JP7315372B2 - Impedance measurement system and impedance measurement method - Google Patents
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Description
本発明は、インピーダンス測定システム及びインピーダンス測定方法に関するものである。 The present invention relates to an impedance measurement system and an impedance measurement method.
回路基板に存在する導体パターン、電池、素子等(以下、これらを「被測定試料(DUT)」という)のインピーダンスを測定する方法の一つとして4端子法(以下の特許文献1参照)が知られている。4端子法を用いるインピーダンス測定装置は、測定信号源の一対の出力端子からの電流計測線と電圧計からの電圧計測線を捩ってなるツイストケーブルを用いて構成されている(図5参照)。図5において、インピーダンス測定システム200は、バッテリセル220に電流計測線(電流ケーブル)213,214、電圧計測線(電圧ケーブル)215,216を介して接続されるインピーダンス測定装置203を有して構成されている。インピーダンス測定装置203は、測定信号を発生する測定信号源205と、電圧検出手段としての電圧計209と、電流検出手段としての電流計207を含んで構成されている。
A four-terminal method (see
具体的には、図5に示すように、測定信号源205より電流計測線213,214を捩ってなるツイストケーブルを介して測定対象としてのバッテリセル220のタブ端子220a,220bに測定電流Isを流し、その時同時に電圧計209によってバッテリセル220のタブ端子220a,220b間の電圧の電圧値V1が計測され、電流計207によって測定電流Isの電流値が計測される。測定電流Isの電流値と電圧値V1に基づいてバッテリセル220のインピーダンスZが算出される。この4端子法を用いるインピーダンス測定装置によれば、測定系の電気配線(リード線)の配線抵抗や被測定試料との接触抵抗の影響をほとんど排除することができる。
Specifically, as shown in FIG. 5, a measurement current Is is passed through the
また、被測定試料(DUT)のインピーダンスを測定する他の方法として4端子対法が知られている(以下の特許文献1参照)。4端子対法を用いるインピーダンス測定装置は、4つの電流プローブの電気配線として同軸ケーブルを用いて各同軸ケーブルの各外部導体(シールド被覆線)のすべてを各プローブの基端付近でリード線にて接続し短絡させる構成となっている。
As another method for measuring the impedance of a device under test (DUT), a 4-terminal pair method is known (see
上記した4端子法によれば、測定電流径路内において、測定電流Isの往路と復路とが重ね合わされるため、測定電流により生ずる磁束の影響(電磁誘導)を軽減することができる。 According to the above-described four-terminal method, the outward and return paths of the measurement current Is are overlapped in the measurement current path, so the influence of the magnetic flux (electromagnetic induction) caused by the measurement current can be reduced.
しかしながら、4端子法においては、電流計測線に流れる測定電流により発生する磁束(図5の磁束線参照)によって電圧計測線に誘導電圧が誘起され、その誘起された誘導電圧が電圧計で計測する電池両端電圧に重畳されることで測定結果に誤差を生じさせてしまう。また、図5に示すように、測定対象が例えばEV向けのラミネート型電池セル(一次電池、二次電池等)の場合には、電池セルの端子間の距離は長いもので約800mm程度となるケースもある。電池セル近辺では、測定電流を印加する電流経路(図5の楕円で囲まれた領域)において漏れ磁束が発生するループができてしまう。 However, in the four-terminal method, an induced voltage is induced in the voltage measurement line by the magnetic flux generated by the measurement current flowing in the current measurement line (see the magnetic flux lines in FIG. 5), and the induced voltage is superimposed on the voltage across the battery measured by the voltmeter, causing an error in the measurement result. Further, as shown in FIG. 5, when the object to be measured is, for example, a laminated battery cell (primary battery, secondary battery, etc.) for EV, the distance between the terminals of the battery cell may be as long as about 800 mm. In the vicinity of the battery cell, a loop is formed in which a leakage magnetic flux is generated in the current path to which the measurement current is applied (the area surrounded by the ellipse in FIG. 5).
また、電圧検出部と電池セルを接続している電圧計測線の経路(図5の楕円で囲まれた領域)にも、電流経路に発生する上述した漏れ磁束と交錯するループが生じてしまう。したがって、物理的に電流計測線の経路及び電圧計測線の経路におけるループ同士が重なり合ってしまうため、電磁誘導の影響を受けやすくなるという問題があった。 In addition, a loop intersecting with the above-described leakage magnetic flux generated in the current path also occurs in the path of the voltage measurement line connecting the voltage detection unit and the battery cell (the area surrounded by the ellipse in FIG. 5). Therefore, there is a problem that the loops in the path of the current measurement line and the path of the voltage measurement line are physically overlapped with each other, so that they are easily affected by electromagnetic induction.
また、測定対象が複数あった場合には、測定対象を変える度に、電流計測線及び電圧計測線の測定対象側の端子を変更後の測定対象の端子に接続し直さなければならず処理時間の遅延につながっていた。 In addition, when there are multiple objects to be measured, each time the object to be measured is changed, the terminals of the current measurement line and the voltage measurement line on the side of the object to be measured must be reconnected to the terminal of the changed object to be measured, leading to a delay in processing time.
したがって、本発明の課題は、測定対象の端子付近における電流計測線の一部で発生する磁束漏れループ、測定対象の端子付近における電圧計測線の一部で生じる磁束漏れによる電磁誘導の影響を抑制できるインピーダンス測定システムを提供することである。 Therefore, an object of the present invention is to provide an impedance measurement system capable of suppressing the influence of electromagnetic induction caused by a magnetic flux leakage loop generated in a portion of a current measurement line near a terminal to be measured and a magnetic flux leakage generated in a portion of a voltage measurement line near a terminal to be measured.
本発明に係るインピーダンス測定システムの一側面は、少なくとも一対の端子を有する測定対象電子部品であって、少なくとも一組の測定対象電子部品に所定周波数の測定信号を供給する測定信号発生源と、測定信号発生源の一対の出力端子の一方から他方の間に配置された測定対象電子部品に流れる電流を検出する電流検出部と、一組の測定対象電子部品のそれぞれの両端子間に発生する電圧を測定する少なくとも一つの電圧検出部とを含み、各測定対象電子部品のそれぞれのインピーダンスを測定するインピーダンス測定装置を有するインピーダンス測定システムであって、測定信号発生源の一対の出力端子の一方と他方の間の電流経路内に前記一組の測定対象電子部品の一方と他方が重ね合わせて配設され、一組の測定対象電子部品の一方に流れる電流の向きと一組の測定対象電子部品の他方に流れる電流の向きが互いに逆方向になるように、一組の測定対象電子部品と測定信号発生源及び前記電流検出部との間で電流経路が形成されていることを特徴とする。 One aspect of the impedance measuring system according to the present invention is an impedance measuring apparatus which measures the impedance of each of the electronic components to be measured, which is an electronic component to be measured having at least one pair of terminals and includes a measurement signal generation source that supplies a measurement signal of a predetermined frequency to at least one set of electronic components to be measured, a current detection section that detects a current flowing through the electronic component to be measured that is arranged between a pair of output terminals of the measurement signal generation source and the other, and at least one voltage detection section that measures a voltage generated between both terminals of each of the electronic components to be measured. wherein one and the other of the pair of electronic components to be measured are superimposed in a current path between one and the other of a pair of output terminals of a measurement signal generation source, and a current path is formed between the pair of electronic components to be measured, the measurement signal generation source, and the current detection unit such that the direction of the current flowing in one of the pair of electronic components to be measured and the direction of the current flowing in the other of the pair of electronic components to be measured are opposite to each other.
