JP7170016B2 - Deposition equipment - Google Patents

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Description

本発明は、基板上に薄膜を形成する成膜装置に関する。 The present invention relates to a film forming apparatus for forming a thin film on a substrate.

成膜装置において、面積の広い基板に薄膜を形成するために、成膜源が往復移動するように構成される技術が知られている。このような技術においては、成膜源を支持する支持台としての大気ボックスと、大気ボックスを往復移動させる移動機構と、大気ボックスの移動に伴って従動する複数の大気アームとを備えている。大気ボックスと複数の大気アームは、いずれも内部が大気に曝された状態となっており、チャンバの外部から電気配線や冷却液を供給する冷却管が、大気ボックス及び複数の大気アームの内部を通じて、成膜源に接続されるように構成されている。冷却管は、柔軟性を有する配管により構成されており、複数の大気アームの動作に伴って、冷却管自体も変形することで、配管としての機能を維持している。特に、大気アーム同士を接続する部分においては、冷却管は湾曲した状態を維持しながら変形可能に構成されている。 2. Description of the Related Art In a film forming apparatus, a technique is known in which a film forming source is configured to reciprocate in order to form a thin film on a substrate having a large area. Such a technique includes an atmospheric box as a support base for supporting a film formation source, a moving mechanism for reciprocating the atmospheric box, and a plurality of atmospheric arms following the movement of the atmospheric box. The inside of each of the atmospheric box and the plurality of atmospheric arms is exposed to the atmosphere, and the electrical wiring and cooling pipes that supply the cooling liquid from the outside of the chamber pass through the inside of the atmospheric box and the plurality of atmospheric arms. , is configured to be connected to a deposition source. The cooling pipe is composed of a flexible pipe, and maintains its function as a pipe by deforming the cooling pipe itself according to the operation of the plurality of atmospheric arms. In particular, at the portion connecting the atmosphere arms, the cooling pipe is configured to be deformable while maintaining a curved state.

成膜源に供給する冷却液の流量を増加する必要がある場合には、より太い冷却管を用いる必要がある。冷却管が太ければ太いほど、湾曲させる際の曲率半径を大きくしなければならない。従って、大気アーム同士を接続する部分において、太い冷却管を湾曲した状態で維持するためには、大気アームを大きくしなければならず、大気アームの設置スペースも広くなり、装置全体が大型化してしまう。 If it is necessary to increase the flow rate of the cooling liquid supplied to the film forming source, it is necessary to use a thicker cooling pipe. The thicker the cooling pipe, the greater the radius of curvature when bending it. Therefore, in order to maintain the thick cooling pipe in a curved state at the portion where the atmospheric arms are connected, the atmospheric arms must be enlarged, and the installation space for the atmospheric arms is also increased, resulting in an increase in the size of the entire apparatus. put away.

特開2009-299176号公報JP 2009-299176 A

本発明の目的は、装置の大型化を抑制しつつ、成膜源に供給する冷却液の流量の増加を可能とする成膜装置を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a film forming apparatus capable of increasing the flow rate of cooling liquid supplied to a film forming source while suppressing an increase in the size of the apparatus.

上記課題を解決するため、本発明の成膜装置は、
チャンバと、
前記チャンバ内に配される基板上に薄膜を形成するための成膜源と、
内部が大気環境に保たれ、かつ前記成膜源を支持して往復移動する支持台と、
両端がいずれも回動自在に軸支される複数の大気アームにより構成され、前記チャンバと前記支持台とを連結するように設けられると共に、前記チャンバの外部と前記支持台の内部とを連通させ、かつ前記支持台の移動に伴って移動する連結機構と、
前記支持台の内部に配されて、前記成膜源に冷却液を供給するための第1冷却管と、
前記連結機構の内部に配されると共に、前記第1冷却管に対して多岐管を介して接続され、かつ、いずれも前記第1冷却管よりも細い複数の第2冷却管と、
を備えることを特徴とする。
In order to solve the above problems, the film forming apparatus of the present invention includes:
a chamber;
a deposition source for forming a thin film on a substrate arranged in the chamber;
a support table whose inside is kept in an atmospheric environment and which reciprocates while supporting the film formation source;
It is composed of a plurality of atmospheric arms, both ends of which are rotatably supported , and is provided so as to connect the chamber and the support base, and communicates the outside of the chamber with the inside of the support base. and a connecting mechanism that moves along with the movement of the support base;
a first cooling pipe disposed inside the support table for supplying cooling liquid to the film formation source;
a plurality of second cooling pipes arranged inside the coupling mechanism, connected to the first cooling pipes via manifolds, and all of which are thinner than the first cooling pipes;
characterized by comprising

本発明によれば、成膜源に供給する冷却液の流量を増加させるために第1冷却管を太くしても、複数の第2冷却管は曲率半径を小さな状態で湾曲させることができる。そのため、連結機構を大きくしなくても、複数の第2冷却管を連結機構の内部に配することが可能となる。 According to the present invention, even if the first cooling pipe is widened in order to increase the flow rate of the cooling liquid supplied to the film forming source, the plurality of second cooling pipes can be curved with a small radius of curvature. Therefore, it is possible to dispose a plurality of second cooling pipes inside the connecting mechanism without enlarging the connecting mechanism.

