JP6666526B1 - 電源装置 - Google Patents

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Abstract

スイッチ回路(11)は、入力ノード(N1)と出力ノード(N2)との間に直列に接続されるn個(n≧2)のスイッチング素子(SW)を含む。制御装置(20)は、n個のスイッチング素子(SW)の導通指令を出力している状態において、交流電源(1)およびスイッチ回路(11)の少なくとも一方の異常が検知された場合には、電力変換器(12)の制御によって、電力貯蔵装置(3)の直流電力を、正常時に交流電源(1)から供給される交流電力に同期した交流電力に変換して出力ノード(N2)へ供給する。制御装置(20)は、さらに、電力変換器(12)における電力変換の実行中にn個のスイッチング素子(SW)を遮断するための遮断指令を発生し、かつ、遮断指令の発生中、n個のスイッチング素子(SW)の端子間電圧に基づいてスイッチ回路(11)の遮断についての異常を検知する。

Description

この発明は、電源装置に関する。
特開平2−106158号公報(特許文献1)には、複数の自己消弧型の半導体スイッチング素子を直列接続して構成された回路を有する電力変換装置が開示される。特許文献1には、各半導体スイッチング素子に対し、遮断不能を検出するための検出手段を設ける。検出手段は、半導体スイッチング素子であるGTO(Gate Turn-Off thyristor)の端子間電圧を利用して、遮断不能を検出するように構成される。
特開平2−106158号公報
負荷に交流電力を供給するための電源装置として、瞬停補償装置(Multiple Power Compensator)がある。瞬停補償装置は、一般的に、交流電源および負荷の間に接続され、交流電源の停電または瞬時電圧低下が発生した場合であっても安定した交流電力を無瞬断で負荷に供給することが可能に構成される。
瞬停補償装置において、交流電源および負荷の間には、複数の半導体スイッチング素子を直列接続して構成されたスイッチ回路が設けられている。通常時は複数の半導体スイッチング素子を導通(オン)させることにより、交流電源の交流電力を負荷へ供給する。一方、停電または瞬時電圧低下の発生時や制御異常の発生時には、複数の半導体スイッチング素子を遮断(オフ)して交流電源を遮断するとともに、双方向コンバータが電力貯蔵装置から負荷への電力供給を開始する。
このような電源装置において、複数の半導体スイッチング素子のいずれかが遮断不能となると、スイッチ回路の内部では、スイッチ回路の入力端子および出力端子の電圧差が、正常にオフされた一部の半導体スイッチング素子に集中的に印加される可能性がある。したがって、半導体スイッチング素子の遮断不能を検知する手段が必要となる。
しかしながら、電源装置においてスイッチ回路が遮断される場面では、双方向コンバータの制御によって、スイッチ回路の出力側には、スイッチ回路の入力側にされる交流電圧と同期した交流電圧が供給されている。そのため、スイッチ回路の入力電圧と出力電圧とが同等の電圧レベルとなっている場合がある。このような場合、スイッチ回路内部では、正常にオフされた半導体スイッチング素子の端子間に有意な電圧差が生じていない。そのため、上記特許文献1に記載されるように、半導体スイッチング素子の端子間電圧を利用すると、誤って遮断不能を検知することが懸念される。
この発明は上述のような問題点を解決するためになされたものであって、この発明の目的は、電源装置において、直列接続された複数の半導体スイッチング素子を有するスイッチ回路の遮断についての異常を正確に検知することである。
この発明によれば、負荷に電力を供給する電源装置は、スイッチ回路と、電力変換器と、スイッチ回路および電力変換器を制御する制御装置とを備える。スイッチ回路は、交流電源に接続される入力ノードと、負荷に接続される出力ノードとを有する。電力変換器は、出力ノードに出力される交流電力と電力貯蔵装置に入出力される直流電力との間で双方向の電力変換を実行するように構成される。スイッチ回路は、入力ノードと出力ノードとの間に直列に接続されるn個(nは2以上の整数)のスイッチング素子を含む。制御装置は、n個のスイッチング素子を導通するための導通指令を出力している状態において、交流電源およびスイッチ回路の少なくとも一方の異常が検知された場合には、電力変換器の制御によって、電力貯蔵装置の直流電力を、正常時に交流電源から供給される交流電力に同期した交流電力に変換して出力ノードへ供給するように構成される。制御装置は、さらに、電力変換器における電力変換の実行中にn個のスイッチング素子を遮断するための遮断指令を発生し、かつ、遮断指令の発生中、n個のスイッチング素子の端子間電圧に基づいてスイッチ回路の遮断についての異常を検知する。
この発明によれば、電源装置において、直列接続された複数の半導体スイッチング素子を有するスイッチ回路の遮断についての異常を正確に検知することができる。
この発明の実施の形態1に従う電源装置の概略構成を示す図である。 通常時における電力供給経路を説明するための図である。 異常時における電力供給経路を説明するための図である。 実施の形態1に従う電源装置の制御処理を説明するフローチャートである。 図4のステップS05に示す遮断異常判定処理を実行する判定部の第1の構成例を説明するためのブロック図である。 図4のステップS05に示す遮断異常判定処理を実行する判定部の第2の構成例を説明するためのブロック図である。 図4のステップS05に示す遮断異常判定処理を実行する判定部の第3の構成例を説明するためのブロック図である。 第1から第3の制御構成例の判定部が検知できる遮断異常の態様を比較した結果を示す図である。 図4のステップS05に示す遮断異常判定処理を実行する判定部の第4の構成例を説明するためのブロック図である。 実施の形態4に従う電源装置の制御処理を説明するフローチャートである。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。なお、以下では図中の同一または相当部分には同一符号を付してその説明は原則的に繰返さないものとする。
