JP7171946B1 - 電源装置 - Google Patents

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Abstract

複数の半導体スイッチ(SW1~SWn)および機械式スイッチ(12)は、第1の端子(T1)および第2の端子(T2)間に直列に接続される。複数の電圧検出器(15)は、複数の半導体スイッチ(SW1~SWn)にそれぞれ対応して設けられ、対応する半導体スイッチの端子間電圧を検出する。複数の駆動回路(GD1~GDn)は、複数の半導体スイッチ(SW1~SWn)にそれぞれ対応して設けられ、主制御部(40)からの制御信号に応答して、対応する半導体スイッチをオフさせる。各駆動回路は、対応する半導体スイッチの端子間電圧と、複数の半導体スイッチの他の1つの半導体スイッチの端子間電圧とが一致しているか否かを判定し、判定結果を出力する。主制御部(40)は、複数の駆動回路(GD1~GDn)の各々から与えられる判定結果に基づいて、複数の半導体スイッチ(SW1~SWn)が正常にオフされない遮断異常を検出する。

Description

本開示は、電源装置に関する。
特開平2-106158号公報(特許文献1)には、複数の自己消弧型の半導体スイッチング素子を直列接続して構成された回路を有する電力変換装置が開示される。特許文献1では、各半導体スイッチング素子に対し、遮断不能を検出するための検出手段を設ける。検出手段は、半導体スイッチング素子であるGTO(Gate Turn-Off thyristor)の端子間電圧を利用して、遮断不能を検出するように構成される。
特開平2-106158号公報
負荷に交流電力を供給するための電源装置として、瞬停補償装置(Multiple Power Compensator)がある。瞬低補償装置は、一般的に、交流電源および負荷の間に接続され、交流電源の停電または瞬時電圧低下が発生した場合でも安定した交流電力を無瞬断で負荷に供給することが可能に構成される。
瞬停補償装置には、交流電源および負荷の間に直列接続された機械式スイッチおよびスイッチ回路を有するものがある。スイッチ回路は、複数の半導体スイッチを直列接続して構成されている。交流電源の正常時には、機械式スイッチおよび複数の半導体スイッチを導通(オン)させることにより、電源装置は交流電源の交流電力を負荷へ供給する。一方、交流電源の停電または瞬時電圧低下の発生時には、機械式スイッチおよび複数の半導体スイッチを遮断(オフ)させるとともに、電力変換器を経由して力貯蔵装置から負荷への電力供給を開始する。
このような電源装置において、複数の半導体スイッチの何れかが遮断不能となる遮断異常が発生すると、スイッチ回路の内部では、スイッチ回路の入力端子および出力端子間の電圧差が、正常にオフされた一部の半導体スイッチに集中的に印加される可能性がある。したがって、複数の半導体スイッチの遮断異常を検出する手段が必要となる。
しかしながら、機械式スイッチおよびスイッチ回路がともにオフされると、電源装置の入力端子および出力端子の電圧差がほとんど機械式スイッチの端子間に印加される。これは、半導体スイッチのオフ抵抗(オフ時の抵抗)に比べて、機械式スイッチのオフ抵抗が十分に大きいことによる。そのため、正常にオフされた半導体スイッチの端子間電圧は零電圧に近い値となり、遮断異常が生じている半導体スイッチの端子間電圧との間に有意差が現れにくくなる。したがって、上記特許文献1に記載されるように、半導体スイッチの端子間電圧を利用すると、誤って遮断異常の発生を検出することが懸念される。
本開示は上述のような問題点を解決するためになされたものであって、本開示の目的は、直列接続された複数の半導体スイッチおよび機械式スイッチを備える電源装置において、複数の半導体スイッチの遮断異常を正確に検出することである。
本開示の一態様に係る電源装置は、交流電源から供給される交流電圧を受ける第1の端子と、負荷に接続される第2の端子と、複数の半導体スイッチと、機械式スイッチと、複数の電圧検出器と、制御装置とを備える。複数の半導体スイッチは、第1の端子および第2の端子間に直列に接続される。機械式スイッチは、第1の端子および第2の端子間に、複数の半導体スイッチと直列に接続される。複数の電圧検出器は、複数の半導体スイッチにそれぞれ対応して設けられ、対応する半導体スイッチの端子間電圧を検出する。制御装置は、主制御部と、複数の駆動回路とを含む。主制御部は、第1の端子が受ける交流電圧に基づいて、複数の半導体スイッチおよび機械式スイッチのオンオフを制御する。複数の駆動回路は、複数の半導体スイッチにそれぞれ対応して設けられ、主制御部からの制御信号に応答して、対応する半導体スイッチをオフさせる。複数の駆動回路の各々は、判定部を含む。判定部は、対応する半導体スイッチの端子間電圧と、複数の半導体スイッチの他の1つの半導体スイッチの端子間電圧とが一致しているか否かを判定し、判定結果を出力する。主制御部は、複数の駆動回路の各々から与えられる判定部の出力信号に基づいて、複数の半導体スイッチが正常にオフされない遮断異常を検出する。
本開示によれば、直列接続された複数の半導体スイッチおよび機械式スイッチを備える電源装置において、複数の半導体スイッチの遮断異常を正確に検出することができる。
実施の形態1に係る電源装置の概略構成を示す図である。 図1に示した半導体スイッチの他の構成例を示す回路図である。 図1に示した制御装置のうち機械式スイッチおよびスイッチ回路の制御に関連する部分の構成を示す回路ブロック図である。 図3に示したゲート駆動回路の構成を示す回路ブロック図である。 図4に示した判定部の第1の構成例を示す回路ブロック図である。 主制御部における半導体スイッチの遮断異常の判定処理を説明する図である。 図4に示した判定部の参考例を示す回路ブロック図である。 ゲート駆動回路の動作を示すタイミングチャートである。 図4に示した判定部の第2の構成例を示す回路ブロック図である。 ゲート駆動回路の動作を示すタイミングチャートである。 図4に示した判定部の第3の構成例を示す回路ブロック図である。 ゲート駆動回路の動作を示すタイミングチャートである。
以下に、本開示の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。なお、以下では図中の同一または相当部分には同一符号を付してその説明は原則的に繰返さないものとする。
[実施の形態1]
図1は、実施の形態1に係る電源装置の概略構成を示す図である。
図1に示すように、実施の形態1に係る電源装置10は、交流電源1および負荷2の間に接続され、交流電源1から交流電力を受けて負荷2に交流電力を供給するように構成される。電源装置10は、例えば、交流電源1の停電または瞬時電圧低下が発生した場合において、安定した交流電力を無瞬断で負荷2に供給するための装置(例えば、瞬停補償装置)に適用され得る。
交流電源1は、代表的には商用交流電源であり、商用周波数の交流電力を電源装置10に供給する。負荷2は、電源装置10から供給される商用周波数の交流電力によって駆動される。なお、図1では、一相の交流電力に関連する部分のみが示されているが、電源装置10は三相交流電力を受けて三相交流電力を出力するようにしてもよい。
図1に示すように、電源装置10は、入力端子T1、出力端子T2、直流端子T3、機械式スイッチ12、スイッチ回路14、双方向コンバータ16、電圧検出器15,18,20、および制御装置30を備える。
入力端子T1は、交流電源1に電気的に接続されており、交流電源1から供給される商用周波数の交流電圧VIを受ける。入力端子T1は「第1の端子」の一実施例に対応する。
機械式スイッチ12は、入力端子T1と出力端子T2との間に電気的に接続される。機械式スイッチ12は、制御装置30から与えられるH(論理ハイ)レベルの制御信号S0に応答して導通(オン)され、L(論理ロー)レベルの制御信号S0に応答して遮断(オフ)される。なお、機械式スイッチ12は、オン状態においてLレベルの制御信号S0を受けたときには、制御信号S0を受けてから数十ミリ秒後にオフされる。
出力端子T2は負荷2に接続される。負荷2は、出力端子T2から供給される交流電圧VOによって駆動される。出力端子T2は「第2の端子」の一実施例に対応する。
直流端子T3はバッテリ3に接続される。バッテリ3は、直流電力を蓄積する「電力貯蔵装置」の一実施例に対応する。電力貯蔵装置として、バッテリ3に代えて、電気二重層コンデンサを直流端子T3に接続してもよい。直流端子T3の直流電圧VB(バッテリ3の端子間電圧)の瞬時値は、制御装置30によって検出される。