以上説明したように、本発明によれば、装置の大型化を抑制しつつ、成膜源に供給する冷却液の流量の増加を図ることができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to increase the flow rate of the cooling liquid supplied to the film forming source while suppressing an increase in size of the apparatus.

本発明の実施例に係る成膜装置の内部構成を上方から見た概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram of an internal configuration of a film forming apparatus according to an example of the present invention, viewed from above; FIG. 本発明の実施例に係る成膜装置の内部構成を断面的に見た概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram showing a cross section of an internal configuration of a film forming apparatus according to an example of the present invention; FIG. 本発明の実施例に係る成膜装置の内部構成を断面的に見た概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram showing a cross section of an internal configuration of a film forming apparatus according to an example of the present invention; FIG. 本発明の実施例に係る成膜源の概略構成図である。1 is a schematic configuration diagram of a film forming source according to an embodiment of the present invention; FIG. 本発明の実施例に係る連結機構の一部を示す模式的断面図である。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing part of a coupling mechanism according to an embodiment of the invention; 本発明の実施例に係る第2冷却管の動作説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of the operation of the second cooling pipe according to the embodiment of the present invention; 電子デバイスの一例を示す模式的断面図である。1 is a schematic cross-sectional view showing an example of an electronic device; FIG.

以下に図面を参照して、この発明を実施するための形態を、実施例に基づいて例示的に詳しく説明する。ただし、この実施例に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは、特定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A mode for carrying out the present invention will be exemplarily described in detail below based on an embodiment with reference to the drawings. However, unless there is a specific description, the dimensions, materials, shapes, relative positions, etc. of the components described in this embodiment are not intended to limit the scope of the present invention.

(実施例)
図1~図6を参照して、本発明の実施例に係る成膜装置について説明する。なお、本実施例においては、成膜装置の一例として、スパッタ装置の場合を例にして説明する。図1は本発明の実施例に係る成膜装置の内部構成を上方から見た概略構成図である。図2は、図1において、矢印V1方向に見た断面図である。図3は、図1において、矢印V2方向に見た断面図である。図4は本発明の実施例に係る成膜源の概略構成図であり、同図(a)は成膜源の付近を正面から見た概略構成図であり、同図(b)は同図(a)中のAA断面図である。なお、図4(a)では、大気ボックスについては断面図で示している。図5は本発明の実施例に係る連結機構の一部を示す模式的断面図であり、大気アームの一部の付近を断面図にて示している。図6は本発明の実施例に係る第2冷却管の動作説明図である。
(Example)
A film forming apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 6. FIG. In this embodiment, a sputtering apparatus will be described as an example of a film forming apparatus. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of the internal configuration of a film forming apparatus according to an embodiment of the present invention, viewed from above. FIG. 2 is a cross-sectional view of FIG. 1 as viewed in the direction of arrow V1. FIG. 3 is a cross-sectional view of FIG. 1 as viewed in the direction of arrow V2. 4A and 4B are schematic configuration diagrams of a film forming source according to an embodiment of the present invention, in which FIG. It is AA sectional drawing in (a). Note that FIG. 4A shows a cross-sectional view of the atmospheric box. FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing a part of the coupling mechanism according to the embodiment of the present invention, showing a cross-sectional view of the vicinity of a part of the air arm. FIG. 6 is an explanatory diagram of the operation of the second cooling pipe according to the embodiment of the present invention.

<成膜装置の全体構成>
図1~図3を参照して、本実施例に係る成膜装置1の全体構成について説明する。成膜装置1は、内部が真空雰囲気となるチャンバ10と、チャンバ10内に備えられる成膜源100と、成膜源100を移動させるための駆動装置200とを備えている。
<Overall Configuration of Film Forming Apparatus>
An overall configuration of a film forming apparatus 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 3. FIG. The film forming apparatus 1 includes a chamber 10 having a vacuum atmosphere inside, a film forming source 100 provided in the chamber 10 , and a driving device 200 for moving the film forming source 100 .

チャンバ10内には、基板Pを保持する基板保持機構11と、マスクMを保持するマスク保持機構12が備えられている。これらの保持機構により、基板PとマスクMは、成膜動作中(スパッタリング動作中)は静止した状態が保たれる。チャンバ10は気密容器であり、排気ポンプ20によって、その内部は真空状態(又は減圧状態)に維持される。ガス供給弁30を開き、チャンバ10内にガスを供給することで、処理に対する適切なガス雰囲気(又は圧力帯)に適宜変更することができる。チャンバ10全体は接地回路40により電気的に接地されている。 A substrate holding mechanism 11 for holding the substrate P and a mask holding mechanism 12 for holding the mask M are provided in the chamber 10 . These holding mechanisms keep the substrate P and the mask M stationary during the film formation operation (during the sputtering operation). The chamber 10 is an airtight container, and its interior is maintained in a vacuum state (or a reduced pressure state) by an exhaust pump 20 . By opening the gas supply valve 30 and supplying gas into the chamber 10, the gas atmosphere (or pressure range) suitable for the process can be appropriately changed. The entire chamber 10 is electrically grounded by ground circuit 40 .

