JP7451645B2 - 固体撮像素子 - Google Patents

固体撮像素子 Download PDF

Info

Publication number
JP7451645B2
JP7451645B2 JP2022164176A JP2022164176A JP7451645B2 JP 7451645 B2 JP7451645 B2 JP 7451645B2 JP 2022164176 A JP2022164176 A JP 2022164176A JP 2022164176 A JP2022164176 A JP 2022164176A JP 7451645 B2 JP7451645 B2 JP 7451645B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light splitting
solid
color filter
splitting structure
filter segment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2022164176A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2023160709A (ja
Inventor
王俊元
李京樺
塗宗儒
張育淇
呉翰林
蔡鴻仁
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
VisEra Technologies Co Ltd
Original Assignee
VisEra Technologies Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by VisEra Technologies Co Ltd filed Critical VisEra Technologies Co Ltd
Publication of JP2023160709A publication Critical patent/JP2023160709A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7451645B2 publication Critical patent/JP7451645B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14621Colour filter arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14643Photodiode arrays; MOS imagers
    • H01L27/14645Colour imagers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14603Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L27/14627Microlenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L27/14629Reflectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1463Pixel isolation structures

Landscapes

  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
  • Color Television Image Signal Generators (AREA)

Description

本発明は、イメージセンサに関するものであり、特に、カラーフィルタ層に配置された光分割構造を含む固体撮像素子に関するものである。
固体撮像素子(例えば、電荷結合素子(CCD)イメージセンサ、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)イメージセンサなど)は、デジタル静止画カメラ、デジタルビデオカメラなどの様々な撮像装置に広く用いられている。固体撮像素子の光検知部は、各画素に形成され、信号電荷が光検知部で受光した受光量に応じて発生される。また、光検知部で発生した信号電荷が伝達されて増幅されることにより、画像信号が得られる。
従来のマルチPD(即ち、2つ、4つ、またはそれ以上のフォトダイオードに対応する1つのマイクロレンズ)固体撮像素子では、長波長の光が固体撮像素子に入射した後、分離構造(例えば、ディープトレンチアイソレーション(DTI))に集光される可能性があり、これは強い散乱を引き起こし、クロストークを生じる可能性がある。従って、固体撮像素子の設計と製造には、依然としてさまざまな課題がある。
カラーフィルタ層に配置された光分割構造を含む固体撮像素子を提供する。
本開示のいくつかの実施形態では、固体撮像素子は、カラーフィルタ層(のカラーフィルタセグメント)に配置された光分割構造を含み、散乱およびクロストークを効果的に低減し、固体撮像素子の光電変換素子からの画像信号の品質を向上させることができる。
本開示のいくつかの実施形態によれば、固体撮像素子が提供される。固体撮像素子は、複数の光電変換素子および光電変換素子の上方に配置されたカラーフィルタ層を含む。カラーフィルタ層は、第1のカラーフィルタセグメントおよび第1のカラーフィルタセグメントに隣接した第2のカラーフィルタセグメントを有する。第1のカラーフィルタセグメントおよび第2のカラーフィルタセグメントは、異なる色に対応する。固体撮像素子は、第1のカラーフィルタセグメントまたは第2のカラーフィルタセグメントに配置された光分割構造、および、第1のカラーフィルタセグメントと第2のカラーフィルタセグメントとの間に配置されたグリッド構造をさらに含む。光分割構造はグリッド構造から分離されている。
いくつかの実施形態では、複数の光電変換素子は、複数の第1の光電変換素子と複数の第2の光電変換素子に分割される。第1のカラーフィルタセグメントは、第1の光電変換素子に対応し、第2のカラーフィルタセグメントは、第2の光電変換素子に対応する。
いくつかの実施形態では、固体撮像素子は、光電変換素子同士の間に配置され、複数の第1の分離セグメントおよび複数の第2の分離セグメントを有する分離構造を含む。第1の分離セグメントは、第1の光電変換素子と第2の光電変換素子との間に配置され、第2の分離セグメントは、第1の光電変換素子同士の間、および第2の光電変換素子同士の間に配置される。グリッド構造は第1の分離セグメントに対応し、光分割構造は少なくとも1つの第2の分離セグメントに対応する。
いくつかの実施形態では、固体撮像素子の上面図からでは、光分割構造は、対応する第2の分離セグメントと重なっている。
いくつかの実施形態では、固体撮像素子の上面図からでは、光分割構造の外形が十字形であるとき、光分割構造は、0~45度で対応する第2の分離セグメントからオフセットされる。
いくつかの実施形態では、グリッド構造は、第1の分離セグメントに対して第1のシフトを有し、光分割構造は、対応する第2の分離セグメントに対して第2のシフトを有する。
いくつかの実施形態では、第1のシフトは第2のシフトと異なる。
いくつかの実施形態では、光分割構造の高さは、グリッド構造の高さ以下である。
いくつかの実施形態では、固体撮像素子の上面図からでは、光分割構造の外形は、円形、正方形、長方形、または、十字形である。
いくつかの実施形態では、光分割構造の幅は、50nm~200nmの間である。
いくつかの実施形態では、カラーフィルタ層の高さに対する光分割構造の高さの比は、0.3~0.9の間である。
いくつかの実施形態では、光分割構造の屈折率は、1~1.45の間である。
いくつかの実施形態では、光分割構造は、第1のカラーフィルタセグメントまたは第2のカラーフィルタセグメントの中心に配置された第1の部分、および第1のカラーフィルタセグメントまたは第2のカラーフィルタセグメントの少なくとも1つの角の近くに配置された第2の部分を有する。
いくつかの実施形態では、光分割構造は、2つの光電変換素子または4つの光電変換素子に対応する。
いくつかの実施形態では、固体撮像素子は、光分割構造の底部に配置されたインナーピラーを含む。インナーピラーは、非透過性材料を含む。
いくつかの実施形態では、インナーピラーの幅は50nm~100nmの間であり、インナーピラーの高さは150nm未満である。
いくつかの実施形態では、固体撮像素子は、光分割構造の底部に配置された補助光分割構造をさらに含む。
いくつかの実施形態では、補助光分割構造は、グリッド構造の下部にさらに配置される。
いくつかの実施形態では、補助光分割構造は、光分割構造と異なる少なくとも1つの材料を含み、補助光分割構造の屈折率は、1~1.65の間である。
いくつかの実施形態では、補助光分割構造の幅は、光分割構造の幅以上であり、補助光分割構造の高さは、50nm~350nmの間である。
本発明は、添付の図面を参照しながら以下の詳細な説明から、より完全に理解することができる。業界の標準的な慣行に従って、さまざまな特徴が縮尺どおりに描かれていない。実際、さまざまな特徴の寸法は、説明を明確にするために、任意に拡大または縮小されている。