本発明に係るインピーダンス測定システムの他の側面は、少なくとも一対の端子を有する測定対象電子部品であって、少なくとも一組の測定対象電子部品に所定周波数の測定信号を供給する測定信号発生源と、測定信号発生源の一対の出力端子の一方から他方の間に配置された前記測定対象電子部品に流れる電流を検出する電流検出部と、一組の測定対象電子部品のそれぞれの両端子間に発生する電圧を測定する少なくとも一つの電圧検出部とを含み、各測定対象電子部品のそれぞれのインピーダンスを測定するインピーダンス測定装置を有するインピーダンス測定システムであって、測定信号発生源の一対の出力端子の一方と他方の間の電流経路内に一組の測定対象電子部品が配設され、一組の測定対象電子部品の内の一方の測定対象電子部品の一方の端子と、他方の測定対象電子部品の他方の端子とを短絡させて一方の測定対象電子部品と他方の測定対象電子部品が直列接続されていることを特徴とする。 Another aspect of the impedance measurement system according to the present invention is an electronic component to be measured having at least one pair of terminals, and includes: a measurement signal generation source that supplies a measurement signal of a predetermined frequency to at least one set of electronic components to be measured; a current detection unit that is arranged between a pair of output terminals of the measurement signal generation source and that flows through the electronic component to be measured; An impedance measuring system having a measuring device, characterized in that a pair of electronic components to be measured are disposed in a current path between one and the other of a pair of output terminals of a measurement signal generation source, and one terminal of one electronic component to be measured and the other terminal of the other electronic component to be measured are short-circuited to connect one electronic component to be measured and the other electronic component to be measured in series.
本発明に係るインピーダンス測定システムの他の側面は、一組の測定対象電子部品が複数組配設されている場合に、電圧検出部は各組の測定対象電子部品の内の一方の測定対象電子部品及び他方の測定対象電子部品に対応する数だけ配設され、各電圧検出部によって各組のそれぞれの測定対象電子部品の両端子間の電圧が検出されることを特徴とする。 Another aspect of the impedance measurement system according to the present invention is characterized in that, when a plurality of sets of electronic components to be measured are arranged, the number of voltage detection units corresponding to one electronic component to be measured and the other electronic component to be measured in each set of electronic components to be measured is provided, and the voltage between both terminals of each electronic component to be measured in each set is detected by each voltage detection unit.
本発明に係るインピーダンス測定システムの他の側面は、複数組の測定対象電子部品が第1の測定対象電子部品~第n(nは2以上の整数)の測定対象電子部品から構成され、第1の測定対象電子部品~第nの測定対象電子部品がその順に互いに隣接して配置されている場合に、測定信号発生源の一対の出力端子の一方が第1の測定対象電子部品の測定信号発生源側にある端子に接続され、測定信号発生源の一対の出力端子の他方が電流検出部を介して第nの測定対象電子部品の測定信号発生源側にある端子に接続され、第1の測定対象電子部品から第nの測定対象電子部品までが直列に接続されるように隣接する測定対象電子部品において自己側の一方の端子と相手側の他方の端子を短絡させることを特徴とする。 Another aspect of the impedance measurement system according to the present invention is that when a plurality of sets of electronic components to be measured are composed of a first electronic component to n-th electronic component to be measured (n is an integer equal to or greater than 2), and the first electronic component to n-th electronic component to be measured are arranged adjacent to each other in that order, one of the pair of output terminals of the measurement signal generation source is connected to the terminal of the first electronic component on the side of the measurement signal generation source, and the other of the pair of output terminals of the measurement signal generation source serves as a current detection unit. The electronic component is connected to a terminal on the measurement signal generation side of the n-th electronic component to be measured via the first electronic component to the n-th electronic component to be measured.
本発明に係るインピーダンス測定システムの他の側面は、一組の測定対象電子部品が複数組配設されている場合に、電圧検出部は、第1の測定対象電子部品~第nの測定対象電子部品の測定ごとに、それぞれ第1の測定対象電子部品~第nの測定対象電子部品へ接続されることを特徴とする。 Another aspect of the impedance measurement system according to the present invention is characterized in that, when a plurality of sets of electronic components to be measured are arranged, the voltage detection section is connected to the first to n-th electronic components to be measured for each measurement of the first to n-th electronic components to be measured.
本発明に係るインピーダンス測定システムの他の側面は、一組の測定対象電子部品が複数組配設されている場合に、複数のスイッチを有する信号選択部を備え、複数のスイッチは、少なくとも前記測定信号発生源に接続された第1のスイッチ群と、電流検出部に接続された第2のスイッチ群と、電圧検出部に接続された第3のスイッチ群とからなり、第1のスイッチ群は、少なくとも測定信号発生源に接続されている電流計測線の他端側における第1の電流計測線端部に接続されている第1の入力端子と、電流計測線の他端側における第2の電流計測線端部に接続されている第2の入力端子と、一の測定対象電子部品に接続されている電流計測線の他端側における第3の電流計測線端部に接続されている第1の出力端子と、電流計測線の他端側における第4の電流計測線端部に接続されている第2の出力端子を含んで構成され、第2のスイッチ群は、少なくとも電流検出部に接続されている電流計測線の他端側における第1の電流計測線端部に接続されている第3の入力端子と、電流計測線の他端側における第2の電流計測線端部に接続されている第4の入力端子と、一の測定対象電子部品に接続されている電流計測線の他端側における第3の電流計測線端部に接続されている第3の出力端子と、電流計測線の他端側における第4の電流計測線端部に接続されている第4の出力端子を含んで構成され、第3のスイッチ群は、少なくとも電圧検出部に接続されている電圧計測線の他端側における第1の電圧計測線端部に接続されている第5の入力端子と、電圧計測線の他端側における第2の電圧計測線端部に接続されている第6の入力端子と、一の測定対象電子部品に接続されている電圧計測線の他端側における第3の電圧計測線端部に接続されている第5の出力端子と、電圧計測線の他端側における第4の電圧計測線端部に接続されている第6の出力端子を含んで構成され、信号選択部は、複数組の測定対象電子部品の各組ごとに、測定対象の変更に応じて前記第1のスイッチ群~第3のスイッチ群における第1~第6の出力端子を切り換え、切替えによって、各組の測定対象電子部品の一方及び他方の測定対象電子部品の両端にかかる電圧が各組の測定対象電子部品ごとに検出されることを特徴とする。 Another aspect of the impedance measurement system according to the present invention includes a signal selection section having a plurality of switches when a plurality of sets of electronic components to be measured are arranged, the plurality of switches comprising at least a first switch group connected to the measurement signal generation source, a second switch group connected to the current detection section, and a third switch group connected to the voltage detection section. a second input terminal connected to a second current measuring line end on the other end of the current measuring line; a first output terminal connected to a third current measuring line end on the other end of the current measuring line connected to the electronic component to be measured; and a second output terminal connected to a fourth current measuring line end on the other end of the current measuring line. a third input terminal connected to the end of the first current measurement line on the end side; a fourth input terminal connected to the end of the second current measurement line on the other end of the current measurement line; a third output terminal connected to the end of the third current measurement line on the other end of the current measurement line connected to the electronic component to be measured; and a fourth output terminal connected to the end of the fourth current measurement line on the other end of the current measurement line. a fifth input terminal connected to the end of the first voltage measurement line on the other end of the voltage measurement line connected to the detector; a sixth input terminal connected to the end of the second voltage measurement line on the other end of the voltage measurement line; a fifth output terminal connected to the end of the third voltage measurement line on the other end of the voltage measurement line connected to the electronic component to be measured; , the signal selection unit switches the first to sixth output terminals of the first to third switch groups according to the change of the measurement object for each of the plurality of sets of the electronic components to be measured, and by switching, the voltage applied to both ends of one of the electronic components to be measured and the other electronic component to be measured in each set is detected for each set of electronic components to be measured.
本発明のインピーダンス測定方法の一側面は、少なくとも一対の端子を有する測定対象電子部品であって、少なくとも一組の測定対象電子部品に所定周波数の測定信号を供給する測定信号発生源の一対の出力端子の一方から他方の間に配置された前記測定対象電子部品に流れる電流を電流検出部が検出し、一組の測定対象電子部品のそれぞれの両端子間に発生する電圧を少なくとも一つの電圧検出部が測定し、検出された電流の電流値と測定された電圧の電圧値に基づいて、各測定対象電子部品のそれぞれのインピーダンスを測定するインピーダンス測定方法であって、測定信号発生源の一対の出力端子の一方と他方の間の電流経路内に前記一組の測定対象電子部品の一方と他方を重ね合わせて配設し、一組の測定対象電子部品の一方に流れる電流の向きと一組の測定対象電子部品の他方に流れる電流の向きが互いに逆方向になるように、一組の測定対象電子部品と測定信号発生源及び電流検出部間で電流経路を形成することを特徴とする In one aspect of the impedance measuring method of the present invention, an electronic component to be measured having at least a pair of terminals is arranged between a pair of output terminals of a measurement signal generation source that supplies a measurement signal of a predetermined frequency to at least one set of electronic components to be measured. An impedance measuring method for measuring the impedance of each component, wherein one and the other of the pair of electronic components to be measured are superimposed and arranged in a current path between one and the other of a pair of output terminals of a measurement signal generation source, and a current path is formed between the set of electronic components to be measured, the measurement signal generation source, and the current detection section so that the direction of the current flowing in one of the pair of electronic components to be measured and the direction of the current flowing in the other of the set of electronic components to be measured are opposite to each other.
