JP7146811B2 - 散乱防止コリメータと組み合わせた基準検出器素子 - Google Patents
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Description
12 X線源
18 散乱防止コリメータ
20 X線ビーム、X線光子
22 ビーム整形器、フィルタアセンブリ
24 患者、物体、被検体
26 減衰されたX線光子
28 検出器、検出器アレイ
30 システムコントローラ
32 直線位置決めサブシステム
34 回転サブシステム
36 モータコントローラ
38 X線コントローラ
40 データ取得システム(DAS)
42 コンピュータ
44 画像処理回路
46 非一時的メモリデバイス、メモリ
48 オペレータワークステーション
50 ディスプレイ
52 プリンタ
54 画像保管通信システム(PACS)
56 遠隔システム、クライアント
80 一次画素、活性画素
80A 第1の一次画素
80B 第2の一次画素
80C 一次画素
80D 一次画素
82 散乱防止コリメータ隔壁
86 基準検出器画素
86A 第1の基準画素、基準検出器画素
86B 第2の基準画素、基準検出器画素
86C 基準検出器画素
86D 基準検出器画素
86E 基準検出器画素
86F 基準検出器画素
86G 基準検出器画素
86H 基準検出器画素
90 焦点
90A 焦点
90B 焦点
100 ブロック
102 決定ブロック
104 ブロック
106 ブロック
108 較正係数
110 ブロック
112 焦点場所調整
120 電子雲
130 隔壁セグメント
140 基準検出器画素
142 隔壁交差部
X 次元
Y 次元
Z 次元
Claims (20)
- 一次元または二次元の幾何学的形状に配置されたX線減衰隔壁(82)を備える散乱防止コリメータ(18)と、
前記散乱防止コリメータ(18)の前記隔壁(82)の下方にならないように位置決めされた一次画素(80、80A、80B、80C、80D)のアレイ、および
1つまたは複数のそれぞれの一次画素(80、80A、80B、80C、80D)に隣接し、それぞれの隔壁(82)または隔壁(82)の交差部(142)の下方に位置決めされた少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)
を備える放射線検出器パネルと
を備え、
前記基準画素が、X線焦点の動きの検出もしくは補正、又は電荷共有事象補正に使用される信号を出力し、
前記少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)が、それぞれの一次画素(80、80A、80B、80C、80D)よりも面積が小さい、放射線検出器アセンブリ。 - 前記少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)が、それぞれの一次画素(80、80A、80B、80C、80D)よりも面積が小さい、請求項1に記載の放射線検出器アセンブリ。
- 電荷共有事象が発生したとき、前記少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)およびそれぞれの一次画素(80、80A、80B、80C、80D)からの信号を組み合わせるように構成された読み出し電子回路を備える、請求項1に記載の放射線検出器アセンブリ。
- 前記少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)が、前記隔壁(82)の1つまたは複数または隔壁交差部(142)の下方に配置された複数の基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)を備える、請求項1に記載の放射線検出器アセンブリ。
- 前記少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)が、複数の基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)を備え、各基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)が、少なくとも1つの一次画素(80、80A、80B、80C、80D)に隣接する、請求項1に記載の放射線検出器アセンブリ。
- 前記少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)が、複数の基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)を備え、前記複数の基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)が、一対の第1の基準画素(86A)が第1の一次画素(80A)に隣接し、一対の第2の基準画素(86B)が第2の一次画素(80B)に隣接するように、前記X線減衰隔壁(82)の少なくとも一部の下方に対で配置される、請求項1に記載の放射線検出器アセンブリ。
- 前記放射線検出器パネルが、直接変換検出器パネルである、請求項1に記載の放射線検出器アセンブリ。
- X線信号補正のための方法であって、
少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)から信号を読み出すことであって、前記少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)が、検出器パネルに近接して位置決めされた散乱防止コリメータ(18)のX線減衰隔壁(82)または隔壁交差部(142)の下方に位置決めされている、少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)から信号を読み出すことと、
前記少なくとも1つの基準画素からの信号を分析して電荷共有事象またはX線焦点(90、90A、90B)の不整列の一方または両方を示すことと、
