JP7357600B2 - 試験測定プローブ・システム及びａｃ成分及びｌｆ成分抽出方法 - Google Patents

Description

本開示発明は、２０１７年７月１４日に出願されたアメリカ合衆国仮特許出願番号第６２／５３２，７６５号、発明の名称「ＤＣ阻止、ＡＣカップリング又はアイソレーション入力部を使用する場合にＤＣ／ＬＦ信号成分を測定するためのシステム、装置及び方法」の利益を主張するものであり、言及することにより、その全体が本願に組み込まれる。

本開示発明は、試験測定システムに関連するシステム及び方法に関し、特に、入力信号の交流成分と直流や低周波数成分との両方を出力する試験測定プローブ・システム及びＡＣ成分及びＬＦ成分抽出方法に関する。

オシロスコープなどの試験測定装置を使用して、より大きな可変直流(ＤＣ)オフセット成分に重ね合わせた低振幅交流(ＡＣ)信号を測定するには、通常、ＡＣ信号を抽出し、ＤＣ又は低周波数(ＬＦ)成分を阻止するためにＡＣカップリング（結合）又はＤＣ阻止を利用する必要がある。ＡＣカップリング又はＤＣ阻止は、典型的にはＡＣカップリングされるスペクトラム・アナライザのような試験測定装置と共にプローブを使用する場合にも有用であろう。

ＡＣカップリング又はＤＣ阻止回路を使用する場合、ＤＣ／ＬＦ成分の信号情報は、ブロック又は阻止されることで失われる。しかし、この情報は、例えば、電力解析など、回路の性能の全体的な分析において有用であるか又は必要となる場合がある。従来の試験測定装置を使用すると、ＤＣ／ＬＦ成分信号情報が失われたので、その結果得られる試験測定装置の自動で実行された測定結果は、ＤＣ／ＬＦ成分が自動実行された測定結果に反映されていないので、本当の入力信号を正確には表していない。

これを改善するために、ユーザは、静的なＤＣオフセットをなくすために、試験測定装置のプローブのオフセット制御を手動で調整しても良く、これは、自動実行される測定で考慮されることになろう。しかし、このようなやり方は時間がかかり、静的なＤＣ／ＬＦ成分だけに、うまく機能することになろう、即ち、これは、ダイナミックなＤＣ／ＬＦ成分にはうまく機能しないであろう。更に、プローブのオフセット制御の調整は、試験測定装置の入力オフセット・レンジにも制限され、これは、通常、電圧設定で、特に最も感度の高い垂直ゲイン設定で制限される。

この開示発明の実施形態は、従来技術のこれらや他の欠点を解決しようとするものである。

本開示発明の実施形態の態様、特徴及び効果は、添付の図面を参照し、以下の実施形態の説明を読むことで明らかとなろう。

図１は、開示発明のいくつかの実施形態による直流（ＤＣ）阻止回路を有する例示的なシングル・エンドの試験測定プローブ・システムのブロック図である。 図２は、開示発明の他の実施形態によるＤＣ阻止回路を有する別の例示的な差動試験測定プローブ・システムのブロック図である。 図３は、本開示発明の他の実施形態によるＡＣカップリング回路を用いた別の例示的なシングルエンド試験測定プローブ・システムのブロック図である。 図４は、本開示発明の他の実施形態によるＤＣ阻止回路を用いた別の例示的なシングルエンド試験測定プローブ・システムのブロック図である。 図５は、本開示発明の他の実施形態によるＤＣ阻止回路を用いた別の例示的な差動試験測定プローブ・システムのブロック図である。 図６は、本開示発明の他の実施形態によるＡＣカップリング回路を用いた別の例示的なシングルエンド試験測定プローブ・システムのブロック図である。 図７は、本開示発明の他の実施形態によるＤＣ阻止回路を用いた別の例示的なシングルエンドのアイソレーション試験測定プローブ・システムのブロック図である。 図８は、本開示発明の他の実施形態によるＡＣカップリング回路を用いた別の例示的なシングルエンドのアイソレーション試験測定プローブ・システムのブロック図である。 図９は、本開示発明の他の実施形態によるＤＣ阻止回路を用いた別の例示的なシングルエンドのアイソレーション試験測定プローブ・システムのブロック図である。 図１０は、本開示発明の他の実施形態によるＡＣカップリング回路を用いた別の例示的なシングルエンドのアイソレーション試験測定プローブ・システムのブロック図である。