スイッチ回路14は、入力端子T1および出力端子T2の間に機械式スイッチ12と電気的に直列に接続される。スイッチ回路14は、入力ノード14aおよび出力ノード14bと、n個(nは2以上の整数)の半導体スイッチSW1~SWnとを有する。
入力ノード14aは機械式スイッチ12を介して入力端子T1に電気的に接続され、出力ノード14bは出力端子T2に接続される。半導体スイッチSW1~SWnは、入力ノード14aおよび出力ノード14bの間に直列に接続される。図1の例では、n=4である。ただし、半導体スイッチの数nは4に限定されない。
半導体スイッチSW1~SWnは、制御装置30からそれぞれ入力されるゲート信号G1~Gnによってオンオフが制御される。以下では、半導体スイッチSW1~SWnを包括的に表記する場合には、単に「半導体スイッチSW」とも称し、ゲート信号G1~Gnを包括的に表記する場合には、単に「ゲート信号G」とも称する。
半導体スイッチSWi(iは1以上n以下の整数)は、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)Qiと、IGBTQiと逆並列に接続されるダイオードDiと、スナバ回路SNiと、バリスタZiとを有する。IGBTQiのコレクタは入力ノード14aに電気的に接続され、エミッタは出力ノード14bに電気的に接続される。ダイオードDiは、出力ノード14bから入力ノード14aに向かう向きを順方向として接続される。なお、半導体スイッチSWiには、IGBTに限らず、任意の自己消弧型の半導体スイッチング素子を用いることができる。以下では、IGBTQ1~Qnを包括的に表記する場合には、単に「IGBTQ」とも称し、スナバ回路SN1~SNnを包括的に表記する場合には、単に「スナバ回路SN」とも称し、バリスタZ1~Znを包括的に表記する場合には、単に「バリスタZ」とも称する。
半導体スイッチSW(IGBTQ)は、Hレベルのゲート信号Gによってオンされ、Lレベルのゲート信号Gによってオフされる。すなわち、Hレベルのゲート信号Gは半導体スイッチSW(IGBTQ)をオンするためのオン指令(導通指令)に相当し、Lレベルのゲート信号Gは半導体スイッチSW(IGBTQ)をオフするためのオフ指令(遮断指令)に相当する。
スナバ回路SN1~SNnは、それぞれIGBTQ1~IGBTQnに並列接続され、対応するIGBTQをサージ電圧から保護する。スナバ回路SNは、例えば、対応するIGBTQのコレクタ-エミッタ間に直列接続された抵抗素子およびコンデンサを有する。IGBTQに電流が流れている場合に、IGBTQを突然オフさせると、自己インダクタンスによってIGBTQのコレクタ-エミッタ間にサージ電圧が発生する。スナバ回路SNは、そのようなサージ電圧を抑制することによってIGBTQを保護する。
バリスタZ1~Znは、それぞれIGBTQ1~Qnに並列接続される。バリスタZは、抵抗値が電圧依存性を有する抵抗器である。バリスタZは、例えば、ZnR(Zinc oxide nonlinear resistor)である。バリスタZの抵抗値は、その端子間電圧に応じて変化し、所定の閾値電圧を超えると急に低下する。したがって、IGBTQのコレクタ-エミッタ間電圧が閾値電圧を超えることを防止し、IGBTQがサージ電圧によって破壊されることを防止することができる。
なお、半導体スイッチSWは、図1の構成に限定されるものではなく、例えば図2に示す構成とすることもできる。図2の例では、半導体スイッチSWは、逆直列に接続されたIGBTQA,QBと、IGBTQA,QBにそれぞれ逆並列に接続されるダイオードD1A,D1Bと、スナバ回路SNと、バリスタZとを有する。IGBTQAのコレクタは入力ノード14aに電気的に接続され、エミッタはIGBTQBのエミッタに接続される。IGBTQBのコレクタは出力ノード14bに電気的に接続される。ダイオードDAは出力ノード14bから入力ノード14aに向かう向きを順方向として接続される。ダイオードDBは、入力ノード14aから出力ノード14bに向かう向きを順方向として接続される。スナバ回路SNおよびバリスタZは、IGBTQA,QBの直列回路と並列に接続される。
図1に戻って、双方向コンバータ16は、スイッチ回路14の出力ノード14bと直流端子T3との間に接続される。双方向コンバータ16は、出力ノード14bに出力される交流電力とバッテリ3に蓄えられる直流電力との間で双方向に電力変換を行うように構成される。双方向コンバータ16は「電力変換器」の一実施例に対応する。
双方向コンバータ16は、交流電源1から交流電力が供給されている正常時は、交流電源1からスイッチ回路14を介して供給される交流電力を直流電力に変換し、その直流電力をバッテリ3に蓄える。一方、交流電源1からの交流電力の供給が停止する停電もしくは、交流電源1の瞬時電圧低下の発生時には、双方向コンバータ16は、バッテリ3の直流電力を商用周波数の交流電力に変換し、その交流電力を負荷2に供給する。
双方向コンバータ16は、図示は省略するが、複数の半導体スイッチング素子を有する。複数の半導体スイッチング素子は、制御装置30により生成される制御信号によってオンオフが制御される。制御信号は、パルス信号列であり、PWM(Pulse Width Modulator)信号である。双方向コンバータ16は、制御信号に応答して複数の半導体スイッチング素子をオンまたはオフさせることにより、出力ノード14bに出力する交流電力と直流端子T3に入出力される直流電力との間で双方向の電力変換を実行することができる。
電圧検出器18は、交流電源1から入力端子T1に供給される交流電圧VIの瞬時値を検出し、その検出値を示す信号を制御装置30に与える。制御装置30は、交流電圧VIの瞬時値に基づいて、交流電源1が正常であるか否かを判定する。例えば、制御装置30は、交流電圧VIが予め定められた下限電圧よりも高い場合には、交流電源1が正常であると判定する。制御装置30は、交流電圧VIが下限電圧よりも低下した場合には、交流電源1が正常でない(異常である)と判定する。
電圧検出器20は、出力端子T2に現れる交流電圧VOの瞬時値を検出し、その検出値を示す信号を制御装置30に与える。
電圧検出器15は、半導体スイッチSWの端子間電圧Vの瞬時値を検出し、その検出値を示す信号を制御装置30に与える。図1の例では、電圧検出器15は、各半導体スイッチSWのIGBTQのコレクタ-エミッタ間の電圧Vの瞬時値を検出する。電圧検出器15によって検出される検出値V1~Vnは、それぞれ半導体スイッチSW1~SWnの端子間電圧に対応する。以下では、端子間電圧V1~Vnを包括的に表記する場合には、単に「端子間電圧V」とも称する。
半導体スイッチSWがオン状態である場合、半導体スイッチSWの端子間電圧Vは零電圧となる。一方、半導体スイッチSWがオフ状態である場合、半導体スイッチSWの端子間電圧Vは入力端子T1に供給される交流電圧VIと出力端子T2に現れる交流電圧VOとの電圧差に応じた値となる。このように半導体スイッチSWの端子間電圧Vは、理想的には、半導体スイッチSWのオン状態とオフ状態とで異なる値となる。
制御装置30は、図示しない上位コントローラからの指令や電圧検出器18,20から入力される信号などを用いて、スイッチ回路14(半導体スイッチSW)のオンオフおよび双方向コンバータ16の運転を制御する。制御装置30は、例えば、マイクロコンピュータなどで構成することができる。一例として、制御装置30は、図示しないCPU(Central Processing Unit)およびメモリを有しており、メモリに予め格納されたプログラムをCPUが実行することによるソフトウェア処理によって、以下で説明する制御動作を実行することができる。あるいは、当該制御動作の一部または全部について、ソフトウェア処理に代えて、内蔵された専用の電子回路などを用いたハードウェア処理によって実現することも可能である。
次に、実施の形態1に係る電源装置10の動作について説明する。
交流電源1の正常時には、制御装置30は、機械式スイッチ12に対してHレベルの制御信号S0を与えるとともに、スイッチ回路14の半導体スイッチSW1~SWnに対して、Hレベルのゲート信号G1~Gnをそれぞれ与える。機械式スイッチ12およびスイッチ回路14の半導体スイッチSW1~SWnがオンされることにより、交流電源1から機械式スイッチ12およびスイッチ回路14を介して負荷2に交流電力が供給され、負荷2が駆動される。また、交流電源1から機械式スイッチ12およびスイッチ回路14を介して双方向コンバータ16に交流電力が供給され、その交流電力が直流電力に変換されてバッテリ3に蓄えられる。このとき、制御装置30は、バッテリ3の端子間電圧VBが参照電圧VBrになるように双方向コンバータ16を制御する。