駆動装置200は、成膜源100を支持する支持台としての大気ボックス210と、大気ボックス210の移動を案内する一対のガイドレール221,222と、大気ボックス210を往復移動させる移動機構230とを備えている。また、駆動装置200には、チ
ャンバ10と大気ボックス210とを連結するように設けられ、大気ボックス210の移動に伴って従動して移動する連結機構240も備えられている。大気ボックス210は、その内部が空洞となっており、連結機構240により、チャンバ10の外部と大気ボックス210の内部とを連通させることで、大気ボックス210の内部は大気環境に保たれるように構成されている。このような構成が採用されることで、チャンバ10の外部に設けられた冷却液供給装置50に接続される冷却管と、同じくチャンバ10の外部に設けられた電源60に接続される配線61を成膜源100に接続することができる。
The driving device 200 includes an atmospheric box 210 as a support base for supporting the film forming source 100, a pair of guide rails 221 and 222 for guiding movement of the atmospheric box 210, and a moving mechanism 230 for reciprocating the atmospheric box 210. I have. The driving device 200 also includes a connecting mechanism 240 that is provided to connect the chamber 10 and the atmosphere box 210 and moves following movement of the atmosphere box 210 . The inside of the atmospheric box 210 is hollow, and the outside of the chamber 10 and the inside of the atmospheric box 210 are communicated by the connection mechanism 240 so that the inside of the atmospheric box 210 is kept in the atmospheric environment. It is configured. By adopting such a configuration, the cooling pipe connected to the cooling liquid supply device 50 provided outside the chamber 10 and the wiring 61 connected to the power supply 60 similarly provided outside the chamber 10 are arranged. It can be connected to the deposition source 100 .

大気ボックス210は、移動機構230によって、一対のガイドレール221,222に沿って、往復移動するように構成されている。移動機構230は、ボールねじ機構を採用しており、ボールねじ231と、ボールねじ231を回転させるモータなどの駆動源232とを備えている。ただし、大気ボックス210を往復移動させるための移動機構については、ボールねじ機構に限定されることはなく、ラックアンドピニオン機構など、各種公知技術を採用し得る。移動機構230にラックアンドピニオン機構を採用する場合は、搬送ガイド部分に設けることができる。 Air box 210 is configured to reciprocate along a pair of guide rails 221 and 222 by movement mechanism 230 . The movement mechanism 230 employs a ball screw mechanism and includes a ball screw 231 and a driving source 232 such as a motor for rotating the ball screw 231 . However, the movement mechanism for reciprocating the air box 210 is not limited to the ball screw mechanism, and various known techniques such as a rack and pinion mechanism may be employed. When a rack-and-pinion mechanism is adopted as the moving mechanism 230, it can be provided in the transport guide portion.

<成膜源>
図4を参照して、成膜源100について、より詳細に説明する。成膜源100は、ターゲット110と、ターゲット110の両端を支持するサポートブロック120及びエンドブロック130とを備えている。なお、本実施例においては、ターゲット110は、2本設けられており、サポートブロック120及びエンドブロック130も、2本のターゲット110にそれぞれ一つずつ設けられている。ターゲット110は、スパッタリング時に回転する円筒状の部材であり、ロータリーカソードとも呼ばれる。サポートブロック120及びエンドブロック130は、大気ボックス210の上面に固定されている。ターゲット110は、円筒状のターゲット本体111と、その内周に配される電極であるカソード112とを備えている。また、ターゲット110は、サポートブロック120及びエンドブロック130により回転自在に支持されており、エンドブロック130内に備えられた不図示のモータなどの駆動源により、スパッタリング時に回転するように構成されている。なお、マグネトロンスパッタリング方式のスパッタ装置の場合には、ターゲット110と基板Pとの間に磁場(漏洩磁場)を発生させるために、カソード112の内部に磁石が設けられる。
<Deposition source>
The film deposition source 100 will be described in more detail with reference to FIG. The deposition source 100 includes a target 110 and support blocks 120 and end blocks 130 that support both ends of the target 110 . In this embodiment, two targets 110 are provided, and one support block 120 and one end block 130 are provided for each of the two targets 110 . The target 110 is a cylindrical member that rotates during sputtering and is also called a rotary cathode. Support block 120 and end block 130 are fixed to the upper surface of atmospheric box 210 . The target 110 includes a cylindrical target body 111 and a cathode 112, which is an electrode arranged on the inner periphery thereof. The target 110 is rotatably supported by the support block 120 and the end block 130, and is configured to rotate during sputtering by a driving source such as a motor (not shown) provided in the end block 130. . In the case of a magnetron sputtering type sputtering apparatus, a magnet is provided inside the cathode 112 in order to generate a magnetic field (leakage magnetic field) between the target 110 and the substrate P. FIG.

以上のように構成される成膜源100においては、ターゲット110とアノードであるチャンバ10との間に一定以上の電圧を印加することにより、これらの間にプラズマが発生する。そして、プラズマ中の陽イオンがターゲット110に衝突することで、ターゲット110(ターゲット本体111)からターゲット材料の粒子が放出される。ターゲット110から放出された粒子は、衝突を繰り返しながら、放出された粒子のうちターゲット物質の中性の原子が基板Pに堆積していく。これにより、基板Pには、ターゲット110の構成原子による薄膜が形成される。また、マグネトロンスパッタリング方式の場合には、上記の漏えい磁場によって、ターゲット110と基板Pとの間の所定領域にプラズマを集中させることができる。これにより、効率的にスパッタリングが行われるため、基板Pへのターゲット物質の堆積速度を向上させることができる。更に、本実施例に係る成膜源100においては、スパッタリングの最中にターゲット110が回転するように構成されている。これにより、ターゲット110の消耗領域(エロ―ジョンによる浸食領域)が一部に集中することはなく、ターゲット110の利用効率を高めることができる。 In the deposition source 100 configured as described above, plasma is generated between the target 110 and the chamber 10, which is the anode, by applying a voltage above a certain level. Then, particles of the target material are emitted from the target 110 (target body 111) by colliding with the target 110 with positive ions in the plasma. The particles emitted from the target 110 repeatedly collide, and among the emitted particles, neutral atoms of the target material are deposited on the substrate P. As shown in FIG. Thereby, a thin film is formed on the substrate P by the constituent atoms of the target 110 . Moreover, in the case of the magnetron sputtering method, plasma can be concentrated in a predetermined region between the target 110 and the substrate P due to the leakage magnetic field. As a result, sputtering is efficiently performed, and the deposition rate of the target material onto the substrate P can be improved. Furthermore, in the film formation source 100 according to this embodiment, the target 110 is configured to rotate during sputtering. As a result, the consumed area (corroded area due to erosion) of the target 110 is not concentrated in one part, and the utilization efficiency of the target 110 can be improved.

<連結機構>
連結機構240について、より詳細に説明する。連結機構240は、両端がいずれも回動自在に軸支され、かつ、内部が空洞である複数の大気アームにより構成される。より具体的には、連結機構240は、第1大気アーム241と第2大気アーム242とを備えて
いる。第1大気アーム241は、第1の端部がチャンバ10の底板に対して回動自在に構成されている。そして、第2大気アーム242は、第1の端部が第1大気アーム241の第2の端部に対して回動自在に軸支される。第2大気アーム242の第2の端部が大気ボックス210に対して回動自在に軸支されている。
<Coupling mechanism>
The coupling mechanism 240 will be described in more detail. The connecting mechanism 240 is composed of a plurality of atmospheric arms, both ends of which are rotatably supported, and which are hollow inside. More specifically, the coupling mechanism 240 has a first atmospheric arm 241 and a second atmospheric arm 242 . The first atmospheric arm 241 is configured such that a first end thereof is rotatable with respect to the bottom plate of the chamber 10 . A first end of the second atmospheric arm 242 is rotatably supported with respect to a second end of the first atmospheric arm 241 . A second end of the second atmospheric arm 242 is pivotally supported with respect to the atmospheric box 210 .

図5には第1大気アーム241の第1の端部付近の構造を模式的断面図にて示している。図示のように、チャンバ10の底板には貫通孔10aが設けられ、第1大気アーム241には円筒状の突出部241aが設けられている。そして、大気ボックス210の底板と第1大気アーム241との間には、これらを回動自在に接続するための段差付きの円筒状部材241bが設けられている。この円筒状部材241bの一端は、チャンバ10の底板に設けられた貫通孔10a内に挿入されている。また、第1大気アーム241に設けられた突出部241aが、円筒状部材241bの他端側から挿入されている。なお、貫通孔10aと円筒状部材241bとの間の環状隙間と、突出部241aと円筒状部材241bとの間の環状隙間は、それぞれシールリング241c,241dによって封止されている。 FIG. 5 shows a schematic cross-sectional view of the structure near the first end of the first atmospheric arm 241 . As shown, the bottom plate of the chamber 10 is provided with a through hole 10a, and the first atmospheric arm 241 is provided with a cylindrical protrusion 241a. A stepped cylindrical member 241b is provided between the bottom plate of the atmospheric box 210 and the first atmospheric arm 241 to rotatably connect them. One end of the cylindrical member 241b is inserted into a through hole 10a provided in the bottom plate of the chamber 10. As shown in FIG. A projecting portion 241a provided on the first atmospheric arm 241 is inserted from the other end side of the cylindrical member 241b. The annular gap between the through hole 10a and the cylindrical member 241b and the annular gap between the projecting portion 241a and the cylindrical member 241b are sealed by seal rings 241c and 241d, respectively.

