JP2000046705A - 材料試験機 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 内部データとは独立にその入力系における入
力値（設定値）、および出力系における出力値（計測値
等）に対する単位と桁数とを、それぞれ別個に設定する
ことのできる材料試験機を提供する。 【解決手段】 複数の制御値を入力する入力画面、計測
値や特性値を出力する出力画面、および上記各画面上の
項目値に対する単位と桁数とをそれぞれ設定する為の単
位・桁数設定画面を選択的に表示し、単位・桁数設定画
面上で設定された各項目値に対する単位と桁数とに従っ
て、適宜データ変換して入力値の取り込みや計測データ
の出力を行い、任意に設定された単位系の下でデータの
入出力を行うことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、試験条件を規定す
る各種の入力値や試験結果の出力値に対する単位とその
桁数を、ディスプレイに表示される入力画面や出力画面
毎にそれぞれ独立に設定することのできる材料試験機に
関する。

【０００２】

【関連する背景技術】材料試験機は、一般的には図３に
その概略構成を示すように、供試体に荷重や変位等の負
荷を加える試験機本体１０と、この試験機本体１０の作
動を制御すると共に負荷が加えられた前記供試体の荷重
や変位等を検出する動力計２０と、この動力計２０に制
御指令を与えると共に、該動力計２０で検出された前記
荷重や変位等からなる計測データに従って前記供試体の
材料特性を求めるデータ処理装置３０とによって構成さ
れる。

【０００３】具体的には試験機本体１０は、一対のチャ
ック（図示せず）に装着した金属材料片等の供試体に、
油圧シリンダ等の負荷装置１１を用いて圧縮荷重や引張
り荷重、或いは圧縮変位や引張り変位からなる負荷を加
える如く構成される。尚、圧縮や引張りのみならず、曲
げや歪み等の負荷を加える場合もある。また動力計２０
は、上記試験機本体１０の負荷装置１１等の作動を制御
する制御部２１を備えると共に、前記試験機本体１０に
組み込まれた荷重計（ロードセル）１２や変位計（伸び
計）１３等を介して前記供試体に加えられた荷重や変位
等をそれぞれ計測する計測部２２を具備して構成され
る。

【０００４】これに対して前記データ処理装置３０は、
例えばパーソナルコンピュータからなり、所定の制御プ
ログラムの下で作動して前記動力計２０に対して試験条
件等の制御指令を与えたり、また試験機本体１０による
試験の実行に伴って前記動力計２０を介して検出され
た、例えば前記荷重と変位とからなる計測データを所定
の周期で取り込み、これをデータ処理する如く構成され
る。このデータ処理装置３０にて前記供試体の荷重・伸
び特性や応力・歪み特性、更にはその強度等の材料特性
が求められる。

【０００５】ちなみに前記データ処理装置３０における
前記供試体に対する試験条件の設定は、例えばディスプ
レイに表示した入力画面上で、試験条件を規定する荷重
レンジや応力速度等の各種制御項目についての設定値
を、予め設定された単位と桁数の下で入力することによ
り行われる。しかして試験機本体１０における材料試験
は上述した如く設定された設定値に従って制御値を求め
ながら実行される。そして通常、その計測データは上記
試験条件を規定する単位系の単位と桁数をその属性とし
て持つ計測値（計測データ）として求められる。このよ
うな計測値、およびその計測値から求められた特性値が
前記ディスプレイにおける出力画面上に表示される。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで前記データ処
理装置３０において、例えばその計測データを他の供試
体の計測データと比較するような場合、往々にして上記
計測データの単位系（単位と桁数）を変更したいことが
ある。このような場合には、前述したように前記計測デ
ータが予め設定された単位と桁数の下で求められている
ことから、例えばデータ処理装置３０における処理プロ
グラムを変更する等して、図４にその概念を示すよう
に、新たに設定された単位系の単位と桁数とに従って上
記計測データを変換処理して上記新たな単位と桁数とか
らなる変換データを求めている。具体的には荷重値が
［Ｎ；ニュートン］なる単位で計測されており、これを
［ｋＮ］の単位で表示する場合には、その計測データを
１／１０００倍した後（定数倍処理）、指定された桁数
の下位桁を丸め処理して変換データを求めている。尚、
その単位系自体を変える場合には、例えば［Ｎ］なるＳ
Ｉ系の単位で求められた計測データを［ｋｇf］なるＭ
ＫＳ（ＣＧＳ）系の単位で表示する場合には、単位系変
換係数［９.８０６］に基づく変換処理も行われる。