図1は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図2は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図である。 図3は、入射光のエネルギー場分布の概略図である。 図4は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図5は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図6は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図7は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図8は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図である。 図9は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図10は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図である。 図11は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図12は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図である。 図13は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図14は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図である。 図15は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図16は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図である。 図17は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図である。 図18は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図19は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図である。 図20は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図21は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図である。 図22は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図23Aは、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図23Bは、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図23Cは、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図23Dは、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図23Eは、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図23Fは、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図24は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図25は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図である。 図26は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図27は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図である。 図28は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図29は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図である。 図30は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を示す上面図である。 図31は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図である。
次の開示では、異なる特徴を実施するために、多くの異なる実施形態または実施例を提供する。本開示を簡潔に説明するために、複数の要素および複数の配列の特定の実施形態が以下に述べられる。これらはもちろん単に例示するためであり、それに限定するという意図はない。例えば、下記の開示において、第1の特徴が第2の特徴の上に形成されるということは、第1と第2の特徴が直接接触して形成される複数の実施形態を含むことができ、且つ第1と第2の特徴が直接接触しないように、付加的な特徴が第1と第2の特徴間に形成される複数の実施形態を含むこともできる。
追加のステップが、例示された方法の前、間、または後に実施されてもよく、例示された方法のその他の実施形態では、いくつかのステップが置き換えられるか、または省略されてもよい。
さらに、「下の方」、「下方」、「下部」、「上」、「上方」、「上部」およびこれらに類する語のような、空間的に相対的な用語は、図において1つの要素または特徴の、別の(複数の)要素と(複数の)特徴との関係を記述するための説明を簡潔にするために用いられる。空間的に相対的な用語は、図に記載された方向に加えて、使用または操作する装置の異なる方向を包含することを意図している。装置は、他に方向づけされてもよく(90度回転、または他の方向に)、ここで用いられる空間的に相対的な記述は、同様にそれに応じて解釈され得る。
本開示では、「約」、「およそ」、および「実質的に」という用語は、一般的に、記載されている値の+/-20%を意味し、より一般的に、記載されている値の+/-10%を意味し、より一般的に、記載されている値の+/-5%を意味し、より一般的に、記載されている値の+/-3%を意味し、より一般的に、記載されている値の+/-2%を意味し、より一般的に、記載されている値の+/-1%を意味し、さらにより一般的に、記載されている値の+/-0.5%を意味する。本開示で記載されている値は、近似値である。即ち、「約」、「およそ」、および「実質的に」という用語の具体的な説明がないとき、記載されている値は、「約」、「およそ」、または、「実質的に」の意味を含む。
特に定義されない限り、本明細書で使用される全ての用語(技術的及び科学的用語を含む)は、本発明が属する技術分野の当業者によって一般的に理解されるのと同じ意味を有する。さらに、一般的に使用される辞書に定義されているような用語は、関連技術の文脈における意味と一致する意味を有するものと解釈されるべきであり、本明細書で明示的に定義されていない限り、理想化された又は過度に形式的な意味で解釈されない。
本開示は、以下の実施形態において同じ構成要素の参照用符号および/または文字を繰り返し用いる可能性がある。繰り返し用いる目的は、簡易化した、明確な説明を提供するためのもので、説明される様々な実施形態および/または構成の関係を限定するものではない。
図1は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子100の一部を示す上面図である。図2は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子100の一部を示し得る断面図CS1である。例えば、図2は、図1の線A-A’に沿った固体撮像素子100の一部の断面図であり得る。固体撮像素子100のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図1および図2では省略されていることに留意されたい。
図2に示すように、いくつかの実施形態では、固体撮像素子100は、半導体基板10を含む。半導体基板10は、ウェハまたはチップであってもよい。例えば、半導体基板10はシリコーンを含み得るが、本開示はそれに限定されない。
いくつかの実施形態では、半導体基板10は、図2に示されるように、光電変換素子11Bおよび光電変換素子11Rなどの複数の光電変換素子11を有する。光電変換素子11は、異なる色の光を受光するように用いられる。例えば、光電変換素子11Bは青色光を受光するように用いられることができ、光電変換素子11Rは赤色光を受光するように用いられることができるが、本開示はそれらに限定されない。半導体基板10は、例えば、緑色、黄色、白色、シアン光、またはIR/NIRを受光するように用いられることができる他の光電変換素子を有してもよく、実際の必要に応じて調整されることができる。
図2に示されるように、いくつかの実施形態では、固体撮像素子100は、光電変換素子11の間に配置された分離構造13を含む。例えば、分離構造13は、シャロートレンチアイソレーション(STI)またはディープトレンチアイソレーション(DTI)を含むことができる。分離構造13は、エッチングプロセスを用いて半導体基板10に形成されてトレンチを形成し、トレンチを絶縁材料または誘電体材料で充填することができるが、本開示はそれに限定されない。
図2の断面図CS1に示されるように、いくつかの実施形態では、分離構造13は、第1の分離セグメント13S1および第2の分離セグメント13S2を有し(または分割され)、第1の分離セグメント13S1は、光電変換素子11Bと光電変換素子11Rとの間に配置され、第2の分離セグメント13S2は、光電変換素子11Bと光電変換素子11Rとの間に配置される。言い換えれば、第1の分離セグメント13S1は、異なる色の光を受光する光電変換素子11を分離するように用いられることができ、第2の分離セグメント13S2は、同じ色の光を受光する光電変換素子11を分離するように用いられることができる。図1の上面図では、第1の分離セグメント13S1および第2の分離セグメント13S2は、破線として図示されていることに留意されたい。