本発明のインピーダンス測定方法の他の側面は、少なくとも一対の端子を有する測定対象電子部品であって、少なくとも一組の測定対象電子部品に所定周波数の測定信号を供給する測定信号発生源の一対の出力端子の一方から他方の間に配置された前記測定対象電子部品に流れる電流を電流検出部が検出し、一組の測定対象電子部品のそれぞれの両端子間に発生する電圧を少なくとも一つの電圧検出部が測定し、検出された電流の電流値と測定された電圧の電圧値に基づいて、各測定対象電子部品のそれぞれのインピーダンスを測定するインピーダンス測定方法であって、測定信号発生源の一対の出力端子の一方と他方の間の電流経路内に一組の測定対象電子部品の一方と他方を重ね合わせて配設し、一組の測定対象電子部品の一方に流れる電流の向きと一組の測定対象電子部品の他方に流れる電流の向きが互いに逆方向になるように、一組の測定対象電子部品と測定信号発生源及び電流検出部間で電流経路を形成することを特徴とする。 Another aspect of the impedance measuring method of the present invention is an electronic component to be measured which has at least a pair of terminals and is arranged between a pair of output terminals of a measurement signal generating source which supplies a measurement signal of a predetermined frequency to at least one set of electronic components to be measured. An impedance measuring method for measuring the impedance of each electronic component, characterized in that one of a pair of electronic components to be measured and the other are arranged in a current path between one and the other of a pair of output terminals of a measurement signal generation source, and a current path is formed between the set of electronic components to be measured, the measurement signal generation source, and the current detection section so that the direction of the current flowing in one of the pair of electronic components to be measured and the direction of the current flowing in the other of the set of electronic components to be measured are opposite to each other.
本発明のインピーダンス測定方法の他の側面は、少なくとも一対の端子を有する測定対象電子部品であって、少なくとも一組の測定対象電子部品に所定周波数の測定信号を供給する測定信号発生源の一対の出力端子の一方から他方の間に配置された測定対象電子部品に流れる電流を電流検出部が検出し、一組の測定対象電子部品のそれぞれの両端子間に発生する電圧を少なくとも一つの電圧検出部が測定し、検出された電流の電流値と測定された電圧の電圧値に基づいて、各測定対象電子部品のそれぞれのインピーダンスを測定するインピーダンス測定方法であって、測定信号発生源の一対の出力端子の一方と他方の間の電流経路内に一組の測定対象電子部品が配設され、一組の測定対象電子部品の内の一方の測定対象電子部品の一方の端子と、他方の測定対象電子部品の他方の端子とを短絡させて一方の測定対象電子部品と他方の測定対象電子部品を直列接続させることを特徴とする。 According to another aspect of the impedance measuring method of the present invention, the electronic component to be measured has at least one pair of terminals, and is arranged between a pair of output terminals of a measurement signal generating source that supplies a measurement signal of a predetermined frequency to the at least one set of electronic component to be measured. An impedance measuring method for measuring the impedance of each component, wherein a set of electronic components to be measured is arranged in a current path between one and the other of a pair of output terminals of a measurement signal generation source, and one terminal of one electronic component to be measured and the other terminal of the other electronic component to be measured are short-circuited to connect one electronic component to be measured and the other electronic component to be measured in series.
測定対象の端子付近における電流計測線の一部で発生する磁束漏れループ、測定対象の端子付近における電圧計測線の一部で生じる磁束漏れによる電磁誘導の影響を抑制するとともに測定処理時間の短縮を図ることができるインピーダンス測定システムおよび測定方法を提供することができる。 It is possible to provide an impedance measurement system and a measurement method that can suppress the influence of electromagnetic induction caused by a magnetic flux leakage loop generated in a part of a current measurement line near a terminal to be measured and a magnetic flux leakage generated in a part of a voltage measurement line near a terminal to be measured and shorten the measurement processing time.
<第1の実施の形態>
以下に、図1を参照して本発明に係るインピーダンス測定システムの第1の実施の形態について説明する。なお、インピーダンス測定システムの測定対象電子部品(以下、「測定対象」と呼ぶ。)は、バッテリセル(電池セル)、電気回路を構成する素子であり、インピーダンスの測定は、バッテリセルや素子の特性評価等に重要な電気的パラメータとしてのインピーダンスを測定する。本実施の形態では測定対象としてバッテリセルを例に挙げて説明する。本発明はインピーダンス測定システムを構成するインピーダンス測定装置とバッテリセルとの接続態様に特徴があり、それに関連してバッテリセルは少なくとも2つ必要であり、互いに近距離で重ね合わせて配置されている。
<First embodiment>
A first embodiment of an impedance measurement system according to the present invention will be described below with reference to FIG. The electronic components to be measured by the impedance measurement system (hereinafter referred to as “measurement targets”) are battery cells and elements that make up an electric circuit, and the impedance is measured as an important electrical parameter for evaluating the characteristics of battery cells and elements. In this embodiment, a battery cell will be described as an example of a measurement object. The present invention is characterized by the mode of connection between the impedance measuring device and the battery cells that constitute the impedance measuring system.
[インピーダンス測定システムの構成]
インピーダンス測定システム1は、バッテリセル31、33にシールド線21,27を介して接続されるインピーダンス測定装置3を有して構成されている。インピーダンス測定装置3は、測定信号を発生する測定信号源11、電流検出部としての電流計13及び電圧検出部としての第1の電圧計15及び第2の電圧計17を含んで構成されている。なお、測定信号源11は請求項1の測定信号発生源に相当する。
[Configuration of impedance measurement system]
The
[測定装置とバッテリセルとの接続態様]
以下に、インピーダンス測定装置3と測定対象であるバッテリセル31、33との接続態様について説明する。インピーダンス測定装置3でバッテリセル31、33のインピーダンスを測定するにあたって、測定信号源11、第1の電圧計15、第2の電圧計17及び電流計13とバッテリセル31、33とをプローブP1~P8を介して接続させる必要がある。これらの各プローブは構造的には変わらないが、本明細書では、説明の便宜上、電流系統側のものを電流プローブといい、電圧系統側のものを電圧プローブという。
プローブとしては、測定信号源11からバッテリセル31、33に流れる電流の経路である測定電流ループ内に含まれる4つの電流プローブP1、P2、P3、P4と、バッテリセル31の電圧検出ループ内に含まれる2つの電圧プローブP5、P6、バッテリセル33の電圧検出ループ内に含まれる2つの電圧プローブP7、P8が用いられる。
[Connection between measuring device and battery cell]
A connection mode between the impedance measuring
As probes, four current probes P1, P2, P3, and P4 included in a measurement current loop that is a path of current flowing from the
ここで、電流プローブP1、P2、P3、P4の電気配線としてシールド線(同軸ケーブル)21,27を用い、電圧プローブP5、P6の電気配線として電圧計測線23a,23bを互いに捩って形成されたツイストケーブル23が用いられ、電圧プローブP7、P8の電気配線として電圧計測線25a,25bを互いに捩って形成されたツイストケーブル25が用いられる。
