JP7355972B2 - 検査装置、方法、及びプログラム - Google Patents
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Description
Bのネジのみを緩めた状態(以下、「Bのみ」のパターンという)
Cのネジのみを緩めた状態(以下、「Cのみ」のパターンという)
A及びBのネジを緩めた状態(以下、「AとB」のパターンという)
A及びCのネジを緩めた状態(以下、「AとC」のパターンという)
B及びCのネジを緩めた状態(以下、「BとC」のパターンという)
全てのネジを緩めた状態(以下、「全て緩めた」パターンという)
12 CPU
14 メモリ
16 記憶装置
18 入力装置
20 出力装置
22 記憶媒体読取装置
24 通信I/F
26 バス
32 取得部
34 算出部
36 出力部
50 照明灯具
52 打診棒
54 計測器
Claims (7)
- ネジによる接合部を含む器具のいずれかの部位を叩いた場合の打音を示す信号を取得する取得部と、
前記信号を周波数解析し、スペクトル平坦度を算出する算出部と、
算出された前記スペクトル平坦度と、予め定めた基準とを比較して、ネジの緩みの有無を予測した予測結果を出力する出力部と、を含み、
前記基準を、前記器具に含まれるネジが適切に締められている状態での打音信号に基づいて算出されたスペクトル平坦度とし、
前記出力部は、算出された前記スペクトル平坦度と前記基準との差が閾値以上の場合に、前記ネジの緩みが生じていると予測する
検査装置。 - ネジによる接合部を含む器具のいずれかの部位を叩いた場合の打音を示す信号を取得する取得部と、
前記信号を周波数解析し、スペクトル平坦度を算出する算出部と、
算出された前記スペクトル平坦度と、予め定めた基準とを比較して、ネジの緩みの有無を予測した予測結果を出力する出力部と、を含み、
前記基準を、前記器具に含まれるネジが適切に締められている状態での打音信号に基づいて算出されたスペクトル平坦度の第1の確率分布、及び前記ネジに緩みが生じている状態での打音信号に基づいて算出されたスペクトル平坦度の第2の確率分布の少なくとも一方とし、
前記出力部は、前記算出部により算出された前記スペクトル平坦度と、前記第1の確率分布及び前記第2の確率分布の少なくとも一方とを比較し、前記ネジの緩みが生じている確率を前記予測結果として出力する
検査装置。 - 前記器具の異なる位置に複数のネジが含まれる場合、緩みが生じているネジの位置の組み合わせのパターン毎の前記第2の確率分布を前記基準とし、
前記出力部は、前記算出部により算出された前記スペクトル平坦度と、前記パターン毎の前記第2の確率分布とを比較し、ネジの緩みが生じている位置及び確率を前記予測結果として出力する
請求項2に記載の検査装置。 - 前記器具は、道路の附属物である照明灯具である請求項1~請求項3のいずれか1項に記載の検査装置。
- 取得部が、ネジによる接合部を含む器具のいずれかの部位を叩いた場合の打音を示す信号を取得し、
算出部が、前記信号を周波数解析し、スペクトル平坦度を算出し、
出力部が、算出された前記スペクトル平坦度と、予め定めた基準とを比較して、ネジの緩みの有無を予測した予測結果を出力する検査方法であって、
前記基準を、前記器具に含まれるネジが適切に締められている状態での打音信号に基づいて算出されたスペクトル平坦度とし、
前記出力部が、算出された前記スペクトル平坦度と前記基準との差が閾値以上の場合に、前記ネジの緩みが生じていると予測する
検査方法。 - 取得部が、ネジによる接合部を含む器具のいずれかの部位を叩いた場合の打音を示す信号を取得し、
算出部が、前記信号を周波数解析し、スペクトル平坦度を算出し、
出力部が、算出された前記スペクトル平坦度と、予め定めた基準とを比較して、ネジの緩みの有無を予測した予測結果を出力する検査方法であって、
前記基準を、前記器具に含まれるネジが適切に締められている状態での打音信号に基づいて算出されたスペクトル平坦度の第1の確率分布、及び前記ネジに緩みが生じている状態での打音信号に基づいて算出されたスペクトル平坦度の第2の確率分布の少なくとも一方とし、
前記出力部が、前記算出部により算出された前記スペクトル平坦度と、前記第1の確率分布及び前記第2の確率分布の少なくとも一方とを比較し、前記ネジの緩みが生じている確率を前記予測結果として出力する
検査方法。 - コンピュータを、請求項1~請求項4のいずれか1項に記載の検査装置の各部として機能させるための検査プログラム。
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JP2021105161A JP7355972B2 (ja) | 2021-06-24 | 2021-06-24 | 検査装置、方法、及びプログラム |
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JP2021105161A JP7355972B2 (ja) | 2021-06-24 | 2021-06-24 | 検査装置、方法、及びプログラム |
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JP2023003843A JP2023003843A (ja) | 2023-01-17 |
JP7355972B2 true JP7355972B2 (ja) | 2023-10-04 |
Family
ID=85100621
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2021105161A Active JP7355972B2 (ja) | 2021-06-24 | 2021-06-24 | 検査装置、方法、及びプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP7355972B2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000131195A (ja) | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Mitsubishi Electric Corp | ボルトの緩み判定装置 |
WO2014136629A1 (ja) | 2013-03-05 | 2014-09-12 | 日本電気株式会社 | 信号処理装置、信号処理方法および信号処理プログラム |
US20200309739A1 (en) | 2019-03-25 | 2020-10-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and storage medium |
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2021
- 2021-06-24 JP JP2021105161A patent/JP7355972B2/ja active Active
Patent Citations (3)
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JP2000131195A (ja) | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Mitsubishi Electric Corp | ボルトの緩み判定装置 |
WO2014136629A1 (ja) | 2013-03-05 | 2014-09-12 | 日本電気株式会社 | 信号処理装置、信号処理方法および信号処理プログラム |
US20200309739A1 (en) | 2019-03-25 | 2020-10-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and storage medium |
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JP2023003843A (ja) | 2023-01-17 |
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