JP7171114B2 - シャフトワークのインサイチュ非接触検出方法 - Google Patents
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Description
(1)検出システムを構築・校正して、検出座標系を構築する手順と、
(2)ワークの検出システムにおける姿勢を分析して、ワーククランプ装置の座標系を構築する手順と、
(3)シャフトワーク工作機械のクランプ装置の回転を制御し、ラインレーザー測定器によりデータを連続的に収集し、収集されたデータを計算により分析して、シャフトワークの好適な基準軸線を得る手順と、
(4)レーザー変位センサーにより検出位置でデータを連続的に収集し、収集されたデータを計算により分析して、カムシャフトジャーナルの振れ加工精度実績を得る手順と、
(5)ラインレーザー測定器により検出位置でデータを連続的に収集し、収集されたデータを計算により分析して、シャフトワークの同軸度加工精度を得る手順と、を含むことを特徴とする、シャフトワークのインサイチュ非接触検出方法を開示した。
ラインレーザー測定器によりXOZ面における座標データが得られ、Y軸の座標データがラインレーザー測定器のレーザー通路のラスターガイドレールにおける位置で得られ、ラインレーザー測定器が位置Aにある場合の座標原点OAを世界座標系の原点として、OAの座標を(0,0,0)とし、ラインレーザー測定器が位置Aにある場合に測定されたデータが(xA,zA)であれば、位置Aにおける3次元座標が(xA,0,zA)であり、
ラインレーザー測定器が位置A及び位置Bにある場合のレーザー通路距離をlABとし、OBの座標を(0,0,lAB)として、ラインレーザー測定器が位置Bにある場合に測定されたデータが(xB,zB)であれば、座標系OB-XBYBZBにおける座標が座標系OA-XAYAZAにおいて下記のように示され、
楕円のOA-XAYAZA座標系における楕円長軸の回転角度φが式(5)により求められ、
測定用カラム又はブロックの測定断面A輪郭の短軸がその同心横断面A輪郭の直径であり、
検出システム座標系OA-XAYAZAとワーククランプ装置座標系OS-XSYSZSとのオフセットが(xU,0,ZU,φ,λ,0)であり、即ち、検出システム座標系における点(x,y,z)をそれぞれx軸及びz軸方向でxu及びzu移動させてから、更に、X軸回りで角度λ回転させ、Y軸回りで角度φ回転させることにより、ワーククランプ装置座標系OS-XSYSZSに対応する点座標(x’,y’,z’)を得ることができるため、検出システム座標系とワーククランプ装置座標系との変換関係が下記の通りである、
シャフトワークの径方向の円周振れtがリアルタイム測定点からリアルタイム中心軸線までの距離di(i=1,2,3・・・)の最大値dmaxと最小値dminとの差により求められ、計算式が下記の通りである、
ラインレーザー測定器をカム先端まで移動させ、一定距離で移動させるごとにデータを収集し、収集されたデータのOA-XAYAZA座標系における座標をアルゴリズムによりOS-XSYSZSワーククランプ装置座標系における座標に変換し、輪郭点をフィッティングし、更に標準カム輪郭と比較して、輪郭度を算出する。
図3及び図4に示されるように、前記検出システムが工作機械側に位置するラスターガイドレール8、並びに順番で間隔を空けながらラスターガイドレールに位置する、ラインレーザー測定器6により測定される測定位置A、レーザー変位センサー7により測定される測定位置C及びラインレーザー測定器6により測定される測定位置Bを含み、ラインレーザー測定器6及びレーザー変位センサー7がラスターガイドレール8のスライダーに取付けられ、測定位置A及び測定位置Bが検出を必要とされる基準位置であり、測定位置Cが振れ、同軸度及び輪郭度の検出を必要とされる位置であり、図4に示されるように、ラインレーザー測定器、レーザー変位センサー及びラスターリニアガイドレールを平面度が0.001mmになるように調整し、ラインレーザー測定器とレーザー変位センサーの測定方向が同じであり、測定方向における距離Lの位置に校正プレートを設置し、ラインレーザー測定器のレーザー通路と直交すると共に、レーザー変位センサーのレーザー通路と垂直となるように、校正プレートの校正面を調整し、ラインレーザー測定器のXOY面が校正プレートの校正面と平行となり、レーザー変位センサーのレーザー通路がXOY面と垂直となり、レーザー変位センサーがラスターガイドレールにおける取付け方向においてY軸と平行となり、ラインレーザー測定器の位置A及び位置Bにおける座標系OA-XAYAZA及び座標系OB-XBYBZBを構築し、レーザー変位センサーのライトスポットがラインレーザー測定器のレーザー通路のY軸に位置するように更に調整して、レーザー変位センサーの位置Cにおける座標系OC-XCYCZCを構築し、ラインレーザー測定器の測定原点を零点として、OA、OBのX、Z座標が0であり、レーザー変位センサーの測定原点を零点として、OCのX、Z座標が0であり、