[実施の形態1]
図1は、この発明の実施の形態1に従う電源装置の概略構成を示す図である。
図1を参照して、電源装置10は、交流電源1および負荷2の間に接続され、交流電源1から交流電力を受けて負荷2に交流電力を供給するように構成される。電源装置10は、例えば、交流電源1の停電または瞬時電圧低下が発生した場合において、安定した交流電力を無瞬断で負荷2に供給するための装置(例えば、瞬停補償装置)に適用され得る。なお、図1では、一相の交流電力に関連する部分のみが示されているが、電源装置10は三相交流電力を受けて三相交流電力を出力するようにしてもよい。
交流電源1は、代表的には商用交流電源であり、商用周波数の交流電力を電源装置10に供給する。負荷2は、電源装置10から供給される商用周波数の交流電力によって駆動される。
図1に示すように、電源装置10は、入力端子T1、出力端子T2、直流端子T3、スイッチ回路11、双方向コンバータ12、電圧検出器14,16,18、および制御装置20を備える。
入力端子T1は、交流電源1に電気的に接続されており、交流電源1から供給される商用周波数の交流電力を受ける。出力端子T2は負荷2に接続される。直流端子T3はバッテリ3に接続される。バッテリ3は、直流電力を蓄積する「電力貯蔵装置」の一実施例に対応する。電力貯蔵装置として、バッテリ3に代えて、電気二重層コンデンサを直流端子T3に接続してもよい。
スイッチ回路11は、入力端子T1および出力端子T2の間に接続され、交流電源1と負荷2との電気的接続および遮断を切り替えるように構成される。具体的には、スイッチ回路11は、入力ノードN1および出力ノードN2と、n個(nは2以上の整数)の半導体スイッチング素子SW1〜SWnとを有する。入力ノードN1は入力端子T1に接続され、出力ノードN2は出力端子T2に接続される。
n個の半導体スイッチング素子SW1〜SWnは、入力ノードN1および出力ノードN2の間に直列に接続される。半導体スイッチング素子SW1〜SWnは、制御装置20からそれぞれ入力される制御信号S1〜Snによって、導通(オン)および遮断(オフ)が制御される。以下では、半導体スイッチング素子SW1〜SWnを包括的に表記する場合には、単に「半導体スイッチング素子SW」とも称し、制御信号S1〜Snを包括的に表記する場合には、単に「制御信号S」とも称する。
半導体スイッチング素子SWは、H(論理ハイ)レベルの制御信号Sによってオンされ、L(論理ロー)レベルの制御信号Sによってオフされる。すなわち、Hレベルの制御信号Sは半導体スイッチング素子SWをオンするためのオン指令(導通指令)に相当し、Lレベルの制御信号Sは半導体スイッチング素子SWをオフするためのオフ指令(遮断指令)に相当する。
半導体スイッチング素子SWは、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)、GCT(Gate Commutated Turn-off)サイリスタ等の任意の自己消弧型のスイッチング素子に対して、FWD(Freewheeling Diode)を逆並列に接続することによって構成することができる。本実施の形態では、半導体スイッチング素子をスイッチ回路11内の「スイッチング素子」として使用するが、制御装置20によってオンオフが制御されて、電流の通過および遮断が制御可能であれば、その他のスイッチング素子を半導体スイッチング素子SWに代えて用いることも可能である。
双方向コンバータ12は、スイッチ回路11の出力ノードN2と直流端子T3との間に接続される。双方向コンバータ12は、出力ノードN2に出力される交流電力とバッテリ3に入出力される直流電力との間で双方向の電力変換を行なうように構成される。双方向コンバータ12は「電力変換器」の一実施例に対応する。
双方向コンバータ12は、交流電源1から交流電力が供給されている通常時は、交流電源1からの交流電力を直流電力に変換し、その直流電力をバッテリ3に蓄える。一方、交流電源1からの交流電力の供給が停止する停電もしくは、交流電源1の瞬時電圧低下の発生時には、双方向コンバータ12は、バッテリ3の直流電力を商用周波数の交流電力に変換し、その交流電力を負荷2に与える。
双方向コンバータ12は、図示は省略するが、複数の半導体スイッチング素子を有する。複数の半導体スイッチング素子は、制御装置20により生成される制御信号によってオンオフが制御される。制御信号は、パルス信号列であり、PWM(Pulse Width Modulation)信号である。双方向コンバータ12は、制御信号に応答して複数の半導体スイッチング素子を所定のタイミングでオンまたはオフさせることにより、出力ノードN2に出力される交流電力と直流端子T3に入出力される直流電力との間で双方向の電力変換を実行することができる。
電圧検出器14は、スイッチ回路11の入力ノードN1に入力される交流電圧(以下、「入力電圧Vin」とも称する)を検出する。電圧検出器16は、スイッチ回路11の出力ノードN2に出力される交流電圧(以下、「出力電圧Vout」とも称する)を検出する。