前記分析に基づいて、前記電荷共有事象またはX線焦点(90、90A、90B)の不整列の一方または両方の補正を実行することと
を含み、
前記少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)が、それぞれの一次画素(80、80A、80B、80C、80D)よりも面積が小さい、方法。 - 前記信号を分析することが、X線焦点(90、90A、90B)の不整列を示す信号パターンについて前記信号を分析することを含み、
信号パターンが検出されない場合、補正措置を取らないことと、
信号パターンが検出される場合、前記信号パターンに基づいてX線焦点(90、90A、90B)の位置を推定することと
をさらに含む、請求項8に記載の方法。 - 前記少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)を読み出すことが、エアスキャン中に実行され、
前記X線焦点(90、90A、90B)の不整列を補正する較正係数(108)を生成することと、
前記較正係数(108)を使用して、後続の読み出し動作で前記検出器パネルの複数の一次画素(80、80A、80B、80C、80D)から読み出されたデータを調整してX線焦点(90、90A、90B)の不整列を補償することであって、前記後続の読み出し動作は、物体または患者(24)のスキャンであることと、
前記較正係数(108)を使用して、リアルタイムで焦点(90、90A、90B)の前記位置を調整して前記不整列を補正することと
をさらに含む、請求項8に記載の方法。 - スキャン中に観察されるX線焦点(90、90A、90B)の不整列の調整を計算することと、
画像再構築中に焦点(90、90A、90B)の不整列の前記調整を使用することと
をさらに含む、請求項8に記載の方法。 - 前記少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)を読み出すことが、前記検出器パネルの少なくとも1つの縁部の少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)を読み出すことを含む、請求項8に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)が、複数の一次画素(80、80A、80B、80C、80D)とは別々に読み出される、請求項8に記載の方法。
- 前記信号を分析することが、電荷共有事象について前記信号を分析することを含み、
1つまたは複数のそれぞれの電荷共有信号を生成し、前記電荷共有事象が検出された前記それぞれの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)に隣接する1つまたは複数のそれぞれの一次画素(80、80A、80B、80C、80D)の前記電荷共有事象を補正すること
をさらに含む、請求項8に記載の方法。 - 動作中に焦点(90、90A、90B)からX線光子(20)を放出するように構成されたX線源(12)と、
X線減衰隔壁(82)を備える散乱防止コリメータ(18)、および
前記散乱防止コリメータ(18)の前記隔壁(82)の下方にならないように位置決めされた一次画素(80、80A、80B、80C、80D)のアレイと、
それぞれの隔壁(82)または隔壁(82)の交差部(142)の下方に位置決めされた少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)と
を備える放射線検出器パネル
を備える、放射線検出器アセンブリと、
電荷共有事象が発生したとき、前記少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)およびそれぞれの一次画素(80、80A、80B、80C、80D)からの信号を組み合わせるように構成された読み出し電子回路と
を備え、
前記基準画素が電荷共有事象補正に使用される信号を出力し、
少なくとも1つの前記基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)が、それぞれの一次画素(80、80A、80B、80C、80D)よりも面積が小さい、撮像システム(10)。 - 前記放射線検出器パネルが、直接変換検出器パネルである、請求項15に記載の撮像システム(10)。
- 信号パターンについて前記少なくとも1つの基準画素(86、86A、86B、86C、86D、86E、86F、86G、86H、140)から読み出された信号を分析し、検出されるときに前記信号パターンに基づいてX線焦点(90、90A、90B)の位置を推定するように構成された処理構成要素をさらに備える、請求項15に記載の撮像システム(10)。
- 前記処理構成要素が、
前記焦点(90、90A、90B)の不整列を補正する較正係数(108)を生成し、
前記較正係数(108)を使用して、後続の読み出し動作で前記一次画素(80、80A、80B、80C、80D)のアレイから読み出されたデータを調整して焦点(90、90A、90B)の不整列を補償し、
画像再構築中に前記データ調整された焦点(90、90A、90B)の不整列を使用する
ようにさらに構成される、請求項17に記載の撮像システム(10)。 - 前記処理構成要素が、
スキャン中に観察されるX線焦点(90、90A、90B)の不整列の調整を計算し、
フィードバックを提供してリアルタイムで前記焦点(90、90A、90B)の前記位置を調整する
ようにさらに構成される、請求項17に記載の撮像システム(10)。 - 前記処理構成要素が、
スキャン中に観察される焦点(90、90A、90B)の不整列の調整係数を計算し、
画像再構築中に前記調整係数を使用する
ようにさらに構成される、請求項17に記載の撮像システム(10)。
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