JP7332043B2 - 質量分析装置 - Google Patents

Description

本発明は、質量分析装置に関するものである。

質量分析装置においては、真空状態とされた真空室内で試料に対する分析が行われる。真空室は扉により開閉可能となっており、メンテナンスの際などには扉が開かれることにより、真空室が開放される（例えば、下記特許文献１参照）。

図４Ａ～図４Ｃは、従来の扉１０２の開閉機構の構成例を示した概略横断面図である。図４Ａは、扉１０２が開状態のときを示している。図４Ｂは、扉１０２が開状態から閉状態へと回動される途中の状態を示している。図４Ｃは、扉１０２が閉状態のときを示している。この開閉機構では、筐体１０１に形成された開口１１１が扉１０２により開閉可能な構成となっている。扉１０２は、鉛直方向に延びるヒンジ部１０３により回動可能に支持されている。

扉１０２は、閉塞部１２１と、閉塞部１２１を保持する保持部１２２とを有している。ヒンジ部１０３は、保持部１２２の一端部を回動可能に支持している。閉塞部１２１は、そのヒンジ部１０３側の端部、及び、ヒンジ部１０３側とは反対側の端部のそれぞれにおいて、保持部１２２に対してビス１２３で固定されている。これにより、閉塞部１２１は、その表面全体が保持部１２２に対して常に密着した状態で固定されている。

閉塞部１２１は、保持部１２２側とは反対側の面にＯリング１２４を備えている。図４Ａに示す開状態から扉１０２を閉状態へと回動させていくと、図４Ｂに示すように、まず、ヒンジ部１０３側においてＯリング１２４が開口１１１の周縁部に接触する。この状態では、Ｏリング１２４の反発力に起因して、ヒンジ部１０３側とは反対側においてＯリング１２４が開口１１１の周縁部から離間している。

特開２００３－３４６７０３号公報

図４Ｂの状態で、筐体１０１内に形成された真空室１１０を真空状態にしようとした場合には、Ｏリング１２４と開口１１１の周縁部との間に形成された隙間１０４から真空室１１０内に空気が侵入するため、真空室１１０を真空状態にすることが困難である。そのため、Ｏリング１２４の反発力に抗して扉１０２に外力を加え、図４Ｃに示すような状態にした後、真空室１１０の真空引きを行う必要がある。扉１０２に外力を加える手段としては、例えばネジ（図示せず）などが用いられる。

本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、真空室に連通する開口をより簡単な作業で閉塞することができる質量分析装置を提供することを目的とする。

本発明の第１の態様は、筐体と、扉と、ヒンジ部とを備える質量分析装置である。前記筐体は、分析時に真空状態とされる真空室が内部に形成され、前記真空室に連通する開口を有する。前記扉は、前記開口を開閉する。前記ヒンジ部は、前記扉を開状態と閉状態との間で回動可能に支持するように構成されている。前記扉は、閉状態で前記開口を閉塞する閉塞部と、前記閉塞部を保持し、前記ヒンジ部に連結された保持部とを有する。前記閉塞部は、前記ヒンジ部側とは反対側において前記保持部に連結され、前記ヒンジ部側においては前記保持部に対して離間可能に構成されている。前記扉を開状態から閉状態へと回動させた場合には、前記ヒンジ部側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に接触する前に、前記ヒンジ部側とは反対側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に接触するように構成されている。

本発明の第１の態様によれば、扉を開状態から閉状態へと回動させることにより、ヒンジ部側とは反対側において閉塞部を開口の周縁部に接触させることができる。その後、ヒンジ部側において閉塞部を保持部から離間させて開口に近づけるだけで、ヒンジ部側において閉塞部を開口の周縁部に密着させることができる。したがって、真空室に連通する開口をより簡単な作業で閉塞することができる。

質量分析装置の構成例を示した概略図である。 扉の周辺の構成について説明するための概略側面図であり、扉が開かれた状態を示している。 扉の開閉動作について説明するための概略横断面図であり、シール部材が開口の周縁部に接触する前の状態を示している。 扉の開閉動作について説明するための概略横断面図であり、シール部材におけるヒンジ部側とは反対側が開口の周縁部に接触した状態を示している。 扉の開閉動作について説明するための概略横断面図であり、シール部材におけるヒンジ部側とは反対側が開口の周縁部に対して圧縮された状態を示している。 扉の開閉動作について説明するための概略横断面図であり、シール部材全体が開口の周縁部に対して圧縮された状態を示している。 従来の扉の開閉機構の構成例を示した概略横断面図であり、扉が開状態のときを示している。 従来の扉の開閉機構の構成例を示した概略横断面図であり、扉が開状態から閉状態へと回動される途中の状態を示している。 従来の扉の開閉機構の構成例を示した概略横断面図であり、扉が閉状態のときを示している。

