JP7297555B2 - 調整方法及び保持装置 - Google Patents
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Description
そして、上記の各工程において光学素子の光学性能を再現させることが求められており、特に保持装置が光学素子を保持する際に光学面上に発生する局所的な応力による形状変化に伴う光学性能の変化が生じないように各工程において注意する必要がある。
特許文献1は、光学素子を重力方向の成分を含む第1の方向に受ける光学素子受けと重力方向及び第1の方向に垂直な第2の方向に押圧する光学素子支えとを設けて、光学素子を保持する保持装置を開示している。
しかしながら、特許文献1に開示されている保持装置では、上記の各工程において光学素子が保持される際の姿勢が変化する度に、光学面上に発生する局所的な応力が変化することによって形状、ひいては光学性能が変化してしまう。
そこで本発明は、光学面の形状が再現するように、光学素子を調整することができる調整方法及び光学素子を保持することができる保持装置を提供することを目的とする。
露光装置に搭載される光学素子は、大きく以下に示す三つの工程によって光学性能が検査される。
第一の工程は、光学素子単品検査工程である。この光学素子単品検査工程では、設計値の形状になるように加工された光学素子の形状を単体で干渉計を用いて計測する。
具体的には、研磨加工で設計値の形状になるように加工された光学素子において、形状が設計値通りになったかを確認するために、干渉計で光学素子単体の面形状を測定する。
従って、光学素子単品検査工程における光学素子保持装置は、他の工程と同じ機構及び形状の保持装置であることが好ましい。
これは、各工程で光学素子保持装置の機構及び形状が変わってしまうと、各工程において光学素子の形状が変わってしまうからである。
すなわち、各工程で光学素子の形状が変わってしまうと、光学素子単品検査工程において光学素子を設計値の形状になるように加工しても、その後の工程で光学素子の形状が変わってしまい、その形状変化に起因して光学性能が変化してしまうからである。
なお、この組み立てられた光学ユニットの中に、出荷する製品としての光学素子保持装置が組み込まれている。
光学素子単品検査工程と同様に、この光学ユニット検査工程における光学素子保持装置も、他の工程と同じ機構及び形状の保持装置であることが好ましい。
これは、光学素子単品検査工程と同様に、各工程で光学素子保持装置の機構及び形状が変わってしまうと、各工程において光学素子の形状が変わってしまい、その形状変化に起因して光学性能が変化してしまうからである。
露光装置の露光性能は、検査対象の露光装置自体を使用して、検査用マスクを用いてプレートの露光を行い、そのプレートに露光された検査用マスクパターンを測定することで検査する。例えば、検査する露光性能としては、マスクパターンの線幅やディストーションが挙げられる。
なお、露光装置検査工程では、光学ユニット検査工程で組み立てられた光学ユニットが露光装置本体に組み込まれているため、光学ユニット検査工程のものと同じ光学素子保持装置が用いられる。
加えて、各工程において光学素子保持装置へ光学素子を再搭載する際に、光学素子の形状を再現させることが必要である。
特許文献1に開示されている光学素子保持装置では(特に特許文献1の図5参照)、重力方向に交差する方向に延在する光軸を有する光学素子が、その自重を受ける載置面を有する載置台によって保持されている。
また、光学素子の外周縁と載置台の載置面との間には、光学素子の外周縁側に平面を有すると共に、載置台の載置面に接触するシリンドリカル面を有する台座が設けられている。
さらに、光学素子の外周縁と台座の平面との間には弾性部材が設けられている。
特許文献1に開示されている光学素子保持装置では、光学素子は弾性部材を介して台座に搭載されて保持される。そして光学素子は、弾性部材との接触部から自重の反力を受ける(特に特許文献1の図3参照)。
すなわち、光学素子を台座上へ再搭載する度に、光学素子が弾性部材との接触部において受ける自重の反力を再現させることができる。
従って、光学素子を台座へ再搭載する度に、光学素子の形状をある程度再現させることが可能となる。
従って、特許文献1に開示されている光学素子保持装置では、光学素子支えに突き当たることによって生じる局所的な応力が再現しない。
そのために、特許文献1に開示されている光学素子保持装置を上記に示したような各工程において用いても、光学素子の面形状を十分に再現させることは困難となり、各工程において光学性能を再現しなくなってしまうという問題が発生する。
図9(a)は、特許文献1に開示されているような従来の光学素子保持装置において光学素子支えを設けない場合における模式図を示している。