開示発明の実施形態は、入力信号の小振幅のＡＣ成分に加えて、入力信号のＤＣ／ＬＦ成分の両方を測定し、表示する。説明を簡単にするために、入力信号のＤＣ及びＬＦ成分について、一緒に説明する。しかし、以下の実施形態では、ＤＣ／ＬＦ成分について説明するが、当業者には理解されるように、ＤＣ／ＬＦ成分は、入力信号のＤＣ及びＬＦ成分の一方又は両方を言及するものであり得る。いくつかの実施形態では、以下でより詳細に説明されるように、これは、入力信号のＤＣ／ＬＦ成分を直接又は間接的にデジタル化し、入力信号のＤＣ／ＬＦ成分を試験測定装置にデジタル的に伝送することによって行われても良い。分離されるか又は予めブロック（遮断）されたＤＣ／ＬＦ成分を、測定結果の一部として含めることやＡＣ成分の表示波形の一部として含めることは、試験測定装置で従来はできていない貴重な情報をユーザに提供する。

他の実施形態において、以下でより詳細に説明されるように、入力信号のＤＣ／ＬＦ成分は、試験測定装置のチャンネル、又は、試験測定装置のデジタル・マルチメータ入力部のような他の入力部に接続されるよう構成されるターミナル・ポイント（terminal point）に送られても良い。このような実施形態では、ユーザが信号をチャンネルその他の入力部に接続できるように信号のＤＣ／ＬＦ成分をバッファリングしてもよい。これらの構成は両方とも、ユーザが、試験測定装置のディスプレイ上で、入力信号の大きなＤＣ／ＬＦ成分の上に乗っている入力信号の小振幅のＡＣ成分と、入力信号のもっと大きなＤＣ／ＬＦ成分とを別々に見ることを可能にし、被試験回路の動作をより良く理解できるようにする。

多数の試験測定プローブ・システムが、図１～１０に見られるような本願で説明される実施形態の機能を実行するために提供できる。しかしながら、以下に説明する実施形態は単なる例であり、開示発明は、図１～１０に示す例示的な実施形態のみに限定されない。開示発明の実施形態は、ユーザが従来の試験測定プローブを使用して入手してきていない情報を、ユーザの測定及び分析において、ユーザに円滑に（シームレスに）提供する。

図１～１０は、当業者には理解されるように、以下の説明される実施形態で説明されない、追加のコンデンサ、受信装置、又は他の電気部品のような追加の電気部品を含んでいても良い。

図１は、開示発明のいくつかの実施形態による例示的な試験測定プローブ・システムを示すブロック図である。図１は、被試験デバイス（ＤＵＴ）１０２に接続されたプローブ・ヘッド１００を示す。図１では、プローブ・ヘッド１００は、補償ボックス１０４にも接続されている。しかしながら、当業者には理解できるように、補償ボックス１０４は、独立したコンポーネントではなくて、プローブ・ヘッド１００内に含まれていてもよいし、あるいは、全体は省略し、その内部のコンポーネントをプローブ・ヘッド１００内に直接含めるようにしても良い。

図１において、プローブ・ヘッド１００には、ＤＵＴ１０２からの入力信号を受けるシングルエンドのプローブ入力端子１０６があってもよい。プローブ・ヘッド１００には、入力信号を増幅する増幅器１０８があってもよい。補償ボックス１０４には、入力信号からＡＣ成分とＤＣ／ＬＦ成分を抽出する抽出回路１１０があってよい。図１の例では、抽出回路１１０は、ＤＣ阻止回路である。補償ボックス１０４には、また、ＤＣ阻止イネーブル・スイッチ１１２があり、これは、抽出回路１１０（これは、本願では、図１に関して、ＤＣ阻止回路と呼ばれることもある）をイネーブルする場合に閉じられる。

このＤＣ阻止回路１１０には、差動増幅器１１４とコンデンサ１１６とがあり、ＤＣ阻止回路１１０に局部的なフィードバックと安定性を与え、入力信号の反転ＤＣ／ＬＦ成分を出力する。ＤＣ／ＬＦ成分の反転成分は、オフセット制御ライン１２０を介してプローブ・ヘッド１００に送信され、入力信号に加算されてＤＣ／ＬＦ成分を除去し、このため、ＡＣ成分のみが増幅器１０８によって増幅されて出力端子１１８へ送られる。出力端子１１８は、試験測定装置のチャンネルに接続されることがある。