電圧検出器18は、半導体スイッチング素子SWの端子間電圧を検出する。図1の例では、電圧検出器18は、IGBTのコレクタ端子およびエミッタ端子間の電圧を検出するように構成される。電圧検出器18によって検出される検出値V1〜Vnは、それぞれ、半導体スイッチング素子SW1〜SWnの端子間電圧に対応する。以下では、端子間電圧V1〜Vnを包括的に表記する場合には、単に「端子間電圧V」とも称する。
制御装置20は、図示しない上位コントローラからの指令や、電圧検出器14,16,18から入力された検出信号などを用いて、スイッチ回路11(半導体スイッチング素子SW)のオンオフおよび双方向コンバータ12の運転を制御する。制御装置20は、例えばマイクロコンピュータなどで構成することが可能である。一例として、制御装置20は、図示しないCPU(Central Processing Unit)およびメモリを内蔵し、メモリに予め格納されたプログラムをCPUが実行することによるソフトウェア処理によって、以下で説明する制御動作を実行することができる。あるいは、当該制御動作の一部または全部について、ソフトウェア処理に代えて、内蔵された専用の電子回路などを用いたハードウェア処理によって実現することも可能である。
次に、図2および図3を参照して、本実施の形態に従う電源装置10の動作について説明する。
図2は、通常時における電力供給経路を説明するための図である。
図2を参照して、交流電源1から正常に電力が供給される通常時には、制御装置20は、スイッチ回路11を構成する半導体スイッチング素子SW1〜SWnに対して、Hレベルの制御信号S1〜Sn(導通指令)をそれぞれ与える。半導体スイッチング素子SW1〜SWnがオンすることにより、スイッチ回路11がオン状態となり、交流電源1および負荷2が電気的に接続される。この結果、図中に矢印で示すように、交流電源1からの交流電力はスイッチ回路11を経由して負荷2に供給される。
交流電源1からの交流電力は、さらに、双方向コンバータ12によって直流電力に変換されてバッテリ3に蓄えられる。バッテリ3の端子間電圧が所定の充電停止電圧に達した場合には、制御装置20は、双方向コンバータ12の運転を停止させる。
図3は、異常時における電力供給経路を説明するための図である。
図3を参照して、交流電源1からの交流電力の供給が停止された停電時、または交流電源1の供給電圧が瞬間的に低下する瞬時電圧低下の発生時、バッテリ3の直流電力が双方向コンバータ12によって交流電力に変換され、その交流電力が出力端子T2を介して負荷2に供給される。
このとき、制御装置20は、双方向コンバータ12から出力ノードN2に出力される交流電圧(出力電圧Vout)が、異常発生前の交流電源1から入力ノードN1に入力される交流電圧(入力電圧Vin)に同期するように双方向コンバータ12における電力変換を制御する。これによると、電力供給経路の切り替え時に電圧が変動または瞬断することを抑制することができる。
双方向コンバータ12の運転中、制御装置20は、スイッチ回路11の半導体スイッチング素子SW1〜SWnに対して、Lレベルの制御信号S1〜Sn(遮断指令)をそれぞれ与える。半導体スイッチング素子SW1〜SWnがオフすることにより、スイッチ回路11がオフ状態となり、交流電源1および負荷2が電気的に遮断される。
この結果、異常時には、図中に矢印で示すように、バッテリ3の直流電力が双方向コンバータ12を経由して負荷2に供給される。バッテリ3の端子間電圧が所定の放電停止電圧に低下すると、制御装置20は、双方向コンバータ12の運転を停止させる。
なお、スイッチ回路11において素子故障または制御異常が発生した場合においても、双方向コンバータ12を運転するとともに、スイッチ回路11をオフすることにより、図3に示した電力供給経路を用いて負荷2に安定した電力を供給し続けることができる。この結果、交流電源1またはスイッチ回路11に異常が発生した場合であっても、無瞬断で負荷2に安定した電力を供給し続けることが可能となる。
しかしながら、半導体スイッチング素子SW1〜SWnの一部において遮断不能となる異常が生じている場合、遮断指令の発生中、当該一部の半導体スイッチング素子SWがオフせず、オン状態を維持する一方で、残りの半導体スイッチング素子SWがオフするという不揃いの状態が発生することがある。このように直列接続される半導体スイッチング素子SW1〜SWnに不揃いの状態が発生すると、入力ノードN1および出力ノードN2の電圧差が、オフ状態となっている残りの半導体スイッチング素子SWに集中的に印加されることになる。したがって、当該残りの半導体スイッチング素子SWに過電圧が印加されることが懸念される。
そこで、本実施の形態では、制御装置20は、遮断指令の発生中、スイッチ回路11の遮断についての異常を検知するように構成される。図4は、実施の形態1に従う電源装置10の制御処理を説明するフローチャートである。制御装置20は、図4に示される制御処理を周期的に実行する。
図4を参照して、ステップS01では、制御装置20は、交流電源1の電圧低下が発生したか否かを判定する。具体的には、制御装置20は、電圧検出器14による入力電圧Vinの検出値に基づいて、交流電源1に停電または瞬時電圧低下が発生したか否かを判定する。例えば、制御装置20は、電圧検出器14の検出値の最大値(または実効値)と所定の基準値とを比較することにより、停電または瞬時電圧低下が発生したか否かを判定する。
交流電源1の電圧低下が発生していない場合(S01のNO判定時)、制御装置20は、ステップS02により、スイッチ回路11の異常が発生していないか否かを判定する。例えば、少なくとも1つの半導体スイッチング素子SWの故障または半導体スイッチング素子SWに含まれるIGBTのゲート駆動回路の故障などによる制御異常が発生している場合、制御装置20はスイッチ回路11の異常と判定する。
スイッチ回路11が正常である場合(S02のNO判定時)、制御装置20は、ステップS06により、スイッチ回路11の半導体スイッチング素子SWに導通指令を与える。
一方、交流電源1の電圧低下が発生している場合(S01のYES判定時)、またはスイッチ回路11の異常が発生している場合(S02のYES判定時)には、制御装置20は、ステップS03に進み、双方向コンバータ12の制御によって、バッテリ3の直流電力を商用周波数の交流電力に変換し、その交流電力を負荷2に与える。制御装置20は、双方向コンバータ12から出力ノードN2に出力される交流電圧(出力電圧Vout)が、電圧低下発生前の交流電源1から入力ノードN1に与えられる交流電圧(入力電圧Vin)に同期するように、双方向コンバータ12における電力変換を制御する。バッテリ3は、交流電源1からの交流電力による充電から、負荷2に電力を供給するための放電に切り替えられる。
制御装置20は、双方向コンバータ12の運転中、ステップS04により、スイッチ回路11の半導体スイッチング素子SW1〜SWnに対して遮断指令を発生する。遮断指令の発生中、ステップS05により、制御装置20は、スイッチ回路11の遮断における異常の有無を判定する遮断異常判定処理を実行する。
図5は、図4のステップS05に示す遮断異常判定処理を実行する判定部の第1の構成例を説明するためのブロック図である。図5に示される各ブロックの機能は、制御装置20によるソフトウェア処理および/またはハードウェア処理によって実現することができる。
図5を参照して、判定部22Aは、減算器30と、比較器32と、n個の比較器34_1〜34_nと、論理和回路36と、論理積回路38とを有する。
減算器30は、電圧検出器14による入力電圧Vinの検出値と、電圧検出器16による出力電圧Voutの検出値との電圧差を算出する。比較器32は、入力電圧Vinおよび出力電圧Voutの電圧差と閾値Vth1とを比較し、比較結果を示す信号を出力する。電圧差が閾値Vth1よりも大きいとき、比較器32の出力信号はHレベルとなり、電圧差が閾値Vth1よりも小さいとき、比較器32の出力信号はLレベルとなる。閾値Vth1は「第1の閾値」の一実施例に対応する。
n個の比較器34_1〜34_nは、n個の電圧検出器18による半導体スイッチング素子の端子間電圧V1〜Vnをそれぞれ受ける。比較器34_1〜34_nを包括的に表記する場合には、単に「比較器34」とも称する。比較器34は、対応する半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vと基準値Vref1とを比較し、比較結果を示す信号を出力する。端子間電圧Vが基準値Vref1よりも小さいとき、比較器34の出力信号はHレベルとなり、端子間電圧Vが基準値Vref1よりも大きいとき、比較器34の出力信号はLレベルとなる。基準値Vref1は「基準値」の一実施例に対応する。
論理和回路36は、比較器34_1〜34_nの出力信号の論理和(OR)を算出し、算出結果を示す信号を出力する。
論理積回路38は、比較器32の出力信号と論理和回路36の出力信号との論理積(AND)を算出し、算出結果を示す信号を出力する。論理積回路38の出力信号は検出信号DETとして、電源装置の10外部(例えば上位コントローラ)へ出力される。
判定部22Aによれば、入力電圧Vinおよび出力電圧Voutの電圧差が閾値Vth1より大きい場合において、n個の半導体スイッチング素子SW1〜SWnのうちのp個(1≦p≦n)の半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vが基準値Vref1よりも小さいときに、Hレベルの検出信号DETが出力されることになる。
これによると、交流電源1の異常により入力電圧Vinが低下し、双方向コンバータ12が出力電圧Voutを生成した場合、入力電圧Vinおよび出力電圧Voutの電圧差が閾値Vth1よりも大きくなる。この状態でn個の半導体スイッチング素子SW1〜SWnには遮断指令が与えられる。遮断指令に従って半導体スイッチング素子SWが正常にオフすると、当該半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vが基準値Vref1よりも大きくなる。一方、当該半導体スイッチング素子SWが遮断不能となる異常が生じていると、当該半導体スイッチング素子SWはオン状態を維持するため、端子間電圧Vは基準値Vref1よりも小さくなる。
n個の半導体スイッチング素子SW1〜SWnのうち、遮断不能となる半導体スイッチング素子SWがp個(1≦p≦n)含まれている場合、判定部22AからHレベルの検出信号DETが出力される。
なお、判定部22Aによる遮断異常判定処理によれば、入力電圧Vinおよび出力電圧Voutの電圧差が閾値Vth1よりも小さい場合には、正常にオフされた半導体スイッチング素子SWの端子間電圧に有意な電圧差が生じないため、遮断異常を検知することができない。
詳細には、スイッチ回路11の異常発生(ただし、交流電源1は正常)に起因して双方向コンバータ12によって出力電圧Voutが生成され(図4のS03)、かつ、スイッチ回路11に遮断指令が出力された場合(図4のS04)には、入力電圧Vinおよび出力電圧Voutが同等レベルであるために、正常にオフされた半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vは零電圧に近い値となる。そのため、遮断不能となる半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vと、オフ状態となっている半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vとの間に有意差が現れず、結果として遮断異常を検知することが困難となる。