この傾いた状態の台座11に光学素子12を搭載すると、図9(a)に示されているように、台座11はシリンドリカル面で回転し、光学素子12は台座11との摩擦によって台座11の回転に引きずられてY方向にずれてしまう。
図9(b)に示されているような従来の光学素子保持装置においても、上記に示したように、傾いた状態の台座14に光学素子12を搭載する過程において、光学素子12はY方向にずれようとする。
しかしながら、図9(b)に示されている光学素子保持装置では、光学素子支え13が設けられている。
このため、光学素子12は光学素子支え13に突き当たり、光学素子支え13との接触部において局所的な応力15が発生することにより、光学素子12は変形してしまう。
また、上記に示したような光学素子の光学性能を検査する各工程において、この台座の傾きは異なる。すなわち、光学素子単品検査工程で用いる光学素子保持装置は、検査用設備である一方で、光学ユニット検査工程及び露光装置検査工程で用いる光学素子保持装置は、同一の出荷される製品である。
そのため、それぞれの光学素子保持装置において、台座の傾き方向及び傾き量は、台座の製造誤差に応じて互いに異なることとなる。
しかしながら、光学ユニット検査工程において光学素子を台座に搭載した際に台座が塑性変形してしまうと、露光装置検査工程では台座の傾き方向及び傾き量が光学ユニット検査工程とは異なってしまう。
すなわち、各工程において光学素子が光学素子支えに突き当たる方向及び突き当たり量は互いに異なってしまうため、光学素子支えとの接触部において光学素子に生じる局所的な応力も互いに異なってしまう。これにより、各工程における光学素子の変形は、互いに異なることとなる。
そこで本実施形態は、そのような従来の光学素子保持装置における課題を解決するために、光学素子の各検査工程において面形状を再現させることができる光学素子保持装置を提供することを目的としている。
また本実施形態に係る光学素子保持装置100は、光学素子1の外周縁と載置台2の載置面との間に配置されており、光学素子1の外周縁側に平面を有すると共に、載置台2の載置面に接触するシリンドリカル面を有する台座3を備えている。なお、台座3の載置台2の載置面に対する接触面は、シリンドリカル面に限らず、曲面であっても構わない。
そして本実施形態に係る光学素子保持装置100は、光学素子1を光軸方向の両側から押圧して支持する押圧機構4を備えている。
また、ミラーである光学素子1の質量は、例えば、およそ1300kgである。なお、光学素子1の質量は、これに限らず、より軽いミラー及びより重いミラーのいずれに対しても、本実施形態に係る光学素子保持装置100を適用することができる。また光学素子1は、ミラーに限らずレンズ等の他の光学素子でもよい。
また、載置台2の材質は、鋼であり、台座3との接触部に生じる局所的な応力による塑性変形を防止するために、その接触部に焼入れを行ってもよい。
または、載置台2と台座3との間に、局所的な応力を受けるための焼入れをした不図示の当て板を設けてもよい。
載置台2の台座3との接触部に焼入れを施すことで、部品点数を増やさない効果が得られる一方で、載置台2と台座3との間に当て板を設けた場合には、大きな部品である載置台2に焼入れを行う作業工数を減らせる効果が得られる。
また押圧機構4は、光学素子1を挟んでY方向(光軸方向)両側、すなわち光学面及びそれに対向する対向面それぞれに対向するように一つずつ設けられている。
そして、2つの押圧機構4が光学素子1をY方向両側から押圧することによって、光学素子1をY方向に拘束することができる。
すなわち、2つの押圧機構4は、光学素子1を光学素子1の光学面の面法線に垂直な断面(第1の断面)を挟んで両側から所定の押圧力で押圧する。
それにより、以下に示すように、本実施形態に係る光学素子保持装置100を光学素子1の各チェック工程に用いることによって、各工程において光学素子1の面形状を変えることなく再現させることが可能となる。
次に、押圧機構4の一方を光学素子1から離間させるように移動させることによって、押圧機構4との接触部において光学素子1に発生する局所的な応力5は完全に除去される(押圧を解除する)(図2(c))。
次に、移動させた押圧機構4の一方を所定の押圧力で光学素子1に再度突き当てる(図2(d))。
これにより、押圧機構4との接触部において光学素子1には再度局所的な応力が発生するが、所定の押圧力で突き当てているため、発生する局所的な応力は制御された(管理された)ものとなる。
以上に示した手順により、本実施形態に係る光学素子保持装置100では、押圧機構4との接触部において光学素子1に発生する局所的な応力は、制御されたものとなり、光学素子1の変形も制御されたものとなる。
これにより、光学素子1の各チェック工程において光学素子1の同一の面形状を再現させることが可能となる。
