JP7352332B2 - 露光装置 - Google Patents
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Description
特許文献1には、遮光状態から透光状態(露光状態)に移行し再び遮光状態に戻るまで露光シャッタを一旦停止させることなく連続動作させる露光装置用シャッタが提案されている。
そこで、本発明は、所望する積算露光量をより短い露光時間で達成することができる露光装置を提供することを目的とする。
図1は、第一実施形態に係る露光装置100の構成を示す概略図である。
露光装置100は、光源1、シャッタ部4、マスクステージ21、投影光学系6及び基板ステージ22を備えている。また、露光装置100は、シャッタ部4を通過した露光光の強度を検出する検出部S、シャッタ部4を駆動する駆動部14及び制御部13を備えている。
ここでステップ・アンド・リピート方式とは、基板3が整定した状態で所定のショット領域を露光する露光工程と、次に露光が行われるショット領域まで基板3をステップ移動させるステップ工程とを繰り返し、基板上の各ショット領域に露光処理を行う方式である。
シャッタ部4は、光源1から出射した露光光を遮断したり通過させたりすることにより、基板3への露光光の照射と非照射とを切り替える。
マスクステージ21は、マスク2の位置決めを行うため、マスク2を保持して移動可能に構成されている。マスク2には、半導体回路パターン等のパターンが形成されており、光源1が射出する露光光によって照明される。
投影光学系6は、所定の倍率を有しており、マスク2に形成されたパターンを基板3に投影する。
基板ステージ22は、フォトレジスト(感光剤)が塗布された基板3の位置決めを行うため、基板3を保持して移動可能に構成されている。
制御部13は、例えばCPUやメモリを含み、露光装置100の全体(露光装置100の各部)を制御している。即ち、制御部13は、マスク2に形成されたパターンを基板3に転写する処理(基板3の露光処理)を制御している。
ここで、シャッタ部4とマスクステージ21(又はシャッタ部4と検出部S)との間には、マスク2に照射される露光光の照度の均一性を高めるためのオプティカルインテグレータ(不図示)が設けられている。
光センサ5は、CMOSセンサやCCDセンサ等の光電変換素子を含み、シャッタ部4を通過した露光光の強度を検出する。なお、本実施形態に係る露光装置100では、光センサ5は、シャッタ部4とマスクステージ21との間に配置されているが、これに限られない。例えば、シャッタ部4とマスクステージ21との間にビームスプリッタを設け、該ビームスプリッタによって分割された露光光の一部を受光するように光センサ5を配置しても構わない。
アンプ7は、光センサ5で検出された露光光の強度を示す信号を電圧信号に変換する。
V/Fコンバータ9は、アンプ7から出力された電圧信号を周波数信号に変換する。
パルスカウンタ11は、V/Fコンバータ9から出力された周波数信号のパルス数をカウントする。パルスカウンタ11によってカウントされたカウント値は、露光光の強度を積算した量(すなわち、シャッタ部4を通過した露光光の積算量)に対応しており、基板3の積算露光量にも対応している。
ここで、上述した検出部Sの構成は一例であり、他の構成によっても基板3の積算露光量は検出可能である。
基板ステージ22を整定させた状態で基板3を露光する露光工程においては、光源1から射出された露光光を基板3に照射させる。一方、基板ステージ22を移動させるステップ工程においては、光源1から射出された露光光は基板3に照射させない。
即ち、シャッタ部4は、基板3への露光光の照射と非照射とを切り換えることができるように構成されている。
本実施形態に係る露光装置100では、制御部13が、露光量情報に基づいて駆動部14に指令を出すことで、シャッタ部4を駆動し、規定の露光量を基板3に露光させるように構成されている。
シャッタ部4は、シャッタ部材30及びシャッタ部材30を回転駆動するモータ31を備えている。
シャッタ部材30は、露光光32を遮断する遮断部分30a1及び30a2と、露光光32を通過させる通過部分30b1及び30b2とを有している(図9)。
そして、シャッタ部4では、制御部13によって制御されるモータ31によってシャッタ部材30を回転駆動させ、露光光32の光路に遮断部分30a1、30a2及び通過部分30b1、30b2を選択的に配置することにより、基板3への露光光の照射と非照射とを切り換えることができる。
なお、本実施形態に係る露光装置100では、シャッタ部材30は、遮断部分と通過部分とをそれぞれ2つずつ有する形状であるが、それに限らず、遮断部分と通過部分とをそれぞれ少なくとも1つずつ有していればよい。
すなわち、そのような連続駆動制御においては、1回の露光処理が、露光光がシャッタ部材30の遮断部分30a1、30a2で遮断された遮断状態から、露光光がシャッタ部材の通過部分30b1、30b2を通過して基板3を照射する照射状態を経て、再び遮断状態にする処理となるように、シャッタ部材30を駆動させている。
