JP7403726B1 - 接着構造体、半導体装置、モータ及び飛翔体 - Google Patents
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Description
また、本願に開示される半導体装置は、基板の表面に、多孔体骨格により細孔が形成されたエポキシ系樹脂製の薄膜を備え、前記薄膜の細孔には接着剤が含侵された接着構造体を介して設けられた半導体素子と、前記基板の表面に設けられた電極と半導体素子の表面に設けられた電極と接続するボンディングワイヤと、前記半導体素子を封止する封止樹脂と、を備えたことを特徴とする。
また、本願に開示されるモータは、シャフトに装着された円筒形の鋼板と、前記鋼板の外周に、多孔体骨格により細孔が形成されたエポキシ系樹脂製の薄膜を備え、前記薄膜の細孔には接着剤が含侵された接着構造体を介して接着された磁石と、を備えたことを特徴とする。
また、本願に開示される飛翔体は、コンプレッサーが搭載された飛翔体であって、前記コンプレッサーに用いられるセンサー及び部品の接着に、多孔体骨格により細孔が形成されたエポキシ系樹脂製の薄膜を備え、前記薄膜の細孔には接着剤が含侵された接着構造体を用いたことを特徴とする。
図1は、本願の実施の形態1に係る接着構造体の構成示す断面図である。図1に示すように、本実施の形態1に係る接着構造体100は、多孔性薄膜11、多孔性薄膜11に含侵した接着剤13から構成される。
実施の形態2では、実施の形態1での接着構造体100を、電子部品へ適用した場合について説明する。
実施の形態3では、実施の形態1での接着構造体100を、モータへ適用した場合について説明する。
実施の形態4では、実施の形態1での接着構造体100を、航空機用部品へ適用した場合について説明する。
以下、本開示の諸態様を付記としてまとめて記載する。
(付記1)
多孔体骨格により細孔が形成されたエポキシ系樹脂製の薄膜を備え、
前記薄膜の細孔には接着剤が含侵された接着構造体であって、
前記薄膜は、熱伝導性材料または導電性材料を含むことを特徴とする接着構造体。
(付記2)
前記薄膜に対する前記接着剤の弾性率の比は、2以上、20以下であることを特徴とする付記1に記載の接着構造体。
(付記3)
前記薄膜は、ガラス転移温度が、60℃以上、200℃以下であり、含浸させた接着剤硬化物のガラス転移温度は多孔性薄膜のガラス転移温度より高いことを特徴とする付記1または付記2に記載の接着構造体。
(付記4)
前記細孔は、径が0.1μm以上、100μm以下であることを特徴とする付記1から付記3のいずれか1項に記載の接着構造体。
(付記5)
前記接着剤に対する前記薄膜の伸び率の比は、2以上、1000以下であることを特徴とする付記1から付記4のいずれか1項に記載の接着構造体。
(付記6)
基板の表面に付記1から付記5のいずれか1項に記載の接着構造体を介して設けられた半導体素子と、前記基板の表面に設けられた電極と半導体素子の表面に設けられた電極と接続するボンディングワイヤと、前記半導体素子を封止する封止樹脂と、を備えたことを特徴とする半導体装置。
(付記7)
基板の表面に、多孔体骨格により細孔が形成されたエポキシ系樹脂製の薄膜を備え、前記薄膜の細孔には接着剤が含侵された接着構造体を介して設けられた半導体素子と、前記基板の表面に設けられた電極と半導体素子の表面に設けられた電極と接続するボンディングワイヤと、前記半導体素子を封止する封止樹脂と、を備えたことを特徴とする半導体装置。
(付記8)
前記薄膜に対する前記接着剤の弾性率の比は、2以上、20以下であることを特徴とする付記7に記載の半導体装置。
(付記9)
前記薄膜は、ガラス転移温度が、60℃以上、200℃以下であり、含浸させた接着剤硬化物のガラス転移温度は多孔性薄膜のガラス転移温度より高いことを特徴とする付記7または付記8に記載の半導体装置。
(付記10)
前記細孔は、径が0.1μm以上、100μm以下であることを特徴とする付記7から付記9のいずれか1項に記載の半導体装置。
(付記11)
前記接着剤に対する前記薄膜の伸び率の比は、2以上、1000以下であることを特徴とする付記7から付記10のいずれか1項に記載の半導体装置。
(付記12)
シャフトに装着された円筒形の鋼板と、前記鋼板の外周に付記1から付記5のいずれか1項に記載の接着構造体を介して接着された磁石と、を備えたことを特徴とするモータ。
(付記13)
シャフトに装着された円筒形の鋼板と、前記鋼板の外周に、多孔体骨格により細孔が形成されたエポキシ系樹脂製の薄膜を備え、前記薄膜の細孔には接着剤が含侵された接着構造体を介して接着された磁石と、を備えたことを特徴とするモータ。
(付記14)
前記薄膜に対する前記接着剤の弾性率の比は、2以上、20以下であることを特徴とする付記13に記載のモータ。
(付記15)
前記薄膜は、ガラス転移温度が、60℃以上、200℃以下であり、含浸させた接着剤硬化物のガラス転移温度は多孔性薄膜のガラス転移温度より高いことを特徴とする付記13または付記14に記載のモータ。
(付記16)
前記細孔は、径が0.1μm以上、100μm以下であることを特徴とする付記13から付記15のいずれか1項に記載のモータ。
(付記17)
前記接着剤に対する前記薄膜の伸び率の比は、2以上、1000以下であることを特徴とする付記13から付記16のいずれか1項に記載のモータ。
(付記18)
コンプレッサーが搭載された飛翔体であって、前記コンプレッサーに用いられるセンサー及び部品の接着に、付記1から付記5のいずれか1項に記載の接着構造体を用いたことを特徴とする飛翔体。