１．質量分析装置の全体構成
図１は、質量分析装置１の構成例を示した概略図である。図１に示す質量分析装置１は、ガスクロマトグラフィーにより分離された試料中の成分に対して質量分析を行うガスクロマトグラフ質量分析装置である。この質量分析装置１は、ガスクロマトグラフ部２及び質量分析部３を備えている。

ガスクロマトグラフ部２は、カラム（図示せず）を備えている。分析中は、試料とともにキャリアガスがカラムに導入され、カラムを通過する過程で試料中の各成分が分離される。カラムで分離された試料中の各成分は、質量分析部３に順次供給される。キャリアガスは、例えば窒素ガス又はヘリウムガスなどの不活性ガスであるが、これに限らず、水素ガスなどの他のガスであってもよい。

質量分析部３は、中空状の筐体３００を備えている。筐体３００の内部には、イオン化室３１、第１真空室３２及び第２真空室３３が形成されている。質量分析部３には、真空ポンプ（図示せず）が備えられている。分析時には、真空ポンプの駆動により、イオン化室３１、第１真空室３２及び第２真空室３３を真空状態にすることができる。イオン化室３１、第１真空室３２及び第２真空室３３は、それぞれが互いに連通した真空室３０であり、この順序に従って段階的に真空度が高くなるように構成されている。

イオン化室３１には、ガスクロマトグラフ部２から各試料成分とともにキャリアガスが供給される。各試料成分は、イオン化室３１内においてイオン化される。イオン化の方法としては、ＥＩ（Electron Ionization：電子イオン化法）、ＰＣＩ（Positive Chemical Ionization：正化学イオン化法）、ＮＣＩ（Negative Chemical Ionization：負化学イオン化法）などを例示することができるが、これらに限られるものではない。

第１真空室３２は、開口３２１を介して、イオン化室３１に連通している。イオン化室３１で生成されたイオンは、開口３２１を介して第１真空室３２に導入される。第１真空室３２に導入されたイオンは、イオンガイド３２２により収束され、第２真空室３３へと流入する。

第２真空室３３には、例えば四重極フィルタ３３１及び検出器３３２が設けられている。第１真空室３２から第２真空室３３に流入するイオンは、四重極フィルタ３３１により質量電荷比に応じて分離され、特定の質量電荷比を有するイオンのみが四重極フィルタ３３１を通過する。四重極フィルタ３３１を通過したイオンは、検出器３３２に入射する。検出器３３２では、到達したイオン数に応じた電流が検出信号として出力される。

質量分析部３には、真空室３０を開閉するための扉４が設けられている。この例では、筐体３００におけるイオン化室３１を区画する壁面３０１の一部に、扉４が開閉可能に取り付けられている。ただし、例えば第１真空室３２又は第２真空室３３などのイオン化室３１以外の真空室３０を区画する壁面に扉４が設けられていてもよい。

以下では、筐体３００における扉４側を前方、扉４側とは反対側を後方として説明する。扉４が取り付けられる壁面３０１は、鉛直方向に対して傾斜している。具体的には、壁面３０１の下部が上部よりも前方に位置することにより、壁面３０１が鉛直方向よりも上側を向くように傾斜している。鉛直方向に対する壁面３０１の傾斜角度は、例えば０°よりも大きく、かつ９０°以下の範囲内で、任意に設定することができる。これにより、扉４を閉じた状態では、扉４の自重が筐体３００の壁面３０１に対して作用するように構成されている。

２．扉の周辺の構成
図２は、扉４の周辺の構成について説明するための概略側面図であり、扉４が開かれた状態を示している。図２に示すように、扉４は、内部に真空室３０が形成された筐体３００に対して開閉可能に取り付けられている。具体的には、１つ又は複数のヒンジ部５を介して、扉４と筐体３００とが連結されている。扉４は、ヒンジ部５を中心に回動することにより開閉可能である。この例では、ヒンジ部５により、鉛直方向に対して傾斜した軸線Ｌを中心に扉４が回動可能に支持されている。軸線Ｌは、上側が筐体３００側（後方）に近づく方向に傾斜している。