【０００７】しかしながら計測データの出力仕様に応じ
て、その都度、処理プログラムを変更して前述した如く
求められる計測データの単位と桁数を変換することは非
常に煩わしい。しかも計測データの単位と桁数のみなら
ず、その試験条件を特定する設定値の単位と桁数につい
ても予め変更しておきたいことが多々ある。即ち、新た
に実施すべき試験を、過去に実施された試験と同一試験
条件で実施したい場合がある。

【０００８】これに対処するべく、従来、例えば試験条
件の設定入力画面上でデータ処理装置３０が取り扱う単
位と桁数とを予め設定するようにし、その単位と桁数と
の下で試験条件を設定すると共に計測データを処理する
ことが試みられている。しかし試験条件を特定する設定
値の単位と桁数と、計測データの単位と桁数とを常に同
じに設定した方が好ましいとは言い難い。

【０００９】本発明はこのような事情を考慮してなされ
たもので、その目的は、試験条件を特定する設定値に対
する単位と桁数とその計測値等に対する単位と桁数と
を、その仕様に応じて任意に、且つ独立に設定すること
ができ、試験目的に応じた材料試験を効率的に実施する
ことのできる材料試験機を提供することにある。

【００１０】即ち、本発明は試験条件等を設定する入力
画面において入力される設定値等に与える単位とその桁
数と、計測データ等を表示する出力画面において表示さ
れる計測値や特性値等に与える単位と桁数とを、それぞ
れ簡易に個別に設定して材料試験を実施することのでき
る材料試験機を提供することにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
べく本発明に係る材料試験機は、ディスプレイを用いて
試験機本体による供試体の試験条件を設定すると共に、
前記試験機本体による試験の実施により前記供試体から
求められる試験結果、またはこの試験結果から求められ
る該供試体の材料特性を前記ディスプレイを介して出力
するデータ処理装置を備えたものであって、特に前記デ
ータ処理装置として前記試験条件を規定する複数種の設
定値を入力する為の入力画面、前記試験結果として求め
られる計測値、およびこの計測値から求められる特性値
を出力する為の出力画面、そしてこれらの各画面に対応
付けて選択的に表示され、前記入力画面上で入力される
各値、および前記出力画面上で表示される各値に対する
単位と桁数とをそれぞれ設定する為の単位・桁数設定画
面を表示する手段を備え、前記試験により求められた計
測データを、前記単位・桁数設定画面にて設定された単
位と桁数とに従って変換して前記出力画面上に表示する
単位系制御手段を具えたことを特徴としている。

【００１２】即ち、本発明は、入力画面や出力画面に対
応する単位・桁数設定画面を、上記各画面に併せて、或
いは各画面と別個に選択的に表示し、この単位・桁数設
定画面を用いて入力画面上で入力される設定値や出力画
面上に出力される出力値（計測値等）に対して、その単
位と桁数とをそれぞれ任意に設定し得るように構成す
る。そしてこの単位・桁数設定画面を用いて設定された
単位と桁数とに従って、適宜、前記入力画面から入力さ
れた設定値や、前記出力画面上に出力する出力値に対す
るデータ変換を行うことで、データ処理装置の内部的な
動作とは別個に、仕様に応じた試験条件の入力や計測デ
ータの出力を行い得るようにし、これによって各種デー
タの取り扱いを容易化すると共に、そのマンマシンイン
ターフェース性を高めたことを特徴としている。

【００１３】本発明の好ましい態様は、請求項２に記載
するように前記単位系制御手段においては、前述した各
値に対する単位と桁数に加えて、丸め処理の手法、例え
ば四捨五入や切り捨て・切り上げ等の手法を特定する属
性についても設定するようにしたことを特徴としてい
る。

【００１４】更に請求項３に記載するように前記単位系
制御手段においては、前記試験機本体の作動を制御する
制御値の単位と桁数に対して前記入力画面上で設定され
る各値の単位と桁数とが異なるとき、或いは試験機本体
にて求められる計測データの単位と桁数とに対して前記
出力画面上で設定された各値の単位と桁数とが異なると
き、前述した如く設定された単位と桁数とに基づいて前
記各値のデータ変換を実行するようにし、特に設定され
た単位に従って前記各値を定数倍処理や係数処理を施し
た後、設定された桁数に従ってその下位桁を丸め処理し
て変換データを得ることを特徴としている。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態に係る材料試験機について、特に試験機本体に
よる供試体の試験条件を設定すると共に、前記試験機本
体による試験の実施により前記供試体から求められる試
験結果から該供試体の材料特性を求めるデータ処理装置
に設けられた特徴的な機能について説明する。

