JP7254388B2 - 歪抵抗測定回路及び当該回路における歪抵抗算定方法 - Google Patents
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Description
R1=R0+ΔR
に変化する。
尚、歪ゲージが備えている抵抗値R0は、製造メーカーにおいて予め設定し、かつ表示しているが、当該設定値には多少の誤差を包摂する場合があることから、改めて抵抗値R0を電圧値及び電流値の測定によって設定することが少なからず行われている。
V=(R1・R4-R2・R3)E/(R1+R2)(R3+R4)
が成立する。
但し、R1が前記のようにR0からR0+ΔRに変化し、かつ図24(b)に示すように、R0=R2=R3=R4と設定した場合には、
V=ΔRE/(4R0+2ΔR)≒ΔRE/4R0
という近似式が成立し、しかも従来技術の殆ど大抵の場合に前記近似式に依拠している。
ΔRE/(4R0+2ΔR)≒(ΔRE/4R0)・(1-ΔR/2R0)E
という更に性格な近似式が成立することを考慮した場合には、前記ΔR/R0という一次近似に立脚している前記近似式は、決して精度の高い近似式ではない。
但し、歪ゲージにおいては、 歪ゲージを構成している抵抗素子における前記のような温度変化を原因とする抵抗率の変化に基づく抵抗値の変化だけでなく、測定対象物の熱収縮又は熱膨張と歪ゲージにおける熱収縮又は熱膨張の相違を反映した抵抗率の変化による抵抗値の変化も発生している。
R1=R0+ΔR´+ΔR(T)
が成立し、
R3=R0+ΔR(T)
が成立する。
V=(ΔR´・R0・E)/(2R0+ΔR´+ΔR(T))(2R0+ΔR(T))
≒ΔR´・E/4R0
という近似式が成立する。
V={(R0+ΔR´+ΔR(T))2-(R0+ΔR(T))2}E/(2R0+ΔR´+2ΔR(T))2
≒ΔR´E/2R0
という近似式が成立する。
(1)歪抵抗の測定を目的とする歪ゲージの接続両端子のみに対し、定電流電源及び電圧計と直列状態にて接続している可変定電圧電源が並列状態に接続されており、かつ前記各接続両端子における定電流電源の導通方向と可変定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電圧電源の電圧値の調整によって電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによって、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
(2)基本構成(1)の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 歪ゲージと接触している測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電流I0の設定、並びに電圧計の測定値をゼロとするような可変定電圧V0の調整、及びR0=V0/I0による歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定。
2 測定対象物に対し外力が作用する状態の設定、及び当該状態における電圧計による電圧値Vfの測定。
3 ΔR=Vf/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
4 所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記原因によって発生した歪εの算定。
(3)歪抵抗の測定を目的とする歪ゲージの接続両端子のみに対し、可変定電流電源及び電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が並列状態に接続されており、かつ前記各接続両端子における可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電流電源の電流値の調整によって電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによって、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
(4)基本構成(3)の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 歪ゲージと接触している測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧V0の設定、並びに電圧計の測定値をゼロとするような可変定電流I0の調整、及びR0=V0/I0による歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定。
2 測定対象物に対し外力が作用する状態の設定、及び当該状態における電圧計による電圧値Vfの測定。
3 ΔR=Vf/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
4 所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記原因によって発生した歪εの算定。
(5)歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージの各接続両端子のうち、第1の歪ゲージの他方側端子と、第2の歪ゲージの一方側端子とを接続した上で、第1の歪ゲージの一方側と第2の歪ゲージの他方側とによる接続両端子のみに対し、定電流電源及び電圧計と直列状態にて接続している可変定電圧電源が並列 状態に接続されており、前記各接続両端子における定電流電源の導通方向と可変定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電圧電源の電圧値の調整によって電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによって、ホイートストンブリッジ回路 を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
(6)基本構成(5)の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 第1の歪ゲージ及び当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージと接触している各測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電流I0の設定、並びに電圧計の測定値をゼロとするような可変定電圧V0の調整、及びR0=V0/2I0による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定。2 各測定対象物に対し外力が作用する状態の設定、及び当該状態における電圧計による電圧値Vfの測定。
3 ΔR=Vf/2I0による各測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
4 所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記原因によって発生した歪εの算定。
(7)歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージの各接続両端子のうち、第1の歪ゲージの他方側端子を、第2の歪ゲージの一方側端子と接続した上で、第1の歪ゲージの一方側と第2の歪ゲージの他方側とによる接続両端子のみに対し、可変定電流電源及び電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が並列状 態に接続されており、前記接続両端子における可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電流電源の電流値の調整によって電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによって、ホイートストンブリッジ回路を不 要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
(8)基本構成(7)の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 第1の歪ゲージ及び当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージと接触している各測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧V0の設定、並びに電圧計の測定値をゼロとするような可変定電流I0の調整、及びR0=V0/2I0による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定。2 各測定対象物に対し外力が作用する状態の設定、及び当該状態における電圧計による電圧値Vfの測定。
3 ΔR=Vf/2I0による各測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
4 所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記原因によって発生した歪εの算定。
(9a)歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージを採用し、第1の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第1の定電流電源及び第1の電圧計と直列状態にて接続している可変定電圧電源が並列状態に接続されており、第2の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第2の定電流電源及び第2の電圧計と直列状態にて接続している可変定電圧電源が並列状態に接続されており、第1の歪ゲージにおける前記各接続両端子における第1の定電流電源の導通方向と可変定電圧電源の印加方向とが同一方向であり、かつ可変定電圧電源の電圧値を調整することによって第1の電圧計の測定値をゼロと設定することが可能であると共に、第2の歪ゲージにおける前記各接続両端子における第2の定電流電源の導通方向と可変定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電圧電源の電圧値の調整によって第2の電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによって、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
