JP7346004B2 - 地絡検出装置 - Google Patents

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Description

本発明は、フライングキャパシタを用いた地絡検出装置に関する。
駆動源としてエンジンと電気モータとを備えるハイブリッド車や、電気自動車のような車両においては、車体上に搭載したバッテリを充電し、バッテリから供給される電気エネルギーを利用して推進力を発生する。一般に、バッテリ関連の電源回路は、200V以上の高電圧を扱う高電圧回路として構成されており、安全性確保ため、バッテリを含む高電圧回路は接地の基準電位点となる車体から電気的に絶縁された非接地構成となっている。
非接地の高電圧バッテリを搭載した車両では、高電圧バッテリが設けられた系、具体的には、高電圧バッテリからモータに至るメインの電源系と車体との絶縁状態(地絡)を監視するために地絡検出装置が備えられている。地絡検出装置は、フライングキャパシタと呼ばれるコンデンサを利用した方式が広く用いられている。
フライングキャパシタ方式の地絡検出装置は、絶縁抵抗を把握するために、フライングキャパシタとして機能する検出用コンデンサを含んだ計測経路をスイッチで切り替えて、V0計測、Vc1n計測、Vc1p計測を行なう。ここで、V0計測は高電圧バッテリの電圧に対応した電圧の計測であり、Vc1n計測は負側の絶縁抵抗であるRLnの影響を反映した電圧の計測であり、Vc1p計測は正側の絶縁抵抗であるRLpの影響を反映した電圧の計測である。
これらの計測で得られたV0、Vc1n、Vc1pから、正側の絶縁抵抗と負側の絶縁抵抗とを合成した絶縁抵抗を算出できることが知られている。算出のための演算が複雑であるため、一般には、Vc1/V0(ただし、Vc1=Vc1p+Vc1n)を参照値とした絶縁抵抗換算用の換算マップを用意しておき、測定によって得られたVc1/V0の値から換算マップを参照して絶縁抵抗を推定し、地絡の発生を判定する。
V0、Vc1n、Vc1p、いずれの計測においても、所定の充電時間Δtmで充電させたときの検出用コンデンサの充電電圧を測定して測定値とする。充電時間Δtmは、地絡判定を短時間で行なうために、検出用コンデンサをフル充電させないような値としている。一方で、充電時間Δtmが短すぎると、充電電圧が小さくなり、ノイズの影響等により検出精度が低下する。このため、充電時間Δtmは、判定時間と検出精度とのバランスを考慮して定められている。
特開2017-78587号公報
V0計測、Vc1n計測、Vc1p計測の各計測結果により得られた参照値から絶縁抵抗を得るための換算マップは、検出用コンデンサの容量と、計測経路に設けられた充電抵抗の値と、充電時間Δtmとに基づいて算出することができる。
充電抵抗の値と充電時間Δtmは、変動が少ない安定した値とすることができるが、検出用コンデンサの容量は、固体毎のばらつきが比較的大きいのに加え、温度等の周辺環境の影響を受けて値が変動する。
計測を行なった際の検出用コンデンサの容量が、換算マップを作成したときに設定した検出用コンデンサの容量から変化していると、算出される絶縁抵抗の精度が低下するおそれがある。
そこで、本発明は、フライングキャパシタ方式の地絡検出装置において、検出用コンデンサの容量が変化した場合であっても、絶縁抵抗の算出精度の低下を防ぐことを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明の地絡検出装置は、非接地のバッテリと接続し、前記バッテリが設けられた系の絶縁抵抗を算出する地絡検出装置であって、
フライングキャパシタとして動作するコンデンサと、
前記バッテリ、前記コンデンサを含んだ第1測定経路と、前記バッテリ、前記バッテリ負側ラインと接地との絶縁抵抗である負側絶縁抵抗、前記コンデンサを含んだ第2測定経路と、前記バッテリ、前記バッテリ正側ラインと接地との絶縁抵抗である正側絶縁抵抗、前記コンデンサを含んだ第3測定経路と、を切り換えるスイッチ群と、