ＤＣ／ＬＦ成分の反転成分は、アナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）１２２にも送られ、これをプロセッサ１２４によって更に処理し、例えば、試験測定装置への通信インタフェース（図示せず）へ出力して、デジタル的にＤＣ／ＬＦ成分を試験測定装置に伝送する前に、信号の反転成分を反転しても良い。当業者には理解できるように、通信インタフェースは、例えば、ユニバーサル・シリアル・バス（ＵＳＢ）又はＩ２Ｃ（inter-integrated circuit）バスのような有線若しくは無線の通信機構又はこれらの任意の組み合わせであっても良い。

試験測定装置は、先に説明したように、ＤＣ／ＬＦ成分を測定結果の一部として含むか、ＡＣ成分の表示波形の一部として含むように、ＡＣ成分とＤＣ／ＬＦ成分の両方を別々に受けても良い。

図２～１０は、図１に示す実施形態の様々な代替を提供する。このため、図２～１０と図１の間の違いのみを説明することとするが、当業者であれば、図１の特徴と効果が、図２～１０に示された実施形態の夫々に当てはまることがわかるであろう。

図２は、開示発明の他の実施形態による別の例示的な試験測定プローブ・システムを示すブロック図である。図２に示すプローブ・システムには、図１の補償ボックス１０４に類似した補償ボックス１０４があっても良く、よって、類似のコンポーネントには同じ参照番号を付与し、図２に関して更になる説明は行わない。

図２では、プローブ・ヘッド２００は、ＤＵＴ２０２から差動信号対を受ける差動入力プローブ・ヘッドとしてもよい。プローブ・ヘッド２００には、ＤＵＴ２０２からの差動信号対の一方を受ける第１入力端子２０４と、ＤＵＴ２０２からの差動信号対の他方を受ける第２入力端子２０６がある。差動増幅器２０８は、入力端子２０４及び２０６からの差動信号対を受け、差動信号対間の差分を出力端子１１８に出力する。ＤＣ／ＬＦ成分の反転成分は、プローブ１００と同様のオフセット制御ライン１２０を介してプローブ２００で受信され、差動信号対からＤＣ／ＬＦ成分を除去する。スプリッタ２１０は、相補的なアナログ信号を提供する差動スプリッタ又は差動増幅器のようなもので、オフセット制御ライン１２０上のＤＣ／ＬＦ成分を、差動増幅器の入力端子の夫々で受けて、差動信号対からＤＣ／ＬＦ成分を除去するための２つの信号に分割する。

図１及び２の両方は、抽出回路１１０のような抽出回路に関してＤＣ阻止回路の使用を示しているが、いくつかの実施形態では、ＡＣカップリング回路を、入力信号のＤＣ／ＬＦ成分を分離する抽出回路として用いてもよい。図３は、上述のＤＣ阻止回路ではなくて、ＡＣカップリング回路３０２をプローブ・ヘッド３００に用いた別の例示的な試験測定プローブ・システムを示すブロック図である。抽出回路３０２には、コンデンサ３０４及び３０６並びに抵抗器３０８及び３１０がある。入力端子３１２からの入力信号は、コンデンサ３０４に送られるが、これは、入力信号のＡＣ成分のみ、コンデンサ３０４を通過可能とし、これが、増幅器３１４を通って、出力端子１１８と同様の出力端子３１６に送られる。

また、ＡＣ成分は、コンデンサ３０６を通過し、残るＤＣ／ＬＦ成分は、ＡＤＣ３１８によってデジタル化される。補償ボックス３２０には、図１及び２に示し、上述した試験測定プローブ・システムと同様に、通信インタフェースに出力される前に、ＤＣ／ＬＦ成分を更に処理するプロセッサ３２２があっても良い。

ＡＣカップリング回路３０２及びＤＣ阻止回路１１０の両方に関して低周波数の遮断（カットオフ）は、典型的には７Ｈｚ未満であるので、正確に測定を行えるようにＡＤＣが校正されていれば、低速で８ビットより大きいＡＤＣを、ＡＤＣを有する上述の様々な試験測定プローブ・システムで利用しても良い。しかし、１０ビット、１２ビット、１４ビット、１６ビット、又は、もっと大きいビット分解能のＡＤＣを用いて、信号のＤＣ／ＬＦ成分の高い精度と正確さを達成しても良く、このため、実施形態によっては、もっと高い分解能のＡＤＣが好ましいこともある。

当業者には理解されるように、ＡＤＣを用いる上述の全ての実施形態において、ＤＣ／ＬＦ信号パスのデジタル化の結果に対してアナログ信号パスを正規化するために、信号パスのスケーリング（振幅の増減調整）を行うことが必要となることがある。

いくつかの実施形態では、図１～３に示すように、補償ボックス１０４やプローブ・ヘッド３００において入力信号のＤＣ／ＬＦ成分をデジタル化するのではなく、入力信号のアナログのＤＣ／ＬＦ成分を試験測定装置に送って、試験測定装置のディスプレイ上で表示しても良い。これら実施形態では、詳しくは後述のように、ユーザが、別個の試験測定装置のチャンネル又はデジタル・マルチメータ入力部に、アナログＤＣ／ＬＦ成分を送信するパスを接続できるようにバッファを使用しても良い。

例えば、図４は、図１の試験測定プローブ・システムに類似する試験測定プローブ・システムを示すブロック図である。実際、図４のプローブ・ヘッド１００は、図１のプローブ・ヘッド１００と同じであり、このため、図４に関して、更に詳細な説明は行わない。また、同様のコンポーネントには同じ参照番号を付与し、図４に関して、更なる説明は行わない。

プローブ・ヘッド１００は、補償ボックス４００と組み合わせてもよい。図４では、ＡＤＣ１２２によってＤＣ／ＬＦ成分をデジタル化し、通信インタフェースを介してＤＣ／ＬＦ成分を送信するのではなくて、アナログＤＣ／ＬＦ成分を出力端子４０４を通して送信する前に、バッファ４０２にバッファリングして、ユーザが、別個の試験測定装置のチャンネル又は試験測定装置のデジタル・マルチメータ入力部へとＤＣ／ＬＦ成分を伝送するパスを接続する時間を持てるようにする。試験測定装置は、次いで、当業者には理解されるように、ＤＣ／ＬＦ成分を更に処理しても良い。

図５は、ＤＵＴ２０２から差動入力信号が供給されることを除けば、図４と類似する。即ち、プローブ・ヘッド２００は、補償ボックス４００と組み合わせても良く、このため、オフセット制御ライン１２０上のＤＣ／ＬＦ成分は、出力端子４０４を介して独立した試験測定装置のチャンネルへと送られる前に、デジタル化されるのではなく、バファリングされても良い。

最後に、バッファは、図６のプローブ・ヘッド６００が示すように、プローブ・ヘッドにおいてＡＣカップリング回路３０２が使用される場合にも使用して良い。プローブ・ヘッド６００は、プローブ・ヘッド３００と同様であり、従って同様のコンポーネントには同じ参照番号を付与し、図６に関して、本願では更なる説明は行わない。プローブ・ヘッド６００では、プローブ・ヘッド３００で行われたようにＤＣ／ＬＦ成分をデジタル化するのではなく、図４及び５と同様に、ＤＣ／ＬＦ成分をバッファ６０２に送ってもよい。補償ボックス６０４は、プローブ・ヘッド６００に接続され、また、アナログＤＣ／ＬＦ成分を試験測定装置に送信する出力端子６０６に加えて、出力端子３１６を有していても良い。

上述した種々の実施形態において、ＡＣカップリング回路３０２は、入力信号のＤＣ／ＬＦ成分の極（Ｒ１Ｃ１）とＤＣ／ＬＦデジタル化信号パスの高周波数の極（Ｒ２Ｃ２）とのマッチング（整合回路）を含んでも良い。

実施形態によっては、図７～１０に見られるように、アイソレーションされた試験測定プローブ・システムを実現しても良い。ＤＣ／ＬＦ成分をアイソレーションすると、従来のアイソレーション構造に比べて、ノイズが少なくなり、コストが低くなる可能性がある。図７～１０に示す実施形態は、上述のいくつかの実施形態と類似している。