【００１６】この材料試験機は、基本的には先に図３を
参照して説明したように材料試験を実行する試験機本体
１０と該試験機本体１０の作動を制御する動力計２０、
そしてこの動力計２０に各種の制御指令を与えると共
に、前記動力計２０を介して求められた計測データから
供試体の材料特性を求めるデータ処理装置３０とによっ
て構成される。ちなみにデータ処理装置３０は、試験条
件等を入力する為の入力画面や、計測データ等を出力す
る為の出力画面等の表示に用いられるディスプレイ３１
と、マウス等の座標情報入力装置やキーボード等の数値
入力装置等からなる入力部３２とを備え、ディスプレイ
３１に表示した画面を用いながら対話的に試験条件等を
設定する機能を備えている。

【００１７】さてこのデータ処理装置３０が特徴とする
ところは、図１にその概略構成を示すように、材料試験
アプリケーションＡの下で前記ディスプレイ３１に試験
条件の設定に用いられる条件画面（入力画面）４１や、
試験の実施に伴って求められ計測データを表示する実施
画面（出力画面）４２、更には計測データから求められ
る特性データ等を表示する編集画面（出力画面）４３等
を選択的に表示する画面表示手段を備えている。またデ
ータ処理装置３０はこれらの各画面４１,４２,４３上に
単位・桁数設定画面４５を選択的に重ねて表示（ウィン
ドウ表示）、或いは前記各画面４１,４２,４３とは別個
に並べて表示する機能を備えている。この単位・桁数設
定画面４５は、前記条件画面４１において入力される各
種の設定値（入力値）、或いは前記実施画面４２や編集
画面４３において表示される各種の計測値（出力値）、
更には計測値から求められる特性値（出力値）に対する
単位とその桁数をそれぞれ設定する為のものである。更
にデータ処理装置３０は上記単位・桁数設定画面４５を
用いて設定された前記各値に対する単位とその桁数と
を、前記各画面４１,４２,４３毎にそれぞれ記憶してお
くメモリ５１,５２,５３を備えている。

【００１８】前記条件画面４１は、試験機本体１０にて
実施される材料試験の試験条件を対話的に入力するため
に用いられるもので、例えば引っ張り試験が特定された
場合には、その荷重レンジや応力ポイント、応力速度、
ストローク速度、データのサンプリング周期等の各種制
御項目を表示して、その設定値値の入力を促す。このよ
うな制御項目に対してその試験条件を特定するための設
定値が、前記入力部３２から対話的に順次入力されて、
その試験条件設定が行われる。この際、上記条件画面４
１における各制御項目に入力すべき設定値に対する単位
や項目値の桁数の設定が行われていない場合には、或い
はその変更が必要な場合には前記単位・桁数設定画面４
５が選択的に開かれる。そしてこの単位・桁数設定画面
４５上で前記制御項目に入力すべき設定値に対する単位
と桁数の設定が行われる。ちなみに単位・桁数設定画面
４５は、荷重や変位、応力等の各種の制御項目を選択し
ながら、例えばプルダウンメニュー型式でその単位と桁
数とからなる複数の属性（フォーマット）を表示し、こ
れを選択指定することで上記各制御項目毎にその単位系
を対話的に設定し得るように構成される。

【００１９】具体的には荷重レンジについての単位を設
定する場合には、［Ｎ］［ｋＮ］［ｋｇf］［ｇf］［dy
n］…等からなる複数種の単位がプルダウンメニューと
して表示され、その中の１つが選択指定される。またそ
の桁数については小数点位置を含めて［＃.＃＃］［＃
＃.＃］［＃.＃＃＃］［＃＃.＃＃］…からなるデータ
のフォーマット例がプルダウンメニューとして表示さ
れ、その中の１つが選択指定される。更にはこのように
して設定される単位と桁数とに応じて、後述するように
丸め処理が必要となる場合には、［四捨五入］［切り捨
て］［切り上げ］…等からなる処理形態（手法）を特定
する為のプルダウンメニューが表示され、その選択指定
が行われる。