図1および図2に示すように、いくつかの実施形態では、固体撮像素子100は、光電変換素子11(半導体基板10)の上方に配置されたカラーフィルタ層20を含む。いくつかの実施形態では、カラーフィルタ層20は、光電変換要素11に対応するカラーフィルタセグメントを有する(または分割される)。例えば、図2に示されたように、カラーフィルタ層20は、光電変換素子11Bに対応する青色カラーフィルタセグメント20SBと、光電変換素子11Rに対応する赤色カラーフィルタセグメント20SRを有することができる。また、図1に示されたように、カラーフィルタ層20は、もう1つの光電変換素子に対応する緑色カラーフィルタセグメント20SG(図1に示された2つの緑色カラーフィルタセグメント20SGがある)を有することができるが、本開示はそれに限定されない。
いくつかの他の実施形態では、カラーフィルタ層20は、もう1つのカラーフィルタセグメントを有する(または分割(divided)される)。例えば、カラーフィルタ層20は、黄色カラーフィルタセグメント、白色カラーフィルタセグメント、シアンカラーフィルタセグメント、マゼンタカラーフィルタセグメント、またはIR/NIRカラーフィルタセグメントを有することができるが、本開示はそれらに限定されない。
図1および図2に示されたように、いくつかの実施形態では、固体撮像素子100は、カラーフィルタセグメント間に配置されたグリッド構造30を含む。例えば、図1(および図2)に示されるように、グリッド構造30は、緑色カラーフィルタセグメント20SGと赤色カラーフィルタセグメント20SRとの間、および、緑色カラーフィルタセグメント20SGと青色カラーフィルタセグメント20SBとの間に配置されることができるが、本開示は、それらに限定されない。グリッド構造30は、約1.0~約1.99の範囲の低屈折率を有する透明誘電体材料を含むことができる。いくつかの実施形態では、グリッド構造30の屈折率は、カラーフィルタ層20(赤色カラーフィルタセグメント20SR、緑色カラーフィルタセグメント20SG、青色カラーフィルタセグメント20SBなどを含む)の屈折率より低い。
グリッド構造30は、半導体基板10上に誘電体層を堆積し、次いで、フォトリソグラフィーおよびエッチングプロセスを用いて誘電体層をパターン化することによって形成されることができるが、本開示はそれに限定されない。図2に示されたように、いくつかの実施形態では、グリッド構造30は、第1の分離セグメント13S1に対応する。例えば、グリッド構造30の中心軸C30は、図2に示されたように、第1の分離セグメント13S1の中心軸C13S1と重なることができる。さらに、グリッド構造30は、第1の分離セグメント13S1と一列に整列されることができるが、本開示はそれに限定されない。
図1および図2に示されるように、いくつかの実施形態では、固体撮像素子100は、少なくとも1つのカラーフィルタセグメントに配置された光分割構造40を含む。例えば、図1および図2に示されたように、光分割構造40は、赤色カラーフィルタセグメント20SR、緑色カラーフィルタセグメント20SG、および青色カラーフィルタセグメント20SBに配置されることができるが、本開示はそれに限定されない。
光分割構造40の材料および製造方法は、これらのグリッド構造30と同一または類似していてもよい。言い換えれば、光分割構造40は、透明誘電体材料を含み得るが、本開示はそれに限定されない。いくつかの実施形態では、光分割構造40の屈折率は、約1~約1.45の間である。
図1および図2に示されたように、いくつかの実施形態では、光分割構造40は、グリッド構造30から分離されている。さらに、いくつかの実施形態では、光分割構造40は、少なくとも1つの第2の分離セグメント13S2に対応する。例えば、光分割構造40の中心軸C40は、図2に示されたように、対応する第2の分離セグメント13S2の中心軸C13S2と重なることができるが、本開示はそれに限定されない。
いくつかの実施形態では、固体撮像素子100の上面図(例えば、図1)からは、光分割構造40の外形は正方形であるが、本開示はそれに限定されない。いくつかの他の実施形態では、光分割構造40の外形は、円形、長方形、十字形、または任意の他の適切な形状である。さらに、いくつかの実施形態では、光分割構造40の幅W40は、約50nm~約200nmの間である。ここでは、光分割構造40の幅W40は、光分割構造40の平行な2辺の最短距離として定義される。固体撮像素子100(図1に示されている)を例としてとると、光分割構造40の幅W40は、正方形の辺の長さとして定義される。
図2に示されるように、いくつかの実施形態では、カラーフィルタ層20の高さH20は、グリッド構造30の高さH30と等しい。さらに、いくつかの実施形態では、光分割構造40の高さH40は、カラーフィルタ層20の高さH20より低い。いくつかの実施形態では、カラーフィルタ層20の高さH20に対する光分割構造40の高さH40の比(即ち、H40/H20)は、約0.3~約0.9の間である。
本開示の実施形態では、カラーフィルタ層20(のカラーフィルタセグメント)に配置された光分割構造40は、散乱およびクロストークを効果的に低減するため、固体撮像素子100の光電変換素子11からの画像信号の品質を向上させることができる。カラーフィルタ層20の高さH20に対する光分割構造40の高さH40の比(即ち、H40/H20)が0.3以下である場合、光分割構造40は、散乱およびクロストークを低減しない可能性がある。カラーフィルタ層20の高さH20に対する光分割構造40の高さH40の比(即ち、H40/H20)が0.9以下である場合、クロストークがカラーフィルタ層20で発生する可能性がある。
図1に示された実施形態では、光分割構造40は、全てのカラーフィルタセグメント(例えば、赤色カラーフィルタセグメント20SR、緑色カラーフィルタセグメント20SG、および青色カラーフィルタセグメント20SB)に配置されているが、本開示はそれに限定されない。いくつかの他の実施形態では、光分割構造40は、特定のカラーフィルタセグメント(例えば、緑色カラーフィルタセグメント20SG)にのみ配置される。図1に示されるように、各分割構造40は4つの光電変換素子11に対応し、4つの光電変換素子11は2×2配列を形成するが、本開示はそれに限定されない。いくつかの他の実施形態では、光分割構造40は、2つの光電変換素子11に対応する。
図1および図2に示されるように、固体撮像素子100は、グリッド構造30の底部に配置された遮光層32を含む。遮光層32は、金属を含むことができ、金属グリッド構造と呼ばれることができる。例えば、金属は、金(Au)、ニッケル(Ni)、白金(Pt)、パラジウム(Pd)、イリジウム(Ir)、チタン(Ti)、クロム(Cr)、タングステン(W)、アルミニウム(Al)、銅(Cu)など、それらの合金、またはそれらの組み合わせを含むことができるが、本開示はそれらに限定されない。
図2に示されるように、固体撮像素子100は、カラーフィルタ層20の上に配置された集光構造50を含む。集光構造50は、ガラス、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、ポリウレタン、任意の他の適用可能な材料、またはそれらの組み合わせを含むことができるが、本開示はそれらに限定されない。例えば、集光構造50は、フォトレジストリフロー法、ホットエンボス法、任意の他の適用可能な方法、またはそれらの組み合わせによって形成されることができる。さらに、集光構造50を形成するステップは、スピンコーティングプロセス、リソグラフィプロセス、エッチングプロセス、任意の他の適用可能なプロセス、またはそれらの組み合わせを含むことができるが、本開示はそれに限定されない。
図2に示されるように、いくつかの実施形態では、各集光構造50は、1つのカラーフィルタセグメント(例えば、赤色カラーフィルタセグメント20SR、緑色カラーフィルタセグメント20SG、または青色カラーフィルタセグメント20SB)に対応する。同様に、いくつかの実施形態(例えば、図1に示された実施形態)では、各集光構造50は4つの光電変換素子11に対応し、4つの光電変換素子11は2×2配列(二次フォトダイオード(QPD)と呼ばれることもできる)を形成するが、本開示はそれに限定されない。いくつかの他の実施形態では、各集光構造50は、2つの光電変換素子11(デュアルフォトダイオード(DPD)と呼ばれることもできる)に対応する。
集光構造50は、マイクロレンズであることができる。例えば、マイクロレンズは、半凸レンズまたは凸レンズを含むことができるが、本開示はこれらに限定されない。集光構造50は、マイクロピラミッド構造(例えば、円錐、四角錐など)、またはマイクロ台形構造(例えば、円錐台、四角錐台など)であってもよい。あるいは、集光構造50は、屈折率勾配(gradient-index)構造であってもよい。
図3は、入射光Lのエネルギー場分布の概略図である。図3に示されるように、入射光Lが固体撮像素子100に入射し(集光構造50を通過して)、光分割構造40に接触したとき、光L1と光L2に分割(分割(divided))されることができる。光分割構造40は、低屈折率(例えば、約1~約1.45の間)を有する透明誘電体材料を含むため、入射光Lは、低いエネルギー損失でのみ分割され、光分割構造40の中心近くの入射光Lのエネルギー場は、図3に示されるようにエバネッセント波を生じ得る。
