JP7349270B2 - 位相マスクおよび顕微鏡を較正するための方法 - Google Patents
位相マスクおよび顕微鏡を較正するための方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7349270B2 JP7349270B2 JP2019114236A JP2019114236A JP7349270B2 JP 7349270 B2 JP7349270 B2 JP 7349270B2 JP 2019114236 A JP2019114236 A JP 2019114236A JP 2019114236 A JP2019114236 A JP 2019114236A JP 7349270 B2 JP7349270 B2 JP 7349270B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- phase mask
- microscope
- light
- gray level
- camera
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/14—Condensers affording illumination for phase-contrast observation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
- G01N21/6458—Fluorescence microscopy
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/361—Optical details, e.g. image relay to the camera or image sensor
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/06—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the phase of light
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/003—Alignment of optical elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2203/00—Function characteristic
- G02F2203/12—Function characteristic spatial light modulator
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
Description
I=const*(1-cosφ)
I=const*(1+cosφ)
I=const(1-cosφ)
ここで、φは位相マスク80によって実際に与えられる位相シフトである。この関係を用いれば、G2に依存して測定された強度から第2のグレーレベルG2に依存した位相シフトφを取得することが可能である。位相シフトφの設定されたグレーレベルG2への依存性は、図6のダイアグラム内で図5の測定データに対して示され、位相シフトφがグレーレベルGに対してプロットされる。図6は、位相マスク80の較正の結果であると見なされてよく、原則として、達成されるべき特定の所望の位相偏移φに対して位相マスク80がどのように駆動されなければならないかに関して所望の情報を提供する。たとえば、図6の情報は、制御/評価ユニット70の表中に記憶されてよい。
I=const(1+cosφ)
I=const(1+cosφ)
Claims (22)
- 試料を観察するための顕微鏡のビーム経路において、位相マスクを較正するための方法であって、
前記顕微鏡は、照明光を送出するための少なくとも1つの光源と、前記試料上に前記照明光を導くための少なくとも1つの顕微鏡対物レンズと、検出光を前記試料からカメラ上に導くための光学手段と、を備え、較正対象の前記位相マスクが、前記顕微鏡の前記ビーム経路中に配置され、
前記方法において、次の方法ステップ、
前記位相マスクが、グレーレベルの異なるパターンとともに連続的に駆動される、ステップであって、
セグメントの第1の部分量の第1のグレーレベルが、一定に維持され、セグメントの第2の部分量の第2のグレーレベルが、1つのパターンから次のパターンに変化する、ステップと、
前記ビーム経路中の光の全強度の少なくとも一部分が、前記グレーレベルの異なるパターンに関して前記位相マスクの下流で測定され、測定強度の特性が、前記第2のグレーレベルに依存して取得される、ステップと、
前記第2のグレーレベルと前記位相マスクによって与えられた位相シフトとの間の関係が、前記特性から取得される、ステップと、
前記位相マスクの駆動が、グレーレベルと位相シフトとの間の取得された関係に基づいて較正される、ステップと
が実行され、
較正用の測定のために、前記光源からの光が前記位相マスクに当てられ、
蛍光試料が、前記較正用の測定に使用される、および/または、前記試料を保持するための対象物担体またはカバーグラスにおいて反射された光が、前記較正用の測定に使用されることを特徴とする方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
前記位相マスクが、ピクセル列およびピクセル行を有する2D位相マスクであることを特徴とする方法。 - 請求項1または2に記載の方法であって、
前記位相マスクが、空間光変調器であることを特徴とする方法。 - 請求項1から3のいずれか1項に記載の方法であって、
前記位相マスクが、ネマチック型空間光変調器であることを特徴とする方法。 - 請求項1から4のいずれか1項に記載の方法であって、
前記グレーレベルの異なるパターンが、少なくとも1つの空間方向に周期的であることを特徴とする方法。 - 請求項1から5のいずれか1項に記載の方法であって、
前記グレーレベルの異なるパターンが、ダマン格子を作製するためのパターンであることを特徴とする方法。 - 請求項1から6のいずれか1項に記載の方法であって、
前記第2のグレーレベルが、前記位相マスクのダイナミックレンジ全体にわたって変化することを特徴とする方法。 - 請求項1から7のいずれか1項に記載の方法であって、
前記較正用の測定に使用される前記照明光が、ビーム検出手段を介して前記カメラに導かれることを特徴とする方法。 - 請求項1から8のいずれか1項に記載の方法であって、