筐体３００の壁面３０１には、筐体３００内のメンテナンス時などに作業者が手又は工具を挿入するための開口３０２が形成されている。開口３０２は、例えば横幅及び縦幅がそれぞれ１０～２０ｃｍ程度の正方形状に形成されているが、このような形状に限られるものではない。

開口３０２は、真空室３０に連通しており、扉４により開閉される。扉４は、開口３０２が開放された開状態（図２に示す状態）と、開口３０２が扉４により閉塞された閉状態との間で、ヒンジ部５により回動可能に支持されている。扉４におけるヒンジ部５側とは反対側の端部は、開状態において開口３０２から離間し、閉状態において開口３０２に近接する。

扉４は、閉塞部４１及び保持部４２を備えている。閉塞部４１は、開口３０２よりも大きい平面形状を有する板状の部材であり、閉状態で開口３０２を閉塞する。閉塞部４１は、例えばアルミニウムなどを含む材料により、１０～２０ｍｍ程度の厚みで形成することができるが、これに限られるものではない。

閉塞部４１には、閉状態で真空室３０側となる面（内面４１１）に、シール部材４３が設けられている。シール部材４３は、筐体３００の開口３０２よりも大きい環状のＯリングにより構成されている。扉４が閉状態のときには、筐体３００における開口３０２の周縁部にシール部材４３が接触する。

この例では、閉塞部４１が矩形状に形成されている。シール部材４３は、矩形の環状に形成されており、その外周が閉塞部４１の外周よりも小さい。筐体３００の開口３０２は、シール部材４３の内周よりも小さい矩形状に形成されている。ただし、開口３０２は、矩形状に限らず、円形状などの他の形状であってもよい。また、閉塞部４１及びシール部材４３についても、開口３０２の形状に合わせて任意の形状を採用することができる。

保持部４２は、閉塞部４１を保持している。具体的には、閉塞部４１におけるシール部材４３側とは反対側の面（外面）に、保持部４２が当接した状態で取り付けられている。保持部４２は、例えば閉塞部４１よりも薄い板状の部材により形成されている。保持部４２は、例えばステンレス鋼などを含む材料により、１～２ｍｍ程度の厚みで形成することができるが、これに限られるものではない。保持部４２は、閉塞部４１よりも外側に張り出すように形成された張出部４２１を有している。ヒンジ部５は、保持部４２の張出部４２１に連結されている。

扉４を開状態から閉状態へと回動させたときには、位置決め機構６により、閉塞部４１が開口３０２に対して位置決めされる。位置決め機構６には、例えば凸部６１及び凹部６２が含まれる。凸部６１は、筐体３００における開口３０２の周縁部に形成されている。凹部６２は、閉塞部４１の内面４１１におけるシール部材４３よりも外側の領域に形成されている。

より具体的には、凸部６１は、開口３０２の周縁部におけるヒンジ部５側とは反対側の端部に形成されている。凹部６２は、閉塞部４１の内面４１１におけるヒンジ部５側とは反対側の端部に形成されている。凹部６２の内径は、凸部６１の外径よりも若干大きい。扉４を開状態から閉状態へと回動させたときには、凸部６１が凹部６２内に挿入されることにより、ヒンジ部５側とは反対側において閉塞部４１が位置決めされ、開口３０２に対して閉塞部４１が常に一定の位置で閉状態となる。

ヒンジ部５は、スペーサ７を介して筐体３００に取り付けられている。スペーサ７は、筐体３００とヒンジ部５との距離を調整するための板状の部材である。スペーサ７の厚みを適切に設定することにより、扉４を開状態から閉状態へと回動させたときに、ヒンジ部５側においてシール部材４３が開口３０２の周縁部に接触する前に、ヒンジ部５側とは反対側においてシール部材４３を開口３０２の周縁部に接触させることができる。

３．扉の開閉動作
図３Ａ～図３Ｄは、扉４の開閉動作について説明するための概略横断面図である。図３Ａは、シール部材４３が開口３０２の周縁部に接触する前の状態を示している。図３Ｂは、シール部材４３におけるヒンジ部５側とは反対側が開口３０２の周縁部に接触した状態を示している。図３Ｃは、シール部材４３におけるヒンジ部５側とは反対側が開口３０２の周縁部に対して圧縮された状態を示している。図３Ｄは、シール部材４３全体が開口３０２の周縁部に対して圧縮された状態を示している。

