JP7302252B2 - 画像処理装置 - Google Patents

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本発明は、画像処理装置に関する。
特許文献1は、電流検知回路で検出した電流を電流積分回路で積分し、基準トナーパターンを転写するときに移動したトナーの総電荷量を求める。そして、トナーの総電荷量と転写トナーパターンの単位面積あたりのトナー付着量とからトナー帯電量を求めている。
特開平6-43719号公報
しかしながら、特許文献1に記載されたトナー帯電量の検出装置は、トナーの総電荷量の算出において、現像バイアス電圧による電荷が注入されていることを考慮していない。特に、一成分現像剤を使用する現像装置においては、現像バイアス電圧に起因する電荷が現像電流に含まれるため、現像ローラー上の現像剤の帯電量を正確に計測できないという課題がある。
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、現像ローラー上の現像剤の帯電量を好適に推測することができる画像処理装置を提供することを目的とする。
本発明の一局面によれば、画像処理装置は、感光体と、現像ローラーと、電圧印加部と、測定部と、制御部とを備える。前記感光体は、静電潜像が形成される。前記現像ローラーは、現像剤により前記感光体の前記静電潜像を現像する。前記電圧印加部は、前記現像ローラーに現像バイアス電圧を印加する。前記測定部は、前記現像剤の帯電量と前記現像バイアス電圧とに基づく現像電流の電流値を測定する。前記制御部は、前記現像ローラーに複数の互いに異なる電圧値の前記現像バイアス電圧を印加したときの、それぞれの前記電圧値における前記現像電流の前記電流値に基づいて、前記現像バイアス電圧が印加されていないときの前記現像電流の推測電流値を推測する。
本発明によれば、現像ローラー上の現像剤の帯電量を好適に推測することができる。
本発明の本実施形態に係る画像処理装置を示す図である。 本実施形態に係る画像処理装置の画像形成部を示す図である。 本実施形態に係る画像処理装置の第1具体例および第2具体例を示す図である。 本実施形態に係る画像処理装置の第3具体例を示す図である。 本実施形態に係る画像処理装置の動作を示すフローチャートである。 本実施形態に係る画像処理装置の変形例を示す図である。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。なお、図中、同一または相当部分については同一の参照符号を付して説明を繰り返さない。
まず、図1を参照して、本実施形態に係る画像処理装置100について説明する。図1は、画像処理装置100を示す図である。
図1に示すように、画像処理装置100は、読取部22と、給送部24と、搬送部26と、画像形成部2と、定着装置28と、排出部30とを備える。
読取部22は、原稿Gの画像を読み取る。読取部22は、読み取った画像から画像データを生成する。給送部24は、複数のシートSを収容し、搬送部26へシートSを給送する。シートSは、例えば、紙製または合成樹脂製のシートである。搬送部26は、複数の搬送ローラー対を含み、画像形成部2にシートSを搬送する。
画像形成部2は、現像剤gによりシートSに画像を形成する。現像剤gは、例えば、トナーである。現像剤gは、一成分トナーであってもよく、二成分トナーであってもよい。しかし、本実施形態に係る画像処理装置100においては、二成分トナーよりも一成分トナーの方がより好適に後述する効果を奏する。二成分トナーよりも一成分トナーの方が、後述する現像バイアス電圧Vの影響をより大きく受けるからである。以降の本実施形態に係る画像処理装置100では、現像剤gは、一例として一成分トナーであることを前提に説明する。
画像形成部2は、電子写真方式によってシートSにトナー像を形成する。具体的には、画像形成部2は、感光体ドラムと、帯電装置と、露光装置と、現像装置と、補給装置と、転写装置と、クリーニング装置と、除電装置とを含む。