ここで、圧縮コイルばね16を収納するばねケース17、圧縮量調整部品18及び押圧力除去用ナット20を総じて、圧縮コイルばね16の圧縮量を調整するための調整部材と称することができる。
ばねケース17の内部には雌ねじが切られている一方で、圧縮量調整部品18には雄ねじが切られている。
そして、圧縮量調整部品18をばねケース17の内部に螺合させていくことによって、圧縮量調整部品18が圧縮コイルばね16を圧縮する。
なお、本実施形態に係る光学素子保持装置100では、押圧力は例えば800Nに調整しているが、光学素子1の各チェック工程において面形状を再現させる上では、各工程において押圧力を互いに同一にすればよい。
従って、本実施形態に係る光学素子保持装置100では、押圧力を800Nに設定しているが、異なる大きさの押圧力でも光学素子1の各チェック工程において面形状を再現させることは可能である。
また、シャフト19の遠位端部(光学素子1に突き当たる端部とは反対側の端部)には雄ねじが切られており、押圧力除去用ナット20が螺合している。
そして、押圧力除去用ナット20の端面の一部が、ばねケース17の遠位端面(光学素子1から遠い側にある端面)に当接する。
これにより、押圧力除去用ナット20を回転させることによって、押圧力除去用ナット20の端面とばねケース17の遠位端面とが当接し圧縮コイルばね16を圧縮しながら、シャフト19を光学素子1から離間する方向に引き込むことができる。
そして、この押圧力を除去する際には、上述したように、押圧力除去用ナット20を回転させることによってシャフト19を光学素子1から離間させる方向に引き込む。
これにより、シャフト19の端部は光学素子1から離間し、光学素子1のシャフト19との接触部において発生している応力を完全に除去することができる。
そして、シャフト19の端部が光学素子1に突き当たると、押圧力除去用ナット20の光学素子1側の端面は、ばねケース17の端面から離間する。
これにより、圧縮コイルばね16は、事前に調整した所定の押圧力を、シャフト19を介して光学素子1に印加することができる。
なお、以降においては、フォースゲージ付きリニアアクチュエータを用いる押圧機構4をリニアアクチュエータ駆動機構4と称することとする。
これにより、ナット51に取り付けられた押しつけ部品24の端部は光学素子1から離間し、光学素子1の押しつけ部品24の端部との接触部に発生している応力を完全に除去することができる。
これにより、押しつけ部品24の端部を光学素子1に突き当て、フォースゲージ22によって押しつけ部品24の端部に発生する歪を測定する。
そして、フォースゲージ22が測定する歪を押圧力に換算することで、押しつけ部品24が光学素子1に印加する押圧力を測定することができる。
これにより、あらかじめ規定した所定の押圧力である800Nの押圧力を、押しつけ部品24から光学素子1に印加することができる。
また、本実施形態に係る光学素子保持装置100では、図1(a)及び(b)に示されているように、光学素子1の上部に、光学素子1をY方向に拘束する上部保持部品25が設けられている。
また、光学素子1と台座3との間の摩擦力によって、光学素子をωY方向(Y軸まわりの回転方向)において拘束している。
さらに、上部保持部品25と二つの押圧機構4とによって、光学素子1をY方向、ωX方向(X軸まわりの回転方向)及びωZ方向(Z軸まわりの回転方向)において拘束している。
このようにして、本実施形態に係る光学素子保持装置100では、光学素子1を6自由度全てにおいて拘束することができる。
また本実施形態は、光学素子1を光学素子1の光学面の面法線が重力方向に垂直になるように保持する場合を考えているが、これに限らず、光学素子1を光学素子1の光学面の面法線が重力方向に非平行になるように保持する場合にも効果を発揮することができる。
図5は、第二実施形態に係る光学素子保持装置200が備える押圧機構64の詳細な構成を示している。
なお、本実施形態に係る光学素子保持装置200は、押圧機構を除いて、第一実施形態に係る光学素子保持装置100と同一の構成であるため、同一の部材には同一の符番を付して説明を省略する。
固定部品は、挟み込み部品26とボルト27とで構成されている。具体的には、ばねケース17と押圧力除去用ナット20との間において挟み込み部品26でシャフト19を挟んだ後、挟み込み部品26にボルト27を締結させる。これにより、シャフト19が自転することによってシャフト19のY方向における位置が変化しないように固定することができる。
本実施形態に係る光学素子保持装置200では、光学素子1をY方向において位置決めする方法として、まず、シャフト19の端部が光学素子1に突き当たった際に、光学素子1が設計位置に配置されるようにシャフト19を固定する。