前記各測定経路における前記コンデンサの各充電電圧に基づいて参照値を算出し、既定の換算マップを参照して前記絶縁抵抗を算出する制御部と、を備え、
前記換算マップは、前記コンデンサの容量に対応した換算マップを含み、
前記制御部は、前記コンデンサの容量を推定し、推定された前記コンデンサの容量に対応した換算マップを参照する。
本発明によれば、フライングキャパシタ方式の地絡検出装置において、検出用コンデンサの容量が変化した場合であっても、絶縁抵抗の算出精度の低下を防ぐことができる。
本発明の実施形態に係る地絡検出装置の構成を示すブロック図である。 検出用コンデンサの変動と検出誤差について説明する図である。 地絡検出装置の地絡判定動作について説明するフローチャートである。 周辺温度に基づいて検出用コンデンサの容量を推定する手法について説明するフローチャートである。 実測により検出用コンデンサの容量を推定する手法について説明する図である。
本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発明の実施形態に係る地絡検出装置100の構成を示すブロック図である。本図に示すように地絡検出装置100は、高電圧バッテリ300と接続し、高電圧バッテリ300が設けられた系の地絡を検出するフライングキャパシタ方式の装置である。ここで、高電圧バッテリ300の正極側と接地間の絶縁抵抗をRLpと表し、負極側と接地間の絶縁抵抗をRLnと表すものとする。
高電圧バッテリ300は、車両走行の駆動用に用いられるバッテリである。高電圧バッテリ300は、リチウムイオン電池等のように充電可能なバッテリにより構成されており、電気モータ等を含んだ負荷310を駆動する。
本図に示すように、地絡検出装置100は、フライングキャパシタとして動作する検出用コンデンサC1と、制御装置120を備えている。また、地絡検出装置100は、計測経路を切り替えるとともに、検出用コンデンサC1の充電および放電を制御するために、検出用コンデンサC1の周辺に4つのスイッチS1~S4を備えている。これらのスイッチは、光MOSFETのように絶縁型のスイッチング素子で構成することができる。
スイッチS1は、第1端が正極側電源ラインと接続し、第2端がダイオードD1のアノード側と接続している。ダイオードD1のカソード側は抵抗R1の第1端と接続し、抵抗R1の第2端は検出用コンデンサC1の第1極と接続している。スイッチS2は、第1端が負極側電源ラインと接続し、第2端が抵抗R2の第1端と接続している。抵抗R2の第2端は検出用コンデンサC1の第2極と接続している。
スイッチS3は、第1端が抵抗R3の第1端およびダイオードD3のアノード側と接続し、第2端が抵抗R5の第1端、制御装置120のアナログ入力端子、第2極が接地されたコンデンサC2の第1極と接続している。ダイオードD3のカソード側は検出用コンデンサC1の第1極と接続し、抵抗R3の第2端はダイオードD2のカソード側と接続し、ダイオードD2のアノード側は検出用コンデンサC1の第1極と接続している。抵抗R5の第2端は接地している。スイッチS4は、第1端が検出用コンデンサC1の第2極と接続し、第2端が抵抗R4の第1端と接続している。抵抗R4の第2端は接地している。
制御装置120は、マイクロコンピュータ等で構成され、あらかじめ組み込まれたプログラムを実行することにより、地絡検出装置100に必要とされる各種制御を実行する。具体的には、スイッチS1~S4を個別に制御して計測経路を切り替えるとともに検出用コンデンサC1の充電および放電を制御する。
V0計測、Vc1n計測、Vc1p計測の各計測回路は従来と同様である。すなわち、V0計測では、スイッチS1、S2をオンにして検出用コンデンサC1を充電する。Vc1n計測では、スイッチS1、S4をオンにして、検出用コンデンサC1を充電する。Vc1p計測では、スイッチS2、S3をオンにして、検出用コンデンサC1を充電する。
