JP7318857B2

JP7318857B2 - 負荷操作性の有する及び有しないヒューズステータス診断

Info

Publication number: JP7318857B2
Application number: JP2021557108A
Authority: JP
Inventors: ジア、ヤンキウ; ジン、ダン; ワン、ユ; リウ、ジボ
Original assignee: スージョウリテルヒューズオーブイエスカンパニーリミテッド
Priority date: 2019-03-27
Filing date: 2019-03-27
Publication date: 2023-08-01
Anticipated expiration: 2039-03-27
Also published as: EP3948917A1; JP2022528346A; WO2020191651A1; KR20210134040A; EP3948917A4; CN113892162A; KR102611662B1; TW202105429A; CN113892162B

Description

本開示は一般に回路保護デバイスの分野に関連し、より具体的には、電気障害中に電気障害インジケータの操作性を維持することに関連する。

ヒューズは一般的に回路保護デバイスとして使用され、通常は、電力源と保護されるべき回路内のコンポーネントとの間に設置される。従来のヒューズは、電気絶縁ハウジングを通じて延在する可融性素子によって互いに接続された一対の導電性端子を含む。過電流状態などの障害状態が発生すると、可融性素子は融解、切断、又は別様に分離され、電力源と保護された構成要素との間の電流の流れを遮断する。それによりヒューズは、過電流状態が持続可能であれば別様の結果をもたらす電源と保護された構成要素とに対する電気的損傷を防止又は緩和する。

ヒューズの可融性素子が過電流状態又は他の障害発生中に融解した場合、補修技術者などの観察者にとっては、可融性素子が融解したことを視覚的に決定可能であることが望ましい。そのために、発光ダイオード（ＬＥＤ）などの電気障害インジケータが、ヒューズで保護された回路に接続され得、回路内のヒューズの可融性素子が融解した場合にアクティブ化（すなわち、発光）するよう構成され得る。したがって、電気障害インジケータの信頼性の高い動作は、ヒューズで保護された回路の状態を観察者によって確実に決定することを可能にするにあたり重要である。

本改善が有用になり得るのは、これら及び他の考慮事項に対してである。

この概要は、詳細な説明において以下にさらに説明されている概念の選択を簡略化した形態で導入するために提供される。この概要は、特許請求される主題の重要な特徴又は本質的な特徴を特定することを意図するものではなく、また、特許請求される主題の範囲を決定するにあたり、その支援を行うことを意図するものでもない。

本開示の１つの態様は、負荷ステータスに関わらず電気障害デバイスの適切な動作を維持する回路を含む。回路は、電圧源と負荷との間に配置された２つの回路点間において接続されたヒューズと、ヒューズと少なくとも１つの共通ノードを共有する１又は複数の導電路と、ヒューズと少なくとも１つの共通ノードを共有する第１回路素子と、電気障害インジケータであって、ｉ）ヒューズ及び第１回路素子と少なくとも１つの共通ノードを共有する、又は、ｉｉ）ヒューズと第１回路素子との間の少なくとも１つの共通ノードとは異なる別の共通ノードを第１回路素子と共有する電気障害インジケータとを含み、ここで、電気障害の結果としてヒューズが開放される場合、電気障害が発生したことを観察者に示すのに十分な電流が電気障害インジケータを通じて流れ、ここで、第１回路素子に対する共通ノード接続は、負荷によって終結する任意の経路接続とは異なる電流の流れに対して個別の放電ループを生成する。

様々な実施形態において、回路は、電気障害インジケータがヒューズ及び第１回路素子と少なくとも１つの共通ノードを共有するように存在し得、ここで第１回路素子は第１抵抗器であり、ここで１又は複数の導電路は第２抵抗器と直列に電気障害インジケータを含む単一導電路で構成され、ここで単一導電路はヒューズと並列である。様々な実施形態において、ｉ）負荷障害の状態の結果として回路から負荷が切断され、ｉｉ）電気障害の結果としてヒューズが開放された場合、第１抵抗器、第２抵抗器及び電気障害インジケータは直列である。様々な実施形態において、電気障害インジケータは発光ダイオード（ＬＥＤ）であり、電気障害及び負荷障害は互いに異なる。

様々な実施形態において、回路は、電気障害インジケータが第１回路素子と別の共通ノードを共有するように存在し得、ここで第１回路素子は第１ダイオードであり、ここで１又は複数の導電路はトランジスタのゲートと直列である第２ダイオードを含む導電路を含み、ここで回路はさらに、電気障害インジケータと直列である抵抗器と、トランジスタのドレイン又はソースとを含む。様々な実施形態において、電気障害インジケータは発光ダイオード（ＬＥＤ）であり、電気障害及び負荷障害は互いに異なる。

様々な実施形態において、回路は、電気障害インジケータが第１回路素子と別の共通ノードを共有するように存在し得、ここで第１回路素子は第１抵抗器であり、ここで１又は複数の導電路はトランジスタのゲートと直列である第２抵抗器を含む導電路を含み、ここで回路はさらに、電気障害インジケータと直列である第３抵抗器と、トランジスタのドレイン又はソースとを含む。様々な実施形態において、電気障害インジケータは発光ダイオード（ＬＥＤ）であり、電気障害及び負荷障害は互いに異なる。

様々な実施形態において、回路は、電気障害インジケータが第１回路素子と別の共通ノードを共有するように存在し得、ここで第１回路素子は第１抵抗器であり、ここで１又は複数の導電路はトランジスタのゲートと直列に第２抵抗器を含む導電路を含み、ここで回路はさらに、電気障害インジケータと直列である第３抵抗器と、トランジスタのドレイン又はソースとを含む。様々な実施形態において、電気障害インジケータは発光ダイオード（ＬＥＤ）であり、電気障害及び負荷障害は互いに異なる。

様々な実施形態において、回路は、電気障害インジケータが第１回路素子と別の共通ノードを共有するように存在し得、ここで電気障害インジケータは、第１回路素子と別の共通ノードを共有しており、ここで第１回路素子は第１抵抗器であり、ここで１又は複数の導電路はｉ）第２抵抗器を含む第１導電路と、ｉｉ）ダイオードを含む第２導電路と、ｉｉｉ）トランジスタを含む第３導電路とを含み、ここで第２抵抗器はヒューズとダイオードとが並列であり、ここで回路はさらに、電気障害インジケータと直列である第３抵抗器と、トランジスタのドレイン又はソースとを含む。様々な実施形態において、共通ノードは、ダイオード、ヒューズ及び第２抵抗器の接続を含む接続点であり、さらに別の共通ノードは、ヒューズ、第２抵抗器、ダイオード、及びトランジスタのソース又はドレインのいずれかの接続を含むさらに別の接続点である。様々な実施形態において、ダイオードはツェナーダイオードであり、トランジスタは電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）である。