【００２０】このようにして実行される単位と桁数の設
定は、変位や応力等の他の設定項目についても同様に行
われる。この場合、当然のことながらプルダウンメニュ
ーとして表示される単位が、その項目に対応したものと
して与えられることは言うまでもない。即ち、応力の入
力項目に対しては、その単位は［Ｐa］［Ｎ／ｍ²］［ｋ
ｇf／ｍ²］［ｋｇf／ｍｍ²］…等として与えられる。
尚、それぞれの設定項目に対する単位と桁数、および丸
め処理についての選択肢を、予めグループ化してまとめ
て記憶しておき、これらの選択肢（グループ）を選択指
定することで各項目に対する設定パターンを一括して読
み込むように構成することも可能である。

【００２１】このような単位・桁数設定画面４５を用い
た各項目値に対する単位と桁数の設定は、上述した条件
画面４１のみならず、前述した実施画面４２や編集画面
４３等においても各画面４２,４３にそれぞれ対応して
同様に実施される。即ち、各画面４１,４２,４３毎に単
位・桁数設定画面４５が選択的に開かれて、各画面４
１,４２,４３における入力・出力項目毎に、その単位と
桁数の設定がそれぞれ行われる。

【００２２】しかして上述した如く各画面４１,４２,４
３の項目毎に個別に設定された単位と桁数とからなる単
位系の属性（フォーマット）は、上記各画面４１,４２,
４３に対応して設けられた前記メモリ５１,５２,５３
に、例えばその項目名を見出しとして表形式で記憶され
る。そして各メモリ５１,５２,５３にそれぞれ記憶され
た各項目値に対する単位と係数は、適宜、一覧形式で表
示されるようになっており、この一覧表示によりその全
体の設定状況の把握が容易化されている。

【００２３】さて上述した如く単位・桁数設定画面４５
を用いて各項目値に対する単位と桁数とが設定されたな
らば、前記各画面４１,４２,４３上における複数の項目
値の各入力欄に付随して当該項目に対して設定された単
位がそれぞれ表示され、またその入力欄における数値の
入力形式（桁数と小数点位置とからなるフォーマット）
が設定される。そして前記条件画面４１においては、こ
のようにして単位と桁数とが特定された項目毎に前記入
力部３２から数値を入力することで、その値（設定値）
の設定が行われる。また実施画面４２や編集画面４３に
おいては単位と桁数とが設定された項目毎に該当項目の
数値データ（計測値や特性値）が表示される。

【００２４】ここで入力画面である前記条件画面４１に
て設定された試験条件を示す各項目値のデータ処理装置
３０の内部への取り込みと、データ処理装置３０が得た
計測値や特性値等の出力画面である前記実施画面４２や
編集画面４３への該当項目への表示出力について説明す
ると、図２にその概念を示すように単位系制御手段５５
を用いて適宜データ変換しながら行われる。即ち、単位
系制御手段５５は、前記各画面４１,４２,４３に対応し
て前記メモリ５１,５２,５３に記憶された単位と桁数と
を参照して各画面４１,４２,４３を介するデータ（制御
値または計測値）の入出力を制御する。そして上記試験
条件の単位系の下で求められる試験結果（計測データ）
を実施画面４２や編集画面４３に対して出力する際に、
前記メモリ５２,５３に記述された単位と桁数とに従っ
てその計測データをデータ変換した上で、指定された単
位と桁数の下でその計測データの出力が行われる。

【００２５】尚、動力計２０に対する試験条件設定のデ
ータ形式が固定されており、これに対してデータ処理装
置３０で取り扱う内部データ型式が別に設定されている
ような場合、また前述した如く入力画面および出力画面
において設定された単位系（単位と桁数）がデータ処理
装置３０の内部的に取り扱うデータ型式（単位系）と異
なるような場合には、単位系制御手段５５は前記メモリ
５１,５２,５３に記憶された単位と桁数とに応じて前記
各値をデータ変換して試験条件を特定する設定値を取り
込むと共に、計測値を出力するものとなっている。