トナー像は、例えば、原稿Gの画像を示す。定着装置28は、トナー像を加熱および加圧して、シートSにトナー像を定着させる。搬送部26は、トナー像の定着されたシートSを排出部30に搬送する。排出部30は、画像処理装置100の外部にシートSを排出する。
次に、図2を参照して、画像処理装置100に備えられた画像形成部2の詳細を説明する。図2は、画像形成部2を示す図である。
図2に示すように、画像処理装置100は、画像形成部2を備える。画像形成部2は、感光体4と、現像ローラー6と、帯電部材8と、電圧印加部10と、測定部12と、制御部14とを含む。感光体4には、静電潜像seが形成される。現像ローラー6は、現像剤gにより感光体4の静電潜像seを現像する。帯電部材8は、現像剤gを帯電させる。電圧印加部10は、現像ローラー6に現像バイアス電圧Vを印加する。測定部12は、現像剤gの帯電量Qと現像バイアス電圧Vとに基づく現像電流Iの電流値Inを測定する。制御部14は、現像ローラー6に複数の互いに異なる電圧値Vnの現像バイアス電圧Vを印加したときの、それぞれの電圧値Vnにおける現像電流Iの電流値Inに基づいて、現像バイアス電圧Vが印加されていないときの現像電流Iの推測電流値Igを推測する。
現像電流Iは、電荷qが印加された現像剤gが、現像ローラー6から感光体4へ転移することによって生じる。現像電流Iが変化するということは、現像ローラー6から感光体4への現像剤gの転移量が変化することを意味する。例えば、現像剤gの帯電量Qが減少すると、現像ローラー6から感光体4への現像剤gの転移量が減少するため、印字濃度が減少する。従って、印字濃度を適切に制御するため、現像電流Iを知ることは重要である。
一方で、現像ローラー6には現像バイアス電圧Vが印加されているため、現像剤gの帯電量Qを直接計測することはできない。つまり、現像ローラー6上の帯電量Qmには、現像バイアス電圧Vが現像ローラー6に印加されて発生する電界による注入電荷Qcが加わり、Q=Qm+Qcとなる。そのため、感光体4に流れる現像電流Iを測定部12で測定することにより、帯電量Qを推測することが一般に行われている。
すなわち、現像ローラー6の現像剤gで感光体4の静電潜像seを現像しないときは現像電流Iが流れないため、測定部12で現像電流Iを測定することはできない。一方で、現像ローラー6の現像剤gで感光体4の静電潜像seを現像するときは、電圧印加部10により現像ローラー6に現像バイアス電圧Vが印加されている。その結果、測定部12は、現像剤gに帯電した電荷qに起因する電流Iqに加えて、現像バイアス電圧Vに起因する電流Ibも重畳された現像電流Iを測定する。従って、現像剤gに帯電した電荷qに起因する電流Iqのみを測定することは困難である。
本実施形態では、電圧印加部10が、現像ローラー6に複数の互いに異なる電圧値Vnの現像バイアス電圧Vを印加する。測定部12は、それぞれの電圧値Vnにおける現像電流Iの電流値Inを測定する。制御部14は、電圧値Vnと電流値Inとの組み合わせを複数取得し、電圧値Vnと電流値Inとの複数の組み合わせに基づいて、現像バイアス電圧Vが印加されていないときの現像電流Iの推測電流値Igを推測する。推測電流値Igに基づいて、現像ローラー6上の現像剤gの帯電量Qを推測することができる。
(実施例)
具体的には、以下のような条件で実験を行うことにより、本発明を実証できる。
画像形成速度:40枚/min、感光体4の収束:240.28mm/sec、感光体4の径:30mm、感光体4から現像ローラー6までの距離:0.30mm、感光体4の材質:アモルファスシリコン、感光体4の表面電位:220v、現像ローラー6の径:20mm、現像ローラー6の表面形状:ブラスト、現像ローラー6の印加電圧:135V、現像ローラー6の線速:384mm/sec、および現像剤g:6.8μm、正帯電性。
本実施形態によれば、画像処理装置100は、現像ローラー6上の現像剤gの帯電量Qを好適に推測することができる。
(第1具体例)
次に、図3を参照して、制御部14が現像剤gの帯電量Qを推測する第1具体例を説明する。図3は、画像処理装置100の第1具体例を示す図である。第1具体例では、制御部14は、現像ローラー6に複数の互いに異なる電圧値Vnの現像バイアス電圧Vを印加したときの、それぞれの電圧値Vnにおける現像電流Iの電流値Inに基づいて近似式fを導出し、近似式fに基づいて推測電流値Igを推測する。
