JP7281590B2 - 計測装置および微粒子測定システム - Google Patents
計測装置および微粒子測定システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP7281590B2 JP7281590B2 JP2022116568A JP2022116568A JP7281590B2 JP 7281590 B2 JP7281590 B2 JP 7281590B2 JP 2022116568 A JP2022116568 A JP 2022116568A JP 2022116568 A JP2022116568 A JP 2022116568A JP 7281590 B2 JP7281590 B2 JP 7281590B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measuring device
- amplifier
- voltage
- resistor
- calibration
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
Is=Vb/Rp …(1)
Vs=r×Is …(2)
式(1)を式(2)に代入すると、式(3)が得られる。
Vs=Vb×r/Rp …(3)
デジタイザ230は、電圧信号VsをデジタルデータDsに変換する。このように計測装置200Rにより、細孔104の抵抗値Rpに反比例する電圧信号Vsを得ることができる。
図4は、実施の形態に係る微粒子測定システム1のブロック図である。微粒子測定システム1は、ナノポアデバイス100、計測装置200、データ処理装置300を備える。
vs(ω)=H(ω)×vcal(ω)
図7では、アンプ212を2段で構成したが、ネガティブフィードバックを取り入れた3段もしくは4段以上の構成を採用してもよい。
図7では、初段のアンプをゲインg=1のボルテージフォロアで構成したがその限りでなく、ゲインgを1より大きくしてもよい。この場合、ガードアンプ270は、ゲイン1/g倍のアンプで構成すればよい。
実施の形態では、いくつかの可変抵抗としてデジタル制御可能なポテンシオメータを用いたが、それらの一部あるいは全部を手動の可変抵抗器を採用してもよい。この場合、ユーザが、校正用電圧波形と測定された電圧波形にもとづいて、手動で抵抗値を調節してもよい。
図7において、対接地容量Csの影響が無視できる場合、ドライビングガード(270,110)を省略してもよい。
図7において、2個のオペアンプOA1,OA2簡のコモンモードノイズの影響を無視できる場合、最終段の差動アンプ218を省略してもよい。
実施の形態で説明した調節可能な回路定数の組み合わせは例示に過ぎず、その中の任意の組み合わせを採用してもよいし、ここに例示しない回路定数を調節可能としてもよい。
本明細書では微粒子計測装置について説明したが本発明の用途はそれに限定されず、DNAシーケンサをはじめとするナノポアデバイスを用いた微小電流計測を伴う計測器に広く用いることができる。
実施の形態では、校正用電圧Vcalとして矩形波を用いたがその限りでなく、マルチトーン信号やスイープ正弦波信号、インパルス信号などを用いてもよい。
2 電解液
4 粒子
100 ナノポアデバイス
102 ナノポアチップ
104 細孔
106,108 電極
110 シールドケース
200 計測装置
210 トランスインピーダンスアンプ
212 アンプ
214 ボルテージフォロア
216 反転アンプ
218 差動アンプ
220 電圧源
222 波形発生器
224 D/Aコンバータ
226 ドライバ
230 デジタイザ
240 インタフェース
250 キャリブレーションコントローラ
270 ガードアンプ
300 データ処理装置
OA1 第1オペアンプ
Ri1,Ri2 抵抗
Cf1 第1キャパシタ
Rf1 第1抵抗
OA2 第2オペアンプ
Cf2 第2キャパシタ
Rf2 第2抵抗
Claims (10)
- 電気的検知帯法を利用した計測装置に使用され、電極対の間に流れる電流信号を測定する計測装置であって、
前記電流信号を電圧信号に変換するトランスインピーダンスアンプを備え、
前記トランスインピーダンスアンプは、
反転入力端子が前記電極対の第1電極と接続され、非反転入力端子に基準電圧を受けるアンプと、
前記アンプの前記反転入力端子と前記アンプの出力端子と間に直列に接続される第1抵抗および第2抵抗と、
前記第1抵抗と並列に設けられる第1キャパシタと、
前記アンプの前記出力端子と接続される第2キャパシタと、
を含むことを特徴とする計測装置。 - 前記第2抵抗の抵抗値と前記第2キャパシタの少なくとも一方が可変であることを特徴とする請求項1に記載の計測装置。
- 前記アンプのゲインが可変であることを特徴とする請求項1または2に記載の計測装置。
- 前記第1抵抗と前記第1キャパシタの少なくとも一方が可変であることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載の計測装置。
- 通常の測定時において前記電極対の間に直流のバイアス電圧を印加し、キャリブレーション時に前記電極対の間に交流成分を含む校正用電圧を印加可能な電圧源をさらに備え、
前記キャリブレーション時に、前記トランスインピーダンスアンプの出力信号と、前記校正用電圧にもとづいて、前記計測装置の少なくともひとつの回路定数を補正可能に構成されることを特徴とする請求項1または2に記載の計測装置。 - 前記電圧源と前記電極対の第2電極の間に設けられる抵抗およびキャパシタと、
をさらに備えることを特徴とする請求項5に記載の計測装置。 - 前記抵抗およびキャパシタの時定数が調節可能であることを特徴とする請求項6に記載の計測装置。
- 前記トランスインピーダンスアンプの出力電圧をデジタルデータに変換するデジタイザと、
前記デジタイザの出力を外部に伝送可能なインタフェースと、
をさらに備えることを特徴とする請求項1または2に記載の計測装置。 - 請求項8に記載の計測装置と、
前記計測装置の前記インタフェースと接続されるデータ処理装置と、
を備えることを特徴とする微粒子測定システム。 - 前記計測装置の少なくともひとつの回路定数を補正するための処理の少なくとも一部は、前記データ処理装置において実行されることを特徴とする請求項9に記載の微粒子測定システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022116568A JP7281590B2 (ja) | 2018-07-26 | 2022-07-21 | 計測装置および微粒子測定システム |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018140616A JP7111545B2 (ja) | 2018-07-26 | 2018-07-26 | 計測装置および微粒子測定システム |