本開示の別の態様は、負荷ステータスに関わらず電気障害デバイスの適切な動作を維持する回路を接続する方法を含む。方法は、電圧源と回路の負荷との間に配置された２つの点の間において接続されたヒューズを提供する段階と、ヒューズと、第１回路素子と、電気障害インジケータと、回路の１又は複数の導電路とを共通ノードにおいて接続し、その結果、電気障害の結果としてヒューズが開放された場合、ユーザに電気障害が発生したことを示すのに十分な電流が電気障害インジケータを通じて流れる段階とを含み、ここで第１回路素子に対する共通ノード接続は、負荷によって終結する任意の経路接続とは異なる電流の流れに対して個別の放電ループを生成する。様々な実施形態において、第１回路素子は第１抵抗器であり、１又は複数の導電路は第２抵抗器と直列に電気障害インジケータを含む単一導電路で構成され、単一導電路はヒューズと並列であり、ｉ）負荷障害の状態の結果として回路から負荷が切断され、ｉｉ）電気障害の結果としてヒューズが開放された場合、第１抵抗器、第２抵抗器及び電気障害インジケータは直列である。様々な実施形態において、電気障害インジケータは発光ダイオード（ＬＥＤ）であり、電気障害及び負荷障害は互いに異なる。

本開示のさらに別の態様は、負荷ステータスに関わらず電気障害デバイスの適切な動作を維持する別の回路を含む。回路は、電圧源と負荷との間に配置された２つの回路点間において接続されたヒューズと、抵抗器及び電気障害インジケータと直列であるスイッチを含む少なくとも１つの導電路であって、ここでスイッチはヒューズとノードを共有する、少なくとも１つの導電路と、別のノードを介してヒューズに接続された中継デバイスとを含み、ヒューズが通常状態で動作している場合、中継デバイスは、第１状態に従って通電され、スイッチに少なくとも１つの導電路に対する開回路を生成させ、電気障害インジケータをオフ状態にして、ヒューズが電気障害の結果として切断される場合、中継デバイスは第２状態に従って電源が切られ、電気障害インジケータをオン状態にして、負荷によって終結する任意の経路接続と異なる回路電流の流れに対する個別の放電ループを生成する。

本開示の少なくとも１つの実施形態に係る負荷障害中に電気障害インジケータの操作性を維持するための少なくとも１つの回路素子を含む回路概略図である。

本開示の少なくとも１つの実施形態に係る負荷障害中に図１Ａの回路の１又は複数の特徴を示す回路概略図である。

本開示の少なくとも１つの実施形態に係る負荷障害中に図２Ａの回路の１又は複数の特徴を示す回路概略図である。

本開示の少なくとも１つの実施形態に係る負荷障害中に図３Ａの回路の１又は複数の特徴を示す回路概略図である。

本開示の少なくとも１つの実施形態に係る負荷障害中に図４Ａの回路の１又は複数の特徴を示す回路概略図である。

一般に、本開示は、ヒューズがトリップしたこと、例えばヒューズ内の可融性素子が、ヒューズが接続されていた回路における電気障害の結果として融解、切断又は別様に開放したことを観察者に表示することを意図している、例えば発光ダイオード（ＬＥＤ）などの電気障害インジケータの操作性を維持するように適合された様々な回路の実施形態を提供する。本開示の様々な実施形態において、電圧源は、回路に取り付けられた負荷が、例えば過度な抵抗又はインピーダンス及び／又は短絡状態障害と関連付けられているときであっても、回路内の電気障害インジケータに電流を供給し得る。多くの従来の技術が、電気障害インジケータの適切な機能を保証するために負荷において適切な条件が存在することを必要とすることに対して、本開示の様々な実施形態は、その経路において電気障害インジケータを含む回路ループに独立した放電経路を提供し、したがって、負荷障害の状態が存在するときであっても電気障害インジケータの適切な機能を可能とさせる。

様々な回路図は以下に説明され、エネルギー源、電流、電圧、導電路及び回路素子が参照される。全ての導電路がラベル付けされ回路概略図を参照して説明されるわけではなく、全ての電流、電圧、回路素子又は他の回路値が説明又はラベル付けされない場合もある。これは、本開示の様々な回路設定及び実施形態によって提供された固有の機能又は特徴を制限することを意図するものではない。特定の電圧源、電流値及び回路素子はラベル付けされ、その一方、例えばラベル付けされた回路素子のために選択された設計選択値に応じて、回路内に存在し得る他の電流又は電圧はラベル付けされない。これは図を含む本開示と整合性のある実施形態に対する制限として意図するものではなく、単に本開示に関連付けられた様々な実施形態の簡潔な説明を提供することを意図している。

本開示に提供された様々な回路及び実施形態は、様々な用途において有用であり、そのうちの１つは、自動車の動作に関連付けられた電気的故障を防止及び／又は検出し、故障が起こったことを観察する方法を自動車のユーザ又は例えば補修などの様々な目的のために自動車を検査する技術者に提供するのに有用であり得る、自動車に関連付けられたヒューズボックスであり得る。

図１Ａは、ヒューズ１０ａが電気障害の結果としてトリップ又は切断した場合、電気障害インジケータ１２の操作性を維持するために有用な回路１００Ａの回路概略図を示す。様々な実施形態において、電気障害インジケータ１２は発光ダイオード（ＬＥＤ）であり得る。回路１００Ａは、ヒューズ１０ａが標準の、非トリップ又は切れ目のない状態にある状態で示される。示されるように、ヒューズ１０ａ（及び電気障害インジケータ１２）は、回路内の２つの点Ｐ１とＰ２との間に配置され、ここでＰ１は電圧源Ｖ１の正端子との接続に対応し、Ｐ２は第１抵抗Ｒ１及び負荷Ｌ１への接続点として機能する。示されるように、電圧源はＤＣソースであるが、電圧がＡＣソースである他の実施形態が考えられ、本開示と一致する。

様々な実施形態において、示されるように、Ｐ１及びＰ２はそれぞれノードＮ１及びＮ２に対応し、それは本明細書においてより詳細に説明される。電気障害インジケータ１２は、電圧源Ｖ１の正端子において始まり、電気障害インジケータ１２と直列である第２抵抗器Ｒ２を含む導電路２０の一部である。ヒューズ１０ａは平常動作中であり、導電路１５の一部である。導電路１５及び導電路２０はノードＮ２及びＮ１で接続され、Ｎ２及びＮ１は様々な実施形態において点Ｐ１及びＰ２に対応する。導電路１５と２０との接続は、Ｒ２と電気障害インジケータ１２との直列接続がヒューズ１０ａと並列になるようになっている。導電路１５と２０とはノードＮ２において接続され、これは電気障害インジケータ１２、ヒューズ１０ａ、抵抗器Ｒ１及び負荷Ｌ１に共通接続ノードを提供する。（様々な実施形態において、用途に応じて、抵抗器Ｒ２は省略されてよく、電圧源Ｖ１の端子は電気障害インジケータ１２に直接接続されてよい。）抵抗器Ｒ１はノードＮ１からノードＮ３までを接続し、これは、負荷障害（図１Ｂを参照してより詳細に説明される）の場合における回路を閉じるための個別の放電経路又はループを提供する。様々な実施形態において、ノードＮ３は接地に対応し得る。