Here, shielded wires (coaxial cables) 21 and 27 are used as the electrical wiring for the current probes P1, P2, P3, and P4, a
バッテリセル31のタブ端子31aは、プローブP1、シールド線21の芯線21aを介して測定信号源11の一対の出力端子の一方に接続され、もう一方のタブ端子31bは、プローブP3、シールド線27の芯線27aを介して電流計13の入力部に接続されている。バッテリセル33のタブ端子33aはプローブP2、シールド線21のシールド導体21b(リターン線)を介して測定信号源11の一対の出力端子の他方に接続され、もう一方のタブ端子33bはプローブP4、シールド線27のシールド導体27b(リターン線)を介して電流計13の出力部に接続されている。
The
このように、バッテリセル31に流れる測定電流の向きとバッテリセル33に流れる測定電流の向きが逆向きになるようにバッテリセル31、33が配置される。図1の例では、バッテリセル31に流れる測定電流の向きは測定信号源11から電流計に向かう向き(左向きの矢印)となり、バッテリセル33に流れる測定電流の向きは電流計13から測定信号源11に向かう向き(右向きの矢印)となり互いに逆向きとなる。
In this manner, the
バッテリセル31のタブ端子31aは、プローブP5を介して、ツイストケーブル23の電圧計測線23aに接続され、もう一方のタブ端子31bは、プローブP6を介して、ツイストケーブル23の電圧計測線23bに接続されている。
第1の電圧計15は、ツイストケーブル23の一端側における電圧計測線23aの端部と電圧計測線23bの端部との間に配設され、上記測定電流ループに流れる測定電流Isに起因して電圧計測線23aの端部と電圧計測線23bの端部との間に生じる電圧V1を測定し、測定された電圧V1は図示しない演算処理部(測定装置3内に含まれる)に出力される。第2の電圧計17は、ツイストケーブル25の一端側における電圧計測線25aの端部と電圧計測線25bの端部との間に配設され、上記測定電流ループに流れる測定電流Isに起因して電圧計測線25aの端部と電圧計測線25bの端部との間に生じる電圧V2を測定し、測定された電圧V2は上記した演算処理部に出力される。
The
The
[測定方法]
バッテリセル31のインピーダンス測定については、演算処理部において電流計13で測定された測定電流Is(バッテリセル31に流れる電流)の電流値と、バッテリセル31の両端に発生する電圧V1の電圧値とに基づいて、バッテリセル31のインピーダンスZ31が算出される。
[Measuring method]
Regarding the impedance measurement of the
バッテリセル33のインピーダンス測定については、演算処理部において電流計13で測定された測定電流Is(バッテリセル33に流れる電流)の電流値と、バッテリセル33の両端に発生する電圧V2の電圧値とに基づいて、バッテリセル33のインピーダンスZ33が算出される。
Regarding the impedance measurement of the
なお、バッテリセル31,33のそれぞれの端子間電圧V1,V2の測定は同時に行われ、第1の電圧計15と第2の電圧計17は、測定電流Isの極性(正極、負極)が反転してしまうので測定電流Isの極性に合わせて検出される。本例では電圧計が2つの場合について説明したが、後述するスキャナー(図4参照)を用いた場合には電圧計が1つであっても、測定対象を変更する毎にスキャナーを構成するスイッチによる切替えを行って順次インピーダンス測定すればよい。
The voltages V 1 and V 2 between the terminals of the
[効果]
上記した第1の実施の形態に係るインピーダンス測定システムによれば、一組のバッテリセルを用いてそれぞれのバッテリセルに流れる電流の向きを異ならせる構成にしたので、バッテリセルにおいて磁束の発生を抑制できる。また、測定電流Isを印加する測定信号源11からバッテリセルを介して流れる測定電流ループのループ長を従来(図5参照)の測定電流ループのループ長に比較して最小化できるので測定電流により発生する磁束が漏れるループを最小限にできる。
[effect]
According to the impedance measurement system according to the first embodiment described above, a set of battery cells is used so that the direction of the current flowing through each battery cell is made different, so the generation of magnetic flux in the battery cells can be suppressed. In addition, since the loop length of the measurement current loop that flows from the
電圧計を起点とする電圧検出ループの位置と測定電流ループの位置を分離することができるため、測定電流ループと電圧検出ループの重なり合いによって生じる電磁誘導の影響を低減することができる。また、電圧計が2チャンネルの場合には、2つのバッテリセルが同時に測定できるため測定時間を短縮することができる。なお、ラミネート型バッテリセル以外の円筒型、角型セルや、電池以外の測定対象においても同様に電磁誘導の影響を低減することができる。 Since the position of the voltage detection loop and the position of the measurement current loop starting from the voltmeter can be separated, the influence of electromagnetic induction caused by overlapping of the measurement current loop and the voltage detection loop can be reduced. Also, if the voltmeter has two channels, two battery cells can be measured simultaneously, so the measurement time can be shortened. It should be noted that the influence of electromagnetic induction can be similarly reduced in cylindrical cells other than laminated battery cells, prismatic cells, and measurement objects other than batteries.
<第2の実施の形態>
以下に、図2を参照して本発明に係るインピーダンス測定システムの第2の実施の形態について説明する。なお、本第2の実施の形態においても、上記した第1の実施の形態と同様に、1組のバッテリセルであって、互いに近距離で重ね合わせて配置されているバッテリセルを測定対象の例として説明するが、それ以外の例えば電気回路を構成する素子等であっても適用できる。
<Second Embodiment>
A second embodiment of the impedance measurement system according to the present invention will be described below with reference to FIG. In the second embodiment, as in the first embodiment described above, a set of battery cells, which are arranged so as to overlap each other at a short distance, will be described as an example of an object to be measured. However, the present invention can also be applied to other elements, such as elements that form an electric circuit.
[インピーダンス測定システムの構成]
インピーダンス測定システム40は、バッテリセル61、63に電流計測線(電流ケーブル)51,52、電圧計測線(電圧ケーブル)53,54,55,56を介して接続されるインピーダンス測定装置43を有して構成されている。インピーダンス測定装置43は、測定信号を発生する測定信号源44と、電圧検出手段としての第1の電圧計46及び第2の電圧計48と、電流検出手段としての電流計45を含んで構成されている。なお、測定信号源44は請求項1の測定信号発生源に相当する。
[Configuration of impedance measurement system]
The
[測定装置とバッテリセルとの接続態様]
以下に、インピーダンス測定装置43と測定対象であるバッテリセル61、63との接続態様について説明する。インピーダンス測定装置43で測定対象としてのバッテリセル61、63のそれぞれのインピーダンスZ61,Z63を測定するにあたって、測定信号源44、電流計45、第1の電圧計46、第2の電圧計48とバッテリセル61,63とを電流計測線51,52、電圧計測線53,54,55,56を介して接続させる。ここで、測定信号源44からバッテリセル61,63を介して電流計45に流れる電流の経路である測定電流ループ内に含まれる2つの電流プローブP1、P2と、バッテリセル61の電圧検出の経路である電圧検出ループ内に含まれる2つの電圧プローブP3、P4、バッテリセル63の電圧検出の経路である電圧検出ループ内に含まれる2つの電圧プローブP5、P6が用いられる。また、電流プローブP1、P2の電気配線として電流計測線51,52を互いに捩って形成されたツイストケーブルが用いられ、電圧プローブP3、P4の電気配線として電圧計測線53,54を互いに捩って形成されたツイストケーブルが用いられ、電圧プローブP5、P6の電気配線として電圧計測線55,56を互いに捩って形成されたツイストケーブルが用いられる。
[Connection between measuring device and battery cell]
A connection mode between the
測定信号源44の一対の出力端子(図示せず)の一方は、電流計測線51、電流プローブP1を介してバッテリセル61のタブ端子61aに接続され、測定信号源44の一対の出力端子の他方は、電流計45、電流計測線52、電流プローブP2を介してバッテリセル63のタブ端子63aに接続されている。
One of the pair of output terminals (not shown) of the
このように、バッテリセル61に流れる測定電流の向きとバッテリセル63に流れる測定電流の向きが逆向きになるようにバッテリセル61、63が配置される。図2の例では、バッテリセル61に流れる測定電流の向きは測定信号源44の一方の出力端子から離れる方向に(図2の右向きの矢印)となり、バッテリセル63に流れる測定電流の向きは測定信号源44に向かう向き(図2の左向きの矢印)となり互いに逆向きとなる。
In this manner, the
バッテリセル61のタブ端子61bは、短絡線58を介してバッテリセル63のタブ端子63bに接続されている。第1の電圧計46は、電圧計測線53の端部と電圧計測線54の端部との間に配設され、上記測定電流ループに流れる測定電流Isに起因して電圧計測線53の端部と電圧計測線54の端部との間に生じる電圧V1を測定し、測定された電圧V1は図示しない演算処理部に出力される。
A
第2の電圧計48は、電圧計測線55の端部と電圧計測線56の端部との間に配設され、上記測定電流ループに流れる測定電流Isに起因して電圧計測線55の端部と電圧計測線56の端部との間に生じる電圧V2を測定し、測定された電圧V2は図示しない演算処理部(測定部に含まれる)に出力される。
The
[測定方法]