交流電源1の異常時(交流電源1の停電時または瞬時電圧低下時)には、制御装置30は、機械式スイッチ12に対してLレベルの制御信号S0を与えるとともに、スイッチ回路14の半導体スイッチSW1~SWnに対して、Lレベルのゲート信号G1~Gnをそれぞれ与える。機械式スイッチ12およびスイッチ回路14の半導体スイッチSW1~SWnが瞬時にオフされるとともに、バッテリ3の直流電力が双方向コンバータ16によって交流電力に変換されて負荷2に供給される。したがって、交流電源1の異常が発生した場合でも、バッテリ3に直流電力が蓄えられている期間は、負荷2の運転を継続することができる。このとき、制御装置30は、電圧検出器20により検出される交流電圧VOに基づき、交流電圧VOが参照電圧VOrになるように双方向コンバータ16を制御する。制御装置30は、バッテリ3の端子間電圧VBが低下して下限電圧に到達した場合には、双方向コンバータ16の運転を停止させる。
なお、スイッチ回路14において素子故障または制御異常が発生した場合においても、双方向コンバータ16を運転するとともに、機械式スイッチ12およびスイッチ回路14をオフすることにより、バッテリ3の直流電力が双方向コンバータ16を経由して負荷2に供給される。したがって、交流電源1またはスイッチ回路14に異常が発生した場合であっても、無瞬断で負荷2に安定した電力を供給し続けることができる。
しかしながら、スイッチ回路14において、半導体スイッチSW1~SWnの一部が遮断不能となる異常(以下、「遮断異常」とも称する)が生じている場合、Lレベルのゲート信号G1~Gn(遮断指令)の発生中、当該一部の半導体スイッチSWがオフせず、オン状態を維持するとともに、残りの半導体スイッチSWがオフするという不揃いの状態が発生することがある。このように直列接続される半導体スイッチSW1~SWnに不揃いの状態が発生すると、入力ノード14aおよび出力ノード14bの間の電圧差が、オフ状態となっている残りの半導体スイッチSWの端子間に集中的に印加されることになる。したがって、当該残りの半導体スイッチSWに過電圧が印加されることが懸念される。
そこで、本実施の形態では、制御装置30は、スイッチ回路14を構成する半導体スイッチSW1~SWnの遮断異常を検出するように構成される。以下、実施の形態1に係る電源装置10におけるスイッチ回路14の遮断異常の検出処理について説明する。
図3は、図1に示した制御装置30のうち機械式スイッチ12およびスイッチ回路14の制御に関連する部分の構成を示す回路ブロック図である。図3に示すように、制御装置30は、主制御部40と、複数のゲート駆動回路GD1~GDnとを有する。
主制御部40は、電圧検出器18により検出される交流電圧VIの瞬時値に基づいて、交流電源1が正常であるか否かを判定する。交流電圧VIが下限電圧よりも高い場合には、主制御部40は、交流電源1が正常であると判定する。この場合、主制御部40は、Hレベルの制御信号S0を機械式スイッチ12に与えるとともに、Hレベルの制御信号S1~Snをゲート駆動回路GD1~GDnにそれぞれ与える。
一方、交流電圧VIが下限電圧よりも低い場合には、主制御部40は、交流電源1が正常でないと判定する。この場合、主制御部40は、Lレベルの制御信号S0を機械式スイッチ12に与えるとともに、Lレベルの制御信号S1~Snをゲート駆動回路GD1~GDnにそれぞれ与える。以下では、ゲート駆動回路GD1~GDnを包括的に表記する場合には、単に「ゲート駆動回路GD」とも称し、制御信号S1~Snを包括的に表記する場合には、単に「制御信号S」とも称する。
ゲート駆動回路GD1~GDnは、半導体スイッチSW1~SWnにそれぞれ対応して設けられる。ゲート駆動回路GD1~GDnは、主制御部40から与えられる制御信号S1~Snに応答して、ゲート信号G1~Gnを半導体スイッチSW1~SWnにそれぞれを出力する。具体的には、制御信号SがHレベルである場合には、ゲート駆動回路GDはHレベルのゲート信号Gを出力することにより、半導体スイッチSWをオンさせる。制御信号SがLレベルである場合には、ゲート駆動回路GDは、Lレベルのゲート信号Gを出力することにより、半導体スイッチSWをオフさせる。
ゲート駆動回路GD1~GDnは、半導体スイッチSW1~SWnに設けられた電圧検出器15の出力信号V1~Vnをそれぞれ受ける。ゲート駆動回路GD1~GDnは、電圧検出器15の出力信号V1~Vnに基づいて、半導体スイッチSW1~SWnの状態を判定し、判定結果を示す信号DET1~DETnを主制御部40に出力する。
ゲート駆動回路GDは、入力端子T11,T14,T15および出力端子T12,T13,T16を有する。入力端子T14は、主制御部40から制御信号Sを受ける。出力端子T12は、対応する半導体スイッチSWのIGBTQのゲート端子に接続される。ゲート駆動回路GDは、入力端子T14に入力される制御信号Sに基づいてゲート信号Gを生成し、生成したゲート信号Gを、出力端子T12を経由して対応するIGBTQのゲート端子に出力する。
入力端子T11は、対応する半導体スイッチSWから電圧検出器15の出力信号Vを受ける。出力端子T13は主制御部40に接続される。ゲート駆動回路GDは、信号DETを、出力端子T13を経由して主制御部40に出力する。
入力端子T15は、他の1つのゲート駆動回路GDの出力端子T16に接続される。図3の例では、ゲート駆動回路GD2の入力端子T15は、ゲート駆動回路GD1の出力端子T16に接続される。ゲート駆動回路GD3の入力端子T15は、ゲート駆動回路GD2の出力端子T16に接続される。ゲート駆動回路GD4の入力端子T15は、ゲート駆動回路GD3の出力端子T16に接続される。ゲート駆動回路GD1の入力端子T15は、ゲート駆動回路GD4の出力端子T16に接続される。すなわち、ゲート駆動回路GDi(iは2以上n以下の整数)の入力端子T15は、ゲート駆動回路GDi-1の出力端子T16に接続される。ただし、ゲート駆動回路GD1の入力端子T15は、ゲート駆動回路GDnの出力端子T16に接続される。
図4は、図3に示したゲート駆動回路GDの構成を示す回路ブロック図である。図4に示すように、ゲート駆動回路GDは、比較器50と、EXOR(排他的論理和)回路52と、判定部54と、ドライバ56とを有する。
ドライバ56は、入力端子T14に与えられた制御信号Sに基づいて、ゲート信号Gを生成する。ドライバ56は、生成したゲート信号Gを、出力端子T12を経由して対応する半導体スイッチSW(IGBTQ)に出力する。制御信号SがHレベルであるとき、ドライバ56はHレベルのゲート信号Gを出力する。制御信号SがLレベルであるとき、ドライバ56はLレベルのゲート信号Gを出力する。
比較器50は、入力端子T1に入力される電圧検出器15の出力信号Vと、閾値電圧Vthとを比較する。電圧検出器15の出力信号Vは、半導体スイッチSWの端子間電圧Vの検出値を示す。上述したように、半導体スイッチSWがオン状態のときには、端子間電圧Vは零電圧となり、半導体スイッチSWがオフ状態のときには、端子間電圧Vは交流電圧VIと交流電圧VOとの電圧差に応じた値となる。比較器50は、端子間電圧Vの検出値と閾値電圧Vthとを比較し、比較結果を示す信号Cを出力する。端子間電圧Vの検出値が閾値電圧Vthよりも大きいとき、比較器50の出力信号CはHレベルとなる。端子間電圧Vの検出値が閾値電圧Vthよりも小さいとき、比較器50の出力信号CはLレベルとなる。
比較器50の出力信号Cは、EXOR回路52の第1入力端子に入力されるとともに、出力端子T16に入力される。出力端子T16に入力された信号Cは、他の1つのゲート駆動回路GDの入力端子T15に入力される。
EXOR回路52は、第1入力端子に比較器50の出力信号Cを受け、第2入力端子に入力端子T15を経由して他の1つのゲート駆動回路GDの比較器50の出力信号Cを受ける。EXOR回路52は、2つの比較器50の出力信号Cの排他的論理和を算出し、算出結果を示す信号Eを出力する。2つの比較器50の出力信号Cの値が一致しないとき、すなわち、一方の信号Cの値がHであり、他方の信号Cの値がLであるとき、EXOR回路52の出力信号EはHレベルとなる。2つの比較器50の出力信号Cの値が一致するとき、EXOR回路52の出力信号EはLレベルとなる。
判定部54は、EXOR回路52の出力信号Eに基づいて、2つの半導体スイッチSWの端子間電圧Vが一致しているか否かを判定する。判定部54は、判定結果を示す信号DETを、出力端子T13を経由して主制御部40に出力する。2つの半導体スイッチSWの端子間電圧Vが一致していると判定された場合、判定部54はLレベルの信号DETを出力する。2つの半導体スイッチSWの端子間電圧Vが一致していないと判定された場合、判定部54はHレベルの信号DETを出力する。