(9b)歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージを採用し、第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージの各接続両端子のうち、第1の歪ゲージの他方側端子と第2の歪ゲージの一方側端子とをアースに接続すると共に相互に接続した上で、第1の歪ゲージの一方側端子と第2の歪ゲージの他方側端子とによる接続両端子のみに対し、定電流電源が接続されると共に、第1の歪ゲージの接続両端子に対し、第1の電圧計と直列状態にて接続している可変定電圧電源が接続されており、第2の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第2の電圧計と直列状態にて接続している可変定電圧電源が定 電流電源と並列状態にて接続されており、前記各接続両端子における定電流電源の導通方向と可変定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電圧電源の電圧値の調整によって第1の電圧計及び第2の電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とするこ とによって、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
(10)基本構成(9a)又は(9b)の何れかの歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における第1及び第2の各定電流電源による定電流I0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとし、かつ第2の電圧計の測定値V20を略ゼロとするような可変定電圧V0の調整、及びR0=V0/I0による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及び第2の歪ゲージが備えている抵抗値の近似値R0の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 V1x=V2xであるか否かの判定。
6(1)V1x=V2xである場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
7(1)V1x=V2xである場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
(11)基本構成(9a)又は(9b)の何れかの歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における第1及び第2の各定電流電源による定電流I0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとし、かつ第2の電圧計の測定値V20を略ゼロとするような可変定電圧V0の調整、及びR0=V0/I0による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及び第2の歪ゲージが備えている抵抗値の近似値R0の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
6 所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
(12)歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージを採用し、第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージの各接続両端子のうち、第1の歪ゲージの他方側端子と第2の歪ゲージの一方側端子とをアースに接続すると共に相互に接続した上で、第1の歪ゲージの一方側端子と第2の歪ゲージの他方側端子とによる接続両端子のみに対し可変定電流電源が接続されており、第1の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第1の電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が接続されており、第2の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第2の電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が可変定 電流電源と並列状態にて接続されており、前記各接続両端子における可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電流電源の電流値の調整によって第1の電圧計及び第2の電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とするこ とによって、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
(13)基本構成(12)記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧電源による定電圧V0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとし、かつ第2の電圧計の測定値V20を略ゼロとするような可変定電流I0の調整、及びR0=V0/I0による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及び第2の歪ゲージが備えている抵抗値の近似値R0の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 V1x=V2xであるか否かの判定。
6(1)V1x=V2xである場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
7(1)V1x=V2xである場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
(14)基本構成(12)記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧電源による定電圧V0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとし、かつ第2の電圧計の測定値V20を略ゼロとするような可変定電流I0の調整、及びR0=V0/I0による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及び第2の歪ゲージが備えている抵抗値の近似値R0の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
6 所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
(15)歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージを採用し、第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージの各接続両端子のうち、第1の歪ゲージの他方側端子と第2の歪ゲージの一方側端子とをアースに接続すると共に相互に接続し、第1の歪ゲージの一方側端子及び第2の歪ゲージの他方側端子による接続両端子のみに対し、定電流電源が接続されており、第1の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第1の電圧計と直列状態にて接続している第1の可変定電圧電源が接続されており、第2の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第2の電圧計と直列状態にて接続している第2の可変定電圧電源が接続されており、前記各接続両端子における定電流電源の導通方向と第1の可変定電圧電源及び第2の可変定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ第1の可変定電圧電源の電圧値の調整によって第1の電圧計の測定値をゼロと設定することが可能であると共に、第2の可変定電圧電源の電圧値の調整によって第2の電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによって、ホイートストンブリッジ回路を不要とすること を特徴とする歪抵抗測定回路。
(16)基本構成(15)の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における第1及び第2の各定電流電源による定電流I0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとするような可変定電圧V10の調整、及び第2の電圧計の測定値V20をゼロとするような可変定電圧V20の調整、及びR0=V10/I0による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及びR0´=V20/I0による第2の歪ゲージが備えている抵抗値R0´であって前記R0に対する近似値の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 V1x=V2xであるか否かの判定。
6(1)V1x=V2xである場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
7(1)V1x=V2xである場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
(17)基本構成(15)の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における第1及び第2の各定電流電源による定電流I0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとするような可変定電圧V10の調整、及び第2の電圧計の測定値V20をゼロとするような可変定電圧V20の調整、及びR0=V10/I0による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及びR0´=V20/I0による第2の歪ゲージが備えている抵抗値R0´であって前記R0に対する近似値の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
6 所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
(18a)歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージを採用し、第1の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第1の可変定電流電源及び第1の電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が並列状態に接続されており、第2の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第2の可変定電流電源及び第2の電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が並列状態に接続されており、第1の歪ゲージの前記各接続両端子における第1の可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ第1の可変定電流電源の電流値を調整することによって第1の電圧計の測定値をゼロと設定することが可能であると共に、第2の歪ゲージの前記各接続両端子における第2の可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ第2の可変定電流電源の電流値の調整によって第2の電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによって、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
(18b)歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージを採用し、第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージの各接続両端子のうち、第1の歪ゲージの他方側端子と第2の歪ゲージの一方側端子とをアースに接続すると共に相互に接続し、第1の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第1の可変定電流電源及び第1の電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が並列状態に接続されており、第2の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第2の可変定電流電源及び第2の電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が並列状態に接続されており、第1の歪ゲージの前記各接続両端子における第1の可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ第1の可変定電流電源の電流値の調整によって第1の電圧計の測定値をゼロと設定することが可能であると共に、第2の歪ゲージの前記各接続両端子における第2の可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ第2の可変定電流電源の電流値の調整によって第2の電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによ って、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
(19)基本構成(18a)又は(18b)の何れかの歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧電源における定電圧V0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとするような可変定電流I10の調整、及び第2の電圧計の測定値V20をゼロとするような可変定電流I20の調整、及びR0=V0/I10による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及びR0´=V0/I20による第2の歪ゲージが備えている抵抗値R0´であって前記R0に対する近似値の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計における電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計における電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 V1x=V2xであるか否かの判定。
6(1)V1x=V2xである場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I10による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I10による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I10による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
7(1)V1x=V2xである場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
(20)基本構成(18a)又は(18b)の何れかの歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧電源における定電圧V0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとするような可変定電流I10の調整、及び第2の電圧計の測定値V20をゼロとするような可変定電流I20の調整、及びR0=V0/I10による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及びR0´=V0/I20による第2の歪ゲージが備えている抵抗値R0´であって前記R0に対する近似値の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計における電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計における電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 ΔR=(V1Lf-V1L)/I10による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I10による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
6 所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
尚、何れの基本構成においても、図24(b)に示すような抵抗値が等しい状態にある従来技術によるブリッジ回路における歪の測定に比し、4倍の感度を実現することができることについては、後述するとおりである。
1 歪ゲージ1と接触している測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電流I0の設定、並びに電圧計4の測定値をゼロとするような可変定電圧V0の調整、及びR0=V0/I0による歪ゲージ1が備えている抵抗値R0の設定。
2 測定対象物に対し外力が作用する状態の設定、及び当該状態における電圧計4による電圧値Vfの測定。
3 ΔR=Vf/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
4 所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記原因によって発生した歪εの算定。
I0R0-V0=0
が成立する。
但し、プロセス1における「ゼロ」は、数学的に厳密な「零」という趣旨ではなく、測定値に立脚した「約ゼロ」の趣旨であって、具体的には、測定値の誤差が10-2以下の場合には、当該誤差を度外視することができる。
尚、上記趣旨は、他の方法に関する各基本構成における「ゼロ」の場合においても同様に妥当する。
Vf=(R0+ΔR)I0-V0
=ΔRI0 ・・・(1)
が成立し、プロセス3において、ΔRについては、
ΔR=Vf/I0
によって正確に算定され、プロセス4において、歪εについては、
ε=(1/K)(ΔR/R0) ・・・(2)
によって算定されることに帰する。
尚、Kは、歪ゲージ1において具体的に歪εの正確な数値を提示するために必要な補正係数であるゲージ率であって、通常約2前後の数値が採用されている。
ゲージ率Kの趣旨及び数値範囲は、他のフローチャートに即した基本構成においても正に同様である。
Vf/ε=KI0R0
=KV0
即ち、歪ゲージのゲージ率と歪が発生していない場合の基準電圧V0との積による尺度を感度として実現することができる。
ΔR≒4V(R0/E) ・・・(3)
という近似式が成立する。
ε=(1/K)(ΔR/R0)
≒(4/K)(V/E)
が成立し、
V/ε≒KE/4
が成立する。
基本構成(2)のVf/図24(b)におけるV=4
が成立する。
測定電圧/算定された歪ε
だけでなく、
測定電圧/(算定された歪εに比例する物理量、具体的には歪ゲージに加えた荷重)
の場合においても成立し、かつこの点は、後述する他の基本構成の場合においても変わりはない。
但し、歪ゲージが有している抵抗値R0=120Ωと設定し、定電流I0として、10mAを設定し、歪ゲージの抵抗R0及び図24(b)のブリッジ回路において歪ゲージ以外の3個の抵抗素子のR0につき120Ωを設定し、何れも基本構成(2)におけるV0及び図24(b)の定電圧Eを1.2Vに設定している。
Vf/V=193.92/49.21
≒3.94
であって、前記4倍の感度が相当の精度を以って成立することが実験によって確認することができる。
1 歪ゲージ1と接触している測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧V0の設定、並びに電圧計4の測定値をゼロとするような可変定電流I0の調整、及びR0=V0/I0による歪ゲージ1が備えている抵抗値R0の設定。
2 測定対象物に対し外力が作用する状態の設定、及び当該状態における電圧計4による電圧値Vfの測定。
3 ΔR=Vf/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
4 所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記原因によって発生した歪εの算定。
R0I0-V0=0
が成立している。
Vf=(R0+ΔR)I0-V0
=ΔRI0
が成立し、プロセス3において、ΔRについては、
ΔR=Vf/I0
によって正確に算定され、プロセス4において、歪εについては、
ε=(1/K)(ΔR/R0)
によって算定されることに帰する。
Vf/ε=KI0R0
=KV0
が成立し、基本構成(2)の場合と同様の一般式が成立する。
尚、第1の歪ゲージ11及び第2の歪ゲージ12は、同一の応力が発生する場所に配置され、このような配置によって2倍の感度による歪測定を実現することができる。
1 第1の歪ゲージ11及び当該第1の歪ゲージ11と同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージ12と接触している各測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電流I0の設定、並びに電圧計4の測定値をゼロとするような可変定電圧V0の調整、及びR0=V0/2I0による第1の歪ゲージ11及び第2の歪ゲージ12が備えている抵抗値R0の設定。
2 各測定対象物に対し外力が作用する状態の設定、及び当該状態における電圧計4による電圧値Vfの測定。
3 ΔR=Vf/2I0による各測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
4 所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記原因によって発生した歪εの算定。
2R0I0-V0=0
が成立する。
Vf=2(R0+ΔR)I0-V0
=2ΔRI0
が成立し、プロセス3において、ΔRについては、
ΔR=Vf/2I0
によって算定され、プロセス4において、歪εについては、
ε=(1/K)(ΔR/R0)
によって算定されることに帰する。
Vf/ε=2KR0I0
=KV0
となり、基本構成(2)、(4)の場合と同様の一般式が成立する。
尚、第1の歪ゲージ11及び第2の歪ゲージ12は、同一の応力が発生する場所に配置される。
1 第1の歪ゲージ11及び当該第1の歪ゲージ11と同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージ12と接触している各測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧V0の設定、並びに電圧計4の測定値をゼロとするような可変定電流I0の調整、及びR0=V0/2I0による第1の歪ゲージ11及び第2の歪ゲージ12が備えている抵抗値R0の設定。
2 各測定対象物に対し外力が作用する状態の設定、及び当該状態における電圧計4による電圧値Vfの測定。
3 ΔR=Vf/2I0による各測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
4 所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記原因によって発生した歪εの算定。
2R0I0-V0=0
が成立する。
Vf=2(R0+ΔR)I0-V0
=2ΔRI0
が成立し、プロセス3においては、ΔRについては、
ΔR=Vf/2I0
によって算定され、プロセス4において、歪εについては、
ε=(1/K)(ΔR/R0)
によって算定されることに帰する。
Vf/ε=KV0
という基本構成(6)の場合と同様の一般式が成立する。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージ11を測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージ11と同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージ12を測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における第1及び第2の各定電流電源21による定電流I0の設定、並びに第1の電圧計41の測定値V10をゼロとし、かつ第2の電圧計42の測定値V20を略ゼロとするような可変定電圧V0の調整、及びR0=V0/I0による第1の歪ゲージ11が備えている抵抗値R0の設定、及び第2の歪ゲージ12が備えている抵抗値の近似値R0の設定。
2 第1の歪ゲージ11及び第2の歪ゲージ12に対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージ11におけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージ12におけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 V1x=V2xであるか否かの判定。
6(1)V1x=V2xである場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
7(1)V1x=V2xである場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
第1の電圧計41においては、
R0I0-V10=0
及び第2の電圧計42においては、
R0I0-V20≒0
が成立している。
V2L=(R0+ΔR(T))I0
V1Lf=(R0+ΔR(tr)+ΔR(T)+ΔR)I0
V1x=V1L-V10
=(ΔR(tr)+ΔR(T))I0
が成立し、差分電圧V2xについては、
V2x=V2L-V20
=ΔR(T)・I0
が成立する。
ΔR(tr)=0
の成否によって左右される。
V1x=V2x
であり、かつ
ΔR(tr)=0
の場合には、第1の歪ゲージ11においては、
V1L=(R0+ΔR(T))I0
が成立する。
V1Lf=(R0+ΔR+ΔR(T))I0
=ΔRI0+V1L
が成立し、
ΔR=(V1Lf-V1L)/I0
によってΔRが算定され、プロセス7(1)のように、
ε=(1/K)(ΔR/R0)
が算定されることに帰する。
ΔR(tr)=0
は成立しない。
V1L=(R0+ΔR(tr)+ΔR(T))I0
が成立し、プロセス3において、可変定電圧V1Lfについては、
V1Lf=(R0+ΔR+ΔR(tr)+ΔR(T))I0
が成立し、
V1Lf-V1L=ΔR・I0
が成立する。
ΔR=(V1Lf-V1L)/I0
によって算定され、前記原因によって発生した歪εについては、
ε=(1/K)(ΔR/R0)
によって算定されることに帰する。
V1y=V1x-V2x
=(ΔR(tr)+ΔR(T))I0-ΔR(T)・I0
=ΔR(tr)・I0
が成立する。
ΔR´=ΔR+ΔR(tr)
=(V1Lf-V1L+V1y)/I0
=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0
によって算定され、前記原因によって発生した歪ε´については、
ε´=(1/K)(ΔR´/R0)
によって算定されることに帰する。
ΔR(tr)=0
が成立するか否かの判定が行われることを特徴としているが、V1x=V2xの場合には、ΔR=ΔR´の測定及び算定が、前記判定の後には第1の歪ゲージ11のみによって実現し得る点において、極めて効率的である。
(V1Lf-V1L)/ε
=KΔRI0/(ΔR/R0)
=KI0R0
が成立する。
E=(I0/2)×2R0
=I0R0
が成立し、前記(3)式については、
ΔR≒4V(R0/I0R0)
と表現することができる。
(V1Lf-V1L+V1x+V2x)/ε´
=KΔR´R0/(ΔR´/R0)
=I0R0
が成立する。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージ11を測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージ11と同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージ12を測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における第1及び第2の各定電流電源21による定電流I0の設定、並びに第1の電圧計41の測定値V10をゼロとし、かつ第2の電圧計42の測定値V20を略ゼロとするような可変定電圧V0の調整、及びR0=V0/I0による第1の歪ゲージ11が備えている抵抗値R0の設定、及び第2の歪ゲージ12が備えている抵抗値の近似値R0の設定。
2 第1の歪ゲージ11及び第2の歪ゲージ12に対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージ11におけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージ12におけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
6 所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
但し、基本構成(10)のように、V1x=V2xの場合にΔR=ΔR´の測定及び算定が第1の歪ゲージ11のみによって実現し得るという特徴点を発揮することはできない。
(V1Lf-V1L)/ε=KI0R0
が成立し、
(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/ε´
=KI0R0
が成立する。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージ11を測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージ11と同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージ12を測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧電源31による定電圧V0の設定、並びに第1の電圧計41の測定値V10をゼロとし、かつ第2の電圧計42の測定値V20を略ゼロとするような可変定電流I0の調整、及びR0=V0/I0による第1の歪ゲージ11が備えている抵抗値R0の設定、及び第2の歪ゲージ12が備えている抵抗値の近似値R0の設定。
2 第1の歪ゲージ11及び第2の歪ゲージ12に対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージ11におけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージ12におけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 V1x=V2xであるか否かの判定。
6(1)V1x=V2xである場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
7(1)V1x=V2xである場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
第1の電圧計41においては、
R0I0-V10=0
及び第2の電圧計42においては、
R0I0-V20≒0
が成立している。
V1L=(R0+ΔR(tr)+ΔR(T))I0
V2L=(R0+ΔR(T))I0
が成立する。
V1Lf=(R0+ΔR(tr)+ΔR(T)+ΔR)I0
V1x=V1L-V10
=(ΔR(tr)+ΔR(T))I0
が成立し、差分電圧V2xについては、
V2x=V2L-V20
=ΔR(T)・I0
が成立する。
ΔR(tr)=0
の成否によって左右される。
V1x=V2x
であり、かつ
ΔR(tr)=0
の場合には、第1の歪ゲージ11においては、
V1L=(R0+ΔR(T))I0
が成立する。
V1Lf=(R0+ΔR+ΔR(T))I0
=ΔRI0+V1L
が成立し、
ΔR=(V1Lf-V1L)/I0
によってΔRが算定され、プロセス7(1)のように、
ε=(1/K)(ΔR/R0)
が算定されることに帰する。
ΔR(tr)=0
は成立しない。
V1L=(R0+ΔR(tr)+ΔR(T))I0
が成立し、プロセス3において、可変定電圧V1Lfについては、
V1Lf=(R0+ΔR+ΔR(tr)+ΔR(T))I0
が成立し、
V1Lf-V1L=ΔR・I0
が成立する。
ΔR=(V1Lf-V1L)/I0
によって算定され、前記原因によって発生した歪εについては、
ε=(1/K)(ΔR/R0)
によって算定されることに帰する。
V1y=V1x-V2x
=(ΔR(tr)+ΔR(T))I0-ΔR(T)・I0
=ΔR(tr)・I0
が成立する。
ΔR´=ΔR+ΔR(tr)
=(V1Lf-V1L+V1y)/I0
=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0
によって算定され、前記原因によって発生した歪ε´については、
ε´=(1/K)(ΔR´/R0)
によって算定されることに帰する。
ΔR(tr)=0
が成立するか否かの判定が行われることを特徴としているが、V1x=V2xの場合には、ΔR=ΔR´の測定及び算定が、前記判定の後には第1の歪ゲージ11のみによって実現し得る点において、極めて効率的である。
(V1Lf-V1L)/ε=KI0R0
が成立し、
(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/ε´
=KI0R0