図７は、ＤＣ阻止回路１１０とＡＤＣ１２２を有するプローブ・ヘッド７００を含むアイソレーションされた試験測定プローブ・システムを示すブロック図である。即ち、プローブ・ヘッド７００は、図１のプローブ・ヘッド１００と補償ボックス１０４の多くのコンポーネントを１つのプローブ・ヘッド７００に組み合わせている。このため、同様のコンポーネントには、同様の参照番号を付与し、図７に関して詳細な説明は行わない。プローブ・ヘッド７００は、補償ボックス７０２に接続され、これは、アイソレーションされた通信バス７０４を有していても良い。デジタル化されたＤＣ／ＬＦ成分は、アイソレーション通信バス７０４に送られても良い。アイソレーション通信バス７０４からの出力信号は、プロセッサ１２４で更に処理され、次いで、図１と同様に、通信インタフェースに出力されても良い。当業者には理解できるように、同様の補償ボックス７０２を、図２と同様の差動プローブ・ヘッドと共に用いても良いが、これは、図１のようなＤＣ阻止回路及びＡＤＣを有している。

アイソレーション出力信号は、図８に示すように、ＡＣカップリング回路３０２と共に利用されても良い。図８のアイソレーション試験測定プローブ・システムにおいて、図３に関して上述したプローブ・ヘッド３００が補償ボックス８００に接続される。補償ボックス８００は、ＡＤＣ３１８からデジタル化されたＤＣ／ＬＦ成分を受けるアイソレーション通信バス８０２を有し、これは、図７に関して上述したものと同様である。即ち、図８のアイソレーション試験測定プローブ・システムは、アイソレーションされた出力信号を供給することを除けば、図３に示す試験測定プローブ・システムと動作が同様である。

アイソレーション試験測定プローブ・システムも、図７及び８に示すような、デジタル化されたＤＣ／ＬＦ成分に限定されない。アイソレーション試験測定プローブ・システムも、図９及び図１０に示すような、アイソレーションされたアナログのＤＣ／ＬＦ成分を出力することが含まれて良い。

図９のプローブ・ヘッド９００には、ＤＣ阻止回路１１０とバッファ４０２がある。ＤＣ／ＬＦ成分は、バッファ４０２から、補償ボックス９０２のアナログ・アイソレーション９０４に送られ、出力端子４０４に出力される。即ち、図９のアイソレーション試験測定プローブ・システムは、アイソレーションされた出力信号が提供される以外は、図４に示す試験測定プローブ・システムと動作が同様である。図５と同様に、差動アンプ２０８を用いて差動入力信号で、同様の形式のアイソレーション試験測定プローブ・システムを使用しても良い。

図１０は、プローブ・ヘッド６００でＤＣ／ＬＦ成分をデジタル化しない別のアイソレーション試験測定プローブ・システムを示す。即ち、図６のプローブ・ヘッド６００は、図９の補償ボックス９０２と組み合わせて、試験測定装置にアイソレーションされたＤＣ／ＬＦ成分を出力できる。

当業者であれば理解されるであろうし、様々な実施形態で先に説明したように、異なるプローブ・ヘッド及び補償ボックスは、シングルエンド入力信号又は差動信号対のような受けた入力信号の種類、望ましい抽出回路や出力時間に応じて様々な組み合わせで接続されても良い。しかしながら、実施形態の夫々には、入力信号をそのＤＣ／ＬＦ成分とＡＣ成分とに分離する処理と、各成分を試験測定装置に別々に出力する処理とがある。これにより、試験測定システムは、ＡＣ成分を円滑（シームレス）に分析し、従来のＡＣカップリング又はＤＣ阻止回路を使用して、以前よりも多くの情報をユーザに表示できる。

本開示発明の態様は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本開示発明の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本発明の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。

開示された態様は、場合によっては、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア又はそれらの任意の組み合わせで実現されても良い。開示された態様は、１つ以上のプロセッサによって読み取られ、実行され得る１つ又は複数のコンピュータ可読媒体によって運搬されるか又は記憶される命令として実現されても良い。そのような命令は、コンピュータ・プログラム・プロダクトと呼ぶことができる。本願で説明するコンピュータ可読媒体は、コンピューティング装置によってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、一例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含むことができる。

コンピュータ記憶媒体は、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Video Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は排除される。

通信媒体は、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含むことができる。
実施例

以下では、本願で開示される技術の理解に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。

実施例１は、試験測定プローブ・システムであって、直流（ＤＣ）成分及び交流（ＡＣ）成分を有する入力信号を受ける入力部と、上記入力信号を受けて上記入力信号から上記ＡＣ成分及び上記ＤＣ成分を分離する抽出回路と、試験測定装置に上記ＡＣ成分を出力する第１出力部と、上記試験測定装置に上記ＤＣ成分を出力する第２出力部とを具えている。