【００２６】より具体的には、例えば前記データ処理装
置３０が、内部的に予め設定された桁数のＳＩ系の単位
の下で制御値や計測値、更には特性値を数値表現して取
り扱うように構成されているにも拘わらず、前述したよ
うに条件画面４１を用いて入力される各種制御値の単位
と桁数が、種々の仕様に応じてユーザサイドにおいて任
意に設定されてその単位系が異なる場合、前記単位系制
御手段５５は前記メモリ５１に記述された各制御値の単
位と桁数とに従ってその入力データ（設定値）を適宜デ
ータ変換することでその単位系を合わせた上で取り込ん
で、前記動力計２０に対して試験条件の設定を行うもの
となっている。また前記単位系制御手段５５は、上述し
た内部型式のデータとして収集した計測データを、前記
メモリ５２,５３に記述された各制御値の単位と桁数と
に従って適宜データ変換し、上記の如く設定された単位
と桁数の出力データ（計測値や特性値）として前記実施
画面４２や編集画面４３に出力するものとなっている。

【００２７】尚、データ処理装置３０が内部的に取り扱
うデータの型式が特定されていないような場合には、条
件画面４１を介して入力された単位系での設定値をその
まま内部データとして取り込んで動力計２０に対する試
験条件の設定を行うようにしても良い。この場合には、
入力系で設定された単位系の下でその材料試験が実行さ
れることになる。

【００２８】ちなみに前述した単位系制御手段５５にお
けるデータ変換処理は、例えばその入出力データの単位
系が共にＳＩ系の単位、或いはＭＫＳ（ＣＧＳ）系の単
位からなる場合には、１０の整数乗倍を示す接頭語に従
って整数乗倍処理してその単位（位取り）を変換した
後、設定された桁数（フォーマット）に示される最下位
桁の次桁の値を丸め処理することにより実行される。こ
れに対して入出力データの単位系の一方が[ｋｇf]等の
ＭＫＳ（ＣＧＳ）系であって、他方が［Ｎ］等のＳＩ系
である場合には、その接頭語に従って整数乗倍処理する
と共に、単位系変換係数［９.８０６］にて乗除算処理
することでその単位系自体を変換する。その後、設定さ
れた桁数（フォーマット）に示される最下位桁の次桁の
値を丸め処理することによりそのデータ変換が実行され
る。

【００２９】かくして上述した如く制御値や計測値等の
各値毎に設定され、メモリ５１,５２,５３に記憶された
単位と桁数に従って入力データと出力データとの間で適
宜データ変換を施して、その入出力を実行するデータ処
理装置３０（材料試験機）によれば、データ処理装置３
０の内部的なデータの取り扱いとは独立して、換言すれ
ばデータ処理装置３０の内部的な処理形態とは無関係に
各種の項目値に対する単位とその桁数を、また各種の出
力値に対する単位と桁数を任意に設定することができ
る。しかもその入力系（条件画面４１）と出力系（実施
画面４２や編集画面４３）における各項目値の単位と桁
数とを完全に独立させて個別に設定することができる。

【００３０】また本装置によれば、前記各画面４１,４
２,４３毎に単位・桁数設定画面４５を選択的に開くこ
とで、各画面４１,４２,４３における複数の項目に対す
る単位と桁数とを非常に簡単に設定することができ、そ
の操作性が良好である。しかもこのようにして設定した
単位と桁数とを前記各画面４１,４２,４３に対応するメ
モリに５１,５２,５３にそれぞれ記憶するので、その単
位や桁数を変更する場合には該当するメモリ５１,５２,
５３の情報（単位と桁数）を変更するだけで良く、デー
タ処理装置３０における材料試験アプリケーションＡか
ら切り離した状態でその設定処理を行い得る。またメモ
リ５１,５２,５３を参照することで適宜その設定一覧を
確認することが容易であり、従って他の項目値に対する
単位系の設定具合を参照すること容易なので、この点で
も単位系の設定処理の容易化を図り得る等の効果が奏せ
られる。

【００３１】尚、本発明は上述した実施形態に限定され
るものではない。例えば入力画面や出力画面は、その仕
様に応じてそれぞれ複数設けることが可能である。この
場合にも、各画面に対応するメモリを設け、その画面上
で設定された各項目値に対する単位や桁数をそれぞれ記
憶するようにすれば良い。このようにすれば各画面毎に
各項目値の単位系と桁数を設定し、例えば内部データと
の間でのデータ変換を行うだけで良い。従って表示画面
を切り換える都度、先の画面で用いていた単位での値か
ら、新たな画面で用いられる単位での値に変換する等の
煩わしさがなくなる。