図5は、図4に示した判定部54の第1の構成例を示す回路ブロック図である。図5に示すように、判定部54は、遅延回路60と、比較器62と、フリップフロップ64とを有する。
遅延回路60は、EXOR回路52の出力信号Eを所定時間Td1だけ遅延させて信号Fを生成する。遅延回路60には、例えば、入力端子と直列に接続される抵抗素子と入力端子と並列に接続されるコンデンサとを有するローパスフィルタを用いることができる。信号EがLレベルである場合、信号FはLレベルになっている。信号EがLレベルからHレベルに立ち上がると、所定時間Td1の経過後に、信号FがLレベルからHレベルに立ち上げられる。信号EがHレベルからLレベルに立ち下がると、所定時間Td1の経過後に、信号FがHレベルからLレベルに立ち下げられる。すなわち、遅延回路60は、信号Eの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジを所定時間Td1だけ遅延させて信号Fを生成する。所定時間Td1の設定方法については後述する。
比較器62は、遅延回路60の出力信号Fの値と閾値Sthとを比較し、比較結果を示す信号を出力する。閾値Sthは0以上1未満の値を有する。信号Fの値が閾値Sthよりも大きいとき、比較器62の出力信号の値は「1」となる。信号Fの値が閾値Sthよりも小さいとき、比較器62の出力信号の値は「0」となる。すなわち、比較器62は、信号FがHレベルのときに値「1」を出力し、信号FがLレベルのときに値「0」を出力する。
フリップフロップ64は、セット(S)に比較器62の出力信号を受け、リセット(R)に値「0」を受ける。S=1,R=0のとき、出力(Q)は「1」になる。出力(Q)S=0,R=0のとき、出力(Q)はその状態を維持する。すなわち、信号FがLレベルからHレベルに立ち上がると、フリップフロップ64は出力状態を「1」の状態に保持する。フリップフロップ64の出力は、信号DETとして出力端子T13を経由して主制御部40に与えられる。
このように判定部54では、EXOR回路52の出力信号EがLレベルからHレベルに立ち上がると、所定時間Td1の経過後に信号FがLレベルからHレベルに立ち上げられる。信号FがLレベルからHレベルに立ち上げられると、比較器62の出力信号のLレベルからHレベルに変化し、フリップフロップ64の出力信号DETはHレベルとなる(DET=1)。
ただし、EXOR回路52の出力信号EがLレベルからHレベルに立ち上がってから所定時間Td1の経過前に信号EがLレベルに立ち下がった場合には、信号FがLレベルからHレベルに立ち上げられないため、比較器62の出力信号はLレベルから変化することなく、フリップフロップ64の出力信号DETはLレベルとなる(DET=0)。
すなわち、EXOR回路52の出力信号EがLレベルからHレベルに立ち上がり、立ち上がりエッジから所定時間Td1に亘ってHレベルの状態を維持している場合、判定部54の出力信号DETはHレベルとなる。一方、信号Eが立ち上がりエッジから所定時間Td1に亘ってHレベルの状態を維持していない場合には、判定部54の出力信号DETはLレベルとなる。
上記構成によれば、2つの比較器50の出力信号Cが一致していない状態が所定時間Td1に亘って継続している場合には、判定部54は、当該2つの出力信号Cにそれぞれ対応する2つの半導体スイッチSWの端子間電圧Vが一致していないと判定し、Hレベルの信号DETを出力する。一方、2つの比較器50の出力信号Cが一致していない状態が所定時間Td1に亘って継続していない場合には、判定部54は、当該2つの出力信号Cにそれぞれ対応する2つの半導体スイッチSWの端子間電圧Vが一致していると判定し、Lレベルの信号DETを出力する。
次に、図4および図5を用いて、ゲート駆動回路GDの動作について説明する。ゲート駆動回路GD1~GDnの動作は基本的に同じであるため、代表的にゲート駆動回路GD2の動作を説明する。
ゲート駆動回路GD2では、比較器50は、半導体スイッチSW2の端子間電圧V2と閾値電圧Vthとを比較し、比較結果を示す信号C2をEXOR回路52および出力端子T16に出力する。入力端子T15は、ゲート駆動回路GD1の比較器50の出力信号C1を受ける。EXOR回路52は、比較器50の出力信号C2と、比較器50の出力信号C1との排他的論理和を算出し、算出結果を示す信号E2を出力する。信号C1と信号C2との値が一致するときに信号E2はLレベルとなり、信号C1と信号C2との値が一致しないときに信号E2はHレベルとなる。
判定部54は、EXOR回路52の出力信号E2に基づいて、2つの比較器50の出力信号C1,C2が一致しているか否かを判定する。信号C1,C2が一致していない状態が所定時間Td1に亘って継続している場合、判定部54は、信号C1,C2にそれぞれ対応する半導体スイッチSW1,SW2の端子間電圧V1,V2が一致していないと判定し、Hレベルの信号DET2を出力する。一方、信号C1,C2が一致していない状態が所定時間Td1に亘って継続していない場合には、判定部54は、信号C1,C2にそれぞれ対応する半導体スイッチSW1,SW2の端子間電圧V1,V2が一致していると判定し、Lレベルの信号DET2を出力する。
ゲート駆動回路GD3は、上述したゲート駆動回路GD2と同様の動作を行うことにより、信号DET3を出力する。ゲート駆動回路GD3の比較器50の出力信号C3と、ゲート駆動回路GD2の比較器50の出力信号C2とが一致していない状態が所定時間Td1に亘って継続している場合、判定部54は、信号C2,C3にそれぞれ対応する半導体スイッチSW2,SW3の端子間電圧V2,V3が一致していないと判定し、Hレベルの信号DET3を出力する。信号C2,C3が一致していない状態が所定時間Td1に亘って継続していない場合には、判定部54は、信号C2,C3にそれぞれ対応する半導体スイッチSW2,SW3の端子間電圧V2,V3が一致していると判定し、Lレベルの信号DET3を出力する。
ゲート駆動回路GD4は、上述したゲート駆動回路GD2と同様の動作を行うことにより、信号DET4を出力する。ゲート駆動回路GD4の比較器50の出力信号C4と、ゲート駆動回路GD3の比較器50の出力信号C3とが一致していない状態が所定時間Td1に亘って継続している場合、判定部54は、信号C3,C4にそれぞれ対応する半導体スイッチSW3,SW4の端子間電圧V3,V4が一致していないと判定し、Hレベルの信号DET4を出力する。信号C3,C4が一致していない状態が所定時間Td1に亘って継続していない場合には、判定部54は、信号C3,C4にそれぞれ対応する半導体スイッチSW3,SW4の端子間電圧V3,V4が一致していると判定し、Lレベルの信号DET4を出力する。
ゲート駆動回路GD1は、上述したゲート駆動回路GD2と同様の動作を行うことにより、信号DET1を出力する。ゲート駆動回路GD1の比較器50の出力信号C1と、ゲート駆動回路GD4の比較器50の出力信号C4とが一致していない状態が所定時間Td1に亘って継続している場合、判定部54は、信号C1,C4にそれぞれ対応する半導体スイッチSW1,SW4の端子間電圧V1,V4が一致していないと判定し、Hレベルの信号DET1を出力する。信号C1,C4が一致していない状態が所定時間Td1に亘って継続していない場合には、判定部54は、信号C1,C4にそれぞれ対応する半導体スイッチSW1,SW4の端子間電圧V1,V4が一致していると判定し、Lレベルの信号DET1を出力する。
主制御部40は、ゲート駆動回路GD1~GDnから信号DET1~DETnを受ける。主制御部40は、信号DET1~DETnに基づいて、半導体スイッチSW1~SWnの遮断異常が発生しているか否かを判定する。
図6は、主制御部40における半導体スイッチSWの遮断異常の判定処理を説明する図である。図6には、信号DET1~DET4の値と、当該値に基づいた主制御部40における判定結果とが例示されている。
ケース1は、信号DET1~DET4がいずれもLレベルとなっている場合を示している。Lレベルの信号DET1は、半導体スイッチSW1の端子間電圧V1と半導体スイッチSW4の端子間電圧V4とが一致していることを示している。Lレベルの信号DET2は、半導体スイッチSW1の端子間電圧V1と半導体スイッチSW2の端子間電圧V2とが一致していることを示している。Lレベルの信号DET3は、半導体スイッチSW2の端子間電圧V2と半導体スイッチSW3の端子間電圧V3とが一致していることを示している。Lレベルの信号DET4は、半導体スイッチSW3の端子間電圧V3と半導体スイッチSW4の端子間電圧V4とが一致していることを示している。