が成立する。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージ11を測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージ11と同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージ12を測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧電源31による定電圧V0の設定、並びに第1の電圧計41の測定値V10をゼロとし、かつ第2の電圧計42の測定値V20を略ゼロとするような可変定電流I0の調整、及びR0=V0/I0による第1の歪ゲージ11が備えている抵抗値R0の設定、及び第2の歪ゲージ12が備えている抵抗値の近似値R0の設定。
2 第1の歪ゲージ11及び第2の歪ゲージ12に対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージ11におけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージ12におけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
6 所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
但し、基本構成(13)のように、V1x=V2xの場合にΔR=ΔR´の測定及び算定が第1の歪ゲージ11のみによって実現し得るという特徴点を発揮することはできない。
(V1Lf-V1L)/ε=KI0R0
が成立し、
(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/ε´
=KI0R0
が成立する。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージ11を測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージ11と同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージ12を測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における第1及び第2の各定電流電源21による定電流I0の設定、並びに第1の電圧計41の測定値V10をゼロとするような可変定電圧V10の調整、及び第2の電圧計42の測定値V20をゼロとするような可変定電圧V20の調整、及びR0=V10/I0による第1の歪ゲージ11が備えている抵抗値R0の設定、及びR0´=V20/I0による第2の歪ゲージ12が備えている抵抗値R0´であって前記R0に対する近似値の設定。
2 第1の歪ゲージ11及び第2の歪ゲージ12に対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージ11におけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージ12におけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 V1x=V2xであるか否かの判定。
6(1)V1x=V2xである場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
7(1)V1x=V2xである場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
第1の電圧計41においては、
R0I0-V10=0
及び第2の電圧計42においては、
R0´I0-V20=0
が成立している。
V1L=(R0+ΔR(tr)+ΔR(T))I0
V2L=(R0´+ΔR(T))I0
が成立する。
尚、抵抗値R0´が抵抗値R0と酷似していることを考慮するならば、前記V2Lについては、
V2L=(R0+ΔR(T))I0
と評価することができる。
V1Lf=(R0+ΔR(tr)+ΔR(T)+ΔR)I0
V1x=V1L-V10
=(ΔR(tr)+ΔR(T))I0
が成立し、差分電圧V2xについては、
V2x=ΔR(T)・I0
が成立する。
ΔR(tr)=0
の成否によって左右される。
V1x=V2x
であり、かつ
ΔR(tr)=0
の場合には、第1の歪ゲージ11においては、
V1L=(R0+ΔR(T))I0
が成立する。
V1Lf=(R0+ΔR+ΔR(T))I0
=ΔRI0+V1L
が成立し、
ΔR=(V1Lf-V1L)/I0
によってΔRが算定され、プロセス7(1)のように、
ε=(1/K)(ΔR/R0)
が算定されることに帰する。
ΔR(tr)=0
は成立しない。
V1L=(R0+ΔR(tr)+ΔR(T))I0
が成立し、プロセス3において、可変定電圧V1Lfについては、
V1Lf=(R0+ΔR+ΔR(tr)+ΔR(T))I0
が成立し、
V1Lf-V1L=ΔR・I0
が成立する。
ΔR=(V1Lf-V1L)/I0
によって算定され、前記原因によって発生した歪εについては、
ε=(1/K)(ΔR/R0)
によって算定されることに帰する。
V1y=V1x-V2x
=(ΔR(tr)+ΔR(T))I0-ΔR(T)・I0
=ΔR(tr)・I0
が成立する。
ΔR´=ΔR+ΔR(tr)
=(V1Lf-V1L+V1y)/I0
=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0
によって算定され、前記原因によって発生した歪ε´については、
ε´=(1/K)(ΔR´/R0)
によって算定されることに帰する。
ΔR(tr)=0
が成立するか否かの判定が行われることを特徴としているが、V1x=V2xの場合には、ΔR=ΔR´の測定及び算定が、前記判定の後には第1の歪ゲージ11のみによって実現し得る点において、極めて効率的である。
(V1Lf-V1L)/ε=KI0R0
が成立し、
(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/ε´
=KI0R0
が成立する。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージ11を測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージ11と同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージ12を測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における第1及び第2の各定電流電源21による定電流I0の設定、並びに第1の電圧計41の測定値V10をゼロとするような可変定電圧V10の調整、及び第2の電圧計42の測定値V20をゼロとするような可変定電圧V20の調整、及びR0=V10/I0による第1の歪ゲージ11が備えている抵抗値R0の設定、及びR0´=V20/I0による第2の歪ゲージ12が備えている抵抗値R0´であって前記R0に対する近似値の設定。
2 第1の歪ゲージ11及び第2の歪ゲージ12に対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージ11におけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージ12におけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
6 所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
但し、基本構成(16)のように、V1x=V2xの場合にΔR=ΔR´の測定及び算定が第1の歪ゲージ11のみによって実現し得るという特徴点を発揮することはできない。
(V1Lf-V1L)/ε
=KI0R0
が成立し、
(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/ε´
=KI0R0
が成立する。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージ11を測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージ11と同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージ12を測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧電源31における定電圧V0の設定、並びに第1の電圧計41の測定値V10をゼロとするような可変定電流I10の調整、及び第2の電圧計42の測定値V20をゼロとするような可変定電流I20の調整、及びR0=V0/I10による第1の歪ゲージ11が備えている抵抗値R0の設定、及びR0´=V0/I20による第2の歪ゲージ12が備えている抵抗値R0´であって前記R0に対する近似値の設定。
2 第1の歪ゲージ11及び第2の歪ゲージ12に対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計41における電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計42における電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージ11におけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージ12におけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 V1x=V2xであるか否かの判定。
6(1)V1x=V2xである場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I10による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I10による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I10による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
7(1)V1x=V2xである場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
第1の電圧計41においては、
V10-R0I10=0
及び第2の電圧計42においては、
V20-R0´I20=0
が成立している。
(R0+ΔR(tr)+ΔR(T))I10-V1L=0
が成立し、ΔR(T)に対応して、第2の電圧計42における電圧値V2Lを測定した場合には、
(R0´+ΔR(T))・I20-V2L=0
が成立する。
但し、抵抗値R0´が抵抗値R0と酷似していることを考慮するならば、上記関係式については、
(R0+ΔR(T))・I20-V2L=0
と評価することができる。
(R0+ΔR+ΔR(tr)+ΔR(T))I10-V1Lf=0
が成立する。
V1x=V1L-V10
=(ΔR(tr)+ΔR(T))I10
が成立し、算定された差分電圧V2xについては、
V2x=V2L-V20
=ΔR(T)I20
が成立する。
ΔR(tr)=0
の成否によって左右される。
ΔR(tr)=0
が成立している。
R0+ΔR(T)=V1L/I10
が成立する。
