JP7218731B2 - Cleaning equipment for lapping equipment - Google Patents
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Description
本発明は、ラッピング装置の洗浄装置に関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a cleaning device for a lapping machine.
従来、例えばシリコンウェーハを製造する際には、ウェーハを所定の厚みに揃えると同時にその平坦度、平行度などの必要な形状精度を得るためにラッピング装置によるラッピングを行っている(例えば特許文献1参照)。ラッピングは上下定盤の間にウェーハ等の被加工物を挟み込み、スラリーを供給しつつ、上下定盤を回転させることにより行う。 Conventionally, when manufacturing silicon wafers, for example, lapping is performed by a lapping apparatus in order to obtain the necessary shape accuracy such as flatness and parallelism while aligning the wafers to a predetermined thickness (for example, Patent Document 1). reference). Lapping is performed by sandwiching a workpiece such as a wafer between upper and lower surface plates and rotating the upper and lower surface plates while supplying slurry.
このようなラッピング装置の下定盤を支持する定盤受け台の廃液路の形状の一例を図5Aに示す。下定盤を支持して該下定盤と共に回転可能な定盤受け台には、下定盤から流れ落ちた廃スラリー(以下、スラッジとも言う)を排出するための、中心部から外周方向に向かって傾斜して延びる廃液路が形成されている。 FIG. 5A shows an example of the shape of the waste liquid path of the surface plate cradle that supports the lower surface plate of such a lapping apparatus. The surface plate receiving base, which supports the lower surface plate and is rotatable together with the lower surface plate, is inclined from the center toward the outer periphery for discharging waste slurry (hereinafter also referred to as sludge) that has flowed down from the lower surface plate. A waste channel is formed that extends through the
ラッピングを繰り返し行うと、廃液路にスラッジが堆積し排出が阻害されてしまう。そのため、定期的に作業者が手作業でスラッジを除去する洗浄作業を行っていた。図5Bに洗浄作業の模式図を示す。
図5Bに示すように、下定盤の中心部と外周部の隙間から洗管ホースを作業者の手により廃液路内部に挿入し、洗浄水を高圧噴射し堆積したスラッジを除去していた。
Repeated lapping results in accumulation of sludge in the waste liquid path, hindering discharge. For this reason, workers regularly perform cleaning work to remove the sludge manually. FIG. 5B shows a schematic diagram of the cleaning operation.
As shown in FIG. 5B, an operator manually inserts a pipe cleaning hose into the waste liquid channel through the gap between the center and outer periphery of the lower surface plate, and sprays cleaning water at high pressure to remove accumulated sludge.
しかし、図5Cに示すように定盤受け台に下定盤が載った状態では、廃液路の大半が作業者に見えない状態となる。また、廃液路にアクセス可能なスペースは下定盤の中心部と外周部の共に約70mm幅の狭いスペースしかなく、洗浄作業が困難なものとなっていた。また、手作業であることから洗管ホースの先端が固定できず洗浄位置が定まらないため、スラッジの除去効果が高いとは言えなかった。さらに、中心部から外周方向に向かって延びる廃液路が複数存在する場合には作業時間も増加する。例えば、図5Aに示すような8方向に廃液路が存在する場合、洗浄完了に約3時間を要していた。 However, when the lower surface plate is placed on the surface plate cradle as shown in FIG. 5C, most of the waste liquid path is invisible to the operator. In addition, the space accessible to the waste liquid channel is only a narrow space of about 70 mm in both the central portion and the outer peripheral portion of the lower surface plate, which makes cleaning work difficult. In addition, since it is a manual operation, the tip of the tube cleaning hose cannot be fixed and the cleaning position cannot be fixed, so the sludge removal effect cannot be said to be high. Furthermore, if there are a plurality of waste liquid channels extending from the central portion toward the outer periphery, the working time is also increased. For example, when there are waste liquid channels in eight directions as shown in FIG. 5A, it takes about 3 hours to complete cleaning.
そこで本発明はこのような問題点に鑑みなされたもので、本発明の目的は、定盤受け台の廃液路に堆積したスラッジを効果的に除去でき、かつ短時間で洗浄可能なラッピング装置の洗浄装置を提供することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a lapping apparatus which can effectively remove the sludge accumulated in the waste liquid path of the surface plate cradle and can be cleaned in a short period of time. To provide a cleaning device.