図１Ａに示されるように、電流Ｉ２は最小値又はゼロ値であり、ヒューズ１０ａが通常状態で動作しているので、ヒューズ１０ａは、最小若しくはゼロインピーダンス及び／又は抵抗を有する回路素子、例えば短絡として機能する。したがって、電圧源Ｖ１によって生成された電流の流れの大部分又は全部は導電路１５を通じて流れ得、負荷Ｌ１と抵抗器Ｒ１との間で分割され得る。電流Ｉ１は、負荷Ｌ１へと流れ得る電流の部分を指しており、Ｒ１を通じて流れる電流は明確に示されていない。電流の分布は設計選択上の問題であり、抵抗器Ｒ１及び負荷Ｌ１の値に依存する。用途に応じて、標準的操作又は動作中に（及び異常を想定して）、回路１００Ａの適切な機能を保証するために値が選択され得る。

図１Ｂは、電気障害及び負荷障害が生じて、結果として回路１００Ｂとなる場合の回路１００Ａを示す。様々な実施形態において、電気障害と負荷障害とは異なり得、様々な実施形態において、負荷障害と電気障害とは同一であり得る。示されるように、回路１００Ａにおける機能不全、例えば過電流又は他の電気障害は、ヒューズ１０ａをトリップ又は切断させ、結果としてトリップ又は切断したヒューズ１０ｂをもたらす。この状態において、ヒューズ１０ｂは、導電路２０を通じて流れる電圧源Ｖ１に関連付けられた電流の大部分又は全部に対して非常に高い抵抗又はインピーダンスを有する回路素子、例えば開回路として動作し得る。したがって、電流Ｉ２は、回路１００Ａの平常動作とは対照的に、大きな値を有し得る。

電流Ｉ２は抵抗器Ｒ２を通じて流れ得、これは、電気障害インジケータ１２をアクティブ化し得る電圧降下を発生させ得、例えば、電気障害インジケータ１２がＬＥＤである一実施形態において、電気障害インジケータ１２に順バイアスをかけ得る電圧を適用し得る。Ｒ２及び電気障害インジケータ１２の特定値及び設定、例えば、ＬＥＤの閾値電圧及び／又はＲ２の抵抗値は、設計選択上の問題であり、求められる特定の用途に応じて変更を受ける。様々な実施形態において、抵抗器Ｒ２は省略されてよく、電圧源Ｖ１の端子は電気障害インジケータ１２に直接接続されてよい。様々な実施形態において、抵抗器Ｒ２の値は、例えば、回路１００Ａの平常動作に大きい電圧源Ｖ１が必要とされる場合に、過度な電流が電気障害インジケータ１２を通じて流れないことを保証するために、選択され得る。

上記のように、電流の大部分は、トリップ又は切断したヒューズ１０ｂに鑑みて、導電路２０を通じて流れ得る。したがって、電流Ｉ２は、例えば電気障害インジケータ１２はアクティブ状態にあるとき、抵抗器Ｒ２及び電気障害インジケータ１２を通じて流れ、例えば電気障害インジケータ１２がＬＥＤであるとき、電気障害インジケータ１２は順バイアスをかけられ得、発光し得、したがって、技術者などの観察者に、電気障害が起こったことを示し得る。

様々な実施形態において、抵抗器Ｒ１は、負荷Ｌ１が過度に高い抵抗又は開回路ＬＦ１ａなどの負荷障害を有する場合、又は負荷Ｌ１が負荷短絡ＬＦ１ｂを有する場合、個別の放電経路又はループをノードＮ３に提供する。エリア５０は、回路内の任意の位置において、負荷障害が発生し得るエリアを定義するが、他のエリアは、本開示と整合性のある負荷障害に潜在的に関連付けられると考えられる。様々な実施形態において、図１Ｂに関して及び任意の他の実施形態及び関連付けられた図又は複数の図に関して、用語「負荷障害」は、負荷がそれを実際に意図された動作と異なる機能を果たさせる障害を体験することを意味し得、ここで障害は、ヒューズ１０ｂをトリップ又は切断させた電気障害とは異なり得る。他の実施形態において、用語「負荷障害」は、ヒューズ１０ａを切断又はトリップさせて電気障害インジケータ１２をアクティブ化させた電気障害により影響されなくてもよい平常動作及び状態における負荷が、ヒューズ１０ａがトリップ又は切断状態にある場合、例えばトリップ又は切断したヒューズ１０ｂの場合、電流の放電経路として動作できないことを意味し得る。どのシナリオを適用しても、抵抗器Ｒ１を含めることにより、導電路２２を介する放電経路がノードＮ３に提供され、その結果、負荷が放電経路として機能できないときであっても、電気障害インジケータ１２が適切に機能し得る。様々な実施形態において、抵抗器Ｒ１（又は経路を提供するための別の適切な回路素子）なしで、例えばＬＦ１ａ又はＬＦ１ｂなどの負荷障害が発生した場合、且つトリップ又は切断したヒューズ１０ｂが発生した場合、電気障害インジケータ１２は操縦不能であり得る。

したがって、抵抗器Ｒ１を含む回路１００Ａの設定は、負荷状態が不良であるときであっても、電気障害インジケータ１２の適切な動作を可能とさせる。抵抗器Ｒ１の抵抗値は、例えば回路１００Ａの特定の動作上の必要性を考慮した、且つ電気障害インジケータ１２の適切な機能に対する要求も考慮した、特定の用途において好ましい場合があるように調整又は選択され得る。

図２Ａは、ヒューズ１０ａが電気障害の結果としてトリップ又は切断した場合、電気障害インジケータ１２の操作性を維持するために有用な別の回路２００Ａの回路概略図を示す。回路２００ＡがＭＯＳＦＥＴトランジスタＱ１を含む、より具体的にはＰ－ＦＥＴトランジスタＱ１を含むことを予め留意されたい。用途に応じて、例えばｎ－ＦＥＴのような異なるＭＯＳＦＥＴ、又は例えばＰＮＰ、ＢＪＴなどのような異なるトランジスタデバイスは、まとめてＦＥＴデバイスの代わりに使用され得、本開示の教示と整合性のあるようにされた回路２００Ａの残りの部分に対して適切な調整を行い、それらに関する適切な機能を保証する。

様々な実施形態において、回路２００Ａは、２つの点Ｐ１とＰ２との間で接続されたヒューズ１０ａを含み、ここでヒューズ１０ａは、回路内の２つの点であるＰ１とＰ２との間に配置されており、ここでＰ１は電圧源Ｖ１の正端子との接続に対応し、Ｐ２は第１抵抗Ｒ１及び負荷Ｌ１への接続点として機能する。様々な実施形態において、示されるように、Ｐ１及びＰ２はそれぞれノードＮ１及びＮ２に対応し、それは本明細書においてより詳細に説明される。示されるように、電圧源Ｖ１はＤＣソースであるが、電圧がＡＣソースである他の実施形態が考えられ、本開示と一致する。