実施例２は、実施例１の試験測定プローブ・システムであって、上記ＤＣ成分を受けて、該ＤＣ成分をデジタル化ＤＣ成分に変換するアナログ・デジタル・コンバータを更に具え、このとき、上記第２出力部が、上記デジタル化ＤＣ成分を出力するよう構成される。

実施例３は、実施例１又は２のいずれかの試験測定プローブ・システムであって、バッファを更に具え、該バッファは、上記ＤＣ成分を受けて、上記第２出力部を通して上記ＤＣ成分を出力するよう構成される。

実施例４は、実施例１～３のいずれかの試験測定プローブ・システムであって、このとき、上記抽出回路は、上記入力信号を受けて上記ＤＣ成分を出力するよう構成されるＤＣ阻止回路である。

実施例５は、実施例４の試験測定プローブ・システムであって、このとき、上記ＤＣ成分は、上記ＡＣ成分を分離するために、上記入力信号にフィードバックされるフィードバック信号である。

実施例６は、実施例１～３のいずれかの試験測定プローブ・システムであって、上記抽出回路には、ＡＣカップリング回路がある。

実施例７は、実施例１～６のいずれかの試験測定プローブ・システムであって、このとき、上記入力信号としては、差動信号がある。

実施例８は、実施例１～７のいずれかの試験測定プローブ・システムであって、このとき、上記第１出力部は、上記試験測定装置の第１チャンネルに接続され、上記第２出力部は、上記第１チャンネルとは異なる上記試験測定装置の第２チャンネルに接続される。

実施例９は、実施例１～８のいずれかの試験測定プローブ・システムであって、更に、上記ＤＣ成分を受けて、アイソレーションされたＤＣ成分を上記第２出力部に出力するアイソレーション・デバイスを具える。

実施例１０は、実施例１～９のいずれかの試験測定プローブ・システムであって、このとき、上記第２出力部は、上記試験測定装置のデジタル・マルチメータ入力部に接続される。

実施例１１は、低周波数（ＬＦ）成分と交流電流（ＡＣ）成分とを含む入力信号を受ける処理と、上記入力信号から上記ＬＦ成分を抽出する処理と、上記入力信号から上記ＡＣ成分を抽出する処理と、第１出力部を介して試験測定装置に上記ＡＣ成分を伝送する処理と、第２出力部を介して試験測定装置に上記ＬＦ成分を伝送する処理とを具える方法である。

実施例１２は、実施例１１の方法であって、更に、上記ＬＦ成分をデジタル化ＬＦ成分に変換する処理を具え、上記ＬＦ成分を伝送する処理が、上記デジタル化ＬＦ成分を伝送する処理を含む。

実施例１３は、実施例１１又は１２のいずれかの方法であって、更に、上記試験測定装置のデジタル・マルチメータ入力部に上記ＬＦ成分を伝送する処理を含む。

実施例１４は、実施例１～１３のいずれかの方法であって、上記ＬＦ成分の上記第２出力部を介した伝送を遅延させるために、上記ＬＦ成分をバッファリングする処理を更に具える。

実施例１５は、実施例１１～１４のいずれかの方法であって、上記入力信号から上記ＬＦ成分を抽出する処理及び上記入力信号から上記ＡＣ成分を抽出する処理は、ＤＣ阻止回路によって上記ＬＦ成分を上記入力信号に加算して上記ＡＣ成分を抽出することによって、上記ＬＦ成分と上記ＡＣ成分を抽出する処理を含む。

実施例１６は、実施例１１～１５のいずれかの方法であって、上記入力信号から上記ＬＦ成分を抽出する処理及び上記入力信号から上記ＡＣ成分を抽出する処理は、ＡＣカップリング（結合）回路によって上記ＬＦ成分及び上記ＡＣ成分を抽出する処理を含む。

実施例１７は、実施例１１～１６のいずれかの方法であって、上記第２出力部は、通信インタフェースである。

実施例１８は、実施例１１～１７のいずれかの方法であって、このとき、上記第１出力部を介して上記試験測定装置に上記ＡＣ成分を伝送する処理は、上記第１出力部を介して上記ＡＣ成分を試験測定装置の第１チャンネルに送信する処理を含み、上記第２出力部を介して上記試験測定装置に上記ＬＦ成分を伝送する処理は、上記第２出力部を介して上記ＬＦ成分を上記第１チャンネルと異なる上記試験測定装置の第２チャンネルに伝送する処理を含む。

