JP7120817B2

JP7120817B2 - 電解コンデンサ用劣化度測定方法及び電解コンデンサ用劣化度測定装置

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Publication number: JP7120817B2
Application number: JP2018110010A
Authority: JP
Inventors: 高広瀧塚
Original assignee: Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Current assignee: Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Priority date: 2018-06-08
Filing date: 2018-06-08
Publication date: 2022-08-17
Anticipated expiration: 2038-06-08
Also published as: JP2019212858A

Description

本発明は、プリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を測定する電解コンデンサ用劣化度測定方法及び電解コンデンサ用劣化度測定装置に関する。

従来、電解コンデンサの劣化度を測定する方法として、電解コンデンサの交換時期が、その寿命によって定まる適切な時期になるように表示する電解コンデンサの寿命検出装置が挙げられる（例えば、特許文献１参照）。

特開平７－２２２４３６号公報

上述した特許文献１に係る技術は、構成上、電解コンデンサの端子に電流検出用ホール素子を接続し、電解コンデンサの充放電時のリップル電圧又はリップル電流を測定する。そして、リップル電圧又はリップル電流の値が判定レベルに達したか否かにより、劣化度の判定を行う。

ここで、電解コンデンサがプリント基板に実装されている状態において、リップル電圧又はリップル電流の測定を行う場合を想定する。この場合、電流検出用ホール素子については、予め電解コンデンサと共に、プリント基板に実装しておくか、或いは、電解コンデンサの端子に後から接続する必要がある。

しかしながら、前者のように、予め電解コンデンサと共に、電流検出用ホール素子をプリント基板に実装しておく場合には、測定対象となるプリント基板の全ての電解コンデンサに電流検出用ホール素子を実装することになる。このため、プリント基板のデバイスの部品点数が多くなり、実装面積も大きくなってしまうという問題がある。

また、後者のように、電解コンデンサの端子に後から電流検出用ホール素子を接続する場合には、電解コンデンサが起立した状態でプリント基板に半田付けされていると、電流検出用ホール素子を接続することが困難になる。その理由は、電解コンデンサの端子に電流検出用ホール素子を接続する際、電解コンデンサの端子が外れるおそれ、或いは、位置ずれして接触不良を起こすおそれがあるためである。

本発明は、このような問題点を解決するためになされたものであり、プリント基板に実装済みの電解コンデンサの劣化度を容易に測定できる電解コンデンサ用劣化度測定方法及び電解コンデンサ用劣化度測定装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するため、本発明の電解コンデンサ用劣化度測定方法は、プリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を測定する方法であって、絶縁電線を電解コンデンサに周回して形成されたループアンテナを用いて、プリント基板への通電状態で発生する電解コンデンサのリップル電流に伴う放射ノイズを電圧として検出する第１のステップと、電圧を測定する第２のステップと、放射ノイズの増加時の電圧に基づいて、電解コンデンサの劣化度を判定する第３のステップと、を有する。
また、上記目的を達成するため、本発明の電解コンデンサ用劣化度測定方法は、プリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を測定する方法であって、プリント基板への通電状態で発生する電解コンデンサのリップル電流に伴う放射ノイズを電圧として検出する第１のステップと、電圧を測定する第２のステップと、放射ノイズの増加時の電圧に基づいて、電解コンデンサの劣化度を判定する第３のステップと、プリント基板から取り外した電解コンデンサの等価直列抵抗を測定する第４のステップと、第２のステップ及び第４のステップを複数回実行した後に得られた電圧と等価直列抵抗とに基づいて、プリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度の制限電圧を推定する第５のステップと、を有し、第３のステップは、電圧と制限電圧とを比較した結果の差値の大小に応じて、電解コンデンサの劣化度を判定する。

