JP2020527708A - 直流/低周波数信号成分を測定するためのシステム、装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
実施例
Claims (20)
- 直流(DC)成分及び交流(AC)成分を有する入力信号を受ける入力部と、
上記入力信号を受けて上記入力信号から上記AC成分及び上記DC成分を分離する抽出回路と、
試験測定装置に上記AC成分を出力する第1出力部と、
上記試験測定装置に上記DC成分を出力する第2出力部と
を具える試験測定プローブ・システム。 - 上記DC成分を受けて、該DC成分をデジタル化DC成分に変換するアナログ・デジタル・コンバータを更に具え、上記第2出力部が、上記デジタル化DC成分を出力するよう構成される請求項1の試験測定プローブ・システム。
- バッファを更に具え、該バッファは、上記DC成分を受けて、上記第2出力部を通して上記DC成分を出力するよう構成される請求項1の試験測定プローブ・システム。
- 上記抽出回路が、上記入力信号を受けて上記DC成分を出力するよう構成されるDC阻止回路である請求項1の試験測定プローブ・システム。
- 上記DC成分は、上記AC成分を分離するために、上記入力信号にフィードバックされるフィードバック信号である請求項4の試験測定プローブ・システム。
- 上記抽出回路が、ACカップリング回路を含む請求項1の試験測定プローブ・システム。
- 上記入力信号として、差動信号を含む請求項1の試験測定プローブ・システム。
- 上記第1出力部は、上記試験測定装置の第1チャンネルに接続され、上記第2出力部は、上記第1チャンネルとは異なる上記試験測定装置の第2チャンネルに接続される請求項1の試験測定プローブ・システム。
- 上記DC成分を受けて、アイソレーションされたDC成分を上記第2出力部に出力するアイソレーション・デバイスを更に具える請求項1の試験測定プローブ・システム。
- 上記第2出力部が、上記試験測定装置のデジタル・マルチメータ入力部に接続される請求項1の試験測定プローブ・システム。
- 低周波数(LF)成分と交流電流(AC)成分とを含む入力信号を受ける処理と、
上記入力信号から上記LF成分を抽出する処理と、
上記入力信号から上記AC成分を抽出する処理と、
第1出力部を介して試験測定装置に上記AC成分を伝送する処理と、
第2出力部を介して試験測定装置に上記LF成分を伝送する処理と
を具える方法。 - 上記LF成分をデジタル化LF成分に変換する処理を更に具え、上記LF成分を伝送する処理が、上記デジタル化LF成分を伝送する処理を含む請求項11の方法。
- 上記試験測定装置のデジタル・マルチメータ入力部に上記LF成分を伝送する処理を含む請求項11の方法。
- 上記LF成分の上記第2出力部を介した伝送を遅延させるために、上記LF成分をバッファリングする処理を更に具える請求項11の方法。
- 上記入力信号から上記LF成分を抽出する処理及び上記入力信号から上記AC成分を抽出する処理は、DC阻止回路によって上記LF成分を上記入力信号に加算して上記AC成分を抽出することによって、上記LF成分と上記AC成分を抽出する処理を含む請求項11の方法。
- 上記入力信号から上記LF成分を抽出する処理及び上記入力信号から上記AC成分を抽出する処理は、ACカップリング回路によって上記LF成分及び上記AC成分を抽出する処理を含む請求項11の方法。
- 上記第2出力部が、通信インタフェースである請求項11の方法。
- 上記第1出力部を介して上記試験測定装置に上記AC成分を伝送する処理は、上記第1出力部を介して上記AC成分を試験測定装置の第1チャンネルに送信する処理を含み、
上記第2出力部を介して上記試験測定装置に上記LF成分を伝送する処理は、上記第2出力部を介して上記LF成分を上記第1チャンネルと異なる上記試験測定装置の第2チャンネルに伝送する処理を含む請求項11の方法。 - 上記LF成分を伝送する前に、上記LF成分をアイソレーションする処理を更に具える請求項11の方法。
- 上記入力信号の上記AC成分及び上記LF成分を同時に表示する処理を更に具える請求項11の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201762532765P | 2017-07-14 | 2017-07-14 | |
US62/532,765 | 2017-07-14 | ||
PCT/US2018/042134 WO2019014622A1 (en) | 2017-07-14 | 2018-07-13 | SYSTEMS, DEVICES AND METHODS FOR MEASURING CONTINUOUS / LOW FREQUENCY CURRENT SIGNAL COMPONENTS |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020527708A true JP2020527708A (ja) | 2020-09-10 |
JP7357600B2 JP7357600B2 (ja) | 2023-10-06 |
Family
ID=63080535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020501529A Active JP7357600B2 (ja) | 2017-07-14 | 2018-07-13 | 試験測定プローブ・システム及びac成分及びlf成分抽出方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11635452B2 (ja) |
JP (1) | JP7357600B2 (ja) |
KR (1) | KR20200028963A (ja) |
CN (1) | CN111051895A (ja) |
DE (1) | DE112018003599T5 (ja) |
WO (1) | WO2019014622A1 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2018
- 2018-07-13 US US16/630,371 patent/US11635452B2/en active Active
- 2018-07-13 JP JP2020501529A patent/JP7357600B2/ja active Active
- 2018-07-13 CN CN201880059640.6A patent/CN111051895A/zh active Pending
- 2018-07-13 KR KR1020207003312A patent/KR20200028963A/ko active IP Right Grant
- 2018-07-13 WO PCT/US2018/042134 patent/WO2019014622A1/en active Application Filing
- 2018-07-13 DE DE112018003599.9T patent/DE112018003599T5/de active Pending
-
2023
- 2023-04-21 US US18/138,006 patent/US20230266369A1/en active Pending
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Publication number | Publication date |
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WO2019014622A1 (en) | 2019-01-17 |
KR20200028963A (ko) | 2020-03-17 |
US20200132731A1 (en) | 2020-04-30 |
US11635452B2 (en) | 2023-04-25 |
CN111051895A (zh) | 2020-04-21 |
US20230266369A1 (en) | 2023-08-24 |
DE112018003599T5 (de) | 2020-04-16 |
JP7357600B2 (ja) | 2023-10-06 |
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