前記ビーム経路中の励起光を遮断するためのフィルタが、前記較正用の測定のために除去されることを特徴とする方法。 - 請求項1から9のいずれか1項に記載の方法であって、
0次の回折光が、前記位相マスクの下流で空間フィルタを使用して遮断されることと、
前記ビーム経路の積分強度が、前記空間フィルタの下流で測定されることと、
前記第2のグレーレベルと前記位相シフトとの間の前記関係が、I=const*(1-cosφ)との比較によって取得されることと、
を特徴とする方法。 - 請求項1から9のいずれか1項に記載の方法であって、
0次の回折光のみが、前記較正のために測定され、前記第2のグレーレベルと前記位相シフトとの間の前記関係が、I=const*(1+cosφ)との比較によって取得される、
ことを特徴とする方法。 - 請求項1から11のいずれか1項に記載の方法であって、
前記位相マスクの前記較正用の測定のためにのみ使用される、カメラが存在することを特徴とする方法。 - 請求項1から11のいずれか1項に記載の方法であって、
実際の顕微鏡法測定にも使用されるカメラが、前記ビーム経路中の光の強度を測定するために使用されることを特徴とする方法。 - 請求項1から13のいずれか1項に記載の方法であって、
前記顕微鏡が、レーザー走査顕微鏡、広視野顕微鏡、または光シート顕微鏡であることを特徴とする方法。 - 試料を観察するための顕微鏡であって、
照明光を放射するための少なくとも1つの光源と、
前記試料上に前記照明光を導くための少なくとも1つの顕微鏡対物レンズと、
検出光を前記試料からカメラ上に導くための光学手段と、
励起ビーム経路中および/または検出ビーム経路中に配置された位相マスクと、
前記検出ビーム経路中の光を測定するための前記カメラと、
前記位相マスクおよび前記カメラを駆動し、前記カメラによって測定された光を評価するための制御/評価ユニットと
を含む、顕微鏡において、前記制御/評価ユニットが、
前記位相マスクを、グレーレベルの異なるパターンとともに連続的に駆動することであって、セグメントの第1の部分量の第1のグレーレベルが、一定に維持され、セグメントの第2の部分量の第2のグレーレベルが、1つのパターンから次のパターンに変化する、ことと、
前記検出ビーム経路中の光の全強度の少なくとも一部分を、前記グレーレベルの異なるパターンに関して前記位相マスクの下流で測定するための前記カメラを駆動することと、
前記第2のグレーレベルに依存した測定強度の特性を形成することと、
前記第2のグレーレベルと前記位相マスクによって与えられた位相シフトとの間の関係を前記特性から取得することと、
グレーレベルと位相シフトとの間の前記取得された関係に基づいて前記位相マスクの駆動を較正することと、
のために設定され、
較正用の測定のための蛍光試料が、前記較正用の測定のために存在し、および/または、前記試料を保持するための対象物担体またはカバーグラスが存在し、前記対象物担体または前記カバーグラスにおいて反射された光が、前記較正用の測定に使用されることを特徴とする顕微鏡。 - 請求項15に記載の顕微鏡であって、
前記位相マスクが、試料平面に光学的に共役な平面内に配置されることを特徴とする顕微鏡。 - 請求項15に記載の顕微鏡であって、
前記位相マスクが、後方の対物レンズ瞳に光学的に共役な平面内に配置され、励起ビーム経路と前記検出ビーム経路の両方によって使用されることを特徴とする顕微鏡。 - 請求項15から17のいずれか1項に記載の顕微鏡であって、
0次回折光を遮断するための絞りが、前記位相マスクの下流に存在することを特徴とする顕微鏡。 - 請求項15から17のいずれか1項に記載の顕微鏡であって、
0よりも大きい回折次数の光を遮断するための絞りが存在することを特徴とする顕微鏡。 - 請求項15から19のいずれか1項に記載の顕微鏡であって、
前記位相マスクが、ピクセル列およびピクセル行を有する2D位相マスクであることを特徴とする顕微鏡。 - 請求項15から20のいずれか1項に記載の顕微鏡であって、
前記位相マスクが、空間光変調器であることを特徴とする顕微鏡。 - 請求項15から21のいずれか1項に記載の顕微鏡であって、
前記較正用の測定に使用される照射光を前記カメラに導くための、ビーム偏向手段が存在することを特徴とする顕微鏡。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102018115001.6 | 2018-06-21 | ||
DE102018115001.6A DE102018115001A1 (de) | 2018-06-21 | 2018-06-21 | Verfahren zum Kalibrieren einer Phasenmaske und Mikroskop |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020060758A JP2020060758A (ja) | 2020-04-16 |
JP7349270B2 true JP7349270B2 (ja) | 2023-09-22 |
Family
ID=66912594
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019114236A Active JP7349270B2 (ja) | 2018-06-21 | 2019-06-20 | 位相マスクおよび顕微鏡を較正するための方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11609414B2 (ja) |
EP (1) | EP3588164A1 (ja) |
JP (1) | JP7349270B2 (ja) |
CN (1) | CN110632726B (ja) |
DE (1) | DE102018115001A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE112018002670T5 (de) | 2017-05-24 | 2020-03-05 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Breitband achromatische flache optische Komponenten durch dispersionstechnische dielektrische Metaoberflächen |
US10795168B2 (en) | 2017-08-31 | 2020-10-06 | Metalenz, Inc. | Transmissive metasurface lens integration |