また、上記目的を達成するため、本発明の電解コンデンサ用劣化度測定装置は、プリント基板に実装された電解コンデンサのプリント基板の通電状態で発生するリップル電流に伴う放射ノイズを電圧として検出する検出部と、検出部で検出された電圧を測定する電圧測定部と、放射ノイズの増加時の電圧に基づいて、電解コンデンサの劣化度を判定する劣化度判定部と、を備え、検出部は、絶縁電線を電解コンデンサに周回して形成されたループアンテナである。
また、上記目的を達成するため、本発明の電解コンデンサ用劣化度測定装置は、プリント基板に実装された電解コンデンサの当該プリント基板の通電状態で発生するリップル電流に伴う放射ノイズを電圧として検出する検出部と、検出部で検出された電圧を測定する電圧測定部と、放射ノイズの増加時の電圧に基づいて、電解コンデンサの劣化度を判定する劣化度判定部と、を備え、劣化度判定部は、検出部に接続され、当該検出部で検出された電圧を全波整流する全波整流回路と、全波整流回路で全波整流された電圧を平滑する平滑回路と、予め決められた制限電圧を出力する制限電圧回路と、平滑回路の出力電圧と制限電圧とを比較する比較器と、比較器の出力を報知する報知部と、を有する。

本発明によれば、上記方法又は構成により、プリント基板に実装済みの電解コンデンサの劣化度を容易に測定することができる。

本発明の実施の形態１に係る電解コンデンサ用劣化度測定方法を説明するために示す電解コンデンサ用劣化度測定装置の概略構成図である。図１に示す電解コンデンサ用劣化度測定装置の測定対象となる電解コンデンサの劣化に関連する諸特性の相関関係を示すフローチャートである。図２で説明した電解コンデンサを実装したプリント基板の内部回路を例示した図である。図３で説明したプリント基板の外観構成を示す平面図である。図３で説明したプリント基板の外観構成を示す側面図である。図１に示す電解コンデンサ用劣化度測定装置によるプリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度測定の具体例を示す模式図である。図６で説明した劣化度測定に係る結果を例示した表である。図７に含まれる電解コンデンサの等価直列抵抗に対するループアンテナ電圧の関係を示す特性図である。図７に含まれる電解コンデンサの等価直列抵抗に対するベースドライブ回路電圧の関係を実測値の制限範囲を含めて示す特性図である。図７に含まれる電解コンデンサの等価直列抵抗に対するループアンテナ電圧の関係を実測値の制限範囲を含めて示す特性図である。本発明の実施の形態２に係る電解コンデンサ用劣化度測定装置の概略構成図である。

以下、本発明の電解コンデンサ用劣化度測定方法（以下、劣化度測定方法と称す）及び電解コンデンサ用劣化度測定装置（以下、劣化度測定装置と称す）について、幾つかの実施の形態を挙げ、図面を参照して詳細に説明する。

実施の形態１．
図１は、本発明の実施の形態１に係る劣化度測定方法を説明するために示す劣化度測定装置の概略構成図である。

図１を参照すれば、この劣化度測定装置は、プリント基板２０に実装された電解コンデンサ２の劣化度を測定するものである。劣化度測定装置は、電解コンデンサ２が実装されたプリント基板２０の通電状態で発生するリップル電流２ｃに伴う放射ノイズ２ｎを、電圧として検出する検出部を備える。この検出部は、絶縁電線を電解コンデンサ２に周回して形成されたループアンテナ１に相当する。

ループアンテナ１における電解コンデンサ２側の一端部は、何にも接続されておらず、ループアンテナ１の他端部は、受動プローブ３ｐを介して電圧測定器３に接続されている。受動プローブ３ｐ及び電圧測定器３は、電圧を測定する電圧測定部として働く他、放射ノイズ２ｎの増加時の電圧に基づいて、電解コンデンサ２の劣化度を判定する劣化度判定部として働く。

即ち、この劣化度測定装置において、プリント基板２０が通電された状態で、電解コンデンサ２にリップル電流２ｃが流れると、電磁誘導作用により電解コンデンサ２から放射ノイズ２ｎが発生する。この放射ノイズ２ｎは、ループアンテナ１により電圧として検出され、検出された電圧は、受動プローブ３ｐを介して電圧測定器３により測定される。更に、放射ノイズ２ｎの増加時の電圧を電圧測定器３で可視化することによって、電解コンデンサ２の劣化度を判定することが可能になる。この事は、放射ノイズ２ｎの増加時の電圧を電圧測定器３で可視化すると、その電圧波形に基づいて、電解コンデンサ２の劣化度を判定できることを意味する。

図２は、劣化度測定装置の測定対象となる電解コンデンサ２の劣化に関連する諸特性の相関関係を示すフローチャートである。

図２を参照すれば、一般に電解コンデンサ２の劣化Ｆ１が進行すると、等価直列抵抗（ＥＳＲ）の増加Ｆ２に至り、更にリップル電流２ｃの増加Ｆ３を起こす。このリップル電流２ｃの増加Ｆ３に伴い、電解コンデンサ２からの放射ノイズ２ｎの増加Ｆ４も起きる。従って、電解コンデンサ２の劣化Ｆ１に相関し、放射ノイズ２ｎの増加Ｆ４に至る。但し、ここでの電解コンデンサ２の等価直列抵抗は、電解コンデンサ２がプリント基板２０に実装された状態では、正確に測定できない。

以上に説明した劣化度測定装置の処理機能は、技術的に劣化度測定方法として換言できる。この場合、劣化度測定方法は、プリント基板２０に実装された電解コンデンサ２の劣化度を測定する際、以下のステップを有することになる。第１のステップは、プリント基板２０への通電状態で発生する電解コンデンサ２のリップル電流に伴う放射ノイズ２ｎを電圧として検出するものである。第２のステップは、電圧を測定するものである。第３のステップは、放射ノイズ２ｎの増加時の電圧に基づいて、電解コンデンサ２の劣化度を判定するものである。

図３は、劣化度測定装置の測定対象となる電解コンデンサ２を実装したプリント基板２０の内部回路を例示した図である。

図３を参照すれば、このプリント基板２０は、電源入力用のコネクタ２２、トランスＴの一次巻線に接続される一次側回路２３、トランスＴの二次巻線に接続されるベースドライブ回路２４及び制御電源回路２５、出力用のコネクタ２６を実装して構成される。

プリント基板２０において、コネクタ２２（ＣＮ１）は、入力端子を３ピン有し、その２ピンに直流電源２１からの直流電圧ＤＣ１００Ｖが印加される。但し、一次側の電源は、交流電源でも良く、その場合には、三相の交流電圧ＡＣ１００Ｖが印加される。一次側回路２３は、電解コンデンサ２を成す領域のコンデンサＣ２の他、コンデンサＣ１、Ｃ３、Ｃ４を有すると共に、複数のダイオード及び抵抗を有し、これらの各デバイスをトランジスタＴｒにより接続して構成される。

ベースドライブ回路２４は、トランスＴで変圧された１２Ｖのベースドライブ信号を、コネクタ２６（ＣＮ２）を通し、外部のインバータ装置を形成するパワー半導体モジュールのベース端子へ出力する。制御電源回路２５は、トランスＴで変圧された±１５Ｖの電源電圧源となる。

即ち、このプリント基板２０において、一次側回路２３は、自励式フライバックコンバータとして形成されるもので、トランスＴと協動し、ベースドライブ回路２４を１２Ｖの電源電圧源とすると共に、制御電源回路２５を±１５Ｖの電源電圧源とする。尚、ベースドライブ回路２４及び制御電源回路２５は、二次側回路を構成する。

ここで、測定対象となる電解コンデンサ２は、トランジスタＴｒがオフの間、充電状態となる。また、電解コンデンサ２は、トランジスタＴｒがオフからオンまでの間、オンの間、及びオンからオフまでの間、放電状態となる。この一次側回路２３に用いられた電解コンデンサ２は、トランジスタＴｒのオン－オフの周期が約３０ＫＨｚであり、充放電が頻繁に行われる。このため、一般的な平滑用途に比べて、劣化の進行も速くなる。

以下は、実際に電機製品に組み込まれて使用された５枚のプリント基板２０の電解コンデンサ２を対象に行った劣化度測定の試験結果について、説明する。

図４は、図３で説明したプリント基板２０の外観構成を示す平面図である。図５は、同じプリント基板２０の外観構成を示す側面図である。図６は、図１で説明した劣化度測定装置によるプリント基板２０に実装された電解コンデンサ２の劣化度測定の具体例を示す模式図である。但し、プリント基板２０に実装された電解コンデンサ２は、電気容量３３ｕＦ、耐圧５０Ｖの部品であるとする。また、電解コンデンサ２に装着したループアンテナ１は、断面積２ｍｍ^２の絶縁被覆付きの銅線を５回巻いた形態とする。

図６を参照すれば、この劣化度測定装置では、ループアンテナ１における電解コンデンサ２側の一端部には、何も接続されておらず、他端部には、例えば、ＴＰＰ０５００Ｂ製の受動プローブ３ｐが接続されている。この受動プローブ３ｐに接続される電圧測定器３には、例えばＭＤＯ４０５４Ｂ－３製のオシロスコープを使用した。オシロスコープは、波形測定モードとし、測定レンジ５Ｖ／ｄｉｖ、２０ｍｓｅｃの条件下で電解コンデンサ２の劣化度を測定した。

電解コンデンサ２の劣化度測定の内容を具体的に云えば、５枚のプリント基板２０のそれぞれの電解コンデンサ２に対して、図３で示すようにコネクタ２２から直流電圧ＤＣ１００Ｖを印加した。そして、図６で説明した劣化度測定装置により、ループアンテナ１から得られる電圧のループアンテナ電圧を測定し、ベースドライブ回路２４におけるベースドライブ回路電圧を測定した。

その後に、プリント基板２０から電解コンデンサ２を取り外し、電解コンデンサ２の単体で等価直列抵抗を測定した。ここで、電解コンデンサ２の等価直列抵抗は、電解コンデンサ２がプリント基板２０に実装されていれば、正確に測定できない。このため、ループアンテナ電圧とベースドライブ回路電圧とを測定した後、電解コンデンサ２をプリント基板２０から取り外して、等価直列抵抗の測定を行った。

図７は、これらの劣化度測定に係る結果を例示した表である。図７を参照すれば、試験プリント基板２０のＮｏ．１では、ループアンテナ電圧（Ｖｒｍｓ）が７．３０、ベースドライブ回路電圧（Ｖ）が１２．３７、等価直列抵抗（Ω）が０．８６であった。試験プリント基板２０のＮｏ．２では、ループアンテナ電圧（Ｖｒｍｓ）が７．４０、ベースドライブ回路電圧（Ｖ）が１２．３８、等価直列抵抗（Ω）が０．９２であった。

試験プリント基板２０のＮｏ．３では、ループアンテナ電圧（Ｖｒｍｓ）が７．５０、ベースドライブ回路電圧（Ｖ）が１２．４０、等価直列抵抗（Ω）が１．０３であった。試験プリント基板２０のＮｏ．４では、ループアンテナ電圧（Ｖｒｍｓ）が８．００、ベースドライブ回路電圧（Ｖ）が１２．４９、等価直列抵抗（Ω）が２．５５であった。試験プリント基板２０のＮｏ．５では、ループアンテナ電圧（Ｖｒｍｓ）が８．３０、ベースドライブ回路電圧（Ｖ）が１２．７３、等価直列抵抗（Ω）が４．８０であった。

図８は、図７に含まれる電解コンデンサ２の等価直列抵抗（Ω）に対するループアンテナ電圧（Ｖｒｍｓ）の関係を示す特性図である。即ち、図８は、図７に示す劣化度測定の結果から、横軸に電解コンデンサ２の等価直列抵抗（Ω）、縦軸にループアンテナ電圧（Ｖｒｍｓ）をプロットした特性のグラフを示している。

図８の特性からは、等価直列抵抗の上昇に伴い、ループアンテナ電圧が上昇していることを確認できる。ここで、グラフの実線は、実測値を結んだ線であり、点線は、その延長と推測する推測値の線を示している。

図９は、図７に含まれる電解コンデンサ２の等価直列抵抗（Ω）に対するベースドライブ回路電圧（Ｖ）の関係を実測値の制限範囲を含めて示す特性図である。即ち、図９は、図７に示す劣化度測定の結果から、横軸に電解コンデンサ２の等価直列抵抗（Ω）、縦軸にベースドライブ回路２４におけるベースドライブ回路電圧（Ｖ）をプロットした特性のグラフを示している。

図９の特性からは、等価直列抵抗の上昇に伴い、ベースドライブ回路電圧が上昇していることを確認できる。ここで、グラフの実線は、実測値を結んだ線であり、点線は、その延長と推測する推測値の線を示している。

次に、図９中の実測値の制限範囲を説明する。劣化度測定の試験を行ったプリント基板２０の回路において、電解コンデンサ２の劣化の進行と共に、等価直列抵抗が増加し、トランジスタＴｒのオン時間が長くなる。この結果、ベースドライブ回路電圧が上昇することになる。ここで、プリント基板２０の回路において、ベースドライブ回路２４におけるベースドライブ回路電圧は、１２Ｖが基準である。ベースドライブ回路２４を正常に動作させるためには、ベースドライブ回路電圧を動作条件の制限電圧の１５Ｖ未満に抑える必要がある。

図９を参照すれば、劣化度測定の試験を行った５枚のプリント基板２０のそれぞれのベースドライブ回路電圧は、何れも１５Ｖ未満となっており、動作条件の制限電圧を満たしている。しかし、プリント基板２０が更に長期的に継続して使用され、電解コンデンサ２の等価直列抵抗が１５Ωまで上昇すると、ベースドライブ回路電圧が１５Ｖとなる。これが図９中に示した実測値の制限範囲である。

こうした条件下では、ベースドライブ回路２４を正常に動作させることができなくなる。即ち、電解コンデンサ２の等価直列抵抗＝１５Ωがプリント基板２０の回路における制限抵抗であると云える。換言すれば、ベースドライブ回路２４は、ベースドライブ回路電圧が１５Ｖのときに定格を超えるので、このときを寿命判定点とすれば良い。

図１０は、図７に含まれる電解コンデンサ２の等価直列抵抗（Ω）に対するループアンテナ電圧（Ｖｒｍｓ）の関係を実測値の制限範囲を含めて示す特性図である。即ち、図１０は、図８に対して、等価直列抵抗＝１５Ωを基準にして、実測値の制限範囲として示したものである。

図１０を参照すれば、電解コンデンサ２の等価直列抵抗が１５Ωになり、ベースドライブ回路電圧が１５Ｖとなったとき、ループアンテナ電圧＝９Ｖとなることを示している。このループアンテナ電圧＝９Ｖについても、制限電圧とみなせる。

そこで、プリント基板２０の回路において、図６の劣化度測定装置によって、電解コンデンサ２の劣化度測定を実施した場合、ループアンテナ電圧が９Ｖ未満の場合にはプリント基板２０が使用可能であると判定できる。また、ループアンテナ電圧が９Ｖ以上の場合には、プリント基板２０が使用不可であると判定できる。更に、ループアンテナ電圧が９Ｖ未満であっても、９Ｖに近い場合には、プリント基板２０の交換時期であると判定することもできる。

以上に説明した劣化度測定装置の処理機能は、技術的に劣化度測定方法として換言できる。この場合、劣化度測定方法は、プリント基板２０に実装された電解コンデンサ２の劣化度を測定する際、以下のステップを有することになる。第４のステップは、プリント基板２０から取り外した電解コンデンサ２の等価直列抵抗を測定する。

第５のステップは、先の第２のステップ及び第４のステップを複数回実行した後に得られた電圧と等価直列抵抗とに基づいて、プリント基板２０に実装された電解コンデンサ２の劣化度の制限電圧を推定する。そこで、先の第３のステップにおいて、電圧と制限電圧とを比較した結果の差値の大小に応じて、電解コンデンサ２の劣化度を判定するものである。

実施の形態２．
図１１は、本発明の実施の形態２に係る劣化度測定装置の概略構成図である。

実施の形態２に係る劣化度測定装置は、実施の形態１の構成と比べ、電圧測定部及び劣化度判定部の機能をデバイス回路構成の劣化度判定部１０に変更した点が相違している。また、プリント基板２０に実装された電解コンデンサ２にループアンテナ１を周回し、ループアンテナ１における一端部を何にも接続せず、他端部を劣化度判定部１０に接続して構成される。

劣化度判定部１０は、全波整流回路１１、平滑回路１２、制限電圧回路１３、比較器１４、及び報知部１５を備えて構成される。

全波整流回路１１は、ループアンテナ１の他端部が接続され、ループアンテナ１で検出される電圧を全波整流する。平滑回路１２は、全波整流回路１１で整流された電圧を平滑化してから、比較器１４の正極側に印加する。全波整流回路１１及び平滑回路１２は、電圧測定部としての機能を受動的に持つものとみなせる。制限電圧回路１３は、予め決められた制限電圧を比較器１４の負極側に出力する。この制限電圧として、実施の形態１で説明したループアンテナ電圧＝９Ｖの制限電圧を使用する。

比較器１４は、平滑回路１２の出力電圧と制限電圧回路１３から出力される制限電圧とを比較する。報知部１５は、比較器１４の出力を報知する。ここでの報知部１５は、比較器１４の出力側に接続された発光部としてのＬＥＤ（発光ダイオード）１６を備える。これにより、ＬＥＤ１６の点灯状況を確認すれば、容易に電解コンデンサ２の劣化度が制限電圧を超えたか否かを一目で確認することができる。

報知部１５のＬＥＤ１６の代わりに、比較器１４の出力側に接続された音発生部としてのブザーを報知部１５に備えるようにしても良い。例えば、実施の形態２に係る劣化度測定装置を、電機製品に組み込まれたプリント基板２０に取り付ける際、ＬＥＤ１６を視認し難いような場合には、報知部１５として、電解コンデンサ２の劣化度が制限電圧を超えたか否かを音で認識できるブザーを備えるのが好適である。勿論、報知部１５として、発光部及び音発生部の双方を持たせるようにしても良い。

実施の形態２に係る劣化度測定装置では、プリント基板２０に実装された電解コンデンサ２の劣化度測定の試験に際して、制限電圧回路１３に設定される制限電圧を９Ｖにする。これにより、プリント基板２０が電機製品に組み込まれている状態であっても、ループアンテナ１を電解コンデンサ２に装着し、劣化度判定部１０によって、電解コンデンサ２の劣化度を容易に判定することができる。

各実施の形態に係る劣化度測定装置では、ループアンテナ電圧＝９Ｖを電解コンデンサ２の劣化度測定の制限電圧とした。しかし、これは、あくまでも一例であり、対象となるプリント基板２０の使用条件に応じて、電解コンデンサ２の劣化度測定の制限電圧を設定すれば良い。

尚、以上に説明した各実施の形態では、電解コンデンサ２がプリント基板２０に実装された電解コンデンサ２の劣化度測定について説明した。しかしながら、本発明は、電解コンデンサ２のリップル電流に伴う放射ノイズ２ｎを電圧として検出することが可能な条件にあれば、プリント基板２０に実装されていない電解コンデンサ２に対しても、同様に適用できる。

１ループアンテナ、２電解コンデンサ、２ｃリップル電流、２ｎ放射ノイズ、３電圧測定器、３ｐ受動プローブ、１０劣化度判定部、１１全波整流回路、１２平滑回路、１３制限電圧回路、１４比較器、１５報知部、１６ＬＥＤ、２０プリント基板、２１直流電源、２２、２６コネクタ、２３一次側回路、２４ベースドライブ回路、２５制御電源回路、Ｔトランス、Ｔｒトランジスタ。

Claims

プリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を測定する方法であって、
絶縁電線を前記電解コンデンサに周回して形成されたループアンテナを用いて、前記プリント基板への通電状態で発生する前記電解コンデンサのリップル電流に伴う放射ノイズを電圧として検出する第１のステップと、
前記電圧を測定する第２のステップと、
前記放射ノイズの増加時の電圧に基づいて、前記電解コンデンサの劣化度を判定する第３のステップと、
を有する電解コンデンサ用劣化度測定方法。
プリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を測定する方法であって、
前記プリント基板への通電状態で発生する前記電解コンデンサのリップル電流に伴う放射ノイズを電圧として検出する第１のステップと、
前記電圧を測定する第２のステップと、
前記放射ノイズの増加時の電圧に基づいて、前記電解コンデンサの劣化度を判定する第３のステップと、
前記プリント基板から取り外した前記電解コンデンサの等価直列抵抗を測定する第４のステップと、
前記第２のステップ及び前記第４のステップを複数回実行した後に得られた前記電圧と前記等価直列抵抗とに基づいて、前記プリント基板に実装された前記電解コンデンサの劣化度の制限電圧を推定する第５のステップと、
を有し、
前記第３のステップは、前記電圧と前記制限電圧とを比較した結果の差値の大小に応じて、前記電解コンデンサの劣化度を判定する
電解コンデンサ用劣化度測定方法。
プリント基板に実装された電解コンデンサの当該プリント基板の通電状態で発生するリップル電流に伴う放射ノイズを電圧として検出する検出部と、
前記検出部で検出された電圧を測定する電圧測定部と、
前記放射ノイズの増加時の電圧に基づいて、前記電解コンデンサの劣化度を判定する劣化度判定部と、
を備え、
前記検出部は、絶縁電線を前記電解コンデンサに周回して形成されたループアンテナである
電解コンデンサ用劣化度測定装置。
プリント基板に実装された電解コンデンサの当該プリント基板の通電状態で発生するリップル電流に伴う放射ノイズを電圧として検出する検出部と、
前記検出部で検出された電圧を測定する電圧測定部と、
前記放射ノイズの増加時の電圧に基づいて、前記電解コンデンサの劣化度を判定する劣化度判定部と、
を備え、
前記劣化度判定部は、
前記検出部に接続され、当該検出部で検出された電圧を全波整流する全波整流回路と、
前記全波整流回路で全波整流された電圧を平滑する平滑回路と、
予め決められた制限電圧を出力する制限電圧回路と、
前記平滑回路の出力電圧と前記制限電圧とを比較する比較器と、
前記比較器の出力を報知する報知部と、
を有する電解コンデンサ用劣化度測定装置。
前記報知部は、前記比較器の出力側に接続された発光部を含む
請求項４に記載の電解コンデンサ用劣化度測定装置。
前記報知部は、前記比較器の出力側に接続された音発生部を含む
請求項４又は５に記載の電解コンデンサ用劣化度測定装置。
前記検出部は、絶縁電線を前記電解コンデンサに周回して形成されたループアンテナである
請求項４～６の何れか１項に記載の電解コンデンサ用劣化度測定装置。