ここで、予め設定された駆動プロファイルは、シャッタ部材30の回転速度のプロファイルを含み、以下では「速度プロファイル」と称する。
また、図9は、図8に示す各時刻における露光光32とシャッタ部材30との位置関係を示す模式図である。
そして、時刻tbからシャッタ部材30の第1の通過部分30b1を露光光が徐々に通過し始める。即ち、時刻tbは、検出部Sにより露光光が検出され始めるとともに、基板3に露光光が照射される照射状態が開始する時刻である。
そして、時刻tcにおいて、シャッタ部材30の回転速度が最大速度vmaxに達し、シャッタ部材30が最大速度で等速駆動される。
そして、時刻tdにおいて、露光光の全てがシャッタ部材30の第1の通過部分30b1を通過する状態となる。
そして、時刻tfにおいて、シャッタ部材30の回転の減速駆動が開始される。
そして、時刻tgにおいて、シャッタ部材30の第2の遮断部分30a2によって露光光が完全に遮断された遮断状態となる。即ち、時刻tgは、基板3への露光光の照射が終了する時刻(照射終了時刻)である。
そして、時刻thにおいて、シャッタ部材30の回転が完全に停止する。
具体的には、シャッタ部材30の回転は、時刻ta~tcの期間において加速駆動されており、時刻tc~tfの期間において等速駆動されており、時刻tf~thの期間において減速駆動されている。
この露光時間中においては、次の露光工程のためのショットに備えて基板ステージ22を駆動させる、すなわちステップ工程を行うことは避けるべきである。
従って、露光装置のスループット向上のためには、この露光時間を短縮することが重要である。
しかしながら、この場合、最大速度vmaxが大きくなっているために露光強度最大時間(すなわち、時間te-td)も短くなってしまい、基板3の積算露光量を一定以上確保することが困難となる。
しかしながら、この場合、最大速度vmaxが小さくなっているために露光強度変化時間も長くなってしまい、露光時間も長くなってしまう。
そして、時刻tbからシャッタ部材30の第1の通過部分30b1を露光光が徐々に通過し始める。即ち、時刻tbは、検出部Sにより露光光が検出され始めるとともに、基板3に露光光が照射される照射状態が開始する時刻である。
そして、時刻tcにおいて、シャッタ部材30の回転速度が最大速度vmaxに達した後、減速駆動が開始される。
そして、時刻tdにおいて、露光光の全てがシャッタ部材30の第1の通過部分30b1を通過する状態となる。
そして、時刻td’において、シャッタ部材30が最大速度vmaxより小さい速度vcで等速駆動される。
そして、時刻teにおいて、シャッタ部材30の第2の遮断部分30a2に露光光が差し掛かり、シャッタ部材30の第2の遮断部分30a2によって露光光が徐々に遮断され始める(遮断状態に推移し始める)。
そして、時刻tf(第2のタイミング)において、シャッタ部材30の回転速度が再び最大速度vmaxに達した後、シャッタ部材30の回転の減速駆動が再び開始される。
そして、時刻tgにおいて、シャッタ部材30の第2の遮断部分30a2によって露光光が完全に遮断された遮断状態となる。即ち、時刻tgは、基板3への露光光の照射が終了する時刻(照射終了時刻)である。
そして、時刻thにおいて、シャッタ部材30の回転が完全に停止する。
具体的には、シャッタ部材30の回転は、時刻ta~tcの期間において加速駆動されており、時刻tc~td’の期間において減速駆動されており、時刻td’~te’の期間において等速駆動されており、時刻te’~tfの期間において再加速駆動されており、時刻tf~thの期間において再減速駆動されている。
すなわち、制御部13は、シャッタ部材30を停止状態から加速させた後に減速させる第1の速度プロファイルと、シャッタ部材30を加速させた後に減速させて停止状態とする第2の速度プロファイルとに基づいてシャッタ部材30を連続して駆動させて、且つ第1の速度プロファイルと第2の速度プロファイルとの間において等速度で駆動されるように駆動部14を制御している。
それにより、露光装置100のスループットは維持しつつ、基板3の積算露光量を更に多くすることができる。
換言すると、本実施形態に係る露光装置100では、最大速度vmaxを更に上げても、基板3の積算露光量を十分に確保しつつ、露光強度変化時間を短縮することによって露光装置100のスループット向上を達成することができる。
第二実施形態に係る露光装置は、速度プロファイルの形態を除いて、第一実施形態に係る露光装置100と同一の構成であるため、同一の部材には同一の符番を付して説明を行い、重複する部分は説明を省略する。
そして、時刻tbからシャッタ部材30の第1の通過部分30b1を露光光が徐々に通過し始める。即ち、時刻tbは、検出部Sにより露光光が検出され始めるとともに、基板3に露光光が照射される照射状態が開始する時刻である。