DE102018115001A1 (de) * | 2018-06-21 | 2019-12-24 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zum Kalibrieren einer Phasenmaske und Mikroskop |
EP3620840A1 (en) * | 2018-09-05 | 2020-03-11 | Sorbonne Université | High sensitivity phase microscopy imaging |
US10989591B2 (en) * | 2019-02-08 | 2021-04-27 | University Of Maryland, College Park | Methods and arrangements to enhance optical signals within aberrated or scattering samples |
KR20220035971A (ko) | 2019-07-26 | 2022-03-22 | 메탈렌츠 인코포레이티드 | 개구-메타 표면 및 하이브리드 굴절-메타 표면 이미징 시스템 |
WO2021097300A1 (en) * | 2019-11-13 | 2021-05-20 | University Of Washington | Open-top light-sheet microscopy with a non-orthogonal arrangement of illumination and collection objectives |
CN111537197A (zh) * | 2019-12-25 | 2020-08-14 | 上海瑞立柯信息技术有限公司 | 一种空间光调制器相位测量的通用标定方法 |
WO2021167896A1 (en) * | 2020-02-19 | 2021-08-26 | Thermo Electron Scientific Instruments Llc | Phase mask for structured illumination |
CN113933273A (zh) * | 2021-09-29 | 2022-01-14 | 深圳高性能医疗器械国家研究院有限公司 | 一种用于光片荧光显微镜的镜片、样品仓及成像系统 |
US11927769B2 (en) | 2022-03-31 | 2024-03-12 | Metalenz, Inc. | Polarization sorting metasurface microlens array device |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016507078A (ja) | 2013-01-25 | 2016-03-07 | ザ トラスティーズ オブ コロンビア ユニバーシティ イン ザ シティオブ ニューヨーク | 被写界深度3dイメージングslm顕微鏡 |
JP2018501513A (ja) | 2014-12-19 | 2018-01-18 | カール・ツァイス・マイクロスコピー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツングCarl Zeiss Microscopy GmbH | 光シート顕微鏡検査法によって検体を検査する方法 |
JP2018513404A (ja) | 2015-03-16 | 2018-05-24 | カール・ツァイス・マイクロスコピー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツングCarl Zeiss Microscopy GmbH | 光シート顕微鏡検査法によって検体を検査する方法及び配置構成 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07221005A (ja) * | 1994-02-08 | 1995-08-18 | Hitachi Ltd | ホトマスクおよび位相差測定方法 |
US7194139B1 (en) * | 1999-05-19 | 2007-03-20 | Lenslet Ltd. | Image compression |
US7492948B2 (en) * | 2003-06-26 | 2009-02-17 | Denmarks Tekniske Universitet | Generation of a desired wavefront with a plurality of phase contrast filters |
US7115848B1 (en) * | 2004-09-29 | 2006-10-03 | Qioptiq Imaging Solutions, Inc. | Methods, systems and computer program products for calibration of microscopy imaging devices |
CA2738652A1 (en) * | 2008-09-25 | 2010-04-01 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Device, apparatus and method for providing photostimulation and imaging of structures |
EP2290646A1 (en) | 2009-08-14 | 2011-03-02 | Thomson Licensing | Position calibration of a holographic storage medium |
US10051240B2 (en) * | 2010-06-14 | 2018-08-14 | Howard Hughes Medical Institute | Structured plane illumination microscopy |
FR2967791B1 (fr) * | 2010-11-22 | 2012-11-16 | Ecole Polytech | Procede et systeme de calibration d'un modulateur optique spatial dans un microscope optique |
