JP2011505568A - 高精度のdc電圧測定によるプローブ - Google Patents
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- プローブをもつテスト信号検出システムであって、
当該テスト信号検出システムは、少なくとも1つの第一の伝送線路と測定装置とを有しており、
前記プローブは、前記第一の伝送線路により前記測定装置に接続され、
前記第一の伝送線路は、広帯域のテスト信号を前記測定装置に伝送し、
当該テスト信号検出システムは、少なくとも1つの更なる伝送線路を有しており、
前記プローブは、前記少なくとも1つの更なる伝送線路により少なくとも間接的に前記測定装置に更に接続され、前記少なくとも1つの更なる伝送線路は、DC電圧テスト信号を前記測定装置に伝送する、
ことを特徴とするテスト信号検出システム。 - 前記第一の伝送線路と前記少なくとも1つの更なる伝送線路は、共通のハイブリッドケーブル内に設けられる、
ことを特徴とする請求項1記載のテスト信号検出システム。 - 前記プローブはアクティブプローブである、
ことを特徴とする請求項1又は2記載のテスト信号検出システム。 - 前記測定装置へのインタフェースをもつコネクションハウジングが存在し、
前記プローブは、前記第一の伝送線路及び前記少なくとも1つの更なる伝送線路に接続され、前記第一の伝送線路と前記少なくとも1つの更なる伝送線路は、前記コネクションハウジングに接続され、前記第一の伝送線路及び前記少なくとも1つの更なる伝送線路は、前記コネクションハウジングのインタフェースにより前記測定装置に接続される、
ことを特徴とする請求項1乃至3の何れか記載のテスト信号検出システム。 - 前記プローブは、広帯域の増幅器とDC電圧の増幅器とを含む、
ことを特徴とする請求項1乃至4の何れか記載のテスト信号検出システム。 - 前記広帯域の増幅器と前記DC電圧の増幅器の増幅率は、個別の調節可能である、
ことを特徴とする請求項5記載のテスト信号検出システム。 - 前記プローブは、少なくとも1つのプローブチップを含み、
前記プローブチップは、前記テスト信号の少なくとも1つの広帯域の成分と少なくとも1つのDC電圧の成分とを記録する、
ことを特徴とする請求項5又は6記載のテスト信号検出システム。 - 前記プローブは、少なくとも1つの分割器ネットワークを含み、
前記少なくとも1つの分割器ネットワークは、アースを基準にして少なくとも1つの直列のオーミック抵抗と少なくとも1つの並列のオーミック抵抗とを有し、
前記少なくとも1つのプローブチップは、前記少なくとも1つの分割器ネットワークに接続され、
前記少なくとも1つの分割器ネットワークは、前記広帯域の増幅器に接続される、
ことを特徴とする請求項7記載のテスト信号検出システム。 - 前記分割器ネットワークは、前記直列のオーミック抵抗に並列に接続されるキャパシタを更に含み、
前記分割器ネットワークは、前記並列のオーミック抵抗に並列に接続される、アースを基準としたキャパシタを更に含み、
前記テスト信号の広帯域の周波数成分は、キャパシタを通過し、
前記テスト信号のDC電圧の成分は、前記直列のオーミック抵抗と前記並列のオーミック抵抗とを通過する、
ことを特徴とする請求項8記載のテスト信号検出システム。 - 前記DC電圧増幅器は、前記プローブチップに直接に接続されるか、前記オーミック抵抗を介して前記プローブチップに接続される、
ことを特徴とする請求項8又は9記載のテスト信号検出システム。 - 前記DC電圧増幅器は、前記少なくとも1つの並列のオーミック抵抗に接続される、
ことを特徴とする請求項8又は9記載のテスト信号検出システム。 - 前記DC電圧増幅器は、前記広帯域増幅器に面する前記分割器ネットワークの終点に直接に接続されるか、前記広帯域増幅器に面する前記分割器ネットワークの終点にオーミック抵抗を介して接続される、
ことを特徴とする請求項8又は9記載のテスト信号検出システム。 - 前記DC電圧増幅器は、演算増幅器、オーミック抵抗及びキャパシタを有し、
前記オーミック抵抗及び前記キャパシタは、前記演算増幅器の反転入力と出力と間に結合され、
前記DC電圧増幅器は、反転増幅器であり、
前記DC電圧増幅器は、低域通過特性を有する、
ことを特徴とする請求項5乃至12の何れか記載のテスト信号検出システム。 - 前記コネクションハウジングは、少なくとも1つのアナログ/デジタルコンバータを含み、
前記少なくとも1つの更なる伝送線路は、前記少なくとも1つのアナログ/デジタルコンバータに接続される、
ことを特徴とする請求項4乃至13の何れか記載のテスト信号検出システム。 - 前記コネクションハウジングは、マイクロプロセッサを含み、
前記マイクロプロセッサは、前記少なくとも1つのアナログ/デジタルコンバータに接続され、
前記マイクロプロセッサは、前記少なくとも1つのアナログ/デジタルコンバータのデジタル出力信号をインタフェースを介して前記測定装置に経路を切り替える、
ことを特徴とする請求項14記載のテスト信号検出システム。 - 前記マイクロプロセッサは、前記少なくとも1つのアナログ/デジタルコンバータの前記デジタル出力信号をデジタルデータバスを介して前記測定装置に経路を切り替える、
ことを特徴とする請求項15記載のテスト信号検出システム。 - 前記マイクロプロセッサは、所与の時間インターバルを通して前記DC電圧信号を平均化する、
ことを特徴とする請求項15又は16記載のテスト信号検出システム。 - 前記マイクロプロセッサは、前記DC電圧信号のテスト値の補正を実現する、
ことを特徴とする請求項15乃至17の何れか記載のテスト信号検出システム。 - 前記少なくとも1つのアナログ/デジタルコンバータによりデジタル化される前記DC電圧信号の値は、前記プローブにおける前記広帯域増幅器の増幅率及び/又はオフセットを調節する、
ことを特徴とする請求項15乃至18の何れか記載のテスト信号検出システム。 - 前記測定装置は、少なくとも1つの入力増幅器と少なくとも1つのアナログ/デジタルコンバータとを有し、
前記第一の伝送線路は、前記少なくとも1つの入力増幅器に接続され、
前記入力増幅器は、前記アナログ/デジタルコンバータに接続され、
広帯域のテスト信号は、前記入力増幅器により増幅され、
増幅されたブロードバンドテスト信号は、前記アナログ/デジタルコンバータによりデジタル化され、
前記更なる伝送線路に接続される前記アナログ/デジタルコンバータは、前記広帯域のテスト信号について前記測定装置に配置される前記アナログ/デジタルコンバータよりも実質的に低い量子化ステージのレベルを与え、
前記更なる伝送線路に接続される前記アナログ/デジタルコンバータは、前記広帯域のテスト信号について前記アナログ/デジタルコンバータよりも実質的に長いテスト値当たりの処理時間を与える、
ことを特徴とする請求項7乃至12の何れか記載のテスト信号検出システム。 - 前記テスト信号検出システムは、2つの更なる伝送線路を有し、
前記プローブは、2つのプローブチップを有し、
前記コネクションハウジングは、前記DC電圧のテスト信号について2つのアナログ/デジタルコンバータを有し、
前記プローブにより差分信号が取得され、前記測定装置に伝送される、
ことを特徴とする請求項7乃至12又は20の何れか記載のテスト信号検出システム。
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