図4は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子102の一部を示す上面図である。図5は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子104の一部を示す上面図である。図6は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子106の一部を示す上面図である。例えば、図4に示された固体撮像素子102、図5に示された固体撮像素子104、および図6に示された固体撮像素子106は、図1に示された固体撮像素子100と同様の断面形状を有することができる。
言い換えれば、図2は、図4の線B-B’に沿った固体撮像素子102の一部、図5の線C-C’に沿った固体撮像素子104の一部、または図6の線D-D’に沿った固体撮像素子106の一部の断面図であってもよい。同様に、固体撮像素子102、固体撮像素子104、固体撮像素子106のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図4~図6では省略されている。
図4に示すように、固体撮像素子102は、図1に示された固体撮像素子100と同様の構造を有している。図1に示された固体撮像素子100との主な違いは、各光分割構造40が2つの光電変換素子11に対応し、2つの光電変換素子11が1×2(または2×1)配列を形成していることである。さらに、各集光構造50(図4には示されていない)は、2つの光電変換素子11(デュアルフォトダイオード(DPD)と呼ばれることができる)に対応する。
図5に示すように、固体撮像素子104は、図4に示された固体撮像素子102と同様の構造を有している。図4に示された固体撮像素子102との主な違いは、固体撮像素子104の上面図(例えば、図5)からでは、光分割構造40の外形が長方形であることである。さらに、いくつかの実施形態では、光分割構造40の幅W40は、約50nm~約200nmの間である。固体撮像素子104(図5に示されている)を例としてとると、光分割構造40の幅W40は、長方形の短辺の長さとして定義される。
図6に示すように、固体撮像素子106は、図1に示された固体撮像素子100と同様の構造を有している。図1に示された固体撮像素子100との主な違いは、固体撮像素子106の上面図(例えば、図6)からでは、光分割構造40の外形は十字形であることである。即ち、固体撮像素子106の上面図(例えば、図6)からでは、光分割構造40の外形は、2つの交差する長方形によって形成されることができる。さらに、いくつかの実施形態では、光分割構造40の幅W40は、約50nm~約200nmの間である。固体撮像素子106(図6に示されている)を例としてとると、光分割構造40の幅W40は、各長方形の短辺の長さとして定義される。
図7は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子108の一部を示す上面図である。図8は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子108の一部を示すことができる断面図CS2である。例えば、図8は、図7の線E-E’に沿った固体撮像素子108の一部の断面図であることができる。固体撮像素子108のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図7および図8では省略されていることに留意されたい。
図7および図8に示すように、固体撮像素子108は、図1に示された固体撮像素子100と同様の構造を有している。図1に示された固体撮像素子100との主な違いは、固体撮像素子108が光分割構造40の底部に配置されたインナーピラー(inner pillar)45をさらに含むことである。いくつかの実施形態では、インナーピラー45の数は、光分割構造40の数と同じであるため、図7の対応する光分割構造40の底部に配置された4つのインナーピラー45があるが、本開示はそれに限定されない。いくつかの実施形態では、インナーピラー45の数は、光分割構造40の数と異なり(少ない)、実際の必要に応じて調整されることができる。
いくつかの実施形態では、インナーピラー45は、不透明な材料を含む。インナーピラー45の透過率は約50%以下であってもよいが、本開示はそれに限定されない。光分割構造40の底部に配置されたインナーピラー45は、散乱およびクロストークをさらに低減させることができる。インナーピラー45は、遮光層32と同一の材料または類似のものを含むことができ、同じプロセスによって遮光層32と同時に形成されることができるが、本開示はそれに限定されない。
例えば、インナーピラー45は、例えば、銅(Cu)、銀(Ag)などの金属を含み得るが、本開示はそれらに限定されない。あるいは、インナーピラー45は、フォトレジスト(例えば、黒色フォトレジスト、または透明でない任意の他の適用可能なフォトレジスト)、インク(例えば、黒色インク、または透明でない任意の他の適用可能なインク)、成形コンパウンド(molding compound)(例えば、黒色成形コンパウンド、または透明ではない任意の他の適用可能な成形コンパウンド)、はんだマスク(例えば、黒色はんだマスク、または透明でない任意の他の適用可能なはんだマスク)、(黒色)エポキシポリマー、任意の他の適切な材料、またはそれらの組み合わせを含み得る。
いくつかの実施形態では、固体撮像素子108の上面図(例えば、図7)からでは、インナーピラー45の外形は正方形であるが、本開示は、それに限定されない。さらに、いくつかの実施形態では、インナーピラー45の幅W45は、約50nm~約100nmの間である。ここでは、インナーピラー45の幅W45は、インナーピラー45の平行な2辺の最短距離として定義される。固体撮像素子108(図7に示されている)を例としてとると、インナーピラー45の幅W45は、正方形の辺の長さとして定義される。
図8に示されるように、いくつかの実施形態では、インナーピラー45の高さH45は、遮光層32の高さH32と等しいが、本開示はそれに限定されない。いくつかの他の実施形態では、インナーピラー45の高さH45は、遮光層32の高さH32より低い。さらに、いくつかの実施形態では、インナーピラー45の高さH45は150nm未満である。
図9は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子110の一部を示す上面図である。図10は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子110の一部を例示し得る断面図CS3である。例えば、図10は、図9の線F-F’に沿った固体撮像素子110の一部の断面図であることができる。固体撮像素子110のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図9および図10では省略されていることに留意されたい。
図9および図10に示すように、固体撮像素子110は、図6に示された固体撮像素子106と同様の構造を有している。即ち、固体撮像素子110の上面図(例えば、図9)からでは、光分割構造40の外形は十字形である。図6に示された固体撮像素子106との主な違いは、固体撮像素子110の上面図(例えば、図9)からでは、光分割構造40は、約45度で対応する第2の分離セグメント13S2からオフセットされている。言い換えれば、固体撮像素子110の上面図(例えば、図9)からでは、光分割構造40と対応する第2の分離セグメント13S2との間の夾角(included angle)θは約45度であるが、本開示はそれに限定されない。いくつかの他の実施形態では、固体撮像素子110の上面図からでは、光分割構造40は、0~約45度で対応する第2の分離セグメント13S2からオフセットされている。
図11は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子110’の一部を示す上面図である。図12は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子110’の一部を例示し得る断面図CS3’である。例えば、図12は、図11の線F-F’に沿った固体撮像素子110’の一部の断面図であることができる。固体撮像素子110’のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図11および図12では省略されていることに留意されたい。
図11および図12に示すように、固体撮像素子110’は、図9に示された固体撮像素子100と同様の構造を有している。図9に示された固体撮像素子110との主な違いは、固体撮像素子110’が光分割構造40の底部に配置されたインナーピラー45をさらに含むことである。さらに、図11に示されたように固体撮像素子110’の上面図からでは、インナーピラー45は、光分割構造40の中心に配置されている。この実施形態では、インナーピラー45の数は、光分割構造40の数と同じであるため、図11の対応する光分割構造40の底部に配置された4つのインナーピラー45があるが、本開示はそれに限定されない。
図13は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子112の一部を示す上面図である。図14は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子112の一部を例示し得る断面図CS4である。
例えば、図14は、図13の線G-G’に沿った固体撮像素子112の一部の断面図であることができる。固体撮像素子112のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図13および図14では省略されていることに留意されたい。