すなわち、信号DET1~DET4が何れもLレベルであることは、半導体スイッチSW1~SW4の端子間電圧V1~V4が互いに一致していることを意味している。この場合、主制御部40は、半導体スイッチSW~SW4の状態が互いに一致しており、半導体スイッチSW1~SW4が何れも正常にオフされていると判定する。
ケース2は、信号DET1,DET4がHレベルとなっており、信号DET2,DET3がLレベルとなっている場合を示している。Hレベルの信号DET1は、半導体スイッチSW1の端子間電圧V1と半導体スイッチSW4の端子間電圧V4とが一致していないことを示している。Lレベルの信号DET2は、半導体スイッチSW1の端子間電圧V1と半導体スイッチSW2の端子間電圧V2とが一致していることを示している。Lレベルの信号DET3は、半導体スイッチSW2の端子間電圧V2と半導体スイッチSW3の端子間電圧V3とが一致していることを示している。Hレベルの信号DET4は、半導体スイッチSW3の端子間電圧V3と半導体スイッチSW4の端子間電圧V4とが一致していないことを示している。
ケース2は、上述したケース1とは異なり、半導体スイッチSW1~SW4の端子間電圧V1~V4が一致していない。ただし、半導体スイッチSW1~SW3の端子間電圧V1~V3は互いに一致している。したがって、主制御部40は、半導体スイッチSW1~SW3の状態が互いに一致する一方で、半導体スイッチSW4の状態が半導体スイッチSW1~SW3の状態と一致していないと判定する。この場合、主制御部40は、半導体スイッチSW4の遮断異常が発生していると判定する。このように半導体スイッチSW1~SW4のうちの何れか1つの半導体スイッチSWにおいて遮断異常が発生した場合には、信号DET1~DET4のうちの2つがHレベルとなる。したがって、主制御部40は、信号DET1~DET4に基づいて、半導体スイッチSWの遮断異常を検出することができる。
ケース3は、信号DET1がHレベルとなっており、信号DET2,DET3,DET4がLレベルとなっている場合を示している。Hレベルの信号DET1は、半導体スイッチSW1の端子間電圧V1と半導体スイッチSW4の端子間電圧V4とが一致していないことを示している。Lレベルの信号DET2は、半導体スイッチSW1の端子間電圧V1と半導体スイッチSW2の端子間電圧V2とが一致していることを示している。Lレベルの信号DET3は、半導体スイッチSW2の端子間電圧V2と半導体スイッチSW3の端子間電圧V3とが一致していることを示している。Lレベルの信号DET4は、半導体スイッチSW3の端子間電圧V3と半導体スイッチSW4の端子間電圧V4とが一致していることを示している。
ケース3は、信号DET1~DET4のうちの1つがHレベルとなり、残り3つがLレベルとなっている。ケース2で示したように、半導体スイッチSW1~SW4のうちの1つに遮断異常が発生している場合には、信号DET1~DET4のうちの2つがHレベルとなる。したがって、ケース3では、主制御部40は、信号DET1,DET2の何れかの値が正しくないと判定する。この場合、主制御部40は、ゲート駆動回路GD1またはGD2において内部回路に故障が生じていると判定する。
次に、実施の形態1に係る電源装置10が奏する効果について説明する。
実施の形態1に係る電源装置10においては、交流電源1の異常時(交流電源1の停電時または瞬時電圧低下時)には、機械式スイッチ12に対してLレベルの制御信号S0が与えられるとともに、スイッチ回路14の半導体スイッチSW1~SWnに対して、Lレベルのゲート信号G1~Gnがそれぞれ与えられる。機械式スイッチ12および半導体スイッチSW1~SWnが瞬時にオフされるとともに、バッテリ3の直流電力が双方向コンバータ16によって交流電力に変換されて負荷2に供給される。なお、Lレベルの制御信号S0およびLレベルのゲート信号G1~Gnが与えられた時点から数マイクロ秒後に半導体スイッチSW1~SWnがオフされ、当該時点から数十ミリ秒後に機械式スイッチ12がオフされる。
半導体スイッチSWが正常にオフされると、半導体スイッチSWの端子間電圧Vは、交流電圧VIおよび交流電圧VOの電圧差に応じた電圧となる。半導体スイッチSWに遮断異常が生じている場合には、半導体スイッチSWが正常にオフされず、端子間電圧Vは零電圧となる。したがって、電圧検出器15により検出される端子間電圧Vの大きさに基づいて、半導体スイッチSWが正常にオフされているか否かを判定することができる。
しかしながら、実施の形態1に係る電源装置10においては、入力端子T1と出力端子T1との間に、機械式スイッチ12およびスイッチ回路14が直列に接続されている。そのため、機械式スイッチ12およびスイッチ回路14の半導体スイッチSW1~SWnがともにオフされると、交流電圧VIおよび交流電圧VOの電圧差がほとんど機械式スイッチ12の端子間に印加される。これは、半導体スイッチのオフ抵抗(オフ時の抵抗)に比べて、機械式スイッチ12のオフ抵抗が十分に大きいことによる。そのため、正常にオフされた半導体スイッチSWの端子間電圧Vは零電圧に近い値となり、遮断異常が生じている半導体スイッチSWの端子間電圧Vとの間に有意差が現れにくくなる。その結果、端子間電圧Vの検出値の大きさに基づいて遮断異常の発生を検出することが困難となる。
上述したように、実施の形態1では、制御装置30は、複数の半導体スイッチSW1~SWnの間で端子間電圧Vが互いに一致しているか否かを判定することにより、半導体スイッチSW1~SWnの遮断異常を検出するように構成される。具体的には、制御装置30は、半導体スイッチSW1~SWnの間で端子間電圧Vが互いに一致していないときに、半導体スイッチSW1~SWnの遮断異常を検出する。これによると、正常にオフされた半導体スイッチSWの端子間電圧Vが零電圧に近い値となった場合においても、半導体スイッチSW1~SWnの遮断異常の発生を検出することができる。
なお、2つの半導体スイッチSWの端子間電圧Vが一致しているか否かを判定する手法としては、図7に示す参考例のように、ゲート駆動回路GD2が、比較器50の出力信号C2と、ゲート駆動回路GD1から与えられる比較器50の出力信号C1とに基づいて、半導体スイッチSW1,SW2の端子間電圧V1,V2が一致しているか否かを判定するとともに、ゲート駆動回路GD4が、比較器50の出力信号C4と、ゲート駆動回路GD3から与えられる比較器50の出力信号C3とに基づいて、半導体スイッチSW3,SW4の端子間電圧V3,V4が一致しているか否かを判定する構成を採用することができる。図7の参考例においても、主制御部40は、信号DET2,DET4に基づいて、半導体スイッチSW1~SW4の遮断異常を検出することができる。
しかしながら、図7に示す参考例では、ゲート駆動回路GD2またはGD4が故障した場合には、信号DET2またはDET4が誤った値を示すために、半導体スイッチSW1~SW4の遮断異常を正確に検出できなくなるおそれがある。
これに対して、実施の形態1では、制御装置30は、1つの半導体スイッチSWの端子間電圧Vについて、2つのゲート駆動回路GDが一致/不一致を判定するように構成されている。そのため、1つの半導体スイッチSWの遮断異常が発生したときには、図6のケース2に示すように、2つのゲート駆動回路GDが、端子間電圧Vが一致していないと判定することになる。したがって、1つのゲート駆動回路GDの故障に起因して、誤って半導体スイッチSW1~SWnの遮断異常が検出されることを防ぐことができる。
なお、上述したように、各ゲート駆動回路GDにおいて、判定部54は、自己の比較器50の出力信号Cと、他の1つのゲート駆動回路GDの比較器50の出力信号Cとが一致していない状態が所定時間Td1に亘って継続している場合に、対応する2つの半導体スイッチSWの端子間電圧Vが一致していないと判定するように構成されている。以下、図8を用いて、判定部54における所定時間Td1の設定方法について説明する。
図8は、ゲート駆動回路GD1の動作を示すタイミングチャートである。
図8には、制御信号S0およびゲート信号G1~G4(制御信号S1~S4)の波形、機械式スイッチ12の状態を示す波形、および半導体スイッチSWの端子間電圧Vの波形が示されている。図8にはさらに、ゲート駆動回路GD1の比較器50の出力信号C1およびゲート駆動回路GD4の比較器50の出力信号C4の波形、およびゲート駆動回路GD1のEXOR回路52の出力信号E1および判定部54の出力信号DET1の波形が示されている。