電圧印加部10は、現像ローラー6に複数の互いに異なる電圧値Vnの現像バイアス電圧Vを印加する。測定部12は、それぞれの電圧値Vnにおける現像電流Iの電流値Inを測定する。
制御部14は、電圧値Vnと電流値Inとの組み合わせを複数取得し、電圧値Vnと電流値Inとの複数の組み合わせに基づいて、近似式fを導出する。近似式fは、一般に近似曲線または近似直線を表す。
近似式fを用いることにより、近似式fにおいて、現像バイアス電圧Vの電圧値Vnが0のときの電流値Inを、現像バイアス電圧Vが印加されていないときの現像電流Iの推測電流値Igとして算出できる。近似式fを用いて算出された推測電流値Igに基づいて、現像ローラー6上の現像剤gの帯電量Qをさらに好適に推測することができる。
具体的には、図3に示すように、電圧印加部10は、現像ローラー6に、電圧値V1、V2、V3、・・・、の電圧を印加する。このとき、V1<V2<V3<・・・<Vnである。測定部12は、電圧値V1の時の電流値I1、電圧値V2の時の電流値I2、電圧値V3の時の電流値I3、・・・、を測定する。制御部14は、V1とI1、V2とI2、V3とI3、・・・、の組み合わせを取得する。
そして、制御部14は、V1とI1、V2とI2、V3とI3、・・・、の組み合わせから近似式fを導出する。図3に示す例では、近似式fは、VnとInとの一次関数の直線である。すなわち、制御部14は、V1とI1、V2とI2、V3とI3、・・・、の組み合わせから、一次関数の傾きをa、In軸の切片をbとする近似式f:I=f(V)=aV+bの一次関数式を導出する。但し、近似式fは、一次関数に限られない。二次関数、または三次以上の次元のn次元関数であってもよい。
制御部14は、現像バイアス電圧V=0のときのf(0)=bを導出する。bの値は、現像バイアス電圧V=0のときの現像電流Iの推測電流値Igである。現像電流Iは、現像剤gに帯電した電荷qを時間積分して得られるから、推測電流値Igを時間で微分することにより、現像剤gの帯電量Qを算出することができる。
本実施形態によれば、画像処理装置100は、現像ローラー6上の現像剤gの帯電量Qをさらに好適に推測することができる。
(第2具体例)
引き続き、図3を参照して、制御部14が現像剤gの帯電量Qを推測する第2具体例を説明する。
第2具体例では、画像処理装置100の画像形成部2は、感光体4および現像ローラー6を駆動する駆動部16をさらに備える。
駆動部16は、複数の線速比Vsnで感光体4と現像ローラー6とを駆動する。電圧印加部10は、複数の線速比Vsnごとに、現像ローラー6に複数の互いに異なる電圧値Vnの現像バイアス電圧Vを印加する。
測定部12は、複数の線速比Vsnごとに、それぞれの電圧値Vnにおける現像電流Iの電流値Inを測定する。
制御部14は、複数の線速比Vsnごとに近似式fnを導出し、複数の近似式fnに基づいて推測電流値Igを推測する。
制御部14は、感光体4と現像ローラー6との線速比Vsnを複数設定する。具体的には、線速比Vs1と線速比Vs2(Vs1>Vs2)を設定する。
電圧印加部10は、線速比Vs1において、現像ローラー6に複数の互いに異なる電圧値Vnの現像バイアス電圧Vを印加する。
駆動部16は、線速比Vs1で感光体4と現像ローラー6とを駆動する。
測定部12は、線速比Vs1において、現像ローラー6に複数の互いに異なる電圧値Vnの現像バイアス電圧Vを印加したときの、それぞれの電圧値Vnにおける現像電流Iの電流値Inを測定する。
制御部14は、線速比Vs1において、電圧値Vnと電流値Inとの組み合わせを複数取得し、電圧値Vnと電流値Inとの複数の組み合わせに基づいて、近似式f1を導出する。
次に、電圧印加部10は、線速比Vs2において、現像ローラー6に複数の互いに異なる電圧値Vnの現像バイアス電圧Vを印加する。
駆動部16は、線速比Vs2で感光体4と現像ローラー6とを駆動する。
測定部12は、線速比Vs2において、現像ローラー6に複数の互いに異なる電圧値Vnの現像バイアス電圧Vを印加したときの、それぞれの電圧値Vnにおける現像電流Iの電流値Inを測定する。