図13および図14に示すように、固体撮像素子112は、図1に示された固体撮像素子100と同様の構造を有している。図1に示された固体撮像素子100との主な違いは、固体撮像素子112の光分割構造40が第1の部分41と第2の部分42を有していることである。図13および図14に示されるように、第1の部分41は、カラーフィルタセグメント(例えば、赤色カラーフィルタセグメント20SR、緑色カラーフィルタセグメント20SG、または青色カラーフィルタセグメント20SB)の中心に配置され、第2の部分42は、カラーフィルタセグメントの少なくとも1つの角の近くに配置されている。例えば、図13に示されるように、各カラーフィルタセグメントの4つの角の近くに配置された4つの第2の部分42があるが、本開示はそれに限定されない。第2の部分42の数およびこれらの第2の部分42の位置は、実際の必要に応じて調整されることができる。
図15は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子112’の一部を示す上面図である。図16は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子112’の一部を例示し得る断面図CS4’である。例えば、図16は、図15の線G-G’に沿った固体撮像素子112’の一部の断面図であることができる。固体撮像素子112’のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図15および図16では省略されていることに留意されたい。
図15および図16に示すように、固体撮像素子112’は、図13に示された固体撮像素子112と同様の構造を有している。図13に示された固体撮像素子112との主な違いは、固体撮像素子112’が光分割構造40の底部に配置されたインナーピラー45をさらに含むことである。より詳細には、インナーピラー45は、光分割構造40の第1の部分41の底部に配置されている。さらに、図15に示されたように固体撮像素子112’の上面図からでは、インナーピラー45は、光分割構造40の第1の部分41の中心に配置されている。この実施形態では、インナーピラー45の数は、光分割構造40の第1の部分41の数と同じであるため、図15の対応する第1の部分41の底部に配置された4つのインナーピラー45があるが、本開示はそれに限定されない。
前述の実施形態では、カラーフィルタ層20の高さH20は、グリッド構造30の高さH30と等しく、光分割構造40の高さH40は、カラーフィルタ層20の高さH20(またはグリッド構造30の高さH30)より低いが、本開示はそれに限定されない。図17は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子の一部を例示し得る断面図CS5である。例えば、図17に示された断面図CS5は、図2に示された断面図CS1を固体撮像素子100、102、104、または106の断面図として置き換えることができるが、本開示はそれに限定されない。
図17に示す実施形態では、光分割構造40の高さH40は、グリッド構造30の高さH30と等しく、光分割構造40の高さH40(またはグリッド構造30の高さH30)は、カラーフィルタ層20の高さH20よりも低い。しかし、本開示はそれに限定されない。
図18は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子114の一部を示す上面図である。図19は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子114の一部を例示し得る断面図CS6である。例えば、図19は、図18の線H-H’に沿った固体撮像素子114の一部の断面図であることができる。固体撮像素子114のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図18および図19では省略されていることに留意されたい。
図18および図19に示すように、固体撮像素子114は、図1および図2に示された固体撮像素子100と同様の構造を有している。図1および図2に示された固体撮像素子100との主な違いは、固体撮像素子114では、グリッド構造30は、対応する第1の分離セグメント13S1に対してシフトS1を有し、光分割構造40は、対応する第2の分離セグメント13S2に対してシフトS2を有する。
ここでは、シフトS1は、グリッド構造30の中心軸C30と、対応する第1の分離セグメント13S1の中心軸C13S1との間の距離d1として定義されることができ、シフトS2は、光分割構造40の中心軸C40と対応する第2の分離セグメント13S2の中心軸C13S2との間の距離d2として定義されることができる。図18および図19に示された実施形態では、シフトS1はシフトS2と同じである。即ち、グリッド構造30の中心軸C30と対応する第1の分離セグメント13S1の中心軸C13S1との間の距離d1は、光分割構造40の中心軸C40と対応する第2の分離セグメント13S2の中心軸C13S2との間の距離d2と等しいが、本開示はそれに限定されない。
いくつかの実施形態では、図1および図2に示された固体撮像素子100と、図18および図19に示された固体撮像素子114とは、同じ固体撮像素子の異なる領域であることができる。例えば、図1および図2に示された固体撮像素子100は、固体撮像素子の中央領域であってもよく、図18および図19に示された固体撮像素子114は、固体撮像素子の周辺(エッジ)領域であってもよいが、本開示はそれらに限定されない。
図20は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子116の一部を示す上面図である。図21は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子116の一部を例示し得る断面図CS7である。例えば、図21は、図20の線I-I’に沿った固体撮像素子116の一部の断面図であることができる。固体撮像素子116のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図20および図21では省略されていることに留意されたい。
固体撮像素子116では、グリッド構造30は、対応する第1の分離セグメント13S1に対してシフトS1を有し、1つの光分割構造40’は、対応する第2の分離セグメント13S2に対してシフトを有せず、もう1つの光分割構造40”は、対応する第2の分離セグメント13S2に対してシフトS2’を有する。即ち、光分割構造40’の中心軸C40’と対応する第2の分離セグメント13S2の中心軸C13S2との間の距離は0であり、光分割構造40”の中心軸C40”と対応する第2の分離セグメント13S2の中心軸C13S2との間の距離d2’は0より大きい。言い換えると、シフトS2/S2’は可変であることができる。また、図20および図21に示された実施形態では、シフトS1はシフトS2’と異なる。
前述の実施形態(例えば、図1、4~7、9、11、13、15、18、または20)では、カラーフィルタ層20の1つの赤色カラーフィルタセグメント20SR、2つの緑色カラーフィルタセグメント20SG、および1つの青色カラーフィルタセグメント20SBは、2×2配列を形成し、4Cの二次フォトダイオード(QPD)またはデュアルフォトダイオード(DPD)と呼ばれることができるが、本開示はそれらに限定されない。
図22は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子118の一部を示す上面図である。図22に示すように、8つの緑色カラーフィルタセグメント20SGは2つの2×2配列を形成し、4つの赤色カラーフィルタセグメント20SRは2×2配列を形成し、4つの青色カラーフィルタセグメント20SBは2×2配列を形成する。図22に示されたように、光分割構造40は、全てのカラーフィルタセグメントに配置されているが、本開示はそれに限定されない。いくつかの他の実施形態では、光分割構造40は、単にいくつかのカラーフィルタセグメントに配置され得る。
さらに、前述のカラーフィルタセグメント(即ち、赤色カラーフィルタセグメント20SR、緑色カラーフィルタセグメント20SG、および青色カラーフィルタセグメント20SB)は、4×4配列を形成し、16Cの二次フォトダイオード(QPD)またはデュアルフォトダイオード(DPD)と呼ばれることができるが、本開示はそれらに限定されない。カラーフィルタセグメントの数と配置は、実際の必要に応じて調整されることができる。
前述の実施形態では、光分割構造40は、全てのカラーフィルタセグメントに配置されているが、本開示はそれに限定されない。図23A~図23Fは、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子120~130の一部を示す上面図である。同様に、固体撮像素子120~130のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図23A~図23Fでは省略されている。
図23Aに示されたように、2つの光分割構造40が、2つの緑色のカラーフィルタセグメント20Sに配置されている。 図23Bに示されたように、1つの光分割構造40が、1つの赤色カラーフィルタセグメント20Rに配置されている。図23Cに示されたように、1つの光分割構造40が、1つの青色カラーフィルタセグメント20Bに配置されている。図23Dに示されたように、3つの光分割構造40が、2つの緑色カラーフィルタセグメント20Sおよび1つの青色カラーフィルタセグメント20Bに配置されている。図23Eに示されたように、3つの光分割構造40は、2つの緑色のカラーフィルタセグメント20Sおよび1つの赤色のカラーフィルタセグメント20Rに配置されている。 図23Fに示されたように、2つの光分割構造40が、1つの赤色カラーフィルタセグメント20Rおよび1つの青色カラーフィルタセグメント20Bに配置されている。