図8に示すように、時刻t0にて、機械式スイッチ12および半導体スイッチSWは何れもオン状態となっている。交流電源1の異常が発生すると、制御装置30は、機械式スイッチ12に対してLレベルの制御信号S0を与えるとともに、半導体スイッチSWに対してLレベルのゲート信号Gを与える(時刻t1)。
時刻t1にて、制御信号S0およびゲート信号GがHレベルからLレベルに立ち下がると、機械式スイッチ12および半導体スイッチSWがオフされる。なお、機械式スイッチ12は、半導体スイッチSWがオフされるタイミングから遅れたタイミング(時刻t4)にてオフされる。
時刻t1にて、半導体スイッチSWは電流が流れている状態で突然オフされると、半導体スイッチSWの端子間にサージ電圧が発生する。続いて、スナバ回路SNに含まれるコンデンサに蓄えられた電荷が放電されることによって端子間電圧Vが徐々に低下する。なお、時刻t4にて機械式スイッチ12がオフされると、端子間電圧Vは零電圧に近い値となる。図8中の波形k1は、半導体スイッチSW1の端子間電圧V1の時間変化を示し、波形k2は、半導体スイッチSW4の端子間電圧V4の時間変化を示している。
半導体スイッチSW1,SW4はともに正常にオフされているものの、2つの波形k1,k2は完全には一致していない。これは、主に、スナバ回路SNに含まれるコンデンサの容量ばらつきに起因して、半導体スイッチSW1およびSW4の間でコンデンサの放電速度が異なることによる。
ゲート駆動回路GDにおいて、比較器50の出力信号Cは、対応する半導体スイッチSWの端子間電圧Vが閾値電圧Vthを下回ると、HレベルからLレベルに変化する。図8の例では、半導体スイッチSW1の端子間電圧V1と半導体スイッチSW4の端子間電圧V4とは波形が異なるため、ゲート駆動回路GD1内の比較器50の出力信号C1と、ゲート駆動回路GD4内の比較器50の出力信号C4とは、互いに異なるタイミングでHレベルからLレベルに変化する。具体的には、信号C1は時刻t2にてHレベルからLレベルに変化し、信号C4は時刻t2より後の時刻t3にてHレベルからLレベルに変化する。図中のΔtは時刻t2と時刻t3との時間差を示している。
ゲート駆動回路GD1において、EXOR回路52は、信号C1,C4の値が一致するときにLレベルの信号E1を出力し、信号C1,C4の値が一致しないときにHレベルの信号E1を出力する。図8の例では、信号E1は、信号C1,C4が不一致となる時間ΔtにおいてHレベルとなる。
判定部54は、EXOR回路52の出力信号E1に基づいて、2つの半導体スイッチSW1,SW4の端子間電圧V1,V4が一致しているか否かを判定し、判定結果を示す信号DET1を主制御部40に出力する。判定部54は、信号E1が所定時間Td1に亘ってHレベルを維持している場合、半導体スイッチSW1,SW4の端子間電圧V1,V4が一致していないと判定し、Hレベルの信号DET1を出力する。
ここで、所定時間Td1が時間Δtよりも短い場合には(Td1<Δt)、図8に示すように、判定部54は、時刻t3にてHレベルの信号DET1を出力することになる。その結果、Hレベルの信号DET1を受けた主制御部40は、半導体スイッチSW1,SW4が正常にオフされているにもかかわらず、半導体スイッチSW1,SW4の何れかに遮断異常が生じていると判定してしまう。このような誤判定を防ぐために、所定時間Td1は、時間差Δtに比べて十分に長い時間に設定する必要がある。
[実施の形態2]
実施の形態2では、ゲート駆動回路GD内の判定部54の第2の構成例について説明する。
図9は、図4に示した判定部54の第2の構成例を示す回路ブロック図である。図9に示すように、判定部54は、カウンタ66と、比較器68とを有する。
カウンタ66は、EXOR回路52の出力信号EがHレベルとなる回数をカウントし、カウント値を示す信号を出力する。カウンタ66は、EXOR回路52の出力信号Eが予め定められた所定時間Hレベルを維持するごとに、カウント値を1ずつインクリメントする。
比較器68は、カウンタ66のカウント値と閾値Cthとを比較し、比較結果を示す信号を出力する。閾値Cthは2以上の整数である。カウント値が閾値Cthよりも大きいとき、比較器68の出力信号はHレベルとなる。カウント値が閾値Cthよりも小さいとき、比較器68の出力信号はLレベルとなる。比較器68の出力は、信号DETとして出力端子T13を経由して主制御部40に与えられる。
このように判定部54では、EXOR回路52の出力信号EがHレベルとなる回数が閾値Cthを超えた場合、比較器68の出力信号がLレベルからHレベルに変化し、出力信号DETはHレベルになる。一方、EXOR回路52の出力信号EがHレベルとなる回数が閾値Cth未満である場合には、比較器68の出力信号はLレベルから変化することなく、出力信号DETはLレベルとなる。
上記構成によれば、2つの比較器50の出力信号Cが一致していない回数が閾値Cthを超える場合には、判定部54は、当該2つの出力信号Cにそれぞれ対応する2つの半導体スイッチSWの端子間電圧Vが一致していないと判定し、Hレベルの信号DETを出力する。一方、2つの比較器50の出力信号Cが一致していない回数が閾値Cth未満である場合には、判定部54は、当該2つの出力信号Cにそれぞれ対応する2つの半導体スイッチSWの端子間電圧Vが一致していると判定し、Lレベルの信号DETを出力する。
次に、図10を用いて、図9に示したゲート駆動回路GDの動作について説明する。ゲート駆動回路GD1~GDnの動作は基本的に同じであるため、代表的にゲート駆動回路GD1の動作を説明する。
図10は、ゲート駆動回路GD1の動作を示すタイミングチャートである。
図10には、制御信号S0およびゲート信号G1~G4(制御信号S1~S4)の波形、機械式スイッチ12の状態を示す波形、および半導体スイッチSWの端子間電圧Vの波形が示されている。図10にはさらに、ゲート駆動回路GD1の比較器50の出力信号C1およびゲート駆動回路GD4の比較器50の出力信号C4の波形、およびゲート駆動回路GD1のEXOR回路52の出力信号E1および判定部54の出力信号DET1の波形が示されている。
図10に示すように、時刻t0にて、機械式スイッチ12および半導体スイッチSWは何れもオン状態となっている。交流電源1の異常が発生すると、制御装置30は、機械式スイッチ12に対してLレベルの制御信号S0を与えるとともに、半導体スイッチSWに対してLレベルのゲート信号Gを与える。時刻t1にて、制御信号S0およびゲート信号GがHレベルからLレベルに立ち下がると、機械式スイッチ12および半導体スイッチSWがオフされる。なお、機械式スイッチ12は、半導体スイッチSWがオフされるタイミングから遅れたタイミング(時刻t11)にてオフされる。
時刻t1にて、半導体スイッチSWは電流が流れている状態で突然オフされると、半導体スイッチSWの端子間にサージ電圧が発生する。続いて、スナバ回路SNに含まれるコンデンサに蓄えられた電荷が放電されることによって端子間電圧Vが徐々に低下する。
なお、時刻t1以降、制御装置30は、電圧検出器20の検出値に基づいて、交流電圧VOが参照電圧VOrになるように双方向コンバータ16を制御する。交流電圧VOが正弦波となるため、交流電圧VIと交流電圧VOとの電圧差も正弦波となる。そのため、半導体スイッチSWの端子間電圧Vも正弦波となる。ただし、時刻t11にて機械式スイッチ12がオフされると、端子間電圧Vは零電圧に近い値となる。
図10中の波形k1は、半導体スイッチSW1の端子間電圧V1の時間変化を示し、波形k2は、半導体スイッチSW4の端子間電圧V4の時間変化を示している。図10では、図8とは異なり、半導体スイッチSW1は正常にオフされる一方で、半導体スイッチSW4は正常にオフされず、オン状態を維持しているものとする。
ゲート駆動回路GD1内の比較器50の出力信号C1は、時刻t1以降、端子間電圧V1の変化に応じてHレベルとLレベルとの間を遷移する。具体的には、信号C1は、端子間電圧V1は閾値電圧Vthより大きいときにHレベルとなり、端子間電圧V1が閾値電圧Vthより小さいときにLレベルとなる。一方、ゲート駆動回路GD4内の比較器50の出力信号C4は時刻t1以降もLレベルのままである。
ゲート駆動回路GD1において、EXOR回路52は、信号C1,C4の値が一致するときにLレベルの信号E1を出力し、信号C1,C4の値が一致しないときにHレベルの信号E1を出力する。
判定部54は、EXOR回路52の出力信号E1に基づいて、2つの半導体スイッチSW1,SW4の端子間電圧V1,V4が一致しているか否かを判定し、判定結果を示す信号DET1を主制御部40に出力する。判定部54は、信号E1がHレベルとなる回数をカウントし、カウント値が閾値Cthを超えたときに(時刻t8)、半導体スイッチSW1,SW4の端子間電圧V1,V4が一致していないと判定し、Hレベルの信号DET1を出力する。図10では、閾値CthはCth=4に設定されている。