ラインレーザー測定器によりXOZ面における座標データが得られ、Y軸の座標データがラインレーザー測定器のレーザー通路のラスターガイドレールにおける位置で得られ、ラインレーザー測定器が位置Aにある場合の座標原点OAを世界座標系の原点として、OAの座標を(0,0,0)とし、ラインレーザー測定器が位置Aにある場合に測定されたデータが(xA,zA)であれば、位置Aにおける3次元座標が(xA,0,zA)であり、
ラインレーザー測定器が位置A及び位置Bにある場合のレーザー通路距離をlABとし、OBの座標を(0,0,lAB)として、ラインレーザー測定器が位置Bにある場合に測定されたデータが(xB,zB)であれば、座標系OB-XBYBZBにおける座標が座標系OA-XAYAZAにおいて下記のように示され、
図5に示されるように、ワーククランプ装置が、クランプマシン制御盤1と、クランプマシンチャック2と、測定対象カムシャフト3と、プランジャー4と、プランジャースライドレール5と、を含み、シャフトワークの検出断面法線軸線と好適な基準軸線が同一線上にない場合、即ち、シャフトワークと検出システムとがX軸回り方向における回転角度θ及びZ軸回り方向における回転角度αを有する場合、ラインレーザー測定器のレーザー通路により測定される測定断面が楕円であり、楕円の短軸が軸径であり、楕円の長軸acとZ軸とが角度をなし、楕円の短軸bdとX軸とが角度をなし、得られた楕円輪郭の焦点が中心軸線にあり、測定断面と横断面との角度がλであり、楕円の長軸ac長さがlacであり、短軸bd長さがlbdであり、λの計算式が下記の通りであり、
楕円のOA-XAYAZA座標系における楕円長軸の回転角度φが式(5)により求められ、
測定用カラム又はブロックの測定断面A輪郭の短軸がその同心横断面A輪郭の直径であり、
検出システム座標系OA-XAYAZAとワーククランプ装置座標系OS-XSYSZSとのオフセットが(xU,0,zU,φ,λ,0)であり、即ち、検出システム座標系における点(x,y,z)をそれぞれx軸及びz軸方向でxU及びzU移動させてから、更に、X軸回りで角度λ回転させ、Y軸回りで角度φ回転させることにより、ワーククランプ装置座標系OS-XSYSZSに対応する点座標(x’,y’,z’)を得ることができるため、検出システム座標系とワーククランプ装置座標系との変換関係が下記の通りである、
校正されたクランプ装置にシャフトワークをクランプさせ、ラインレーザー測定器のレーザー通路をシャフトワークの基準軸部にアライメントさせ、位置A及び位置Bにあるラインレーザー測定器を起動させて測定し、ラインレーザー測定器が位置Aにあることとして、得られた断面輪郭内点の座標系OA-XAYAZAにおける座標がPi(xi,0,zi),(i=1,2,3・・・)であり、座標点が式(11)を満たし、
シャフトワークを回転させ、レーザー変位センサーにより測定位置Cにおけるリアルタイム測定点の座標が得られ、ある時点の座標がC1(0,yC1,zC1)であることとして、ラインレーザー測定器によりこの時点の回転位置のリアルタイム輪郭点のデータが得られ、この時点でラインレーザー測定器により位置Aで得られた断面輪郭内点の座標系OA-XAYAZAにおける座標がPi1(xi1,0,zi1),(i=1,2,3・・・)であることとして、座標点が式(18)を満たし、
シャフトワークの径方向の円周振れtがリアルタイム測定点からリアルタイム中心軸線までの距離di(i=1,2,3・・・)の最大値dmaxと最小値dminとの差により求められ、計算式が下記の通りである、
最初に、ラインレーザー測定器によりシャフトワーク基準軸部の測定位置A及び測定位置Bの輪郭を検出し、ラインレーザー測定器によりある回転位置のリアルタイム輪郭点のデータが得られ、この時点でラインレーザー測定器により位置Aで得られた断面輪郭内点の座標系OA-XAYAZAにおける座標がP’i1(x’i1,0,z’i1),(i=1,2,3・・・)であることとして、座標点が式(26)を満たし、