様々な実施形態において、示されるように、Ｐ１及びＰ２はそれぞれノードＮ１及びＮ２に対応し、それは本明細書においてより詳細に説明される。ヒューズ１０ａは、導電路３０の一部であり、ノードＮ２における導電路３５、３７及び４０と、ノードＮ１における導電路３５、３７、４０、２３、及び負荷Ｌ１とに接続されており、ここでノードＮ１は、ヒューズ１０ａ、抵抗器Ｒ３、ツェナーダイオードＺ１及び負荷Ｌ１に共通接続ノードを提供する。導電路３５は、ツェナーダイオードＺ１と並列である抵抗器Ｒ３を含み、ここでツェナーダイオードＺ１は導電路３７の一部である。様々な実施形態において、導電路３７及びツェナーダイオードＺ１は回路２００Ａから（且つ、以下に説明される拡張回路２００Ｂから）除去され得る。様々な実施形態において、抵抗器Ｒ３を含む導電路３５は、回路２００Ａから（且つ、以下に説明される拡張回路２００Ｂにより）除去され得る。様々な実施形態において、導電路３７及び導電路３５は回路２００Ａから（且つ、以下に説明される拡張回路２００Ｂにより）除去され得る。

Ｐ－ＦＥＴトランジスタＱ１は導電路４０に関連付けられ、示されるように、ここで、トランジスタＱ１のソースは、ノードＮ２において、抵抗器Ｒ３と、ヒューズ１０ａと、ツェナーダイオードＺ１とに接続され、ここでトランジスタＱ１のゲートは導電路４０の一部であり、トランジスタＱ１のソースは、ノードＮ１においてツェナーダイオードＺ１と、抵抗器Ｒ３と、抵抗器Ｒ１と、ヒューズ１０ａと、負荷Ｌ１とに接続され、ここでトランジスタＱ１のドレインは導電路２７に接続されている（本明細書においてより詳細に説明される）。導電路２３は抵抗器Ｒ１を含み、ノードＮ１においてツェナーダイオードＺ１と、抵抗器Ｒ３と、ヒューズ１０ａとに接続されており、ノードＮ１及びＮ３において上述され図２Ａに示された回路素子に接続することによって負荷障害Ｌ１が発生した場合に放電ループを提供し、ここで様々な実施形態においてノードＮ３は接地に対応する。

様々な実施形態において、上述のように、トランジスタＱ１は、例えばｎ－ＦＥＴのような異なるタイプのＦＥＴであり得、ここで、ソース／ドレイン及びゲート変更は、他の回路変更に加えて、本開示教示と整合性のあるように、回路２００Ａの操作性を保証するために行われ得る。様々な実施形態において、トランジスタＱ１は非ＦＥＴデバイスであり得、ここで本開示の教示と整合性のある回路変更が、回路２００Ａの操作性を保証するために行われ得る。

導電路２７は、トランジスタＱ１のドレインにおいて始まり、導電路２７は、例えばＬＥＤのような電気障害インジケータ１２と直列に抵抗器Ｒ２を含み、ここで電気障害インジケータ１２は、負荷Ｌ１及び抵抗器Ｒ１と共通接続を共有するノードＮ３において接続される。

図２Ａは、ヒューズ１０ａが完全且つ非トリップ状態である回路２００Ａの平常動作を示す。したがって、電圧源Ｖ１に関連付けられた電流の流れの大部分又は全部が低抵抗又はインピーダンス状態にあるヒューズ１０ａを通じて流れるので、電流Ｉ２は最小値又はゼロ値を有し得、Ｉ１は、負荷Ｌ１に流れる電流の一部であり、ここで電流の残りの部分（不図示）は、抵抗器Ｒ１を通じて流れ、例えば負荷Ｌ１と抵抗器Ｒ１との間で分割され得る。ツェナーダイオードＺ１及び抵抗器Ｒ３の片方又は両方が回路２００Ａに含まれる様々な実施形態において、トランジスタＱ１は、回路の電圧及び／又は電流サージから保護され、これは図２Ｂに関してより詳細に説明される。

図２Ｂは、電気障害及び負荷障害が生じて、結果として回路２００Ｂとなる場合の回路２００Ａを示す。様々な実施形態において、電気障害と負荷障害とは異なり得、様々な実施形態において、負荷障害と電気障害とは同一であり得る。示されるように、回路２００Ａにおける機能不全、例えば過電流又は他の電気障害は、ヒューズ１０ａをトリップ又は切断させ、結果としてトリップ又は切断したヒューズ１０ｂをもたらす。この状態において、ヒューズ１０ｂは、例えば導電路３５のような、導電路３０以外の導電路を通じて流れる電圧源Ｖ１に関連付けられた電流の大部分又は全部に対して非常に高い抵抗又はインピーダンスを有する回路素子、例えば開回路として動作し得る。したがって、電流Ｉ２は、回路２００Ａの平常動作とは対照的に、大きな値を有する。

電流Ｉ２の一部は、抵抗器Ｒ３及び抵抗器Ｒ１を通じて流れ得、例えば、電圧入力Ｖ１（及び関連付けられた電流Ｉ２）は、抵抗器Ｒ３と抵抗器Ｒ１との間で分割され得る。抵抗器Ｒ１はトランジスタＱ１のゲートに関連付けられ、Ｒ３の抵抗はトランジスタＱ１のソースに関連付けられ、ここで、ゲートの電圧とソースの電圧との間の差がトランジスタＱ１（示されるように、Ｐ－ＦＥＴである）に関連付けられた閾値電圧より少ない場合、次いでトランジスタＱ１はアクティブ化される。トランジスタＱ１のアクティブ化は、結果として抵抗器Ｒ２を通じてトランジスタＱ１のドレインから電流が流れさせ、電気障害インジケータ１２の延長によって、電気障害インジケータ１２をアクティブ化させ得、例えば、電気障害インジケータ１２がＬＥＤであるとき、それは順バイアスをかけられ得、発光し得る。回路２００Ａの平常動作中を含む、ゲート電圧とソースとの間の差がトランジスタＱ１の閾値電圧より大きいシナリオでは、次いでトランジスタＱ１は非アクティブとなり、電気障害インジケータ１２も非アクティブとなる。

様々な実施形態において、抵抗器Ｒ１及びＲ３の値は、トランジスタＱ１に関連付けられた閾値電圧の考慮を含め、特定の用途利用回路２００Ｂの様々な目的を実現するために選択され得る。異なる閾値及び／又はアクティブ化の特性を有する異なるトランジスタデバイスが利用される場合、Ｖ１と、抵抗器Ｒ２及びＲ１（と他の回路素子）との値も調整され得る。

様々な実施形態において、抵抗器Ｒ３は、他の目的の機能に加えて、入力電圧Ｖ１と、他の回路素子に関連付けられた電流とを分割することによってトランジスタＱ１への保護として機能し、したがって、電圧Ｖ１が大き過ぎる（又は別の過電圧若しくは過電流状態が発生する）場合、トランジスタＱ１が損傷することを防止する。同様に、ツェナーダイオードＺ１は、ソース及び／又はゲート（使用された特定の設定に応じて）における電圧が大き過ぎる場合に、ツェナーダイオードＺ１がバイアスをかけられ、移動のための代替的な電流経路として機能し得ることを保証することによって、トランジスタＱ１を過電圧又は過電流状態から保護するように動作し、トランジスタＱ１の損傷を回避する。ツェナーダイオードＺ１の特性は、閾値電圧を含めて、求められる特定の用途及び／又は回路２００Ａの回路素子の他の値に応じて調整され得る。

様々な実施形態において、トランジスタＱ１を含めることにより、電気障害インジケータ１２をアクティブ化するという観点でより良い制御及び安定化が提供され、これは、例えば急激な電圧変化のような一定の条件が他の用途より一般的である用途においてより大きい値を提供し得る。様々な実施形態において、ツェナーダイオードＺ１及び抵抗器Ｒ３の両方のうち１又は複数を含めることにより、少なくとも本明細書に記載の理由により、トランジスタＱ１を過電圧又は過電流の影響から保護することを含めて、この安定化をさらに高める。

様々な実施形態において、抵抗器Ｒ１は、負荷Ｌ１が過度に高い抵抗又は開回路ＬＦ１ａなどの負荷障害を有する場合、又は負荷Ｌ１が負荷短絡ＬＦ１ｂを有する場合、個別の放電経路又はループをノードＮ３に提供する。エリア５０は、回路内の任意の位置において、負荷障害が発生し得るエリアを定義するが、他のエリアは、本開示と整合性のある負荷障害に潜在的に関連付けられると考えられる。抵抗器Ｒ１を含めることにより、ノードＮ３に導電路２３を介して放電経路が提供され、その結果、電気障害インジケータ１２が適切に機能できる。抵抗器Ｒ１（又は経路を提供するための別の適切な回路素子）なしで、例えばＬＦ１ａ又はＬＦ１ｂなどの負荷障害が発生した場合、且つヒューズ１０ｂがトリップ又は切断した場合、電気障害インジケータ１２は操縦不能であり得る。

したがって、抵抗器Ｒ１を含む回路２００Ａの設定は、負荷状態が不良であるときであっても、電気障害インジケータ１２の適切な動作を可能とさせる。抵抗器Ｒ１の抵抗値は、例えば回路２００Ａの特定の動作上の必要性を考慮した、且つ電気障害インジケータ１２の適切な機能に対する要求も考慮した、特定の用途において好ましい場合があるように調整又は選択され得る。

図３Ａは、ヒューズ１０ａが電気障害の結果としてトリップ又は切断した場合、電気障害インジケータ１２の操作性を維持するために有用な別の回路３００Ａの回路概略図を示す。回路３００ＡがＭＯＳＦＥＴトランジスタＱ１を含む、より具体的にはＰ－ＦＥＴトランジスタＱ１を含むことを予め留意されたい。用途に応じて、例えばｎ－ＦＥＴのような異なるＭＯＳＦＥＴ、又は例えばＰＮＰ、ＢＪＴなどのような異なるトランジスタデバイスは、まとめてＦＥＴデバイスの代わりに使用され得、本開示の教示と整合性のあるようにされた回路３００Ａの残りの部分に対して適切な調整を行い、それらに関する適切な機能を保証する。

様々な実施形態において、回路３００Ａは、２つの点Ｐ１とＰ２との間で接続されたヒューズ１０ａを含み、ここでヒューズ１０ａは、回路内の２つの点であるＰ１とＰ２との間に配置されており、ここでＰ１は電圧源Ｖ１の正端子との接続に対応し、Ｐ２は第１ダイオードＤ１及び負荷Ｌ１への接続点として機能する。様々な実施形態において、示されるように、Ｐ１及びＰ２はそれぞれノードＮ１及びＮ２に対応し、それは本明細書においてより詳細に説明される。示されるように、電圧源Ｖ１はＤＣソースであるが、電圧がＡＣソースである他の実施形態が考えられ、本開示と一致する。

様々な実施形態において、示されるように、Ｐ１及びＰ２はそれぞれノードＮ１及びＮ２に対応し、それは本明細書においてより詳細に説明される。ヒューズ１０ａは導電路４２の一部であり、Ｎ２においてトランジスタＱ１のソースに接続されており、導電路４２は、ヒューズ１０ａをダイオードＤ２のアノードとダイオードＤ１のカソードに接続することを含め、ノードＮ１において導電路４５および４９に接続されており、ヒューズ１０ａ及びダイオードＤ１に対する共通接続点を負荷Ｌ１に提供する。様々な実施形態において、不図示であるが、ダイオードＤ１及びダイオードＤ２はそれぞれ、１又は複数の抵抗器又は抵抗素子により置き換られ得る。

Ｐ－ＦＥＴトランジスタＱ１は、示されるように、導電路４２に関連付けられ、ここでトランジスタＱ１のソースはノードＮ２において抵抗器Ｒ３及びツェナーダイオードＺ１に接続されており、ここでトランジスタＱ１のゲートは導電路４５の一部でありダイオードＤ２のカソードに接続されており、ここで導電路４５の一部でもあるダイオードＤ２のアノードは、ノードＮ１においてダイオードＤ１のカソードと負荷Ｌ１とに接続されている。導電路４９はダイオードＤ１を含み、ここでダイオードＤ１は導電路４９に沿ってノードＮ１及びノードＮ３に接続されており、ノードＮ１及びＮ３において上述され図３Ａに示された回路素子に接続することによって負荷障害Ｌ１が発生した場合に放電ループを提供し、ここで様々な実施形態においてノードＮ３は接地に対応する。導電路４７は、トランジスタＱ１のドレインにおいて始まり、導電路４７は、例えばＬＥＤのような電気障害インジケータ１２と直列に抵抗器Ｒ１を含み、ここで電気障害インジケータ１２は、負荷Ｌ１及びダイオードＤ１と共通接続を共有するノードＮ３において接続される。

様々な実施形態において、上述のように、トランジスタＱ１は、例えばｎ－ＦＥＴのような異なるタイプのＦＥＴであり得、ここで、ソース／ドレイン及びゲート変更は、他の回路変更に加えて、本開示教示と整合性のあるように、回路３００Ａの操作性を保証するために行われ得る。様々な実施形態において、トランジスタＱ１は非ＦＥＴデバイスであり得、ここで本開示の教示と整合性のある回路変更が、回路３００Ａの操作性を保証するために行われ得る。