図３Ａに示すように、閉塞部４１の内面４１１が開口３０２の周縁部に対して平行になるまで扉４を閉じたときには、まだシール部材４３が開口３０２の周縁部に接触しない。これは、上述したスペーサ７で筐体３００に対するヒンジ部５の位置を調整したことによるものである。ただし、スペーサ７を用いることなく筐体３００に対するヒンジ部５の位置を調整することも可能である。

図３Ａの状態では、上述した位置決め機構６により、閉塞部４１が開口３０２に対して位置決めされる。この状態から、もう少し扉４を閉状態へと回動させた場合には、図３Ｂに示すように、シール部材４３におけるヒンジ部５側の端部（第１端部４３１）よりも先に、ヒンジ部５側とは反対側の端部（第２端部４３２）が開口３０２の周縁部に接触する。この状態ではシール部材４３の第１端部４３１が開口３０２の周縁部に接触していないが、もう少し扉４を閉状態へと回動させてシール部材４３の第２端部４３２を圧縮させれば、図３Ｃに示すように、シール部材４３の第１端部４３１も開口３０２の周縁部に接触する。

図３Ｃの状態では、シール部材４３の全周が開口３０２の周縁部に接触している。したがって、この状態で真空ポンプを駆動させれば、真空室３０の真空引きを行うことができる。このとき、閉塞部４１が保持部４２に対して完全に固定された状態であれば、閉塞部４１の内面４１１が開口３０２の周縁部に対して平行にはならず、シール部材４３の第１端部４３１が十分に圧縮されないまま、シール部材４３の第２端部４３２側のみが圧縮された状態となる。

このようなシール部材４３の不均一な圧縮状態を防止するために、本実施形態では、閉塞部４１が、ヒンジ部５側とは反対側において保持部４２に連結され、ヒンジ部５側においては保持部４２に対して離間可能に構成されている。具体的には、閉塞部４１が、ヒンジ部５側とは反対側の端部においてのみ保持部４２に固定されている。

この例では、ビスなどの連結具４４が、ヒンジ部５側とは反対側において閉塞部４１と保持部４２を連結しているが、ヒンジ部５側において閉塞部４１と保持部４２は連結されていない。したがって、閉塞部４１のヒンジ部５側の端部を筐体３００に近づける方向に力が加わった場合には、連結具４４を中心に閉塞部４１が筐体３００側に回動し、図３Ｄに示すように、閉塞部４１の外面４１２と保持部４２との間に隙間Ｓが形成される。このとき、保持部４２は、閉塞部４１の回動に伴って連結具４４の近傍で撓むこととなる。隙間Ｓは、例えば１～２ｍｍ程度であるが、これに限られるものではない。

なお、「ヒンジ部５側とは反対側」とは、閉塞部４１から見てヒンジ部５側とは反対側を意味しており、例えば、仮に閉塞部４１が保持部４２に対して離間しないように構成されている場合に、閉塞部４１がヒンジ部５を中心に回動したときに開口３０２の周縁部に最初に接触する箇所を含む領域である。一方、「ヒンジ部５側」とは、閉塞部４１から見てヒンジ部５側を意味しており、例えば、上記ヒンジ部５側とは反対側の領域よりもヒンジ部５に近い領域であって、閉塞部４１が保持部４２から離間したときに開口３０２の周縁部に接触する箇所を含む領域である。例えば、閉塞部４１の横方向（図３Ａ～図３Ｄの左右方向）における中心に対して、左側が「ヒンジ部５側」、右側が「ヒンジ部５側とは反対側」であってもよい。

本実施形態では、図２に示すようにヒンジ部５の軸線Ｌが傾斜しているため、図３Ｃの状態から、閉塞部４１の自重により、閉塞部４１が連結具４４を中心に筐体３００側に回動する。その結果、図３Ｄに示すようにシール部材４３の全体（第１端部４３１及び第２端部４３２）が圧縮されて開口３０２の周縁部に密着し、閉塞部４１の内面４１１が開口３０２の周縁部に対して平行になる。