また、制御装置120は、検出用コンデンサC1の充電電圧に相当するアナログレベルをアナログ入力端子から入力し、測定値とする。この測定値に基づいて高電圧バッテリ300が設けられた系の絶縁抵抗の低下を検出する。アナログ入力端子に検出用コンデンサC1の充電電圧を印加する際には、スイッチS3、S4をオンにする。この経路では検出用コンデンサC1の放電も行なわれる。
以上はフライングキャパシタ方式の地絡検出装置で広く用いられている基本的な回路構成であるが、フライングキャパシタ方式の地絡検出装置には種々の変形例もあり、地絡検出装置100の構成は本図の例に限られない。
本実施形態では、さらに、制御装置120が、検出用コンデンサ容量推定部130と換算マップ140とを備えている。例えば、検出用コンデンサ容量推定部130は、制御装置120が所定のプログラムを実行することで構成することができ、換算マップ140は、制御装置120が備える記憶領域内に構成することができる。
検出用コンデンサ容量推定部130は、検出用コンデンサC1の現在の容量を推定するブロックである。検出用コンデンサC1の現在の容量を推定する手法は限定されず、種々の方法をとることができる。
例えば、一般にコンデンサの容量は温度の影響を受けるため、検出用コンデンサC1周辺の温度を温度計TM131(図1参照)で測定し、当初容量からの変化を見積もることで推定することができる。また、実測により検出用コンデンサC1の容量を推定してもよい。例えば、充電した検出用コンデンサC1を所定時間放電させ、放電前後の充電電圧の変化に基づいて算出することができる。この場合は、温度計TM131を省いてもよい。検出用コンデンサC1の現在の容量を推定する手順については後述する。
換算マップ140は、V0計測、Vc1n計測、Vc1p計測から得られる参照値を絶縁抵抗の値に換算するためのマップである。換算マップ140は、検出用コンデンサ容量に対応して作成されている。例えば、容量を大きさに応じた複数のグループに分類し、グループ毎に換算マップ140を作成することができる。各グループには、グループを代表する容量を定めておく。例えば、上限容量と下限容量とで定められるグループの中央値を代表する容量とすることができる。
換算マップ140は、検出用コンデンサC1の容量と、計測経路に設けられた充電抵抗(R1、R2)の値と、充電時間Δtmとに基づいて算出することができる。ここでは、充電抵抗の値と充電時間Δtmとを固定し、検出用コンデンサC1の容量を、グループを代表する容量で変化させてグループ毎の換算マップ140を作成する。換算マップ140は、当初の検出用コンデンサC1の容量に対応して作成された標準の換算マップ140を含んでいる。
制御装置120は、V0計測、Vc1n計測、Vc1p計測に基づいて参照値を算出すると、標準の換算マップ140あるいは検出用コンデンサC1の現在の容量の推定値に対応する換算マップ140を参照して、絶縁抵抗を算出する。
本実施形態の地絡検出装置100は、検出用コンデンサC1の現在の容量の推定値に対応する換算マップ140を参照して、絶縁抵抗を算出するため、検出用コンデンサの容量が変化した場合であっても、絶縁抵抗の算出精度の低下を防ぐことができる。
ここで、検出用コンデンサC1の変動と検出誤差について図2を参照して説明する。図2(a)は、検出用コンデンサの容量が当初の容量bから容量aに増えた場合と容量cに減った場合の絶縁抵抗に対する参照値の変化を示している。本図に示すように、絶縁抵抗が低い領域と高い領域で容量毎の参照値に差が生じており、特に絶縁抵抗が低い領域で差が顕著である。
図2(b)は、容量a、容量b、容量cそれぞれの場合に得られた参照値を元に、当初の容量bに対応した標準の換算マップで絶縁抵抗を算出した場合の検出誤差を示している。絶縁抵抗が低い領域では、容量による参照値の差が顕著に生じているのに加え、真の絶縁抵抗に対する誤差の比率が大きくなるため、検出誤差が極めて大きくなっている。理論上は、絶縁抵抗が充電抵抗と等しくなる抵抗値Rtにおいて誤差がゼロになるが、絶縁抵抗がそれ以下に落ちると急激に誤差が悪化し、算出精度が低下する。