図3及び図4に示されるように、前記検出システムが工作機械側に位置するラスターガイドレール8、並びに順番で間隔を空けながらラスターガイドレールに位置する、ラインレーザー測定器6により測定される測定位置A、レーザー変位センサー7により測定される測定位置C及びラインレーザー測定器6により測定される測定位置Bを含み、ラインレーザー測定器6及びレーザー変位センサー7がラスターガイドレール8のスライダーに取付けられ、測定位置A及び測定位置Bが検出を必要とされる基準位置であり、測定位置Cが振れ、同軸度及び輪郭度の検出を必要とされる位置であり、図4に示されるように、ラインレーザー測定器、レーザー変位センサー及びラスターリニアガイドレールを平面度が0.001mmになるように調整し、ラインレーザー測定器とレーザー変位センサーの測定方向が同じであり、測定方向における距離Lの位置に校正プレートを設置し、ラインレーザー測定器のレーザー通路と直交すると共に、レーザー変位センサーのレーザー通路と垂直となるように、校正プレートの校正面を調整し、ラインレーザー測定器のXOY面が校正プレートの校正面と平行となり、レーザー変位センサーのレーザー通路がXOY面と垂直となり、レーザー変位センサーがラスターガイドレールにおける取付け方向においてY軸と平行となり、ラインレーザー測定器の位置A及び位置Bにおける座標系OA-XAYAZA及び座標系OB-XBYBZBを構築し、レーザー変位センサーのライトスポットがラインレーザー測定器のレーザー通路のY軸に位置するように更に調整して、レーザー変位センサーの位置Cにおける座標系OC-XCYCZCを構築し、ラインレーザー測定器の測定原点を零点として、OA、OBのX、Z座標が0であり、レーザー変位センサーの測定原点を零点として、OCのX、Z座標が0であり、
ラインレーザー測定器によりXOZ面における座標データが得られ、Y軸の座標データがラインレーザー測定器のレーザー通路のラスターガイドレールにおける位置で得られ、ラインレーザー測定器が位置Aにある場合の座標原点OAを世界座標系の原点として、OAの座標を(0,0,0)とし、ラインレーザー測定器が位置Aにある場合に測定されたデータが(xA,zA)であれば、位置Aにおける3次元座標が(xA,0,zA)であり、
ラインレーザー測定器が位置A及び位置Bにある場合のレーザー通路距離をlABとし、OBの座標を(0,0,lAB)として、ラインレーザー測定器が位置Bにある場合に測定されたデータが(xB,zB)であれば、座標系OB-XBYBZBにおける座標が座標系OA-XAYAZAにおいて下記のように示され、
図5に示されるように、ワーククランプ装置が、クランプマシン制御盤1と、クランプマシンチャック2と、測定対象カムシャフト3と、プランジャー4と、プランジャースライドレール5と、を含み、カムシャフトの検出断面法線軸線と好適な基準軸線が同一線上にない場合、即ち、カムシャフトと検出システムとがX軸回り方向における回転角度θ及びZ軸回り方向における回転角度αを有する場合、ラインレーザー測定器のレーザー通路により測定される測定断面が楕円であり、楕円の短軸が軸径であり、楕円の長軸acとZ軸とが角度をなし、楕円の短軸bdとX軸とが角度をなし、得られた楕円輪郭の焦点が中心軸線にあり、測定断面と横断面との角度がλであり、楕円の長軸ac長さがlacであり、短軸bd長さがlbdであり、λの計算式が下記の通りであり、
楕円のOA-XAYAZA座標系における楕円長軸の回転角度φが式(5)により求められ、
測定用カラム又はブロックの測定断面A輪郭の短軸がその同心横断面A輪郭の直径であり、
検出システム座標系OA-XAYAZAとワーククランプ装置座標系OS-XSYSZSとのオフセットが(xU,0,zU,φ,λ,0)であり、即ち、検出システム座標系における点(x,y,z)をそれぞれx軸及びz軸方向でxu及びzu移動させてから、更に、X軸回りで角度λ回転させ、Y軸回りで角度φ回転させることにより、ワーククランプ装置座標系OS-XSYSZSに対応する点座標(x’,y’,z’)を得ることができるため、検出システム座標系とワーククランプ装置座標系との変換関係が下記の通りである、
校正されたクランプ装置にカムシャフトをクランプさせ、ラインレーザー測定器のレーザー通路をカムシャフトの基準軸部にアライメントさせ、位置A及び位置Bにあるラインレーザー測定器を起動させて測定し、ラインレーザー測定器が位置Aにあることとして、得られた断面輪郭内点の座標系OA-XAYAZAにおける座標がPi(xi,0,zi),(i=1,2,3・・・)であり、座標点が式(11)を満たし、
