JP7207319B2 - 二次元フリッカ測定装置、二次元フリッカ測定システム、二次元フリッカ測定方法、及び、二次元フリッカ測定プログラム - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 38
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 236
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 178
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 18
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 31
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 26
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 17
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 13
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 2
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
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- G01J1/44—Electric circuits
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/70—Circuitry for compensating brightness variation in the scene
- H04N23/745—Detection of flicker frequency or suppression of flicker wherein the flicker is caused by illumination, e.g. due to fluorescent tube illumination or pulsed LED illumination
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J2001/4247—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/444—Compensating; Calibrating, e.g. dark current, temperature drift, noise reduction or baseline correction; Adjusting
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- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09F—DISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
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Description
実施形態の第1局面に係る二次元フリッカ測定装置は、測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ量を測定する二次元フリッカ測定装置であって、撮像領域の一部分を読み出しの対象とする部分読み出し機能を有する二次元撮像素子と、2以上の前記測定領域を含む部分領域と対応する前記一部分を、前記撮像領域に複数設定する設定部と、設定された前記一部分の数を撮像回数として、前記二次元撮像素子に前記部分読み出し機能を用いて、前記測定対象物を複数回撮像させることにより、複数の前記一部分のそれぞれに対応する複数の前記部分領域の測光量を取得する制御部と、取得された前記部分領域の測光量を基にして、前記部分領域に含まれる2以上の前記測定領域のフリッカ量を算出する処理を、複数の前記部分領域のそれぞれに対して実行する算出部と、を備える。
Claims (8)
- 測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ量を測定する二次元フリッカ測定装置であって、
撮像領域の一部分を読み出しの対象とする部分読み出し機能を有する二次元撮像素子と、
2以上の前記測定領域を含む部分領域と対応する前記一部分を、前記撮像領域に一方向に沿って並ぶように複数設定する設定部と、
設定された前記一部分の数を撮像回数として、前記二次元撮像素子に前記部分読み出し機能を用いて、前記測定対象物を複数回撮像させることにより、複数の前記一部分のそれぞれに対応する複数の前記部分領域の測光量を取得する制御部と、
取得された前記部分領域の測光量を基にして、前記部分領域に含まれる2以上の前記測定領域のフリッカ量を算出する処理を、複数の前記部分領域のそれぞれに対して実行する算出部と、を備え、
前記設定部は、前記算出部が前記フリッカ量を算出するのに必要な注目周波数を有する信号を再現できるフレームレートを、前記部分読み出しのフレームレートに設定し、設定した前記部分読み出しのフレームレートで定まる前記一部分のサイズによって、前記撮像領域のサイズを割った値を、前記一部分の数に設定する、二次元フリッカ測定装置。 - 前記算出部は、取得された前記部分領域の測光量を示す信号を高速フーリエ変換して、パワースペクトルを生成する際に、取得された前記部分領域の測光量を示す信号に含まれる周波数成分のそれぞれの周波数のうち、前記注目周波数を割りきれる整数を、前記パワースペクトルの周波数ピッチにする、請求項1に記載の二次元フリッカ測定装置。
- 前記設定部は、設定した前記部分読み出しのフレームレートと正の相関関係を有するサイズに前記測定領域を設定する、請求項1又は2に記載の二次元フリッカ測定装置。
- 前記設定部は、設定した前記部分読み出しのフレームレートの下で、前記二次元撮像素子が前記測定対象物を撮像することにより、前記二次元撮像素子から出力された測光量を示す信号の強度を測定し、測定した強度に対して負の相関関係を有するサイズに前記測定領域を設定する、請求項1又は2に記載の二次元フリッカ測定装置。
- 前記二次元撮像素子は、グローバルシャッター機能を有しており、
前記制御部は、前記二次元撮像素子に前記グローバルシャッター機能を用いて、前記測定対象物を前記複数回撮像させる制御をする、請求項1~4のいずれか一項に記載の二次元フリッカ測定装置。 - 測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ量を測定する二次元フリッカ測定システムであって、
撮像領域の一部分を読み出しの対象とする部分読み出し機能を有する二次元撮像素子を含むカメラと、
2以上の前記測定領域を含む部分領域と対応する前記一部分を、前記撮像領域に一方向に沿って並ぶように複数設定する設定部と、
設定された前記一部分の数を撮像回数として、前記二次元撮像素子に前記部分読み出し機能を用いて、前記測定対象物を複数回撮像させることにより、複数の前記一部分のそれぞれに対応する複数の前記部分領域の測光量を取得する制御部と、
取得された前記部分領域の測光量を基にして、前記部分領域に含まれる2以上の前記測定領域のフリッカ量を算出する処理を、複数の前記部分領域のそれぞれに対して実行する算出部と、を備え、
前記設定部は、前記算出部が前記フリッカ量を算出するのに必要な注目周波数を有する信号を再現できるフレームレートを、前記部分読み出しのフレームレートに設定し、設定した前記部分読み出しのフレームレートで定まる前記一部分のサイズによって、前記撮像領域のサイズを割った値を、前記一部分の数に設定する、二次元フリッカ測定システム。 - 撮像領域の一部分を読み出しの対象とする部分読み出し機能を有する二次元撮像素子を用いて、測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ量を測定する二次元フリッカ測定方法であって、
2以上の前記測定領域を含む部分領域と対応する前記一部分を、前記撮像領域に一方向に沿って並ぶように複数設定する設定ステップと、
設定された前記一部分の数を撮像回数として、前記二次元撮像素子に前記部分読み出し機能を用いて、前記測定対象物を複数回撮像させることにより、複数の前記一部分のそれぞれに対応する複数の前記部分領域の測光量を取得する制御ステップと、
取得された前記部分領域の測光量を基にして、前記部分領域に含まれる2以上の前記測定領域のフリッカ量を算出する処理を、複数の前記部分領域のそれぞれに対して実行する算出ステップと、を備え、
前記設定ステップは、前記算出ステップが前記フリッカ量を算出するのに必要な注目周波数を有する信号を再現できるフレームレートを、前記部分読み出しのフレームレートに設定し、設定した前記部分読み出しのフレームレートで定まる前記一部分のサイズによって、前記撮像領域のサイズを割った値を、前記一部分の数に設定する、二次元フリッカ測定方法。 - 撮像領域の一部分を読み出しの対象とする部分読み出し機能を有する二次元撮像素子を用いて、測定対象物に設定された複数の測定領域のそれぞれのフリッカ量を測定する二次元フリッカ測定プログラムであって、
2以上の前記測定領域を含む部分領域と対応する前記一部分を、前記撮像領域に一方向に沿って並ぶように複数設定する設定ステップと、
設定された前記一部分の数を撮像回数として、前記二次元撮像素子に前記部分読み出し機能を用いて、前記測定対象物を複数回撮像させることにより、複数の前記一部分のそれぞれに対応する複数の前記部分領域の測光量を取得する制御ステップと、
取得された前記部分領域の測光量を基にして、前記部分領域に含まれる2以上の前記測定領域のフリッカ量を算出する処理を、複数の前記部分領域のそれぞれに対して実行する算出ステップと、をコンピュータに実行させる二次元フリッカ測定プログラムであって、
前記設定ステップは、前記算出ステップが前記フリッカ量を算出するのに必要な注目周波数を有する信号を再現できるフレームレートを、前記部分読み出しのフレームレートに設定し、設定した前記部分読み出しのフレームレートで定まる前記一部分のサイズによって、前記撮像領域のサイズを割った値を、前記一部分の数に設定する、二次元フリッカ測定プログラム。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017195104 | 2017-10-05 | ||
JP2017195104 | 2017-10-05 | ||
JP2017198964 | 2017-10-13 | ||
JP2017198964 | 2017-10-13 | ||
PCT/JP2018/033493 WO2019069634A1 (ja) | 2017-10-05 | 2018-09-10 | 二次元フリッカ測定装置、二次元フリッカ測定システム、二次元フリッカ測定方法、及び、二次元フリッカ測定プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2019069634A1 JPWO2019069634A1 (ja) | 2020-12-03 |
JP7207319B2 true JP7207319B2 (ja) | 2023-01-18 |
Family
ID=65995175
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019546596A Active JP7207319B2 (ja) | 2017-10-05 | 2018-09-10 | 二次元フリッカ測定装置、二次元フリッカ測定システム、二次元フリッカ測定方法、及び、二次元フリッカ測定プログラム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11272121B2 (ja) |
JP (1) | JP7207319B2 (ja) |
KR (1) | KR102404551B1 (ja) |
CN (1) | CN111164407B (ja) |
WO (1) | WO2019069634A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2018
- 2018-09-10 JP JP2019546596A patent/JP7207319B2/ja active Active
- 2018-09-10 US US16/641,898 patent/US11272121B2/en active Active
- 2018-09-10 KR KR1020207009088A patent/KR102404551B1/ko active IP Right Grant
- 2018-09-10 WO PCT/JP2018/033493 patent/WO2019069634A1/ja active Application Filing
- 2018-09-10 CN CN201880063611.7A patent/CN111164407B/zh active Active
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JP2017103582A (ja) | 2015-12-01 | 2017-06-08 | 株式会社小野測器 | 画像生成装置及び計測システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11272121B2 (en) | 2022-03-08 |
WO2019069634A1 (ja) | 2019-04-11 |
JPWO2019069634A1 (ja) | 2020-12-03 |
CN111164407B (zh) | 2022-04-08 |
KR20200044926A (ko) | 2020-04-29 |
CN111164407A (zh) | 2020-05-15 |
US20200267301A1 (en) | 2020-08-20 |
KR102404551B1 (ko) | 2022-05-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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