逆に言えば、絶縁抵抗が充電抵抗ほど低下してなければ、検出用コンデンサC1の容量の変化が絶縁抵抗の算出精度に与える影響はそれほど大きくないということになる。
このため、本実施形態では、絶縁抵抗が低下している可能性がある場合に、検出用コンデンサC1の現在の容量を推定し、推定された検出用コンデンサC1の現在の容量に対応した換算マップ140を参照するようにする。一方、絶縁抵抗が低下している可能性がない場合には、検出用コンデンサC1の現在の容量の推定を行なわず、標準の換算マップ140を参照するようにする。
これにより、標準の換算マップ140以外は、絶縁抵抗が低下している領域にのみ対応した換算マップ140を準備すればよいため、制御装置120における換算マップ140のための記憶領域を節約することができる。
ただし、絶縁抵抗の低下の可能性にかかわらず、検出用コンデンサC1の現在の容量を推定し、推定された検出用コンデンサC1の現在の容量に対応した換算マップ140を参照するようにしてもよい。これにより、絶縁抵抗の算出精度をより高めることができる。
次に、上記構成の地絡検出装置100の地絡判定動作について図3のフローチャートを参照して説明する。本動作は、制御装置120の制御により行なわれる。
まず、スイッチS1~S4の開閉を制御し、V0、Vc1n、Vc1pをそれぞれ測定する(S101)。そして、測定で得られたV0、Vc1n、Vc1pに基づいて、参照値を算出する(S102)。
また、測定で得られたV0、Vc1n、Vc1pに基づいて、絶縁抵抗が低下している可能性があるかどうかを判定する(S103)。上述のように、絶縁抵抗が充電抵抗より低下している場合に誤差が大きくなるため、絶縁抵抗が低下している目安として、例えば、V0<(Vc1n+Vc1p)が成り立つ場合とすることができる。
この結果、絶縁抵抗が低下している可能性があると判定した場合(S103:Yes)は、検出用コンデンサ容量推定部130が、現在の検出用コンデンサC1の容量推定を行なう(S104)。現在の検出用コンデンサC1の容量推定の手順については後述する。
そして、推定された検出用コンデンサC1の容量に対応した換算マップ140を参照して(S105)、絶縁抵抗を算出する(S107)。絶縁抵抗を算出すると、得られた絶縁抵抗が所定の基準値を下回っているかどうかで地絡の判定を行なう(S108)。
一方、絶縁抵抗が低下している可能性がないと判定した場合(S103:No)は、標準の換算マップ140を参照して(S106)、絶縁抵抗を算出する(S107)。絶縁抵抗を算出すると、得られた絶縁抵抗が所定の基準値を下回っているかどうかで地絡の判定を行なう(S108)。
最後に、検出用コンデンサ容量推定部130が行なう、現在の検出用コンデンサC1の容量推定の例について説明する。まず、検出用コンデンサC1の周辺温度に基づいて推定する手法の手順について図4のフローチャートを参照して説明する。
本手法では、地絡検出装置100の出荷前において基準温度における検出用コンデンサC1の実際の容量を測定しておく。検出用コンデンサC1の実際の容量は、例えば、充電した検出用コンデンサC1を所定時間放電させ、放電前後の充電電圧の変化を測定することで算出することができる。
そして、実際の容量とともに、周辺温度毎の検出用コンデンサC1の推定容量を実測あるいは理論的に取得し、制御装置120内の検出用コンデンサ容量推定部130が参照可能な記憶領域に容量テーブルとして書き込んでおく。容量テーブルに変えて、周辺温度から現在の検出用コンデンサC1の容量を算出する算出式等を書き込んでおいてもよい。
現在の検出用コンデンサC1の容量推定の際には、温度計TM131を用いて検出用コンデンサC1の周辺温度を取得する(S201)。そして、出荷前に記録した容量テーブルを参照し(S202)、周辺温度に対応した容量を現在の検出用コンデンサC1の容量として推定する(S203)。