図24は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子132の一部を示す上面図である。図25は、本開示のいくつかの実施形態による、固体撮像素子132の一部を例示し得る断面図CS8である。例えば、図25は、図24の線J-J’に沿った固体撮像素子132の一部の断面図であることができる。固体撮像素子132のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図24および図25では省略されていることに留意されたい。
図24および図25に示すように、固体撮像素子132は、図1に示された固体撮像素子100と同様の構造を有する。図1に示された固体撮像素子100との主な違いは、固体撮像素子132が、光分割構造40の底部に配置された補助光分割構造44をさらに含むことである。補助光分割構造44は、透明誘電体材料を含むことができるが、本開示はそれに限定されない。いくつかの実施形態では、補助光分割構造44は、光分割構造40と異なる少なくとも1つの材料を含み、補助光分割構造44の屈折率は、約1~約1.65の間である。
いくつかの実施形態では、固体撮像素子132の上面図(例えば、図24)からでは、補助光分割構造44の外形は正方形であるが、本開示はそれに限定されない。言い換えれば、固体撮像素子132の上面図からでは、補助光分割構造44の外形は、光分割構造40の外形と同一または類似することができるが、本開示は、それに限定されない。さらに、いくつかの実施形態では、補助光分割構造44の幅W44は、光分割構造40の幅W40以上である。例えば、補助光分割構造44の幅W44は、約70nm~約300nmの間であることができる。ここでは、補助光分割構造44の幅W44は、補助光分割構造44の平行な2辺の最短距離として定義される。固体撮像素子132(図24に示されている)を例としてとると、補助光分割構造44の幅W44は、正方形の辺の長さとして定義される。
図25に示されたように、いくつかの実施形態では、補助光分割構造44の高さH44は、約50nm~約350nmの間である。さらに、図24および図25に示されたように、いくつかの実施形態では、補助光分割構造44は、グリッド構造30の底部にさらに配置される。即ち、補助光分割構造44は、遮光層32の少なくとも一部を覆うことができるが、本開示はそれに限定されない。
図26は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子132’の一部を示す上面図である。図27は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子132’の一部を例示し得る断面図CS8’である。例えば、図27は、図26の線K-K’に沿った固体撮像素子132’の一部の断面図であることができる。固体撮像素子132’のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図26および図27では省略されていることに留意されたい。
図26および図27に示すように、固体撮像素子132’は、図24に示された固体撮像素子132と同様の構造を有する。図24に示された固体撮像素子132との主な違いは、固体撮像素子132’が、光分割構造40の底部に配置されたインナーピラー45をさらに含むことである。即ち、補助光分割構造44は、インナーピラー45の少なくとも一部を覆うことができるが、本開示はそれに限定されない。
前述の実施形態では、遮光層32はグリッド構造30の底部に配置されているが、本開示はそれに限定されない。図28は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子134の一部を示す上面図である。図29は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子134の一部を例示し得る断面図CS9である。例えば、図29は、図28の線L-L’に沿った固体撮像素子134の一部の断面図であることができる。固体撮像素子134のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図28および図29では省略されていることに留意されたい。
図28および図29に示すように、固体撮像素子134は、図1に示された固体撮像素子100と同様の構造を有する。図1に示された固体撮像素子100との主な違いは、固体撮像素子134が、グリッド構造30の底部に配置された遮光層32を含まないことである。同様に、いくつかの他の実施形態では、固体撮像素子134は、光分割構造40(図28および図29には示されていない)の底部に配置されたインナーピラー45をさらに含む。他の同様の機能はここでは繰り返されない。
図30は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子136の一部を示す上面図である。図31は、本開示のいくつかの他の実施形態による、固体撮像素子136の一部を例示し得る断面図CS10である。例えば、図31は、図30の線L-L’に沿った固体撮像素子136の一部の断面図であることができる。固体撮像素子136のいくつかの構成要素は、簡潔にするために図30および図31では省略されていることに留意されたい。
図30および図31に示すように、固体撮像素子136は、図28に示された固体撮像素子134と同様の構造を有する。図28に示された固体撮像素子134との主な違いは、固体撮像素子136が、光分割構造40の底部に配置された補助光分割構造44をさらに含むことである。さらに、図30および図31に示されたように、いくつかの実施形態では、補助光分割構造44は、グリッド構造30の底部にさらに配置される。
要約すると、本開示の実施形態の固体撮像素子は、カラーフィルタ層(のカラーフィルタセグメント)に配置された光分割構造を含み、散乱およびクロストークを効果的に低減し、固体撮像素子の光電変換素子からの画像信号の品質を向上させることができる。
上述の内容は、当業者が本開示の態様をよりよく理解できるように、いくつかの実施形態の特徴を概説している。当業者は、同じ目的を実行するため、および/または本明細書に導入される実施形態の同じ利点を達成するための他のプロセスおよび構造を設計または修正するための基礎として本開示を容易に使用できることを理解できる。当業者はまた、そのような同等の構造が本開示の精神および範囲から逸脱せず、且つそれらは、本開示の趣旨および範囲から逸脱することなく、本明細書で様々な変更、置換、および代替を行うことができることを理解するべきである。従って、保護の範囲は請求項を通じて決定される必要がある。さらに、本開示のいくつかの実施形態が上記に開示されているが、それらは、本開示の範囲を限定することを意図していない。
本明細書全体にわたる特徴、利点、または同様の用語への言及は、本開示で実現され得る全ての特徴および利点が、本開示の任意の単一の実施形態で実現されるべきまたは実現され得ることを意味するのではない。むしろ、特徴および利点に言及する用語は、実施形態に関連して説明される特定の特徴、利点、または特性が本開示の少なくとも1つの実施形態に含まれることを意味すると理解される。従って、本明細書全体にわたる特徴および利点、ならびに類似の用語の議論は、必ずしもそうではないが、同じ実施形態を指すことがある。
さらに、1つまたは複数の実施形態では、本開示の説明された特徴、利点、および特性は、任意の適切な方法で組み合わせることとしてもよい。当業者は、本明細書の説明に基づいて、特定の実施形態の1つまたは複数の特定の特徴または利点なしに本開示を実施できることを認識するであろう。他の例では、本開示の全ての実施形態に存在しない可能性がある、追加の特徴および利点が特定の実施形態において認識され得る。
100、102、104、106、108、110、110’、112、112’、114、116、118、120、122、124、126、128、130、132、132’、134、136 固体撮像素子
10 半導体基板
11、11B、11R 光電変換素子
13 分離構造
13S1 第1の分離セグメント
13S2 第2の分離セグメント
20 カラーフィルタ層
20SB 青色カラーフィルタセグメント
20SG 緑色カラーフィルタセグメント
20SR 赤色カラーフィルタセグメント
30 グリッド構造
32 遮光層
40、40’、40” 光分割構造
41 第1の部分
42 第2の部分
44 補助光分割構造
45 インナーピラー
50 集光構造
A-A’、B-B’、C-C’、D-D’、E-E’、F-F’、G-G’、H-H’、I-I’、J-J’、K-K’、L-L’ 線
C13S1 第1の分離セグメントの中心軸
C13S2 第2の分離セグメントの中心軸
C30 グリッド構造の中心軸
C40、C40’、C40” 光分割構造の中心軸
CS1、CS2、CS3、CS3’、CS4、CS4’、CS5、CS6、CS7、CS8、CS8’、CS9 断面図
d1、d2、d2’ 距離
L 入射光
L1、L2 光
H20 カラーフィルタ層の高さ
H30 グリッド構造の高さ
H32 遮光層の高さ
H40 光分割構造の高さ
H44 補助光分割構造の高さ
H45 インナーピラーの高さ
S1、S2、S3 シフト
W40 光分割構造の幅
W44 補助光分割構造の幅
W45 インナーピラーの幅
θ 夾角