なお、この際におけるシャフト19の位置調整においては、押圧力除去用ナット20を用いる。そして、シャフト19の位置はノギスで実測しても良いし、位置調整用冶具を用いても良い。
そして、シャフト19の位置を調整し固定した状態で、光学素子1をシャフト19の端面に突き当てながら台座3上に搭載する。
これにより、光学素子1が設計位置に配置されるように台座3上に搭載することができ、光学素子1が組み込まれた光学ユニットの光学性能の悪化を抑制することができる。
位置決め装置28は、位置決め装置28が光学素子1に突き当たった際に、光学素子1が設計位置に配置されるように固定される。
そして、光学素子1を位置決め装置28に突き当てながら台座3上に搭載し、その後、位置決め装置28は、光学素子1から離間させるように退避させる。
これにより、光学素子1が設計位置に配置されるように台座3上に搭載することができ、光学素子1が組み込まれた光学ユニットの光学性能の悪化を抑制することができる。
カムフォロアを用いた位置決め装置28では、光学素子1をカムフォロアに突き当てながら台座3上に搭載する。
この際、光学素子1の動きに連動してカムフォロアが回転するため、光学素子1において摩擦力による変形が発生しない。
また、カムフォロアは金属製であるために、光学素子1をカムフォロアに突き当てた際におけるカムフォロアの変形が小さくなり、光学素子1の位置決め精度が良くなる点で優れている。
ここで、樹脂ブロックは光学素子1に比べて柔らかいため、光学素子1と樹脂ブロックとが互いに摺動しても、光学素子1を傷つけない点で優れている。
図7は、第三実施形態に係る光学素子保持装置300が備える押圧機構74の詳細図を示している。
なお、本実施形態に係る光学素子保持装置300は、押圧機構を除いて、第一実施形態に係る光学素子保持装置100と同一の構成であるため、同一の部材には同一の符番を付して説明を省略する。
方向変換機構は、方向変換ブロック29、保持部品30及び軸31で構成されている。
図7に示されているように、方向変換ブロック29及び保持部品30にはそれぞれ貫通孔が設けられており、その貫通孔に軸31が貫入し、保持部品30が載置台2に固定されることによって、方向変換機構は固定されている。
そして図7に示されているように、押圧機構74のうちの押圧機構4に相当する部分は、長手方向をZ方向(重力方向)に向けて、保持部品30に固定されている。
また、方向変換ブロック29の一方の端面は光学素子90に当接する一方で、他方の端面は押圧機構4に相当する部分に当接する。
これにより、押圧機構4に相当する部分におけるZ方向の押圧力は、方向変換機構によってY方向の押圧力に変換され、押圧機構74は、光学素子90に対してY方向の押圧力を印加することが可能となる。
これは、光学素子が組み込まれる光学ユニットの光学性能の一つである開口数NAを大きくし、これにより結像性能に対応する解像力を向上させるためである。
その要求に応えるために、光学ユニットの開口数NAを大きくする必要があり、そのためには、光学素子の反射面の径を大きくする必要がある。
従って、より高い解像力を有する露光装置を製造するためには、光学素子90のように、反射面が面内方向に張り出した光学素子が必要となっている。
そこで、本実施形態に係る光学素子保持装置のように方向変換部品を用いることで、押圧力調整部の長手方向をZ方向に向けることが可能となり、押圧機構と光学素子との干渉を回避することが可能となる。
図8は、本実施形態に係る露光装置500の構成図を示している。
本実施形態に係る露光装置500は、ランプ点灯装置501(光源)、照明光学系502、スリット503、原版ステージ505、投影光学系506及び基板ステージ507を備えている。
照明光学系502は、第1折り曲げミラー201、第1コンデンサレンズ202、ハエノ目レンズ203、第2コンデンサレンズ204及び第2折り曲げミラー205を有している。
原版ステージ505は、原版Mを保持するマスクステージであり、図8中に示したY軸方向に駆動することができる。
本実施形態に係る露光装置500では、オフナー(Offner)型光学系による投影光学系506を用いている。
オフナー型光学系の場合、良好な像領域を確保するために原版Mは円弧形状で照射される。また、基板Pへ到達する露光光の照射形状も円弧形状となっている。
原版Mを透過した光は、台形ミラー601、凹面ミラー602、凸面ミラー603、凹面ミラー602、台形ミラー601の順に反射した後に、基板Pに到達し、原版M上のパターンが基板P上に転写される。
そして、原版Mを透過した露光光は、投影光学系506を通過して、基板ステージ507に載置された基板Pを照射し(基板P上に集光され)、基板P上の露光領域に対して露光が行われる。
本実施形態に係る露光装置を使用して、物品は、感光剤が塗布された基板(ウェハ、ガラス基板等)を露光する工程と、露光された基板(感光剤)を現像する工程と、現像された基板を他の周知の工程で処理することにより製造される。