制御部14は、線速比Vs2において、電圧値Vnと電流値Inとの組み合わせを複数取得し、電圧値Vnと電流値Inとの複数の組み合わせに基づいて、近似式f2を導出する。
制御部14は、近似式f1と近似式f2とにおいて、電流値Inが一致する電圧値Vnを算出する。すなわち、近似式f1に基づく近似曲線と近似式f2に基づく近似曲線との交点を導出する。その電圧値Vnにおける電流値Inを推測電流値Igと推測する。
または、制御部14は、複数の近似式fnを導出して、それぞれの推測電流値Ignを導出し、複数の推測電流値Ignの平均値、中央値などを推測電流値Igとしてもよい。
本実施形態によれば、1つの近似式fを用いるよりも、複数の近似式fnを用いる方が、現像バイアス電圧Vが印加されていないときの現像電流Iの推測電流値Igをより正確に算出できる。
また、本実施形態によれば、画像処理装置100は、現像ローラー6上の現像剤gの帯電量Qをさらに好適に推測することができる。
(第3具体例)
次に、図4を参照して、画像処理装置100の第3具体例を説明する。図4は、画像処理装置100の第3具体例を示す図である。図4は、横軸に画像形成枚数をとり、縦軸に感光体4上に形成された現像剤gによる画像濃度(ID:Image Density)をとり、画像形成枚数と画像濃度の実測値との関係を表している。
第3具体例では、画像処理装置100の画像形成部2は、推測電流値Igに基づいて、現像バイアス電圧Vを補正する補正部18をさらに備える。
一般に、現像剤gの帯電量Qと感光体4上の現像剤gの濃度とは比例関係にある。すなわち、現像剤gの帯電量Qが低下すると、感光体4上の現像剤gの濃度は低下する。別言すれば、現像剤gの帯電量Qと現像電流Iの推測電流値Igとは正比例の関係にある。従って、現像電流Iの推測電流値Igが低下すると、感光体4上の現像剤gの濃度は低下する。
補正部18は、推測電流値Igが減少していることを検知し、現像バイアス電圧Vを増加させるよう補正する。現像バイアス電圧Vを増加するよう補正することによって、図4に示すように、感光体4上の現像剤gの濃度が補正され、現像剤gの濃度の低下が抑制される。
本実施形態によれば、感光体4上の現像剤gの濃度の低下を抑えることができる。
次に、図5を参照して、画像処理装置100の動作を説明する。図5は、画像処理装置100の動作を示すフローチャートである。図5に示すように、処理はステップS10からステップS20を含む。具体的には次の通りである。
図5に示すように、まず、ステップS10において、感光体4に静電潜像seが形成される。処理は、ステップS12に進む。
ステップS12において、現像ローラー6は、感光体4の静電潜像seを現像する。処理は、ステップS14に進む。
ステップS14において、帯電部材8は、現像剤gを帯電させる。処理は、ステップS16に進む。
ステップS16において、電圧印加部10は、現像ローラー6に現像バイアス電圧Vを印加する。処理は、ステップS18に進む。
ステップS18において、測定部12は、現像電流Iの電流値Inを測定する。処理は、ステップS20に進む。
ステップS20において、制御部14は、近似式fを導出する。処理は、ステップS22に進む。
ステップS22において、制御部14は、現像電流Iの推測電流値Igを推測する。処理は、ステップS24に進む。
ステップS24において、補正部18は、推測電流値Igに基づいて、現像バイアス電圧Vを補正することによって、現像剤gの濃度を補正する。そして、処理は終了する。
(第1変形例)
次に、図6を参照して、本実施形態に係る画像処理装置100の第1変形例を説明する。図6は、第1変形例を示す図である。図6は、横軸に印字枚数をとり、縦軸に感光体4と現像ローラー6との複数の線速比Vsnごとに算出された複数の帯電量Qの比(QH/QL)をとる。図6は、所定の印字枚数ごとに測定部12によって実測された現像電流Iの電流値Inに基づいて算出された帯電量Qの比(QH/QL)の変化を示す。