Claims (9)

  1. 複数の光電変換素子と、
    前記光電変換素子の上方に配置され、第1のカラーフィルタセグメントおよび前記第1のカラーフィルタセグメントに隣接した第2のカラーフィルタセグメントを有し、前記第1のカラーフィルタセグメントおよび前記第2のカラーフィルタセグメントは、異なる色に対応するカラーフィルタ層と、
    前記第1のカラーフィルタセグメントまたは前記第2のカラーフィルタセグメントに配置された光分割構造と、および
    前記第1のカラーフィルタセグメントと前記第2のカラーフィルタセグメントとの間に配置され、前記光分割構造がグリッド構造から分離されたグリッド構造と、を含み
    前記複数の光電変換素子は、複数の第1の光電変換素子と複数の第2の光電変換素子に分割され、前記第1のカラーフィルタセグメントは、前記第1の光電変換素子に対応し、前記第2のカラーフィルタセグメントは、前記第2の光電変換素子に対応し、
    前記光電変換素子同士の間に配置され、複数の第1の分離セグメントおよび複数の第2の分離セグメントを有する分離構造をさらに含み、
    前記第1の分離セグメントは、前記第1の光電変換素子と前記第2の光電変換素子との間に配置され、前記第2の分離セグメントは、前記第1の光電変換素子同士の間、および前記第2の光電変換素子同士の間に配置され、前記グリッド構造は前記第1の分離セグメントに対応し、前記光分割構造は少なくとも1つの前記第2の分離セグメントに対応し、
    前記グリッド構造は、前記第1の分離セグメントに対して第1のシフトを有し、前記光分割構造は、前記複数の第2の分離セグメントのうちの対応する1つに対して第2のシフトを有し、前記第1のシフトは前記第2のシフトと異なる固体撮像素子。
  2. 前記固体撮像素子の上面図からでは、前記光分割構造は、前記複数の第2の分離セグメントのうちの対応する1つと重なっている請求項に記載の固体撮像素子。
  3. 前記固体撮像素子の上面図からでは、前記光分割構造の外形が十字形であるとき、前記光分割構造は、0~45度で前記複数の第2の分離セグメントのうちの対応する1つからオフセットされる請求項に記載の固体撮像素子。
  4. 前記光分割構造の高さは、前記グリッド構造の高さ以下であり、前記固体撮像素子の上面図からでは、前記光分割構造の外形は、円形、正方形、長方形、または、十字形である請求項1に記載の固体撮像素子。
  5. 前記光分割構造の幅は、50nm~200nmの間であり、前記カラーフィルタ層の高さに対する前記光分割構造の高さの比は、0.3~0.9の間である請求項1に記載の固体撮像素子。
  6. 前記光分割構造の屈折率は、1~1.45の間であり、前記光分割構造は、2つの光電変換素子または4つの光電変換素子に対応する請求項1に記載の固体撮像素子。
  7. 複数の光電変換素子と、
    前記光電変換素子の上方に配置され、第1のカラーフィルタセグメントおよび前記第1のカラーフィルタセグメントに隣接した第2のカラーフィルタセグメントを有し、前記第1のカラーフィルタセグメントおよび前記第2のカラーフィルタセグメントは、異なる色に対応するカラーフィルタ層と、
    前記第1のカラーフィルタセグメントまたは前記第2のカラーフィルタセグメントに配置された光分割構造と、および
    前記第1のカラーフィルタセグメントと前記第2のカラーフィルタセグメントとの間に配置され、前記光分割構造がグリッド構造から分離されたグリッド構造と、を含み、
    前記光分割構造は、前記第1のカラーフィルタセグメントまたは前記第2のカラーフィルタセグメントの中心に配置された第1の部分、および前記第1のカラーフィルタセグメントまたは前記第2のカラーフィルタセグメントの少なくとも1つの角の近くに配置された第2の部分を有する固体撮像素子。
  8. 前記固体撮像素子は、前記光分割構造の底部に配置され、非透過性材料を含むインナーピラーをさらに含み、
    前記インナーピラーの幅及び高さは、それぞれ前記光分割構造の幅及び高さより小さく、
    前記インナーピラーの幅は50nm~100nmの間であり、前記インナーピラーの高さは150nm未満である請求項1に記載の固体撮像素子。
  9. 前記光分割構造の底部に配置された補助光分割構造をさらに含み、前記補助光分割構造は、前記グリッド構造の下部にさらに配置され、前記補助光分割構造は、前記光分割構造と異なる少なくとも1つの材料を含み、前記補助光分割構造の屈折率は、1~1.65の間であり、前記補助光分割構造の幅は、前記光分割構造の幅以上であり、前記補助光分割構造の高さは、前記カラーフィルタ層の高さ、前記グリッド構造の高さ、及び、光分割構造の高さよりも低く、前記補助光分割構造の高さは、50nm~350nmの間である請求項1に記載の固体撮像素子。
JP2022164176A 2022-04-21 2022-10-12 固体撮像素子 Active JP7451645B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US17/726,202 US20230343808A1 (en) 2022-04-21 2022-04-21 Solid-state image sensor
US17/726,202 2022-04-21