４．変形例
位置決め機構６は、筐体３００に設けられた凸部６１と、閉塞部４１に設けられた凹部６２とを含む構成に限られるものではない。例えば、凸部６１が閉塞部４１に設けられ、凹部６２が筐体３００に設けられた構成であってもよい。また、凸部６１又は凹部６２が、扉４における閉塞部４１以外の部分（例えば保持部４２）に設けられていてもよい。さらに、凸部６１及び凹部６２に限らず、例えば磁石などの他の部材を用いて扉４を位置決めするような構成であってもよい。

シール部材４３は、扉４の閉塞部４１に設けられた構成に限らず、開口３０２の周縁部に設けられた構成であってもよい。この場合、扉４を開状態から閉状態へと回動させたときに、ヒンジ部５側において閉塞部４１が開口３０２の周縁部に設けられたシール部材４３に接触する前に、ヒンジ部５側とは反対側において閉塞部４１が前記シール部材４３に接触するような構成であってもよい。

扉４は、鉛直方向に対して前後方向に傾斜した軸線Ｌを中心に回動可能な構成に限られるものではない。例えば、扉４の上端部又は下端部において水平方向に延びる軸線を中心に、扉４が回動可能な構成などであってもよい。

閉塞部４１は、保持部４２が弾性変形することにより保持部４２に対して離間可能な構成に限られるものではない。例えば、閉塞部４１が、ヒンジ部５側とは反対側において別のヒンジ部（図示せず）を介して保持部４２に連結された構成などであっても、ヒンジ部５側において閉塞部４１を保持部４２に対して離間させることが可能である。

閉塞部４１は、保持部４２に対して、自重により筐体３００側に回動可能な構成に限られるものではない。例えば磁石を用いることにより生じる磁力などのように、重力以外の力を用いて、閉塞部４１におけるヒンジ部５側の端部を保持部４２から離間させ、当該端部を筐体３００に近づけることができるような構成であってもよい。あるいは、閉塞部４１のヒンジ部５側の端部を筐体３００に近づける方向に向かって、ユーザが力を加えることにより、当該端部を保持部４２から離間させてもよい。

５．態様
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

（第１項）一態様に係る質量分析装置は、
分析時に真空状態とされる真空室が内部に形成され、前記真空室に連通する開口を有する筐体と、
前記開口を開閉するための扉と、
前記扉を開状態と閉状態との間で回動可能に支持するように構成されたヒンジ部とを備え、
前記扉は、閉状態で前記開口を閉塞する閉塞部と、前記閉塞部を保持し、前記ヒンジ部に連結された保持部とを有し、
前記閉塞部は、前記ヒンジ部側とは反対側において前記保持部に連結され、前記ヒンジ部側においては前記保持部に対して離間可能に構成されており、
前記扉を開状態から閉状態へと回動させた場合には、前記ヒンジ部側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に接触する前に、前記ヒンジ部側とは反対側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に接触するように構成されていてもよい。

第１項に記載の質量分析装置によれば、扉を開状態から閉状態へと回動させることにより、ヒンジ部側とは反対側において閉塞部を開口の周縁部に接触させることができる。その後、ヒンジ部側において閉塞部を保持部から離間させて開口に近づけるだけで、ヒンジ部側において閉塞部を開口の周縁部に密着させることができる。したがって、真空室に連通する開口をより簡単な作業で閉塞することができる。

（第２項）第１項に記載の質量分析装置において、
前記扉を開状態から閉状態へと回動させた場合には、前記ヒンジ部側とは反対側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に接触した後、前記閉塞部の自重により、前記ヒンジ部側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に密着するように構成されていてもよい。

第２項に記載の質量分析装置によれば、閉塞部の自重により、ヒンジ部側において閉塞部を保持部から離間させて開口に近づけ、ヒンジ部側において閉塞部を開口の周縁部に自動的に密着させることができる。したがって、追加の構成を設けることなく、真空室に連通する開口をより簡単な作業で閉塞することができる。

（第３項）第２項に記載の質量分析装置において、
前記ヒンジ部は、上側が前記筐体側に近づく方向に傾斜した軸線を中心に、前記扉を回動可能に支持するように構成されていてもよい。

第３項に記載の質量分析装置によれば、軸線を中心にして、閉塞部を自重により円滑に保持部から離間させて開口に近づけ、ヒンジ部側において閉塞部を開口の周縁部に自動的に密着させることができる。