以上のような構成により、第1大気アーム241はチャンバ10の底板に対して回動自在に支持されつつ、第1大気アーム241内の空洞部と、第1大気アーム241の外側の空間(チャンバ10の内部空間)とは隔てられる。つまり、チャンバ10の内部を真空状態(又は減圧状態)に維持することができる。なお、第1大気アーム241と第2大気アーム242とが回動自在に軸支されている機構と、第2大気アーム242と大気ボックス210とが回動自在に軸支されている機構についても、同様の機構であるので、その説明は省略する。また、本実施例においては、2つのアームにより構成される場合を示したが、大気ボックス210の移動距離を長くしたい場合には、3つ以上のアームを連結することもできる。 With the above configuration, the first atmospheric arm 241 is rotatably supported on the bottom plate of the chamber 10, and the cavity inside the first atmospheric arm 241 and the space outside the first atmospheric arm 241 (chamber 10 interior space). That is, the inside of the chamber 10 can be maintained in a vacuum state (or a reduced pressure state). A mechanism in which the first atmospheric arm 241 and the second atmospheric arm 242 are rotatably supported and a mechanism in which the second atmospheric arm 242 and the atmospheric box 210 are rotatably supported are also described. , the mechanism is the same, so the explanation thereof will be omitted. Also, in the present embodiment, the case of being composed of two arms has been shown, but three or more arms can be connected if the movement distance of the atmospheric box 210 is desired to be long.

以上のように構成される連結機構240を備える駆動装置200により、大気ボックス210に固定された成膜源100を、大気ボックス210と共に往復移動させることが可能となる。これにより、往路及び復路のうちの少なくともいずれか一方の移動中に、成膜源100を稼働させることによって、基板Pに対して、成膜動作(スパッタリング)を行うことができる。従って、面積の広い基板Pに成膜を形成する場合であっても、駆動装置200により、成膜源100を移動させながら成膜動作を行うことで、基板Pの一端側から他端側に向かって連続的に薄膜を形成することができる。 The driving device 200 having the connection mechanism 240 configured as described above enables the film formation source 100 fixed to the atmosphere box 210 to reciprocate together with the atmosphere box 210 . As a result, the film formation operation (sputtering) can be performed on the substrate P by operating the film formation source 100 during movement of at least one of the forward trip and the return trip. Therefore, even when a film is formed on a substrate P having a large area, the driving device 200 moves the film forming source 100 while performing the film forming operation. A thin film can be continuously formed toward the substrate.

<冷却管>
冷却管について、より詳細に説明する。本実施例に係る冷却管は、大気ボックス210の内部に配されて成膜源100に接続される第1冷却管51と、連結機構240の内部に配される複数の第2冷却管52と、冷却液供給装置50に接続される第3冷却管53とを備えている。また、冷却管は、大気ボックス210の内部に配され、第1冷却管51と複数の第2冷却管52とを接続する多岐管54と、チャンバ10の外部に配され、複数の第2冷却管52と第3冷却管53とを接続する外部多岐管55とを備えている。
<Cooling pipe>
The cooling pipe will be explained in more detail. The cooling pipes according to this embodiment include a first cooling pipe 51 arranged inside the atmosphere box 210 and connected to the film formation source 100, and a plurality of second cooling pipes 52 arranged inside the connecting mechanism 240. , and a third cooling pipe 53 connected to the cooling liquid supply device 50 . In addition, the cooling pipes are arranged inside the atmospheric box 210 and arranged outside the chamber 10, a manifold 54 connecting the first cooling pipe 51 and the plurality of second cooling pipes 52, and a plurality of second cooling pipes. An external manifold 55 is provided connecting the pipe 52 and the third cooling pipe 53 .

複数の第2冷却管52は、いずれも第1冷却管51よりも細く、かつ第3冷却管53よりも細い。そして、複数の第2冷却管52は、束にして捩じれた状態で連結機構240の内部に配されている。図2,3,6において、図中の符号52aは、複数の第2冷却管52が束にされて捩じれた状態の部位を示している。このような構成を採用することで、第1大気アーム241と第2大気アーム242とのなす角が大きくなり直線に近い状態に近づくと、束になった複数の第2冷却管52は捩じれがきつくなり、互いの間隔が狭い状態となる(図6(a)参照)。これに対して、第1大気アーム241と第2大気アーム242とのなす角が小さくなり、屈曲した状態になると、束になった複数の第2冷却管52は捩じれが緩くなり、互いの間隔が広い状態となる(図6(b)参照)。しかしながら、第
2冷却管52同士は、ある程度拘束されるため、無駄に弛んでしまうことを抑制でき、第2冷却管52同士、及び第2冷却管52とアーム内壁面との間で摺動摩擦が生じてしまうことを抑制することができる。なお、複数の第2冷却管52を束にして捩じれた状態にすることなく連結機構240の内部に配した場合には、各々の第2冷却管52は拘束されることなく個別に動作するため、局所的に摺動摩擦が生じて耐久性が低下するおそれがある。
All of the plurality of second cooling pipes 52 are thinner than the first cooling pipes 51 and thinner than the third cooling pipes 53 . The plurality of second cooling pipes 52 are bundled and arranged inside the connecting mechanism 240 in a twisted state. In FIGS. 2, 3 and 6, reference numeral 52a in the figures indicates a portion where the plurality of second cooling pipes 52 are bundled and twisted. By adopting such a configuration, when the angle formed by the first atmosphere arm 241 and the second atmosphere arm 242 becomes large and approaches a straight line, the bundle of the plurality of second cooling pipes 52 is not twisted. It becomes tight and the distance between them becomes narrow (see FIG. 6(a)). On the other hand, when the angle formed by the first atmospheric arm 241 and the second atmospheric arm 242 becomes small and bent, the twist of the plurality of bundled second cooling pipes 52 becomes loose, and the distance between each other becomes becomes wide (see FIG. 6(b)). However, since the second cooling pipes 52 are constrained to some extent, unnecessary loosening can be suppressed, and sliding friction is generated between the second cooling pipes 52 and between the second cooling pipes 52 and the inner wall surface of the arm. You can prevent it from happening. It should be noted that when a plurality of second cooling pipes 52 are bundled and arranged inside the connecting mechanism 240 without being twisted, each of the second cooling pipes 52 operates independently without being restrained. , there is a risk that sliding friction will occur locally and durability will decrease.

<本実施例に係る成膜装置の優れた点>
本実施例に係る成膜装置1によれば、成膜源100に供給する冷却液の流量を増加させるために第1冷却管51を太くしても、複数の第2冷却管52は、いずれも第1冷却管51よりも細い。そのため、個々の第2冷却管52については、曲率半径を小さな状態で湾曲させることができる。従って、連結機構240を大きくしなくても、複数の第2冷却管52を連結機構240の内部に配することが可能となる。これにより、装置の大型化を抑制しつつ、成膜源100に供給する冷却液の流量の増加を図ることができる。また、大気ボックス210内においては、1本の第1冷却管51によって冷却液を供給する構成を採用することで、大気ボックス210内の容積を有効利用することができる。すなわち、仮に、大気ボックス210内において、複数の第2冷却管52を配する構成を採用した場合には、管の被覆の分だけ、冷却管の占有容積が大きくなってしまう。ただし、本発明においては、必ずしも第1冷却管が1本のみ設けられる構成に限定される訳ではない。第3冷却管についても同様に、2本以上設けられる場合も含まれる。
<Excellent Points of the Film Forming Apparatus According to the Present Example>
According to the film forming apparatus 1 according to the present embodiment, even if the first cooling pipe 51 is made thicker in order to increase the flow rate of the cooling liquid supplied to the film forming source 100, the plurality of second cooling pipes 52 will eventually is also thinner than the first cooling pipe 51 . Therefore, each second cooling pipe 52 can be curved with a small radius of curvature. Therefore, the plurality of second cooling pipes 52 can be arranged inside the connecting mechanism 240 without enlarging the connecting mechanism 240 . As a result, it is possible to increase the flow rate of the cooling liquid supplied to the film forming source 100 while suppressing an increase in the size of the apparatus. In addition, by adopting a configuration in which the cooling liquid is supplied through the single first cooling pipe 51 in the atmosphere box 210, the volume inside the atmosphere box 210 can be effectively used. That is, if a configuration in which a plurality of second cooling pipes 52 are arranged in the atmosphere box 210 is adopted, the occupied volume of the cooling pipes will increase by the amount of the coating of the pipes. However, the present invention is not necessarily limited to the configuration in which only one first cooling pipe is provided. Similarly, the third cooling pipe may be provided with two or more.

<電子デバイスの製造装置>
上記実施例で示した成膜装置1は、電子デバイスを製造するための製造装置として利用可能である。以下、電子デバイスの製造装置、及び、電子デバイスの製造装置により製造される電子デバイスについて、図7を参照して説明する。成膜装置1は、半導体デバイス、磁気デバイス、電子部品などの各種電子デバイスや、光学部品などの製造において基板P上(基板Pの表面に積層体が形成されているものも含む)に薄膜(有機膜、金属膜、金属酸化物膜など)を堆積形成するために用いることができる。より具体的には、成膜装置1は、発光素子や光電変換素子、タッチパネルなどの電子デバイスの製造において好ましく用いられる。中でも、本実施例に係る成膜装置1は、有機EL(ElectroLuminescence)素子などの有機発光素子や、有機薄膜太陽電池などの有機光電変換素子の製造において特に好ましく適用可能である。なお、電子デバイスは、発光素子を備えた表示装置(例えば有機EL表示装置)や照明装置(例えば有機EL照明装置)、光電変換素子を備えたセンサ(例えば有機CMOSイメージセンサ)も含むものである。
<Electronic Device Manufacturing Equipment>
The film forming apparatus 1 shown in the above embodiment can be used as a manufacturing apparatus for manufacturing electronic devices. An electronic device manufacturing apparatus and an electronic device manufactured by the electronic device manufacturing apparatus will be described below with reference to FIG. The film forming apparatus 1 forms a thin film ( organic films, metal films, metal oxide films, etc.). More specifically, the film forming apparatus 1 is preferably used in manufacturing electronic devices such as light emitting elements, photoelectric conversion elements, and touch panels. Among others, the film forming apparatus 1 according to the present embodiment is particularly preferably applicable to the manufacture of organic light-emitting elements such as organic EL (ElectroLuminescence) elements and organic photoelectric conversion elements such as organic thin-film solar cells. Electronic devices include display devices (eg, organic EL display devices) and lighting devices (eg, organic EL lighting devices) equipped with light-emitting elements, and sensors (eg, organic CMOS image sensors) equipped with photoelectric conversion elements.

電子デバイスの製造装置により製造される有機EL素子の一例を図7に示している。図示の有機EL素子は、基板P上に、陽極F1、正孔注入層F2、正孔輸送層F3、有機発光層F4、電子輸送層F5、電子注入層F6、陰極F7の順番に成膜されている。本実施例に係る成膜装置1は、特に、有機膜上に、スパッタリングによって、電子注入層や電極(陰極や陽極)に用いられる金属膜や金属酸化物等の積層被膜を成膜する際に好適に用いられる。また、有機膜上への成膜に限定されず、金属材料や酸化物材料等のスパッタで成膜可能な材料の組み合わせであれば、多様な面に積層成膜が可能である。 FIG. 7 shows an example of an organic EL element manufactured by an electronic device manufacturing apparatus. In the illustrated organic EL element, an anode F1, a hole injection layer F2, a hole transport layer F3, an organic light emitting layer F4, an electron transport layer F5, an electron injection layer F6 and a cathode F7 are formed in this order on a substrate P. ing. The film forming apparatus 1 according to the present embodiment is used particularly when forming a laminated film such as a metal film or metal oxide used for an electron injection layer or an electrode (cathode or anode) on an organic film by sputtering. It is preferably used. In addition, it is not limited to film formation on an organic film, and lamination film formation is possible on various surfaces as long as it is a combination of materials that can be formed by sputtering, such as metal materials and oxide materials.

(その他)
上記実施例においては、成膜装置1がスパッタ装置であり、成膜源100がターゲット110などを備える構成の場合を示した。しかしながら、本発明においては、例えば、成膜装置が真空蒸着装置で、成膜源が蒸発源の場合にも適用可能である。
(others)
In the above embodiment, the film forming apparatus 1 is a sputtering apparatus, and the film forming source 100 includes the target 110 and the like. However, the present invention can also be applied, for example, when the film forming apparatus is a vacuum deposition apparatus and the film forming source is an evaporation source.

1 成膜装置
10 チャンバ
51 第1冷却管
52 第2冷却管
53 第3冷却管
54 多岐管
55 外部多岐管
100 成膜源
200 駆動装置
210 大気ボックス
230 移動機構
240 連結機構
241 第1大気アーム
242 第2大気アーム
Reference Signs List 1 deposition apparatus 10 chamber 51 first cooling pipe 52 second cooling pipe 53 third cooling pipe 54 manifold 55 external manifold 100 deposition source 200 drive device 210 atmospheric box 230 moving mechanism 240 connecting mechanism 241 first atmospheric arm 242 2nd atmospheric arm

Claims (5)

チャンバと、
前記チャンバ内に配される基板上に薄膜を形成するための成膜源と、
内部が大気環境に保たれ、かつ前記成膜源を支持して往復移動する支持台と、
両端がいずれも回動自在に軸支される複数の大気アームにより構成され、前記チャンバと前記支持台とを連結するように設けられると共に、前記チャンバの外部と前記支持台の内部とを連通させ、かつ前記支持台の移動に伴って移動する連結機構と、
前記支持台の内部に配されて、前記成膜源に冷却液を供給するための第1冷却管と、
前記連結機構の内部に配されると共に、前記第1冷却管に対して多岐管を介して接続され、かつ、いずれも前記第1冷却管よりも細い複数の第2冷却管と、
を備えることを特徴とする成膜装置。
a chamber;
a deposition source for forming a thin film on a substrate arranged in the chamber;
a support table whose inside is kept in an atmospheric environment and which reciprocates while supporting the film formation source;
It is composed of a plurality of atmospheric arms, both ends of which are rotatably supported , and is provided so as to connect the chamber and the support base, and communicates the outside of the chamber with the inside of the support base. and a connecting mechanism that moves along with the movement of the support base;
a first cooling pipe disposed inside the support table for supplying cooling liquid to the film formation source;
a plurality of second cooling pipes arranged inside the coupling mechanism, connected to the first cooling pipes via manifolds, and all of which are thinner than the first cooling pipes;
A film forming apparatus comprising:
前記チャンバの外部に配されると共に、前記チャンバの外部に配された外部多岐管を介して、前記複数の第2冷却管に接続され、かつ前記第2冷却管よりも太い第3冷却管を備えることを特徴とする請求項1に記載の成膜装置。 a third cooling pipe arranged outside the chamber and connected to the plurality of second cooling pipes via an external manifold arranged outside the chamber and having a larger diameter than the second cooling pipes; 2. The film forming apparatus according to claim 1, further comprising: 前記複数の大気アームは、
第1の端部が前記チャンバに回動自在に軸支される第1大気アームと、
第1の端部が前記第1大気アームの第2の端部に回動自在に軸支され、第2の端部が前記支持台に回動自在に軸支される第2大気アームと、
を備えることを特徴とする請求項1または2に記載の成膜装置。
The plurality of atmospheric arms are
a first atmospheric arm having a first end pivotally journaled in the chamber;
a second atmospheric arm having a first end rotatably supported by the second end of the first atmospheric arm and a second end rotatably supported by the support base;
3. The film forming apparatus according to claim 1 , comprising:
前記複数の第2冷却管は、束にして捩じれた状態で前記連結機構の内部に配されていることを特徴とする請求項1~のいずれか一つに記載の成膜装置。 4. The film forming apparatus according to claim 1 , wherein the plurality of second cooling pipes are bundled and arranged inside the connecting mechanism in a twisted state. 前記成膜源は、スパッタリングによって、基板上に薄膜を形成するための粒子を放出し、かつ、スパッタリングの際に回転するように構成される少なくとも一つの円筒状のターゲットを備えることを特徴とする請求項1~のいずれか一つに記載の成膜装置。 The deposition source emits particles for forming a thin film on a substrate by sputtering, and comprises at least one cylindrical target configured to rotate during sputtering. The film forming apparatus according to any one of claims 1 to 4 .
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013253316A (en) 2012-05-09 2013-12-19 Iza Corp Sputtering apparatus
JP2017521560A (en) 2014-07-09 2017-08-03 ソレラス・アドヴァンスト・コーティングス・ビーヴイビーエー Sputtering apparatus having a moving target
JP2020105566A (en) 2018-12-27 2020-07-09 キヤノントッキ株式会社 Film deposition apparatus, film deposition method, and method of manufacturing electronic device

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006322055A (en) * 2005-05-20 2006-11-30 Kobe Steel Ltd Continuous film deposition system
KR20090130559A (en) * 2008-06-16 2009-12-24 삼성모바일디스플레이주식회사 Transfer apparatus and organic deposition device with the same
CN102251218B (en) * 2010-05-18 2014-04-23 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 Film plating apparatus
JP2012140671A (en) * 2010-12-28 2012-07-26 Canon Tokki Corp Film-forming apparatus
CN103695845B (en) * 2013-11-29 2015-12-09 东莞市汇成真空科技有限公司 A kind of pollution-free heating tube device of vertical vacuum ion film coating machine
JPWO2016204022A1 (en) * 2015-06-16 2018-01-25 株式会社アルバック Film forming method and film forming apparatus
JP6852018B2 (en) * 2018-05-31 2021-03-31 キヤノントッキ株式会社 Thin-film deposition method, electronic device manufacturing method, and thin-film deposition equipment
JP7193291B2 (en) * 2018-09-28 2022-12-20 キヤノントッキ株式会社 Film forming apparatus, film forming method, and electronic device manufacturing method
JP7136648B2 (en) * 2018-09-28 2022-09-13 キヤノントッキ株式会社 Film forming apparatus, film forming method, and electronic device manufacturing method
JP7229015B2 (en) * 2018-12-27 2023-02-27 キヤノントッキ株式会社 Film forming apparatus, film forming method, and electronic device manufacturing method
JP7324593B2 (en) * 2019-03-05 2023-08-10 キヤノントッキ株式会社 Mechanism for introducing utility line into vacuum chamber, deposition equipment, deposition system

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013253316A (en) 2012-05-09 2013-12-19 Iza Corp Sputtering apparatus
JP2017521560A (en) 2014-07-09 2017-08-03 ソレラス・アドヴァンスト・コーティングス・ビーヴイビーエー Sputtering apparatus having a moving target
JP2020105566A (en) 2018-12-27 2020-07-09 キヤノントッキ株式会社 Film deposition apparatus, film deposition method, and method of manufacturing electronic device

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