バッテリセル61のインピーダンス測定については、演算処理部において電流計45で測定された測定電流Is(バッテリセル61に流れる電流)の電流値と、バッテリセル61の両端に発生する電圧V1の電圧値とに基づいて、バッテリセル61のインピーダンスZ61が算出される。
[Measuring method]
Regarding the impedance measurement of the
バッテリセル63のインピーダンス測定については、演算処理部において電流計45で測定された測定電流Is(バッテリセル63に流れる電流)の電流値と、バッテリセル63の両端に発生する電圧V2の電圧値とに基づいて、バッテリセル63のインピーダンスZ63が算出される。
Regarding the impedance measurement of the
なお、バッテリセル61,63のそれぞれの端子間電圧V1,V2の測定は同時に行われ、第1の電圧計46と第2の電圧計48は、測定電流Isの極性(正極、負極)が反転してしまうので測定電流Isの極性に合わせて検出される。本例では電圧計が2つの場合について説明したが、後述するスキャナーを用いた場合には電圧計が1つであっても、測定対象を変更する毎にスキャナーを構成するスイッチによる切替えを行って順次インピーダンス測定すればよい。
Note that the voltages V 1 and V 2 between the terminals of the
[効果]
上記した第2の実施の形態に係るインピーダンス測定システムによれば、一組のバッテリセルを用いてそれぞれのバッテリセル61,63に流れる電流の向きを異ならせる構成にしたので、バッテリセル61,63において磁束の発生を抑制できる。また、測定電流Isを印加する測定信号源44からバッテリセル61,63を介して流れる測定電流ループのループ長を従来(図5参照)の測定電流ループのループ長に比較して最小化できるので測定電流により発生する磁束が漏れるループを最小限にできる。
[effect]
According to the impedance measurement system according to the second embodiment described above, since a set of battery cells is used and the directions of the currents flowing through the
電圧計を起点とする電圧検出ループの位置と測定電流ループの位置を分離することができるため、測定電流ループと電圧検出ループの重なり合いによって生じる電磁誘導の影響を低減することができる。また、電圧計を2つ用いており2つのバッテリセルが同時に測定できるため測定時間を短縮することができる。なお、ラミネート型バッテリセル以外の円筒型、角型セルや、電池以外の測定対象においても同様に電磁誘導の影響を低減することができる。 Since the position of the voltage detection loop and the position of the measurement current loop starting from the voltmeter can be separated, the influence of electromagnetic induction caused by overlapping of the measurement current loop and the voltage detection loop can be reduced. In addition, since two voltmeters are used and two battery cells can be measured simultaneously, the measurement time can be shortened. It should be noted that the influence of electromagnetic induction can be similarly reduced in cylindrical cells other than laminated battery cells, prismatic cells, and measurement objects other than batteries.
<変形例>
以下に、図3を参照して上記した第2の実施の形態に係るインピーダンス測定システムの変形例について説明する。上記した第2の実施の形態では測定対象が一組のバッテリセル(セルの個数は2つ)であるのに対して、本変形例の測定対象は二組のバッテリセル(セルの個数は4つ)であり、互いに近距離で重ね合わせて配置されている。なお、本変形例ではバッテリセルを測定対象の例として説明するが、それ以外の例えば電気回路を構成する素子等であっても適用できる。また、上記した第2の実施の形態とは、インピーダンス測定装置とバッテリセルとの接続態様、バッテリセルの個数が異なる以外は同様であるので、異なる部分のみ説明することとする。
<Modification>
A modification of the impedance measurement system according to the above-described second embodiment will be described below with reference to FIG. In the above-described second embodiment, the object to be measured is a set of battery cells (the number of cells is two), whereas the object to be measured in this modification is two sets of battery cells (the number of cells is four), which are placed one on top of the other at a short distance. In this modified example, a battery cell is described as an example of an object to be measured. Moreover, since it is the same as the above-described second embodiment except for the connection mode between the impedance measuring device and the battery cells and the number of battery cells, only different parts will be described.
[測定装置とバッテリセルとの接続態様]
以下に、インピーダンス測定システム70と測定対象であるバッテリセル91,93,95,97との接続態様について説明する。インピーダンス測定システム70で測定対象としてのバッテリセル91,93,95,97のそれぞれのインピーダンスZ91,Z93,Z95,Z97を測定するにあたって、測定信号源81、電流計82、電圧計83を含んで構成されるインピーダンス測定装置73とバッテリセル91,93,95,97とを電流計測線84,85、電圧計測線86,87を介して接続させる。
測定信号源81の一対の出力端子(図示せず)の一方は、電流計測線84を介してバッテリセル91のタブ端子91bに接続され、測定信号源81の一対の出力端子の他方は、電流計82、電流計測線85を介してバッテリセル97のタブ端子97bに接続されている。バッテリセル91のタブ端子91aとバッテリセル93のタブ端子93bとが短絡線88を介して接続され、バッテリセル93のタブ端子93aとバッテリセル95のタブ端子95bとが短絡線89を介して接続され、バッテリセル95のタブ端子95aとバッテリセル97のタブ端子97aが短絡線90を介して接続されている。
このように、バッテリセル91,93,95,97同志の接続態様を、バッテリセル91,93,95,97のそれぞれに流れる測定電流の向きが隣接するバッテリセルに流れる測定電流の向きと逆向きになるようにしている。
[Connection between measuring device and battery cell]
A connection mode between the
One of the pair of output terminals (not shown) of the
In this manner, the
[測定方法]
バッテリセル91,93,95,97のそれぞれのタブ端子間の電圧測定は、電圧計測線86,87のそれぞれの端部に位置する電圧プローブP3,P4を、測定電流Isの極性に合わせて、バッテリセル91,93,95,97の順に切り替えることによって行われる。具体的には、まず、電圧プローブP3,P4をそれぞれバッテリセル91の一対のタブ端子91b、91aに接続して測定電流Isの極性(例えば正極性)に合わせて、バッテリセル91のタブ端子91b、91a間の電圧V1が計測される。その後電圧プローブP3,P4をそれぞれバッテリセル93の一対のタブ端子93a、93bに接続して測定電流Isの極性(例えば正極性)に合わせて、バッテリセル93のタブ端子93a、93b間の電圧V2が計測される。その後電圧プローブP3,P4をそれぞれバッテリセル95の一対のタブ端子95b、95aに接続して測定電流Isの極性(例えば正極性)に合わせて、バッテリセル95のタブ端子95a、95b間の電圧V3が計測される。その後電圧プローブP3,P4をそれぞれバッテリセル97の一対のタブ端子97b、97aに接続して測定電流Isの極性(例えば正極性)に合わせて、バッテリセル97のタブ端子97a、97b間の電圧V4が計測される。
[Measuring method]
The voltage measurement between the tab terminals of the
[効果]
上記した変形例に係るインピーダンス測定システムによれば、二組のバッテリセルを用いてバッテリセル91,93,95,97のそれぞれに流れる測定電流の向きが隣接するバッテリセルに流れる測定電流の向きと逆向きになるような構成にしたので、バッテリセル91,93,95,97において磁束の発生を抑制できる。また、測定電流Isを印加する測定信号源81からバッテリセル91,93,95,97を介して流れる測定電流ループのループ長を従来(図5参照)の測定電流ループのループ長に比較して最小化できるので測定電流により発生する磁束が漏れるループを最小限にできる。
[effect]
According to the impedance measurement system according to the above modification, two sets of battery cells are used so that the direction of the measurement current flowing in each of the
電圧計を起点とする電圧検出ループの位置と測定電流ループの位置を分離することができるため、測定電流ループと電圧検出ループの重なり合いによって生じる電磁誘導の影響を低減することができる。なお、ラミネート型バッテリセル以外の円筒型、角型セルや、電池以外の測定対象においても同様に電磁誘導の影響を低減することができる。 Since the position of the voltage detection loop and the position of the measurement current loop starting from the voltmeter can be separated, the influence of electromagnetic induction caused by overlapping of the measurement current loop and the voltage detection loop can be reduced. It should be noted that the influence of electromagnetic induction can be similarly reduced in cylindrical cells other than laminated battery cells, prismatic cells, and measurement objects other than batteries.