(付記19)
コンプレッサーが搭載された飛翔体であって、前記コンプレッサーに用いられるセンサー及び部品の接着に、多孔体骨格により細孔が形成されたエポキシ系樹脂製の薄膜を備え、前記薄膜の細孔には接着剤が含侵された接着構造体を用いたことを特徴とする飛翔体。
(付記20)
前記薄膜に対する前記接着剤の弾性率の比は、2以上、20以下であることを特徴とする付記19に記載の飛翔体。
(付記21)
前記薄膜は、ガラス転移温度が、60℃以上、200℃以下であり、含浸させた接着剤硬化物のガラス転移温度は多孔性薄膜のガラス転移温度より高いことを特徴とする付記19または付記20に記載の飛翔体。
(付記22)
前記細孔は、径が0.1μm以上、100μm以下であることを特徴とする付記19から付記21のいずれか1項に記載の飛翔体。
(付記23)
前記接着剤に対する前記薄膜の伸び率の比は、2以上、1000以下であることを特徴とする付記19から付記22のいずれか1項に記載の飛翔体。
Claims (23)
- 多孔体骨格により細孔が形成されたエポキシ系樹脂製の薄膜を備え、
前記薄膜の細孔には接着剤が含侵された接着構造体であって、
前記薄膜は、熱伝導性材料および/または導電性材料を含むことを特徴とする接着構造体。 - 前記薄膜に対する前記接着剤の弾性率の比は、2以上、20以下であることを特徴とする請求項1に記載の接着構造体。
- 前記薄膜は、ガラス転移温度が、60℃以上、200℃以下であり、含浸させた接着剤硬化物のガラス転移温度は多孔性薄膜のガラス転移温度より高いことを特徴とする請求項1に記載の接着構造体。
- 前記細孔は、径が0.1μm以上、100μm以下であることを特徴とする請求項1に記載の接着構造体。
- 前記接着剤に対する前記薄膜の伸び率の比は、2以上、1000以下であることを特徴とする請求項1に記載の接着構造体。
- 基板の表面に請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の接着構造体を介して設けられた半導体素子と、前記基板の表面に設けられた電極と半導体素子の表面に設けられた電極と接続するボンディングワイヤと、前記半導体素子を封止する封止樹脂と、を備えたことを特徴とする半導体装置。
- 基板の表面に、多孔体骨格により細孔が形成されたエポキシ系樹脂製の薄膜を備え、前記薄膜の細孔には接着剤が含侵された接着構造体を介して設けられた半導体素子と、前記基板の表面に設けられた電極と半導体素子の表面に設けられた電極と接続するボンディングワイヤと、前記半導体素子を封止する封止樹脂と、を備えたことを特徴とする半導体装置。
- 前記薄膜に対する前記接着剤の弾性率の比は、2以上、20以下であることを特徴とする請求項7に記載の半導体装置。
- 前記薄膜は、ガラス転移温度が、60℃以上、200℃以下であり、含浸させた接着剤硬化物のガラス転移温度は多孔性薄膜のガラス転移温度より高いことを特徴とする請求項7に記載の半導体装置。
- 前記細孔は、径が0.1μm以上、100μm以下であることを特徴とする請求項7に記載の半導体装置。
- 前記接着剤に対する前記薄膜の伸び率の比は、2以上、1000以下であることを特徴とする請求項7に記載の半導体装置。
- シャフトに装着された円筒形の鋼板と、前記鋼板の外周に請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の接着構造体を介して接着された磁石と、を備えたことを特徴とするモータ。
- シャフトに装着された円筒形の鋼板と、前記鋼板の外周に、多孔体骨格により細孔が形成されたエポキシ系樹脂製の薄膜を備え、前記薄膜の細孔には接着剤が含侵された接着構造体を介して接着された磁石と、を備えたことを特徴とするモータ。
- 前記薄膜に対する前記接着剤の弾性率の比は、2以上、20以下であることを特徴とする請求項13に記載のモータ。
- 前記薄膜は、ガラス転移温度が、60℃以上、200℃以下であり、含浸させた接着剤硬化物のガラス転移温度は多孔性薄膜のガラス転移温度より高いことを特徴とする請求項13に記載のモータ。
- 前記細孔は、径が0.1μm以上、100μm以下であることを特徴とする請求項13に記載のモータ。
- 前記接着剤に対する前記薄膜の伸び率の比は、2以上、1000以下であることを特徴とする請求項13に記載のモータ。
- コンプレッサーが搭載された飛翔体であって、前記コンプレッサーに用いられるセンサー及び部品の接着に、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の接着構造体を用いたことを特徴とする飛翔体。
- コンプレッサーが搭載された飛翔体であって、前記コンプレッサーに用いられるセンサー及び部品の接着に、多孔体骨格により細孔が形成されたエポキシ系樹脂製の薄膜を備え、前記薄膜の細孔には接着剤が含侵された接着構造体を用いたことを特徴とする飛翔体。
- 前記薄膜に対する前記接着剤の弾性率の比は、2以上、20以下であることを特徴とする請求項19に記載の飛翔体。
- 前記薄膜は、ガラス転移温度が、60℃以上、200℃以下であり、含浸させた接着剤硬化物のガラス転移温度は多孔性薄膜のガラス転移温度より高いことを特徴とする請求項19に記載の飛翔体。
- 前記細孔は、径が0.1μm以上、100μm以下であることを特徴とする請求項19に記載の飛翔体。
- 前記接着剤に対する前記薄膜の伸び率の比は、2以上、1000以下であることを特徴とする請求項19に記載の飛翔体。
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