JP2010213902A - 放射線撮影装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明のX線撮影装置によれば、エアー画像、ファントム画像δおよび被検体画像を基に補正画像を取得する構成となっている。この補正画像の取得において、吸収箔の影が写りこんでいない明画素B1,B2に係る明方程式と、吸収箔の影Sが写りこんでいる暗画素集団Kに係る暗方程式を連立させて解くことで直接放射線の成分を求める。これにより、被検体画像補正部は、連立方程式を確実に解くことができ、診断に好適な補正画像を取得することができる。
【選択図】図6
Description
暗画素a2の画素値 = 直接放射線の成分+間接放射線の成分
明画素a1の画素値 = 直接放射線の成分+間接放射線の成分
明画素a3の画素値 = 直接放射線の成分+間接放射線の成分
すなわち、従来の放射線撮影装置は、放射線グリッド55の影の位置が放射線検出器54に対していつも一定であることを前提としている。しかし、実際は撮影中に影の位置が放射線検出器54に対してズレることが起こる場合がある。放射線撮影装置には、天板2の長手方向に沿った軸を回転軸として、放射線源53,および放射線検出器54が回転可能となっているものがある。この様な放射線撮影装置において、放射線源53,および放射線検出器54を回転させながら放射線透視画像の撮影を行うと、放射線源53は重荷物であるので、回転に応じて放射線源53を支持する支持体が歪む。すると、放射線源53と放射線検出器54との相対位置がズレて来てしまう。
すなわち、請求項1に係る発明は、放射線を照射する放射線源と、放射線を検出する放射線検出素子が縦横に配列された放射線検出手段と、放射線検出手段の放射線検出面を覆うように設けられるとともに縦方向に伸びた吸収箔が横方向に配列されている放射線グリッドと、放射線検出手段から出力された検出信号を基に画像を生成する画像生成手段と、放射線源と放射線検出手段との間に被検体を介在させないエアー撮影を行って生成されたエアー画像を記憶するエアー画像記憶手段と、放射線源と放射線検出手段との間に被検体を介在させた被検体撮影を行って生成された被検体画像を記憶する被検体画像記憶手段と、エアー画像、被検体画像を基に被検体画像に含まれる直接放射線の成分を求めて、これを基に補正画像を生成する被検体画像補正手段とを備え、被検体画像補正手段は、各画像における吸収箔の影が写りこんでいる暗画素と暗画素に横方向から隣接する隣接画素で構成される暗画素集団における放射線強度の平均が直接放射線の成分と間接放射線の成分の和であるものした暗方程式と、吸収箔の影が写りこんでいない明画素における放射線強度が直接放射線の成分と間接放射線の成分の和であるものした明方程式から被検体画像の画素値における直接放射線の成分を求めることで補正画像を生成することを特徴とするものである。
実施例1に係るX線撮影装置1は、図1に示すように被検体Mを載置する天板2と、天板2の下側に設けられたX線を照射するX線管3と、X線を検出するフラットパネル・ディテクタ(FPD)4と、X線管3の管電流、管電圧を制御するX線管制御部6と、X線管3およびFPD4を支持するCアーム7と、Cアーム7を支持する支柱8と、Cアーム7を移動させるCアーム移動機構21と、これを制御するCアーム移動制御部22とを備えている。X線管3は、本発明の放射線源に相当し、FPD4は、本発明の放射線検出手段に相当する。また、Cアーム移動制御部22は、本発明の支持体移動制御手段に相当し、Cアーム移動機構21は、本発明の支持体移動手段に相当する。また、Cアーム7は、本発明の支持体に相当する。
次にX線撮影装置のおける動作について説明する。X線撮影装置1の動作は、図5に示すように第1エアー画像αを取得する第1エアー画像取得ステップT1と、第2エアー画像βを取得する第2エアー画像取得ステップT2と、第1エアー画像α、第2エアー画像βからグリッド減弱率マップγを取得するグリッド減弱率マップ取得ステップT3と、ファントム画像δを取得するファントム画像取得ステップT4と、グリッド減弱率マップγを用いてファントム画像δの直接線成分と間接線成分とを分離する直接線、間接線分離ステップT5と、分離された直接線成分からX線グリッド5のX線吸収のバラツキを表すバラツキマップζを取得するバラツキマップ取得ステップT6と、バラツキマップζからバラツキ率マップMηを取得するバラツキ率マップ取得ステップT7と、被検体画像ξを取得する被検体画像取得ステップT8と、グリッド減弱率マップγ、バラツキ率マップMηを基に被検体画像ξを補正する被検体画像補正ステップT9の各過程を備えている。以降、これらの各ステップを時系列順に説明する。
まず、天板2に何も載置せず、かつX線グリッド5をFPD4のX線検出面に載置しない状態でX線撮影を行う。FPD4は、X線管3から出力されたX線は、FPD4で検出され、このとき画像生成部11が生成する画像が第1エアー画像αである。第1エアー画像αは、X線管3から出力される直接X線の強度を示している。この第1エアー画像αは、情報記憶部33に記憶される。
次に、FPD4にのX線検出面にX線グリッド5を載置した状態で、天板2に何も載置せずにX線撮影を行う。このとき画像生成部11が生成する画像が第2エアー画像βである。この第2エアー画像βは、情報記憶部33に記憶される。第1エアー画像取得ステップT1,第2エアー画像取得ステップT2における撮影が本発明のエアー撮影である。
グリッド減弱率マップ取得部12は、第2エアー画像βにおける画素値の各々をそれぞれの位置に対応する第1エアー画像αにおける画素値の各々で除算する。すると、直接X線がX線グリッド5を通過する際のグリッド減弱率の分布を示すグリッド減弱率マップγが取得できる。なお、X線がX線グリッド5を透過するとき間接X線は生じないと考えられる。
次に、X線グリッド5を装着した状態で天板2にアクリル板を載置し、X線撮影を行う。この撮影がファントム撮影である。X線はアクリル板を透過する際に間接X線を生じる。つまり、このとき画像生成部11が生成するファントム画像δには、アクリル板を透過してきた直接X線と、間接X線との両方が写りこんでいる。なお、アクリル板で発生した間接X線のほとんどはX線グリッド5で吸収される。ファントム画像δにおける間接X線は、X線グリッド5が吸収しきれなかったものである。このファントム画像δは、情報記憶部33に記憶される。
次に、分離部13は、グリッド減弱率マップγとを用いて、ファントム画像δから直接線成分を分離する。この分離は、ファントム画像δにおける5つの画素を参照して行う。ここで言う5つの画素とは、図6(b)に示すように、横方向に配列した画素群Rであり、この横方向に中間の位置に存する画素は、吸収箔5aを写しこんだ暗画素Dとなっている。この暗画素Dに横方向から隣接する2つの画素を隣接画素N1,N2とし、暗画素D,隣接画素N1,N2をまとめて暗画素集団Kとする。そしてこの暗画素集団Kに横方向から隣接する2つの画素を明画素B1,B2とする。
G1=δP1・C1+δS1 ……(1)
GK=δPK・CK+δSK ……(2)
G2=δP2・C2+δS2 ……(3)
δP1=δPK=δP2=(G1−2GK+G2)/(C1―2CK+C2)……(4)
δS1=G1−δP1・C1 ……(5)
δSK=GK−δPK・CK ……(6)
δS2=G2−δP2・C2 ……(7)
バラツキ率マップMηの取得に先立って、バラツキマップ取得部14は、ファントム画像δに含まれるX線グリッド5に起因するバラツキ成分を求める。まず、直接線成分マップεにおいて直接線成分のバラツキが少ない部分の直接線成分を平均して平均値εaveを取得する。X線グリッド5の吸収箔5aは、X線グリッド5の中央部において、より吸収箔5aが整然と配列されている性質がある。この性質を利用して平均値εaveは、直接線成分マップεにおける中央部の直接線成分を平均したものとする。すなわち、平均値εaveは、直接線成分マップε全体の平均ではない。バラツキマップ取得部14は、この平均値εaveを使って、ファントム画像δにおける間接線成分のバラツキを求める。このとき求められる間接線成分のバラツキζSとすると、ファントム画像δに存する画素群Rが図4(b)のように明画素B1,B2,暗画素集団Kで構成されていたとすると、明画素B1についての間接線成分のバラツキζS1は、次の様になる。
ζS1=G1−εave・C1 ……(8)
ζSK=GK−εave・CK ……(9)
ζS2=G2−εave・C2 ……(10)
バラツキマップζは、バラツキ率マップ取得部15に送出される。バラツキ率マップ取得部15は、バラツキマップζにおけるバラツキζSを平均した平均値εaveを取得する。上述のように、平均値εaveは直接線成分マップε全体の平均ではない。そして、バラツキ率マップ取得部15は、バラツキマップζを構成するバラツキζSの各々を平均値εaveで除算してバラツキ率ηが縦横に配列したバラツキ率マップMηを生成する。
次に、FPD4のX線検出面にX線グリッド5を載置した状態で、天板2に被検体Mを載置してX線撮影を行う。このとき画像生成部11が生成する画像は、被検体Mの透視像が写りこんだ被検体画像ξである。この撮影が被検体撮影である。
被検体画像ξは、被検体画像補正部16に送出される。被検体画像補正部16では、グリッド減弱率マップγ、およびバラツキ率マップMηを基に被検体画像ξの各画素が示す放射線の強度を直接放射線の成分と間接放射線の成分とに分離する。被検体画像補正部16は、被検体画像ξにおける暗画素Dとこれに横方向から隣接する4つの画素の各々について、直接線成分ξPを求める。
H1=ξP1・C1+ρS1=ξP1・C1+ξS1・η1 ……(11)
HK=ξPK・CK+ρSK=ξPK・CK+ξSK・ηK ……(12)
H2=ξP2・C2+ρS2=ξP2・C2+ξS2・η2 ……(13)
=(H1/C1−2HK/CK+H2/C2)/(η1/C1−2ηK/CK+η2/C2)
……(14)
δ ファントム画像
ξ 被検体画像
B 明画素
D 暗画素
K 暗画素集団
N 隣接画素
1 X線撮影装置(放射線撮影装置)
3 X線管(放射線源)
4 FPD(放射線検出手段)
4a X線検出素子(放射線検出素子)
5 X線グリッド(放射線グリッド)
5a 吸収箔
7 Cアーム(支持体)
16 被検体画像補正部(被検体画像補正手段)
21 Cアーム移動機構(支持体移動手段)
22 Cアーム移動制御部(支持体移動制御手段)
33a,33b エアー画像記憶部(エアー画像記憶手段)
33d ファントム画像記憶部(ファントム画像記憶手段)
33h 被検体画像記憶部(被検体画像記憶手段)
Claims (5)
- 放射線を照射する放射線源と、
放射線を検出する放射線検出素子が縦横に配列された放射線検出手段と、
前記放射線検出手段の放射線検出面を覆うように設けられるとともに縦方向に伸びた吸収箔が横方向に配列されている放射線グリッドと、
前記放射線検出手段から出力された検出信号を基に画像を生成する画像生成手段と、
前記放射線源と前記放射線検出手段との間に被検体を介在させないエアー撮影を行って生成されたエアー画像を記憶するエアー画像記憶手段と、
前記放射線源と前記放射線検出手段との間に被検体を介在させた被検体撮影を行って生成された被検体画像を記憶する被検体画像記憶手段と、
前記エアー画像、前記被検体画像を基に前記被検体画像に含まれる直接放射線の成分を求めて、これを基に補正画像を生成する被検体画像補正手段とを備え、
前記被検体画像補正手段は、各画像における前記吸収箔の影が写りこんでいる暗画素と前記暗画素に横方向から隣接する隣接画素で構成される暗画素集団における放射線強度の平均が直接放射線の成分と間接放射線の成分の和であるものした暗方程式と、前記吸収箔の影が写りこんでいない明画素における放射線強度が直接放射線の成分と間接放射線の成分の和であるものした明方程式から前記被検体画像の画素値における直接放射線の成分を求めることで前記補正画像を生成することを特徴とする放射線撮影装置。 - 請求項1に記載の放射線撮影装置において、
前記放射線源と前記放射線検出手段との間にファントムを介在させたファントム撮影を行って生成されたファントム画像を記憶するファントム画像記憶手段を更に備え、
前記被検体画像補正手段は、前記エアー画像、前記被検体画像に加えて前記ファントム画像を基に補正画像を生成することを特徴とする放射線撮影装置。 - 請求項1または請求項2に記載の放射線撮影装置において、
前記暗画素集団は、横方向に並んだ3つの画素で構成されることを特徴とする放射線撮影装置。 - 請求項1ないし請求項3に記載の放射線撮影装置において、
前記被検体画像補正手段は、前記暗方程式と、前記暗画素集団に横方向から隣接する2つの明画素に係る明方程式との3つの方程式を連立させることにより前記被検体画像における直接放射線の成分を求めることを特徴とする放射線撮影装置。 - 請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の放射線撮影装置において、
放射線源と放射線検出手段とを支持する支持体と、
前記支持体を移動させる支持体移動手段と、
これを制御する支持体移動制御手段とを備えることを特徴とする放射線撮影装置。
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