<第3の実施の形態>
以下に、図4を参照して本発明に係るインピーダンス測定システムの第3の実施の形態について説明する。本第3の実施の形態は、上記した第1の実施の形態に係るインピーダンス測定システムとは、インピーダンス測定装置3とバッテリセル31,33,35,37の間にスキャナー5を配置している点と、一対のバッテリセルが二組配設している点を除いて同様であるので、主に異なる点を詳細に説明する。なお、一方の組のバッテリセル31、33と他方の組のバッテリセル35、37は近接して配置されているが、図4では作図の関係で所定間隔離をおいた状態で示されている。なお、スキャナー5は請求項5の信号選択部に相当する。
<Third Embodiment>
A third embodiment of the impedance measurement system according to the present invention will be described below with reference to FIG. The third embodiment is the same as the impedance measuring system according to the above-described first embodiment, except that the
[インピーダンス測定システムの構成]
インピーダンス測定システム100は、インピーダンス測定装置3と、スキャナー5と、第1の組のバッテリセル31,33、第2の組のバッテリセル35,37を含んで構成されている。インピーダンス測定装置3は、測定信号源11と、第1の電圧計15及び第2の電圧計17と、電流計13とを有して構成されている。シールド線21,27及びツイストケーブル23,25は上記した第1の実施の形態と同様であるが、スキャナー5のスイッチ101~108の選択によってシールド線21はシールド線121,221のいずれかに接続され、ツイストケーブル23はツイストケーブル123,223のいずれかに接続され、ツイストケーブル25はツイストケーブル125,225のいずれかに接続され、シールド線27はシールド線127,227のいずれかに接続される。なお、スイッチ101,102は請求項5の第1のスイッチ群に相当し、スイッチ107,108は請求項5の第2のスイッチ群に相当し、スイッチ103,104及びスイッチ105,106は請求項5の第3のスイッチ群に相当する。なお、電流プローブP1、P2、P3、P4の電気配線としてシールド線121,127,221,227を構成する芯線121aとシールド導体121b(リターン線),芯線127aとシールド導体127b(リターン線),芯線221aとシールド導体221b(リターン線),芯線227aとシールド導体227b(リターン線)において、それぞれの芯線とリターン線はスキャナー5内部の電磁誘導抑制のために互いに近接して並走配置されている。これによって電流ループは小さくなる。また、電圧プローブP5,P7および電圧プローブP6,P8を並走させ電圧計測ループも小さくできる。また、スキャナー5の内部においても、例えば、スイッチ101の端子b1と芯線121aを結ぶ電流計測線と、スイッチ102の端子b2とシールド導体121bを結ぶ電流計測線とを近接で並走させ、スイッチ101の端子c1と芯線221aを結ぶ電流計測線と、スイッチ102の端子c2とシールド導体221bを結ぶ電流計測線とを近接で並走させ、スイッチ107の端子b7と芯線127aを結ぶ電流計測線と、スイッチ108の端子b8とシールド導体127bを結ぶ電流計測線とを近接で並走させ、スイッチ107の端子c7と芯線227aを結ぶ電流計測線と、スイッチ108の端子c8とシールド導体227bを結ぶ電流計測線とを近接で並走させることで、スキャナー5の内部においても電磁誘導を抑制させることができる。さらに、スイッチ103~106とツイストケーブル123,125,223,225を結ぶ電圧計測線についても上記同様に近接で並走させることで、スキャナー5の内部においても電磁誘導を抑制させることができる。
[Configuration of impedance measurement system]
The
[測定装置とバッテリセルとの接続態様]
スキャナー5は、図4に示すように、信号選択部としてのスイッチ101~108を備え、スイッチ101~スイッチ108の選択(切り換え)の態様によって第1の接続態様と第2の接続態様が生じる。したがって、以下では、第1の接続態様と第2の接続態様に分けて説明する。
[Connection between measuring device and battery cell]
As shown in FIG. 4, the
第1の接続態様では、スイッチ101によってシールド線121の芯線121aに接続されている端子b1が選択され、スイッチ102によってシールド線121のシールド導体121bに接続されている端子b2が選択される。スイッチ103によってツイストケーブル123の電圧計測線123aに接続されている端子b3が選択され、スイッチ104によってツイストケーブル123の電圧計測線123bに接続されている端子b4が選択される。スイッチ105によってツイストケーブル125の電圧計測線125aに接続されている端子b5が選択され、スイッチ106によってツイストケーブル125の電圧計測線125bに接続されている端子b6が選択される。スイッチ107によってシールド線127の芯線127aに接続されている端子b7が選択され、スイッチ108によってシールド線127のシールド導体127bに接続されている端子b8が選択される。
In the first connection mode, the
この第1の接続態様によって、演算処理部において電流計13で測定された測定電流Is(バッテリセル31に流れる電流)の電流値と、電圧計15で測定されたバッテリセル31の両端に発生する電圧V1の電圧値とに基づいて、バッテリセル31のインピーダンスZ31が算出される。さらに、演算処理部において電流計13で測定された測定電流Is(バッテリセル33に流れる電流)の電流値と、電圧計17で測定されたバッテリセル33の両端に発生する電圧V2の電圧値とに基づいて、バッテリセル33のインピーダンスZ33が算出される。その後、後述する第2の接続態様において図示しない操作部によって切換え操作を行ってバッテリセル35,37のインピーダンスZ35,Z37が算出される。
With this first connection mode, the impedance Z31 of the
なお、端子a1~a4,a7,a8、b1~b4,b7,b8と請求項5に記載の用語との対応関係については、端子a1は請求項5の「第1の入力端子」に相当し、端子a2は「第2の入力端子」に相当し、端子a3は「第5の入力端子」に相当し、端子a4は「第6の入力端子」に相当し、端子a7は「第3の入力端子」に相当し、端子a8は「第4の入力端子」に相当し、端子b1は「第1の出力端子」に相当し、端子b2は「第2の出力端子」に相当し、端子b3は「第5の出力端子」に相当し、端子b4は「第6の出力端子」に相当し、端子b7は「第3の出力端子」に相当し、端子b8は「第4の出力端子」に相当する。
Regarding the correspondence between the terminals a1 to a4, a7, a8, b1 to b4, b7, and b8 and the terms in
第2の接続態様では、スイッチ101によってシールド線221の芯線221aに接続されている端子c1が選択され、スイッチ102によってシールド線221のシールド導体221bに接続されている端子c2が選択される。スイッチ103によってツイストケーブル223の電圧計測線223aに接続されている端子c3が選択され、スイッチ104によってツイストケーブル223の電圧計測線223bに接続されている端子c4が選択される。スイッチ105によってツイストケーブル225の電圧計測線225aに接続されている端子c5が選択され、スイッチ106によってツイストケーブル225の電圧計測線225bに接続されている端子c6が選択される。スイッチ107によってシールド線227の芯線227aに接続されている端子c7が選択され、スイッチ108によってシールド線227のシールド導体227bに接続されている端子c8が選択される。なお、プローブP11~P18の機能は、それぞれ上記した第1の接続態様におけるプローブP1~P8の機能と同様である。
In the second connection mode, the terminal c1 connected to the core wire 221a of the shielded
この第2の接続態様によって、演算処理部において電流計13で測定された測定電流Is(バッテリセル35に流れる電流)の電流値と、電圧計15で測定されたバッテリセル35の両端に発生する電圧V1の電圧値とに基づいて、バッテリセル35のインピーダンスZ35が算出される。さらに、演算処理部において電流計13で測定された測定電流Is(バッテリセル33に流れる電流)の電流値と、電圧計17で測定されたバッテリセル37の両端に発生する電圧V2の電圧値とに基づいて、バッテリセル37のインピーダンスZ37が算出される。
With this second connection mode, the impedance Z 35 of the
なお、上記したスキャナー5は8チャンネル(8入力)の構成であるが、チャンネル数をさらに増やせば、測定対象であるバッテリセルの組数を増加することができることはいうまでもない。また、電圧計15、17に接続される電圧計測線はツイストケーブルでなくシールド線であってもよい。
Although the
[効果]
上記したように、本第3の実施の形態によれば、上記した第1の実施の形態に係るインピーダンス測定システムで得られる効果に加えて、測定対象となるバッテリセルの組数を増加させることができ、より効率的なインピーダンス測定を実施することができる。
[effect]
As described above, according to the third embodiment, in addition to the effects obtained by the impedance measurement system according to the first embodiment, the number of sets of battery cells to be measured can be increased, and more efficient impedance measurement can be performed.