他の周知の工程には、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等が含まれる。
本実施形態に係る物品製造方法によれば、従来よりも高品位の物品を製造することができる。
2 載置台
3 台座
4 押圧機構
100 光学素子保持装置(保持装置)
Claims (13)
- 光学素子の光軸が重力方向に対して垂直になるように前記光学素子を支持部に載置し、第1押圧機構と第2押圧機構とで前記光学素子を調整する調整方法であって、
前記第1押圧機構で前記光学素子の第1面を押圧した状態から、前記第1押圧機構で前記第1面を押圧する押圧力を低減する第1ステップと、
前記第1押圧機構で前記第1面を所定の押圧力で押圧する第2ステップと、
前記第2押圧機構で前記光学素子の前記第1面とは反対の第2面を押圧した状態から、前記第2押圧機構で前記第2面を押圧する押圧力を低減する第3ステップと、
前記第2押圧機構で前記第2面を所定の押圧力で押圧する第4ステップと、
を含み、
前記第1ステップは、前記第2押圧機構で前記第2面を押圧した状態で実行し、
前記第3ステップは、前記第1押圧機構で前記第1面を押圧した状態で実行することを特徴とする調整方法。 - 前記第1押圧機構で前記第1面を押圧し、且つ前記第2押圧機構で前記第2面を押圧しながら前記光学素子を前記支持部に載置するステップを更に含むことを特徴とする請求項1に記載の調整方法。
- 前記支持部は、台座であり、
前記台座及び前記台座が載置される載置台の互いに対する接触面の一方は、曲面であることを特徴とする請求項1または2に記載の調整方法。 - 前記曲面は、シリンドリカル面であることを特徴とする請求項3に記載の調整方法。
- 前記台座の前記光学素子に対する接触面は、平面であることを特徴とする請求項3または4に記載の調整方法。
- 前記光学素子の前記光軸の方向における位置を決めるための位置決め部材を備えることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の調整方法。
- 前記第1押圧機構及び前記第2押圧機構は、押圧力を生成するバネ部材と該バネ部材の圧縮量を調整する調整部材とを有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の調整方法。
- 前記第1押圧機構及び前記第2押圧機構は、前記バネ部材によって生成された押圧力の方向を変換する方向変換機構を有することを特徴とする請求項7に記載の調整方法。
- 前記載置台は、互いに前記光軸を含み、重力方向に平行な第2の断面を挟んで設けられた二つの傾斜部を含み、
該傾斜部の前記台座に対する接触面の法線は、重力方向に対して45度をなしていることを特徴とする請求項3乃至5のいずれか一項に記載の調整方法。 - 光学素子の光軸が重力方向に対して垂直になるように前記光学素子を支持部に載置した状態で保持する保持装置であって、
前記光学素子の第1面を押圧する第1押圧機構と、
前記光学素子の前記第1面とは反対の第2面を押圧する第2押圧機構と、
を備え、
前記保持装置は、
前記第2押圧機構で前記第2面を押圧した状態で、前記第1押圧機構で前記第1面を押圧した状態から、前記第1押圧機構で前記第1面を押圧する押圧力を低減させ、
前記第1押圧機構で前記第1面を所定の押圧力で押圧させ、
前記第1押圧機構で前記第1面を押圧した状態で、前記第2押圧機構で前記第2面を押圧した状態から、前記第2押圧機構で前記第2面を押圧する押圧力を低減させ、
前記第2押圧機構で前記第2面を所定の押圧力で押圧させることを特徴とする保持装置。 - 前記保持装置は、前記第1押圧機構で前記第1面を押圧し、且つ前記第2押圧機構で前記第2面を押圧しながら前記光学素子を前記支持部に載置することを特徴とする請求項10に記載の保持装置。
- 原版のパターンの像を基板に投影し、前記基板を露光する露光装置であって、
前記原版を照明する照明光学系と、
前記原版の像を前記基板に投影する投影光学系と、
を備え、
前記照明光学系及び前記投影光学系に含まれる少なくとも一つの光学素子は、請求項10または11に記載の保持装置によって保持されていることを特徴とする露光装置。 - 請求項1乃至9のいずれか一項に記載の調整方法を用いて、原版のパターンの像を基板に投影し、前記基板を露光する露光装置における光学素子を保持するステップと、
前記露光装置を用いて、前記基板を露光するステップと、
該露光するステップで露光された前記基板を現像するステップと、
を含み、
前記現像するステップで現像された前記基板から物品を製造することを特徴とする物品製造方法。
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