実施例１９は、実施例１１～１８のいずれかの方法であって、上記ＬＦ成分を伝送する前に、上記ＬＦ成分をアイソレーションする処理を更に具える。

実施例２０は、実施例１１～１９のいずれかの方法であって、上記入力信号の上記ＡＣ成分及び上記ＬＦ成分を同時に表示する処理を更に具えている。

開示された主題の上述のバージョンは、記述したか又は当業者には明らかであろう多くの効果を有する。それでも、開示された装置、システム又は方法のすべてのバージョンにおいて、これらの効果又は特徴のすべてが要求されるわけではない。

加えて、本願の記述は、特定の特徴に言及している。本明細書における開示には、これらの特定の特徴の全ての可能な組み合わせが含まれると理解すべきである。ある特定の特徴が特定の態様又は実施例の状況において開示される場合、その特徴は、可能である限り、他の態様及び実施例の状況においても利用できる。

また、本願において、２つ以上の定義されたステップ又は工程を有する方法に言及する場合、これら定義されたステップ又は工程は、状況的にそれらの可能性を排除しない限り、任意の順序で又は同時に実行しても良い。

説明の都合上、本発明の具体的な実施例を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能なことが理解できよう。従って、本発明は、添付の特許請求の範囲を除いて限定されるべきではない。

Claims (8)

1. 直流（ＤＣ）成分及び交流（ＡＣ）成分を有する入力信号を受ける入力部と、
   上記入力信号を受けて上記入力信号から上記ＡＣ成分及び上記ＤＣ成分を分離する抽出回路であって、反転入力端子と出力端子の間が第１フィードバック・ループで結合されて上記出力端子に上記ＤＣ成分を反転した反転ＤＣ成分を生成する差動増幅器を有する上記抽出回路と、
   上記差動増幅器の上記出力端子と上記入力部との間を結合して上記反転ＤＣ成分を上記入力信号に加えるための第２フィードバック・ループと、
   試験測定装置に上記ＡＣ成分を出力する第１出力部と、
   上記試験測定装置に上記反転ＤＣ成分を出力する第２出力部と
   を具える試験測定プローブ・システム。
2. 上記反転ＤＣ成分を受けて、該反転ＤＣ成分をデジタル化してデジタル化反転ＤＣ成分に変換するアナログ・デジタル・コンバータを更に具えるよう構成される請求項１の試験測定プローブ・システム。
3. 上記デジタル化反転ＤＣ成分をデジタル的に反転させて、上記ＤＣ成分に対応するデジタル化ＤＣ成分を生成するデジタル処理回路を更に具えるよう構成される請求項２の試験測定プローブ・システム。
4. バッファを更に具え、該バッファは、上記反転ＤＣ成分を受けて、上記第２出力部を通して上記反転ＤＣ成分を出力するよう構成される請求項１の試験測定プローブ・システム。
5. 上記反転ＤＣ成分を受けて、アイソレーションされた反転ＤＣ成分を上記第２出力部に出力するアイソレーション・デバイスを更に具える請求項１の試験測定プローブ・システム。
6. 低周波数（ＬＦ）成分と交流電流（ＡＣ）成分とを含む入力信号を試験測定プローブ・システムの入力部で受ける処理と、
   反転入力端子と出力端子の間が第１フィードバック・ループで結合された差動増幅器の上記反転入力端子で上記入力信号を受けて上記出力端子に上記ＬＦ成分を反転した反転ＬＦ成分を生成する処理と、
   上記差動増幅器の上記出力端子と上記入力部との間に結合された第２フィードバック・ループを通して上記反転ＬＦ成分を上記入力信号に加えることによって、上記入力信号から上記ＡＣ成分を抽出する処理と、
   第１出力部を介して試験測定装置に上記ＡＣ成分を伝送する処理と、
   第２出力部を介して試験測定装置に上記反転ＬＦ成分を伝送する処理と
   を具えるＡＣ成分及びＬＦ成分抽出方法。
7. 上記反転ＬＦ成分をデジタル化してデジタル化反転ＬＦ成分に変換する処理を更に具える請求項６のＡＣ成分及びＬＦ成分抽出方法。
8. 上記デジタル化反転ＬＦ成分をデジタル的に反転させて、上記ＬＦ成分に対応するデジタル化ＬＦ成分を生成する処理を更に具える請求項７のＡＣ成分及びＬＦ成分抽出方法。

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