1,40,70,100 インピーダンス測定システム
3,43,73 インピーダンス測定装置
5 スキャナー
11,44,81 測定信号源
13,45,82 電流計
15,17,46,48,83 電圧計
21,35,27,121,127,221,227 シールド線
21a,27a,121a,127a,221a,227a 芯線
21b,27b,121b,127b,221b,227b シールド導体
23,25,123,125,223,225 ツイストケーブル
23a,25a,123a,125a,223a,225a,23b,25b,123b,125b,223b,225b 電圧計測線
31,33,35,37,61,63,91,93,95,97 バッテリセル
31a,31b,33a,33b,35a,35b,37a,37b,61a,61b,63a,63b,91a,91b,93a,93b,95a,95b,97a,97b タブ端子
51,52,84,85 電流計測線
53,54,55,56,86,87 電圧計測線
58,88,89,90 短絡線
101,102,103,104,105,106,107,108 スイッチ
1, 40, 70, 100
Claims (5)
前記測定対象電子部品に流れる電流を検出する電流検出部と、
前記測定対象電子部品の端子間に発生する電圧を測定する電圧検出部とを含み、
前記測定対象電子部品のインピーダンスを測定するインピーダンス測定装置を有するインピーダンス測定システムであって、
前記測定対象電子部品は、少なくとも一対の端子を有し、
前記測定信号発生源は、少なくとも一対の出力端子を有し、
前記測定対象電子部品は、互いに重ね合わされて配設された二つの測定対象電子部品が一組となり、該一組の測定対象電子部品は、一方の測定対象電子部品の一方の端子と、他方の測定対象電子部品の一方の端子とが短絡して直列に接続され、一方の測定対象電子部品に流れる電流の向きが、他方の測定対象電子部品に流れる電流の向きと逆方向となるように電流経路が形成され、
前記一組の測定対象電子部品の一方の測定対象電子部品であって他方の測定対象電子部品に接続されない端子に、前記測定信号発生源の一方の出力端子に接続されるプローブが接続され、
前記一組の測定対象電子部品の他方の測定対象電子部品であって前記一方の測定対象電子部品の端子に接続されない端子に、前記測定信号発生源の他方の出力端子に接続されるプローブが接続され、
それぞれの前記測定対象電子部品の一対の端子には、前記電圧検出部に接続されるプローブが接続される、
ことを特徴とするインピーダンス測定システム。 a measurement signal generation source that supplies a measurement signal of a predetermined frequency to the electronic component to be measured;
a current detection unit that detects a current flowing through the electronic component to be measured;
a voltage detection unit that measures a voltage generated between terminals of the electronic component to be measured;
An impedance measurement system having an impedance measurement device that measures the impedance of the electronic component to be measured,
The electronic component to be measured has at least one pair of terminals,
The measurement signal source has at least one pair of output terminals,
The electronic component to be measured is a set of two electronic components to be measured that are placed one on top of the other, and in the set of electronic components to be measured, one terminal of one electronic component to be measured and one terminal of the other electronic component to be measured are short-circuited and connected in series, and a current path is formed such that the direction of the current flowing through one electronic component is opposite to the direction of the current flowing through the other electronic component.
A probe connected to one output terminal of the measurement signal generation source is connected to a terminal of one of the set of electronic components to be measured that is not connected to the other electronic component to be measured,
A probe connected to the other output terminal of the measurement signal generation source is connected to a terminal of the other electronic component to be measured of the set of electronic components to be measured that is not connected to a terminal of the one electronic component to be measured,
A probe connected to the voltage detection unit is connected to a pair of terminals of each of the electronic components to be measured,
An impedance measurement system characterized by:
ことを特徴とする請求項1に記載のインピーダンス測定システム。 When a plurality of sets of the set of electronic components to be measured are arranged, the voltage detection units are arranged in a number corresponding to one electronic component to be measured and the other electronic component to be measured among the electronic components to be measured in each set, and the voltage between both terminals of each electronic component to be measured in each set is detected by each voltage detection unit.
The impedance measurement system according to claim 1, characterized in that:
前記測定対象電子部品に流れる電流を検出する電流検出部と、
前記測定対象電子部品の端子間に発生する電圧を測定する電圧検出部とを含み、
前記測定対象電子部品のインピーダンスを測定するインピーダンス測定装置を有するインピーダンス測定システムであって、
前記測定対象電子部品は、少なくとも一対の端子を有し、
前記測定信号発生源は、少なくとも一対の出力端子を有し、
前記測定対象電子部品は、互いに重ね合わされて配設された二つの測定対象電子部品が一組となり、該一組の測定対象電子部品は、一方の測定対象電子部品の一方の端子と、他方の測定対象電子部品の一方の端子とが短絡して直列に接続され、一方の測定対象電子部品に流れる電流の向きが、他方の測定対象電子部品に流れる電流の向きと逆方向となるように電流経路が形成され、
前記測定対象電子部品が第1の測定対象電子部品~第n(nは2以上の偶数)の測定対象電子部品から構成され、第1の測定対象電子部品~第nの測定対象電子部品がその順に互いに隣接して配置されている場合に、前記第1の測定対象電子部品の前記測定信号発生源側にある端子に前記測定信号発生源の一対の出力端子の一方に接続されるプローブが接続され、
前記第nの測定対象電子部品の前記測定信号発生源側にある端子に前記測定信号発生源の一対の出力端子の他方に接続されるプローブが接続され、
前記第1の測定対象電子部品から前記第nの測定対象電子部品までが直列に接続されるように隣接する測定対象電子部品において自己側の一方の端子と相手側の他方の端子とが短絡され、
それぞれの前記測定対象電子部品の一対の端子には、前記電圧検出部に接続されるプローブが接続される、
ことを特徴とするインピーダンス測定システム。 a measurement signal generation source that supplies a measurement signal of a predetermined frequency to the electronic component to be measured;
a current detection unit that detects a current flowing through the electronic component to be measured;
a voltage detection unit that measures a voltage generated between terminals of the electronic component to be measured;
An impedance measurement system having an impedance measurement device that measures the impedance of the electronic component to be measured,
The electronic component to be measured has at least one pair of terminals,
The measurement signal source has at least one pair of output terminals,
The electronic component to be measured is a set of two electronic components to be measured that are placed one on top of the other, and in the set of electronic components to be measured, one terminal of one electronic component to be measured and one terminal of the other electronic component to be measured are short-circuited and connected in series, and a current path is formed such that the direction of the current flowing through one electronic component is opposite to the direction of the current flowing through the other electronic component.