図３Ａは、ヒューズ１０ａが完全且つ非トリップ状態である回路３００Ａの平常動作を示す。したがって、電圧源Ｖ１に関連付けられた電流の流れの大部分又は全部はヒューズ１０ａを通じて流れ得、ここでヒューズ１０ａは低抵抗又は低インピーダンス状態にあり、Ｉ１は負荷Ｌ１に流れる電流の一部である。様々な実施形態において、電流Ｉ１はトランジスタＱ１、ダイオードＤ１、ダイオードＤ２、負荷Ｌ１、及び他の回路値、例えばトランジスタＱ１、ダイオードＤ１、ダイオードＤ２及び負荷Ｌ１の抵抗の閾値電圧に対する電圧Ｖ１の値のために選択された特性に応じて、電圧Ｖ１によって生成された電流の全部、一部又は大部分を示し得る。様々な実施形態において、通常動作状態下で、例えばヒューズ１０が非トリップ状態の場合、Ｑ１のゲートの電圧及びトランジスタＱ１のソース電圧は、ダイオードＤ１及びダイオードＤ２のダイオード設定の結果として同等でとなり、トランジスタＱ１はオフ状態となり、したがって、（Ｐ－ＦＥＴ）トランジスタＱ１の閾値条件は、ゲート電圧とソース電圧との間の差がトランジスタＱ１をアクティブ化する閾値電圧より少なくなければならないので、結果として電気障害インジケータ１２もオフ状態となる。

図３Ｂは、電気障害及び負荷障害が生じて、結果として回路３００Ｂとなる場合の回路３００Ａを示す。様々な実施形態において、電気障害と負荷障害とは異なり得、様々な実施形態において、負荷障害と電気障害とは同一であり得る。示されるように、回路３００Ａにおける機能不全、例えば過電流又は他の電気障害は、ヒューズ１０ａをトリップ又は切断させ、結果としてトリップ又は切断したヒューズ１０ｂをもたらし、エリア５０は、１又は複数の負荷障害、例えば過度に高い抵抗を有する負荷若しくは開回路ＬＦ１ａ及び／又は短いＬＦ１ｂを有する負荷を含み得るエリアを定義する。電気障害（上述のように、負荷障害とは異なり得る）の結果として、ヒューズ１０ｂは非常に高い抵抗又はインピーダンスを有する回路素子、例えば開回路として動作し得る。したがって、電流はトリップしたヒューズ１０ｂを通じて移動しなくてよい。

ヒューズ１０ｂがトリップされた、切断された又は別様に開状態である場合、ダイオードＤ１は、（Ｐ－ＦＥＴ）トランジスタＱ１のゲートの電圧を十分に低いレベルに駆動し、その結果、ゲート電圧とトランジスタＱ１の電圧のソースとの間の差がトランジスタＱ１の閾値電圧より少なくなり、次いでトランジスタＱ１はアクティブ状態になり得る。その後、様々な実施形態において、電流は例えば抵抗器Ｒ１と電気障害インジケータ１２とに供給され得、例えば電気障害インジケータ１２がＬＥＤであるとき、それはトランジスタＱ１のドレインにおいて順バイアスをかけられ得、発光し得、これは電気障害インジケータ１２をアクティブ化し得る。回路３００Ａの平常動作中を含む、ゲート電圧とソースとの間の差がトランジスタＱ１の閾値電圧より大きいシナリオでは、次いでトランジスタＱ１は非アクティブとなり、電気障害インジケータ１２も非アクティブとなる。

様々な実施形態において、ダイオードＤ１及びＤ２の特性、例えば閾値電圧は、トランジスタＱ１に関連付けられた閾値電圧の考慮を含め、特定の用途利用回路３００Ｂの様々な目的を実現するために選択され得る。異なる閾値及び／又はアクティブ化の特性を有する異なるトランジスタデバイスが利用される場合、Ｖ１と、ダイオードＤ１及びダイオードＤ２（と他の回路素子）との特性の値も調整され得る。様々な実施形態において、抵抗器は、ダイオードＤ１及びダイオードＤ２を、例えばトランジスタＱ１のような様々な素子において必要なバイアスを実現するために選択された適切な抵抗値に、回路３００Ａ及び回路３００Ｂの特定の用途のために求められる他の要求に応じて、置き換え得る。

様々な実施形態において、ダイオードＤ１は、負荷Ｌ１が過度に高い抵抗又は開回路ＬＦ１ａなどの負荷障害を有する場合、又は負荷Ｌ１が負荷短絡ＬＦ１ｂを有する場合、ノードＮ１、Ｎ２及びＮ３に対して回路を完了するための個別の放電経路又はメカニズムを提供する。エリア５０は、回路内の任意の位置において、負荷障害が発生し得るエリアを定義するが、他のエリアは、本開示と整合性のある負荷障害に潜在的に関連付けられると考えられる。ダイオードＤ１（又は経路を提供するための別の適切な回路素子）なしで、例えばＬＦ１ａ又はＬＦ１ｂなどの負荷障害が発生した場合、且つトリップ又は切断したヒューズ１０ｂが発生した場合、電気障害インジケータ１２は操縦不能であり得る。

様々な実施形態において、トランジスタＱ１を含めることにより、電気障害インジケータ１２をアクティブ化するという観点でより良い制御及び安定化が提供され、これは、例えば急激な電圧変化のような一定の条件が他の用途より一般的である用途においてより大きい値を提供し得る。様々な実施形態において、ダイオードＤ１及びＤ２の両方のうち１又は複数を含めることによって、トランジスタＱ１の日付に関連付けて電圧スパイクを制御することと、当業者にとって明らかである他の理由とにより、この安定化をさらに高める。

したがって、ダイオードＤ１を含め、回路３００Ａの設定は、負荷状態が不良なときであっても、電気障害インジケータ１２の適切な動作を可能とさせ、ダイオードＤ１の特性は、例えば回路３００Ａの特定の動作上の必要を考慮した、且つ電気障害インジケータ１２の適切な機能に対する要求も考慮した、特定の用途に好ましい可能性があるものとして調整又は選択される。

図４Ａは、ヒューズ１０ａが電気障害の結果としてトリップ又は切断した場合、電気障害インジケータ１２の操作性を維持するために有用な回路４００Ａの回路概略図を示す。様々な実施形態において、電気障害インジケータ１２は発光ダイオード（ＬＥＤ）であり得る。回路４００Ａは、ヒューズ１０ａが標準の、非トリップ又は切れ目のない状態にある状態で示される。示されるように、ヒューズ１０ａは、回路内の２つの点Ｐ１とＰ２との間に配置され、ここでＰ１は電圧源Ｖ１の正端子との接続に対応し、Ｐ２は第１抵抗Ｒ１及び負荷Ｌ１への接続点として機能する。示されるように、電圧源はＤＣソースであるが、電圧がＡＣソースである他の実施形態が考えられ、本開示と一致する。

図４Ａに示されるように、導電路５２と導電路５５との少なくとも２つの導電路が示されている。導電路５２は、抵抗器Ｒ１及び例えばＬＥＤのような電気障害インジケータ１２と直列にスイッチｓ１を含む。導電路５５は、スイッチｓ１を制御する中継デバイスＫ１を含む。ヒューズ１０ａはＮ２において導電路５２に接続され、ヒューズはノードＮ１において導電路５５に接続され、ここで両方の導電路はノードＮ３において終結し、ここで、様々な実施形態では、ノードＮ３は接地に対応する。ノードＮ１は、中継デバイスＫ１、負荷Ｌ１及びヒューズ１０ａに共通接続ノードを提供する。