ただし、このような状況では、オフ状態となっている半導体スイッチング素子SWに過電圧が印加されるという事態が発生しないため、遮断異常が検知できないことによる不具合はないものと考えられる。
なお、半導体スイッチング素子ごとにその端子間電圧に基づいて遮断異常を検知する従来技術によれば、正常にオフされた半導体スイッチング素子SWの端子間電圧が小さい場合、当該半導体スイッチング素子SWが遮断不能であると誤って検知される可能性がある。一方、判定部22Aは、n個の半導体スイッチング素子SW1〜SWnの端子間電圧V1〜Vnに基づいて遮断異常を検知する構成であるため、このような誤った検知を回避することができる。
以上説明したように、実施の形態1に従う電源装置10によれば、スイッチ回路を構成する半導体スイッチング素子の遮断についての異常を正確に検知することができる。
[実施の形態2]
実施の形態2では、遮断異常判定処理を実行する判定部の第2の構成例について説明する。
図6は、図4のステップS05に示す遮断異常判定処理を実行する判定部の第2の構成例を説明するためのブロック図である。図6に示される各ブロックの機能は、制御装置20によるソフトウェア処理および/またはハードウェア処理によって実現することができる。
図6を参照して、判定部22Bは、n個の比較器40_1〜40_nと、論理和回路42と、論理積回路44,46とを有する。
n個の比較器40_1〜40_nは、n個の電圧検出器18による半導体スイッチング素子の端子間電圧V1〜Vnをそれぞれ受ける。比較器40_1〜40_nを包括的に表記する場合には、単に「比較器40」とも称する。比較器40は、対応する半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vと基準値Vref2とを比較し、比較結果を示す信号を出力する。端子間電圧Vが基準値Vref2よりも大きいとき、比較器40の出力信号はHレベルとなり、端子間電圧Vが基準値Vref2よりも小さいとき、比較器40の出力信号はLレベルとなる。基準値Vref2は「基準値」の一実施例に対応する。
論理和回路42は、比較器40_1〜40_nの出力信号の論理和(OR)を算出し、算出結果を示す信号を出力する。
論理積回路44は、比較器40_1〜40_nの出力信号の論理積(AND)を算出し、算出結果を示す信号を出力する。
論理積回路46は、論理和回路42の出力信号と、論理積回路44の出力信号の反転信号との論理積を算出し、算出結果を示す信号を出力する。。論理積回路46の出力信号は検出信号DETとして、電源装置10の外部(例えば上位コントローラ)へ出力される。
例えば、n個の半導体スイッチング素子SW1〜SWnに遮断指令が与えられている状態において、q個(1≦q≦n−1)の半導体スイッチング素子SWが遮断不能となり、残りの(n−q)個の半導体スイッチング素子SWは正常にオフされた場合を想定する。
この場合、q個の半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vは基準値Vref2よりも小さくなる一方で、(n−q)個の半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vが基準値Vref2よりも大きくなる。したがって、論理和回路42からHレベルの信号が出力され、かつ、論理積回路44からLレベルの信号が出力されることになり、結果的に論理積回路46からはHレベルの検出信号DETが出力される。
すなわち、判定部22Bによれば、n個の半導体スイッチング素子SW1〜SWnのうちのq個(1≦q≦n−1)の半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vが基準値Vref2よりも小さいときに、Hレベルの検出信号DETが出力されることになる。
なお、判定部22Bによる遮断異常判定処理によれば、n個の半導体スイッチング素子SW1〜SWnの全てが遮断不能である場合には、論理積回路42のLレベルの出力信号を受けて検出信号DETがLレベルとなるため、遮断異常を検知することができない。n個の半導体スイッチング素子SWが同時に遮断不能となる不具合が発生する確率は極めて低いことを鑑みると、遮断異常が検知できないことによる不具合はないと考えられる。
また、判定部22Bによる遮断異常判定処理によれば、判定部22Aと同様に、入力電圧Vinおよび出力電圧Voutの電圧差が小さい場合には、遮断不能となる半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vと、正常にオフされた半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vとの間に有意差が現れないため、遮断異常を検知することが困難となる。ただし、このような状況では、オフ状態となっている半導体スイッチング素子SWに過電圧が印加されるという事態が発生しないため、遮断異常が検知できないことによる不具合はないと考えられる。
半導体スイッチング素子ごとにその端子間電圧に基づいて遮断異常を検知する従来技術では、正常にオフされた半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vが小さい場合に、当該半導体スイッチング素子SWが遮断不能であると誤って検知される可能性がある。一方、判定部22Bは、n個の半導体スイッチング素子SW1〜SWnの端子間電圧V1〜Vnに基づいて遮断異常を検知する構成であるため、このような誤った検知を回避することができる。
以上説明したように、実施の形態2に従う電源装置10によれば、スイッチ回路を構成する半導体スイッチング素子の遮断についての異常を正確に検知することができる。
[実施の形態3]
実施の形態3では、遮断異常判定処理を実行する判定部の第3の構成例について説明する。
図7は、図4のステップS05に示す遮断異常判定処理を実行する判定部の第3の構成例を説明するためのブロック図である。図7に示される各ブロックの機能は、制御装置20によるソフトウェア処理および/またはハードウェア処理によって実現することができる。
図7を参照して、判定部22Cは、n個の比較器50_1〜50_nと、n個の論理積回路52_1〜52_nと、論理和回路54とを有する。
n個の比較器40_1〜40_nは、n個の電圧検出器18による半導体スイッチング素子の端子間電圧V1〜Vnをそれぞれ受ける。比較器40_1〜40_nを包括的に表記する場合には、単に「比較器40」とも称する。比較器40は、対応する半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vと基準値Vref2とを比較し、比較結果を示す信号を出力する。端子間電圧Vが基準値Vref2よりも大きいとき、比較器40の出力信号はHレベルとなり、端子間電圧Vが基準値Vref2よりも小さいとき、比較器40の出力信号はLレベルとなる。
n個の論理積回路52_1〜52_nは、n個の比較器50_1〜50_nの出力信号の論理積を算出し、算出結果を示す信号尾出力する。論理積回路52_1〜52_nを包括的に表記する場合には、単に「論理積回路52」とも称する。各論理積回路52において、n個の比較器50の出力信号のうちの1つは、その反転信号が入力される。どの比較器50の出力信号が反転されるかについては、n個の論理積回路52の間で互いに異なっている。
論理和回路54は、論理積回路52_1〜52_nの出力信号の論理和(OR)を算出し、算出結果を示す信号を出力する。論理和回路54の出力信号は検出信号DETとして、電源装置10の外部(例えば上位コントローラ)へ出力される。
例えば、n個の半導体スイッチング素子SW1〜SWnに遮断指令が与えられている状態において、いずれか1個の半導体スイッチング素子SWが遮断不能となり、残りの(n−1)個の半導体スイッチング素子SWは正常にオフされた場合を想定する。
上記いずれか1個の半導体スイッチング素子SWが半導体スイッチング素子SW1である場合、比較器50_1からLレベルの信号が出力され、比較器50_2〜50_nからHレベルの信号が出力される。これにより、論理積回路52_1は、比較器50_1の出力信号の反転信号と、比較器50_2〜50_nの出力信号とを受けて、Hレベルの信号を出力する。一方、論理積回路52_2〜52_nの各々は、比較器50_1の出力信号と、比較器50_2〜50_nの出力信号(いずれか1つは反転信号)とを受けて、Lレベルの信号を出力する。その結果、論理積回路54からはHレベルの検出信号DETが出力される。
すなわち、判定部22Cによれば、n個の半導体スイッチング素子SW1〜SWnのうちのいずれか1個の半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vが基準値Vref2よりも小さいときに、Hレベルの検出信号DETが出力されることになる。
なお、判定部22Cによる遮断異常判定処理によれば、2個以上の半導体スイッチング素子SWが遮断不能である場合には、n個の論理積回路52の出力信号が全てLレベルとなるため、遮断異常を検知することができない。したがって、判定部22Cによる遮断異常判定処理は、複数の半導体スイッチング素子SWが同時に遮断不能となる可能性が低い電源装置10に対して適用されることが好ましい。
また、判定部22Cによる遮断異常判定処理によれば、判定部22A,22Bと同様に、入力電圧Vinおよび出力電圧Voutの電圧差が小さい場合には、遮断不能となる半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vと、正常にオフされた半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vとの間に有意差が現れないため、遮断異常を検知することが困難となる。ただし、このような状況では、オフ状態となっている半導体スイッチング素子SWに過電圧が印加されるという事態が発生しないため、遮断異常が検知できないことによる不具合はないものと考えられる。
半導体スイッチング素子ごとにその端子間電圧に基づいて遮断異常を検知する従来技術では、正常にオフされた半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vが小さい場合に、当該半導体スイッチング素子SWが遮断不能であると誤って検知される可能性がある。一方、判定部22Cは、n個の半導体スイッチング素子SW1〜SWnの端子間電圧V1〜Vnに基づいて遮断異常を検知する構成であるため、このような誤った検知を回避することができる。
以上説明したように、実施の形態3に従う電源装置10によれば、スイッチ回路を構成する半導体スイッチング素子の遮断についての異常を正確に検知することができる。
ここで、上述した第1から第3の制御構成例の判定部22A〜22Cについて、検知できる遮断異常の態様を比較した結果を示す。図8は、半導体スイッチング素子SWの総数n=4である場合に、判定部22A〜22Cの各々が検知することができる遮断異常の態様を表形式でまとめたものである。
