JP7256112B2 - 電池の外観検査方法及び電池の外観検査装置 - Google Patents

Description

本発明は、電池ケースの表面の刻印領域に刻印が形成された電池の外観を検査する電池の外観検査方法、及び、このような外観検査を行う電池の外観検査装置に関する。

電池の製造過程において、組み立てた電池の外観を検査する外観検査が行われている。例えば特許文献１には、電池の電池ケースに向けてレーザ光を照射して電池ケースの三次元形状を計測し、電池ケースに出来た打痕や歪みを見つける手法が開示されている。

特開２０１５－０５９８１７号公報

ところで、電池の製造中、例えば、電解液を電池ケースの注液孔を通じて電池ケース内に注液する際や、その後に注液孔を封止する際などに、何らかの理由で電池ケースの表面に電解液が付着してしまう場合がある。電池ケースに電解液または電解液の溶媒が蒸発して残った電解液残渣が付着していると、電池ケースが腐食するなどの虞があるため、電池ケースに電解液または電解液残渣が付着しているか否かを検査するのが好ましい。
そこで、本発明者は、電池ケースの被照射部位に斜め方向から検査光を照射しつつ、この被照射部位を法線方向から撮像する。そして、撮像した画像（暗視野像）をなす各画素の輝度に基づいて、電池ケースに電解液または電解液残渣が付着しているか否かを判定する手法を検討した。

しかしながら、電池ケースに刻印が存在する場合、この刻印が形成された刻印領域については、電解液等の付着の有無を精度良く検知できないことが判ってきた。その理由は、検査光が刻印によって形成された凹凸に当たると乱反射する。このため、刻印が形成された刻印領域では、この刻印領域を撮像した画像をなす画素の輝度が高くなっているのが、刻印による乱反射によるものか、それとも、刻印領域に電解液が付着していることによるものかを、明確に区別できないからである。

本発明は、かかる現状に鑑みてなされたものであって、電池ケースの刻印が形成された刻印領域への電解液または電解液残渣の付着有無を適切に検査できる電池の外観検査方法を提供するものである。

上記課題を解決するための本発明の一態様は、電池ケースの表面の刻印領域に、１または複数の単独刻印から構成される刻印を含む電池について、上記刻印領域への電解液または電解液残渣の付着有無を検査する電池の外観検査方法であって、上記刻印領域のなす法線に沿う法線方向に対して斜交する斜め方向から上記刻印領域に向けて検査光を照射しつつ、上記法線方向から上記刻印領域を撮像した刻印領域画像を得る照射撮像工程と、上記刻印領域画像に基づいて、上記刻印領域における上記電解液または上記電解液残渣の付着状態を検知する付着検知工程と、を備え、上記刻印領域は、使用される単一種類の単独刻印パターンが形成され得る、または、使用され得る複数種類の単独刻印パターンをすべて重ねた重複刻印パターンが形成され得る刻印パターン領域と、上記刻印パターン領域に含まれず、上記単独刻印が形成され得ない非形成領域とからなり、上記刻印領域画像は、上記刻印パターン領域を撮像したパターン領域画像部と、上記非形成領域を撮像した非形成領域画像部とを含み、上記付着検知工程は、上記非形成領域画像部をなす各画素の輝度に基づいて、上記刻印領域への上記電解液または上記電解液残渣の上記付着状態を判定する電池の外観検査方法である。

検査光が単独刻印に当たると乱反射する。このため、刻印領域画像のうち、単独刻印が形成され得る刻印パターン領域を撮像したパターン領域画像部では、刻印パターン領域に電解液等が付着していない場合でも、形成されている単独刻印における乱反射によってパターン領域画像部をなす各画素の輝度が高くなっている可能性があり、単独刻印と電解液等の付着との区別が難しい。

これに対し、刻印領域の非形成領域は、単独刻印が形成され得ないため、単独刻印に起因した乱反射は生じない。このため、非形成領域に電解液等が付着していない場合には、この非形成領域を撮像した非形成領域画像部をなす各画素の輝度はいずれも低い。
一方、非形成領域のいずれかの部位に電解液等が付着している場合には、乱反射により、非形成領域画像部をなす各画素のうち、当該電解液等が付着している部位に対応する画素の輝度が高くなる。このため、刻印領域の非形成領域への電解液等の付着状態、例えば、非形成領域に電解液等が付着しているか否か、及び、非形成領域のどの部分に電解液等が付着しているかを適切に判定できる。

そこで、上述の電池の外観検査方法では、付着検知工程において、刻印領域を撮像した刻印領域画像のうち、非形成領域を撮像した非形成領域画像部をなす各画素の輝度に基づいて、刻印領域への電解液等の付着状態を判定する。このようにすることで、刻印領域への電解液等の付着状況、例えば、刻印領域における電解液等の付着有無や、刻印領域のどの部位に電解液等が付着しているかを適切に検査できる。

なお、「単独刻印」とは、全体として意味を有する「刻印」を構成する単独の刻印であり、平面視円状（ドット状）の１つの刻印、数字１文字の刻印、アルファベット１文字の刻印など、単独の形態で使用される刻印である。
「刻印」としては、例えば、マトリックス型二次元コードを示す刻印、即ち、平面視円状や矩形状（ドット状）などの単独刻印が二次元的に縦横に複数並んだ刻印、具体的には、実施形態で説明するデータマトリックス刻印（ＤＭ刻印）や、ＱＲコード（登録商標）を示すＱＲコード刻印などが挙げられる。また「刻印」として、例えば、後述する変形形態２で説明するような、数字やアルファベット等からなる単独刻印が一列に複数並んだ刻印なども挙げられる。
「電解液残渣」とは、電池ケースに付着した電解液の溶媒が蒸発した後に残された付着物をいう。

「刻印領域」とは、電池ケースの表面のうち、刻印が形成される領域である。また、後述する実施形態で説明する、刻印領域をなす「単独刻印形成領域」は、単独刻印が１つ形成され得る領域である。刻印が１つの単独刻印から構成される場合、例えば、刻印が数字１文字の単独刻印やアルファベット１文字の単独刻印からなる場合には、刻印領域は、１つの単独刻印形成領域からなる。一方、刻印が複数の単独刻印から構成される場合、例えば、刻印が複数のドット状の単独刻印からなる場合や、刻印が複数の数字やアルファベット等の単独刻印からなる場合には、刻印領域は、複数の単独刻印形成領域からなる。

「刻印パターン領域」は、使用される単一種類の「単独刻印パターン」が占める領域、または、使用され得る複数種類の単独刻印パターンをすべて重ねた「重複刻印パターン」が占める領域である。
即ち、上述の単独刻印形成領域に単一種類の単独刻印パターンのみが形成される場合、例えば、当該単独刻印形成領域にドットパターン「●」のみが形成される場合、刻印パターン領域は、このドットパターン「●」が占める円形状の領域である。また、当該単独刻印形成領域にアルファベット「Ａ」のみが形成される場合、刻印パターン領域は、この「Ａ」が占める、Ａの形状を有する領域である。

一方、上述の単独刻印形成領域に複数種類の単独刻印パターンが形成され得る場合、例えば、当該単独刻印形成領域に「０」から「９」までの各数字のパターンが形成され得る場合、刻印パターン領域は、各数字のパターンをすべて重ねた重複刻印パターンが占める概ね矩形状の領域である。また、当該単独刻印形成領域に「Ａ」から「Ｚ」までの大文字のアルファベットのパターンが形成され得る場合、刻印パターン領域は、各アルファベットをすべて重ねた重複刻印パターンが占める概ね矩形状の領域である。
「非形成領域」は、刻印パターン領域に含まれず、単独刻印が形成され得ない領域であり、刻印領域のうち、刻印パターン領域以外の領域である。

更に、上記の電池の外観検査方法であって、前記刻印領域の前記非形成領域は、複数の分割非形成領域からなり、前記刻印領域画像の前記非形成領域画像部は、複数の上記分割非形成領域をそれぞれ撮像した複数の分割非形成領域画像部からなり、前記付着検知工程は、複数の上記分割非形成領域画像部のそれぞれについて、予め定めた基準輝度Ｌｋを超えた輝度Ｌａを有する範囲の面積Ｓａが、予め定めた基準面積Ｓｋを超えているか否かを判定し、超えている場合には、当該分割非形成領域画像部に対応する上記分割非形成領域に、上記電解液または上記電解液残渣が付着していると判定する電池の外観検査方法とするのが好ましい。

上述の電池の外観検査方法では、刻印領域画像の非形成領域画像部を複数の分割非形成領域画像部に分割し、分割非形成領域画像部のそれぞれについて、基準輝度Ｌｋを超えた輝度Ｌａ（Ｌａ＞Ｌｋ）を有する範囲の面積Ｓａが基準面積Ｓｋを超えている（Ｓａ＞Ｓｋ）か否かを判定し、超えている場合には、対応する分割非形成領域に電解液等が付着していると判定する。このようにすることで、刻印領域をなす複数の分割非形成領域のうちどの分割非形成領域に、電解液等が付着しているかを適切に判定できる。このため、刻印領域全体における電解液等の付着の有無や付着範囲の形態、大きさを適切に把握し、電池の適否を判断できる。

更に、上記のいずれかに記載の電池の外観検査方法であって、前記付着検知工程における判定結果に基づいて、当該電池の外観の良否を判定する良否判定工程を更に備える電池の外観検査方法とするのが好ましい。

上述の電池の外観検査方法では、付着検知工程における判定結果に基づいて、当該電池の外観の良否を判定する良否判定工程を更に備えるため、電池の外観の良否をも適切に判定できる。

また、他の態様は、電池ケースの表面の刻印領域に、１または複数の単独刻印から構成される刻印を含む電池について、上記刻印領域への電解液または電解液残渣の付着有無を検査する電池の外観検査装置であって、上記刻印領域のなす法線に沿う法線方向に対して斜交する斜め方向から上記刻印領域に向けて検査光を照射する照明部と、上記法線方向から上記刻印領域を撮像して刻印領域画像を得る撮像部と、上記刻印領域画像に基づいて、上記刻印領域における上記電解液または上記電解液残渣の付着状態を検知する判定部と、を備え、上記刻印領域は、使用される単一種類の単独刻印パターンが形成され得る、または、使用され得る複数種類の単独刻印パターンをすべて重ねた重複刻印パターンが形成され得る刻印パターン領域と、上記刻印パターン領域に含まれず、上記単独刻印が形成され得ない非形成領域とからなり、上記刻印領域画像は、上記刻印パターン領域を撮像したパターン領域画像部と、上記非形成領域を撮像した非形成領域画像部とを含み、上記判定部は、上記非形成領域画像部をなす各画素の輝度に基づいて、上記刻印領域への上記電解液または上記電解液残渣の上記付着状態を判定する電池の外観検査装置である。

上述の電池の外観検査装置では、判定部は、刻印領域を撮像した刻印領域画像のうち、非形成領域を撮像した非形成領域画像部をなす各画素の輝度に基づいて、刻印領域への電解液等の付着状態を判定する。このような検査装置により、前述したように、刻印領域への電解液等の付着状況、例えば、刻印領域における電解液等の付着有無や、刻印領域のどの部位に電解液等が付着しているかを適切に検査できる。

更に、上記の電池の外観検査装置であって、前記刻印領域の前記非形成領域は、複数の分割非形成領域からなり、前記前記刻印領域画像の前記非形成領域画像部は、複数の上記分割非形成領域をそれぞれ撮像した複数の分割非形成領域画像部からなり、前記判定部は、複数の上記分割非形成領域画像部のそれぞれについて、予め定めた基準輝度を超えた輝度を有する範囲の面積が、予め定めた基準面積を超えているか否かを判定し、超えている場合には、当該分割非形成領域画像部に対応する上記分割非形成領域に、上記電解液または上記電解液残渣が付着していると判定する電池の外観検査装置とするのが好ましい。

上述の電池の外観検査装置では、刻印領域をなす複数の分割非形成領域のうちどの分割非形成領域に、電解液等が付着しているかを適切に判定できる。このため、刻印領域全体における電解液等の付着の有無や付着範囲の形態、大きさを適切に把握し、電池の適否を判断できる。

更に、上記のいずれかに記載の電池の外観検査装置であって、前記判定部は、前記付着状態についての判定結果に基づいて、更に当該電池の外観の良否を判定する電池の外観検査装置とするのが好ましい。

上述の電池の外観検査装置では、電解液等の付着状態についての判定結果に基づいて、更に当該電池の外観の良否を判定するため、電池の外観の良否をも適切に判定できる。

実施形態に係る電池の斜視図である。 実施形態に係る電池のうち、電池ケースに設けられた刻印領域の拡大平面図である。 実施形態に係り、図２における刻印領域の一部を拡大した部分拡大平面図である。 実施形態に係る外観検査装置の説明図である。 実施形態に係る電池の外観検査方法のフローチャートである。 実施形態に係り、照射撮像工程で撮像した刻印領域画像について、（ａ）は刻印領域に電解液残渣が付着していない場合を示す説明図であり、（ｂ）は刻印領域に電解液残渣が付着している場合を示す説明図である。 実施形態に係り、刻印領域画像のうち、単独刻印形成領域の分割非形成領域を撮像した分割非形成領域画像部について、（ａ）は当該分割非形成領域に電解液残渣が付着していない場合を示す説明図であり、（ｂ）は当該分割非形成領域に電解液残渣が付着している場合を示す説明図である。 実施形態に係り、付着検知工程における判定結果及び付着径Ｒｄの求め方を示す説明図である。 変形形態１に係り、刻印領域の一部を拡大した部分拡大平面図である。 変形形態１に係り、刻印領域画像のうち、分割非形成領域を撮像した分割非形成領域画像部について、（ａ）は当該分割非形成領域に電解液残渣が付着していない場合を示す説明図であり、（ｂ）は当該分割非形成領域に電解液残渣が付着している場合を示す説明図である。 変形形態１に係り、付着検知工程における判定結果及び付着径Ｒｄの求め方を示す説明図である。 変形形態２に係る電池のうち、電池ケースに設けられた刻印領域の拡大平面図である。 照明部が１つの照明によって構成される外観検査装置の説明図である。

（実施形態）
以下、本発明の実施形態を、図面を参照しつつ説明する。図１に本実施形態に係る電池１の斜視図を示す。なお、以下では、電池縦方向ＡＨ、電池横方向ＢＨ及び電池厚み方向ＣＨを、図１に示す方向と定めて説明する。この電池１は、ハイブリッドカーやプラグインハイブリッドカー、電気自動車等の車両などに搭載される角型で密閉型のリチウムイオン二次電池である。電池１は、角型の電池ケース１０と、この内部に収容された扁平状捲回型の電極体２０及び電解液１７と、電池ケース１０に支持された正極端子４０及び負極端子５０等から構成されている。

このうち電池ケース１０は、直方体箱状で金属（本実施形態ではアルミニウム）からなる。この電池ケース１０は、上側のみが開口した有底角筒状のケース本体部材１１と、このケース本体部材１１の開口を閉塞する形態で溶接された矩形板状のケース蓋部材１２とから構成されている。ケース蓋部材１２には、電池ケース１０の内圧が所定圧力に達した際に破断開弁する安全弁１３が設けられている。また、ケース蓋部材１２には、電池ケース１０の内外を連通する注液孔１２ｈが形成されており、封止部材１４で気密に封止されている。

また、電池ケース１０の表面１０ｃ（具体的には、ケース蓋部材１２の表面１２ｃ）には、矩形状の刻印領域３０が設けられている。図２に刻印領域３０の全体を拡大して示し、更に図３に刻印領域３０の一部を拡大して示す。なお、図１，図２において、刻印領域３０の外周縁を一点鎖線で示す。この刻印領域３０には、電池情報を表す刻印３１が形成されている。本実施形態では、この刻印３１は、複数の単独刻印３２（具体的には、半球状の凹部からなるドット状の単独刻印３２）が、二次元的に電池横方向ＢＨ及び電池厚み方向ＣＨに配置されて構成されている。刻印３１は、電池１のロット毎の電池情報を示すため、ロット毎に表示内容が異なる。

この刻印領域３０は、図２において、電池横方向ＢＨに９個、電池厚み方向ＣＨに９個、全部で９×９＝８１個の二次元的に並んだ刻印パターン領域３７と、これらの刻印パターン領域３７に含まれず、単独刻印３２が形成され得ない非形成領域３８とからなる。各々の刻印パターン領域３７は、上述のドット状の単独刻印３２からなる単一種類の単独刻印パターン３３が形成され得る円状の領域である。なお、図２及び図３において、刻印パターン領域３７のうち、このサンプル電池で実際に単独刻印３２が形成されている刻印パターン領域３７Ｃを実線の円で示し、このサンプル電池では単独刻印３２が形成されていない刻印パターン領域３７Ｄを破線の円で示している。
なお、本実施形態では、刻印領域３０内に、９×９＝８１個の刻印パターン領域３７を設けた例を示したが、その他、刻印領域３０内に、１８×１８＝３２４個の刻印パターン領域３７を設けるなど、刻印パターン領域３７を二次元的に縦横適数並べるようにしても良い。

本実施形態では、上述の刻印領域３０を、刻印パターン領域３７をそれぞれ含む９×９＝８１個の矩形状の単独刻印形成領域３５（図２及び図３において、隣り合う単独刻印形成領域３５同士の境界を二点鎖線で示す）に分割して考える。各単独刻印形成領域３５のうち、刻印パターン領域３７の周囲に位置して刻印パターン領域３７に含まれず、単独刻印３２が形成され得ない部位が、分割非形成領域３９（本実施形態では、外周が矩形状で内周が円状の分割非形成領域３９）である。前述の非形成領域３８は、９×９＝８１個の分割非形成領域３９によって構成される。

また、ケース蓋部材１２には、アルミニウムからなる正極端子４０がケース蓋部材１２と絶縁された状態で固設されている。この正極端子４０は、電池ケース１０内で電極体２０のうち正極板２１に接続し導通する一方、ケース蓋部材１２を貫通して電池外部まで延びている。また、ケース蓋部材１２には、銅からなる負極端子５０がケース蓋部材１２と絶縁された状態で固設されている。この負極端子５０は、電池ケース１０内で電極体２０のうち負極板２３に接続し導通する一方、ケース蓋部材１２を貫通して電池外部まで延びている。

電極体２０は、扁平状をなし、横倒しにした状態で電池ケース１０内に収容されている。この電極体２０は、帯状の正極板２１と帯状の負極板２３とを一対のセパレータ２５を介して重ね、軸線周りに扁平状に捲回したものである。

次いで、上記の電池１を用いた外観検査方法、具体的には、組み立てた電池１の電池ケース１０の表面１０ｃのうち、刻印領域３０における電解液残渣１７ｚ（電解液１７の溶媒が蒸発して残った付着物）の付着状態を検知し、更に、この判定結果２１０に基づいて電池１の外観の良否を判定する外観検査方法について説明する（図４～図８参照）。

まず、電池１の外観検査を行う外観検査装置１００について説明する（図４参照）。この外観検査装置１００は、照明部１１０と、撮像部１２０と、制御・判定部（判定部）１３０と、表示部１４０とを備える。
このうち照明部１１０は、検査光ＬＸ（本実施形態では可視光）を照射する一対の照明（第１照明１１１及び第２照明１１２）を有する。これら第１照明１１１及び第２照明１１２は、電池横方向ＢＨに間隔を空けて配置されている。図４中、左側に配置された第１照明１１１は、検査光ＬＸを電池ケース１０の刻印領域３０に向けて、斜め方向ＥＨ（刻印領域３０のなす法線ＦＸに沿う法線方向ＦＨに対して斜交する斜め方向ＥＨ）から、具体的には、図４において左上から右下へ斜めに照射可能に構成されている。一方、図４中、右側に配置された第２照明１１２は、検査光ＬＸを電池ケース１０の刻印領域３０に向けて、斜め方向ＥＨから、具体的には、図４において右上から左下へ斜めに照射可能に構成されている。このように一対の照明１１１，１１２を用いることで、光源から刻印領域３０の被照射部位までの距離の違いによって、後述する刻印領域画像２００において場所による輝度Ｌａの勾配ができてしまうのを抑制できる。この照明部１１０は、後述する制御・判定部１３０によって制御される。

撮像部１２０は、ＣＣＤカメラを有し、電池ケース１０の刻印領域３０を法線方向ＦＨ（本実施形態では、電池縦方向ＡＨと同じ）から撮像可能に構成されている。なお、ＣＣＤカメラに代えて、ＣＭＯＳイメージセンサを用いてもよい。この撮像部１２０は、制御・判定部１３０によって制御され、撮像部１２０で撮像された刻印領域画像２００は、制御・判定部１３０に出力される。

制御・判定部１３０は、照明部１１０、撮像部１２０及び表示部１４０と接続されている。この制御・判定部１３０は、図示しないＣＰＵ、ＲＯＭ及びＲＡＭを含み、ＲＯＭ等に記憶された所定の制御プログラムによって作動するマイクロコンピュータを有する。
制御・判定部１３０は、照明部１１０及び撮像部１２０を制御する。具体的には、制御・判定部１３０は、照明部１１０を制御して電池１の電池ケース１０の刻印領域３０に向けて検査光ＬＸを照射させると共に、撮像部１２０を制御して検査光ＬＸが照射されている刻印領域３０を撮影させる。

また、制御・判定部１３０は、撮像部１２０で撮影され、制御・判定部１３０に入力された刻印領域画像２００に基づいて、刻印領域３０における電解液残渣１７ｚの付着状態を解析し、更に当該電池１の外観の良否を判定する。そして、この電池１の外観良否の判定結果を表示部１４０に出力する。なお、刻印領域３０における電解液残渣１７ｚの付着状態を解析する手法、及び、電池１の外観良否を判定する手法の具体的な内容については、後述する。
表示部１４０は、液晶ディスプレイを有し、制御・判定部１３０から入力される、電池１の外観良否の判定結果を、液晶ディスプレイに表示可能に構成されている。

次に、上記の外観検査装置１００を用いた電池１の外観検査方法について説明する。本実施形態では、この外観検査を電池１の製造の最終段階で行う。即ち、電池１を組み立てた後、電池ケース１０の注液孔１２ｈを通じて、電解液１７を電池ケース１０内に注液し、更に注液孔１２ｈを封止部材１４で気密に封止する。その後、この電池１について初充電を行い、高温でエージングする。その後、この電池１について各種の電池性能検査を行う。その後に、この電池１について、本実施形態の外観検査を行う。
このように電池１の製造の最終段階において外観検査を行うことにより、注液孔１２ｈを封止した後の各工程で電解液１７の液漏れが生じて、電解液１７が電池ケース１０に付着した場合でも、電解液残渣１７ｚの付着を検知し、不良品の電池１を選別することができる。

電池１の外観検査は、まず「照射撮像工程Ｓ１」（図５参照）において、電池ケース１０の刻印領域３０に向けて斜め方向ＥＨから検査光ＬＸを照射しつつ、刻印領域３０を法線方向ＦＨから撮像する。具体的には、制御・判定部１３０からの指示により、照明部１１０の第１照明１１１及び第２照明１１２は、電池ケース１０の刻印領域３０に向けて斜め方向ＥＨから検査光ＬＸをそれぞれ照射する（図４参照）。これと共に、制御・判定部１３０からの指示により、撮像部１２０は、刻印領域３０を法線方向ＦＨから撮像する。そして、刻印領域３０の暗視野像である刻印領域画像２００を得る。この刻印領域画像２００は、制御・判定部１３０に出力する。

ここで、図６に刻印領域画像２００の具体例を示す。図６（ａ）は、刻印領域３０に電解液残渣１７ｚが付着していない場合に得られる刻印領域画像２００Ａである。一方、図６（ｂ）は、刻印領域３０に電解液残渣１７ｚが付着している場合に得られる刻印領域画像２００Ｂの一例である。図６において、画像をなす各画素２００ｐの輝度Ｌａが基準輝度Ｌｋよりも低い部分（Ｌａ＜Ｌｋ，実際の画像で黒っぽく見える部分）は、ドットのハッチングで示し、各画素２００ｐの輝度Ｌａが基準輝度Ｌｋよりも高い部分（Ｌａ＞Ｌｋ，実際の画像で白っぽく見える部分）は、ハッチングを掛けずに白色で示している。また、図２と同様に、各刻印パターン領域３７を撮像したパターン領域画像部２０７のうち、実際に単独刻印３２が形成されている刻印パターン領域３７Ｃを撮像したパターン領域画像部２０７Ｃを実線の円で示し、単独刻印３２が形成されていない刻印パターン領域３７Ｄを撮像したパターン領域画像部２０７Ｄを破線の円で示している。

図６（ａ）から明らかなように、刻印領域３０に電解液残渣１７ｚが付着していない場合でも、刻印領域画像２００Ａに輝度Ｌａの高い部位が存在する。即ち、検査光ＬＸは各単独刻印３２に当たって乱反射するため、刻印領域画像２００Ａのうち、実際に単独刻印３２が形成されている刻印パターン領域３７Ｃを撮像したパターン領域画像部２０７Ｃをなす各画素２０７ｐの輝度Ｌａが高くなる（Ｌａ＞Ｌｋ）。

一方、図６（ｂ）から明らかなように、刻印領域３０に電解液残渣１７ｚが付着している場合も、刻印領域画像２００Ｂに輝度Ｌａの高い部位が存在する。即ち、上述のように検査光ＬＸは各単独刻印３２に当たって乱反射するため、刻印領域画像２００Ｂのうち、実際に単独刻印３２が形成されている刻印パターン領域３７Ｃを撮像したパターン領域画像部２０７Ｃをなす画素２０７ｐの輝度Ｌａが高くなる（Ｌａ＞Ｌｋ）。またこれに加え、検査光ＬＸは、刻印領域３０に付着した電解液残渣１７ｚに当たって乱反射するため、刻印領域画像２００Ｂのうち、付着した電解液残渣１７ｚに対応する付着対応部分２０３をなす各画素２０３ｐの輝度Ｌａも高くなる（Ｌａ＞Ｌｋ）。

このように、刻印領域画像２００Ａ，２００Ｂには、刻印領域３０に電解液残渣１７ｚが付着しているか否かに拘わらず、輝度Ｌａの高い部位が存在するため、刻印領域画像２００Ａ，２００Ｂでは、刻印領域３０に電解液残渣１７ｚが付着しているか否かを適切に判定できない。そこで、次に説明する付着検知工程Ｓ２を行う。

この「付着検知工程Ｓ２」では、照射撮像工程Ｓ１で撮像した刻印領域画像２００に基づいて、電池ケース１０の刻印領域３０における電解液残渣１７ｚの付着状態を検知する。前述のように、刻印領域３０は、９×９＝８１個の円状の刻印パターン領域３７と、これらの刻印パターン領域３７以外の非形成領域３８とからなる。そこで、刻印領域３０を撮像した刻印領域画像２００は、各々の刻印パターン領域３７を撮像した８１個の円状のパターン領域画像部２０７と、非形成領域３８を撮像した１つの非形成領域画像部２０８とを有するとする。

本実施形態では、前述のように、刻印領域３０を、各々の刻印パターン領域３７を含む８１個の矩形状の単独刻印形成領域３５に分割し（図２及び図３参照）、非形成領域３８を各単独刻印形成領域３５に対応する８１個の分割非形成領域３９に分割した。各々の分割非形成領域３９は、前述のように、円状の刻印パターン領域３７の周囲に位置し、外周が矩形状で内周が円状の領域である。
そこで、刻印領域画像２００についても、各々の単独刻印形成領域３５を撮像した８１個の矩形状の単独刻印領域画像部２０５に分割し、非形成領域画像部２０８を、各々の分割非形成領域３９を撮像した８１個の分割非形成領域画像部２０９に分割する。各々の分割非形成領域画像部２０９は、外周が矩形状で内周が円状である。

そして、各々の分割非形成領域画像部２０９について、予め定めた基準輝度Ｌｋを超えた輝度Ｌａ（Ｌａ＞Ｌｋ）を有する範囲の面積Ｓａが、予め定めた基準面積Ｓｋを超えているか否かを判定し、超えている場合（Ｓａ＞Ｓｋ）には、当該分割非形成領域画像部２０９に対応する分割非形成領域３９に電解液残渣１７ｚが付着していると判定する。具体的には、本実施形態では、基準輝度Ｌｋを超えた輝度Ｌａを有する画素２０９ｐの画素数Ｎが、予め定めた基準画素数Ｎｋを超えているか否かを判定し、超えている場合（Ｎ＞Ｎｋ）には、当該分割非形成領域画像部２０９に対応する分割非形成領域３９に電解液残渣１７ｚが付着していると判定する。
なお、上述のＮ＞Ｎｋの場合に、対応する分割非形成領域３９だけでなく、この分割非形成領域３９を含む単独刻印形成領域３５の全体（分割非形成領域３９＋刻印パターン領域３７）に、電解液残渣１７ｚが付着しているとみなす判定をしてもよい。

ここで、図７に分割非形成領域画像部２０９の具体例を示す。図７（ａ）は、単独刻印形成領域３５の分割非形成領域３９に電解液残渣１７ｚが付着していない場合に得られる単独刻印領域画像部２０５Ａの分割非形成領域画像部２０９Ａである。一方、図７（ｂ）は、単独刻印形成領域３５の分割非形成領域３９の全体にわたって電解液残渣１７ｚが付着している場合に得られる単独刻印領域画像部２０５Ｂの分割非形成領域画像部２０９Ｂである。

分割非形成領域３９に電解液残渣１７ｚが付着していない場合には、この分割非形成領域３９では検査光ＬＸが乱反射しないため、分割非形成領域画像部２０９Ａをなす各画素２０９ｐの輝度Ｌａは低くなる（実際の画像で黒っぽく見える）。このような分割非形成領域画像部２０９Ａでは、この分割非形成領域画像部２０９Ａに含まれるすべての画素２０９ｐで輝度Ｌａが基準輝度Ｌｋよりも低くなるため（Ｌａ＜Ｌｋ）、この分割非形成領域画像部２０９Ａに対応する分割非形成領域３９には、電解液残渣１７ｚが付着していないと判定する。

一方、分割非形成領域３９に電解液残渣１７ｚが付着している場合には、この分割非形成領域３９に付着した電解液残渣１７ｚにより、検査光ＬＸが乱反射するため、分割非形成領域画像部２０９Ｂの全体または一部で各画素２０９ｐの輝度Ｌａが高くなる（実際の画像で全体または一部が白っぽく見える）。かくして、分割非形成領域画像部２０９Ｂのうち、電解液残渣１７ｚが存在する部分の画素２０９ｐは、輝度Ｌａが基準輝度Ｌｋよりも高くなるため（Ｌａ＞Ｌｋ）、輝度Ｌａが基準輝度Ｌｋを超えている画素２０９ｐの画素数Ｎが、基準画素数Ｎｋを超えている場合（Ｎ＞Ｎｋ）には、この分割非形成領域画像部２０９Ａに対応する分割非形成領域３９に、電解液残渣１７ｚが付着していると判定する。

次に、図８に、この付着検知工程Ｓ２における判定結果２１０の具体例を示す。この判定結果２１０は、刻印領域３０に電解液残渣１７ｚが付着している図６（ｂ）の場合における判定結果である。図８において、各分割非形成領域３９に対応した各領域２１５のうち、分割非形成領域３９に電解液残渣１７ｚが付着していると判定された付着領域２１５Ｂは、クロスのハッチングで示し、分割非形成領域３９に電解液残渣１７ｚが付着していないと判定された非付着領域２１５Ａは、ハッチングを掛けずに白色で示している。

次に、「良否判定工程Ｓ３」において、付着検知工程Ｓ２における判定結果２１０に基づいて、当該電池１の外観の良否を判定する。前述のように、付着検知工程Ｓ２において、各々の分割非形成領域３９について電解液残渣１７ｚの付着の有無を判定するが、ノイズ等により誤判定が生じる場合も考えられる。そこで、本実施形態では、付着検知工程Ｓ２において、いずれかの分割非形成領域３９で電解液残渣１７ｚの付着があると判定された場合には、更に、その電解液残渣１７ｚの付着径Ｒｄ（最大付着径）を概算する（図８参照）。

まず、電解液残渣１７ｚが付着していると判定された分割非形成領域３９（付着領域２１５Ｂ）が複数存在する場合には、これらの付着領域２１５Ｂが連続しているか否か（繋がっているか否か）を判断し、連続している付着領域２１５Ｂを、１つの電解液残渣１７ｚの付着領域（同一付着領域２１７）とみなす。図８の例では、すべての付着領域２１５Ｂが連続しているので、これらを１つの同一付着領域２１７とする。

そして、この同一付着領域２１７全体が含まれる最小の外接円Ｃｄを求め、その直径を電解液残渣１７ｚの付着径Ｒｄとする。次に、この電解液残渣１７ｚの付着径Ｒｄが、予め定めた基準付着径Ｒｋよりも大きい場合（Ｒｄ＞Ｒｋ）に、当該電池１を、刻印領域３０に電解液残渣１７ｚが付着している不良品であると判定する。
なお、刻印領域３０内に、同一付着領域２１７が複数存在する場合には、各々の同一付着領域２１７について付着径Ｒｄを求め、いずれかの付着径Ｒｄが基準付着径Ｒｋよりも大きい場合に、当該電池１を不良品であると判定する。

一方、それ以外の場合、即ち、（１）付着検知工程Ｓ２において、いずれの分割非形成領域３９においても電解液残渣１７ｚの付着がないと判定された場合、及び、（２）付着検知工程Ｓ２において、いずれかの分割非形成領域３９で電解液残渣１７ｚの付着があると判定されたものの、この良否判定工程Ｓ３で概算した電解液残渣１７ｚの付着径Ｒｄが、いずれも基準付着径Ｒｋ以下である場合（Ｒｄ≦Ｒｋ）には、当該電池１を良品と判定する。
そして、この良否判定工程Ｓ３における当該電池１の外観良否の判定結果を、制御・判定部１３０から表示部１４０に出力し、表示部１４０で表示する。かくして、電池１の外観検査が終了する。

以上で説明したように、検査光ＬＸが単独刻印３２に当たると乱反射する。このため、刻印領域画像２００のうち、単独刻印３２が形成され得る刻印パターン領域３７を撮像したパターン領域画像部２０７では、刻印パターン領域３７に電解液残渣１７ｚが付着していない場合でも、形成されている単独刻印３２による乱反射でパターン領域画像部２０７をなす各画素２０７ｐの輝度Ｌａが高くなっている可能性があり、単独刻印３２と電解液残渣１７ｚの付着との区別が難しい。

これに対し、刻印領域３０の非形成領域３８は、単独刻印３２が形成され得ないため、単独刻印３２に起因した乱反射は生じない。このため、非形成領域３８に電解液残渣１７ｚが付着していない場合には、この非形成領域３８を撮像した非形成領域画像部２０８をなす各画素２０８ｐの輝度Ｌａはいずれも低い。
一方、非形成領域３８のいずれか部位に電解液残渣１７ｚが付着している場合には、乱反射により、非形成領域画像部２０８をなす各画素２０８ｐのうち、当該電解液残渣１７ｚが付着している部位に対応する画素２０８ｐの輝度Ｌａが高くなる。このため、刻印領域３０の非形成領域３８への電解液残渣１７ｚの付着状態を適切に判定できる。
そこで、本実施形態では、付着検知工程Ｓ２において、刻印領域３０を撮像した刻印領域画像２００のうち、非形成領域３８を撮像した非形成領域画像部２０８をなす各画素２０８ｐの輝度Ｌａに基づいて、刻印領域３０への電解液残渣１７ｚの付着状態を判定する。このようにすることで、刻印領域３０への電解液残渣１７ｚの付着状況を適切に検査できる。

更に、本実施形態では、刻印領域３０の非形成領域３８を複数の分割非形成領域３９に分割し、刻印領域画像２００の非形成領域画像部２０８を、分割非形成領域３９をそれぞれ撮像した複数の分割非形成領域画像部２０９に分割する。そして、分割非形成領域画像部２０９のそれぞれについて、基準輝度Ｌｋを超えた輝度Ｌａを有する範囲の面積Ｓａが基準面積Ｓｋを超えている場合に、対応する分割非形成領域３９に電解液残渣１７ｚが付着していると判定する。このようにすることで、刻印領域３０をなす複数の分割非形成領域３９のうちどの分割非形成領域３９に、電解液残渣１７ｚが付着しているかを適切に判定できる。このため、刻印領域３０全体における電解液残渣１７ｚの付着の有無や付着範囲の形態、大きさを適切に把握し、電池１の適否を判断できる。
また、本実施形態では、付着検知工程Ｓ２における判定結果２１０に基づいて、当該電池１の外観の良否を判定する良否判定工程Ｓ３を更に備えるため、電池１の外観の良否をも適切に判定できる。

（変形形態１）
次いで、上記実施形態の第１の変形形態について説明する。実施形態では、刻印領域３０の非形成領域３８を、それぞれ、円状の刻印パターン領域３７の周囲に位置し、外周が矩形状で内周が円状の分割非形成領域３９に分割した（図３参照）。またこれに伴い、刻印領域画像２００の非形成領域画像部２０８を、各々の分割非形成領域３９を撮像した分割非形成領域画像部２０９（図７参照）に分割した。

これに対し、本変形形態１では、刻印領域３０の非形成領域３８を、図９に示すように、それぞれ、円状の４個の刻印パターン領域３７によって囲まれる＋字状の分割非形成領域４３９に分割する。またこれに伴い、刻印領域画像２００の非形成領域画像部２０８を、各々の分割非形成領域４３９を撮像した分割非形成領域画像部５０９（図１０参照）に分割する。

そして、本変形形態１の付着検知工程Ｓ２では、各々の分割非形成領域画像部５０９について、予め定めた基準輝度Ｌｋを超えた輝度Ｌａ（Ｌａ＞Ｌｋ）を有する範囲の面積Ｓａが、予め定めた基準面積Ｓｋを超えている場合（Ｓａ＞Ｓｋ）に、具体的には、基準輝度Ｌｋを超えた輝度Ｌａを有する画素５０９ｐの画素数Ｎが、予め定めた基準画素数Ｎｋを超えている場合（Ｎ＞Ｎｋ）に、当該分割非形成領域画像部５０９に対応する分割非形成領域４３９に電解液残渣１７ｚが付着していると判定する。
なお、上述のＮ＞Ｎｋの場合に、対応する分割非形成領域４３９だけでなく、この分割非形成領域４３９を含む４つの単独刻印形成領域３５の全体に、電解液残渣１７ｚが付着しているとみなす判定をしてもよい。

図１０（ａ）は、分割非形成領域４３９に電解液残渣１７ｚが付着していない場合に得られる分割非形成領域画像部５０９Ａである。一方、図１０（ｂ）は、分割非形成領域４３９の全体にわたって電解液残渣１７ｚが付着している場合に得られる分割非形成領域画像部４０９Ｂである。
また、図１１に、本変形形態１の付着検知工程Ｓ２における判定結果５１０の具体例を示す。この判定結果５１０は、刻印領域３０に電解液残渣１７ｚが付着している図６（ｂ）の場合における判定結果である。図１１において、各分割非形成領域４３９に対応した各領域５１５のうち、分割非形成領域４３９に電解液残渣１７ｚが付着していると判定された付着領域５１５Ｂは、クロスのハッチングで示し、分割非形成領域４３９に電解液残渣１７ｚが付着していないと判定された非付着領域５１５Ａは、ハッチングを掛けずに白色で示している。

次に、良否判定工程Ｓ３において、付着検知工程Ｓ２における判定結果２１０に基づいて、当該電池１の外観の良否を判定する。まず実施形態と同様に、電解液残渣１７ｚが付着していると判定された分割非形成領域４３９（付着領域５１５Ｂ）が複数存在する場合には、これらの付着領域５１５Ｂが連続しているか否かを判断し、連続している付着領域５１５Ｂを１つの電解液残渣１７ｚの付着領域（同一付着領域５１７）とみなす。

そして、本変形形態１では、この同一付着領域５１７の全体が含まれる最小の外接楕円Ｄｄ（面積が最小となる外接楕円Ｄｄ）を求め、その長径を電解液残渣１７ｚの付着径Ｒｄとする。このように外接楕円Ｄｄにより電解液残渣１７ｚの付着径Ｒｄを求めることで、実施形態（図８参照）のように外接円Ｃｄにより電解液残渣１７ｚの付着径Ｒｄを求めるよりも、より適切な大きさの付着径Ｒｄを得ることができる。その後は、実施形態と同様に、この付着径Ｒｄが予め定めた基準付着径Ｒｋよりも大きい場合（Ｒｄ＞Ｒｋ）に、当該電池１を、刻印領域３０に電解液残渣１７ｚが付着している不良品であると判定する。

本変形形態１でも、実施形態と同様に、付着検知工程Ｓ２で、各分割非形成領域４３９を撮像した分割非形成領域画像部５０９において、基準輝度Ｌｋを超えた輝度Ｌａを有する範囲の面積Ｓａが基準面積Ｓｋを超えている場合に、当該分割非形成領域４３９に電解液残渣１７ｚが付着していると判定した。これにより、刻印領域３０をなす複数の分割非形成領域４３９のうちどの分割非形成領域４３９に、電解液残渣１７ｚが付着しているかを適切に判定でき、更には、刻印領域３０における電解液残渣１７ｚの付着有無を適切に検査できる。その他、実施形態と同様な部分は、実施形態と同様な作用効果を奏する。

（変形形態２）
次いで、上記実施形態の第２の変形形態について説明する。実施形態の電池１では、刻印領域３０に形成された刻印３１は、同一種類のドット状の多数の単独刻印３２から構成されている（図２及び図３参照）。これに対し、本変形形態２の電池３００では、図１２に示すように、刻印領域３３０に形成された刻印３３１は、以下で述べるように、複数種類の単独刻印３３２（３３２ａ，３３２ｂ，３３２ｃ）を３個並べて構成されている点が異なる。それ以外は、基本的に実施形態と同様である。

即ち、本変形形態２の刻印３３１は、３桁の英数字からなる刻印（図１２の例では、「Ａ３５」）であり、各桁の刻印は、それぞれ、「Ａ」から「Ｚ」までの大文字の２６種類のアルファベットの刻印と、「０」から「９」までの１０種類の数字の刻印、合計３６種類の単独刻印３３２のいずれかからなる。
本変形形態２の刻印領域３３０は、３個の刻印パターン領域３３７（３３７ａ，３３７ｂ，３３７ｃ）と、これらの刻印パターン領域３３７に含まれず、単独刻印３３２が形成され得ない非形成領域３３８とからなる。各刻印パターン領域３３７（３３７ａ，３３７ｂ，３３７ｃ）は、それぞれ、上述の３６種類の単独刻印パターン３３３（３３３ａ，３３３ｂ，３３３ｃ）をすべて重ねた矩形状の重複刻印パターン３３４（３３４ａ，３３４ｂ，３３４ｃ）からなる。

本変形形態２では、刻印領域３３０を、各刻印パターン領域３３７をそれぞれ含む３個の矩形状の単独刻印形成領域３３５（３３５ａ，３３５ｂ，３３５ｃ）（図１２において、隣り合う単独刻印形成領域３３５同士の境界を二点鎖線で示す）に分割して考える。
図１２中、一番左に位置する単独刻印形成領域３３５ａの分割非形成領域３３９ａは、この単独刻印形成領域３３５ａの刻印パターン領域３３７ａの右側で、中央の単独刻印形成領域３３５ｂとの間に位置して、単独刻印３３２ａが形成され得ない、上下に細長い帯状の領域である。
また、図１２中、一番右に位置する単独刻印形成領域３３５ｃの分割非形成領域３３９ｃは、この単独刻印形成領域３３５ｃの刻印パターン領域３３７ｃの左側で、中央の単独刻印形成領域３３５ｂとの間に位置して、単独刻印３３２ｃが形成され得ない、上下に細長い帯状の領域である。

また、図１２中、中央に位置する単独刻印形成領域３３５ｂの分割非形成領域３３９ｂは、この単独刻印形成領域３３５ｂの刻印パターン領域３３７ｂの左側で、一番左の単独刻印形成領域３３５ａとの間に位置して、単独刻印３３２ｂが形成され得ない、上下に細長い帯状の領域、及び、この単独刻印形成領域３３５ｂの刻印パターン領域３３７ｂの右側で、一番右の単独刻印形成領域３３５ｃとの間に位置して、単独刻印３３２ｂが形成され得ない、上下に細長い帯状の領域の２つの領域からなる。
前述の非形成領域３３８は、これらの分割非形成領域３３９（３３９ａ，３３９ｂ，３９ｃ）によって構成される。

このような形態の刻印領域３３０に対して外観検査を行う場合でも、前述した実施形態と同様に、付着検知工程Ｓ２で、各分割非形成領域３３９（３３９ａ，３３９ｂ，３３９ｃ）を撮像した分割非形成領域画像部（不図示）において、基準輝度Ｌｋを超えた輝度Ｌａを有する範囲の面積Ｓａが基準面積Ｓｋを超えている場合に、当該分割非形成領域３３９に電解液残渣１７ｚが付着しているとそれぞれ判定する。これにより、刻印領域３３０をなす複数の分割非形成領域３３９のうちどの分割非形成領域３３９に、電解液残渣１７ｚが付着しているかを適切に判定でき、更には、刻印領域３３０における電解液残渣１７ｚの付着有無を適切に検査できる。その他、実施形態と同様な部分は、実施形態と同様な作用効果を奏する。

以上において、本発明を実施形態及び変形形態１，２に即して説明したが、本発明は実施形態等に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、適宜変更して適用できることは言うまでもない。
例えば、実施形態等では、電解液残渣１７ｚの刻印領域３０，３３０への付着有無を検知したが、例えば、検査光ＬＸの照射角度や検査光ＬＸの強さ、種類等を変更したり、撮像部１２０の位置を変更したりするなど、検査条件を変更することにより、液状の電解液１７の刻印領域３０，３３０への付着有無を検知してもよい。

また、実施形態等では、電池１，３００の外観検査を、注液孔１２ｈを封止した後、更に、初充電、高温エージング、各種の電池性能検査を行った後に実施しているが、これに限定されない。例えば、注液孔１２ｈを封止した直後や、初充電の直後などに、電池１，３００の外観検査を行ってもよい。また、電池１，３００の外観検査は、電池１，３００の製造過程において複数回行ってもよい。なお、高温エージング以降に電池１，３００の外観検査を行う場合には、電池ケース１０に付着した電解液１７は、溶媒が蒸発して電解液残渣１７ｚとなっているため、電解液残渣１７ｚの付着有無を検査するのが好ましい。一方、例えば注液孔１２ｈを封止した直後に電池１，３００の外観検査を行う場合には、電池ケース１０に付着しているのは液状の電解液１７であるため、液状の電解液１７の付着有無を検査するのが好ましい。

また、実施形態等の外観検査装置１００では、照明部１１０が、検査光ＬＸをそれぞれ照射する一対の照明（第１照明１１１及び第２照明１１２）によって構成されているが（図４参照）、照明部はこれに限定されない。例えば図１３に示す外観検査装置１５０のように、照明部１６０を、検査光ＬＸを照射する１つの照明１６１を用いて構成してもよい。このような照明部１６０でも、照射撮像工程Ｓ１において、電池ケース１０の刻印領域３０，３３０に向けて斜め方向ＥＨから検査光ＬＸを照射しつつ、撮像部１２０で法線方向ＦＨから刻印領域３０，３３０を撮像することにより、刻印領域画像２００を得ることができる。

また、実施形態等では、電池ケース１０のうち刻印領域３０，３３０について、電解液１７等の付着状態を検知することを説明したが、電池ケース１０のうち刻印領域３０，３３０以外の部位についても、電解液１７等の付着状態を検知するのが好ましい。即ち、電池ケース１０の表面１０ｃのうち、刻印領域３０，３３０以外の平坦な部位について、例えば、電池ケース１０の被照射部位に斜め方向から検査光ＬＸを照射しつつ、この被照射部位を法線方向から撮像する。そして、撮像した画像（暗視野像）に基づいて、基準輝度Ｌｋを超えた輝度Ｌａを有する範囲の面積Ｓｂが、予め定めた基準面積Ｓｊを超えている場合に、この電池１，３００を、電池ケース１０に電解液１７等が付着した不良品と判定する。

１，３００ 電池
１０ 電池ケース
１０ｃ （電池ケースの）表面
１７ 電解液
１７ｚ 電解液残渣
３０，３３０ 刻印領域
３１，３３１ 刻印
３２，３３２，３３２ａ，３３２ｂ，３３２ｃ 単独刻印
３３，３３３，３３３ａ，３３３ｂ，３３３ｃ 単独刻印パターン
３３４，３３４ａ，３３４ｂ，３３４ｃ 重複刻印パターン
３５，３３５，３３５ａ，３３５ｂ，３３５ｃ 単独刻印形成領域
３７，３７Ｃ，３７Ｄ，３３７，３３７ａ，３３７ｂ，３３７ｃ 刻印パターン領域
３８，３３８ 非形成領域
３９，４３９，３３９，３３９ａ，３３９ｂ，３３９ｃ 分割非形成領域
１００，１５０ 外観検査装置
１１０，１６０ 照明部
１２０ 撮像部
１３０ 制御・判定部（判定部）
２００，２００Ａ，２００Ｂ 刻印領域画像
２００ｐ （刻印領域画像をなす）画素
２０５，２０５Ａ，２０５Ｂ 単独刻印領域画像部
２０７，２０７Ｃ，２０７Ｄ パターン領域画像部
２０７ｐ （パターン領域画像部をなす）画素
２０８ 非形成領域画像部
２０８ｐ （非形成領域画像部をなす）画素
２０９，２０９Ａ，２０９Ｂ，５０９，５０９Ａ，５０９Ｂ 分割非形成領域画像部
２０９ｐ，５０９ｐ （分割非形成領域画像部をなす）画素
２１０，５１０ 判定結果
ＥＨ 斜め方向
ＦＸ 法線
ＦＨ 法線方向
ＬＸ 検査光
Ｌａ 輝度
Ｌｋ 基準輝度
Ｓａ 面積
Ｓｋ 基準面積
Ｓ１ 照射撮像工程
Ｓ２ 付着検知工程
Ｓ３ 良否判定工程

Claims (2)

1. 電池ケースの表面の刻印領域に、１または複数の単独刻印から構成される刻印を含む電池について、上記刻印領域への電解液または電解液残渣の付着有無を検査する
   電池の外観検査方法であって、
   上記刻印領域のなす法線に沿う法線方向に対して斜交する斜め方向から上記刻印領域に向けて検査光を照射しつつ、上記法線方向から上記刻印領域を撮像した刻印領域画像を得る照射撮像工程と、
   上記刻印領域画像に基づいて、上記刻印領域における上記電解液または上記電解液残渣の付着状態を検知する付着検知工程と、を備え、
   上記刻印領域は、
   使用される単一種類の単独刻印パターンが形成され得る、または、使用され得る複数種類の単独刻印パターンをすべて重ねた重複刻印パターンが形成され得る刻印パターン領域と、
   上記刻印パターン領域に含まれず、上記単独刻印が形成され得ない非形成領域とからなり、
   上記刻印領域画像は、
   上記刻印パターン領域を撮像したパターン領域画像部と、
   上記非形成領域を撮像した非形成領域画像部とを含み、
   上記付着検知工程は、
   上記非形成領域画像部をなす各画素の輝度に基づいて、上記刻印領域への上記電解液または上記電解液残渣の上記付着状態を判定する
   電池の外観検査方法。
2. 電池ケースの表面の刻印領域に、１または複数の単独刻印から構成される刻印を含む電池について、上記刻印領域への電解液または電解液残渣の付着有無を検査する
   電池の外観検査装置であって、
   上記刻印領域のなす法線に沿う法線方向に対して斜交する斜め方向から上記刻印領域に向けて検査光を照射する照明部と、
   上記法線方向から上記刻印領域を撮像して刻印領域画像を得る撮像部と、
   上記刻印領域画像に基づいて、上記刻印領域における上記電解液または上記電解液残渣の付着状態を検知する判定部と、を備え、
   上記刻印領域は、
   使用される単一種類の単独刻印パターンが形成され得る、または、使用され得る複数種類の単独刻印パターンをすべて重ねた重複刻印パターンが形成され得る刻印パターン領域と、
   上記刻印パターン領域に含まれず、上記単独刻印が形成され得ない非形成領域とからなり、
   上記刻印領域画像は、
   上記刻印パターン領域を撮像したパターン領域画像部と、
   上記非形成領域を撮像した非形成領域画像部とを含み、
   上記判定部は、
   上記非形成領域画像部をなす各画素の輝度に基づいて、上記刻印領域への上記電解液または上記電解液残渣の上記付着状態を判定する
   電池の外観検査装置。

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