カムシャフトを回転させ、レーザー変位センサーにより測定位置Cにおけるリアルタイム測定点の座標が得られ、ある時点の座標がC1(0,yC1,zC1)であることとして、ラインレーザー測定器によりこの時点の回転位置のリアルタイム輪郭点のデータが得られ、この時点でラインレーザー測定器により位置Aで得られた断面輪郭内点の座標系OA-XAYAZAにおける座標がPi1(xi1,0,zi1),(i=1,2,3・・・)であることとして、座標点が式(18)を満たし、
カムシャフトの径方向の円周振れtがリアルタイム測定点からリアルタイム中心軸線までの距離di(i=1,2,3…)の最大値dmaxと最小値dminとの差により求められ、計算式が下記の通りである、
最初に、ラインレーザー測定器によりシャフトワーク基準軸部の測定位置A及び測定位置Bの輪郭を検出し、ラインレーザー測定器によりある回転位置のリアルタイム輪郭点のデータが得られ、この時点でラインレーザー測定器により位置Aで得られた断面輪郭内点の座標系OA-XAYAZAにおける座標がP’i1(x’i1,0,z’i1),(i=1,2,3・・・)であることとして、座標点が式(26)を満たし、
ラインレーザー測定器をカム先端まで移動させ、一定距離で移動させるごとにデータを収集し、収集されたデータのOA-XAYAZA座標系における座標をアルゴリズムによりOS-XSYSZSワーククランプ装置座標系における座標に変換し、輪郭点をフィッティングし、更に標準カム輪郭と比較して、輪郭度を算出する。
Claims (7)
- (1)検出システムを構築・校正して、検出座標系を構築する手順と、
(2)ワークの検出システムにおける姿勢を分析して、ワーククランプ装置の座標系を構築する手順と、
(3)シャフトワーク工作機械のクランプ装置の回転を制御し、ラインレーザー測定器によりデータを連続的に収集し、収集されたデータを計算により分析して、シャフトワークの好適な基準軸線を得る手順と、
(4)レーザー変位センサーにより検出位置でデータを連続的に収集し、収集されたデータを計算により分析して、カムシャフトジャーナルの振れ加工精度実績を得る手順と、
(5)ラインレーザー測定器により検出位置でデータを連続的に収集し、収集されたデータを計算により分析して、シャフトワークの同軸度加工精度を得る手順と、を含むことを特徴とする、シャフトワークのインサイチュ非接触検出方法。 - 前記手順(1)の具体的な手順として、前記検出システムが工作機械側に位置するラスターガイドレール、並びに順番で間隔を空けながらラスターガイドレールに位置する、ラインレーザー測定器により測定される測定位置A、レーザー変位センサーにより測定される測定位置C及びラインレーザー測定器により測定される測定位置Bを含み、測定位置A及び測定位置Bが検出を必要とされる基準位置であり、測定位置Cが振れ、同軸度及び輪郭度の検出を必要とされる位置であり、ラインレーザー測定器とレーザー変位センサーの測定方向が同じであり、測定方向における距離Lの位置に校正プレートを設置し、ラインレーザー測定器のレーザー通路と直交すると共に、レーザー変位センサーのレーザー通路と垂直となるように、校正プレートの校正面を調整し、ラインレーザー測定器のXOY面が校正プレートの校正面と平行となり、レーザー変位センサーのレーザー通路がXOY面と垂直となり、レーザー変位センサーがラスターガイドレールにおける取付け方向においてY軸と平行となり、ラインレーザー測定器の位置A及び位置Bにおける座標系OA-XAYAZA及び座標系OB-XBYBZBを構築し、レーザー変位センサーのライトスポットがラインレーザー測定器のレーザー通路のY軸に位置するように更に調整して、レーザー変位センサーの位置Cにおける座標系OC-XCYCZCを構築し、ラインレーザー測定器の測定原点を零点として、OA、OBのX、Z座標が0であり、レーザー変位センサーの測定原点を零点として、OCのX、Z座標が0であり、
ラインレーザー測定器によりXOZ面における座標データが得られ、Y軸の座標データがラインレーザー測定器のレーザー通路のラスターガイドレールにおける位置で得られ、ラインレーザー測定器が位置Aにある場合の座標原点OAを世界座標系の原点として、OAの座標を(0,0,0)とし、ラインレーザー測定器が位置Aにある場合に測定されたデータが(xA,zA)であれば、位置Aにおける3次元座標が(xA,0,zA)であり、
ラインレーザー測定器が位置A及び位置Bにある場合のレーザー通路距離をlABとし、OBの座標を(0,0,lAB)として、ラインレーザー測定器が位置Bにある場合に測定されたデータが(xB,zB)であれば、座標系OB-XBYBZBにおける座標が座標系OA-XAYAZAにおいて下記のように示され、
ラインレーザー測定器及びレーザー変位センサーが位置A及び位置Cにある場合のレーザー通路距離をlACとし、OCの座標を(0,0,lAC)として、レーザー変位センサーが位置Cにある場合に測定されたデータが(zC)であれば、座標系OC-XCYCZCにおける座標が座標系OA-XAYAZAにおいて下記のように示される、
ことを特徴とする、請求項1に記載のシャフトワークのインサイチュ非接触検出方法。 - 前記手順(2)の具体的な手順として、シャフトワークの検出断面法線軸線と好適な基準軸線が同一線上にない場合、即ち、シャフトワークと検出システムとがX軸回り方向における回転角度θ及びZ軸回り方向における回転角度αを有する場合、ラインレーザー測定器のレーザー通路により測定される測定断面が楕円であり、楕円の短軸が軸径であり、楕円の長軸acとZ軸とが角度をなし、楕円の短軸bdとX軸とが角度をなし、得られた楕円輪郭の焦点が中心軸線にあり、測定断面と横断面との角度がλであり、楕円の長軸ac長さがlacであり、短軸bd長さがlbdであり、λの計算式が下記の通りであり、
クランプ装置に1本のシャフトの測定用カラム又はブロックをクランプさせ、ラインレーザー測定器を起動させて測定用カラム又はブロックの断面輪郭を検出し、測定用カラム又はブロックがラインレーザー測定器の測定レーザー通路にある場合、測定用カラム又はブロックと測定レーザー通路との交差断面が楕円輪郭であり、レーザー測定器が位置Aにある場合に測定用カラム又はブロックが任意位置にある場合の半断面輪郭アーク
が測定できれば、アーク
における輪郭点の座標がPn(xn,0,zn),(n=1,2,3・・・)であり、座標点が式(4)を満たし、
式におけるa、b、c、d、e及びfが定数係数であり、座標点群を代入することにより求められ、
楕円のOA-XAYAZA座標系における楕円長軸の回転角度φが式(5)により求められ、
楕円の幾何中心OUの座標を(xU,zU)とし、式(6)及び(7)により求められ、
長軸長さlac及び短軸長さlbdがそれぞれ式(8)及び(9)により求められ、
測定用カラム又はブロックの測定断面とその同心横断面によりなされる角度λが式(3)、(4)、(8)及び(9)により求められ、
測定用カラム又はブロックの測定断面A輪郭の短軸がその同心横断面A輪郭の直径であり、
をワーククランプ装置座標系のXS軸とし、測定断面A輪郭の中心OUをワーククランプ装置座標系の原点OSとし、測定用カラム又はブロックの横断面A輪郭と垂直となる軸心軸線をYS軸とし、右手の法則に従うワーククランプ装置座標系OS-XSYSZSを構築し、
検出システム座標系OA-XAYAZAとワーククランプ装置座標系OS-XSYSZSとのオフセットが(xU,0,ZU,φ,λ,0)であり、即ち、検出システム座標系における点(x,y,z)をそれぞれx軸及びz軸方向でxu及びzu移動させてから、更に、X軸回りで角度λ回転させ、Y軸回りで角度φ回転させることにより、ワーククランプ装置座標系OS-XSYSZSに対応する点座標(x’,y’,z’)を得ることができるため、検出システム座標系とワーククランプ装置座標系との変換関係が下記の通りである、
ことを特徴とする、請求項2に記載のシャフトワークのインサイチュ非接触検出方法。 - 前記手順(3)の具体的な手順として、校正されたクランプ装置にシャフトワークをクランプさせ、ラインレーザー測定器のレーザー通路をシャフトワークの基準軸部にアライメントさせ、位置A及び位置Bにあるラインレーザー測定器を起動させて測定し、ラインレーザー測定器が位置Aにあることとして、得られた断面輪郭内点の座標系OA-XAYAZAにおける座標がPi(xi,0,zi),(i=1,2,3・・・)であり、座標点が式(11)を満たし、
方程式を解き、定数a1、b1、c1、d1、e1及びf1が求められ、更に式(12)及び(13)により下記のように求められ、
ラインレーザー測定器により測定位置Aとの距離がl’ABである測定位置Bで得られた断面輪郭内点の座標系OA-XAYAZAにおける座標がPj(xj,l’AB,zi),(j=1,2,3・・・)であり、座標点が式(14)を満たし、
方程式を解き、a2、b2、c2、d2、e2及びf2が求められ、更に式(15)及び(16)により下記のように求められ、
測定位置A及び測定位置Bにおける、断面輪郭に対応するワーク横断面の中心座標
がそれぞれ得られ、基準軸部の中心軸線のOA-XAYAZA座標系における軸線の直線式が下記の通りである、
ことを特徴とする、請求項3に記載のシャフトワークのインサイチュ非接触検出方法。 - 前記手順(4)の具体的な手順として、シャフトワークを回転させ、レーザー変位センサーにより測定位置Cにおけるリアルタイム測定点の座標が得られ、ある時点の座標がC1(0,yC1,zC1)であることとして、ラインレーザー測定器によりこの時点の回転位置のリアルタイム輪郭点のデータが得られ、この時点でラインレーザー測定器により位置Aで得られた断面輪郭内点の座標系OA-XAYAZAにおける座標がPi1(xi1,0,zi1),(i=1,2,3・・・)であることとして、座標点が式(18)を満たし、
方程式を解き、a11、b11、c11、d11、e11及びf11が求められ、更に式(19)及び(20)により下記のように求められ、
この時点でラインレーザー測定器により測定位置Aとの距離がl’’ABである測定位置Bで得られた断面輪郭内点の座標系OA-XAYAZAにおける座標がPj1(xj1,l’’AB,zi1),(j=1,2,3・・・)であることとして、座標点が式(21)を満たし、
方程式を解き、a21、b21、c21、d21、e21及びf21が求められ、更に式(22)及び(23)により下記のように求められ、
この時点の基準軸部の中心点座標
が得られ、この時点の測定点からリアルタイム中心軸線までの距離d1が求められ、計算式が下記の通りであり、
シャフトワークを回転させ、1周回転させた後の各時点で記録されたデータが得られ、計算により全ての時点の測定点からリアルタイム中心軸線までの距離di(i=1,2,3・・・)が得られ、
シャフトワークの径方向の円周振れtがリアルタイム測定点からリアルタイム中心軸線までの距離di(i=1,2,3・・・)の最大値dmaxと最小値dminとの差により求められ、計算式が下記の通りである、
ことを特徴とする、請求項4に記載のシャフトワークのインサイチュ非接触検出方法。 - 前記手順(5)の具体的な手順として、最初に、ラインレーザー測定器によりシャフトワーク基準軸部の測定位置A及び測定位置Bの輪郭を検出し、ラインレーザー測定器によりある回転位置のリアルタイム輪郭点のデータが得られ、この時点でラインレーザー測定器により位置Aで得られた断面輪郭内点の座標系OA-XAYAZAにおける座標がP’i1(x’i1,0,z’i1),(i=1,2,3・・・)であることとして、座標点が式(26)を満たし、
方程式を解き、a’11、b’11、c’11、d’11、e’11及びf’11が求められ、更に式(27)及び(28)により下記のように求められ、
この時点でラインレーザー測定器により位置Aとの距離がl’’ABである位置Bで得られた断面輪郭内点の座標系OA-XAYAZAにおける座標がP’j1(x’j1,l’’AB,z’j1),(j=1,2,3・・・)であることとして、座標点が式(29)を満たし、
方程式を解き、a’21、b’21、c’21、d’21、e’21及びf’21が求められ、更に式(30)及び(31)により下記のように求められ、
この時点の基準軸部の中心点座標
が得られ、当該時点の基準軸部の中心点に繋がる中心軸線のOA-XAYAZA座標系における軸線の直線式が下記の通りであり、
ラインレーザー測定器をYA軸方向に沿ってワーク検出軸部の位置C’まで移動させ、ラスターガイドレールにより移動距離l’が得られ、この時点でラインレーザー測定器により位置C’で得られた断面輪郭内点の座標系OA-XAYAZAにおける座標がPk1(xk1,l’,zk1),(k=1,2,3・・・)であることとして、座標点が式(33)を満たし、
方程式を解き、a3、b3、c3、d3、e3及びf3が求められ、更に式(34)及び(35)により下記のように求められ、
異なる位置で数回繰り返して検出し、基準軸部の中心点座標
が得られ、測定部横断面の中心座標点群を
とし、検出軸部横断面の中心座標点から基準部の中心軸線までの距離d’iが求められ、計算式が下記の通りであり、
シャフトワーク検出軸部の同軸度φtが得られた検出軸部横断面の中心座標点から基準部の中心軸線までの距離d’iの最大値d’maxと最小値d’minとの差により求められ、計算式が下記の通りである、
ことを特徴とする、請求項5に記載のシャフトワークのインサイチュ非接触検出方法。 - 前記シャフトワークがカムシャフトであり、ラインレーザー測定器によりカムシャフトのカム先端のデータを連続的に収集し、収集されたデータを計算により分析して、カムシャフトのカム輪郭度の加工精度が得られ、
ラインレーザー測定器をカム先端まで移動させ、一定距離で移動させるごとにデータを収集し、収集されたデータのOA-XAYAZA座標系における座標をアルゴリズムによりOS-XSYSZSワーククランプ装置座標系における座標に変換し、輪郭点をフィッティングし、更に標準カム輪郭と比較して、輪郭度を算出する、ことを特徴とする、請求項6に記載のシャフトワークのインサイチュ非接触検出方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010875603.1A CN111993159B (zh) | 2020-08-27 | 2020-08-27 | 一种轴类工件在位非接触检测方法 |
CN202010875603.1 | 2020-08-27 | ||
PCT/CN2021/102006 WO2022041986A1 (zh) | 2020-08-27 | 2021-06-24 | 一种轴类工件在位非接触检测方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022543763A JP2022543763A (ja) | 2022-10-14 |
JP7171114B2 true JP7171114B2 (ja) | 2022-11-15 |
Family
ID=73470488
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022505625A Active JP7171114B2 (ja) | 2020-08-27 | 2021-06-24 | シャフトワークのインサイチュ非接触検出方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20220379423A1 (ja) |
JP (1) | JP7171114B2 (ja) |
KR (1) | KR20220155997A (ja) |
CN (1) | CN111993159B (ja) |
WO (1) | WO2022041986A1 (ja) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111993159B (zh) * | 2020-08-27 | 2022-02-11 | 江苏科技大学 | 一种轴类工件在位非接触检测方法 |
CN112729211B (zh) * | 2020-12-25 | 2021-11-23 | 东北大学 | 一种导向杠/杆的直行运动误差测量与分离方法 |
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Family Cites Families (14)
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-
2020
- 2020-08-27 CN CN202010875603.1A patent/CN111993159B/zh active Active
-
2021
- 2021-06-24 KR KR1020227032083A patent/KR20220155997A/ko active IP Right Grant
- 2021-06-24 US US17/618,500 patent/US20220379423A1/en active Pending
- 2021-06-24 WO PCT/CN2021/102006 patent/WO2022041986A1/zh active Application Filing
- 2021-06-24 JP JP2022505625A patent/JP7171114B2/ja active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20220155997A (ko) | 2022-11-24 |
WO2022041986A1 (zh) | 2022-03-03 |
CN111993159A (zh) | 2020-11-27 |
CN111993159B (zh) | 2022-02-11 |
JP2022543763A (ja) | 2022-10-14 |
US20220379423A1 (en) | 2022-12-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
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