主制御部40は、ゲート駆動回路GD1~GDnから信号DET1~DETnを受ける。主制御部40は、信号DET1~DETnに基づいて、半導体スイッチSW1~SWnの遮断異常が発生しているか否かを判定する。
以上説明したように、実施の形態2に係る電源装置10において、判定部54は、EXOR回路52の出力信号E1がHレベルとなる回数が閾値Cth(Cth≧2)を超えた場合に、半導体スイッチSW1,SW4の端子間電圧V1,V4が一致していないと判定し、Hレベルの信号DET1を出力する。これによると、図8で説明したように、端子間電圧Vの波形のばらつきに起因して、時間差Δtの間、信号E1が一時的にHレベルとなる場合に、カウント値が1インクリメントされる。ただし、カウント値が閾値Cth未満であるため、信号DET1はLレベルのままとなる。すなわち、信号DET1は、端子間電圧Vの波形のばらつきに影響されない。したがって、主制御部40が半導体スイッチSW1,SW4の何れかに遮断異常が生じていると誤って判定することを防止することができる。
[実施の形態3]
実施の形態3では、ゲート駆動回路GD内の判定部54の第3の構成例について説明する。
図11は、図4に示した判定部54の第3の構成例を示す回路ブロック図である。なお、ゲート駆動回路GD1~GDnの判定部54は同じ構成を備えるため、図11では、ゲート駆動回路GD1の判定部54を代表的に示す。
図11に示すように、判定部54は、遅延回路60と、比較器62と、フリップフロップ64と、オフディレイ回路70と、AND(論理積)回路72とを有する。図11に示す判定部54は、図5に示した判定部54に対して、オフディレイ回路70およびAND回路72を追加したものである。
オフディレイ回路70は、入力端子T14を経由して制御信号S1を受ける。オフディレイ回路70は、制御信号S1から判定部54における判定タイミングを生成するための遅延回路である。オフディレイ回路70は、制御信号S1がLレベルからHレベルに立ち上げられると、直ちに出力信号H1をLレベルからHレベルに立ち上げる。一方、オフディレイ回路70は、制御信号S1がHレベルからLレベルに立ち下げられると、予め定めた遅延時間Td2の経過後に、出力信号H1をHレベルからLレベルに立ち下げる。オフディレイ回路70の出力信号H1は、AND回路72の第1入力端子に入力される。遅延時間Td2は「第1の時間」に対応する。
AND回路72は、第1入力端子にオフディレイ回路70の出力信号H1を受け、第2入力端子にEXOR回路52の出力信号E1を受ける。AND回路72は、信号H1および信号E1の論理積を算出し、算出結果を示す信号E11を出力する。AND回路72は、信号H1がHレベルのときには信号E1をそのまま出力する。すなわち、E1=E11となる。一方、信号H1がLレベルのときには、AND回路72はLレベルの信号を出力する。これによると、オフディレイ回路70の出力信号H1がHレベルとなる期間において、判定部54は、EXOR回路52の出力信号E1に基づいて、半導体スイッチSW1,SW4の端子間電圧V1,V4が一致しているか否かを判定することになる。
遅延回路60は、AND回路72の出力信号E11を所定時間Td1だけ遅延させて信号F1を生成する。所定時間Td1は「第2の時間」に対応する。所定時間Td1は遅延時間Td2よりも短くなるように設定されている。
比較器62は、遅延回路60の出力信号F1の値と閾値Sthとを比較し、比較結果を示す信号を出力する。比較器62は、信号F1がHレベルのときに値「1」を出力し、信号F1がLレベルのときに値「0」を出力する。
フリップフロップ64は、セット(S)に比較器62の出力信号を受け、リセット(R)に値「0」を受ける。フリップフロップ64の出力は、信号DET1として出力端子T13を経由して主制御部40に与えられる。
上記構成によれば、オフディレイ回路70の出力信号H1がHレベルとなる期間において、EXOR回路52の出力信号E1が立ち上がりエッジから所定時間Td1に亘ってHレベルの状態を維持している場合には、判定部54の出力信号DET1はHレベルとなる。一方、当該期間において信号Eが立ち上がりエッジから所定時間Td1に亘ってHレベルの状態を維持していない場合には、信号DET1はLレベルとなる。また、オフディレイ回路70の出力信号H1がLレベルとなる期間においても、信号DET1はLレベルとなる。
このような構成とすることにより、オフディレイ回路70の出力信号H1がHレベルとなる期間において、比較器50の出力信号C1,C4が一致していない状態が所定時間Td1に亘って継続している場合には、判定部54は、半導体スイッチSW1,SW4の端子間電圧V1,V4が一致していないと判定し、Hレベルの信号DET1を出力する。
一方、比較器50の出力信号C1,C4が一致していない状態が所定時間Td1に亘って継続していない場合、またはオフディレイ回路70の出力信号H1がLレベルとなる期間には、判定部54はLレベルの信号DET1を出力する。
次に、図12を用いて、図11に示したゲート駆動回路GDの動作について説明する。ゲート駆動回路GD1~GDnの動作は基本的に同じであるため、代表的にゲート駆動回路GD1の動作を説明する。
図12は、ゲート駆動回路GD1の動作を示すタイミングチャートである。
図12には、制御信号S0およびゲート信号G1~G4(制御信号S1~S4)の波形、機械式スイッチ12の状態を示す波形、および半導体スイッチSWの端子間電圧Vの波形が示されている。図12にはさらに、ゲート駆動回路GD1の比較器50の出力信号C1およびゲート駆動回路GD4の比較器50の出力信号C4の波形、およびゲート駆動回路GD1のEXOR回路52の出力信号E1、オフディレイ回路70の出力信号H1、AND回路72の出力信号E11および判定部54の出力信号DET1の波形が示されている。
図12に示すように、時刻t0にて、機械式スイッチ12および半導体スイッチSWは何れもオン状態となっている。交流電源1の異常が発生すると、制御装置30は、機械式スイッチ12に対してLレベルの制御信号S0を与えるとともに、半導体スイッチSWに対してLレベルのゲート信号Gを与える。時刻t1にて、制御信号S0およびゲート信号GがHレベルからLレベルに立ち下がると、機械式スイッチ12および半導体スイッチSWがオフされる。なお、機械式スイッチ12は、半導体スイッチSWがオフされるタイミングから遅れたタイミング(時刻t6)にてオフされる。
時刻t1にて、半導体スイッチSWは電流が流れている状態で突然オフされると、半導体スイッチSWの端子間にサージ電圧が発生する。続いて、スナバ回路SNに含まれるコンデンサに蓄えられた電荷が放電されることによって端子間電圧Vが徐々に低下する。時刻t3から時刻t5までの期間は、コンデンサの放電期間に相当する。時刻t6にて機械式スイッチ12がオフされると、端子間電圧Vは零電圧に近い値となる。
図12中の波形k1は、半導体スイッチSW1の端子間電圧V1の時間変化を示し、波形k2は、半導体スイッチSW4の端子間電圧V4の時間変化を示している。図12では、図8とは異なり、半導体スイッチSW1は正常にオフされる一方で、半導体スイッチSW4は正常にオフされず、オン状態を維持しているものとする。
ゲート駆動回路GD1内の比較器50の出力信号C1は、時刻t1以降、端子間電圧V1の変化に応じてHレベルとLレベルとの間を遷移する。具体的には、信号C1は、端子間電圧V1は閾値電圧Vthより大きいときにHレベルとなり、端子間電圧V1が閾値電圧Vthより小さいときにLレベルとなる。一方、ゲート駆動回路GD4内の比較器50の出力信号C4は時刻t1以降もLレベルのままである。
ゲート駆動回路GD1において、EXOR回路52は、信号C1,C4の値が一致するときにLレベルの信号E1を出力し、信号C1,C4の値が一致しないときにHレベルの信号E1を出力する。図12の例では、時刻t1から時刻t4までの期間、信号E1はHレベルとなっている。
判定部54において、オフディレイ回路70の出力信号H1は、制御信号S1がLレベルに立ち下げられてから(時刻t1)から遅延時間Td2の経過後に(時刻t2)、Lレベルに立ち下げられる。AND回路72は、信号E1と信号H1との論理積を算出し、算出結果を示す信号E11を出力する。信号E11は、信号H1がHレベルのとき、信号E1と同じ値となり、信号H1がLレベルのとき、Lレベルに固定される。図12では、信号E11は、時刻t1から時刻t2までの期間(遅延時間Td2に相当)、Hレベルとなる。