上記課題を達成するために、本発明では、回転可能な上下定盤と、該上下定盤の間にスラリーを供給するスラリー供給ノズルとを有し、前記スラリーを供給しつつ、前記上下定盤を回転させて、該上下定盤間に挟み込んだ被加工物をラッピングするラッピング装置の洗浄装置であって、前記下定盤を支持して該下定盤と共に回転可能な定盤受け台に形成されており、前記下定盤から流れ落ちた廃スラリーを排出するための廃液路を洗浄水により洗浄するものであり、前記洗浄水を噴射する第一洗浄ノズル及び第二洗浄ノズルと、該第一洗浄ノズル及び第二洗浄ノズルが取り付けられており、該第一洗浄ノズル及び第二洗浄ノズルの配置位置及び配置向きを固定するアームとを有しており、前記定盤受け台の回転軸周りの内周側に位置するリング状部と、該リング状部から外周方向に放射状に延びる1つ以上の放射状部とからなる前記廃液路に対して、前記第一洗浄ノズルは前記リング状部に向いており、かつ、前記第二洗浄ノズルは前記定盤受け台の内周側から外周方向に向いており、該固定配置された第一洗浄ノズル及び第二洗浄ノズルから前記洗浄水が噴射され、かつ、前記定盤受け台及び前記下定盤が回転されることで、前記リング状部の全域が前記第一洗浄ノズルからの洗浄水により、かつ、前記放射状部の全域が前記第二洗浄ノズルからの洗浄水により、自動洗浄可能なものであることを特徴とするラッピング装置の洗浄装置を提供する。 In order to achieve the above object, the present invention has rotatable upper and lower surface plates and a slurry supply nozzle for supplying slurry between the upper and lower surface plates, and supplies the slurry while supplying the upper and lower surface plates. is rotated to lapping the workpiece sandwiched between the upper and lower surface plates, the lapping device is formed on a surface plate receiving table that supports the lower surface plate and is rotatable together with the lower surface plate. A waste liquid passage for discharging waste slurry that has flowed down from the lower surface plate is washed with washing water, and includes a first washing nozzle and a second washing nozzle for injecting the washing water, the first washing nozzle and A second washing nozzle is attached, and an arm for fixing the arrangement position and arrangement direction of the first washing nozzle and the second washing nozzle is provided, and the inner peripheral side around the rotation axis of the surface plate cradle and one or more radial portions radially extending from the ring-shaped portion in the outer peripheral direction, the first washing nozzle facing the ring-shaped portion, The second cleaning nozzle is directed from the inner peripheral side to the outer peripheral direction of the surface plate cradle, the cleaning water is jetted from the fixedly arranged first cleaning nozzle and the second cleaning nozzle, and By rotating the surface plate cradle and the lower surface plate, the entire area of the ring-shaped portion is filled with the washing water from the first washing nozzle, and the entire area of the radial portion is filled with the washing water from the second washing nozzle. To provide a cleaning device for a lapping device, which is characterized by being capable of automatic cleaning.
このように、上記の2方向に向けて固定配置された第一洗浄ノズル及び第二洗浄ノズルから洗浄水が噴射され、定盤受け台及び下定盤が回転されることで廃液路を洗浄するものであれば、リング状部及び放射状部の全域に洗浄水を安定して当てられるため、これらの領域に堆積したスラッジの除去効果が高く、短時間で均一に洗浄することができる。しかも、自動洗浄が可能であり、簡便である。 In this way, washing water is sprayed from the first washing nozzle and the second washing nozzle fixedly arranged in the above two directions, and the surface plate cradle and the lower surface plate are rotated to wash the waste liquid path. In this case, since the cleaning water can be stably applied to the entire area of the ring-shaped portion and the radial portion, the effect of removing sludge deposited on these areas is high, and uniform cleaning can be performed in a short time. Moreover, automatic cleaning is possible, which is convenient.
また、前記第一洗浄ノズル及び前記第二洗浄ノズルは、前記洗浄水が扇形状に噴射可能なものとすることができる。
洗浄水を扇形状に噴射可能な洗浄ノズルであれば、広範囲を均一に洗浄可能なため、より高いスラッジ除去効果を得ることができる。
Further, the first washing nozzle and the second washing nozzle can jet the washing water in a fan shape.