JP6166776B2 (ja) * | 2012-04-03 | 2017-07-19 | ユニバーシティー コート オブ ザ ユニバーシティー オブ セイント アンドリューズUniversity Court Of The University Of St Andrews | 拡張ボリュームの高分解能イメージング |
JP6128822B2 (ja) * | 2012-12-05 | 2017-05-17 | オリンパス株式会社 | 光学装置 |
US9918053B2 (en) * | 2014-05-14 | 2018-03-13 | Jasper Display Corp. | System and method for pulse-width modulating a phase-only spatial light modulator |
WO2016073785A1 (en) * | 2014-11-05 | 2016-05-12 | The Regents Of The University Of Colorado | 3d imaging, ranging, and/or tracking using active illumination and point spread function engineering |
DE102014116958B9 (de) | 2014-11-19 | 2017-10-05 | Trumpf Laser- Und Systemtechnik Gmbh | Optisches System zur Strahlformung eines Laserstrahls, Laserbearbeitungsanlage, Verfahren zur Materialbearbeitung und Verwenden einer gemeinsamen langgezogenen Fokuszone zur Lasermaterialbearbeitung |
US10222600B2 (en) * | 2015-02-23 | 2019-03-05 | The Research Foundation For The State University Of New York | Method and apparatus for tiling light sheet selective plane illumination microscopy with real-time optimized light sheet |
US10187626B2 (en) * | 2015-04-10 | 2019-01-22 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Apparatuses and methods for three-dimensional imaging of an object |
US10317667B2 (en) * | 2015-07-04 | 2019-06-11 | The Regents Of The University Of California | Compressive plenoptic microscopy for functional brain imaging |
CN107221005B (zh) | 2017-05-04 | 2020-05-08 | 美的集团股份有限公司 | 物体检测方法及装置 |
CN107941470A (zh) | 2017-11-17 | 2018-04-20 | 西安交通大学 | 一种测量空间光调制器相位调制特性的装置及方法 |
TWI725875B (zh) * | 2018-01-16 | 2021-04-21 | 美商伊路米納有限公司 | 結構照明成像系統和使用結構化光來創建高解析度圖像的方法 |
NL2020620B1 (en) * | 2018-01-16 | 2019-07-25 | Illumina Inc | Pattern angle spatial selection structured illumination imaging |
EP3769073A4 (en) * | 2018-03-18 | 2022-01-05 | Technion Research & Development Foundation Limited | DEVICE AND METHOD FOR THREE-DIMENSIONAL HIGH-THROUGHPUT IMAGING |
DE102018113054A1 (de) * | 2018-05-31 | 2019-12-05 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zur Beleuchtung von Proben in mikroskopischen Abbildungsverfahren |
DE102018115001A1 (de) * | 2018-06-21 | 2019-12-24 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zum Kalibrieren einer Phasenmaske und Mikroskop |
-
2018
- 2018-06-21 DE DE102018115001.6A patent/DE102018115001A1/de active Pending
-
2019
- 2019-06-14 EP EP19180398.0A patent/EP3588164A1/de active Pending
- 2019-06-18 US US16/444,071 patent/US11609414B2/en active Active
- 2019-06-20 JP JP2019114236A patent/JP7349270B2/ja active Active
- 2019-06-21 CN CN201910542603.7A patent/CN110632726B/zh active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016507078A (ja) | 2013-01-25 | 2016-03-07 | ザ トラスティーズ オブ コロンビア ユニバーシティ イン ザ シティオブ ニューヨーク | 被写界深度3dイメージングslm顕微鏡 |
