JP7218373B2 - 機械特性試験を実行する方法及び装置 - Google Patents

Description

本開示は、包括的には、機械試験に関し、より詳細には、機械特性試験を実行する方法及び装置に関する。

一般的な試験機械は、機械試験、例えば、材料又は構成要素上の圧縮強さ試験又は引張強さ試験を実行するのに用いられる。

特許請求の範囲においてより十全に記載されるように、実質的に、図面のうちの少なくとも１つによって図示されるとともにその図面に関連して説明される、機械特性試験を実行する方法及び装置が開示される。

本開示のこれらの特徴、態様、及び利点並びに他の特徴、態様、及び利点は、以下の詳細な説明が添付図面を参照して読まれるとより良好に理解され、図面を通して同様の参照符号は同様の部分を表す。

本開示の態様による、機械特性試験を実行する一例示の試験装置の図である。 図１の試験装置の一例示の実施態様のブロック図である。 図１の例示の試験装置によって表示することができる複数のユーザー選択可能タスクを示す一例示のユーザーインターフェースの図である。 試験装置の複数の試験規定選択を示すとともに、図１の例示の試験装置によって表示することができる別の例示のユーザーインターフェースの図である。 試験インターフェースを示すとともに、「クイックテスト（QuickTest）」の所定試験規定の選択に応答して図１の例示の試験装置によって表示することができる別の例示のユーザーインターフェースの図である。 図５の試験インターフェースを示すとともに、グラフィカルに表示されたデータ及び機械特性試験からの試験結果を含む別の例示のユーザーインターフェースの図である。 図１及び／又は図２の試験装置を作動させるように実行可能な例示的機械可読命令を表すフローチャートである。

図面は、必ずしも正確な縮尺ではない。適切な場合は、同様の又は同一の参照番号を使用して、同様の又は同一の構成要素を指す。

開示される例示の試験装置は、試験オペレーターが機械試験を実行することが可能である速度を改善することによって一般的な試験機械の有用性及び使用の容易さを改善する。従来の一般的な試験機械は、オペレーターが、少数の関連パラメーターを有する試験でさえも達成するのにいくつかの試験パラメーターのセットを明示的にセットアップすることを要求する。従来の試験機械とは対照的に、開示される例示の試験装置は、オペレーターが、最も頻繁に用いられるか又は多様な試験を規定する最も関連したパラメーター等の、一般的な試験機械の構成可能パラメーターの小サブセットの値を迅速に入力することを可能にする、少なくとも１つの所定の試験規定インターフェース、すなわち「クイックテスト」モードを含む。いくつかの例では、一般的な試験機械のクイックテストモードの構成可能パラメーターは、試験方向、試験レート、及びレートの単位を含む。

従来の一般的な試験機械は、ユーザーが、特定の材料試験に対して事前設定された方法等のパラメーターの所定のセットを保存することを可能にする一方、開示される例示の試験装置は、試験装置のソフトウェア又はファームウェア内の事前構成されたユーザーインターフェースとして、所定の試験規定インターフェースを有することができる。開示される試験装置は、オペレーターにとっての、一般的な試験の速度及び簡易さを大幅に改善することができ、それにより、試験速度、ユーザー体験及び／又はオペレーターの効率性が改善される。

開示される例示の試験装置は、試験対象の材料及び構成要素の機械特性を測定し、試験対象の材料又は構成要素に関係付けられた測定値を得る演算装置を備える。演算装置は、表示装置と、入力装置と、プロセッサと、このプロセッサに結合され、コンピューター可読命令を記憶するメモリとを備える。命令は、プロセッサによって実行されると、表示装置を介して、所定の試験規定インターフェースの選択を可能にする試験モードインターフェースを表示することと、入力装置を介した所定の試験規定インターフェースの選択に応答して、試験インターフェースを表示することとをプロセッサに行わせる。試験インターフェースは、試験装置の構成可能試験パラメーターの所定のサブセットの入力を含む。

いくつかの例示の試験装置では、所定のサブセットは、追加ダイアログを開く必要なく、表示装置上に収まるように数が限られている。いくつかの例では、構成可能試験パラメーターの所定のいくつかの入力は、機械特性試験によって試験される機械特性の選択を含む。いくつかのそのような例では、機械特性の選択は、圧縮強さ、引張強さ、ねじり強さのうちの少なくとも１つの選択を含む。

いくつかの例示の試験装置では、構成可能試験パラメーターの所定のサブセットの入力は、試験レートを含む。いくつかのそのような例では、構成可能試験パラメーターの所定のサブセットの入力は、レート選択を含む。レート選択は、変位率、回転率、力率、又は歪み率のうちの少なくとも１つを含む。

いくつかの例では、コンピューター可読命令は、構成可能試験パラメーターの所定のサブセットの入力値を記憶することと、所定の試験規定インターフェースの後の表示に応答して、構成可能試験パラメーターの所定のサブセットの入力値を格納することとをプロセッサに行わせる。いくつかのそのような例では、コンピューター可読命令は、機械特性試験に関連付けられた補助情報の入力値を記憶することと、所定の試験規定インターフェースの後の表示に応答して補助情報の入力値を格納することとをプロセッサに行わせる。

いくつかの例では、コンピューター可読命令は、プロセッサに、動作モード選択インターフェースにおける試験モードインターフェースの選択に応答して、試験モードインターフェースを表示させる。いくつかのそのような例では、動作モード選択インターフェースは、試験装置によって実行される試験方法の規定の選択を更に含む。

いくつかの例示の試験システムでは、試験インターフェースは、機械特性試験のリアルタイム試験測定値の表示を含む。いくつかの例では、所定のサブセットは、試験インターフェース内のダイアログを開く必要なく表示装置上に表示される。いくつかの例では、試験インターフェースは、機械特性試験の試験測定値又は試験結果のうちの少なくとも一方のグラフィック表示を含む。いくつかのそのような例では、試験インターフェースは、プロセッサが試験測定値を受信することに応答して、試験測定値のグラフィック表示を更新する。