感光体4と現像ローラー6との線速比Vsnに対する現像剤gの挙動の違いから感光体4上の現像剤gの濃度が変化する。感光体4上の現像剤gの濃度が変化することによって、現像電流Iが変化することを利用して、現像剤gの状態推定が可能である。
第1変形例では、制御部14は、測定部12が感光体4と現像ローラー6との複数の線速比Vsnごとに測定したそれぞれの電圧値Vnにおける現像電流Iの電流値Inから、現像剤gの帯電量Qを算出し、所定の印字枚数ごとの帯電量Qの比の変化から、現像剤gの状態を推定する。
具体的には、駆動部16は、線速比VsHと、線速比VsLとで、互いに異なるタイミングで、感光体4と現像ローラー6とを駆動する。測定部12は、線速比VsHにおいて、所定の印字枚数ごとに現像電流Iを測定する。制御部14は、複数の電流値Inから現像剤gの帯電量QHを算出する。次に、測定部12は、線速比VsLにおいて、所定の印字枚数ごとに現像電流Iを測定する。制御部14は、複数の電流値Inから現像剤gの帯電量QLを算出する。
印字開始時の帯電量比を帯電量比(QH/QL)0と表わす。制御部14は、所定の印字枚数ごとに帯電量比(QH/QL)を算出する。図6に示すように、印字枚数が増加するに従って、帯電量比(QH/QL)が増加する。すなわち、電界の変化に対する応答性が変化していることから、制御部14は、現像剤gの状態が変化していることを推定することができる。
本実施形態によれば、画像処理装置100は、現像剤gの状態が変化していることを推定することができる。
(第2変形例)
次に、引き続き、図6を参照して、第2変形例を説明する。第2変形例では、制御部14は、所定の印字枚数ごとの帯電量Qの比の変化から、所定の印字枚数と帯電量Qの比との関係を表す予測式を導出し、推定を行う間隔を変更する。
図6に示すように、現像剤gの状態変化に基づいて、状態変化を予測することが可能である。具体的には、印字開始から所定の印字枚数までは、駆動部16は、一定の時間間隔で感光体4を駆動させる。制御部14は、所定の印字枚数ごとの帯電量Qの比の変化から、所定の印字枚数と帯電量Qの比との関係を表す予測式を導出する。
予測式が導出された後は、制御部14は、現像剤gの状態推定を行う時間間隔を変化させることができる。それぞれの時間間隔ごとに現像剤gの状態推定を行うか否かを判定する。
本実施形態によれば、画像処理装置100は、現像剤gの状態推定のタイミングを変化させ、状態推定を行うか否かを判定することもでき、現像剤gの状態推定を好適に行うことができる。
(第3変形例)
次に、引き続き、図6を参照して、第3変形例を説明する。第3変形例では、制御部14は、予測式に対し、測定部12が測定した現像電流Iの電流値Inに基づく帯電量Qの比が閾値Thの範囲外であった場合、予測式の修正を行うか否かを判定する。
具体的には、測定部12は、所定の印字枚数ごとに現像電流Iの電流値Inを測定する。制御部14は、予測式に対して、現像電流Iの電流値Inに基づく帯電量Qの比と閾値Thとを比較する。そして、制御部14は、比が閾値Thの範囲外であった場合、予測式を修正するか否かを判定する。
また、制御部14は、帯電量Qの比と閾値Thとを比較することにより、比が閾値Thの範囲を超えた場合に、劣化した現像剤gを現像装置から吐き出させるよう制御したり、現像装置を交換させるよう警告したり、プロセス制御を変更したりすることもできる。ここで、プロセス制御は、現像直流バイアス電圧のほか、現像交流バイアス電圧、現像交流周波数、現像デューティーなどを変更してもよい。
本実施形態によれば、画像処理装置100は、現像剤gの状態推定をより好適に行うことができる。
以上、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明した。但し、本発明は、上記の実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の態様において実施することが可能である。また、上記の各実施形態に開示されている複数の構成要素を適宜組み合わせることによって、種々の発明の形成が可能である。例えば、本実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる本実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。図面は、理解しやすくするために、それぞれの構成要素を主体に模式的に示しており、図示された各構成要素の個数、配置位置、配置の順序等は、図面作成の都合上から実際とは異なることがある。また、上記の実施形態で示す各構成要素の材質、成分、形状等は一例であって、特に限定されるものではなく、本発明の構成から実質的に逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
