Balakrishnan Nair Vijayak Control circuit for multiple oxygen sensor heater elements
JP2008203190A (ja) 2007-02-22 2008-09-04 Ngk Spark Plug Co Ltd センサ制御装置
JP2015514980A (ja) 2012-03-27 2015-05-21 ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 加熱可能な排ガスセンサを作動させる方法および装置
JP2020003296A (ja) 2018-06-27 2020-01-09 株式会社デンソー 排気ガスセンサの信号処理装置。

Also Published As

Publication number Publication date
US20220057364A1 (en) 2022-02-24
US11953467B2 (en) 2024-04-09
JP2022034413A (ja) 2022-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7864093B2 (en) Pulse phase difference detecting circuit and A/D converter using the same
CN102741659B (zh) 检测信号处理用2值化电路
KR20180088388A (ko) 디지털 방식으로 제어되는 제로 전압 스위칭
KR101434057B1 (ko) 위상 변환 회로 및 그를 포함하는 역률 보상 회로
JP5559675B2 (ja) アクチュエータ駆動装置
JP2009533694A (ja) 磁気物品検出器における動的オフセット調整のための方法および装置
CN102377343B (zh) 固定工作时间切换式直流电源供应器及其控制电路及方法
JP7452323B2 (ja) ガス濃度検出装置
JP2015080158A (ja) 半導体装置及び電子制御装置
US20190265278A1 (en) Low overhead on chip scope
WO2015043020A1 (zh) 一种高精度电压检测电路及方法
JP2006173807A (ja) アナログデジタル変換器
US11949363B2 (en) Motor driver circuit, positioning device and hard disk apparatus using same, and motor driving method
JP5882539B2 (ja) D/a変換器及びd/a変換器の制御方法
JP2007187489A (ja) 半導体集積回路
EP3462618B1 (en) System and method for providing an output signal without or with reduced jitter based upon an input signal notwithstanding phase changes in a clock signal
US10581366B2 (en) Calculation apparatus and processing apparatus
TW201636633A (zh) 磁感測電路
JP5458806B2 (ja) A/d変換装置
US7786775B2 (en) Delay circuit
JP6720837B2 (ja) 空燃比センサ制御装置
JP4415748B2 (ja) サンプルホールド回路
WO2021199955A1 (ja) パルスエッジ検出回路
JP2008236420A (ja) 電荷操作型adc回路
JP2017135513A (ja) 電子制御装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20221107

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230719

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230801

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230925

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20231219

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20240129

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20240206

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20240219

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7452323

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151