そして、時刻tcにおいて、シャッタ部材30の回転速度が最大速度vmaxに達した後、第一実施形態に係る露光装置100と同様に、減速駆動が開始される。
そして、時刻tdにおいて、露光光の全てがシャッタ部材30の第1の通過部分30b1を通過する状態となる。
そして、時刻teにおいて、シャッタ部材30の第2の遮断部分30a2に露光光が差し掛かり、シャッタ部材30の第2の遮断部分30a2によって露光光が徐々に遮断され始める(遮断状態に推移し始める)。
そして、時刻tfにおいて、シャッタ部材30の回転速度が再び最大速度vmaxに達した後、シャッタ部材30の回転の減速駆動が再び開始される。
そして、時刻tgにおいて、シャッタ部材30の第2の遮断部分30a2によって露光光が完全に遮断された遮断状態となる。即ち、時刻tgは、基板3への露光光の照射が終了する時刻(照射終了時刻)である。
そして、時刻thにおいて、シャッタ部材30の回転が完全に停止する。
具体的には、シャッタ部材30の回転は、時刻ta~tcの期間において加速駆動されており、時刻tc~t0の期間において減速駆動されており、時刻t0~tfの期間において再加速駆動されており、時刻tf~thの期間において再減速駆動されている。
すなわち、制御部13は、シャッタ部材30を停止状態から加速させた後に減速させる第1の速度プロファイルと、シャッタ部材30を加速させた後に減速させて停止状態とする第2の速度プロファイルとに基づいてシャッタ部材30を連続して駆動するように駆動部14を制御している。
それにより、露光装置のスループットは維持しつつ、基板3の積算露光量を更に多くすることができる。
換言すると、本実施形態に係る露光装置では、最大速度vmaxを更に上げても、基板3の積算露光量を十分に確保しつつ、露光強度変化時間を短縮することによって露光装置のスループット向上を達成することができる。
第三実施形態に係る露光装置は、第一及び第二実施形態のいずれかに係る露光装置と同一の構成であるため、同一の部材には同一の符番を付して説明を行い、重複する部分については説明を省略する。
シャッタ部材30の速度と積算露光量との関係70は、図5(a)に示す関数によって制御部13に記憶されてもよいし、図5(b)に示すテーブルによって制御部13に記憶されてもよい。
このように、本実施形態に係る露光装置では、目標積算露光量に基づいて速度プロファイルの等速期間におけるシャッタ部材30の速度を設定し、所望する積算露光量を達成することができる。
具体的には、露光光の強度Inにおけるシャッタ部材の速度vcと積算露光量Etotal(In)との関係は、例えば、図5(b)に示すテーブルに示されているように、強度Iのときの積算露光量Etotal(I)に露光光の強度比In/Iを乗じることによって得ることができる。
第四実施形態に係る露光装置は、第一及び第二実施形態のいずれかに係る露光装置と同一の構成であるため、同一の部材には同一の符番を付して説明を行い、重複する部分の説明を省略する。
しかしながら、露光装置に用いられる光源1では、射出される露光光の強度が変動する、いわゆる「ちらつき現象」が起こりうる。
つまり、光源1から射出された露光光の強度が規定値に対してずれることがある。この場合、予め設定された速度プロファイルに従ってシャッタ部材30を停止させずに連続的に回転駆動するだけでは、露光処理の終了時に得られる基板3の積算露光量を目標積算露光量と一致させることが困難になってしまう。
具体的には、図6は、速度プロファイル、及びその速度プロファイルに従ってシャッタ部材30を連続駆動させたときに検出部Sで検出される露光光の強度プロファイル(光強度プロファイル)を示している。
なお、図6では、予め設定された速度プロファイル40、及びその速度プロファイル40に従ってシャッタ部材30を駆動したときの光強度プロファイル50をそれぞれ実線で示している。
そして、制御部13は、所定時刻tmに検出部Sで検出された露光光の強度に基づいて、露光処理の終了時における基板3の積算露光量が目標積算露光量になるように、所定時刻tmの後における速度プロファイルを変更する。
所定時刻tmは、例えば、露光光の全てがシャッタ部材30の通過部分30b1、30b2を通過している時間(すなわち、時間te-td)内の任意の時刻に設定されることが好ましく、時刻tdに可能な限り近いことがより好ましい。
これにより、光強度プロファイル51で示すように、基板3への露光光の照射終了時刻を遅らせることができる。
つまり、露光光の強度の低下分だけ露光時間を長くし、基板3の積算露光量を目標積算露光量にすることができる。
これにより、光強度プロファイル52で示すように、基板3への露光光の照射終了時刻を早めることができる。
つまり、露光光の強度の増加分だけ露光時間を短くし、基板3の積算露光量を目標積算露光量にすることができる。
基板3の積算露光量は、基板3を照射する露光光の強度と基板3の露光時間とによって決定される。
即ち、光源1から射出された露光光の強度が分かれば、基板3の積算露光量を目標積算露光量にするための露光時間を決定することができる。