本発明は、画像処理装置の分野に利用可能である。
100 画像処理装置
2 画像形成部
4 感光体
6 現像ローラー
8 帯電部材
10 電圧印加部
12 測定部
14 制御部
16 駆動部
18 補正部

Claims (9)

  1. 静電潜像が形成される感光体と、
    現像剤により前記感光体の前記静電潜像を現像する現像ローラーと、
    前記現像ローラーに現像バイアス電圧を印加する電圧印加部と、
    前記現像剤の帯電量と前記現像バイアス電圧とに基づく現像電流の電流値を測定する測定部と、
    前記現像ローラーに複数の互いに異なる電圧値の前記現像バイアス電圧を印加したときの、それぞれの前記電圧値における前記現像電流の前記電流値に基づいて、前記現像バイアス電圧が印加されていないときの前記現像電流の推測電流値を推測する制御部と
    を備える、画像処理装置。
  2. 前記制御部は、
    前記現像ローラーに前記複数の互いに異なる前記電圧値の前記現像バイアス電圧を印加したときの、それぞれの前記電圧値における前記現像電流の前記電流値に基づいて近似式を導出し、前記近似式に基づいて前記推測電流値を推測する、請求項1に記載の画像処理装置。
  3. 前記感光体および前記現像ローラーを駆動する駆動部をさらに備え、
    前記駆動部は、複数の線速比で前記感光体と前記現像ローラーとを駆動し、
    前記電圧印加部は、前記複数の線速比ごとに、前記現像ローラーに前記複数の互いに異なる前記電圧値の前記現像バイアス電圧を印加し、
    前記測定部は、前記複数の線速比ごとに、それぞれの前記電圧値における前記現像電流の前記電流値を測定し、
    前記制御部は、前記複数の線速比ごとに前記近似式を導出し、複数の前記近似式に基づいて前記推測電流値を推測する、請求項2に記載の画像処理装置。
  4. 前記推測電流値に基づいて、前記現像バイアス電圧を補正する補正部をさらに備える、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の画像処理装置。
  5. 前記感光体および前記現像ローラーを駆動する駆動部をさらに備え、
    前記駆動部は、複数の線速比で前記感光体と前記現像ローラーとを駆動し、
    前記制御部は、前記測定部が前記感光体と前記現像ローラーとの前記複数の線速比ごとに測定したそれぞれの前記電圧値における前記現像電流の前記電流値から、前記現像剤の前記帯電量を算出し、所定の印字枚数ごとの前記帯電量の比の変化から、前記現像剤の状態を推定する、請求項1に記載の画像処理装置。
  6. 前記制御部は、前記所定の印字枚数ごとの前記帯電量の比の変化から、前記所定の印字枚数と前記帯電量の比との関係を表す予測式を導出し、前記推定を行う間隔を変更する、請求項5に記載の画像処理装置。
  7. 前記制御部は、前記予測式に対し、前記測定部が測定した前記現像電流の前記電流値に基づく前記帯電量の比が閾値の範囲外であった場合、前記予測式の修正を行うか否かを判定する、請求項6に記載の画像処理装置。
  8. 前記現像剤は、一成分トナーである、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の画像処理装置。
  9. 前記現像剤は、二成分トナーである、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の画像処理装置。
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