When the electronic component under test comprises a first electronic component under test to n-th (n is an even number equal to or greater than 2) electronic components under test, and the first electronic component under test through the n-th electronic component under test are arranged adjacent to each other in that order, a probe connected to one of a pair of output terminals of the measurement signal generation source is connected to a terminal of the first electronic component under test on the side of the measurement signal generation source,
a probe connected to the other of a pair of output terminals of the measurement signal generation source is connected to a terminal on the measurement signal generation source side of the nth electronic component to be measured;
one terminal on the self side and the other terminal on the other side of adjacent electronic components to be measured are short-circuited so that the first electronic component to the n-th electronic component to be measured are connected in series;
A probe connected to the voltage detection unit is connected to a pair of terminals of each of the electronic components to be measured,
An impedance measurement system characterized by:
複数のスイッチを有する信号選択部を備え、
前記複数のスイッチは、少なくとも前記測定信号発生源に接続された第1のスイッチ群と、電流検出部に接続された第2のスイッチ群と、電圧検出部に接続された第3のスイッチ群とからなり、
前記第1のスイッチ群は、
前記測定信号発生源の出力側に接続されている第1の入力端子と、
前記第1の入力端子と接断され前記複数組の測定対象電子部品の一組の測定対象電子部品側に接続されている第1の出力端子と、
前記第1の入力端子と接断され前記複数組の測定対象電子部品の他の組の測定対象電子部品側に接続されている第2の出力端子と、
前記測定信号発生源の入力側に接続されている第2の入力端子と、
前記第2の入力端子と接断され前記複数組の測定対象電子部品の一組の測定対象電子部品側に接続されている第3の出力端子と、
前記第2の入力端子と接断され前記複数組の測定対象電子部品の他の組の測定対象電子部品側に接続されている第4の出力端子と、
を含んで構成され、
前記第2のスイッチ群は、
前記電流検出部に接続されている第3の入力端子と、
前記第3の入力端子と接断され前記複数組の測定対象電子部品の一組の測定対象電子部品側に接続されている第5の出力端子と、
前記第3の入力端子と接断され前記複数組の測定対象電子部品の他の組の測定対象電子部品側に接続されている第6の出力端子と、
前記電流検出部に接続されている第4の入力端子と、
前記第4の入力端子と接断され前記複数組の測定対象電子部品の一組の測定対象電子部品側に接続されている第7の出力端子と、
前記第4の入力端子と接断され前記複数組の測定対象電子部品の他の組の測定対象電子部品側に接続されている第8の出力端子と、
を含んで構成され、
前記第3のスイッチ群は、
前記電圧検出部に接続されている第5の入力端子と、
前記第5の入力端子と接断され前記複数組の測定対象電子部品の一組の測定対象電子部品側に接続されている第9の出力端子と、
前記第5の入力端子と接断され前記複数組の測定対象電子部品の他の組の測定対象電子部品側に接続されている第10の出力端子と、
前記電圧検出部に接続されている第6の入力端子と、
前記第6の入力端子と接断され前記複数組の測定対象電子部品の一組の測定対象電子部品側に接続されている第11の出力端子と、
前記第6の入力端子と接断され前記複数組の測定対象電子部品の他の組の測定対象電子部品側に接続されている第12の出力端子と、
を含んで構成され、
前記信号選択部は、前記複数組の測定対象電子部品の各組ごとに、測定対象の変更に応じて前記第1のスイッチ群~第3のスイッチ群における前記第1の出力端子と前記第2の出力端子、前記第3の出力端子と前記第4の出力端子、前記第5の出力端子と前記第6の出力端子、前記第7の出力端子と前記第8の出力端子、前記第9の出力端子と前記第10の出力端子、前記第11の出力端子と前記第12の出力端子とを切替え、
前記切替えによって、前記各組の測定対象電子部品の一方及び他方の測定対象電子部品の両端にかかる電圧が前記各組の測定対象電子部品ごとに検出される、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載のインピーダンス測定システム。 When a plurality of sets of the set of electronic components to be measured are arranged,
A signal selection unit having a plurality of switches,
The plurality of switches comprise at least a first switch group connected to the measurement signal generation source, a second switch group connected to the current detection section, and a third switch group connected to the voltage detection section,
The first switch group is
a first input terminal connected to the output side of the measurement signal source;
a first output terminal connected to and disconnected from the first input terminal and connected to one set of the plurality of sets of electronic components to be measured;
a second output terminal connected to and disconnected from the first input terminal and connected to another set of electronic components to be measured among the plurality of sets of electronic components to be measured;
a second input terminal connected to the input side of the measurement signal source;
a third output terminal connected to and disconnected from the second input terminal and connected to one set of the plurality of sets of electronic components to be measured;
a fourth output terminal connected to and disconnected from the second input terminal and connected to another set of electronic components to be measured among the plurality of sets of electronic components to be measured;
consists of
The second switch group is
a third input terminal connected to the current detection unit;
a fifth output terminal connected to and disconnected from the third input terminal and connected to one set of the plurality of sets of electronic components to be measured;
a sixth output terminal connected to and disconnected from the third input terminal and connected to another set of electronic components to be measured among the plurality of sets of electronic components to be measured;
a fourth input terminal connected to the current detection unit;
a seventh output terminal connected to and disconnected from the fourth input terminal and connected to one set of the plurality of sets of electronic components to be measured;
an eighth output terminal connected to and disconnected from the fourth input terminal and connected to another set of electronic components to be measured among the plurality of sets of electronic components to be measured;
consists of
The third switch group is
a fifth input terminal connected to the voltage detection unit;
a ninth output terminal connected to and disconnected from the fifth input terminal and connected to one set of the plurality of sets of electronic components to be measured;
a tenth output terminal connected to and disconnected from the fifth input terminal and connected to another set of electronic components to be measured among the plurality of sets of electronic components to be measured;
a sixth input terminal connected to the voltage detection unit;
an eleventh output terminal connected to and disconnected from the sixth input terminal and connected to one set of the plurality of sets of electronic components to be measured;
a twelfth output terminal connected to and disconnected from the sixth input terminal and connected to another set of electronic components to be measured among the plurality of sets of electronic components to be measured;
consists of
The signal selection unit connects the first output terminal and the second output terminal, the third output terminal and the fourth output terminal, the fifth output terminal and the sixth output terminal, the seventh output terminal and the eighth output terminal, the ninth output terminal and the tenth output terminal, the eleventh output terminal and the first output terminal in the first switch group to the third switch group according to a change in the measurement target for each of the plurality of sets of electronic components to be measured. 2 output terminals,
By the switching, a voltage applied to both ends of one of the sets of electronic components to be measured and the other of the electronic components to be measured is detected for each of the sets of electronic components to be measured.
3. The impedance measurement system according to claim 1 or 2, characterized in that:
電流検出部が、前記測定対象電子部品に流れる電流を検出し、
電圧検出部が、前記測定対象電子部品の端子間に発生する電圧を測定し、
検出された電流の電流値と測定された電圧の電圧値に基づいて前記測定対象電子部品のインピーダンスを測定するインピーダンス測定方法であって、
前記測定対象電子部品は、少なくとも一対の端子を有し、
前記測定対象電子部品は、互いに重ね合わされて配設された二つの測定対象電子部品が一組となり、該一組の測定対象電子部品は、前記一組の測定対象電子部品の一方の端子と、他方の測定対象電子部品の一方の端子とが短絡して直列に接続され、一方の測定対象電子部品に流れる電流の向きが、他方の測定対象電子部品に流れる電流の向きと逆方向となるように電流経路が形成され、
前記一組の測定対象電子部品の一方の測定対象電子部品であって他の測定対象電子部品に接続されない端子に、前記測定信号発生源の出力に接続されるプローブを接続し、
前記一組の測定対象電子部品の他方の測定対象電子部品であって前記一方の測定対象電子部品の端子に接続されない端子に、前記測定信号発生源の入力に接続されるプローブを接続し、
それぞれの前記測定対象電子部品の一対の端子には、前記電圧検出部に接続されるプローブを接続する、
ことを特徴とするインピーダンス測定方法。 a measurement signal source supplying a measurement signal of a predetermined frequency to the electronic component to be measured;
A current detection unit detects a current flowing through the electronic component to be measured,
A voltage detection unit measures a voltage generated between terminals of the electronic component to be measured,
An impedance measurement method for measuring the impedance of the electronic component to be measured based on the current value of the detected current and the voltage value of the measured voltage,
The electronic component to be measured has at least one pair of terminals,
The electronic component to be measured is a set of two electronic components to be measured that are placed one on top of the other, and the pair of electronic components to be measured is connected in series by short-circuiting one terminal of the electronic component to be measured and one terminal of the other electronic component to be measured, and a current path is formed such that the direction of the current flowing through one electronic component is opposite to the direction of the current flowing through the other electronic component.
connecting a probe connected to the output of the measurement signal generation source to a terminal of one of the set of electronic components to be measured that is not connected to another electronic component to be measured;
connecting a probe connected to the input of the measurement signal generation source to a terminal of the other electronic component to be measured of the set of electronic components to be measured that is not connected to a terminal of the one electronic component to be measured;
A probe connected to the voltage detection unit is connected to a pair of terminals of each of the electronic components to be measured.
An impedance measurement method characterized by:
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