A cleaning nozzle capable of jetting cleaning water in a fan shape can uniformly clean a wide area, so that a higher sludge removal effect can be obtained.
以上のように、本発明によれば、定盤受け台の廃液路中のスラッジを効果的に安定して除去でき、かつ短時間で均一に自動洗浄可能であり簡便である。 As described above, according to the present invention, it is possible to effectively and stably remove the sludge in the waste liquid path of the surface plate cradle, and it is possible to perform uniform automatic cleaning in a short period of time, which is convenient.
本発明者は、定盤受け台の断面形状及びアクセスポイントの構造から、どのような方式にすれば洗浄水を安定して廃液路全域に当てられるか鋭意検討を行った。
その結果、2方向に向けて固定配置されたノズルから洗浄水を噴射(すなわち、中心のリング状部と、中心部から外周方向への放射状部に分けて噴射)してスラッジを流し落とすことで、高いスラッジ除去効果を有し、かつ短時間で洗浄可能なことを見出し、本発明を完成させた。
The inventor of the present invention has diligently studied how to stably apply washing water to the entire area of the waste liquid channel, based on the cross-sectional shape of the surface plate cradle and the structure of the access point.
As a result, washing water is sprayed from nozzles fixedly arranged in two directions (i.e., a ring-shaped part in the center and a radial part from the center to the outer circumference) to wash off the sludge. The present inventors have completed the present invention by finding that , has a high sludge removal effect and can be cleaned in a short time.
以下、本発明について、実施態様の一例として、図を参照しながら詳細に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
図1Fは本発明の洗浄装置を適用可能なラッピング装置の一例を示す概略図である。上側が縦断面図であり、下側が平面図である。なお、縦断面図における下定盤より下側に位置する定盤受け台等は省略しており、平面図においては上定盤やスラリー供給ノズルは除いている。
ラッピング装置11は回転可能な上下定盤12、13を有している。下定盤13はその中心部上面にサンギア14を有し、その周縁部には環状のインターナルギア15が設けられている。上定盤12は上下に昇降可能になっている。また、ウェーハW(被加工物)を保持するキャリア16の外周面には上記サンギア14及びインターナルギア15と噛合するギア部が形成され、全体として歯車構造をなしている。
キャリア16には1つあるいは複数の保持孔17が設けられている。ラッピングされるウェーハWはこの保持孔17内に挿入されて保持される。該ウェーハWを保持したキャリア16は1つあるいは複数配置され、上方より下降して着盤した上定盤12と下定盤13との間に挟み込まれ、下定盤13等の回転により自転や公転が可能になっている。
また、上定盤12の上方にはスラリー供給ノズル18が配置されており、該スラリー供給ノズル18から上定盤12に設けられた貫通孔19を介してウェーハWと上下定盤12、13の間にスラリーを供給可能である。
Hereinafter, the present invention will be described in detail as an example of embodiments with reference to the drawings, but the present invention is not limited thereto.
FIG. 1F is a schematic diagram showing an example of a lapping apparatus to which the cleaning apparatus of the present invention can be applied. The upper side is a longitudinal sectional view, and the lower side is a plan view. Note that the surface plate cradle and the like located below the lower surface plate in the longitudinal sectional view are omitted, and the upper surface plate and the slurry supply nozzle are omitted in the plan view.
The lapping device 11 has rotatable upper and
Carrier 16 is provided with one or more retaining holes 17 . A wafer W to be lapped is inserted and held in the holding hole 17 . One or a plurality of carriers 16 holding the wafers W are arranged, and are sandwiched between the upper surface plate 12 and the
A slurry supply nozzle 18 is arranged above the upper surface plate 12 , and the wafer W and the upper and
図1Eは上記ラッピング装置において、下定盤を支持し、回転させる定盤受け台の一例を示す概略図である。
定盤受け台20には、該定盤受け台の回転軸周りの内周側に位置するリング状部21と、該リング状部から外周方向に放射状に延びる1つ以上(ここでは8つ)の放射状部22とからなる廃液路23が形成されている。下定盤13からのスラッジを受け、排出する構造となっており、放射状部22は外周方向に向かって下方に傾斜している。
FIG. 1E is a schematic view showing an example of a surface plate support for supporting and rotating the lower surface plate in the lapping apparatus.