表中のV1〜V4は、半導体スイッチング素子SW1〜SW4の端子間電圧を表している。V1〜V4の値(HまたはL)は、V1〜V4が入力される比較器の出力信号レベルを示している。
例えば、判定部22Aにおいては、半導体スイッチング素子SW1の端子間電圧V1が基準値Vref1より小さい場合(V1<Vref1)、すなわち半導体スイッチング素子SW1が遮断不能である場合、対応する比較器34_1の出力信号がHレベルとなる。一方、半導体スイッチング素子SW1の端子間電圧V1が基準値Vref1より大きい場合(V1>Vref1)、すなわち半導体スイッチング素子SW1が正常にオフされている場合、比較器34_1の出力信号がLレベルとなる。
判定部22B(または22C)においては、半導体スイッチング素子SW1の端子間電圧V1が基準値Vref2より小さい場合(V1<Vref2)、すなわち半導体スイッチング素子SW1が遮断不能である場合、対応する比較器40_1(または50_1)の出力信号がLレベルとなる。一方、半導体スイッチング素子SW1の端子間電圧V1が基準値Vref2より大きい場合(V1>Vref2)、すなわち半導体スイッチング素子SW1が正常にオフされている場合、比較器40_1(または50_1)の出力信号がLレベルとなる。
図8では、4個の半導体スイッチング素子SW1〜SW4のうちいずれか1個が遮断不能である場合(異常素子数=1)、2個以上の半導体スイッチング素子SWが遮断不能であり、かつ、1個以上の半導体スイッチング素子が正常である場合(異常素子数≧2かつ正常素子数≧1)、4個の半導体スイッチング素子SWが全て遮断不能である場合(全数異常)の各々について、判定部22A〜22Cが遮断異常を検知することができるか否かを示している。「OK」は判定部が遮断異常を検知できることを示し、「NG」は判定部が遮断異常を検知できないことを示す。
図8に示されるように、判定部22Aによれば、異常素子数=1の場合、異常素子数≧2かつ正常素子数≧1の場合、および全数異常の場合の全てについて、遮断異常を検知することができる。
これに対して、判定部22Bによれば、異常素子数=1の場合および異常素子数≧2かつ正常素子数≧1の場合に遮断異常を検知できるが、全数異常の場合には遮断異常を検知することができない。
また、判定部22Cによれば、異常素子数=1の場合に遮断異常を検知することができるが、異常素子数≧2かつ正常素子数≧1の場合および全数異常の場合には遮断異常を検知することができない。
このように、判定部22A〜22Cは、検知できる遮断異常の態様が異なる。したがって、どのような態様を検知したいかによって、判定部22A〜22Cを選択することができる。あるいは、スイッチ回路11を構成する半導体スイッチング素子SWの総数nに応じて、判定部22A〜22Cのいずれかを選択する構成としてもよい。例えば、nが比較的大きい値であり、全数異常が発生する可能性が低いと判断される場合には、判定部22Bまたは22Cを適用することができる。さらに2個以上の半導体スイッチング素子SWが同時に遮断不能となる可能性が低いと判断される場合には、判定部22Cを適用することができる。一方、nの大小によらず、全数異常が発生する可能性がある場合には、判定部22Aを適用することができる。
図9は、図4のステップS05に示す遮断異常判定処理を実行する判定部の第4の構成例を説明するためのブロック図である。図9を参照して、判定部22は、判定部22A〜22Cと、これらの判定部のうちのいずれか1つを選択するための選択部24とを有する。選択部24には、上位コントローラから、遮断異常判定処理に使用する判定部を選択するための選択信号が与えられる。選択部24は、選択信号によって選択された判定部に対して電圧検出器14,16,18の検出信号を出力するように構成される。
[実施の形態4]
上述した第1から第3の制御構成例の判定部22A〜22Cによる遮断異常判定処理によれば、入力電圧Vinおよび出力電圧Voutの電圧差が小さい場合には、遮断不能となる半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vと、正常にオフされた半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vとの間に有意差が現れないため、遮断異常を検知することが困難となる。
そこで、図10に示すように、入力電圧Vinおよび出力電圧Voutの電圧差が小さい場合には、遮断異常の検知を行なわない構成としてもよい。
図10は、実施の形態4に従う電源装置10の制御処理を説明するフローチャートである。図10のフローチャートは、図4のフローチャートに対して、ステップS07の処理を追加したものである。
図10を参照して、双方向コンバータ12の運転中、ステップS04により、制御装置20は、スイッチ回路11の半導体スイッチング素子SW1〜SWnに対して遮断指令を発生する。
遮断指令の発生中、ステップS06により、制御装置20は、入力電圧Vinおよび出力電圧Voutの電圧差(|Vin−Vout|)が閾値Vth2より大きいか否かを判定する。|Vin−Vout|>Vth2の場合(S07のYES判定時)、制御装置20は、ステップS05に進み、スイッチ回路11の遮断における異常の有無を判定する遮断異常判定処理を実行する。一方、|Vin−Vout|≦Vth2の場合(S07のNO判定時)、制御装置20は、遮断異常判定処理を行なわない。
実施の形態4に従う電源装置10によると、電圧差(|Vin−Vout|)が小さい場合において、正常にオフされた半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vが小さいことから、当該半導体スイッチング素子SWが遮断不能であると誤って判定される可能性を回避することができる。特に、判定部22B,22Cでは半導体スイッチング素子SWの端子間電圧Vのみを用いて遮断異常を判定する構成となっているため、実施の形態4の制御処理を適用することで、誤って遮断異常が検知されることを防ぐことができる。
なお、電圧差(|Vin−Vout|)が小さい状況では、オフ状態となっている半導体スイッチング素子SWに過電圧が印加されるという事態が発生しないため、遮断異常が検知できないことによる不具合はないと考えられる。
なお、以上で説明した複数の実施の形態について、明細書内で言及されていない組み合わせを含めて、不整合や矛盾が生じない範囲内で、各実施の形態で説明された構成を適宜組み合わせることは出願当初から予定されている。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 交流電源、2 負荷、3 バッテリ(電力貯蔵装置)、10 電源装置、11 スイッチ回路、12 双方向コンバータ(電力変換器)、14,16,18 電圧検出器、20 制御装置、22,22A,22B,22C 判定部、24 選択部、30 減算器、32,34_1〜34_n,38,40_1〜40_n,46,50_1〜50_n 比較器、52_1〜52_n 論理積回路、36,42,54 論理和回路、DET 検出信号、N1 入力ノード、N2 出力ノード、SW1〜SWn 半導体スイッチング素子(スイッチング素子)。

Claims (3)

  1. 負荷に電力を供給する電源装置であって、
    交流電源に接続される入力ノードと、前記負荷に接続される出力ノードとを有するスイッチ回路と、
    前記出力ノードに出力される交流電力と電力貯蔵装置に入出力される直流電力との間で双方向の電力変換を実行するように構成された電力変換器と、
    前記スイッチ回路および前記電力変換器を制御する制御装置とを備え、
    前記スイッチ回路は、前記入力ノードと前記出力ノードとの間に直列に接続されるn個(nは2以上の整数)のスイッチング素子を含み、
    前記制御装置は、前記n個のスイッチング素子を導通するための導通指令を出力している状態において、前記交流電源および前記スイッチ回路の少なくとも一方の異常が検知された場合には、前記電力変換器の制御によって、前記電力貯蔵装置の直流電力を、正常時に前記交流電源から供給される交流電力に同期した交流電力に変換して前記出力ノードへ供給するように構成され、
    前記制御装置は、さらに、前記電力変換器における電力変換の実行中に前記n個のスイッチング素子を遮断するための遮断指令を発生し、かつ、前記遮断指令の発生中、前記n個のスイッチング素子の端子間電圧に基づいて前記スイッチ回路の遮断についての異常を検知するように構成され、
    前記制御装置は、前記入力ノードおよび前記出力ノードの電圧差が第1の閾値を超えている場合であって、前記n個のスイッチング素子のうちのp個(1≦p≦n)のスイッチング素子の前記端子間電圧が基準値よりも小さいときに、前記スイッチ回路の遮断についての異常を検知する、電源装置。
  2. 負荷に電力を供給する電源装置であって、
    交流電源に接続される入力ノードと、前記負荷に接続される出力ノードとを有するスイッチ回路と、
    前記出力ノードに出力される交流電力と電力貯蔵装置に入出力される直流電力との間で双方向の電力変換を実行するように構成された電力変換器と、
    前記スイッチ回路および前記電力変換器を制御する制御装置とを備え、
    前記スイッチ回路は、前記入力ノードと前記出力ノードとの間に直列に接続されるn個(nは2以上の整数)のスイッチング素子を含み、
    前記制御装置は、前記n個のスイッチング素子を導通するための導通指令を出力している状態において、前記交流電源および前記スイッチ回路の少なくとも一方の異常が検知された場合には、前記電力変換器の制御によって、前記電力貯蔵装置の直流電力を、正常時に前記交流電源から供給される交流電力に同期した交流電力に変換して前記出力ノードへ供給するように構成され、
    前記制御装置は、さらに、前記電力変換器における電力変換の実行中に前記n個のスイッチング素子を遮断するための遮断指令を発生し、かつ、前記遮断指令の発生中、前記n個のスイッチング素子の端子間電圧に基づいて前記スイッチ回路の遮断についての異常を検知するように構成され、
    前記制御装置は、以下の
    (a)前記入力ノードおよび前記出力ノードの電圧差が第1の閾値を超えている場合であって、前記n個のスイッチング素子のうちのm個(1≦m≦n)のスイッチング素子の前記端子間電圧が基準値よりも小さいときに、前記スイッチ回路の遮断についての異常を検知する処理、
    (b)前記n個のスイッチング素子のうちのq個(1≦q≦(n−1))のスイッチング素子の前記端子間電圧が基準値よりも小さいとき、前記スイッチ回路の遮断についての異常を検知する処理、
    (c)前記n個のスイッチング素子のうちいずれかの1個のスイッチング素子の端子間電圧が基準値よりも小さくなったとき、前記スイッチ回路の遮断についての異常を検知する処理、
    のいずれか1つを選択的に実行する、電源装置。
  3. 前記制御装置は、前記遮断指令の発生中、前記入力ノードおよび前記出力ノードの電圧差が第2の閾値よりも小さいときには、前記スイッチ回路の遮断についての異常の検知を行なわない、請求項1または2に記載の電源装置。
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