（第４項）第１項～第３項のいずれか一項に記載の質量分析装置において、
前記扉を開状態から閉状態へと回動させた場合には、前記ヒンジ部側とは反対側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に接触した後、前記保持部が撓むことにより、前記ヒンジ部側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に密着するように構成されていてもよい。

第４項に記載の質量分析装置によれば、保持部の弾性変形を利用して、ヒンジ部側において閉塞部が保持部に対して離間可能な構成を実現することができる。

（第５項）第１項～第４項のいずれか一項に記載の質量分析装置において、
前記閉塞部は、閉状態で前記開口の周縁部に接触するシール部材を有し、
前記扉を開状態から閉状態へと回動させた場合には、前記ヒンジ部側において前記シール部材が前記開口の周縁部に接触する前に、前記ヒンジ部側とは反対側において前記シール部材が前記開口の周縁部に接触するように構成されていてもよい。

第５項に記載の質量分析装置によれば、扉を開状態から閉状態へと回動させることにより、ヒンジ部側とは反対側においてシール部材を開口の周縁部に接触させることができる。その後、ヒンジ部側において閉塞部を保持部から離間させて開口に近づけるだけで、ヒンジ部側においてシール部材を開口の周縁部に密着させることができる。したがって、真空室に連通する開口をより簡単な作業でシール部材により閉塞することができる。

（第６項）第１項～第５項のいずれか一項に記載の質量分析装置において、
前記扉を開状態から閉状態へと回動させたときに前記ヒンジ部側とは反対側において前記閉塞部を位置決めする位置決め機構をさらに備えていてもよい。

第６項に記載の質量分析装置によれば、扉を開状態から閉状態へと回動させたときに、開口に対して閉塞部が常に一定の位置で閉状態となるため、真空室を確実に密閉して真空状態とすることができる。

１ 質量分析装置
４ 扉
５ ヒンジ部
６ 位置決め機構
３０ 真空室
４１ 閉塞部
４２ 保持部
４３ シール部材
３００ 筐体
３０２ 開口
Ｌ 軸線

Claims (6)

1. 分析時に真空状態とされる真空室が内部に形成され、前記真空室に連通する開口を有する筐体と、
   前記筐体における前記真空室を区画する壁面の一部に開閉可能に取り付けられ、前記壁面に形成された前記筐体内に作業者が手又は工具を挿入するための前記開口を開閉するための扉と、
   前記扉を開状態と閉状態との間で回動可能に支持するように構成されたヒンジ部とを備え、
   前記扉は、閉状態で前記開口を閉塞する閉塞部と、前記閉塞部を保持し、前記ヒンジ部に連結された保持部とを有し、
   前記閉塞部は、前記ヒンジ部側とは反対側において前記保持部に連結され、前記ヒンジ部側においては前記保持部に対して離間可能に構成されており、
   前記扉を開状態から閉状態へと回動させた場合には、前記ヒンジ部側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に接触する前に、前記ヒンジ部側とは反対側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に接触するように構成されている、質量分析装置。
2. 前記扉を開状態から閉状態へと回動させた場合には、前記ヒンジ部側とは反対側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に接触した後、前記閉塞部の自重により、前記ヒンジ部側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に密着するように構成されている、請求項１に記載の質量分析装置。
3. 前記ヒンジ部は、上側が前記筐体側に近づく方向に傾斜した軸線を中心に、前記扉を回動可能に支持するように構成されている、請求項２に記載の質量分析装置。
4. 前記扉を開状態から閉状態へと回動させた場合には、前記ヒンジ部側とは反対側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に接触した後、前記保持部が撓むことにより、前記ヒンジ部側において前記閉塞部が前記開口の周縁部に密着するように構成されている、請求項１に記載の質量分析装置。
5. 前記閉塞部は、閉状態で前記開口の周縁部に接触するシール部材を有し、
   前記扉を開状態から閉状態へと回動させた場合には、前記ヒンジ部側において前記シール部材が前記開口の周縁部に接触する前に、前記ヒンジ部側とは反対側において前記シール部材が前記開口の周縁部に接触するように構成されている、請求項１に記載の質量分析装置。
6. 前記扉を開状態から閉状態へと回動させたときに前記ヒンジ部側とは反対側において前記閉塞部を位置決めする位置決め機構をさらに備える、請求項１に記載の質量分析装置。

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