JP2022116568A JP7281590B2 (ja) | 2018-07-26 | 2022-07-21 | 計測装置および微粒子測定システム |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018140616A Division JP7111545B2 (ja) | 2018-07-26 | 2018-07-26 | 計測装置および微粒子測定システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022169517A JP2022169517A (ja) | 2022-11-09 |
JP7281590B2 true JP7281590B2 (ja) | 2023-05-25 |
Family
ID=87853069
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022116568A Active JP7281590B2 (ja) | 2018-07-26 | 2022-07-21 | 計測装置および微粒子測定システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7281590B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016102750A (ja) | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置 |
JP2016102746A (ja) | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 株式会社アドバンテスト | 電流測定回路および塩基配列解析装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3129820B2 (ja) * | 1992-03-04 | 2001-01-31 | シスメックス株式会社 | 粒子検出装置 |
-
2022
- 2022-07-21 JP JP2022116568A patent/JP7281590B2/ja active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016102750A (ja) | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置 |
JP2016102746A (ja) | 2014-11-28 | 2016-06-02 | 株式会社アドバンテスト | 電流測定回路および塩基配列解析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2022169517A (ja) | 2022-11-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7111545B2 (ja) | 計測装置および微粒子測定システム | |
CN102612864B (zh) | 用于控制等离子体处理系统的方法和装置 | |
US20170115147A1 (en) | Method for sensing conductivity and flow rate of a liquid in a tube | |
US7148701B2 (en) | Apparatus for measuring electrical impedance | |
US9829520B2 (en) | Low frequency impedance measurement with source measure units | |
JP2012533736A (ja) | 高速応答を有する広ダイナミックレンジ電位計 | |
US9645193B2 (en) | Impedance source ranging apparatus and method | |
JP7281590B2 (ja) | 計測装置および微粒子測定システム | |
US9372217B2 (en) | Cable detector | |
US11085951B2 (en) | Non-linear active shunt ammeter | |
US9817035B2 (en) | Impedance measuring circuit | |
CN111857220B (zh) | 一种温度采样电路及其控制方法 | |
JP2008261722A (ja) | プローブ | |
JP6345094B2 (ja) | 測定装置 | |
JP5687311B2 (ja) | 電圧測定回路 | |
RU2556301C2 (ru) | Измеритель параметров многоэлементных rlc-двухполюсников | |
CN108351341A (zh) | 数字膜片钳放大器 | |
US11853089B2 (en) | Expanded shunt current source | |
GB2524521A (en) | Apparatus and methods for measuring electrical current | |
JP2573789B2 (ja) | 絶縁抵抗測定装置 | |
JP3189866B2 (ja) | 抵抗計校正装置 | |
RU2499269C1 (ru) | Измеритель параметров двухполюсных rlc цепей | |
US11677369B2 (en) | Differential noise cancellation | |
CN108333393B (zh) | 探针和校正方法 | |
JP7021497B2 (ja) | 生体信号測定装置、生体信号測定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220721 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230420 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230509 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230515 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7281590 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |