JP7174167B2 - 車両のブレーキシステムに関する評価を行うためのセンサ信号を供給する装置、車両のブレーキシステムに関するセンサ信号を評価する方法および制御装置ならびに車両用のブレーキシステム - Google Patents

Description

本発明は、車両のブレーキシステムに関する評価を行うためのセンサ信号を供給する装置と、車両のブレーキシステムに関するセンサ信号を評価する方法および制御装置と、車両用のブレーキシステムとに関する。

特に、安全関連のセンサ信号を評価する際には、評価のための回路の信号路を定期的に検査すべきである。この際には一般にセンサ信号は、特に１つの線路だけを介して検出される。妥当性検査はここでは、別の手法だけによって行うことが可能である。検査中には、例えば、テスト信号またはテストパターンにより、実際のセンサ信号が、利用できないか、もしくは容易に評価できない事態が起こり得る。

このことを背景にした本発明の課題は、車両のブレーキシステムに関して評価を行うためのセンサ信号を供給する改善された装置、車両のブレーキシステムに関するセンサ信号を評価する改善された方法、ならびに車両用の改善された制御装置および改善されたブレーキシステムを提供することである。

この課題は、主請求項による、車両のブレーキシステムに関する評価を行うためのセンサ信号を供給する装置と、車両のブレーキシステムに関するセンサ信号を評価する方法と、対応する制御装置と、対応するコンピュータプログラムと、車両用のブレーキシステムとによって解決される。

複数の実施形態により、特に、センサ信号の確実な検査および評価をできるようにすることが可能である。ここでは、例えば、信号路およびテスト回路を二重に実施して、独立した２つの評価ユニット、特にアナログ・デジタル変換器にガイドすることができる。２つの信号路のうちの１つの信号路ではテストが実行されるのに対して、別の１つの信号路ではセンサ信号を引き続いて利用することができる。特に、商用車のトレーラ制御モジュール（ＴＣＭ＝Trailer Control Module）の圧力センサ信号の評価をできるようにすることが可能である。例えば、５０ミリ秒毎に少なくとも２回、信号路をテストまたは検査することが可能であり、この際にセンサ信号の評価は、例えば、中断されてしまうことも、劣化させられてしまうこともない。

複数の実施形態によれば、有利には、特にセンサ信号は、テストパターンの間にも連続して評価可能である。安全関連のセンサ信号、例えば、圧力センサの圧力値が、１つの信号路を介して評価可能であり、かつそれぞれの別の１つの信号路が、検査可能である。ここでは、２つの信号路のチェックを、定期的に交互の動作によって順次に行うことができる。したがって、特に、テスト信号またはテストパターンに起因するセンサ信号の劣化またはアベイラビリティの欠如を阻止することができる。したがって、特に、アナログ・デジタル変換器の良度または状態も検査可能である。

ここでは、車両のブレーキシステムに関する評価を行うためのセンサ信号を供給する装置が提示され、この装置は、以下の特徴を有する、すなわち、
第１変換装置に至る第１出力インタフェースにセンサ信号を出力する第１信号路を有し、第１信号路は、複数の第１電子素子を有し、第１信号路は、車両のセンサに至る入力インタフェースに電気的に接続されており、上記の装置はさらに、
第１信号路におけるセンサ信号に第１テスト信号を印加しかつ第１信号路に接続可能であるかまたは接続されている第１テスト装置を有し、上記の装置はさらに、
第２変換装置に至る第２出力インタフェースにセンサ信号を出力する第２信号路を有し、第２信号路は、複数の第２電子素子を有し、第２信号路は、車両のセンサに至る入力インタフェースに電気的に接続されており、上記の装置はさらに、
第２信号路におけるセンサ信号に第２テスト信号を印加しかつ第２信号路に接続可能であるかまたは接続されている第２テスト装置を有する。

車両は、例えば、貨物自動車などのような商用車であってもよい。センサは、ブレーキシステム用の圧力センサまたは別のセンサとして実施されていてもよい。ブレーキシステムは、トレーラ制御モジュールを有していてもよい。センサ信号は、電圧を表していてもよい。第１変換装置は、第１アナログ・デジタル変換器として、またはアナログ・デジタル変換器の第１チャネルとして実施されていてもよい。第２変換装置は、第２アナログ・デジタル変換器として、またはアナログ・デジタル変換器の第２チャネルとして実施されていてもよい。入力インタフェースには、ただ１つの入力信号路が設けられていてもよい。入力インタフェースにおける入力信号路は、特に分岐点において、第１信号路と第２信号路とに分岐していてもよい。第１テスト信号および第２テスト信号は、同一の信号特性を有していてもよい。それぞれのテスト信号は、電圧を表していてもよい。

一実施形態によれば、第１テスト装置は、第１テスト信号を生成する第１テスト電圧源、および第１テスト装置と第１信号路とを信号伝送可能に接続する第１スイッチ装置を有していてもよい。第２テスト装置は、第２テスト信号を生成する第２テスト電圧源、および第２テスト装置と第２信号路とを信号伝送可能に接続する第２スイッチ装置を有していてもよい。このような実施形態により、２つの信号路におけるセンサ信号へのテスト信号の交互の重畳を簡単かつ高い信頼性で実現できるという利点が得られる。

第１テスト装置は、第１テスト電気抵抗を有していてもよく、また付加的または択一的には１つもしくは２つの第１テストダイオードから成る並列回路を有していてもよい。第２テスト装置は、第２テスト電気抵抗を有していてもよく、また付加的または択一的には１つもしくは２つの第２テストダイオードから成る並列回路を有していてもよい。このような実施形態により、コストを掛けずにかつ確実に信号路および変換装置のチェックを行うことができるという利点が得られる。

特に、第１信号路の複数の第１電子素子は、互いに電気的に直列接続されている２つの第１電気抵抗と、第１キャパシタンスとを有していてもよい。第１テスト装置は、第１抵抗間で、第１信号路に電気的に接続されていてもよい。第１キャパシタンスは、第１抵抗と第１出力インタフェースとの間で、第１信号路とアースとの間に電気的に接続されていてもよい。第２信号路の複数の第２電子素子は、互いに電気的に直列接続されている２つの第２電気抵抗と、第２キャパシタンスとを有していてもよい。第２テスト装置は、第２抵抗間で、第２信号路に電気的に接続されていてもよい。第２キャパシタンスは、第２抵抗と第２出力インタフェースとの間で、第２信号路とアースとの間に電気的に接続されていてもよい。このような実施形態により、信号路毎に交互に検査して評価することにより、センサ信号の正確な評価を簡単に実現できるという利点が得られる。

さらに、上記の装置は、入力インタフェースとアースとの間に電気的に接続されている入力電気抵抗を有していてもよい。このような実施形態により、センサ信号の負荷を、上記の装置によって簡単に表すことができるという利点が得られる。

ここでは、車両のブレーキシステムに関するセンサ信号を評価する方法も提示され、この方法は、上述された装置の実施形態に関連して実施可能であり、この方法は、以下のステップ、すなわち、
第１信号路におけるセンサ信号だけに第１テスト信号を印加するステップと、
第１信号路および第１変換装置のテストを実行するために、第１出力インタフェースから第１信号路に、第１テスト信号が印加されたセンサ信号を読み込み、かつセンサ信号を評価するために、第２出力インタフェースから第２信号路にセンサ信号を読み込むステップと、
第２信号路におけるセンサ信号だけに第２テスト信号を印加するステップと、
第２信号路および第２変換装置のテストを実行するために、第２出力インタフェースから第２信号路に、第２テスト信号が印加されたセンサ信号を読み込み、かつセンサ信号を評価するために、第１出力インタフェースから第１信号路にセンサ信号を読み込むステップと、を有する。

この方法もしくはこの方法のステップは、制御装置を使用して実施可能である。テスト信号を印加する上記のステップでは、第１テスト信号または第２テスト信号を印加することにより、センサ信号の信号レベルが変更可能である。この際には、別の信号との短絡または第１変換装置もしくは第２変換装置の欠陥を識別することができる。付加的または択一的には、テスト信号を印加するステップにおいて、有効な測定領域における少なくとも１つの規定された信号レベルを供給することができる。

ここで提示されたアプローチによってさらに、ここで提示された方法の一変形形態のステップを、対応する装置において実施、制御もしくは実行するように構成されている制御装置が得られる。制御装置の形態の、本発明のこの変形実施形態によっても、本発明の根底にある課題を迅速かつ効率的に解決することができる。

このために、制御装置は、信号またはデータを処理する少なくとも１つの計算ユニット、信号またはデータを記憶する少なくとも１つの記憶ユニット、センサからセンサ信号を読み込むかまたはアクチュエータに制御信号を出力するための、センサまたはアクチュエータに至る少なくとも１つのインタフェース、および／または通信プロトコルに埋め込まれているデータを読み込むかまたは出力するための少なくとも１つの通信インタフェースを有していてもよい。計算ユニットは、例えば、シグナルプロセッサ、マイクロコントローラなどであってもよく、記憶ユニットは、フラッシュメモリ、ＥＥＰＲＯＭまたは磁気記憶装置であってもよい。通信インタフェースは、無線および／または有線でデータを読み込むかまたは出力するように構成されていてもよく、有線のデータを読み込むかまたは出力することができる通信インタフェースは、例えば、電気的または光学的にこれらのデータを、対応するデータ伝送路から読み込むか、または対応するデータ伝送路に出力することができる。

本発明において制御装置とは、センサ信号を処理し、これに依存して制御信号および／またはデータ信号を出力する電気装置のことであると理解可能である。制御装置は、ハードウェア的にかつ／またはソフトウェア的に構成可能なインタフェースを有していてもよい。ハードウェア的に構成される場合、インタフェースは、例えば、制御装置の大きく異なる複数の機能を含む、いわゆるシステムＡＳＩＣの一部であってもよい。しかしながら、インタフェースが、自立した集積回路であるか、または少なくとも部分的に、ディスクリートな素子から構成されることも可能である。ソフトウェア的に構成される場合、インタフェースは、例えば、別のソフトウェアモジュールに加えてマイクロコントローラに設けられているソフトウェアモジュールであってもよい。

本発明ではさらに、車両用のブレーキシステムが提示され、ブレーキシステムは、以下の特徴を有し、すなわち、
センサ信号を出力するように構成されているセンサと、
上述された装置の一実施形態と、
上述された制御装置の一実施形態と、を有しており、センサは、上記の装置を介して、信号伝送可能に制御装置に接続されている。

ブレーキシステムに関連して、信号評価および検査機能を可能にするために、上述された装置の一実施形態および上述された制御装置の一実施形態を有利に使用または利用することができる。ブレーキシステムは、車両のトレーラの制動機能を制御するトレーラ制御モジュールを有していてもよい。

一実施形態によれば、制御装置は、第１変換装置および第２変換装置を有していてもよい。このような実施形態により、２つのチャネルによる信号処理を簡単かつ確実に行うことができるという利点が得られる。

制御装置はまた、上記の装置の第１テスト装置の少なくとも複数の部分と、この装置の第２テスト装置の少なくとも複数の部分とを有していてもよい。制御装置は特に、テスト装置のテスト電圧源およびスイッチ装置を有していてもよい。このような実施形態により、いずれにせよすでに設けられているデバイスを効率的に組み入れるまたは利用してこの装置を実現することもできるという利点が得られる。

プログラムコードを有するコンピュータプログラム製品またはコンピュータプログラムも有利であり、このプログラムコードは、半導体メモリ、固定ディスク記憶装置または光学式記憶装置のような機械読み出し可能担体または記憶媒体に記憶可能であり、特に、プログラム製品またはプログラムがコンピュータまたは装置上で実行される場合に、上で説明された複数の実施形態のうちの１つによる方法のステップを実施し、実行し、かつ／または制御するために使用される。

以下の説明では、図を参照して、本発明で提示されるアプローチの複数の実施例を詳述する。

一実施例によるブレーキシステムを有する車両の概略図である。 別の一実施例によるブレーキシステムを有する車両の概略図である。 一実施例による評価方法の流れ図である。

図１には、一実施例によるブレーキシステム１１０を有する車両１００の概略図が示されている。車両１００は、自動車であり、例えば商用車、特に貨物自動車などである。ここに示されている実施例によれば、ブレーキシステム１１０のうち、例示的にセンサ１２０と、制御装置１３０と、供給のための装置１４０もしくは供給装置１４０とだけが示されている。

センサ１２０は、例えば、圧力センサとして実施されている。センサ１２０は特に、ブレーキシステム１１０のトレーラ制御モジュール用の圧力センサとして実施されている。センサ１２０は、センサ信号Ｖ＿ＰＳを出力するように構成されている。ここでセンサ信号Ｖ＿ＰＳは、電圧もしくは電圧値を表していてもよい。センサ１２０は、供給装置１４０を介し、信号伝送可能に制御装置１３０に接続されている。制御装置１３０は、ブレーキシステム１１０の制御装置として実施されていてもよいか、またはブレーキシステム１１０用に実施されていてもよい。

供給装置１４０もしくは供給のための装置１４０は、ブレーキシステム１１０に関する評価を行うためのセンサ信号Ｖ＿ＰＳを供給するように構成されている。供給装置１４０は、第１信号路１５０と、第１テスト装置１６０と、第２信号路１７０と、第２テスト装置１８０とを有する。供給装置１４０はまた、入力インタフェース１４２、第１出力インタフェース１４４および第２出力インタフェース１４６も有する。

第１信号路１５０は、第１変換装置に至る第１出力インタフェース１４４にセンサ信号Ｖ＿ＰＳを出力するように構成されている。第１信号路１５０は、複数の第１電子素子を有する。第１信号路１５０はさらに、センサ１２０に至る入力インタフェース１４２に電気的に接続されている。より正確にいえば、第１信号路１５０は、入力インタフェース１４２と第１出力インタフェース１４４との間に電気的に接続されている。したがって入力インタフェース１４２は、第１信号路１５０を介し、信号伝送可能もしくは電気的に第１出力インタフェース１４４に接続されている。第１テスト装置１６０は、第１信号路１５０におけるセンサ信号Ｖ＿ＰＳに第１テスト信号Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ａを印加するように構成されている。このために、第１テスト装置１６０は、電気的もしくは信号伝送可能に第１信号路１５０に接続されている。

第２信号路１７０は、第２変換装置に至る第２出力インタフェース１４６にセンサ信号Ｖ＿ＰＳを出力するように構成されている。第２信号路１７０は、複数の第２電子素子を有する。第２信号路１７０はさらに、センサ１２０に至る入力インタフェース１４２に電気的に接続されている。より正確にいえば、第２信号路１７０は、入力インタフェース１４２と第２出力インタフェース１４６との間に電気的に接続されている。したがって入力インタフェース１４２は、第２信号路１７０を介し、信号伝送可能もしくは電気的に第２出力インタフェース１４６に接続されている。第２テスト装置１８０は、第２信号路１７０におけるセンサ信号Ｖ＿ＰＳに第２テスト信号Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ｂを印加するように構成されている。このために、第２テスト装置１８０は、電気的もしくは信号伝送可能に第２信号路１７０に接続されている。

供給装置１４０の第１信号路１５０および第２信号路１７０は、互いに電気的に並列接続されている。分岐点１４３では、入力信号路が、入力インタフェース１４２から、第１信号路１５０と第２信号路１７０とに向かって分岐している。ここに示されている実施例によれば、制御装置１３０は、第１変換装置１３２および第２変換装置１３４を有する。第１変換装置１３２は、電気的もしくは信号伝送可能に第１出力インタフェース１４４に接続されており、したがって供給装置１４０の第１信号路１５０に接続されている。第２変換装置１３４は、電気的もしくは信号伝送可能に第２出力インタフェース１４６に接続されており、したがって供給装置１４０の第２信号路１７０に接続されている。

ここに示されている実施例によれば、第１信号路１５０は、複数の電子素子として２つの第１電気抵抗Ｒ２ａおよびＲ３ａならびに第１キャパシタンスＣ１ａを有する。２つの第１電気抵抗Ｒ２ａおよびＲ３ａは、互いに電気的に直列接続されている。２つの第１電気抵抗Ｒ２ａとＲ３ａとの間では、第１テスト装置１６０が、第１信号路１５０に電気的に接続されている。２つの第１電気抵抗Ｒ２ａおよびＲ３ａと、第１出力インタフェース１４４との間では、第１キャパシタンスＣ１ａが、第１信号路１５０とアースとの間に接続されている。第１信号路１５０は、分岐点１４３と第１出力インタフェース１４４との間に延びている。

第１テスト装置１６０は、ここに示されている実施例によれば、第１テスト電圧源１６５と、第１テスト電気抵抗Ｒ１ａと、第１スイッチ装置ＳＷ１ａとを有する。第１テスト電圧源１６５は、第１テスト信号Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ａを生成するように構成されている。第１スイッチ装置ＳＷ１ａは、第１テスト装置１６０を信号伝送可能もしくは電気的に第１信号路１５０に接続するように構成されている。ここでは第１スイッチ装置ＳＷ１ａは、第１テスト電圧源１６５と第１テスト電気抵抗Ｒ１ａとの間に接続されている。したがって第１テスト電気抵抗Ｒ１ａは、第１スイッチ装置ＳＷ１ａと第１信号路１５０との間に電気的に接続されている。択一的には、第１テスト電気抵抗Ｒ１ａは、第１信号路１５０の一部とみなすことも可能である。

ここに示されている実施例によればさらに、第２信号路１７０は、複数の電子素子として２つの第２電気抵抗Ｒ２ｂおよびＲ３ｂならびに第２キャパシタンスＣ２ｂを有する。２つの第２電気抵抗Ｒ２ｂおよびＲ３ｂは、互いに電気的に直列接続されている。２つの第２電気抵抗Ｒ２ｂとＲ３ｂとの間では、第２テスト装置１８０が、第２信号路１７０に電気的に接続されている。２つの第２電気抵抗Ｒ２ｂおよびＲ３ｂと、第２出力インタフェース１４６との間では、第２キャパシタンスＣ２ｂが、第２信号路１７０とアースとの間に接続されている。第２信号路１７０は、分岐点１４３と第２出力インタフェース１４６との間に延びている。

第２テスト装置１８０は、ここに示されている実施例によれば、第２テスト電圧源１８５と、第２テスト電気抵抗Ｒ１ｂと、第２スイッチ装置ＳＷ１ｂとを有する。第２テスト電圧源１８５は、第２テスト信号Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ｂを生成するように構成されている。 第２スイッチ装置ＳＷ１ｂは、第２テスト装置１８０を信号伝送可能もしくは電気的に第２信号路１７０に接続するように構成されている。ここでは第２スイッチ装置ＳＷ１ｂは、第２テスト電圧源１８５と第２電気抵抗Ｒ１ｂとの間に接続されている。したがって第２テスト電気抵抗Ｒ１ｂは、第２スイッチ装置ＳＷ１ｂと第２信号路１７０との間に電気的に接続されている。択一的には、第２テスト電気抵抗Ｒ１ｂは、第２信号路１７０の一部とみなすことも可能である。

供給装置１４０は、ここに示されている実施例によれば、さらに入力電気抵抗Ｒ４を有する。入力電気抵抗Ｒ４は、入力インタフェース１４２と分岐点１４３との間に配置されている。入力抵抗Ｒ４は、入力インタフェース１４２とアースとの間に電気的に接続されている。

ここに示されている実施例によれば、制御装置１３０は、第１テスト電圧源１６５と、第１スイッチ装置ＳＷ１ａと、第２テスト電圧源１８５と、第２スイッチ装置ＳＷ１ｂとを有する。別の一実施例によれば、制御装置１３０は、供給装置１４０の別の素子もしくは他の素子を有していてもよく、または供給装置１４０の素子を有していなくてもよい。

再度まとめると、また言い換えると、センサ１２０により、電圧がセンサ信号Ｖ＿ＰＳとして供給され、このセンサ信号Ｖ＿ＰＳには、供給装置１４０により、入力電気抵抗Ｒ４が負荷として加えられる。制御装置１３０は、例えば、マイクロコントローラとして実施されている。第１信号路１５０を介して制御装置１３０にガイドされるセンサ信号Ｖ＿ＰＳは、例えば、第１アナログ・デジタル変換器チャネルもしくは第１変換装置１３２において評価される。第２信号路１７０を介して制御装置１３０にガイドされるセンサ信号Ｖ＿ＰＳは、例えば、第２アナログ・デジタル変換器チャネルもしくは第２変換装置１３４において評価される。第１スイッチ装置ＳＷ１ａが開いている場合、第１テスト装置１６０は、制御装置１３０の高抵抗入力部として機能する。第１スイッチ装置ＳＷ１ａが閉じている場合、第１テスト装置１６０は、制御装置１３０の出力部として機能し、第１テスト信号Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ａが、論理ハイレベルまたは論理ローレベルで生成されることにより、第１テスト電気抵抗Ｒ１ａを介して、第１信号路１５０におけるセンサ信号Ｖ＿ＰＳを変化させることができる。この場合に、第１信号路１５０を介して伝送されるセンサ信号Ｖ＿ＰＳにおける変化が測定されるのであれば、アナログ・デジタル変換器チャネルもしくは第１変換装置１３２および第１信号路１５０が基本的に機能していることを確認することができる。この間に、第２信号路１７０におけるセンサ信号Ｖ＿ＰＳは、引き続き、連続して測定および評価可能である。第２信号路１７０を検査するためには、テストパスおよび測定パスを交替する。すなわち、第１スイッチ装置ＳＷ１ａを開き、第２スイッチ装置ＳＷ１ｂを閉じる。

図２には、別の一実施例によるブレーキシステム１１０を有する車両１００の概略図が示されている。ブレーキシステム１１０は、供給装置１４０が異なって実施されているということを除けば、図１のブレーキシステムに対応する。より正確にいえば、供給装置１４０の第１テスト装置１６０は、第１テスト電気抵抗の代わりに、２つの第１テストダイオードＤ１ａおよびＤ２ａの並列回路を有し、供給装置１４０の第２テスト装置１８０は、第２テスト電気抵抗の代わりに、２つの第２テストダイオードＤ１ｂおよびＤ２ｂの並列回路を有する。

したがって、互いに電気的に並列接続された第１テストダイオードＤ１ａおよびＤ２ａは、第１テスト装置１６０の第１スイッチ装置ＳＷ１ａと第１信号路１５０との間に電気的に接続されている。第１テストダイオードＤ１ａとＤ２ａとはここでは、互いに逆向きの順方向で電気的に並列接続されている。さらに、互いに電気的に並列接続された第２テストダイオードＤ１ｂおよびＤ２ｂは、第２テスト装置１８０の第２スイッチ装置ＳＷ１ｂと第２信号路１７０との間に電気的に接続されている。第２テストダイオードＤ１ｂとＤ２ｂとはここでは、互いに逆向きの順方向で電気的に並列接続されている。

図２に示された実施例によれば、図１と同じテストプロセスを使用して、第１信号路１５０もしくは第２信号路１７０におけるセンサ信号Ｖ＿ＰＳに、例えば、０．７ボルトもしくはＶＣＣ－０．７ボルトの、正確に定められた電圧が供給可能であるか、もしくはセンサ信号Ｖ＿ＰＳに印加可能である。これにより、テスト信号Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ａおよびＶ＿ＴＥＳＴ＿ｂの論理ハイレベルまたは論理ローレベルを直接に供給するのに比べて、アナログ・デジタル変換器チャネルもしくは変換装置１３２および１３４の閾値だけではなく、有効な測定領域における電圧も測定可能である。したがって、これらの値は、ＧＮＤもしくはアースまたはＶＣＣもしくは給電電圧に接続され得る短絡とは異なる。

一実施例によれば、テスト装置１６０もしくは１８０は、テスト抵抗Ｒ１ａもしくはＲ１ｂと、テストダイオードＤ１ａとＤ２ａの一方もしくは両方またはＤ１ｂとＤ２ｂの一方もしくは両方とから成るそれぞれの１つの組み合わせも有していてもよい。一実施例によれば、テストダイオードの代わりに、より正確な参照電圧も使用可能である。

さらに、素子Ｃ１ａもしくはＣ２ｂが無条件に必要ではなく省略することも可能である一実施例も考えられる。この場合には、例えば、マイクロコントローラによってフィルタリングを行うことが考えられる。別の一実施例によれば、素子Ｄ１ａ、Ｄ２ａ、Ｄ１ｂ、Ｄ２ｂは、通常のダイオードよりも低い降伏電圧を有するショットキーダイオードとして、またはツェナーダイオードとして構成することも可能である。テスト装置毎にただ１つのツェナーダイオードと通常のダイオードとが使用される一実施例も考えられる。というのは、これに反して、２つのツェナーダイオードを使用する場合、通常の２つのダイオードと同じ作用になるからである。したがって、固定のテスト電圧は、ＧＮＤ＋０．７Ｖ～ＶＣＣ－０．７Ｖであってもよい。テスト電圧の生成は、ＶＣＣまたはＧＮＤに対して低抵抗のポートを接続することにより、マイクロコントローラによって行うことも可能である。

図３には、一実施例による評価方法３００の流れ図が示されている。評価方法３００は、車両のブレーキシステムに関するセンサ信号を評価するために実行可能である。評価方法３００は、上で説明された複数の図のうちの１つの図の装置、または類似の装置に関連して実行可能である。さらに評価方法３００は、上で説明された複数の図のうちの１つの図の制御装置、または類似の制御装置によって実行可能である。

ここに示されている実施例によれば、評価方法３００は、印加の第１ステップ３１０と、読み込みの第１ステップ３２０と、印加の第２ステップ３３０と、読み込みの第２ステップ３４０とを有する。

印加の第１ステップ３１０では、第１信号路におけるセンサ信号だけに第１テスト信号を印加する。読み込みの第１ステップ３２０では、第１信号路および第１変換装置のテストを実行するために、第１出力インタフェースから第１信号路に、第１テスト信号が印加されたセンサ信号を読み込み、かつセンサ信号を評価するために、第２出力インタフェースから第２信号路にセンサ信号を読み込む。次に、印加の第２ステップ３３０では、第２信号路におけるセンサ信号だけに第２テスト信号を印加する。読み込みの第２ステップ３４０では、第２信号路および第２変換装置のテストを実行するために、第２出力インタフェースから第２信号路に、第２テスト信号が印加されたセンサ信号を読み込み、かつセンサ信号を評価するために、第１出力インタフェースから第１信号路にセンサ信号を読み込む。

印加の第１ステップ３１０と、読み込みの第１ステップ３２０とは、時間的に互いに少なくとも部分的に重なり合って実行可能であり、印加の第２ステップ３３０と、読み込みの第２ステップ３４０とは、時間的に互いに少なくとも部分的に重なり合って実行可能である。読み込みの第２ステップ３４０の後、印加の第１ステップ３１０で、評価方法３００を新たに開始することができる。

１００ 車両
１１０ ブレーキシステム
１２０ センサ
１３０ 制御装置
１３２ 第１変換装置
１３４ 第２変換装置
１４０ 装置
１４２ 入力インタフェース
１４３ 分岐点
１４４ 第１出力インタフェース
１４６ 第２出力インタフェース
１５０ 第１信号路
１６０ 第１テスト装置
１７０ 第２信号路
１８０ 第２テスト装置
１６５ 第１テスト電圧源
１８５ 第２テスト電圧源
Ｃ１ａ 第１キャパシタンス
Ｃ２ｂ 第２キャパシタンス
Ｒ１ａ 第１テスト電気抵抗
Ｒ１ｂ 第２テスト電気抵抗
Ｒ２ａ、Ｒ３ａ 第１電気抵抗
Ｒ２ｂ、Ｒ３ｂ 第２電気抵抗
Ｒ４ 入力抵抗
ＳＷ１ａ 第１スイッチ装置
ＳＷ１ｂ 第２スイッチ装置
Ｖ＿ＰＳ センサ信号
Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ａ 第１テスト信号
Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ｂ 第２テスト信号
Ｄ１ａ、Ｄ２ａ 第１テストダイオード
Ｄ１ｂ、Ｄ２ｂ 第２テストダイオード
３００ 評価方法
３１０ 印加の第１ステップ
３２０ 読み込みの第１ステップ
３３０ 印加の第２ステップ
３４０ 読み込みの第２ステップ

Claims (12)