判定部54は、AND回路72の出力信号E11に基づいて、2つの半導体スイッチSW1,SW4の端子間電圧V1,V4が一致しているか否かを判定し、判定結果を示す信号DET1を主制御部40に出力する。判定部54は、信号E11が所定時間Td1に亘ってHレベルを維持している場合、半導体スイッチSW1,SW4の端子間電圧V1,V4が一致していないと判定し、Hレベルの信号DET1を出力する。
主制御部40は、ゲート駆動回路GD1~GDnから信号DET1~DETnを受ける。主制御部40は、信号DET1~DETnに基づいて、半導体スイッチSW1~SWnの遮断異常が発生しているか否かを判定する。
以上説明したように、実施の形態3に係る電源装置10において、判定部54は、制御信号S1(ゲート信号G1)がLレベルに立ち下げられてから(時刻t1)から遅延時間Td2が経過するまで(時刻t2)までの期間に、半導体スイッチSW1,SW4の端子間電圧V1,V4が一致しているか否かを判定するように構成される。すなわち、遅延時間Td2は、判定部54における判定タイミングに相当する。
上記構成において、遅延時間Td2は、スナバ回路SNのコンデンサの放電期間(図中の時刻t3~t5の期間)を含まないように設定される。これによると、図8で説明したように、コンデンサの放電期間において、端子間電圧Vの波形のばらつきに起因して信号E1が一時的にHレベルとなる場合においても、判定部54の判定タイミングが既に終了しているため、信号DET1はLレベルのままとなる。したがって、主制御部40が半導体スイッチSW1,SW4の何れかに遮断異常が生じていると誤って判定することを防止することができる。
なお、実施の形態3では、判定部54における所定時間Td1は、遅延時間Td2よりも短い時間に設定される。実施の形態1のようにスナバ回路SNのコンデンサの容量ばらつきを考慮して所定時間Td1を設定する必要がないため、実施の形態3における所定時間Td1は、実施の形態1における所定時間Td1に比べて、十分に短い時間に設定することができる。その結果、制御信号SがLレベルに立ち下げられてから短時間で半導体スイッチSW1~SWnの遮断異常を検出することができる。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本開示は上記した説明ではなくて請求の範囲に示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 交流電源、2 負荷、3 バッテリ、10 電源装置、12 機械式スイッチ、14 スイッチ回路、16 双方向コンバータ、15,18,20 電圧検出器、30 制御装置、40 主制御部、50,62,68 比較器、52 EXOR回路、54 判定部、56 ドライバ、60 遅延回路、64 フリップフロップ、66 カウンタ、70 オフディレイ回路、72 AND回路、SW1~SWn,SW 半導体スイッチ、Q1~Qn,QA,QB IGBT、D1~Dn,DA,DB ダイオード、SN1~SNn,SN スナバ回路、Z1~Zn,Z バリスタ、T1,T11,T14,T15 入力端子、T2,T12,T13,T16 出力端子、T3 直流端子。

Claims (9)

  1. 交流電源から供給される交流電圧を受ける第1の端子と、
    負荷に接続される第2の端子と、
    前記第1の端子および前記第2の端子間に直列に接続される複数の半導体スイッチと、
    前記第1の端子および前記第2の端子間に、前記複数の半導体スイッチと直列に接続される機械式スイッチと、
    前記複数の半導体スイッチにそれぞれ対応して設けられ、対応する半導体スイッチの端子間電圧を検出する複数の電圧検出器と、
    制御装置とを備え、
    前記制御装置は、
    前記第1の端子が受ける前記交流電圧に基づいて、前記複数の半導体スイッチおよび前記機械式スイッチのオンオフを制御する主制御部と、
    前記複数の半導体スイッチにそれぞれ対応して設けられ、前記主制御部からの遮断指令に応答して、対応する半導体スイッチをオフさせる複数の駆動回路とを含み、
    前記複数の駆動回路の各々は、前記対応する半導体スイッチの端子間電圧と、前記複数の半導体スイッチの他の1つの半導体スイッチの端子間電圧とが一致しているか否かを判定し、判定結果を出力する判定部を含み、
    前記主制御部は、前記複数の駆動回路の各々から与えられる前記判定部の出力信号に基づいて、前記複数の半導体スイッチが正常にオフされない遮断異常を検出する、電源装置。
  2. 前記複数の駆動回路の各々において、前記判定部は、前記対応する半導体スイッチに設けられた電圧検出器の検出値と閾値との比較結果と、前記他の1つの半導体スイッチに設けられた電圧検出器の検出値と前記閾値との比較結果とが一致していない状態が所定時間継続した場合に、前記対応する半導体スイッチの端子間電圧と、前記他の1つの半導体スイッチの端子間電圧とが一致していないと判定する、請求項1に記載の電源装置。
  3. 前記複数の駆動回路の各々において、前記判定部は、前記対応する半導体スイッチに設けられた電圧検出器の検出値と閾値との比較結果と、前記他の1つの半導体スイッチに設けられた電圧検出器の検出値と前記閾値との比較結果とが一致していない状態となる回数が2以上の所定回数を超えた場合に、前記対応する半導体スイッチの端子間電圧と、前記他の1つの半導体スイッチの端子間電圧とが一致していないと判定する、請求項1に記載の電源装置。
  4. 前記複数の駆動回路の各々において、前記判定部は、前記主制御部から前記遮断指令を受けてから第1の時間内に、前記対応する半導体スイッチに設けられた電圧検出器の検出値と閾値との比較結果と、前記他の1つの半導体スイッチに設けられた電圧検出器の検出値と前記閾値との比較結果とが一致していない状態が、前記第1の時間より短い第2の時間継続した場合に、前記対応する半導体スイッチの端子間電圧と、前記他の1つの半導体スイッチの端子間電圧とが一致していないと判定する、請求項1に記載の電源装置。
  5. 前記第2の端子と電力貯蔵装置との間で電力を授受する電力変換器をさらに備え、
    前記主制御部は、前記交流電源から正常に前記交流電圧が供給される場合に、前記複数の半導体スイッチおよび前記機械式スイッチをオンさせるとともに、前記交流電圧を直流電圧に変換して前記電力貯蔵装置に供給するように前記電力変換器を制御し、
    前記主制御部は、前記交流電源から正常に前記交流電圧が供給されない場合に、前記複数の半導体スイッチおよび前記機械式スイッチをオフさせるとともに、前記電力貯蔵装置の直流電圧を交流電圧に変換して前記第2の端子に出力するように前記電力変換器を制御する、請求項1から4のいずれか1項に記載の電源装置。
  6. 前記複数の半導体スイッチの各々は、互いに並列に接続された半導体スイッチング素子およびスナバ回路を含む、請求項1から5のいずれか1項に記載の電源装置。
  7. 前記複数の半導体スイッチは、第1から第n(nは2以上の整数)の半導体スイッチを含み、
    前記複数の電圧検出器は、前記第1から第nの半導体スイッチにそれぞれ対応して設けられた第1から第nの電圧検出器を含み、
    前記複数の駆動回路は、前記第1から第nの半導体スイッチにそれぞれ対応して設けられた第1から第nの駆動回路を含み、
    第i(iは2以上n以下の整数)の駆動回路において、前記判定部は、第iの半導体スイッチの端子間電圧と第(i-1)の半導体スイッチの端子間電圧とが一致しているか否かを判定し、
    前記第1の駆動回路において、前記判定部は、前記第1の半導体スイッチの端子間電圧と前記第nの半導体スイッチの端子間電圧とが一致しているか否かを判定し、
    前記主制御部は、前記第1から第nの駆動回路の各々から与えられる前記判定部の出力信号に基づいて、前記第1から第nの半導体スイッチの遮断異常を検出する、請求項1に記載の電源装置。
  8. 前記主制御部は、前記第1から第nの駆動回路のうち2以上の駆動回路において、前記判定部が、2個の半導体スイッチの端子間電圧が一致していないと判定した場合に、前記第1から第nの半導体スイッチの遮断異常を検出する、請求項7に記載の電源装置。
  9. 前記主制御部は、前記第1から第nの駆動回路のいずれか1つの駆動回路のみにおいて、前記判定部が、2個の半導体スイッチの端子間電圧が一致していないと判定した場合に、前記第1から第nの駆動回路の故障を検出する、請求項7または8に記載の電源装置。
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