いくつかの例示の試験装置では、所定のサブセット内に含められた構成可能試験パラメーターは、構成可能ではない。いくつかの例では、試験インターフェースは、機械特性試験を起動する入力を更に含む。

開示される例示の試験装置は、試験対象の材料又は構成要素の機械特性を測定し、試験対象の材料又は構成要素に関係付けられた測定値を得る演算装置を備える。演算装置は、表示装置と、入力装置と、プロセッサと、このプロセッサに結合され、コンピューター可読命令を記憶するメモリとを備える。命令は、プロセッサによって実行されると、プロセッサに、演算装置の初期化イベントに応答して、試験装置の構成可能試験パラメーターの所定のサブセットの入力を含む試験インターフェースを表示させる。

いくつかの例では、初期化イベントは、演算装置におけるユーザーログインを含む。いくつかの例では、初期化イベントは、試験装置又は演算装置の起動を含む。

いくつかの例示の試験装置では、所定のサブセットは、追加ダイアログを開く必要なく、表示装置上に収まるように数が限られている。いくつかの例では、構成可能試験パラメーターの所定のいくつかの入力は、機械特性試験によって試験される機械特性の選択を含む。いくつかのそのような例では、機械特性の選択は、圧縮強さ、引張強さ、ねじり強さのうちの少なくとも１つの選択を含む。

いくつかの例示の試験装置では、構成可能試験パラメーターの所定のサブセットの入力は、試験レートを含む。いくつかのそのような例では、構成可能試験パラメーターの所定のサブセットの入力は、レート選択を含む。レート選択は、変位率、回転率、力率、又は歪み率のうちの少なくとも１つを含む。

いくつかの例では、コンピューター可読命令は、構成可能試験パラメーターの所定のサブセットの入力値を記憶することと、所定の試験規定インターフェースの後の表示に応答して、構成可能試験パラメーターの所定のサブセットの入力値を格納することとをプロセッサに行わせる。いくつかのそのような例では、コンピューター可読命令は、機械特性試験に関連付けられた補助情報の入力値を記憶することと、所定の試験規定インターフェースの後の表示に応答して補助情報の入力値を格納することとをプロセッサに行わせる。

いくつかの例では、コンピューター可読命令は、プロセッサに、動作モード選択インターフェースにおける試験モードインターフェースの選択に応答して、試験モードインターフェースを表示させる。いくつかのそのような例では、動作モード選択インターフェースは、試験装置によって実行される試験方法の規定の選択を更に含む。

いくつかの例示の試験システムでは、試験インターフェースは、機械特性試験のリアルタイム試験測定値の表示を含む。いくつかの例では、所定のサブセットは、試験インターフェース内のダイアログを開く必要なく表示装置上に表示される。いくつかの例では、試験インターフェースは、機械特性試験の試験測定値又は試験結果のうちの少なくとも一方のグラフィック表示を含む。いくつかのそのような例では、試験インターフェースは、プロセッサが試験測定値を受信することに応答して、試験測定値のグラフィック表示を更新する。

いくつかの例示の試験装置では、所定のサブセット内に含められた構成可能試験パラメーターは、構成可能ではない。いくつかの例では、試験インターフェースは、機械特性試験を起動する入力を更に含む。

図１は、機械特性試験を実行する一例示の試験装置１００を示している。例示の試験装置１００は、例えば、静止機械試験が可能である一般的な試験システムとすることができる。試験装置１００は、例えば、圧縮強さ試験、引張強さ試験、せん断強さ試験、曲げ強さ試験、撓み強さ試験、引裂強さ試験、剥離強さ試験（例えば、接着剤結合の強さ）、ねじり強さ試験、及び／又は他の任意の圧縮及び／又は引張試験を実行することができる。加えて又は代替的に、試験装置１００は、動的試験を実行することができる。

例示の試験装置１００は、試験機１０２と、試験機１０２に通信可能に結合された演算装置１０４とを備える。試験機１０２は、試験対象の材料１０６に負荷を印加し、試験対象の材料１０６の変位及び／又は試験対象の材料１０６に印加された力等の試験の機械特性を測定する。

例示の演算装置１０４は、処理、表示、報告、及び／又は他の任意の所望の目的で、試験機１０２を構成し、試験機１０２を制御し、及び／又は、測定データ（例えば、力及び変位等のトランスデューサー測定値）及び／又は試験機１０２からの試験結果（例えば、ピーク力、破断変位（break displacement）等）を受信するのに用いることができる。

図２は、図１の試験装置１００の一例示の実施態様のブロック図である。図２の例示の試験装置１００は、試験機１０２と、演算装置１０４とを備える。例示の演算装置１０４は、汎用コンピューター、ラップトップコンピューター、タブレットコンピューター、モバイルデバイス、サーバー、オールインワンコンピューター、及び／又は他の任意のタイプの演算装置とすることができる。

図２の例示の演算装置２００は、プロセッサ２０２を備える。例示のプロセッサ２０２は、任意の製造者からの任意の汎用中央処理装置（ＣＰＵ）とすることができる。他のいくつかの例では、プロセッサ２０２は、ＡＲＭコアを有するＲＩＳＣプロセッサ、画像処理装置、デジタル信号プロセッサ、及び／又はシステムオンチップ（ＳｏＣ）等の１つ以上の専用処理装置を含むことができる。プロセッサ２０２は、プロセッサにおいて（例えば、内蔵キャッシュ又はＳｏＣ）、ランダムアクセスメモリ２０６（又は他の揮発性メモリ）、リードオンリーメモリ２０８（又はフラッシュメモリ等の他の不揮発性メモリ）、及び／又は大容量格納装置２１０にローカルに記憶することができる機械可読命令２０４を実行する。例示の大容量格納装置２１０は、ハードドライブ、ソリッドステートストレージドライブ、ハイブリッドドライブ、ＲＡＩＤアレイ、及び／又は他の任意の大量データ格納装置とすることができる。

バス２１２は、プロセッサ２０２、ＲＡＭ２０６、ＲＯＭ２０８、大容量格納装置２１０、ネットワークインターフェース２１４、及び／又は入力／出力インターフェース２１６間の通信を可能にする。

例示のネットワークインターフェース２１４は、演算装置２０１を、インターネット等の通信ネットワーク２１８に接続するハードウェア、ファームウェア、及び／又はソフトウェアを含む。例えば、ネットワークインターフェース２１４は、通信を送信及び／又は受信するために、ＩＥＥＥ ２０２．Ｘ準拠無線及び／又は有線通信ハードウェアを含むことができる。

図２の例示のＩ／Ｏインターフェース２１６は、プロセッサ２０２に入力を提供する及び／又はプロセッサ２０２から出力を提供するために、１つ以上の入力／出力装置２２０をプロセッサ２０２に接続するハードウェア、ファームウェア、及び／又はソフトウェアを含む。例えば、Ｉ／Ｏインターフェース２１６は、表示装置とインターフェース接続する画像処理装置、１つ以上のＵＳＢ準拠デバイスとインターフェース接続するユニバーサルシリアルバスポート、ＦｉｒｅＷｉｒｅ、フィールドバス、及び／又は他の任意のタイプのインターフェースを含むことができる。例示の試験装置１００は、Ｉ／Ｏインターフェース２１６に結合された表示装置２２４（例えば、ＬＣＤスクリーン）を備える。他の例示のＩ／Ｏデバイス２２０は、キーボード、キーパッド、マウス、トラックボール、ポインティングデバイス、マイクロフォン、オーディオスピーカー、表示装置、光メディアドライブ、マルチタッチタッチスクリーン、ジェスチャー認識インターフェース、磁気メディアドライブ、及び／又は他の任意のタイプの入力及び／又は出力装置を含むことができる。

例示の演算装置２００は、Ｉ／Ｏインターフェース２１６及び／又はＩ／Ｏデバイス２２０を介して非一時的機械可読媒体２２２にアクセスすることができる。図２の機械可読媒体２２２の例は、光ディスク（例えば、コンパクトディスク（ＣＤ）、デジタルバーサタイル／ビデオディスク（ＤＶＤ）、Ｂｌｕ－ｒａｙ（登録商標）ディスク等）、磁気メディア（例えば、フロッピー（登録商標）ディスク）、ポータブル記憶媒体（例えば、ポータブルフラッシュドライブ、セキュアデジタル（ＳＤ）カード等）、及び／又は他の任意のタイプの取り外し可能及び／又は設置式機械可読媒体を含む。

図１の例示の試験装置１００は、演算装置２００に結合された試験機１０２を更に含む。図２の例では、試験機１０２は、ＵＳＢポート、Ｔｈｕｎｄｅｒｂｏｌｔポート、ＦｉｒｅＷｉｒｅ（ＩＥＥＥ １３９４）ポート、及び／又は他の任意のタイプのシリアル又はパラレルデータポート等のＩ／Ｏインターフェース２１６を介して、演算装置に結合される。他のいくつかの例では、試験機１０２は、直接又はネットワーク２１８を介して、有線又は無線接続（例えば、Ｅｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）、Ｗｉ－Ｆｉ等）を介してネットワークインターフェース２１４に結合される。

図２の試験機１０２は、フレーム２２８と、ロードセル２３０と、変位トランスデューサー２３２と、クロスメンバーローダー２３４と、材料固定具２３６と、コントローラー２３８とを備える。フレーム２２８は、試験を実行する試験機１０２の他の構成要素の剛性構造支持を提供する。ロードセル２３０は、グリップ２３６を介して、クロスメンバーローダー２３４によって試験対象の材料に印加された力を測定する。クロスメンバーローダー２３４は、試験対象の材料に力を印加し、一方、材料固定具２３６は、試験対象の材料を把持するか、又は別の方法で試験対象の材料をクロスメンバーローダー２３４に結合する。例示のグリップ２３６は、試験されている機械特性及び／又は試験対象の材料に応じて、圧縮プラテン、顎部又は他のタイプの固定具を含む。

例示のコンピューター２３８は、演算装置２００と通信して、例えば、演算装置２００から試験パラメーターを受信し、測定値及び／又は他の結果を演算装置２００に報告する。例えば、コントローラー２３８は、演算装置１０４との通信を可能にする１つ以上の通信又はＩ／Ｏインターフェースを含むことができる。コントローラー２３８は、印加される力を増減させるようにクロスメンバーローダー２３４を制御し、試験対象の材料を把持又は解放するように固定具２３６を制御し、及び／又は変位トランスデューサー２３２、ロードセル２３０及び／又は他のトランスデューサーから測定値を受信することができる。

図３～図６は、試験装置１００のオペレーターが「クイックテスト」を実行することを可能にするために図１、２の演算装置１０４によって実装することができる例示のユーザーインターフェース（例えば、インタラクティブディスプレイスクリーン）を示している。一例示のクイックテストは、試験装置１００の構成可能試験パラメーターの全てのうちの所定のサブセットを有する試験方法である。図３～図６を参照して開示される例では、構成可能試験パラメーターの所定のサブセットは、一般に用いられる（例えば、最も一般に用いられる）試験パラメーターを含み、及び／又は、新たな試験方法を作成するときにオペレーターによって最も頻繁に規定される試験パラメーターを含む。以下で論述される図３～図６の例示のユーザーインターフェースは、クイックテスト方法の迅速な選択及び実行を可能にし、クイックテストが、（例えば、残りのパラメーターを格納することによって）構成可能試験パラメーターの数を大幅に限定するという点で、記憶された、オペレーターにより規定される試験方法とは区別され、及び／又は、演算装置１０４のソフトウェア又はファームウェア内で事前規定されている。

図３は、図１の試験装置１００の複数のユーザー選択可能タスク３０２、３０４、３０６、３０８を示すとともに、例示の試験装置１００によって（例えば、図１の表示装置２２４を介して）表示することができる一例示のユーザーインターフェース３００を示している。例示のユーザー選択可能タスク３０２～３０８は、タッチスクリーン又はカーソル等の入力装置を用いて選択することができる。ユーザー選択可能タスク３０２の選択により、演算装置１０４が、図４に示される試験モードインターフェース等の試験モードインターフェースを表示する。

図３に示される他の例示のユーザー選択可能タスクは、方法規定モード３０４（例えば、オペレーターが試験装置１００に利用可能な構成可能試験パラメーターのうちの任意のものを用いて試験方法を規定することができるモード）、分析モード３０６（例えば、以前の試験の結果をレビュー及び／又は分析することができるモード）、及び／又は構成モード３０８（例えば、試験装置１００の態様を構成することができるモード）を含む。

図４は、試験装置１００の複数の試験規定選択４０２、４０４を示すとともに、図１の例示の試験装置によって表示することができる別の例示のユーザーインターフェース４００を示している。例示の試験規定選択４０２は、オペレーターが、所定の試験規定インターフェースを選択することを可能にする。その一例が図５に示されている。試験規定選択４０２は、構成可能試験パラメーターの所定のサブセットを含む「クイックテスト」モードに対応する。

他の例示の試験規定選択は、オペレーターにより規定された試験方法４０４を含み、これは、オペレーター（又は管理者）によって以前に構成されて、試験装置１００に保存されている。

図５は、試験セットアップインターフェース５０２を示すとともに、図４の「クイックテスト」の所定の試験規定４０２の選択に応答して図１の例示の試験装置１００によって表示することができる別の例示のユーザーインターフェース５００を示している。

例示の試験セットアップインターフェース５０２は、構成可能試験パラメーターの限定された、所定のセットを含む。構成可能試験パラメーターの限定された、所定のセットは、ユーザーインターフェース５００がフラットである（例えば、構成可能試験パラメーターのセットが単一のインターフェース上に収まる、及び／又は更なるウィンドウ、ダイアログ又は他のインターフェースが構成可能試験パラメーターのセットにアクセスするために必要とされない）ように選択することができる。例示のインターフェース５００では、構成可能試験パラメーターのセットは、試験方向５０４、試験レート５０６、及び試験レートの単位５０８のみを含む。試験方向５０４は、引張又は圧縮等の試験される機械特性を規定することができる。いくつかの例では、「引張」及び「圧縮」方向は、単一寸法試験装置が力を加えることが可能である２つの方向を規定し、試験方向５０４を「引張」、「圧縮」、「時計回り回転」、及び／又は「反時計回り回転」に構成し、試験対象の材料を適切に向け、及び／又は試験のタイプに適切な固定具を用いることによって、せん断強さ試験、曲げ強さ試験、撓み強さ試験、引裂強さ試験、及び／又は剥離強さ試験等の他の機械特性を実行することができる。

例示の試験レート５０６は、試験装置１００が試験される材料における変位及び／又は力を変更するレートを規定する。試験レートの単位５０８は、試験レート５０６に入力されるレートがコントローラー２３８によっていかに解釈されるのかを規定する。例示の単位は、帝国単位及び／又はメートル法単位における、変位の単位（例えば、単位時間当たりの距離、例えば、ミリメートル毎分（ｍｍ／ｍｉｎ））及び／又は力の単位（例えば、単位時間当たりの力、例えば、キロニュートン毎分（ｋＮ／ｍｉｎ））を含むことができる。加えて又は代替的に、試験レートの単位５０８は、トランスデューサー測定の観点で規定することができ、この場合、試験レートは、トランスデューサーからのフィードバックに少なくとも部分的に基づいて制御される。トランスデューサーベース試験レート５０８の一例は、伸縮計（extensometer）又は材料伸展の他のトランスデューサーによって測定されるような、試験対象の材料の伸展を含むことができる。試験レート５０８は、変位率、回転率、力率、又は歪み率のうちの１つ以上の間の選択を可能にすることができる。

例示のユーザーインターフェース５００は、コントローラー２３８に、構成可能試験パラメーター５０４～５０８内のパラメーター入力を用いて機械特性試験を開始又は起動するようにコマンドする試験起動ボタン５１０（例えば、スタートボタン）を更に含む。加えて又は代替的に、試験機１０２上に位置する物理ボタンを用いて、試験起動ボタン５１０と同じように機械特性試験を開始又は起動することができる。

図５の例示のユーザーインターフェース５００は、追加入力構成パラメーター５１４～５１８及び出力構成インターフェース５１２を更に含むことができる。入力構成パラメーター５１４～５１８は、機械特性試験に影響を及ぼさないが、結果としてもたらされる出力に関連付けられる情報を提供することができる補助情報である。規定することができる例示の出力パラメーターは、サンプルテキスト入力５１４、標本テキスト入力５１６、及び標本注記５１８を含む。出力構成インターフェース５１２は、試験装置１００の外部に結果を転送及び／又は記録する方法を指定する出力フォーマット選択５２０を含むことができる補助情報である。出力フォーマット選択は、結果のファイルフォーマット、結果の記憶及び／又は送信ロケーション、結果を送信、記憶、又は別の方法で出力するのに用いられる構成要素（例えば、Ｉ／Ｏインターフェース２１６、ネットワークインターフェース２１４、表示装置２２４、大容量格納装置２１０）及び／又は他の任意の出力構成選択肢を指定することができる。

いくつかの例では、ユーザーインターフェース５００が閉じられた場合、例えば、オペレーターが図３及び／又は図４のインターフェース３００、４００のうちの一方に戻るように選択した場合、試験セットアップインターフェース５０２は、構成可能試験パラメーター５０４～５０８、追加入力構成パラメーター５１４～５１８、及び／又は出力構成インターフェース５２０への直近で用いられた入力を記憶する。オペレーターが後の時点で試験セットアップインターフェース５０２に戻ると、パラメーターを再呼び出しして、構成可能試験パラメーター５０４～５０８、追加入力構成パラメーター５１４～５１８、及び／又は出力構成インターフェース５２０に格納し、試験装置１００上で試験を起動することができる速度を潜在的に更に高めることができる。

図６は、図５の試験インターフェース５００を示すとともに、機械特性試験からの試験結果６００を含む別の例示のユーザーインターフェースを示している。例示の試験結果６００は、結果のグラフ６０２及び結果のテーブル６０４を含む。例示の試験結果６００は、単一のインターフェース内の１つ以上の試験標本の結果を含むことができる。

図７は、図１及び／又は図２の試験装置１００を実装するように実行することができる例示の機械可読命令７００を表すフローチャートである。例示の機械可読命令７００は、機械特性試験を実行するように、試験装置１００によって（例えば、演算装置１０４を介して）実行することができる。いくつかの例では、命令７００は、オペレーターが試験装置１００にログインしたときに開始される。加えて又は代替的に、命令７００は、試験装置１００が電源を投入される及び／又は初期化されると開始される。

ブロック７０１において、試験装置１００は、（例えば、プロセッサ２０２を介して）所定の試験規定インターフェース（例えば、クイックテストモード）において開始すべきであるか否かを判断する。例えば、試験装置１００は、オペレーターがログインするか又は他の初期化イベントが生じると即座にクイックテストモードに入るように構成することができる。

試験装置１００がクイックテストモードにおいて開始するように構成されない場合（ブロック７０１）、ブロック７０２において、試験装置１００は、モード選択インターフェース（例えば、表示装置２２４を介して図３のユーザーインターフェース３００）を表示する。モード選択インターフェースは、図３のユーザー選択可能タスク３０２等の試験モードを含む、選択のための複数のユーザー選択可能タスクを含むことができる。ブロック７０４において、プロセッサ２０２は、試験モードが（例えば、Ｉ／Ｏデバイス２２０を介して）選択されているか否かを判断する。試験モードが選択されていない場合（ブロック７０４）、制御は、ブロック７０２に戻って、モード選択インターフェースを表示することを続行する。異なる動作モードが選択される（例えば、ユーザー選択可能タスク３０４～３０８のうちの１つ）他の例では、例示のプロセッサ２０２は、選択されたユーザー選択可能タスクを実施し、命令７００は、終了し、及び／又は、ブロック７０２に制御を戻して、モード選択インターフェース３００を表示することができる。

試験モードが選択されている場合（ブロック７０４）、ブロック７０６において、試験装置１００は、（例えば、表示装置２２４を介して）クイックテスト方法を含む試験モードインターフェースを表示する。例えば、プロセッサ２０２は、表示装置２２４に、試験規定選択４０２を含む図４の例示のユーザーインターフェース４００を表示させることができる。ブロック７０８において、プロセッサ２０２は、試験規定選択４０２（例えば、クイックテスト規定）が選択されているか否かを判断する。試験規定選択４０２が選択されていない場合（ブロック７０８）、制御は、ブロック７０６に戻って、試験モードインターフェース４００を表示することを続行する。異なる試験規定が選択される（例えば、試験規定選択４０４）他の例では、例示のプロセッサ２０２は、選択された試験規定を実施し、命令７００は、終了し、及び／又は、ブロック７０２に制御を戻して、モード選択インターフェース３００を表示することができる。

試験規定選択４０２が選択されている場合（ブロック７０８）、又は試験装置１００がクイックテストモードにおいて開始するように構成される場合（ブロック７０１）、ブロック７１０において、例示の試験装置１００は、（例えば、表示装置２２４を介して）構成可能試験パラメーターの所定のサブセット及び試験起動要素を含む所定の試験規定インターフェースを表示する。例えば、試験装置１００は、試験装置１００の構成可能試験パラメーター５０４～５０８及び試験起動ボタン５１０を含む、図５の試験セットアップインターフェース５０２を表示することができる。試験装置１００は、試験規定が選択されると、追加入力構成パラメーター５１４～５１８及び／又は出力構成インターフェース５２０を更に表示することができる。

ブロック７１２において、プロセッサ２０２は、構成可能試験パラメーター５０４～５０８、追加入力構成パラメーター５１４～５１８、及び／又は出力構成インターフェース５２０の値が以前に記憶されているか否かを判断する。例えば、直近で用いられたパラメーター値は、メモリ及び／又は不揮発性記憶デバイスに記憶することができる。構成可能試験パラメーター５０４～５０８、追加入力構成パラメーター５１４～５１８、及び／又は出力構成インターフェース５２０の値が以前に記憶されている場合（ブロック７１２）、例示のプロセッサ２０２は、構成可能試験パラメーター５０４～５０８、追加入力構成パラメーター５１４～５１８、及び／又は出力構成インターフェース５２０の値を、試験セットアップインターフェース５０２に格納する。格納された値は、試験装置１００のオペレーターによって変更することができる。

構成可能試験パラメーターの値を格納した後（ブロック７１４）、又は構成可能試験パラメーターの値が以前に記憶されていない場合（ブロック７１２）、ブロック７１６において、プロセッサ２０２は、試験が起動されているか否かを（例えば、試験起動ボタン５１０の選択を介して）を判断する。試験が起動された場合（ブロック７１６）、ブロック７１８において、試験装置１００は、試験セットアップインターフェース５０２を用いて指定されたパラメーターセットを用いて機械特性試験を実行する。ブロック７２０において、試験装置１００は、機械特性試験結果を（例えば、インターフェース５００に）出力する。いくつかの例では、試験装置１００は、デフォルト、所定、及び／又はカスタムのファイル記憶設定を用いて記憶装置に試験結果を自動的に記憶する。他のいくつかの例では、試験装置１００は、試験結果を（例えば、結果のグラフ６０２及び／又はテーブル６０４を介して）表示し、（例えば、オペレーターから）記憶するためのコマンドが受信されるまで試験結果を記憶しない。

機械特性試験結果を出力した後（ブロック７２０）、又は試験が起動されていない場合（ブロック７１６）、ブロック７２２において、プロセッサは、所定の試験規定インターフェースを終了するべきか否かを判断する。例えば、オペレーターは、試験モードインターフェース及び／又はタスクインターフェースに戻る選択肢を選択することができる。試験モードインターフェース及び／又はタスク選択インターフェースに戻る選択肢は、試験の終了時に提供することができ、及び／又は、所定の試験規定インターフェース上に（例えば、メニューエリアに）継続的に表示することができる。所定の試験規定インターフェースが終了されるべきではない場合（ブロック７２２）、制御は、ブロック７１０に戻る。

所定の試験規定インターフェースを終了することに応答して（ブロック７２２）、ブロック７２４において、プロセッサは、試験規定が選択されると（例えば、以前に格納された、オペレーターによって格納された等）構成可能試験パラメーター５０４～５０８、追加入力構成パラメーター５１４～５１８、及び／又は出力構成インターフェース５２０内に格納された構成可能試験パラメーターの値を記憶する。その後、制御は、ブロック７０６に戻って、試験モードインターフェースを表示する。

本方法及びシステムは、ハードウェア、ソフトウェア、及び／又はハードウェア及びソフトウェアの組み合わせで実現することができる。本方法及び／又はシステムは、例えば、少なくとも１つのコンピューティングシステムにおいて集中的に、又はいくつかの相互接続されたコンピューティングシステムにわたって異なる要素が分散される分散的に、実現することができる。本明細書に記載した方法を実行するように適合された任意の種類のコンピューティングシステム又は他の装置が適している。ハードウェア及びソフトウェアの典型的な組み合わせは、汎用コンピューティングシステムを、ロードされ実行されるとコンピューティングシステムを本明細書に記載した方法を実行するように制御するプログラム又は他のコードとともに、含むことができる。別の典型的な実施態様は、特定用途向け集積回路又はチップを含むことができる。いくつかの実施態様は、非一時的機械可読（例えば、コンピューター可読）媒体（例えば、フラッシュドライブ、光ディスク、磁気記憶ディスク等）を含むことができ、そうした非一時的機械可読媒体は、機械によって実行可能なコードの１つ以上のラインを記憶し、それにより、機械に、本明細書に記載したようなプロセスを実施させる。本明細書で用いる「非一時的機械可読媒体」という用語は、全てのタイプの機械可読記憶媒体を含み、伝播信号を排除するように定義される。

本明細書で使用する「回路」及び「回路構成」という用語は、物理的な電子構成要素（すなわち、ハードウェア）と、ハードウェアを構成することができ、ハードウェアが実行することができ、及び／又は他の方法でハードウェアに関連付けることができる、任意のソフトウェア及び／又はファームウェア（「コード」）とを指す。本明細書で用いる場合、例えば特定のプロセッサ及びメモリは、コードの第１の１つ以上のラインを実行しているとき、第１の「回路」を含むことができ、コードの第２の１つ以上のラインを実行しているとき、第２の「回路」を含むことができる。本明細書で使用する「及び／又は」は、「及び／又は」によって連結されるリストにおける項目のうちの任意の１つ以上の項目を意味する。一例として、「ｘ及び／又はｙ」は、３つの要素の組｛（ｘ），（ｙ），（ｘ，ｙ）｝のうちの任意の要素を意味する。言い換えれば、「ｘ及び／又はｙ」は、「ｘ及びｙのうちの一方又は両方」を意味する。別の例として、「ｘ、ｙ及び／又はｚ」は、７つの要素の組｛（ｘ），（ｙ），（ｚ），（ｘ，ｙ），（ｘ，ｚ），（ｙ，ｚ），（ｘ，ｙ，ｚ）｝のうちの任意の要素を意味する。言い換えれば、「ｘ、ｙ及び／又はｚ」は、「ｘ、ｙ及びｚのうちの１つ以上」を意味する。本明細書で使用する「例示的な」という用語は、非限定的な例、事例又は例証としての役割を果たすことを意味する。本明細書で使用する「例えば」という用語は、１つ以上の非限定的な例、事例又は例証のリストを開始する。本明細書で使用する場合、回路構成は、或る機能を実施するために必要なハードウェア及びコード（いずれかが必要である場合）を含む場合はいつでも、その機能の実施が（例えば、ユーザーが構成可能な設定、工場トリム等により）無効にされる又は有効にされていないか否かに関わりなく、回路構成はその機能を実行するように「動作可能」である。

本方法及び／又はシステムを、或る特定の実施態様を参照して記載してきたが、当業者であれば、本方法及び／又はシステムの範囲から逸脱することなく、種々の変更を行うことができること及び均等物に置き換えることができることを理解するであろう。例えば、開示した例のブロック及び／又は構成要素を、組み合わせ、分割し、再配置し、及び／又は他の方法で変更することができる。加えて、本開示の範囲から逸脱することなく、本開示の教示に対して特定の状況又は材料を適合させるように多くの改変を行うことができる。したがって、本方法及び／又はシステムは、開示されている特定の実施態様に限定されない。代わりに、本方法及び／又はシステムは、字義どおりにでも均等論のもとにおいても、添付の特許請求の範囲内に入る全ての実施態様を含む。
上述の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載され得るが、以下には限られない。
［付記１］
試験対象の材料及び構成要素の機械特性を測定する試験装置において、
試験対象の前記材料又は前記構成要素に関係付けられた測定値を得る演算装置を具備し、該演算装置は、
表示装置と、
入力装置と、
プロセッサと、
前記プロセッサに結合され、コンピューター可読命令を記憶するメモリとを具備し、
前記コンピューター可読命令は、前記プロセッサによる実行時に、前記プロセッサに、
前記表示装置を介して、所定の試験規定インターフェースの選択を可能にする試験モードインターフェースを表示させ、
前記入力装置を介した前記所定の試験規定インターフェースの選択に応答して、前記試験装置の構成可能試験パラメーターの所定のサブセットの入力を含む試験インターフェースを表示させる試験装置。
［付記２］
前記所定のサブセットは、追加ダイアログを開く必要なく、前記表示装置上に収まるように数が限られている付記１に記載の試験装置。
［付記３］
前記構成可能試験パラメーターの前記所定のいくつかの前記入力は、前記機械特性試験によって試験される前記機械特性の選択を含む付記１に記載の試験装置。
［付記４］
前記機械特性の前記選択は、圧縮強さ、引張強さ、ねじり強さのうちの少なくとも１つの選択を含む付記３に記載の試験装置。
［付記５］
前記構成可能試験パラメーターの前記所定のサブセットの前記入力は、試験レートを含む付記１に記載の試験装置。
［付記６］
前記構成可能試験パラメーターの前記所定のサブセットの前記入力は、変位率、回転率、力率、又は歪み率のうちの少なくとも１つを含むレート選択を含む付記５に記載の試験装置。
［付記７］
前記コンピューター可読命令は、
前記構成可能試験パラメーターの前記所定のサブセットの入力値を記憶することと、
前記所定の試験規定インターフェースの後の表示に応答して、前記構成可能試験パラメーターの前記所定のサブセットの前記入力値を格納することと、
を更に前記プロセッサに行わせる付記１に記載の試験装置。
［付記８］
前記コンピューター可読命令は、
前記機械特性試験に関連付けられた補助情報の入力値を記憶することと、
前記所定の試験規定インターフェースの前記後の表示に応答して前記補助情報の前記入力値を格納することと、
を更に前記プロセッサに行わせる付記７に記載の試験装置。
［付記９］
前記コンピューター可読命令は、前記プロセッサに、動作モード選択インターフェースにおける前記試験モードインターフェースの選択に応答して、前記試験モードインターフェースを表示させる付記１に記載の試験装置。
［付記１０］
前記動作モード選択インターフェースは、前記試験装置によって実行される試験方法の規定の選択を更に含む付記９に記載の試験装置。
［付記１１］
前記試験インターフェースは、前記機械特性試験のリアルタイム試験測定値の表示を更に含む付記１に記載の試験装置。
［付記１２］
前記所定のサブセットは、前記試験インターフェース内のダイアログを開く必要なく前記表示装置上に表示されるように構成される付記１に記載の試験装置。
［付記１３］
前記試験インターフェースは、前記機械特性試験の試験測定値又は試験結果のうちの少なくとも一方のグラフィック表示を更に含む付記１に記載の試験装置。
［付記１４］
前記試験インターフェースは、前記プロセッサが前記試験測定値を受信することに応答して、前記試験測定値の前記グラフィック表示を更新するように構成される付記１３に記載の試験装置。
［付記１５］
前記所定のサブセット内に含められた前記構成可能試験パラメーターのうちのいくつかは、構成可能ではない付記１に記載の試験装置。
［付記１６］
前記試験インターフェースは、機械特性試験を起動する入力を更に含む付記１に記載の試験装置。
［付記１７］
試験対象の材料及び構成要素の機械特性を測定する試験装置において、
試験対象の前記材料又は前記構成要素に関係付けられた測定値を得る演算装置を具備し、該演算装置は、
表示装置と、
入力装置と、
プロセッサと、
前記プロセッサに結合され、コンピューター可読命令を記憶するメモリとを具備し、
前記コンピューター可読命令は、前記プロセッサによる実行時に、前記プロセッサに、前記演算装置の初期化イベントに応答して、前記試験装置の構成可能試験パラメーターの所定のサブセットの入力を含む試験インターフェースを表示させる試験装置。
［付記１８］
前記初期化イベントは、前記演算装置におけるユーザーログインを含む付記１６に記載の試験装置。
［付記１９］
前記初期化イベントは、前記試験装置又は前記演算装置の起動を含む付記１６に記載の試験装置。
［付記２０］
前記所定のサブセットは、追加ダイアログを開く必要なく、前記表示装置上に収まるように数が限られている付記１６に記載の試験装置。
［付記２１］
前記構成可能試験パラメーターの前記所定のいくつかの前記入力は、前記機械特性試験によって試験される前記機械特性の選択を含む付記１６に記載の試験装置。
［付記２２］
前記機械特性の前記選択は、圧縮強さ、引張強さ、ねじり強さのうちの少なくとも１つの選択を含む付記２１に記載の試験装置。
［付記２３］
前記構成可能試験パラメーターの前記所定のサブセットの前記入力は、試験レートを含む付記１６に記載の試験装置。
［付記２４］
前記構成可能試験パラメーターの前記所定のサブセットの前記入力は、変位率、回転率、力率、又は歪み率のうちの少なくとも１つを含むレート選択を含む付記２３に記載の試験装置。
［付記２５］
前記コンピューター可読命令は、
前記構成可能試験パラメーターの前記所定のサブセットの入力値を記憶することと、
前記所定の試験規定インターフェースの後の表示に応答して、前記構成可能試験パラメーターの前記所定のサブセットの前記入力値を格納することと、
を更に前記プロセッサに行わせる付記１６に記載の試験装置。
［付記２６］
前記コンピューター可読命令は、
前記機械特性試験に関連付けられた補助情報の入力値を記憶することと、
前記所定の試験規定インターフェースの前記後の表示に応答して前記補助情報の前記入力値を格納することと、
を更に前記プロセッサに行わせる付記２５に記載の試験装置。
［付記２７］
前記コンピューター可読命令は、前記プロセッサに、動作モード選択インターフェースにおける前記試験モードインターフェースの選択に応答して、前記試験モードインターフェースを表示させる付記１６に記載の試験装置。
［付記２８］
前記動作モード選択インターフェースは、前記試験装置によって実行される試験方法の規定の選択を更に含む付記２７に記載の試験装置。
［付記２９］
前記試験インターフェースは、前記機械特性試験のリアルタイム試験測定値の表示を更に含む付記１６に記載の試験装置。
［付記３０］
前記所定のサブセットは、前記試験インターフェース内のダイアログを開く必要なく前記表示装置上に表示されるように構成される付記１６に記載の試験装置。
［付記３１］
前記試験インターフェースは、前記機械特性試験の試験測定値又は試験結果のうちの少なくとも一方のグラフィック表示を更に含む付記１６に記載の試験装置。
［付記３２］
前記試験インターフェースは、前記プロセッサが前記試験測定値を受信することに応答して、前記試験測定値の前記グラフィック表示を更新するように構成される付記３１に記載の試験装置。
［付記３３］
前記所定のサブセット内に含められた前記構成可能試験パラメーターのうちのいくつかは構成可能ではない付記１６に記載の試験装置。
［付記３４］
前記試験インターフェースは、機械特性試験を起動する入力を更に含む付記１６に記載の試験装置。

１００ 試験装置
１０２ 試験機
１０４ 演算装置
１０６ 材料
２００ 演算装置
２０２ プロセッサ
２０４ 機械可読命令
２０６ ランダムアクセスメモリ
２０８ リードオンリーメモリ
２１０ 大容量格納装置
２１２ バス
２１４ ネットワークインターフェース
２１６ Ｉ／Ｏインターフェース
２１８ 通信ネットワーク
２２０ Ｉ／Ｏデバイス
２２２ 機械可読媒体
２２４ 表示装置
２２８ フレーム
２３０ ロードセル
２３２ 変位トランスデューサー
２３４ クロスメンバーローダー
２３６ 材料固定具
２３６ グリップ
２３８ コントローラー
３００ ユーザーインターフェース

Claims (15)

1. 試験対象の材料及び構成要素の機械特性を測定する試験装置であって、クイックテストモードで開始するように構成可能な試験装置において、
   試験対象の前記材料又は前記構成要素に関係付けられた測定値を得る演算装置を具備し、該演算装置は、
   表示装置と、
   入力装置と、
   プロセッサと、
   前記プロセッサに結合され、コンピューター可読命令を記憶するメモリとを具備し、
   前記コンピューター可読命令は、前記プロセッサによる実行時に、前記プロセッサに、
   前記表示装置を介して、所定の試験規定インターフェースの選択を可能にする試験モードインターフェースを表示させ、
   前記試験装置が前記クイックテストモードで開始するように構成されていない場合、前記入力装置を介した前記所定の試験規定インターフェースの選択に応答して、前記試験装置の構成可能試験パラメーターの所定のサブセットの入力を含む試験インターフェースを表示させ、
   前記試験装置が前記クイックテストモードで開始するように構成されている場合、前記演算装置の初期化イベントに応答して、前記試験装置の前記構成可能試験パラメーターのうちの前記所定のサブセットよりも限定されたクイックテスト用のサブセットの入力及びクイックテストの起動ボタンを含む前記クイックテスト用の試験インターフェースを表示させる、試験装置。
2. 前記クイックテスト用のサブセットは、追加ダイアログを開く必要なく、前記表示装置上に収まるように数が限られている請求項１に記載の試験装置。
3. 前記構成可能試験パラメーターの前記クイックテスト用のいくつかの前記入力は、前記機械特性の試験によって試験される前記機械特性の選択を含む請求項１に記載の試験装置。
4. 前記機械特性の前記選択は、圧縮強さ、引張強さ、ねじり強さのうちの少なくとも１つの選択を含む請求項３に記載の試験装置。
5. 前記構成可能試験パラメーターの前記クイックテスト用のサブセットの前記入力は、試験レートを含む請求項１に記載の試験装置。
6. 前記構成可能試験パラメーターの前記クイックテスト用のサブセットの前記入力は、変位率、回転率、力率、又は歪み率のうちの少なくとも１つを含むレート選択を含む請求項５に記載の試験装置。
7. 前記コンピューター可読命令は、
   前記構成可能試験パラメーターの前記クイックテスト用のサブセットの入力値を記憶することと、
   前記所定の試験規定インターフェースの後の表示に応答して、前記構成可能試験パラメーターの前記クイックテスト用のサブセットの前記入力値を格納することと、
   を更に前記プロセッサに行わせる請求項１に記載の試験装置。
8. 前記コンピューター可読命令は、
   前記機械特性の試験に関連付けられた補助情報の入力値を記憶することと、
   前記所定の試験規定インターフェースの前記後の表示に応答して前記補助情報の前記入力値を格納することと、
   を更に前記プロセッサに行わせる請求項７に記載の試験装置。
9. 前記コンピューター可読命令は、前記プロセッサに、動作モード選択インターフェースにおける前記試験モードインターフェースの選択に応答して、前記試験モードインターフェースを表示させる請求項１に記載の試験装置。
10. 前記動作モード選択インターフェースは、前記試験装置によって実行される試験方法の規定の選択を更に含む請求項９に記載の試験装置。
11. 前記クイックテスト用の試験インターフェースは、前記機械特性の試験のリアルタイム試験測定値の表示を更に含む請求項１に記載の試験装置。
12. 前記クイックテスト用のサブセットは、前記クイックテスト用の試験インターフェース内のダイアログを開く必要なく前記表示装置上に表示されるように構成される請求項１に記載の試験装置。
13. 前記クイックテスト用の試験インターフェースは、前記機械特性の試験の試験測定値又は試験結果のうちの少なくとも一方のグラフィック表示を更に含む請求項１に記載の試験装置。
14. 前記クイックテスト用の試験インターフェースは、前記プロセッサが前記試験測定値を受信することに応答して、前記試験測定値の前記グラフィック表示を更新するように構成される請求項１３に記載の試験装置。
15. 前記クイックテスト用の試験インターフェースは、機械特性の試験を起動する入力を更に含む請求項１に記載の試験装置。

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