また、当該露光時間が分かれば基板3への露光光の照射終了時刻を決定することができるため、その決定された照射終了時刻に露光光がシャッタ部材30の遮断部分30a1又は30a2によって完全に遮断されるように、シャッタ部材30の回転速度を決定することができる。
従って、制御部13は、所定時刻tmに検出部Sで検出された露光光の強度に基づいて、基板3への露光光の照射終了時刻を決定する。
そして、決定された照射終了時刻に露光光が遮断部分30a1又は30a2によって完全に遮断されるように、所定時刻tm後のシャッタ部材30の回転速度を決定し、当該回転速度になるように速度プロファイルを変更する。
すなわち、当該テーブルから、当該誤差に対して、基板3の積算露光量を目標積算露光量にするためのシャッタ部材30の回転速度の変更量を得ることができる。
具体的には、当該誤差が分かれば基板3への露光光の照射終了時間を変更すべき量が分かるため、その照射終了時間を変更すべき量を補償することができるシャッタ部材30の回転速度の変更量を求めることができる。
従って、露光光の強度と規定値との誤差に応じたシャッタ部材30の回転速度の変更量をテーブルから求めることができる。
これにより、光源1から射出された露光光の強度が変動しても、基板3の積算露光量を目標積算露光量にすることができる。
第五実施形態に係る露光装置は、第一及び第二実施形態のいずれかに係る露光装置と同一の構成であるため、同一の部材には同一の符番を付して説明を行い、重複する部分の説明を省略する。
即ち、本実施形態に係る露光装置は、検出部Sで検出された露光光の強度に基づいて、基板3の積算露光量が目標積算露光量になるように、速度プロファイルの等速期間の長さを変更する。
具体的には、図7は、速度プロファイル、及びその速度プロファイルに従ってシャッタ部材30を連続駆動させたときに検出部Sで検出される露光光の強度プロファイル(光強度プロファイル)を示している。
図7では、予め設定された速度プロファイル80、及びその速度プロファイル80に従ってシャッタ部材30を駆動したときの光強度プロファイル90をそれぞれ実線で示している。
そして、制御部13は、所定時刻tmに検出部Sで検出された露光光の強度に基づいて、露光処理の終了時における基板3の積算露光量が目標積算露光量になるように、再加速開始タイミングte’を変更する。
このとき、等速期間の長さだけが変わり、等速期間における回転速度(等速度vc)が変わらないように、速度プロファイル80を変更することが好ましい。
また、再加速開始タイミングの後の再加速期間における速度の変化率(すなわち、加速度であり再加速期間における速度プロファイルの傾き)が変わらないように、速度プロファイル80を変更することが好ましい。
このことから、図7に示されているように、再加速開始タイミングte’を変更することにより、再減速タイミングも変更される。
これにより、光強度プロファイル91で示すように、露光光の強度の低下分だけ、再加速開始タイミングte’をte’+に遅らせて露光時間を長くし、基板3の積算露光量を目標積算露光量にすることができる。
このとき、等速期間の長さだけが変わり、等速期間における回転速度(等速度vc)が変わらないように、速度プロファイル80を変更することが好ましい。
また、再加速開始タイミングの後の再加速期間における速度の変化率(すなわち、加速度であり再加速期間における速度プロファイルの傾き)が変わらないように、速度プロファイル80を変更することが好ましい。
これにより、光強度プロファイル92で示すように、露光光の強度の増加分だけ、再加速開始タイミングte’をte’-に早まらせて露光時間を短くし、基板3の積算露光量を目標積算露光量にすることができる。
これにより、光源1から射出された露光光の強度が変動しても、基板3の積算露光量を目標積算露光量にすることができる。
このとき、シャッタ部材30の遮断部分30a1又は30a2によって露光光が完全に遮断される必要がある。
即ち、光源1からの露光光の強度の最大変動量を制御によって補償するときのシャッタ部材30の停止位置のずれが許容されるように、シャッタ部材30が構成されることが好ましい。
具体的には、上記制御によってシャッタ部材30の停止位置が本来の位置からずれた場合、露光処理の終了後のステップ工程(非露光工程)の際に、シャッタ部材30の位置を本来の位置、好ましくは、露光処理の開始時における位置に補正(調整)するようにシャッタ部材30を駆動すればよい。
これにより、各露光工程において駆動ばらつきを低減することができる。
その場合には、例えば第一実施形態に係る露光装置100では、時刻tcにおいて、シャッタ部材30の回転速度が最大速度vmaxに達した後に減速駆動を開始させ、所定の時刻において速度を0、すなわちシャッタ部材30の回転を停止させる。
そして、基板3の目標積算露光量から算出される所定の時間経過後に、シャッタ部材30の回転の加速駆動を再び開始すればよい。
上記の第一乃至第五実施形態のいずれかに係る露光装置にそのような非連続駆動制御の機能を持たせてもよい。
本実施形態に係る露光装置を用いた物品の製造方法は、基板に塗布された感光剤に上記の第一乃至第五実施形態のいずれかに係る露光装置を用いて潜像パターンを形成するステップ(基板を露光する露光ステップ)と、該露光ステップで潜像パターンが形成された基板を現像する現像ステップ(加工ステップ)とを含む。
更に、本実施形態に係る露光装置を用いた物品の製造方法は、他の周知の製造ステップ(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等)を含む。
本実施形態に係る露光装置を用いた物品の製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
3 基板
13 制御部
14 駆動部
30 シャッタ部材
30a1、30a2 第1及び第2の遮断部分
100 露光装置
Claims (9)
- 基板上の露光領域に対して露光を行う露光装置であって、
光源から射出された光を遮断する複数の遮断部分を有し、前記複数の遮断部分の間で前記光を通過させるシャッタ部材と、
前記シャッタ部材を駆動することにより、前記シャッタ部材の前記遮断部分により前記光が遮断された遮断状態と、前記光が前記複数の遮断部分の間を通過して前記露光領域を照射する照射状態との切り換えを行う駆動部と、
前記遮断状態から前記照射状態への切り換えを経て再び前記遮断状態への切り換えを行うために、前記シャッタ部材を停止状態から加速させる加速期間と、前記シャッタ部材を減速させる減速期間と、前記シャッタ部材を等速度で駆動させる等速期間と、前記シャッタ部材を再び加速させる再加速期間と、前記シャッタ部材を停止状態まで再び減速させる再減速期間と、が設定されている速度プロファイルに基づいて前記シャッタ部材を駆動するように前記駆動部を制御する制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記等速期間における所定の時刻に取得された、前記シャッタ部材の前記複数の遮断部分の間を通過した前記光の強度に基づいて、前記露光領域における積算露光量が目標積算露光量になるように、前記速度プロファイルにおける、前記所定の時刻から前記再加速期間における前記シャッタ部材の加速が開始される第1のタイミングまでの期間における前記シャッタ部材の速度の大きさと、前記第1のタイミングと、前記再減速期間における前記シャッタ部材の減速が開始される第2のタイミングとの組み合わせ、又は前記第1のタイミングと、前記第2のタイミングとの組み合わせを決定することを特徴とする露光装置。 - 前記制御部は、前記速度プロファイルに基づいて前記加速期間と前記減速期間を連続させるように前記駆動部を制御することを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記制御部は、前記速度プロファイルに基づいて前記再加速期間と前記再減速期間を連続させるように前記駆動部を制御することを特徴とする請求項1又は2に記載の露光装置。
- 前記制御部は、前記速度プロファイルに基づいて、前記シャッタ部材の前記遮断部分により前記光の一部のみが遮断されている状態で前記加速期間から前記減速期間に切り換えるように前記駆動部を制御することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の露光装置。
- 前記制御部は、前記速度プロファイルに基づいて、前記シャッタ部材の前記遮断部分により前記光の一部のみが遮断されている状態で前記再加速期間から前記再減速期間に切り換えるように前記駆動部を制御することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の露光装置。
- 前記制御部は、前記等速期間における前記シャッタ部材の前記等速度の大きさを前記目標積算露光量に基づいて決定することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の露光装置。
- 前記制御部は、前記シャッタ部材の速度と積算露光量との関係を示す情報及び前記目標積算露光量に基づいて、前記等速度の大きさを決定することを特徴とする請求項6に記載の露光装置。
- 前記制御部は、前記遮断状態において前記シャッタ部材の位置を調整するように前記駆動部を制御することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の露光装置。
- 請求項1乃至8のいずれか一項に記載の露光装置を用いて前記基板上の前記露光領域に対して露光を行う露光ステップと、
前記露光ステップで露光された前記基板を加工する加工ステップと、
前記加工ステップで加工された前記基板から物品を製造する製造ステップと、