ΔR=R0+ΔR+ΔR(T)-(R0+ΔR(T))
=V1Lf/I10-V1L/I10
によって算定され、プロセス7(1)のように、
ε=(1/K)(ΔR/R0)
が算定されることに帰する。
ΔR(tr)=0
は成立しない
ΔR=R0+ΔR+ΔR(tr)+ΔR(T)-(R0+ΔR(tr)+ΔR(T))
=V1Lf/I10-V1L/I10
が必然的に成立する。
ε=(1/K)(ΔR/R0)
によって算定されることに帰する。
I10=I20
が成立するものと見做すことができ、測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR(tr)に関し、以下の関係式を得ることができる。
=(ΔR(tr)+ΔR(T))I10-ΔR(T)・I20
=ΔR(tr)・I10
ΔR´=ΔR+ΔR(tr)
=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I10
によって算定され、前記原因によって発生した歪ε´については、
ε´=(1/K)(ΔR´/R0)
によって算定されることに帰する。
ΔR(tr)=0
が成立するか否かの判定が行われることを特徴としているが、V1x=V2xの場合には、ΔR=ΔR´の測定及び算定が前記判定の後に第1の歪ゲージ11のみによって実現し得る点において、極めて効率的である。
(V1Lf-V1L)/ε
=KI0R0
が成立し、
(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/ε´
=KI0R0
が成立する。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージ11を測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージ11と同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージ12を測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧電源31における定電圧V0の設定、並びに第1の電圧計41の測定値V10をゼロとするような可変定電流I10の調整、及び第2の電圧計42の測定値V20をゼロとするような可変定電流I20の調整、及びR0=V0/I10による第1の歪ゲージ11が備えている抵抗値R0の設定、及びR0´=V0/I20による第2の歪ゲージ12が備えている抵抗値R0´であって前記R0に対する近似値の設定。
2 第1の歪ゲージ11及び第2の歪ゲージ12に対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計41における電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計42における電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計41による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計42による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージ11におけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージ12におけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 ΔR=(V1Lf-V1L)/I10による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I10による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
6 所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。
但し、基本構成(19)のように、V1x=V2xの場合にΔR=ΔR´の測定及び算定が第1の歪ゲージ11のみによって実現し得るという特徴点を発揮することはできない。
(V1Lf-V1L)/ε
=KI0R0
が成立し、
(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/ε´
=KI0R0
が成立する。
V0={xrR0E/(xr+R0)}/{(1-x)r+xrR0/(xr+R0)}
≒xrE/{(1-x)r+xr}
=xE
が成立する。
R0I0=V0
が成立するように、xが調整されることに帰する。
11 第1の歪ゲージ
12 第2の歪ゲージ
21 定電流電源
22 可変定電流電源
31 定電圧電源
32 可変定電圧電源
4 電圧計
41 第1の電圧計
42 第2の電圧計
5 可変抵抗及び可変抵抗素子
Claims (25)
- 歪抵抗の測定を目的とする歪ゲージの接続両端子のみに対し、定電流電源及び電圧計と直列状態にて接続している可変定電圧電源が並列状態に接続されており、かつ前記各接続両端子における定電流電源の導通方向と可変定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電圧電源の電圧値の調整によって電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによって、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
- 請求項1記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 歪ゲージと接触している測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電流I0の設定、並びに電圧計の測定値をゼロとするような可変定電圧V0の調整、及びR0=V0/I0による歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定。
2 測定対象物に対し外力が作用する状態の設定、及び当該状態における電圧計による電圧値Vfの測定。
3 ΔR=Vf/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
4 所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記原因によって発生した歪εの算定。 - 歪抵抗の測定を目的とする歪ゲージの接続両端子のみに対し、可変定電流電源及び電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が並列状態に接続されており、かつ前記各接続両端子における可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電流電源の電流値の調整によって電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによって、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
- 請求項3記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 歪ゲージと接触している測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧V0の設定、並びに電圧計の測定値をゼロとするような可変定電流I0の調整、及びR0=V0/I0による歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定。
2 測定対象物に対し外力が作用する状態の設定、及び当該状態における電圧計による電圧値Vfの測定。
3 ΔR=Vf/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
4 所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記原因によって発生した歪εの算定。 - 歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージの各接続両端子のうち、第1の歪ゲージの他方側端子と、第2の歪ゲージの一方側端子とを接続した上で、第1の歪ゲージの一方側と第2の歪ゲージの他方側とによる接続両端子の みに対し、定電流電源及び電圧計と直列状態にて接続している可変定電圧電源が並列状態 に接続されており、前記各接続両端子における定電流電源の導通方向と可変定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電圧電源の電圧値の調整によって電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによって、ホイートストンブリッジ回路を不 要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
- 請求項5記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 第1の歪ゲージ及び当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージと接触している各測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電流I0の設定、並びに電圧計の測定値をゼロとするような可変定電圧V0の調整、及びR0=V0/2I0による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定。2 各測定対象物に対し外力が作用する状態の設定、及び当該状態における電圧計による電圧値Vfの測定。
3 ΔR=Vf/2I0による各測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
4 所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記原因によって発生した歪εの算定。 - 歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージの各接続両端子のうち、第1の歪ゲージの他方側端子を、第2の歪ゲージの一方側端子と接続した上で、第1の歪ゲージの一方側と第2の歪ゲージの他方側とによる接続両端子のみに対し、可変定電流電源及び電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が並列状態に接続されており、前記接続両端子における可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電流電源の電流値の調整によって電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによって、ホイートストンブリッジ回路を不要と することを特徴とする歪抵抗測定回路。