1. 車両（１００）のブレーキシステム（１１０）に関する評価を行うためのセンサ信号（Ｖ＿ＰＳ）を供給する装置（１４０）において、
   前記装置（１４０）は、
   第１変換装置（１３２）に至る第１出力インタフェース（１４４）に前記センサ信号（Ｖ＿ＰＳ）を出力する第１信号路（１５０）であって、前記第１信号路（１５０）は、複数の第１電子素子（Ｃ１ａ、Ｒ２ａ、Ｒ３ａ）を有し、前記第１信号路（１５０）は、前記車両（１００）のセンサ（１２０）に至る入力インタフェース（１４２）に電気的に接続されている、前記第１信号路（１５０）と、
   前記第１信号路（１５０）における前記センサ信号（Ｖ＿ＰＳ）に第１テスト信号（Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ａ）を印加しかつ前記第１信号路（１５０）に接続可能であるかまたは接続されている第１テスト装置（１６０）と、
   第２変換装置（１３４）に至る第２出力インタフェース（１４６）に前記センサ信号（Ｖ＿ＰＳ）を出力する第２信号路（１７０）であって、前記第２信号路（１７０）は、複数の第２電子素子（Ｃ２ｂ、Ｒ２ｂ、Ｒ３ｂ）を有し、前記第２信号路（１７０）は、前記車両（１００）の前記センサ（１２０）に至る前記入力インタフェース（１４２）に電気的に接続されている、前記第２信号路（１７０）と、
   前記第２信号路（１７０）における前記センサ信号（Ｖ＿ＰＳ）に第２テスト信号（Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ｂ）を印加しかつ前記第２信号路（１７０）に接続可能であるかまたは接続されている第２テスト装置（１８０）と、を有する、装置（１４０）。
2. 前記第１テスト装置（１６０）は、前記第１テスト信号（Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ａ）を生成する第１テスト電圧源（１６５）、および前記第１テスト装置（１６０）と前記第１信号路（１５０）とを信号伝送可能に接続する第１スイッチ装置（ＳＷ１ａ）を有し、前記第２テスト装置（１８０）は、前記第２テスト信号（Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ｂ）を生成する第２テスト電圧源（１８５）、および前記第２テスト装置（１８０）と前記第２信号路（１７０）とを信号伝送可能に接続する第２スイッチ装置（ＳＷ１ｂ）を有する、請求項１記載の装置（１４０）。
3. 前記第１テスト装置（１６０）は、第１テスト電気抵抗（Ｒ１ａ）、および／または１つもしくは２つの第１テストダイオード（Ｄ１ａ、Ｄ２ａ）から成る並列回路を有し、
   前記第２テスト装置（１８０）は、第２テスト電気抵抗（Ｒ１ｂ）、および／または１つもしくは２つの第２テストダイオード（Ｄ１ｂ、Ｄ２ｂ）から成る並列回路を有する、請求項１または２記載の装置（１４０）。
4. 前記第１信号路（１５０）の複数の前記第１電子素子は、互いに電気的に直列接続されている２つの第１電気抵抗（Ｒ２ａ、Ｒ３ａ）と、第１キャパシタンス（Ｃ１ａ）とを有し、前記第１テスト装置（１６０）は、前記第１電気抵抗（Ｒ２ａ、Ｒ３ａ）間で、前記第１信号路（１５０）に電気的に接続されており、前記第１キャパシタンス（Ｃ１ａ）は、前記第１電気抵抗（Ｒ２ａ、Ｒ３ａ）と第１出力インタフェース（１４４）との間で、第１信号路（１５０）とアースとの間に電気的に接続されており、前記第２信号路（１７０）の複数の前記第２電子素子は、互いに電気的に直列接続されている２つの第２電気抵抗（Ｒ２ｂ、Ｒ３ｂ）と、第２キャパシタンス（Ｃ２ｂ）とを有し、前記第２テスト装置（１８０）は、前記第２電気抵抗（Ｒ２ｂ、Ｒ３ｂ）間で、前記第２信号路（１７０）に電気的に接続されており、前記第２キャパシタンス（Ｃ２ｂ）は、前記第２電気抵抗（Ｒ２ｂ、Ｒ３ｂ）と第２出力インタフェース（１４６）との間で、前記第２信号路（１７０）とアースとの間に電気的に接続されている、請求項１から３までのいずれか１項記載の装置（１４０）。
5. 前記入力インタフェース（１４２）とアースとの間に電気的に接続されている入力電気抵抗（Ｒ４）を有する、請求項１から４までのいずれか１項記載の装置（１４０）。
6. 車両（１００）のブレーキシステム（１１０）に関するセンサ信号（Ｖ＿ＰＳ）を評価する方法（３００）において、前記方法（３００）は、請求項１から５までのいずれか１項記載の装置（１４０）に関連して実施可能であり、
   前記方法（３００）は、
   前記第１信号路（１５０）における前記センサ信号（Ｖ＿ＰＳ）だけに前記第１テスト信号（Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ａ）を印加するステップ（３１０）と、
   前記第１信号路（１５０）および前記第１変換装置（１３２）のテストを実行するために、前記第１出力インタフェース（１４４）から前記第１信号路（１５０）に、前記第１テスト信号（Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ａ）が印加された前記センサ信号（Ｖ＿ＰＳ）を読み込み、かつ前記センサ信号（Ｖ＿ＰＳ）を評価するために、前記第２出力インタフェース（１４６）から前記第２信号路（１７０）に前記センサ信号（Ｖ＿ＰＳ）を読み込むステップ（３２０）と、
   前記第２信号路（１７０）における前記センサ信号（Ｖ＿ＰＳ）だけに前記第２テスト信号（Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ｂ）を印加するステップ（３３０）と、
   前記第２信号路（１７０）および前記第２変換装置（１３４）のテストを実行するために、前記第２出力インタフェース（１４６）から前記第２信号路（１７０）に、前記第２テスト信号（Ｖ＿ＴＥＳＴ＿ｂ）が印加された前記センサ信号（Ｖ＿ＰＳ）を読み込み、かつ前記センサ信号（Ｖ＿ＰＳ）を評価するために、前記第１出力インタフェース（１４４）から前記第１信号路（１５０）に前記センサ信号（Ｖ＿ＰＳ）を読み込むステップ（３４０）と、を有する、方法（３００）。
7. 請求項６に記載の前記方法（３００）の前記ステップを、対応するユニットにおいて実施および／または制御するように構成された制御装置（１３０）。
8. 車両（１００）用のブレーキシステム（１１０）であって、前記ブレーキシステム（１１０）は、
   センサ信号（Ｖ＿ＰＳ）を出力するように構成されているセンサ（１２０）と、
   請求項１から５までのいずれか１項に記載の装置（１４０）と、
   請求項７記載の制御装置（１３０）と、を有し、前記センサ（１２０）は、前記装置（１４０）を介し、信号伝送可能に前記制御装置（１３０）に接続されている、ブレーキシステム（１１０）。
9. 前記制御装置（１３０）は、前記第１変換装置（１３２）および前記第２変換装置（１３４）を有する、請求項８記載のブレーキシステム（１１０）。
10. 前記制御装置（１３０）は、前記装置（１４０）の前記第１テスト装置（１６０）の少なくとも複数の部分と、前記装置（１４０）の前記第２テスト装置（１８０）の少なくとも複数の部分とを有する、請求項８または９記載のブレーキシステム（１１０）。
11. 請求項６記載の方法（３００）を実行および／または制御するように構成されている、コンピュータプログラム。
12. 請求項１１記載のコンピュータプログラムが記憶されている機械読み出し可能記憶媒体。

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