次に、実測により現在の検出用コンデンサC1の容量を推定する手法について図5を参照して説明する。ここでは、充電した検出用コンデンサC1を所定時間放電させ、放電前後の充電電圧の変化に基づいて現在の検出用コンデンサC1の容量を算出する。本手法は、特許文献1に記載されているため、概要の説明に留める。
本図に示すように、検出用コンデンサC1を時刻t0からt1の間で充電させ、時刻t1から時刻t2の間で放電した場合、時刻t1における充電電圧V1に対する時刻t2おける充電電圧V2の比率は、検出用コンデンサC1の容量に依存する。なお、充電抵抗は既知で一定であるとする。
このため、検出用コンデンサ容量推定部130は、スイッチS1~S4の開閉を制御し、検出用コンデンサC1に対して所定時間の充電と放電とを行ない、充電終了時点の検出用コンデンサの充電電圧V1と放電終了時点の検出用コンデンサの充電電圧V2とを測定する。そして、測定された充電電圧と放電時に関係する抵抗に基づいて現在の検出用コンデンサC1の容量を算出する。
具体的には、放電時に関係する抵抗をRdとすると、C1=(t2-t1)/(Rd×ln(V2/V1))で算出することができる。
以上説明したように、本実施形態の地絡検出装置100は、検出用コンデンサC1の現在の容量を推定し、推定値に対応する換算マップ140を参照して、絶縁抵抗を算出するため、検出用コンデンサの容量が変化した場合であっても、絶縁抵抗の算出精度の低下を防ぐことができる。
このとき、絶縁抵抗が低下している可能性がない場合には、検出用コンデンサC1の現在の容量の推定を行なわず、標準の換算マップ140を参照するようにしてもよい。これにより、制御装置120における換算マップ140のための記憶領域を節約することができる。
100 地絡検出装置
120 制御装置
130 検出用コンデンサ容量推定部
140 換算マップ
300 高電圧バッテリ
310 負荷

Claims (4)

  1. 非接地のバッテリと接続し、前記バッテリが設けられた系の絶縁抵抗を算出する地絡検出装置であって、
    フライングキャパシタとして動作するコンデンサと、
    前記バッテリ、前記コンデンサを含んだ第1測定経路と、前記バッテリ、前記バッテリ負側ラインと接地との絶縁抵抗である負側絶縁抵抗、前記コンデンサを含んだ第2測定経路と、前記バッテリ、前記バッテリ正側ラインと接地との絶縁抵抗である正側絶縁抵抗、前記コンデンサを含んだ第3測定経路と、を切り換えるスイッチ群と、
    前記各測定経路における前記コンデンサの各充電電圧に基づいて参照値を算出し、既定の換算マップを参照して前記絶縁抵抗を算出する制御部と、を備え、
    前記換算マップは、標準の換算マップと、前記コンデンサの容量に対応した換算マップを含み、
    前記制御部は、算出した前記参照値に基づいて、前記絶縁抵抗が所定の基準より低下していると判定した場合に、前記コンデンサの容量を推定し、推定された前記コンデンサの容量に対応した換算マップを参照して前記絶縁抵抗を算出し、
    前記絶縁抵抗が所定の基準より低下していないと判定した場合に、前記標準の換算マップを参照して前記絶縁抵抗を算出することを特徴とする地絡検出装置。
  2. 前記コンデンサの容量に対応した換算マップは、前記絶縁抵抗が所定の基準より低下していると判定される前記参照値の範囲で作成されていることを特徴とする請求項に記載の地絡検出装置。
  3. 前記制御部は、前記コンデンサの周辺温度を取得し、取得した周辺温度に基づいて、前記コンデンサの容量を推定することを特徴とする請求項1または2に記載の地絡検出装置。
  4. 前記制御部は、前記コンデンサを充電させた後、所定時間放電させたときの放電前後の充電電圧を測定し、測定値に基づいて前記コンデンサの容量を推定することを特徴とする請求項1または2に記載の地絡検出装置。
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