【００３２】また前記実施画面４２や編集画面４３にお
いて設定された単位と桁数とに応じて、逆に前記条件画
面４１を介して入力された単位系での設定値をデータ変
換して取り込み、このデータ変換された設定値に従って
動力計２０に対する試験条件を設定することで、その出
力系の単位と桁数にとに合わせて材料試験を行うように
しても良い。この場合には、出力系で設定された単位系
の下でその材料試験が実行されることになるので、その
試験結果を実施画面４２や編集画面４３にそのまま出力
すれば良い。

【００３３】また実施形態においては、データ処理装置
３０の内部データをＳＩ単位系としたが、ＭＫＳ単位系
とすることも勿論可能である。更には各画面において設
定可能な単位として、ＳＩ単位やＭＫＳ単位以外の単位
系の設定を可能とすることも勿論可能である。その他、
本発明はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施
することができる。

【００３４】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、試
験条件を規定する複数種の制御値を入力する為の入力画
面、および試験結果として求められる計測値やこの計測
値から求められる特性値を出力する為の出力画面におい
て扱われる各種の項目値に対する単位と桁数とを適宜単
位・桁数設定画面を用いて簡易に設定し、設定された単
位と桁数を前記入力画面および出力画面にそれぞれ対応
するメモリに記憶する。そしてこのメモリを参照して適
宜データ変換を施しながらデータの入出力を制御するの
で、仮に入力画面で設定される単位と桁数に対して出力
画面で要求される単位と桁数とが異なる場合であって
も、これらの各単位をそれぞれ独立に簡易に設定するこ
とができる。しかもデータ処理装置内で取り扱われる内
部データ型式とは独立に、入力値および出力値に対する
単位と桁数とをそれぞれ設定し、またこれを簡単に変更
することができる等の効果が奏せられる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係る材料試験機における
データ処理装置での入力画面および出力画面の項目値に
対する単位と桁数の設定処理の概念を示す図。

【図２】本発明の一実施形態に係る材料試験機における
データ処理装置での、メモリを参照した内部データと入
力値、および内部データと出力値のデータ変換の概念を
示す図。

【図３】材料試験機の概略構成図。

【図４】従来の材料試験機における計測データ等に対す
る単位系の変更処理の概念を示す図。

【符号の説明】

１０ 試験機本体 ２０ 動力計 ３０ データ処理装置 ３１ ディスプレイ ３２ 入力部 ４１ 条件画面（入力画面） ４２ 実施画面（出力画面） ４３ 編集画面（出力画面） ４５ 単位・桁数設定画面 ５１,５２,５３ メモリ ５５ 単位系制御手段

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ディスプレイを用いて試験機本体による
   供試体の試験条件を設定すると共に、前記試験機本体に
   より求められる供試体の試験結果またはこの試験結果か
   ら求められる該供試体の材料特性を前記ディスプレイを
   介して出力するデータ処理装置を備えてなり、 前記データ処理装置は、 前記試験条件を規定する設定値の入力に用いる入力画面
   と、 前記試験結果として求められる計測値、およびこの計測
   値から求められる特性値の出力に用いる出力画面と、 前記各画面に対応付けて選択的に表示され、前記各画面
   を介して入力または出力される各値に対する単位と桁数
   とをそれぞれ設定する為の単位・桁数設定画面と、 前記試験により求められた計測データを、前記単位・桁
   数設定画面にて設定された単位と桁数とに従って変換し
   て前記出力画面上に表示する単位系制御手段とを具備し
   たことを特徴とする材料試験機。
2. 【請求項２】 前記単位系制御手段は、各値に対する単
   位と桁数に加えて、丸め処理の手法を特定する属性が設
   定されることを特徴とする請求項１に記載の材料試験
   機。
3. 【請求項３】 前記単位系制御手段は、前記試験機本体
   の作動を制御する制御値の単位と桁数に対して前記入力
   画面上で設定された設定値の単位と桁数とが異なると
   き、或いは計測データの単位と桁数に対して前記出力画
   面上で設定された各値の単位と桁数とが異なるときにデ
   ータ変換を実行するものであって、 設定された単位に従って前記各値を定数倍処理した後、
   設定された桁数に従ってその下位桁を丸め処理して変換
   データを得ることを特徴とする請求項１に記載の材料試
   験機。