回路４００Ａは、ヒューズ１０ａが正常に動作し、したがってそれが低抵抗及び低インピーダンス状態において動作する回路４００の平常動作を示す。電圧源Ｖ１によって生成された電流（明確に図示はしない）の一部は中継デバイスＫ１を充電し得、電流Ｉ１の一部は負荷Ｌ１に移動し得る。平常動作中に、中継デバイスＫ１は、完全に充電されて、スイッチｓ１を開状態にさせて、電流が導電路５２を下に移動することを防止し、電気障害インジケータ１２のアクティブ化を無効にし、したがって、電流Ｉ２は最小値又はゼロ値となり得る。

図４Ｂは、電気障害及び負荷障害が生じて、結果として回路４００Ｂとなる場合の回路４００Ａを示す。様々な実施形態において、電気障害と負荷障害とは異なり得、様々な実施形態において、負荷障害と電気障害とは同一であり得る。示されるように、回路４００Ａにおける機能不全、例えば過電流又は他の電気障害は、ヒューズ１０ａをトリップ又は切断させ、結果としてトリップ又は切断したヒューズ１０ｂをもたらし、エリア５０は、１又は複数の負荷障害、例えば過度な抵抗ＬＦ１ａを有する負荷及び／又は短絡ＬＦ１ｂを有する負荷を含み得るエリアを定義する。電気障害（上述のように、負荷障害とは異なり得る）の結果として、ヒューズ１０ｂは非常に高い抵抗又はインピーダンスを有する回路素子、例えば開回路として動作し得る。したがって、トリップ又は切断したヒューズ１０ｂを通じて電流が流れない又は最小限の電流のみが流れ得、電流Ｉ１は最小値又はゼロ値を有し得る。同様に、中継デバイスＫ１を通じて電流は流れない又は最小限の電流のみが流れることで、それを放電状態にさせ、したがって、スイッチｓ１を閉じ得る。スイッチｓ１を閉じると、電流Ｉ２は、電圧Ｖ１によって生成された電流の全部又は大部分であり得、これは例えば抵抗器Ｒ１の電圧降下を発生させて電気障害インジケータ１２をアクティブ化させ得、例えば電気障害インジケータ１２がＬＥＤであるとき、順バイアスをかけられ得、発光し得る。したがって、負荷Ｌ１の状態に関わらず、且つ、過度な抵抗ＬＦ１ａを有する負荷又は負荷短絡ＬＦ１ｂのような負荷障害があるかどうかに関わらず、電気障害インジケータ１２はアクティブ化状態であり得る。これは、ヒューズ１０ｂが切断又はトリップした場合に、スイッチｓ１が回路の残りの部分から導電路５２を分離したことによる負荷状態によって導電路５２が影響されなかったからである。

本明細書において説明された他の実施形態と同様に、回路素子４００Ａ及び４００Ｂの特定値及び設定は、回路４００Ａ及び／又は回路４００Ｂを実装する特定の用途の設計選択及び必要に応じて、調整され得る。

したがって、スイッチｓ１及び中継デバイスＫ１のスキームを含む回路４００Ａの設定は、負荷状態が不良であるときであっても、電気障害インジケータ１２の適切な動作を可能とさせ、これは、中継デバイスＫ１及びスイッチｓ１が、負荷状態に関わらず、電気障害インジケータ１２をアクティブ化するための個別の経路を提供するからである。

本明細書に使用されたように、「一実施形態」、「一実装」、「一例」及び／又は均等物に対する参照は、記載の特徴をも組み込む追加の実施形態の存在を排除するものとして解釈されることを意図するものではない。

本開示は特定の実施形態を参照してきたが、添付の請求項において定義されるように、現在の実施形態の領域及び範囲から逸脱することなく、説明した実施形態に対する多数の修正、変形及び変更が可能である。したがって、本開示は説明した実施形態に限定されず、むしろ以下の請求項の文言及びそれらの均等物によって定義される全体の範囲を有する。