を含むことを特徴とする物品の製造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018093066A JP7352332B2 (ja) | 2018-05-14 | 2018-05-14 | 露光装置 |
TW108114067A TWI766158B (zh) | 2018-05-14 | 2019-04-23 | 曝光裝置及使用其之物品之製造方法 |
KR1020190055389A KR102497946B1 (ko) | 2018-05-14 | 2019-05-13 | 노광 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018093066A JP7352332B2 (ja) | 2018-05-14 | 2018-05-14 | 露光装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019200235A JP2019200235A (ja) | 2019-11-21 |
JP2019200235A5 JP2019200235A5 (ja) | 2021-06-17 |
JP7352332B2 true JP7352332B2 (ja) | 2023-09-28 |
Family
ID=68612097
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018093066A Active JP7352332B2 (ja) | 2018-05-14 | 2018-05-14 | 露光装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7352332B2 (ja) |
KR (1) | KR102497946B1 (ja) |
TW (1) | TWI766158B (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015149450A (ja) | 2014-02-07 | 2015-08-20 | キヤノン株式会社 | 露光装置、および物品の製造方法 |
WO2017167259A1 (zh) | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 一种用于光刻机曝光的快门装置及其使用方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP3988091B2 (ja) * | 1997-01-17 | 2007-10-10 | フジノン株式会社 | 露光制御装置 |
JP4346320B2 (ja) * | 2003-02-05 | 2009-10-21 | 大日本印刷株式会社 | 露光方法及び露光装置 |
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JP5173650B2 (ja) * | 2008-07-29 | 2013-04-03 | キヤノン株式会社 | 露光装置およびデバイス製造方法 |
JP6194702B2 (ja) * | 2013-08-30 | 2017-09-13 | ソニー株式会社 | 露出制御装置および露出制御方法、ならびに撮像装置 |
JP6861463B2 (ja) * | 2015-06-16 | 2021-04-21 | キヤノン株式会社 | 露光装置及び物品の製造方法 |
-
2018
- 2018-05-14 JP JP2018093066A patent/JP7352332B2/ja active Active
-
2019
- 2019-04-23 TW TW108114067A patent/TWI766158B/zh active
- 2019-05-13 KR KR1020190055389A patent/KR102497946B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015149450A (ja) | 2014-02-07 | 2015-08-20 | キヤノン株式会社 | 露光装置、および物品の製造方法 |
WO2017167259A1 (zh) | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 一种用于光刻机曝光的快门装置及其使用方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019200235A (ja) | 2019-11-21 |
TW201947328A (zh) | 2019-12-16 |
TWI766158B (zh) | 2022-06-01 |
KR102497946B1 (ko) | 2023-02-10 |
KR20190130500A (ko) | 2019-11-22 |
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