JP2018501513A (ja) | 2014-12-19 | 2018-01-18 | カール・ツァイス・マイクロスコピー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツングCarl Zeiss Microscopy GmbH | 光シート顕微鏡検査法によって検体を検査する方法 |
JP2018513404A (ja) | 2015-03-16 | 2018-05-24 | カール・ツァイス・マイクロスコピー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツングCarl Zeiss Microscopy GmbH | 光シート顕微鏡検査法によって検体を検査する方法及び配置構成 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
H. Dammann 外1名,High-efficiency in-line multiple imaging by means of multiple phase holograms,OPTICS COMMUNICATIONS,1971年07月01日,Vol. 3, No. 5,p. 312-315 |
Zheng Zhang 外2名,Simple method for measuring phase modulation in liquid crystal televisions,OPTICAL ENGINEERING,1994年09月01日,Vol. 33, Issue 9,p. 3018-3022 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110632726A (zh) | 2019-12-31 |
EP3588164A1 (de) | 2020-01-01 |
CN110632726B (zh) | 2023-05-23 |
US20190391378A1 (en) | 2019-12-26 |
JP2020060758A (ja) | 2020-04-16 |
DE102018115001A1 (de) | 2019-12-24 |
US11609414B2 (en) | 2023-03-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7349270B2 (ja) | 位相マスクおよび顕微鏡を較正するための方法 | |
JP6718877B2 (ja) | 光シート顕微鏡検査法によって検体を検査する方法 | |
JP6444869B2 (ja) | 誘導放出抑制顕微鏡検査 | |
US9500846B2 (en) | Rapid adaptive optical microscopy over large multicellular volumes | |
JP6195830B2 (ja) | 適応光学系を有する顕微鏡検査法 | |
JP5718329B2 (ja) | 適応光学系を有する顕微鏡検査法 | |
JP6411472B2 (ja) | レーザスキャニング顕微鏡、および特に高解像度のスキャニング顕微鏡法で結像収差を修正する方法 | |
CN109416321B (zh) | 基于空间光调制器的高光谱共焦显微镜及其使用方法 | |
US9740166B2 (en) | Fluorescence receiving apparatus and fluorescence receiving method | |
WO2014017289A1 (ja) | 光変調方法、光変調プログラム、光変調装置、及び光照射装置 | |
JP2018513404A (ja) | 光シート顕微鏡検査法によって検体を検査する方法及び配置構成 | |
JP2010506203A (ja) | 並行化された顕微鏡イメージングのための方法および装置 | |
JP4920918B2 (ja) | 位相フィルタ、光学装置及びラスタ顕微鏡 | |
KR20140084122A (ko) | 광변조 제어 방법, 제어 프로그램, 제어 장치 및 레이저광 조사 장치 | |
US20060214106A1 (en) | Point scanning laser scanning microscope and methods for adjustment of a microscope | |
EP3921111A1 (en) | Laser machining inside materials | |
Jonkman et al. | [18] Resolution in optical microscopy | |
JP2022518161A (ja) | 2色共焦点共局在化顕微鏡法 | |
JP7370326B2 (ja) | 大視野3d分光顕微鏡法 | |
US20210373309A1 (en) | Light sheet microscope with movable container | |
CN112567281A (zh) | 用于显微镜的照明总成、显微镜和用于照明显微镜中的样本空间的方法 | |
US11156818B2 (en) | Flexible light sheet generation by field synthesis | |
KR20240067743A (ko) | 광학 현미경 및 이의 광 입사각 조절방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220614 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230131 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230131 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230428 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230523 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230818 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230905 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230911 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7349270 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |