JP7122509B2 - 光ディスク、その製造方法、光情報装置及び情報処理方法 - Google Patents

光ディスク、その製造方法、光情報装置及び情報処理方法 Download PDF

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Description

本発明は、光を照射して情報の記録または再生を行う光ディスクに関し、特に３層以上の情報記録面を備える光ディスクの層間隔の構造、および、その多層光ディスクの情報を再生あるいは、その多層光ディスクに情報を記録する方法や装置に関する。
高密度、大容量の光情報記録媒体として市販されているものでＤＶＤやＢｌｕ－ｒａｙ（登録商標）ディスク（以降、ＢＤと呼ぶ）と呼ばれる光ディスクがある。これらの光ディスクは画像、音楽、コンピュータデータを記録する記録媒体として広く利用されている。さらに記録容量を増すために、特許文献１～特許文献４に示すように記録層を複数有するものも提案されている。
図１６は、従来の光ディスクと光ピックアップの構成を示す図である。光源１から出射された発散性の光ビーム７０１は、偏光ビームスプリッタ５２に入射する。偏光ビームスプリッタ５２に入射した光ビーム７０１は、偏光ビームスプリッタ５２によって反射され、球面収差補正手段９３を備えたコリメートレンズ５３によって略平行光に変換されて透過し、４分の１波長板５４を透過して円偏光に変換された後、対物レンズ５６１で収束ビームに変換され、光ディスク４０１の透明基板を透過し、光ディスク４０１内部に形成された第１記録面４０１ａ、第２記録面４０１ｂ、第３記録面４０１ｃ、第４記録面４０１ｄのいずれかの上に集光される。対物レンズ５６１は、第１記録面４０１ａと第４記録面４０１ｄの中間の深さ位置で球面収差が極小になるように設計され、各記録面４０１ａ～４０１ｄに集光する場合に発生する球面収差は、球面収差補正手段９３がコリメートレンズ５３の位置を光軸方向に移動することにより除去される。
対物レンズ５６１の開口はアパーチャ５５１で制限され、開口数ＮＡを０．８５としている。第４記録面４０１ｄで反射された光ビーム７０１は、対物レンズ５６１、４分の１波長板５４を透過して往路とは９０度異なる直線偏光に変換された後、偏光ビームスプリッタ５２を透過する。偏光ビームスプリッタ５２を透過した光ビーム７０１は、シリンドリカルレンズ５７を経て、光検出器３２０に入射する。光ビーム７０１には、シリンドリカルレンズ５７を透過する際、非点収差が付与される。
光検出器３２０は、図示しない４つの受光部を有し、それぞれ受光した光量に応じた電流信号を出力する。これら電流信号から、非点収差法によるフォーカス誤差信号（以下ＦＥ信号とする）、プッシュプル法によるトラッキング誤差信号（以下ＴＥ信号とする）、光ディスク４０１に記録された情報信号（以下ＲＦ信号とする）が生成される。ＦＥ信号およびＴＥ信号は、所望のレベルに増幅および位相補償が行われた後、アクチュエータ９１および９２に供給されて、フォーカスおよびトラッキング制御がなされる。
ここで、仮に厚みｔ１～ｔ４が全て同じ長さである場合には、以下の様な問題が発生する。例えば、第４記録面４０１ｄへの記録再生を行うために第４記録面４０１ｄに光ビーム７０１を集光したとき、光ビーム７０１の一部は、第３記録面４０１ｃで反射する。第３記録面４０１ｃから第４記録面４０１ｄまでの距離と、第３記録面４０１ｃから第２記録面４０１ｂまでの距離が同じなので、第３記録面４０１ｃで反射した光ビーム７０１の一部は第２記録面４０１ｂの裏側に結像し、その反射光が再び第３記録面４０１ｃで反射して本来読み出すべき第４記録面４０１ｄからの反射光に混入してしまう。さらに、第２記録面４０１ｂから第４記録面４０１ｄまでの距離と、第２記録面４０１ｂから光ディスク４０１の表面４０１ｚまでの距離も同じなので、第２記録面４０１ｂで反射した光ビーム７０１の一部が光ディスク４０１の表面４０１ｚの裏側に結像し、その反射が再び第２記録面４０１ｂで反射して、本来読み出すべき第４記録面４０１ｄからの反射光に混入してしまう。このように、本来読み出すべき第４記録面４０１ｄからの反射光に、他層の裏側に結像した反射光が多重に重なって混入し記録／再生に支障をきたすという問題がある。このような光は、干渉性が高く、受光素子上で干渉による明暗分布を形成する。さらに、この明暗分布は、光ディスク面内の微少な中間層厚みばらつきによる他層反射光との位相差変化に応じて変動するため、サーボ信号および再生信号の品質を著しく低下させてしまう。以後、本明細書では、これを裏焦点課題と呼ぶ。
特許文献１～３は、この裏焦点課題を解決するために、各記録面の間の面間厚みを互いに相異なるようにした構成を開示している。
また、光ディスクシステムは、表面から入射し、記録面において反射した光を検出するので、表面から光ディスク面まで光が通過する透明材料の屈折率も影響を与える。そこで、特許文献４で、屈折率を考慮した多層ディスク構造が開示されている。光ディスクは、Ｎを４以上の自然数として（Ｎ－１）層の情報記録面を有し、カバー厚み、中間層厚みを光の入射する側から順にそれぞれｄｔ１、ｄｔ２、・・、ｄｔＮとしたとき、ｉ≦ｊ＜ｋ≦ｍ≦Ｎとなる任意の自然数ｉ、ｊ、ｋ、ｍに対してｄｔｉからｄｔｊ迄の和とｄｔｋからｄｔｍまでの和の間の差ＤＦＦを１ｕｍ以上にする。屈折率ｎｒの部分の形状的な厚みｄｔｒは、前記厚みｄｔｒによる光ビームの広がり量と同じ広がり量を起こす屈折率ｎｏの厚みｄｔｏへ変換する。ＤＦＦはｄｔｏに基づいて算出する。ｄｔｏはｆ（ｎ）とｄｔｒの積によって求める。この時、ｆ（ｎ）＝－１．０８８ｎ３＋６．１０２７ｎ２－１２．０４２ｎ＋９．１００７である。
さらに、中間層の厚みと屈折率を、球面収差が一定範囲に入る範囲に設定するため、屈折率ｎｒが標準的な値ｎｏと異なる部分の形状的な厚みｄｔｒの目標値は、屈折率ｎｏの厚みｄｔｏと、屈折率ｎの関数ｇ（ｎ）の積を計算して求める。この時、ｇ（ｎ）は、ｇ（ｎ）＝－１．１１１１ｎ３＋５．８１４３ｎ２－９．８８０８ｎ＋６．４７６である。
国際公開第２０１０／０４４２４５号 特開２００７－１４９２１０号公報 特開２００７－２５７７５９号公報 国際公開第２０１１／０２４３４５号
近年インターネット環境、コンピュータの能力向上、などに伴い世界中で産み出される情報の量も記録すべき情報の量も飛躍的に増加している。そこで、データセンターなどで情報を安全、安価、低エネルギーで保存する媒体として高密度大容量の光ディスクの必要性が高くなっている。すなわち、蓄えるべき情報量の増大に応え、ＢＤを３層、４層に拡張するとともに記録密度も高くしたＢＤＸＬ（登録商標）をさらに超える高い記録密度の光ディスクを実現する必要が生じている。記録密度を上げるために、対物レンズの開口数を従来の０．８５よりもさらに高くすることが有力な方法である。しかし、従来例には開口数は０．８５を前提とした開示しかなく、開口数をさらに高くした場合に関数ｆ（ｎ）と関数ｇ（ｎ）を従来例とは変えなければならないのか、さらには変える場合にはどう変えるべきかに関する開示例がなく、安定した制御信号の検出や情報信号の読み取りを行うことのできる大容量光ディスクが実現する指針がないという課題があった。
本開示は、上述した従来の状況に鑑みて案出され、従来よりも、より高密度大容量の光ディスクを提供することを目的とする。
本発明では、上述の課題を解決するため、以下のような光ディスクを構成する。
（構成１）
少なくとも片側に、光ビームが照射される表面から順番に少なくともカバー層、第１情報記録面、第１中間層、第２情報記録面、第２中間層、第３情報記録面を有した光ディスクの製造方法であって、光ディスクの情報記録、あるいは、情報再生を行う際に前記光ディスクの記録面上に前記光ビームを収束させる対物レンズの開口数は０．９１であって、表面から第１から第３の情報記録面までの夫々の厚みの標準値ｄｋ（ｋ＝１，２，３）は標準屈折率ｎｏを前提として設定され、表面から第１から第３の情報記録面までの形状的な厚さの目標値は前記第１から第３の情報記録面までの屈折率ｎに依存した変換係数ｇ（ｎ）と標準値ｄｋの積により決定され、ｇ（ｎ）＝－０．８５９２１８ｎ３＋４．５５２９８ｎ２－７．７０８１５ｎ＋５．１９６７４であることを特徴とする光ディスクの製造方法。
（構成２）
少なくとも片側に、光ビームが照射される表面から順番に少なくともカバー層、第１情報記録面、第１中間層、第２情報記録面、第２中間層、第３情報記録面を有した光ディスクの製造方法であって、光ディスクの情報記録、あるいは、情報再生を行う際に前記光ディスクの記録面上に光ビームを収束させる対物レンズの開口数は０．９１であって、カバー層、第１中間層、第２中間層の形状的な厚みが夫々ｔｒｋ（ｋ＝１，２，３）のとき、形状的な厚みｔｒｋと、厚みを形成する材料の屈折率ｎに依存した変換係数ｆ（ｎ）の積によって標準屈折率ｎｏを前提とした実質厚みｔｋを算出し、ｆ（ｎ）＝－１．３７８３４ｎ３＋７．６２７９５ｎ２－１４．７４６２ｎ＋１０．７１２０であって、ｔｋは互いに一定値以上の違いがあり、ｔｋはいずれも一定値よりも大きい値であることを特徴とする光ディスクの製造方法。
（構成３）
構成２記載の光ディスクの製造方法であって、ｔｋは互いに１μｍ以上の違いがあり、ｔｋはいずれも１０μｍよりも大きい値であることを特徴とする光ディスクの製造方法。
（構成４）
少なくとも片側に、光ビームが照射される表面から順番に少なくともカバー層、第１情報記録面、第１中間層、第２情報記録面、第２中間層、第３情報記録面を有した構成２または３のいずれかの光ディスクの製造方法であって、光ディスクの情報記録、あるいは、情報再生を行う際に光ディスクの記録面上に光ビームを収束させる対物レンズの開口数は０．９１であって、表面から第１から第３の情報記録面までの夫々の厚みの標準値ｄｋ（ｋ＝１，２，３）は標準屈折率ｎｏを前提として設定され、表面から第１から第３の情報記録面までの形状的な厚さの目標値は第１から第３の情報記録面までの屈折率ｎに依存した変換係数ｇ（ｎ）と標準値ｄｋの積により決定され、ｇ（ｎ）＝－０．８５９２１８ｎ３＋４．５５２９８ｎ２－７．７０８１５ｎ＋５．１９６７４であることを特徴とする光ディスクの製造方法。
（構成５）
構成１から４記載のいずれかの光ディスクの製造方法によって作成された光ディスクであって、各記録面には凹凸形状の溝が設けられており、凹部と凸部の両方に情報を記録し、前記凹凸形状の溝のピッチｐは、ｐ＜０．６μｍであることを特徴とする光ディスク。
（構成６）
構成５記載の光ディスクを再生または記録する光情報装置であって、光ピックアップと、光ディスクを回転するモータと、光ピックアップから得られる信号を受け、モータや対物レンズやレーザ光源を制御および駆動する電気回路を具備し、電気回路によって、フォーカスジャンプに先立ってジャンプする中間層により発生する球面収差を補正して、焦点位置を移動することを特徴とする光情報装置。
（構成７）
構成５記載の光ディスクを再生または記録する情報処理方法であって、光ピックアップと、光ディスクを回転するモータと、光ピックアップから得られる信号を受け、モータや対物レンズやレーザ光源を制御および駆動する電気回路を具備し、電気回路によって、フォーカスジャンプに先立ってジャンプする中間層により発生する球面収差を補正して、焦点位置を移動することを特徴とする情報処理方法。
本開示によれば、多層（多面）構造光ディスクにおける裏焦点課題を防止して各記録面での反射光同士の干渉を減らすことによって、サーボ信号および再生信号の品質を向上できる。そして特に隣接記録面からのクロストークの影響を低減して再生信号品質を向上でき、より高密度の光ディスクを実現することができる。また、多層ディスクにおいて、中間層厚によって生じる球面収差量を所定の範囲に収めることができ、安定なフォーカスジャンプや焦点制御の引き込みを行うことができるという顕著な効果を奏する。
本発明の実施の形態１に係る光ディスク及び光ピックアップの概略構成を示す図 本発明の実施の形態１に係る光ディスクの層構成を示す図 記録再生を行う情報記録面の反射光を示す図 記録再生を行う情報記録面以外の情報記録面の反射光を示す図 記録再生を行う情報記録面以外の情報記録面の反射光を示す図 記録再生を行う情報記録面以外の情報記録面の反射光を示す図 光ディスクの、ＦＳ信号振幅と２つの面間厚みの厚み差の関係図 光ディスクの基材厚みとジッタの関係を示す図 本発明の実施の形態１に係る３層光ディスクの層構成を示す図 従来の形状的な厚みを、標準の屈折率に換算する係数の屈折率依存性を示す説明図 本発明の実施の形態１に係る、形状的な厚みを、標準の屈折率に換算する係数の屈折率依存性を示す説明図 本発明の実施の形態１に係る、標準の屈折率における厚みを、実際の屈折率での形状的な厚みに変換する係数を示す説明図 従来の、球面収差量を基準とし、標準屈折率での厚さから形状厚さ目標値への変換係数を示す説明図 本発明の実施の形態１に係る、球面収差量を基準とし、標準屈折率での厚さから形状厚さ目標値への変換係数を示す説明図 本発明の実施の形態の光情報装置の概略説明図 従来の光ディスクと光ピックアップの構成を示す図
以下、適宜図面を参照しながら、実施の形態を詳細に説明する。ただし、必要以上に詳細な説明は省略する場合がある。例えば、既によく知られた事項の詳細説明や実質的に同一の構成に対する重複説明を省略する場合がある。これは、以下の説明が不必要に冗長になることを避け、当業者の理解を容易にするためである。
なお、添付図面及び以下の説明は、当業者が本開示を十分に理解するために提供されるのであって、これらにより特許請求の範囲に記載の主題を限定することは意図されていない。
（実施の形態１）
以下、図１および図２を用いて、本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明の実施の形態１に係る光ディスク及び光ピックアップの概略構成を示す図であり、図２は、本発明の実施の形態１に係る光ディスクの層構成を示す図である。
光ピックアップ２０１は、波長λが４０５ｎｍなど青色のレーザ光を光ディスク４０に照射し、光ディスク４０に記録された信号の再生を行う。
光ディスク４０は、一例として４面の情報記録面が形成されている。図２に示すように、光ディスク４０は、表面４０ｚに近い側から順に、第１情報記録面４０ａ、第２情報記録面４０ｂ、第３情報記録面４０ｃ、第４情報記録面４０ｄを有する。
光ディスク４０は、さらに、カバー層４２、第１中間層４３、第２中間層４４、第３中間層４５を有している。カバー層４２（表面４０ｚから第１情報記録面４０ａまでの基材）の厚みをｔ１、第１中間層４３（第１情報記録面４０ａから第２情報記録面４０ｂまでの基材）の厚みをｔ２、第２中間層４４（第２情報記録面４０ｂから第３情報記録面４０ｃまでの基材）の厚みをｔ３、第３中間層４５（第３情報記録面４０ｃから第４情報記録面４０ｄまでの基材）の厚みをｔ４とする。また、表面４０ｚから第１情報記録面４０ａまでの距離をｄ１（≒ｔ１）、表面４０ｚから第２情報記録面４０ｂまでの距離をｄ２（≒ｔ１＋ｔ２）、表面４０ｚから第３情報記録面４０ｃまでの距離をｄ３（≒ｔ１＋ｔ２＋ｔ３）、表面４０ｚから第４情報記録面４０ｄまでの距離をｄ４（≒ｔ１＋ｔ２＋ｔ３＋ｔ４）とする。
ここで、情報記録面が４面ある場合の課題について説明する。一つ目の課題として、多面反射光による干渉を図３～図７を用いて説明する。図３のように再生または記録のために集光された光束は、記録層の半透過性により、以下の複数の光ビームに分岐される。
・図３に示される、再生または記録面に集光する光ビーム７０、
・図４に示される、第３情報記録面４０ｃで反射し、第２情報記録面４０ｂで焦点を結び反射し、再び第３情報記録面４０ｃで反射する光ビーム７１（記録層への裏焦点光）、
・図５に示される、第２情報記録面４０ｂで反射し、表面で焦点を結び反射し、再び第２情報記録面４０ｂで反射する光ビーム７２（表面への裏焦点光）
・図６に示される、情報記録面で焦点は結ばないが、第３情報記録面４０ｃ、第１情報記録面４０ａ、第２情報記録面４０ｂの順で反射した光ビーム７３。
まず、カバー層４２、第１中間層４３、第２中間層４４、第３中間層４５の屈折率がすべて同じ場合を考察する。共通の屈折率をｎｏとする。
例えば、ｔ４＝ｔ３の場合、光ビーム７０と光ビーム７１は表面４０ｚを出射する際に同じ光路を通るので、同じ光束径で光検出器３２０に入射する。同様に、ｔ４＋ｔ３＝ｔ２＋ｔ１の場合、光ビーム７０と光ビーム７２が、またｔ２＝ｔ４の時、光ビーム７０と光ビーム７３がそれぞれ表面４０ｚを出射する際に同じ光路を通るので同じ光束径で光検出器３２０に入射する。ここで、光ビーム７０に対して多面反射光である光ビーム７１～７３の光強度は小さくはなるが、干渉のコントラストは光強度ではなく光の振幅に依存する。光の振幅は、光強度の平方根の大きさになるので、多少光強度に差があっても、干渉のコントラストは大きくなる。等しい光束径で光検出器３２０に入射すると干渉による影響は大きく、光検出器３２０で受光した光量は微少な層間厚みの変化で大きく変動を起こし、安定な信号を検出することが困難となる。
図７は、光ビーム７０と、光ビーム７１、光ビーム７２または光ビーム７３の光強度比を１００：１とし、かつカバー層４２と第１中間層４３の屈折率がいずれも約１．６（１．５７）である場合の層間厚みの差に対するＦＳ信号（光強度の総和）振幅を示す図である。図７において、横軸は層間厚みの差、縦軸はＦＳ信号振幅であり、多層光からの反射がないと仮定して光ビーム７０のみを光検出器３２０で受光したＤＣ光量によって規格化した値を示してある。また、図７のように、層間厚みの差が約１μｍ未満になるとＦＳ信号が急激に変動することがわかる。
なお、図５の光ビーム７２と同様に、カバー層４２の厚みｔ１と第１中間層４３～第３中間層４５の厚みの総和である（ｔ２＋ｔ３＋ｔ４）との差が１μｍ以下になってもＦＳ信号の変動などの問題が生じる。
二つ目の課題として、隣接する情報記録面間の層間距離が小さすぎると、隣接する情報記録面からのクロストークの影響を受けるため所定値以上の層間距離が必要となる。そこで、層間厚みの検討を行い、最小層間厚みを決定する。図８は、各記録層の反射率がほぼ等しいディスクでの層間厚みとジッタとの関係を示す図である。屈折率は約１．６である。図８の横軸は層間厚み、縦軸はジッタ値を示している。層間厚みが薄くなるに従ってジッタは劣化し、ジッタの増大が始まる点は約１０μｍとなっており、それ以下の層間厚みでは急激なジッタの劣化が起こる。従って、層間厚みは１０μｍ以上にすることが望ましい。
図２を用いて、本発明にかかる実施の形態１における光ディスク４０の構成についてより詳細に説明する。実施の形態１では、他層や表面からの反射光の悪影響を解決するために製作上の厚みバラツキを考慮した上で、以下の条件が確保できるように４層ディスクの構造を設定する。
条件（１）：カバー層４２の厚みｔ１と第１中間層４３～第３中間層４５の厚みの総和である（ｔ２＋ｔ３＋ｔ４）との差を１μｍ以上確保する。つまり、｜ｔ１－（ｔ２＋ｔ３＋ｔ４）｜≧１μｍである。
条件（２）：ｔ１，ｔ２，ｔ３，ｔ４の任意の２値の互いの差がいずれも１μｍ以上であること。
条件（３）：カバー層４２の厚みｔ１および第１中間層４３の厚みｔ２の和（ｔ１＋ｔ２）と第２中間層４４の厚みｔ３と第３中間層４５の厚みｔ４の和（ｔ３＋ｔ４）との差を１μｍ以上確保。
他にも層厚の組み合わせがいくつかあるが、カバー層をｔ２＋ｔ３＋ｔ４に近い値にする場合には考慮不要なので省略する。
上記は４層ディスクの構造について具体例を示したが、図９のような３層ディスクであれば、
条件（１）：カバー層３２の厚みｔ１と中間層３３～３４の厚みの総和である（ｔ２＋ｔ３）との差を１μｍ以上確保する。つまり、｜ｔ１－（ｔ２＋ｔ３）｜≧１μｍである。
条件（２）：ｔ１，ｔ２，ｔ３の任意の２値の互いの差がいずれも１μｍ以上であること。
ということになる。
一般的にＮを４以上の自然数として（Ｎ－１）層ディスクについて考えると、上記条件は、一般的に、カバー厚み、中間層厚みを各々ｔ１、ｔ２、・・ｔＮとしたとき、ｉ≦ｊ＜ｋ≦ｍ≦Ｎとなる任意の自然数ｉ、ｊ、ｋ、ｍに対してｔｉからｔｊ迄の和とｔｋからｔｍまでの和の間に１ｕｍ以上の差を必ず設けるということになる。カバー厚みとは、光ディスクの表面から一番近い情報記録面までの距離でありｄ１とほぼ等しい。
そしてまた、二つ目の課題に対応して、すべての中間層厚はそれぞれ１０ｕｍ以上とする。ここまでは、屈折率が標準値と同じで一定として考えてきたが、ここからは、屈折率が標準値と異なったり、層ごとに異なる場合について考える。一つ目の課題である裏焦点が起こるのは、光検出器上において信号光と他層反射光の大きさや形が似ているためである。裏焦点課題が起こるのは、屈折率が約１．６ｕｍの時に信号光と他層反射光の焦点位置差が光ディスク側において光軸方向に１ｕｍよりも小さな時である。また、二つ目の課題の隣接層クロストークが起こるのは、屈折率が約１．６ｕｍの時に、信号光のデフォーカス量が隣接トラック上において１０ｕｍよりも小さな場合である。いずれにしても、デフォーカス量が重要である。デフォーカス量は、また、信号光が焦点を結んでいる位置での他層反射光や他層反射光の虚像の大きさである。この半径をＲＤとする。ＲＤの大きさの他層反射光が光検出器上に射影されるのであるから、この大きさに、干渉やクロストークの大きさが依存する。この大きさＲＤは厚みによる光の広がり量とも言える。屈折率がｎｏ＝１．６と異なる場合に、裏焦点やクロストークの回避を考えるためには、デフォーカス量あるいは他層反射光や他層反射光の虚像の大きさが同等となる条件を考えればよい。厚みによる光の広がり量を基準として層厚みを換算するともいえる。
屈折率ｎｒの部分の形状的な厚みがｄｔｒの時に、屈折率ｎｏの部分の形状的な厚みがｄｔの時と同じデフォーカス（他層反射光や他層反射光の虚像の大きさ）が起こる条件は、
ＮＡ＝ｎｒ・ｓｉｎ（θｒ）＝ｎｏ・ｓｉｎ（θｏ） ．．．（１）
ＲＤ＝ｄｔｒ・ｔａｎ（θｒ）＝ｄｔｏ・ｔａｎ（θｏ） ．．．（２）
である。ここで、ＮＡは光ディスクへ対物レンズ５６によって光を絞り込むときの開口数である。従来例ではＮＡ＝０．８５を前提としていた。θｒ、θｏはそれぞれの屈折率の物質中での光の収束角度である。また、ｓｉｎとｔａｎはそれぞれ正弦関数と正接関数である。
（１）より、
θｒ＝ａｒｃｓｉｎ（ＮＡ／ｎｒ）、θｏ＝ａｒｃｓｉｎ（ＮＡ／ｎｏ）．．．（３）
ここで、ａｒｃｓｉｎは、逆正弦関数（ｉｎｖｅｒｓｅ ｓｉｎｅ）である。
（２）より、
ｄｔｏ＝ｄｔｒ・ｔａｎ（θｒ）／ｔａｎ（θｏ） ．．．（４）
あるいは、
ｄｔｒ＝ｄｔｏ・ｔａｎ（θｏ）／ｔａｎ（θｒ） ．．．（５）
となる。
屈折率ｎｒの部分の形状的な厚みがｄｔｒの時に、屈折率ｎｏの場合にはいくらの厚みに相当するかを導出するためには式（４）を用いて、ｄｔｏを計算すればよい。
また、屈折率ｎｒの部分の形状的な厚みｄｔｒをいくらにすれば、屈折率ｎｏのいくらの厚みｄｔｏと同等の厚みになるかは、式（５）を用いてｄｔｒを計算すればよい。
ここで、式（４）及び式（５）には開口数ＮＡが出てきていないので、一見ｄｔｏとｄｔｒの関係にＮＡが関係ないように見えるが、θｒとθｏがいずれもＮＡに依存していることに我々は着目した。θｒとθｏがいずれもＮＡに依存しているので、ｄｔｏとｄｔｒの関係にＮＡが関係しているかもしれないと考えたのである。式（３）によるとθｒとθｏがいずれもＮＡと類似した関係性が在り、かつ、式（４）と式（５）では分母分子にθｒとθｏがはいっているため、ｄｔｒとｄｔｏの関係性のＮＡに対する依存性が相殺している可能性もある。そこで、我々は、ＮＡに従来の０．８５とは異なる値をもちいて、ｄｔｏとｄｔｒの関係を算出してみた。対物レンズの量産実現性や十分な作動距離（Ｗｏｒｋｉｎｇ ｄｉｓｔａｎｃｅ）を得られ、光ピックアップ用として工業的に安定に実現できる最大値としてＮＡは０．９１に決めた。
まず従来のＮＡ０．８５における式（４）の係数部分つまり、ｔａｎ（θｒ）／ｔａｎ（θｏ）をｆ（ｎｒ）という屈折率ｎｒの関数として図１０に示す。そして、ＮＡ０．９１における式（４）の係数部分つまり、ｔａｎ（θｒ）／ｔａｎ（θｏ）をｆ９１（ｎｒ）という屈折率ｎｒの関数として図１１に示す。図１０と図１１を比べると、ＮＡに依存してｄｔｏとｄｔｒの関係が変わっていることがわかる。ＮＡに依存する変数θｒとθｏが分母と分子に入っているが、そのＮＡへの依存性は完全に打ち消し合うことはなく結果としてＮＡに依存してｄｔｏとｄｔｒの関係が変わることが初めてわかった。
また、式（５）の係数部分、つまり、ｔａｎ（θｏ）／ｔａｎ（θｒ）はｆ９１（ｎｒ）の逆数１／ｆ９１（ｎｒ）である。これを屈折率ｎｒの関数として図１２に示す。
ｆ９１（ｎｒ）やその逆数はいずれもなめらかな曲線であるので多項式によって表すことができる。３次式を用いれば０．１％程度の精度の近似多項式を得ることができることを我々は見いだした。すなわち、
ｆ９１（ｎ）＝－１．３７８３４ｎ ３＋７．６２７９５ｎ２－１４．７４６２ｎ＋１０．７１２０ （６）
１／ｆ９１（ｎ）＝０．１４４４６ｎ３－０．８３３２２ｎ２＋２．４８０５３ｎ－１．４２７５４ （７）
簡単のため式（６）、（７）ではｎｒをｎと略して表記した。
例えば、４層の記録層を持つ４層ディスクを考える。光の入射する表面側から、はじめの（言い換えると第１の）記録層まで形状的な厚みｔｒ１、屈折率ｎｒ１のカバー層があり、第１の記録層から第２の記録層まで形状的な厚みｔｒ２、屈折率ｎｒ２の第１の中間層があり、第２の記録層から第３の記録層まで形状的な厚みｔｒ３、屈折率ｎｒ３の第２の中間層があり、第３の記録層から第４の記録層まで形状的な厚みｔｒ４、屈折率ｎｒ４の第３の中間層がある。デフォーカス量を基準として厚みを標準的な屈折率ｎｏの時の厚みにそれぞれ変換すると、ｔ１＝ｔｒ１×ｆ９１（ｎｒ１）、ｔ２＝ｔｒ２×ｆ９１（ｎｒ２）、ｔ３＝ｔｒ３×ｆ９１（ｎｒ３）、ｔ４＝ｔｒ４×ｆ９１（ｎｒ４）となる。
裏焦点を避けるためには、
｜ｔ１－（ｔ２＋ｔ３＋ｔ４）｜≧１μｍ、｜ｔ２－ｔ３｜≧１μｍ、｜ｔ３－ｔ４｜≧１μｍ、｜ｔ２－ｔ４｜≧１μｍ、を全て満たさなければならない。
また、層間干渉を避けるためには、ｔ２≧１０μｍ、ｔ３≧１０μｍ、ｔ４≧１０μｍ、もすべて満たさなければならない。
さらに、次の例として、３層の記録層を持つ３層ディスクを考える。光の入射する表面側から、はじめの（言い換えると第１の）記録層まで形状的な厚みｔｒ１、屈折率ｎｒ１のカバー層があり、第１の記録層から第２の記録層まで形状的な厚みｔｒ２、屈折率ｎｒ２の第１の中間層があり、第２の記録層から第３の記録層まで形状的な厚みｔｒ３、屈折率ｎｒ３の第２の中間層がある。デフォーカス量を基準として厚みを標準的な屈折率ｎｏの時の厚みにそれぞれ変換すると、ｔ１＝ｔｒ１×ｆ９１（ｎｒ１）、ｔ２＝ｔｒ２×ｆ９１（ｎｒ２）、ｔ３＝ｔｒ３×ｆ９１（ｎｒ３）となる。
裏焦点を避けるためには、
｜ｔ１－（ｔ２＋ｔ３）｜≧１μｍ、｜ｔ２－ｔ３｜≧１μｍ、を全て満たさなければならない。
また、層間干渉を避けるためには、ｔ２≧１０μｍ、ｔ３≧１０μｍ、もすべて満たさなければならない。
なお、表面や各記録層の間がさらに異なる屈折率の複数材料層から構成される場合、各々の材料層の厚みを標準的な屈折率ではいくらの厚みに相当するか、形状的な厚みかに上記関数値ｆ９１をかけることにより、デフォーカス量を基準として厚みを標準的な屈折率ｎｏの時の厚みにそれぞれ変換してから、積算すればよい。
例えば、はじめの記録層まで形状的な厚みｔｒ１のカバー層が、さらに、厚みｔｒ１１、屈折率ｎｒ１１の第１１層、厚みｔｒ１２、屈折率ｎｒ１２の第１２層、・・・厚みｔｒ１Ｎ、屈折率ｎｒ１Ｎの第１Ｎ層、から成り立っている場合、デフォーカス量を基準として厚みを標準的な屈折率ｎｏの時の厚みｔ１に変換すると、ｔ１＝Σｔｒ１ｋ×ｆ９１（ｎｒｋ）となる。ここで、Σはｋについて１からＮまでの積算を表す。
次に球面収差の観点での基材厚と屈折率の関係について述べる。中間層の厚みは球面収差の観点からも特定の条件を満たす必要がある。フォーカスジャンプの安定性を得るためには、中間層の厚みは標準的な値から一定の範囲にあり、球面収差量が予測できることが望ましい。フォーカスジャンプとはある記録層から他の記録層へと焦点位置を変える動作である。フォーカスジャンプをする際に行き先の層でのフォーカスエラー信号を安定に得るためには、フォーカスジャンプに先立ってコリメートレンズ５３を動かすなどして球面収差を低減し、行き先の層でのフォーカスエラー信号を良質にしておくことが望ましく、そのためには、当該記録層間の球面収差の差が一定範囲にあることが望ましい。また、フォーカス制御を開始する、いわゆるフォーカス引き込み時にもフォーカス制御を行う記録層の球面収差を予測して、コリメートレンズ５３を動かすなどして球面収差を低減し、行き先の層でのフォーカスエラー信号を良質にしておくことが望ましい。そのため、カバー層厚みｔ１や中間層厚によって生じる球面収差が一定範囲内にあることが望ましい。
屈折率が異なれば、同じ厚みでも球面収差の量が変わる、従って、中間層の厚みのねらい値や許容範囲も、球面収差量が一定範囲に入るように設定することが望ましい。
高い開口数（ＮＡ）の対物レンズを用いるほど、光の通る透明基材厚に依存して急峻に球面収差が変化する。球面収差が大きいと焦点制御（フォーカス制御）を行う指標となる焦点誤差（フォーカス）信号の感度が設計とは違ったり、信号振幅が減少するなどの劣化が起こる。従って、先にも述べたとおり、焦点制御が行われていない状態から焦点制御を始めようとする場合や、フォーカスジャンプの安定性を得るためには、あらかじめ、焦点制御を行う層へ合わせて球面収差補正を行っておくことが望ましい。そのためには、表面から記録層までの厚み、および、中間層の厚みは標準的な値から一定の範囲にあることが望ましい。フォーカスジャンプとはある記録層から他の記録層へと焦点位置を変える動作である。標準的な値や一定の範囲は、上記の理由からは球面収差を基準として考える必要がある。従って、屈折率が標準的な値とは違う値であれば、形状的な値は屈折率に応じて変えることになる。
そこで、多層光ディスクの層厚設計は例えば下記のようにすればよい。まず、透明基材を構成する材料の屈折率を把握する。次に、得られた屈折率に応じて、球面収差を基準として、表面から記録層までの形状的な厚み、および、中間層の形状的な厚みを標準屈折率での厚みから変換して決める。表面から記録層までの形状的な厚み、および、中間層の形状的な厚みは、数値テーブルや表を持っても良いが、球面収差は厚みと比例関係にあるので、屈折率に応じた変換係数ｇ（ｎｒ）を波長や開口数に応じて計算して、これを使っても良い。例えば、屈折率１．６、厚み０．１ｍｍの基材を通した時に、波長４０５ｎｍの青色光を開口数０．８５で無収差で収束させる対物レンズを用いて、前記基材の屈折率を換えたときに収差が最小になる厚みｔｓ（ｎｒ）（ｍｍ）を求める。すると、ｇ（ｎｒ）＝ｔｓ（ｎｒ）／０．１として、変換係数を求めることができる。従来開示されている変換係数ｇ（ｎｒ）を図１３に示す。
より高密度の光ディスクを実現するためにはＮＡをさらに高くすることが望ましいが、対物レンズの実現性を考慮すると０．９１が妥当である。しかし、ＮＡを０．９１にしたときに変換係数ｇ（ｎｒ）はいくらか、そもそも、ＮＡが０．８５の場合とは異なるのかこれまで明らかにされていなかった。そこで我々は、ＮＡが０．９１の光学系を設計し、これを基に球面収差を基準とした係数ｇ９１（ｎｒ）を算出した。算出した係数ｇ９１（ｎｒ）を図１４に示す。図１３と図１４を比較することにより、ＮＡが０．８５の場合とＮＡが０．９１の場合では、球面収差を基準とした係数ｇ（ｎｒ）とｇ９１（ｎｒ）が異なることが初めて判明した。ＮＡが０．９１の場合は標準屈折率での厚みにｇ９１（ｎｒ）を掛けて、形状的な厚みの設計値を求めれば良い。そして、カバー層や中間層の形状的な厚みに先のｆ９１（ｎｒ）を掛けて、標準屈折率におけるデフォーカス量を基準とした実質の厚みを算出して、厚み差が１μｍ以上有ることや、中間層厚そのものが１０μｍ以上有ることを確認すればよい。
なお、ｇ９１（ｎｒ）はなめらかな曲線であるので多項式によって表すことができる。３次式を用いれば０．１％程度の精度の近似多項式を得ることができることを我々は見いだした。すなわち、
ｇ９１（ｎ）＝－０．８５９２１８ｎ ３＋４．５５２９８ｎ２－７．７０８１５ｎ＋５．１９６７４．．．（８）
簡単のため式（８）ではｎｒをｎへ略して表記した。またｇ９１（ｎ）やｆ９１（ｎ）の添え字を略してそれぞれｇ（ｎ）やｆ（ｎ）と表記する場合もある。
本願では近似計算を用いることなく、実際に光線追跡によって３次球面収差が一定になる基材厚みを屈折率に応じて求めたので正確な関係を明らかにすることに成功した。
繰り返すが、こうして求めた表面から記録層までの形状的な厚み、および、中間層の形状的な厚みから、カバー層の形状的な厚みもわかるので、これらの値を、先に述べたようにデフォーカス量を基準として厚みを標準的な屈折率ｎｏの時の厚みにそれぞれ変換する。あるいは実際に作製した光ディスクのカバー層や中間層の形状的な厚みを求める。これらのその厚みを用いてこれも先に述べた裏焦点や層間干渉が回避できているかを確認し、設計範囲の可否を判断したり、できあがった光ディスクの良否を判断する。
なお、表面から記録層までの厚みはカバー層と、中間層の厚みの和から求めることができる。３層ディスクであれば、表面から第１記録層までの形状的な厚みはｔｒ１、表面から第２記録層までの形状的な厚みはｔｒ１＋ｔｒ２、表面から第３記録層までの形状的な厚みはｔｒ１＋ｔｒ２＋ｔｒ３である。４層ディスクの場合は３層ディスクに加えて、表面から第４記録層までの形状的な厚みがｔｒ１＋ｔｒ２＋ｔｒ３＋ｔｒ４となる。
なお、ｆ９１（ｎ）はｎがｎｏより大きいときに１よりも小さいので、デフォーカス量を基準に標準的な屈折率ｎｏでの厚みに換算するとより薄くなる。つまり、層間干渉回避のための中間層厚≧１０μｍを満たす観点からは許容範囲が狭くなる。一方、ｇ９１（ｎ）はｎがｎｏより大きいときに１／ｆ９１（ｎ）よりも小さいため、球面収差の観点からは厚い側への許容範囲があまり広がらない。従って、中間層の屈折率はｎ０よりも大きいことは好ましくない。中間層の屈折率はｎ０よりも小さい方が、ディスクの製造マージンが広くなる。ポリカーボネイトなどのよく使われる樹脂の屈折率は約１．６程度であり、ｎ０＝１．６とすることが望ましいことを考えると、中間層の屈折率はｎ０＝１．６よりも小さい方が望ましい。
また、３層ディスクの場合、先に｜ｔ１－（ｔ２＋ｔ３）｜≧１μｍという条件をあげたが、カバー層は厚いほどディスク表面の傷や汚れに対して安定に情報再生を可能であるので、ｔ１－（ｔ２＋ｔ３）≧１μｍという条件が望ましい。係数ｆ９１（ｎ）はｎがｎｏより大きいときに１よりも小さいので、デフォーカス量を基準に標準的な屈折率ｎｏでの厚みに換算するとより薄くなることを考慮すると、カバー層の屈折率より、中間層（厚みｔ２～ｔ３）の屈折率が大きい場合にｔ１－（ｔ２＋ｔ３）≧１μｍという条件を満たすことが容易になる。従って、カバー層の屈折率より、中間層の屈折率が大きいことが望ましい。
また、４層ディスクの場合にも、先に｜ｔ１－（ｔ２＋ｔ３＋ｔ４）｜≧１μｍという条件をあげたが、カバー層は厚いほどディスク表面の傷や汚れに対して安定に情報再生を可能であるので、ｔ１－（ｔ２＋ｔ３＋ｔ４）≧１μｍという条件が望ましい。係数ｆ９１（ｎ）はｎがｎｏより大きいときに１よりも小さいので、デフォーカス量を基準に標準的な屈折率ｎｏでの厚みに換算するとより薄くなることを考慮すると、カバー層の屈折率より、中間層（厚みｔ２～ｔ４）の屈折率が大きい場合にｔ１－（ｔ２＋ｔ３＋ｔ４）≧１μｍという条件を満たすことが容易になる。従って、カバー層の屈折率より、中間層の屈折率が大きいことが望ましい。
なお、本願発明は、書き換え型、追記型、および再生専用型のいずれかに限定されるものではなく、各タイプの光ディスクに適応することが可能である。少なくとも片側に、光ビームが照射される表面から順番に少なくともカバー層、第１情報記録面、第１中間層、第２情報記録面、第２中間層、第３情報記録面、を有した光ディスクの製造にあたり、前記光ディスクの情報記録、あるいは、情報再生を行う際に前記光ディスクの記録面上に前記光ビームを収束させる対物レンズの開口数は０．９１であって、前記表面から、前記第１から第３の情報記録面までの夫々の厚みの標準値ｄｋ（ｋ＝１，２，３）は標準屈折率ｎｏを前提として設定され、前記表面から、前記第１から第３の情報記録面までの形状的な厚さの目標値は前記第１から第３の情報記録面までの屈折率ｎに依存した変換係数ｇ（ｎ）と前記標準値ｄｋの積により決定され、
ｇ（ｎ）＝－０．８５９２１８ｎ ３＋４．５５２９８ｎ２－７．７０８１５ｎ＋５．１９６７４とする。
また、前記カバー層、第１中間層、第２中間層の形状的な厚みが夫々ｔｒｋ（ｋ＝１，２，３）のとき、前記形状的な厚みｔｒｋと、厚みを形成する材料の屈折率ｎに依存した変換係数ｆ（ｎ）の積によって標準屈折率ｎｏを前提とした実質厚みｔｋを算出し、ｆ（ｎ）＝－１．３７８３４ｎ ３＋７．６２７９５ｎ２－１４．７４６２ｎ＋１０．７１２０であって、ｔｋは互いに一定値、望ましくは１μｍ以上の違いがあり、ｔｋはいずれも一定値、望ましくは１０μｍよりも大きい値にする。
また、記録密度はＢＤＸＬ（登録商標）ディスクを超える高い記録密度とすることが望ましい。そのためには情報信号の並ぶトラックピッチもＢＤＸＬ（登録商標）ディスクの０．３２μｍより狭くすることが望ましい。しかしながら波長λ＝０．４０５μｍ、開口数（ＮＡ）＝０．８５で光ディスク面上に集光スポットを形成する光学系の解像限界は、λ／（２×ＮＡ）＝０．２３８μｍである。ＮＡを０．９１まで拡大しても、解像限界は、０．２２２μｍである。集光スポットをトラック（情報列）の中央に沿って進ませるためにはトラック中心からの集光スポットのズレを示すＴＥ信号が必要である。ところが、トラックピッチを０．３μｍよりも狭くすると解像限界に近づくので、ＴＥ信号が弱くなり信号／雑音比率（Ｓ／Ｎ）が低下し、集光スポットをトラック（情報列）の中央に精度良く沿って進ませることができない。
そこで、本発明の光ディスクではあらかじめ記録面上に凹凸による溝を形成し、凹部と凸部の両方に情報を記録することが望ましい。凹凸溝のトラックピッチは情報列のトラックピッチの倍になる。例えば、情報トラックのピッチを０．３μｍにするのであれば、凹凸溝のピッチは０．６μｍである。また、凹凸溝のピッチを０．４μｍにすれば、情報列のトラックピッチは０．２μｍにまで狭くでき、かつ、十分な強度のＴＥ信号を得ることができ、集光スポットをトラック（情報列）の中央に精度良く沿って進ませることができる。
このように本発明の実施の形態１に係る光ディスクでは、記録面上に凹凸溝を形成し、凹部と凸部の両方に情報を記録し、前記凹凸溝のピッチは０．６μｍ以下、望ましくは０．４μｍ以下とすることが望ましい。このような構成によって、トラック密度を高くして高密度化を実現でき、かつ、安定なトラッキングサーボと両立できるという効果を得られる。
次に、フォーカスジャンプを行う光情報装置の一例を図１５に示す。
光ディスク４０は、ターンテーブル１８２に乗せられ、モータ１６４によって回転される。先に示した光ピックアップ２０１は、前記光ディスクの所望の情報の存在するトラックのところまで、光ピックアップの駆動装置１５１によって粗動される。
前記光ピックアップ２０１は、また、光ディスク４０との位置関係に対応して、フォーカスエラー（焦点誤差）信号やトラッキングエラー信号を電気回路１５３へ送る。前記電気回路１５３はこの信号に対応して、前記光ピックアップ２０１へ、対物レンズを微動させるための信号を送る。この信号によって、前記光ピックアップ２０１は、前記光ディスクに対してフォーカス制御や、トラッキング制御を行い、前記光ピックアップ２０１によって、情報の読みだし、または書き込み（記録）や消去を行う。また、フォーカスジャンプの手順は主に回路１５３が制御する。
本実施例の光情報装置は、本発明で上述した光情報媒体に対して、フォーカス引き込みやフォーカスジャンプに先立ってコリメートレンズ５３を動かすなどして、引き込んだりジャンプしたりする基材厚や中間層厚が発生させる球面収差を補正してから焦点位置を移動し、行き先の層でのフォーカスエラー信号を良質にしておくので、安定にフォーカスジャンプを行うことができるという効果を有する。
本発明にかかる多層光ディスク（光ディスク）は、カバー層や中間層の屈折率が標準値と異なる場合であっても、任意の層の再生時に他の層で反射光の影響を最小限に抑えることにより、光学ヘッドでのサーボ信号および再生信号への影響を低減できる。
これにより、品質の良い再生信号が得られる大容量でかつ、既存ディスクとの互換性を確保しやすい光ディスクが提供できる。
４０ 光ディスク
２０１ 光ピックアップ
４０ｚ 表面
４０ａ 第１情報記録面
４０ｂ 第２情報記録面
４０ｃ 第３情報記録面
４０ｄ 第４情報記録面
３２、４２ カバー層
４３ 第１中間層
４４ 第２中間層
４５ 第３中間層
１ 光源
７０、７１、７２、７３ 光ビーム
５２ 偏光ビームスプリッタ
５３ コリメートレンズ
５４ ４分の１波長板
５６ 対物レンズ
５７ シリンドリカルレンズ
３２０ 光検出器
９１ アクチュエータ
９３ 球面収差補正手段
４０１ 光ディスク
４０１ａ 第１記録面
４０１ｂ 第２記録面
４０１ｃ 第３記録面
４０１ｄ 第４記録面
４０１ｚ 表面
５５１ アパーチャ
５６１ 対物レンズ
７０１ 光ビーム

Claims (8)

  1. 少なくとも片側に、光ビームが照射される表面から順番に少なくともカバー層、第１情報記録面、第１中間層、第２情報記録面、第２中間層、第３情報記録面を有した光ディスクの製造方法であって、
    前記光ディスクの情報記録、あるいは、情報再生を行う際に前記光ディスクの記録面上に前記光ビームを収束させる対物レンズの開口数は０．９１であって、
    前記表面から前記第１から第３の情報記録面までの夫々の厚みの標準値ｄｋ（ｋ＝１，２，３）は標準屈折率ｎｏを前提として設定され、
    前記表面から前記第１から第３の情報記録面までの形状的な厚さの目標値は前記第１から第３の情報記録面までの屈折率ｎに依存した変換係数ｇ（ｎ）と前記標準値ｄｋの積により決定され、ｇ（ｎ）＝－０．８５９２１８ｎ ３＋４．５５２９８ｎ２－７．７０８１５ｎ＋５．１９６７４であることを特徴とする光ディスクの製造方法。
  2. 少なくとも片側に、光ビームが照射される表面から順番に少なくともカバー層、第１情報記録面、第１中間層、第２情報記録面、第２中間層、第３情報記録面を有した光ディスクの製造方法であって、
    前記光ディスクの情報記録、あるいは、情報再生を行う際に前記光ディスクの記録面上に前記光ビームを収束させる対物レンズの開口数は０．９１であって、
    前記カバー層、第１中間層、第２中間層の形状的な厚みが夫々ｔｒｋ（ｋ＝１，２，３）のとき、
    前記形状的な厚みｔｒｋと、厚みを形成する材料の屈折率ｎに依存した変換係数ｆ（ｎ）の積によって標準屈折率ｎｏを前提とした実質厚みｔｋを算出し、
    ｆ（ｎ）＝－１．３７８３４ｎ３＋７．６２７９５ｎ２－１４．７４６２ｎ＋１０．７１２０であって、
    ｔｋは互いに一定値以上の違いがあり、
    ｔｋはいずれも一定値よりも大きい値であることを特徴とする光ディスクの製造方法。
  3. 請求項２記載の光ディスクの製造方法であって、
    前記実質厚みｔｋは互いに１μｍ以上の違いがあり、
    前記実質厚みｔｋはいずれも１０μｍよりも大きい値であることを特徴とする光ディスクの製造方法。
  4. 少なくとも片側に、光ビームが照射される表面から順番に少なくともカバー層、第１情報記録面、第１中間層、第２情報記録面、第２中間層、第３情報記録面を有した請求項２または３のいずれかの光ディスクの製造方法であって、
    前記光ディスクの情報記録、あるいは、情報再生を行う際に前記光ディスクの記録面上に前記光ビームを収束させる対物レンズの開口数は０．９１であって、
    前記表面から前記第１から第３の情報記録面までの夫々の厚みの標準値ｄｋ（ｋ＝１，２，３）は標準屈折率ｎｏを前提として設定され、
    前記表面から前記第１から第３の情報記録面までの形状的な厚さの目標値は前記第１から第３の情報記録面までの屈折率ｎに依存した変換係数ｇ（ｎ）と前記標準値ｄｋの積により決定され、ｇ（ｎ）＝－０．８５９２１８ｎ ３＋４．５５２９８ｎ２－７．７０８１５ｎ＋５．１９６７４であることを特徴とする光ディスクの製造方法。
  5. 請求項１から４記載のいずれかの光ディスクの製造方法によって作成された光ディスク。
  6. 請求項５記載の光ディスクであって、
    各記録面には凹凸形状の溝が設けられており、
    凹部と凸部の両方に情報を記録し、
    前記凹凸形状の溝のピッチｐは、ｐ＜０．６μｍであることを特徴とする光ディスク。
  7. 請求項６記載の光ディスクを再生または記録する光情報装置であって、
    光ピックアップと、
    光ディスクを回転するモータと、
    前記光ピックアップから得られる信号を受け、前記モータや対物レンズやレーザ光源を制御および駆動する電気回路を具備し、
    前記電気回路によって、フォーカスジャンプに先立ってジャンプする中間層により発生する球面収差を補正して、焦点位置を移動することを特徴とする光情報装置。
  8. 請求項６記載の光ディスクを再生または記録する情報処理方法であって、
    光ピックアップと、
    光ディスクを回転するモータと、
    前記光ピックアップから得られる信号を受け、前記モータや対物レンズやレーザ光源を制御および駆動する電気回路を具備し、
    前記電気回路によって、フォーカスジャンプに先立ってジャンプする中間層により発生する球面収差を補正して、焦点位置を移動することを特徴とする情報処理方法。
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