- 請求項7記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 第1の歪ゲージ及び当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージと接触している各測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧V0の設定、並びに電圧計の測定値をゼロとするような可変定電流I0の調整、及びR0=V0/2I0による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定。2 各測定対象物に対し外力が作用する状態の設定、及び当該状態における電圧計による電圧値Vfの測定。
3 ΔR=Vf/2I0による各測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
4 所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記原因によって発生した歪εの算定。 - 歪測定における感度として、Vf/ε又はVf/(歪ゲージに加えられた荷重)という尺度を設定した場合に、1個の歪ゲージと3個の抵抗素子とによるブリッジ回路において、歪ゲージが備えている抵抗値R0と3個の抵抗素子の抵抗値もまたR0であるという条件を設定した上で、ブリッジを形成している両側端子間の測定電圧をVとし、測定された歪をεとした場合にV/ε又はV/(歪ゲージに加えられた荷重)という尺度による感度に比し、4倍の感度を確保し得ることを特徴とする請求項2、4、6、8の何れか一項に記載の歪を測定及び算定する方法。
- 歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージを採用し、第1の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第1の定電流電源及び第1の電圧計と直列状態にて接続している可変定電圧電源が並列状態に接続されており、第2の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第2の定電流電源及び第2の電圧計と直列状態にて接続している可変定電圧電源が並列状態に接続されており、第1の歪ゲージにおける前記各接続両端子における第1の定電流電源の導通方向と可変定電圧電源の印加方向とが同一方向であり、かつ可変定電圧電源の電圧値を調整することによって第1の電圧計の測定値をゼロと設定することが可能であると共に、第2の歪ゲージにおける前記各接続両端子における第2の定電流電源の導通方向と可変定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電圧電源の電圧値の調整によって第2の電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とす ることによって、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
- 歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージを採用し、第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージの各接続両端子のうち、第1の歪ゲージの他方側端子と第2の歪ゲージの一方側端子とをアースに接続すると共に相互に接続した上で、第1の歪ゲージの一方側端子と第2の歪ゲージの他方側端子とによる接続両端子のみに対し、定電流電源が接続されると共に、第1の歪ゲージの接続両端子に対し、第1の電圧計と直列状態にて接続している可変定電圧電源が接続されており、第2の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第2の電圧計と直列状態にて接続している可変定電圧電源が定電流電 源と並列状態にて接続されており、前記各接続両端子における定電流電源の導通方向と可変定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電圧電源の電圧値の調整によって第1の電圧計及び第2の電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによ って、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
- 請求項10、11の何れか一項に記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における第1及び第2の各定電流電源による定電流I0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとし、かつ第2の電圧計の測定値V20を略ゼロとするような可変定電圧V0の調整、及びR0=V0/I0による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及び第2の歪ゲージが備えている抵抗値の近似値R0の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 V1x=V2xであるか否かの判定。
6(1)V1x=V2xである場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
7(1)V1x=V2xである場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。 - 請求項10、11の何れか一項に記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における第1及び第2の各定電流電源による定電流I0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとし、かつ第2の電圧計の測定値V20を略ゼロとするような可変定電圧V0の調整、及びR0=V0/I0による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及び第2の歪ゲージが備えている抵抗値の近似値R0の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
6 所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。 - 歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージを採用し、第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージの各接続両端子のうち、第1の歪ゲージの他方側端子と第2の歪ゲージの一方側端子とをアースに接続すると共に相互に接続した上で、第1の歪ゲージの一方側端子と第2の歪ゲージの他方側端子とによる接続両端子のみに対し可変定電流電源が接続されており、第1の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第1の電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が接続されており、第2の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第2の電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が可変定電流電 源と並列状態にて接続されており、前記各接続両端子における可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ可変定電流電源の電流値の調整によって第1の電圧計及び第2の電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによ って、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
- 請求項14記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧電源による定電圧V0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとし、かつ第2の電圧計の測定値V20を略ゼロとするような可変定電流I0の調整、及びR0=V0/I0による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及び第2の歪ゲージが備えている抵抗値の近似値R0の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 V1x=V2xであるか否かの判定。
6(1)V1x=V2xである場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
7(1)V1x=V2xである場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。 - 請求項14記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧電源による定電圧V0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとし、かつ第2の電圧計の測定値V20を略ゼロとするような可変定電流I0の調整、及びR0=V0/I0による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及び第2の歪ゲージが備えている抵抗値の近似値R0の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
6 所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。 - 歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージを採用し、第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージの各接続両端子のうち、第1の歪ゲージの他方側端子と第2の歪ゲージの一方側端子とをアースに接続すると共に相互に接続し、第1の歪ゲージの一方側端子及び第2の歪ゲージの他方側端子による接続両端子のみに対し、定電流電源が接続されており、第1の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第1の電圧計と直列状態にて接続している第1の可変定電圧電源が接続されており、第2の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第2の電圧計と直列状態にて接続している第2の可変定電圧電源が接続されており、前記各接続両端子における定電流電源の導通方向と第1の可変定電圧電源及び第2の可変定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ第1の可変定電圧電源の電圧値の調整によって第1の電圧計の測定値をゼロと設定することが可能であると共に、第2の可変定電圧電源の電圧値の調整によって第2の電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによって、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴 とする歪抵抗測定回路。
- 請求項17に記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における第1及び第2の各定電流電源による定電流I0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとするような可変定電圧V10の調整、及び第2の電圧計の測定値V20をゼロとするような可変定電圧V20の調整、及びR0=V10/I0による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及びR0´=V20/I0による第2の歪ゲージが備えている抵抗値R0´であって前記R0に対する近似値の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 V1x=V2xであるか否かの判定。
6(1)V1x=V2xである場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
7(1)V1x=V2xである場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。 - 請求項17に記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における第1及び第2の各定電流電源による定電流I0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとするような可変定電圧V10の調整、及び第2の電圧計の測定値V20をゼロとするような可変定電圧V20の調整、及びR0=V10/I0による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及びR0´=V20/I0による第2の歪ゲージが備えている抵抗値R0´であって前記R0に対する近似値の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計による電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 ΔR=(V1Lf-V1L)/I0による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I0による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
6 所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。 - 歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージを採用し、第1の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第1の可変定電流電源及び第1の電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が並列状態に接続されており、第2の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第2の可変定電流電源及び第2の電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が並列状態に接続されており、第1の歪ゲージの前記各接続両端子における第1の可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ第1の可変定電流電源の電流値を調整することによって第1の電圧計の測定値をゼロと設定することが可能であると共に、第2の歪ゲージの前記各接続両端子における第2の可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ第2の可変定電流電源の電流値の調整によって第2の電圧計の測定値をゼロと設定することを可能と することによって、ホイートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
- 歪抵抗の測定を目的とする2個の同一規格による第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージを採用し、第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージの各接続両端子のうち、第1の歪ゲージの他方側端子と第2の歪ゲージの一方側端子とをアースに接続すると共に相互に接続し、第1の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第1の可変定電流電源及び第1の電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が並列状態に接続されており、第2の歪ゲージの接続両端子のみに対し、第2の可変定電流電源及び第2の電圧計と直列状態にて接続している定電圧電源が並列状態に接続されており、第1の歪ゲージの前記各接続両端子における第1の可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ第1の可変定電流電源の電流値の調整によって第1の電圧計の測定値をゼロと設定することが可能であると共に、第2の歪ゲージの前記各接続両端子における第2の可変定電流電源の導通方向と定電圧電源の印加方向とが同一方向であって、かつ第2の可変定電流電源の電流値の調整によって第2の電圧計の測定値をゼロと設定することを可能とすることによって、ホ イートストンブリッジ回路を不要とすることを特徴とする歪抵抗測定回路。
- 請求項20、21の何れか一項に記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧電源における定電圧V0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとするような可変定電流I10の調整、及び第2の電圧計の測定値V20をゼロとするような可変定電流I20の調整、及びR0=V0/I10による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及びR0´=V0/I20による第2の歪ゲージが備えている抵抗値R0´であって前記R0に対する近似値の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計における電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計における電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 V1x=V2xであるか否かの判定。
6(1)V1x=V2xである場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I10による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、ΔR=(V1Lf-V1L)/I10による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I10による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
7(1)V1x=V2xである場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定した上で、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定。
(2)V1x=V2xではない場合に、所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。 - 請求項20、21の何れか一項に記載の歪抵抗測定回路において、以下のプロセスによって、第1の歪ゲージにおいて変化した歪ゲージ抵抗変化値及び発生した歪を測定及び算定する方法。
1 常温又は環境の変化に伴う温度変化がある場合に、第1の歪ゲージを測定対象物と接触した状態とし、かつ当該第1の歪ゲージと同一の規格による構成を備えている第2の歪ゲージを測定対象物と接触していない状態とするか、又は外力が作用しても歪が発生しない場所に設置されている測定対象物に接触した状態とした上で、常温にて測定対象物に対し外力が作用していない状態における定電圧電源における定電圧V0の設定、並びに第1の電圧計の測定値V10をゼロとするような可変定電流I10の調整、及び第2の電圧計の測定値V20をゼロとするような可変定電流I20の調整、及びR0=V0/I10による第1の歪ゲージが備えている抵抗値R0の設定、及びR0´=V0/I20による第2の歪ゲージが備えている抵抗値R0´であって前記R0に対する近似値の設定。
2 第1の歪ゲージ及び第2の歪ゲージに対し環境変化に伴う温度変化の状態の設定、及び第1の電圧計における電圧値V1Lの測定、並びに第2の電圧計における電圧値V2Lの測定。
3 測定対象物に対する外力の作用、及び第1の電圧計による電圧値V1Lfの測定、並びに第2の電圧計による電圧値V2Lと同一値である電圧値V2Lfの確認。
4 第1の歪ゲージにおけるV1x=V1L-V10という差分電圧の算定、及び第2の歪ゲージにおけるV2x=V2L-V20という差分電圧の算定。
5 ΔR=(V1Lf-V1L)/I10による測定対象物に対する外力を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔRの算定、及び/又はΔR´=(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/I10による測定対象物に対する外力及び温度変化に伴う測定対象物の変形を原因として変化した歪ゲージ抵抗変化値ΔR´の算定。
6 所定の数値によるゲージ率Kを設定したうえで、ε=(1/K)(ΔR/R0)という前記ΔRにおける原因によって発生した歪εの算定、及び/又はε´=(1/K)(ΔR´/R0)という前記ΔR´における原因によって発生した歪ε´の算定。 - 歪の測定における感度として、(V1Lf-V1L)/ε若しくは(V1Lf-V1L)/(歪ゲージに加えられた荷重)、及び/又は(V1Lf-V1L+V1x―V2x)/ε´若しくは(V1Lf-V1L+V1x-V2x)/(歪ゲージに加えられた荷重)という尺度を設定した場合に、1個の歪ゲージと3個の抵抗素子とによるブリッジ回路において、歪ゲージが備えている抵抗値R0と3個の抵抗素子の抵抗値もまたR0であるという条件を設定した上で、ブリッジを形成している両側端子間の測定電圧をVとし、測定された歪をεとした場合にV/ε又はV/(歪ゲージに加えられた荷重)という尺度による感度に比し、4倍の感度を確保し得ることを特徴とする請求項12、13、15、16、18、19、22、23の何れか一項に記載の歪を測定及び算定する方法。
- 請求項1、5、10、11、17の何れか一項に記載の歪抵抗測定回路であって、前記可変定電圧電源は、定電圧電源が可変抵抗素子の両端と接続すると共に、当該可変抵抗素子の出力側において、歪ゲージの接続両端子のうちの一方側端子が可変抵抗素子の一方側端と接続し、かつ他方側端子が可変抵抗素子に対しスライド自在の状態にて接続し、かつ歪ゲージの接続両端子との間に電圧計が可変抵抗素子と並列状態にて接続されていることを特徴とする歪抵抗測定回路。
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