Claims

電圧源と負荷との間に配置された２つの回路点間において接続されたヒューズと、
前記ヒューズと少なくとも１つの共通ノードを共有する１又は複数の導電路と、
前記ヒューズと前記少なくとも１つの共通ノードを共有する第１回路素子と、
電気障害インジケータであって、ｉ）前記ヒューズ及び前記第１回路素子と前記少なくとも１つの共通ノードを共有する、又は、ｉｉ）前記ヒューズと前記第１回路素子との間の前記少なくとも１つの共通ノードとは異なる別の共通ノードを前記第１回路素子と共有する電気障害インジケータと
を備え、
電気障害の結果として前記ヒューズが開放される場合、前記電気障害が発生したことを観察者に示すのに十分な電流が前記電気障害インジケータを通じて流れ、前記第１回路素子に対する共通ノード接続は、前記負荷によって終結する任意の経路接続とは異なる前記電流の流れに対して個別の放電ループを生成し、
前記電気障害インジケータは前記第１回路素子と前記別の共通ノードを共有し、前記第１回路素子は第１ダイオードであり、前記１又は複数の導電路はトランジスタのゲートと直列である第２ダイオードを含む導電路を含み、
前記電気障害インジケータと直列である抵抗器と、前記トランジスタのドレイン又はソースとをさらに備え、
前記第１ダイオードのカソードは、前記ヒューズと前記少なくとも１つの共通ノードを共有し、前記第１ダイオードのアノードは、前記電気障害インジケータと前記別の共通ノードを共有し、
前記第２ダイオードのカソードは、前記トランジスタの前記ゲートに接続され、前記第２ダイオードのアノードは、前記ヒューズと前記少なくとも１つの共通ノードを共有する、
回路。
前記電気障害インジケータは発光ダイオード（ＬＥＤ）であり、前記トランジスタは電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）である、請求項１に記載の回路。
電圧源と負荷との間に配置された２つの回路点間において接続されたヒューズと、
前記ヒューズと少なくとも１つの共通ノードを共有する１又は複数の導電路と、
前記ヒューズと前記少なくとも１つの共通ノードを共有する第１回路素子と、
電気障害インジケータであって、ｉ）前記ヒューズ及び前記第１回路素子と前記少なくとも１つの共通ノードを共有する、又は、ｉｉ）前記ヒューズと前記第１回路素子との間の前記少なくとも１つの共通ノードとは異なる別の共通ノードを前記第１回路素子と共有する電気障害インジケータと
を備え、
電気障害の結果として前記ヒューズが開放される場合、前記電気障害が発生したことを観察者に示すのに十分な電流が前記電気障害インジケータを通じて流れ、前記第１回路素子に対する共通ノード接続は、前記負荷によって終結する任意の経路接続とは異なる前記電流の流れに対して個別の放電ループを生成し、
前記電気障害インジケータは前記第１回路素子と前記別の共通ノードを共有し、前記第１回路素子は第１抵抗器であり、前記１又は複数の導電路はトランジスタのゲートと並列である第２抵抗器を含む導電路を含み、
前記電気障害インジケータと直列である第３抵抗器と、前記トランジスタのドレイン又はソースとをさらに備える、回路。
前記電気障害インジケータは発光ダイオード（ＬＥＤ）であり、前記トランジスタは電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）である、請求項３に記載の回路。
電圧源と負荷との間に配置された２つの回路点間において接続されたヒューズと、
前記ヒューズと少なくとも１つの共通ノードを共有する１又は複数の導電路と、
前記ヒューズと前記少なくとも１つの共通ノードを共有する第１回路素子と、
電気障害インジケータであって、ｉ）前記ヒューズ及び前記第１回路素子と前記少なくとも１つの共通ノードを共有する、又は、ｉｉ）前記ヒューズと前記第１回路素子との間の前記少なくとも１つの共通ノードとは異なる別の共通ノードを前記第１回路素子と共有する電気障害インジケータと
を備え、
電気障害の結果として前記ヒューズが開放される場合、前記電気障害が発生したことを観察者に示すのに十分な電流が前記電気障害インジケータを通じて流れ、前記第１回路素子に対する共通ノード接続は、前記負荷によって終結する任意の経路接続とは異なる前記電流の流れに対して個別の放電ループを生成し、
前記電気障害インジケータは前記第１回路素子と前記別の共通ノードを共有し、前記第１回路素子は第１抵抗器であり、前記１又は複数の導電路は、ｉ）第２抵抗器のみを含む第１導電路と、ｉｉ）トランジスタデバイスのみを含む第２導電路とを含み、前記第２抵抗器は前記ヒューズと並列であり、前記第２抵抗器はトランジスタのゲートと共通ノードを共有するとともに前記トランジスタのソース又はドレインのいずれかと共通ノードを共有し、
前記電気障害インジケータと直列である第３抵抗器と、前記トランジスタの前記ドレイン又は前記ソースとをさらに含む、回路。
前記電気障害インジケータは発光ダイオード（ＬＥＤ）であり、前記トランジスタは電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）である、請求項５に記載の回路。
電圧源と負荷との間に配置された２つの回路点間において接続されたヒューズと、
前記ヒューズと少なくとも１つの共通ノードを共有する１又は複数の導電路と、
前記ヒューズと前記少なくとも１つの共通ノードを共有する第１回路素子と、
電気障害インジケータであって、ｉ）前記ヒューズ及び前記第１回路素子と前記少なくとも１つの共通ノードを共有する、又は、ｉｉ）前記ヒューズと前記第１回路素子との間の前記少なくとも１つの共通ノードとは異なる別の共通ノードを前記第１回路素子と共有する電気障害インジケータと
を備え、
電気障害の結果として前記ヒューズが開放される場合、前記電気障害が発生したことを観察者に示すのに十分な電流が前記電気障害インジケータを通じて流れ、前記第１回路素子に対する共通ノード接続は、前記負荷によって終結する任意の経路接続とは異なる前記電流の流れに対して個別の放電ループを生成し、
前記電気障害インジケータは前記第１回路素子と前記別の共通ノードを共有し、前記第１回路素子は第１抵抗器であり、前記１又は複数の導電路は、ｉ）第２抵抗器を含む第１導電路と、ｉｉ）ダイオードを含む第２導電路と、ｉｉｉ）トランジスタを含む第３導電路とを有し、前記第２抵抗器、前記ヒューズ及び前記ダイオードは並列であり、
前記電気障害インジケータと直列である第３抵抗器と、前記トランジスタのドレイン又はソースとをさらに備える、回路。
前記共通ノードは、前記ダイオード、前記ヒューズ及び前記第２抵抗器の接続を含む接続点であり、さらに別の共通ノードは、前記ヒューズ、前記第２抵抗器、前記ダイオード、及び前記トランジスタのソース又はドレインのいずれかの接続を含むさらに別の接続点である、請求項７に記載の回路。
前記ダイオードはツェナーダイオードであり、前記トランジスタは電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）である、請求項８に記載の回路。
電圧源と回路の負荷との間に配置された２つの点の間において接続されたヒューズを提供する段階と、
ヒューズと、第１回路素子と、電気障害インジケータと、前記回路の１又は複数の導電路とを共通ノードにおいて接続し、その結果、電気障害の結果として前記ヒューズが開放された場合、ユーザに前記電気障害が発生したことを示すのに十分な電流が前記電気障害インジケータを通じて流れる段階と
を備え、
前記第１回路素子に対する共通ノード接続は、前記負荷によって終結する任意の経路接続とは異なる前記電流の流れに対して個別の放電ループを生成し、
前記電気障害インジケータは前記第１回路素子と、前記共通ノードとは異なる別の共通ノードを共有し、前記第１回路素子は第１抵抗器であり、前記１又は複数の導電路はトランジスタのゲートと並列である第２抵抗器を含む導電路を含み、
前記電気障害インジケータと直列である第３抵抗器と、前記トランジスタのドレイン又はソースとを提供する段階をさらに備える方法。
前記１又は複数の導電路は第２抵抗器と直列に前記電気障害インジケータを含む単一導電路で構成される、請求項１０に記載の方法。
前記単一導電路は前記ヒューズと並列である、請求項１１に記載の方法。
ｉ）負荷障害の状態の結果として前記回路から前記負荷が切断され、ｉｉ）前記電気障害の結果として前記ヒューズが開放された場合、前記第１抵抗器、前記第２抵抗器及び前記電気障害インジケータは直列である、請求項１２に記載の方法。
前記電気障害インジケータは発光ダイオード（ＬＥＤ）であり、前記電気障害及び前記負荷障害は互いに異なる、請求項１３に記載の方法。
電圧源と負荷との間に配置された２つの回路点間において接続されたヒューズと、
抵抗器及び電気障害インジケータとドレインまたはソースのうちの一方が直列であるトランジスタを含む少なくとも１つの導電路であって、前記トランジスタの前記ドレインまたは前記ソースのうちの他方は前記ヒューズと共通ノードを共有する、少なくとも１つの導電路と、
前記共通ノードとは異なる別のノードを介して、アノードが前記ヒューズに接続された第１ダイオードであって、カソードが前記トランジスタのゲートに接続された第１ダイオードと、
前記別のノードを介して、カソードが前記ヒューズに接続された第２ダイオードであって、アノードが前記電気障害インジケータに接続された第２ダイオードと、
を備え、
前記ヒューズが通常状態で動作している場合、前記電気障害インジケータをオフ状態にして、
電気障害の結果として前記ヒューズが開放される場合、前記トランジスタの前記ソース及び前記ドレインの間に流れる電流は、前記電気障害インジケータをオン状態にして、前記負荷によって終結する任意の経路接続と異なる回路電流の流れに対する個別の放電ループを生成する、回路。