The
次に、図1E、1Fに示したラッピング装置に適用する本発明の洗浄装置について説明する。
図1Aに洗浄装置の上面図、図1Bに洗浄装置の側面図を示す。いずれもラッピング装置に対して配置した時の態様である。
洗浄装置1は第一洗浄ノズル2及び第二洗浄ノズル3、アーム4を有しており、前記第一洗浄ノズル2は定盤受け台20のリング状部21に向いており、前記第二洗浄ノズル3は定盤受け台20の内周側から外周方向に向いている。各々、数は1つでも良いし複数でも良い。前記第一洗浄ノズル2及び前記第二洗浄ノズル3の配置位置及び配置向きはアーム4によって固定され、さらにアーム4はクランプ背板5によって外周板6に固定されている。この外周板6は定盤受け台20を囲むように固定配置された円筒状のものであり、これに上記のようにクランプ背板5、アーム4、第一洗浄ノズル2及び第二洗浄ノズル3が順に取り付けられているので、第一洗浄ノズル2及び第二洗浄ノズル3が固定配置される。
Next, the cleaning apparatus of the present invention applied to the lapping apparatus shown in FIGS. 1E and 1F will be described.
FIG. 1A shows a top view of the cleaning device, and FIG. 1B shows a side view of the cleaning device. All of them are modes when arranged with respect to the lapping device.
The
この第一洗浄ノズル2、第二洗浄ノズル3及びアーム4の固定について、説明のため互いの位置関係を簡略化して示した図を用いてより詳細に説明する。
図1Cに洗浄装置付近の上面図、図1Dに洗浄装置付近の側面図を示す。
洗浄装置のクランプ背板5は、外周板6に合わせて長さが調整可能となっており、例えばバネ伸縮によって外周板6にクランプした後、ネジ等で外周板6に固定される。洗浄装置1のアーム4は水平方向にスライドすることでノズルの位置を調整可能であり、第一洗浄ノズル2及び第二洗浄ノズル3を有するアーム4の先端部は鉛直方向にスライドすることで高さが調整可能である。また、第一洗浄ノズル2及び第二洗浄ノズル3をそれぞれ回転させることで洗浄水の噴射方向も調整可能である。これらの調整によって下定盤の中心の隙間から廃液路内部へアーム4の先端部を挿入し、第一洗浄ノズル2の噴射位置がリング状部21へ、第二洗浄ノズル3の噴射位置が放射状部22へ向かうように調整し固定することができる。
なお、クランプ背板5については補強材を用いて補強してもよい。洗浄水の噴射に伴うアーム4の上昇等の位置ずれを防ぐのに効果的である。
当然、アーム4を介しての第一洗浄ノズル2及び第二洗浄ノズル3の固定の仕方はこれに限定されず、適宜決定できる。例えばアーム4が床や壁、他の固定部材等に固定されていても良い。
Fixing of the
FIG. 1C shows a top view of the vicinity of the cleaning device, and FIG. 1D shows a side view of the vicinity of the cleaning device.
The length of the clamp back
Note that the clamp back
Of course, the method of fixing the
図2に上記洗浄装置1による洗浄水の噴射範囲を示す。
図2に示すように、第一洗浄ノズル2からの洗浄水はリング状部21に、第二洗浄ノズル3からの洗浄水は放射状部22に噴射される。
このように、第一洗浄ノズル2及び第二洗浄ノズル3の配置位置及び配置向きが固定された状態で洗浄水が噴射され、かつ、定盤受け台20及び下定盤13が回転されることで、自動で洗浄作業が行われるものとなっている。
そして、第一洗浄ノズル2からの洗浄水がリング状部21の全域に、かつ、第二洗浄ノズル3からの洗浄水が放射状部22の全域に噴射されるため、廃液路全域のスラッジを効果的に除去することができる。また、スラッジ除去効果が高いため作業時間が短縮され、さらに自動運転のため洗浄中は作業者を必要としない。
FIG. 2 shows the spraying range of washing water from the
As shown in FIG. 2, the washing water from the
In this manner, the washing water is sprayed in a state where the arrangement position and arrangement direction of the
Since the washing water from the
また、第一洗浄ノズル2及び第二洗浄ノズル3(特には第二洗浄ノズル3)は、洗浄水が扇形状に噴射可能な扇型ノズルとすることができる。扇型ノズルであれば、洗浄水が広範囲に拡がって噴射されるため、より高いスラッジ除去効果を得ることができる。
このような扇型ノズルと、洗浄水が直線状に噴射可能な直進ノズルの構造を説明する。
図3Aに扇型ノズルの噴射口の正面図、図3Bに扇型ノズルのA-A断面における噴射説明図、図3Cに直進ノズルの噴射口の正面図、図3Dに直進ノズルのB-B断面における噴射説明図を示す。
図3A、図3Bに示すように、扇形ノズルでは中心の噴出口から扇形に拡がる溝があり、噴射された洗浄水がこの溝に沿って拡散するため、噴射形状が扇形となる。
それに対し直進ノズルでは、図3C、図3Dに示すように噴出口中心から洗浄水がそのまま噴射されるため、噴射形状が直線となる。
Further, the
Structures of such a fan-shaped nozzle and a linear nozzle capable of linearly injecting cleansing water will be described.
FIG. 3A is a front view of the jet nozzle of the fan-shaped nozzle, FIG. 3B is an illustration of jetting in the AA section of the fan-shaped nozzle, FIG. 3C is a front view of the jet nozzle of the straight nozzle, and FIG. 3D is the BB of the straight nozzle. FIG. 4 shows an illustration of jetting in a cross section;
As shown in FIGS. 3A and 3B, the fan-shaped nozzle has a fan-shaped groove extending from the central ejection port, and the jetted cleansing water diffuses along this groove, resulting in a fan-shaped jet.
On the other hand, in the straight nozzle, as shown in FIGS. 3C and 3D, the cleansing water is directly ejected from the center of the ejection port, so the ejection shape is straight.
図3Eは放射状部に向けた扇型ノズルの配置の一例である。
なお、扇形ノズルの洗浄水の拡散方向は洗浄ノズルの締め込みで変更可能であるが、洗浄水が縦方向に拡がるように配置するのがより好ましい。この場合、図3Eに示すように、定盤受け台の回転と合わせて廃液路の全体に洗浄水が噴射されるため、横方向に拡がるように配置するよりも、より高いスラッジ除去効果を得ることができる。
FIG. 3E is an example of an arrangement of fan-shaped nozzles directed toward the radial portion.
Although the direction in which the cleaning water spreads from the fan-shaped nozzle can be changed by tightening the cleaning nozzle, it is more preferable to dispose the cleaning water so that the cleaning water spreads in the vertical direction. In this case, as shown in FIG. 3E, washing water is sprayed all over the waste liquid path along with the rotation of the surface plate cradle. be able to.
以上のような本発明の洗浄装置1を用いた洗浄方法について説明する。
まず、クランプ背板5にアーム4を取り付け、該アーム4の先端部に第一洗浄ノズル2及び第二洗浄ノズル3を取り付ける。さらに、クランプ背板5を固定配置されている外周板6に取り付ける。
アームの水平方向の長さを調整した状態で、ノズルが取り付けられている先端部の鉛直方向の高さを調整し、先端部を下定盤の中心部隙間から廃液路内部に挿入する。そして洗浄ノズルの位置、向きを固定する。
この状態で定盤受け台及び下定盤を回転させつつ、洗浄水を噴射する。
これによりリング状部と放射状部(外周方向)の2方向に洗浄水が噴射され、廃液路全域の自動洗浄が行われる。
なお、洗浄ノズルから噴射する洗浄水としては、例えば水を用いることができる。高圧水を用いるとより高いスラッジ除去効果が得られる。噴射力自体は特に限定されず、例えば20Mpa以上とすることができる。
A cleaning method using the
First, the
While adjusting the horizontal length of the arm, adjust the vertical height of the tip to which the nozzle is attached, and insert the tip into the waste liquid channel through the gap in the center of the lower surface plate. Then, the position and direction of the cleaning nozzle are fixed.
In this state, washing water is sprayed while rotating the surface plate cradle and the lower surface plate.
As a result, washing water is sprayed in two directions, the ring-shaped portion and the radial portion (peripheral direction), so that the entire area of the waste liquid passage is automatically washed.
Water, for example, can be used as the washing water jetted from the washing nozzle. A higher sludge removal effect can be obtained by using high-pressure water. The injection force itself is not particularly limited, and can be, for example, 20 Mpa or more.
以下、本発明を実施例に基づきさらに説明するが、これらの実施例は例示的に示されるもので限定的に解釈されるべきではない。 The present invention will be further described below based on examples, but these examples are shown by way of illustration and should not be construed as limiting.
(実施例)
図1A~図1D、図3A、図3Bに示す本発明の洗浄装置を用意した。
該洗浄装置の第一洗浄ノズル及び第二洗浄ノズルを、洗浄水が扇形状に噴射可能なものとし、第二洗浄ノズルについては洗浄水が縦方向に拡がるように装着した。第一洗浄ノズル及び第二洗浄ノズルから20Mpaの高圧水を噴射し、定盤受け台を2rpmで回転させ自動洗浄作業を行い、年間の洗浄時間及びスラッジ除去量を測定した。
(Example)
A cleaning apparatus of the present invention as shown in FIGS. 1A-1D, 3A and 3B was prepared.
The first washing nozzle and the second washing nozzle of the washing device were capable of jetting washing water in a fan shape, and the second washing nozzle was mounted so that the washing water spreads in the vertical direction. High-pressure water of 20 Mpa was injected from the first cleaning nozzle and the second cleaning nozzle, and the surface plate cradle was rotated at 2 rpm to perform automatic cleaning work, and the annual cleaning time and the amount of sludge removed were measured.
(比較例)
本発明の洗浄装置を用いず、図5Bに示すような手作業で行った以外、実施例と同様の条件で洗浄作業を行った。
(Comparative example)
The cleaning work was performed under the same conditions as in the example, except that the cleaning apparatus of the present invention was not used and the cleaning work was performed manually as shown in FIG. 5B.
その結果、図4に示すように、実施例では年間洗浄時間が112h、年間スラッジ除去量が448kgとなった。比較例では年間洗浄時間が336h、年間スラッジ除去量が134kgであった。作業者が洗管ホースを用いて洗浄を行う従来方式(比較例)と比較すると、本発明の洗浄装置により年間洗浄時間は1/3に、年間スラッジ除去量は約234%向上した。 As a result, as shown in FIG. 4, in Example, the annual washing time was 112 hours, and the annual amount of sludge removed was 448 kg. In the comparative example, the annual washing time was 336 hours and the annual sludge removal amount was 134 kg. Compared with the conventional method (comparative example) in which an operator uses a tube washing hose, the washing device of the present invention reduces the annual washing time to 1/3 and improves the annual sludge removal amount by about 234%.
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は、例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。 It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiments. The above embodiment is an example, and any device that has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention and produces similar effects is the present invention. It is included in the technical scope of the invention.
1…洗浄装置、 2…第一洗浄ノズル、 3…第二洗浄ノズル、 4…アーム、
5…クランプ背板、 6…外周板、
11…ラッピング装置、 12…上定盤、 13…下定盤、 14…サンギア、
15…インターナルギア、 16…キャリア、 17…保持孔、
18…スラリー供給ノズル、 19…貫通孔、
20…定盤受け台、 21…リング状部、 22…放射状部、 23…廃液路、
W…ウェーハ。
DESCRIPTION OF
5... Clamp back plate, 6... Peripheral plate,
11... Lapping device, 12... Upper surface plate, 13... Lower surface plate, 14... Sun gear,
15... Internal gear, 16... Carrier, 17... Holding hole,
18... Slurry supply nozzle, 19... Through hole,
20... Surface plate cradle, 21... Ring-shaped part, 22... Radial part, 23... Waste liquid path,
W... Wafer.
Claims (2)
前記下定盤を支持して該下定盤と共に回転可能な定盤受け台に形成されており、前記下定盤から流れ落ちた廃スラリーを排出するための廃液路を洗浄水により洗浄するものであり、
前記洗浄水を噴射する第一洗浄ノズル及び第二洗浄ノズルと、該第一洗浄ノズル及び第二洗浄ノズルが取り付けられており、該第一洗浄ノズル及び第二洗浄ノズルの配置位置及び配置向きを固定するアームとを有しており、
前記定盤受け台の回転軸周りの内周側に位置するリング状部と、該リング状部から外周方向に放射状に延びる1つ以上の放射状部とからなる前記廃液路に対して、
前記第一洗浄ノズルは前記リング状部に向いており、かつ、前記第二洗浄ノズルは前記定盤受け台の内周側から外周方向に向いており、
該固定配置された第一洗浄ノズル及び第二洗浄ノズルから前記洗浄水が噴射され、かつ、前記定盤受け台及び前記下定盤が回転されることで、前記リング状部の全域が前記第一洗浄ノズルからの洗浄水により、かつ、前記放射状部の全域が前記第二洗浄ノズルからの洗浄水により、自動洗浄可能なものであることを特徴とするラッピング装置の洗浄装置。 It has rotatable upper and lower surface plates and a slurry supply nozzle for supplying slurry between the upper and lower surface plates, and while supplying the slurry, the upper and lower surface plates are rotated to sandwich between the upper and lower surface plates. A cleaning device for a lapping device that lapping a workpiece,
A waste liquid path formed on a surface plate receiving table that supports the lower surface plate and is rotatable together with the lower surface plate, for discharging waste slurry that has flowed down from the lower surface plate, is washed with washing water,
A first washing nozzle and a second washing nozzle for injecting the washing water, and the first washing nozzle and the second washing nozzle are attached, and the arrangement position and arrangement direction of the first washing nozzle and the second washing nozzle are and an arm for fixing,
With respect to the waste liquid path, which is composed of a ring-shaped portion located on the inner peripheral side of the rotating shaft of the surface plate cradle and one or more radial portions radially extending from the ring-shaped portion in the outer peripheral direction,
The first cleaning nozzle faces the ring-shaped portion, and the second cleaning nozzle faces from the inner peripheral side to the outer peripheral direction of the surface plate cradle,
The cleaning water is sprayed from the fixedly arranged first cleaning nozzle and second cleaning nozzle, and the surface plate receiving base and the lower surface plate are rotated, so that the entire area of the ring-shaped portion is covered with the first A cleaning device for a lapping device, wherein the cleaning water from the cleaning nozzle and the entire area of the radial portion can be automatically cleaned by the cleaning water from the second cleaning nozzle.
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004281641A (en) | 2003-03-14 | 2004-10-07 | Tokyo Electron Ltd | Coating equipment |
JP3123555U (en) | 2004-10-12 | 2006-07-20 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | Polishing pad conditioner with molded abrasive pattern and channel |
KR101596598B1 (en) | 2014-11-10 | 2016-02-22 | 주식회사 엘지실트론 | Wafer polishing apparatus |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3366061B2 (en) * | 1993-06-30 | 2003-01-14 | 澄夫 田中 | Cleaning equipment for double-side polishing machine surface plate |
JP3030608B2 (en) * | 1995-08-21 | 2000-04-10 | 株式会社荏原製作所 | Platen cleaning equipment for lapping machines |
JPH11347938A (en) * | 1998-06-08 | 1999-12-21 | Ebara Corp | Discharging mechanism of product from polishing and polishing device |
JP2010052090A (en) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Epson Toyocom Corp | Polishing device and polishing method |
JP2010228058A (en) * | 2009-03-27 | 2010-10-14 | Fujikoshi Mach Corp | Washing device and washing method for abrasive cloth |
US9704730B2 (en) * | 2013-05-28 | 2017-07-11 | Tokyo Electron Limited | Substrate cleaning apparatus, substrate cleaning method and non-transitory storage medium |
JP6305040B2 (en) * | 2013-12-04 | 2018-04-04 | 株式会社ディスコ | Cleaning device |
SG10201906815XA (en) * | 2014-08-26 | 2019-08-27 | Ebara Corp | Substrate processing apparatus |
JP6299539B2 (en) | 2014-09-09 | 2018-03-28 | 信越半導体株式会社 | Wrapping method |
JP6369263B2 (en) * | 2014-09-25 | 2018-08-08 | 株式会社Sumco | Work polishing apparatus and work manufacturing method |
CN209831364U (en) * | 2019-04-30 | 2019-12-24 | 青岛嘉星晶电科技股份有限公司 | Combined wafer grinding disc |
-
2020
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004281641A (en) | 2003-03-14 | 2004-10-07 | Tokyo Electron Ltd | Coating equipment |
JP3123555U (en) | 2004-10-12 | 2006-07-20 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | Polishing pad conditioner with molded abrasive pattern and channel |
KR101596598B1 (en) | 2014-11-10 | 2016-02-22 | 주식회사 엘지실트론 | Wafer polishing apparatus |
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