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2023160709A JP2023160709A (ja) 2023-11-02
JP7451645B2 true JP7451645B2 (ja) 2024-03-18

Family

ID=88415882

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022164176A Active JP7451645B2 (ja) 2022-04-21 2022-10-12 固体撮像素子

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20230343808A1 (ja)
JP (1) JP7451645B2 (ja)
KR (1) KR102711069B1 (ja)
CN (1) CN116978915A (ja)
TW (1) TWI824620B (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021131318A1 (ja) * 2019-12-24 2021-07-01 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置及び電子機器

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20190148430A1 (en) 2017-11-15 2019-05-16 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Color filter uniformity for image sensor devices
US20190165009A1 (en) 2017-11-27 2019-05-30 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Multiple deep trench isolation (mdti) structure for cmos image sensor
WO2020013130A1 (ja) 2018-07-10 2020-01-16 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置及び電子装置
US20200235148A1 (en) 2019-01-22 2020-07-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Image sensor
US20200403025A1 (en) 2019-06-21 2020-12-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Image sensor
US20210118929A1 (en) 2019-10-17 2021-04-22 SK Hynix Inc. Image sensor
JP2021145121A (ja) 2020-03-10 2021-09-24 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司VisEra Technologies Company Limited 固体撮像素子

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140339606A1 (en) * 2013-05-16 2014-11-20 Visera Technologies Company Limited Bsi cmos image sensor
US9281333B2 (en) * 2014-05-01 2016-03-08 Visera Technologies Company Limited Solid-state imaging devices having light shielding partitions with variable dimensions
US9786710B2 (en) * 2015-09-30 2017-10-10 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Image sensor device with sub-isolation in pixels
KR102600673B1 (ko) * 2016-08-05 2023-11-13 삼성전자주식회사 이미지 센서
KR102574236B1 (ko) * 2016-12-07 2023-09-05 에스케이하이닉스 주식회사 서로 다른 사이즈의 포토다이오드들을 갖는 이미지 센서

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20190148430A1 (en) 2017-11-15 2019-05-16 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Color filter uniformity for image sensor devices
US20190165009A1 (en) 2017-11-27 2019-05-30 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Multiple deep trench isolation (mdti) structure for cmos image sensor
WO2020013130A1 (ja) 2018-07-10 2020-01-16 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置及び電子装置
US20200235148A1 (en) 2019-01-22 2020-07-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Image sensor
US20200403025A1 (en) 2019-06-21 2020-12-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Image sensor
US20210118929A1 (en) 2019-10-17 2021-04-22 SK Hynix Inc. Image sensor
JP2021145121A (ja) 2020-03-10 2021-09-24 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司VisEra Technologies Company Limited 固体撮像素子

Also Published As

Publication number Publication date
CN116978915A (zh) 2023-10-31
US20230343808A1 (en) 2023-10-26
KR102711069B1 (ko) 2024-09-27
TW202343769A (zh) 2023-11-01
KR20230150175A (ko) 2023-10-30
JP2023160709A (ja) 2023-11-02
TWI824620B (zh) 2023-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10312279B2 (en) High dynamic range pixel with in-pixel light shield structures
JP2003332547A (ja) 固体撮像素子及びその製造方法
TWI686938B (zh) 半導體裝置結構及其製造方法
JP2012023137A (ja) 固体撮像装置およびその製造方法
JP7451645B2 (ja) 固体撮像素子
JP2004047682A (ja) 固体撮像装置
JP2022091662A (ja) イメージセンサ
TWI839615B (zh) 固態影像感測器
KR101473720B1 (ko) 컬러 필터 어레이 및 컬러 필터 제조 방법, 및 상기 컬러필터 어레이를 포함하는 이미지 촬상 장치
JP2008244225A (ja) 固体撮像装置,グレースケールマスクおよびカラーフィルタならびにマイクロレンズ
JP2007324321A (ja) カラーフィルタ、その製造方法、これを用いた固体撮像素子、およびその製造方法
WO2013046531A1 (ja) 固体撮像装置
TWI853506B (zh) 調光裝置與使用其的固態影像感測器
KR100748325B1 (ko) 이미지센서
TWI837516B (zh) 固態影像感測器
JP2012004437A (ja) 固体撮像装置
US20240121523A1 (en) Light-adjusting device and solid-state image sensor using the same
JP7357095B2 (ja) 固体撮像素子
JP7035333B2 (ja) 固体撮像素子の製造方法及び固体撮像素子
US20240304642A1 (en) Trench balance structure pattern in red photodiodes of a pixel array with quad bayer color filter
TW202418560A (zh) 包括具有多個曲率的微透鏡的影像感測器
JPS63188102A (ja) カラ−固体撮像素子

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20221013

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230926

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20231127

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20240213

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20240306

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7451645

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150