JP7110765B2 - ４種の物質の含有率を測定する測定方法、測定処理プログラムおよび測定装置 - Google Patents

Description

本発明は、４種の物質の含有率を測定する測定方法、測定処理プログラムおよび測定装置に関する。

廃棄されたプラスチックのリサイクルが推進されつつある。廃棄されたプラスチックは回収されて破砕・溶融された後、粒状（ペレット）に加工される。このペレットは、土木建設資材、コンテナ等に加工されたり、化学原料として利用されたり、あるいは、燃料として利用されたり、様々な用途に用いられる。しかし、これらの様々な用途に用いるためには、それぞれの用途に適した組成のペレットを用いる必要がある。一方、廃棄されるプラスチックには、様々な種類があるので、その比率により、加工されたペレットの組成は異なる。従って、用途に適したペレットを得るために、ペレットを組成に基づいて分類することが望まれる。特に、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの４種の物質（ポリマー）について、ペレット中に含まれるそれぞれの含有率を充分な精度で測定（定量）し、得られた組成に基づいて分類することが望まれる。特許文献１には、フーリエ変換赤外分光法を用いて廃棄プラスチック破砕片の種類（材料）を判定する装置について記載されている。

特開平８－３００３５４号公報

しかし、特許文献１には、廃棄プラスチックの種類を判定することは記載されているものの、廃棄プラスチックに含まれる、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの４種の物質のそれぞれの含有率を算出することについては開示がない。

本発明の好ましい態様による４種の物質の含有率を測定する測定方法は、被測定物の透過赤外光または反射赤外光の吸収スペクトルを取得し、取得された前記吸収スペクトルにおける複数の所定波長での吸光度と、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの４種の物質の含有率と前記吸収スペクトルにおける吸光度との関係を示す基準情報とに基づいて、前記被測定物に含有される前記４種の物質の含有率を算出する。
より好ましい態様による４種の物質の含有率を測定する測定方法では、複数の前記所定波長は、６９８ｃｍ^－１、７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１の４種の波数にそれぞれ対応する第１波長、第２波長、第３波長および第４波長であり、前記基準情報は、前記被測定物における、ポリスチレンの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第１波長の吸光度との関係を示す第１情報と、ポリエチレンの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第２波長の吸光度との関係を示す第２情報と、ポリプロピレンの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第３波長の吸光度との関係を示す第３情報と、ポリエチレンテレフタレートの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第４波長の吸光度との関係を示す第４情報と、を含む。
さらに好ましい態様による４種の物質の含有率を測定する測定方法では、前記第１情報、前記第２情報、前記第３情報および前記第４情報は、前記４種の物質それぞれの含有率が既知であり、かつ、前記４種の物質それぞれの含有率が互いに異なる複数の指標部材の透過赤外光または反射赤外光の前記吸収スペクトルにおいて、前記４種の物質それぞれの含有率と、前記第１波長、前記第２波長、前記第３波長および前記第４波長の吸光度との関係を示す情報である。
さらに好ましい態様の４種の物質の含有率を測定する測定方法では、前記吸光度は、前記吸収スペクトルにおいて、前記所定波長の近傍でのベースラインの吸光度と前記所定波長の吸光度との差であるピーク補正高さに基づいて取得する。
さらに好ましい態様の４種の物質の含有率を測定する測定方法では、前記含有率は、前記４種の物質において、前記４種の物質から選択された基準物質の含有率である基準物質含有率に対する、前記４種の物質のうち前記基準物質以外の物質の前記含有率の比と、前記基準物質含有率における前記吸収スペクトルにおけるピーク補正高さに対する前記４種の物質のうち前記基準物質以外の物質の前記含有率における前記吸収スペクトルにおけるピーク補正高さの比であるピーク補正高さ比と、に基づいて作成される。
さらに好ましい態様の４種の物質の含有率を測定する測定方法では、前記吸収スペクトルは、前記被測定物の前記反射赤外光から取得される。
さらに好ましい態様の４種の物質の含有率を測定する測定方法では、前記吸収スペクトルは、高屈折光学部材に押圧された前記被測定物の押圧面に対して赤外光を照射し、前記押圧面近傍で反射した前記赤外光を検出することにより取得される。
さらに好ましい態様の４種の物質の含有率を測定する測定方法では、前記含有率の算出結果に基づいて前記被測定物をクラス分けする。
本発明の好ましい態様による測定処理プログラムは、被測定物の透過赤外光または反射赤外光の吸収スペクトルを取得する処理と、取得された前記吸収スペクトルに基づいて、前記吸収スペクトルにおける複数の所定波長の吸光度と、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの４種の物質の含有率と吸収スペクトルにおける吸光度との関係を示す基準情報とに基づいて、前記被測定物に含有される、前記４種の物質の含有率を算出する処理とをコンピュータに実行させる。
本発明の好ましい態様による測定装置は、所定の波長範囲の赤外光を出射する赤外光源と、被測定物に前記赤外光が照射されるように当該被測定物を支持する支持部と、前記被測定物の透過赤外光または反射赤外光を検出する検出部と、前記透過赤外光または前記反射赤外光の吸収スペクトルを取得し、前記吸収スペクトルにおける複数の所定波長の吸光度と、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの４種の物質の含有率と吸収スペクトルにおける吸光度との関係を示す基準情報とに基づいて、前記被測定物に含有される、前記４種の物質の含有率を算出する、算出部と、を有する。
より好ましい態様の測定装置では、複数の前記所定波長は、６９８ｃｍ^－１、７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１の４種の波数にそれぞれ対応する第１波長、第２波長、第３波長および第４波長であり、前記基準情報は、前記被測定物における、ポリスチレンの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第１波長の吸光度との関係を示す第１情報と、ポリエチレンの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第２波長の吸光度との関係を示す第２情報と、ポリプロピレンの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第３波長の吸光度との関係を示す第３情報と、ポリエチレンテレフタレートの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第４波長の吸光度との関係を示す第４情報と、を含む。
さらに好ましい態様の測定装置では、前記第１情報、前記第２情報、前記第３情報および前記第４情報は、前記４種の物質それぞれの含有率が既知であり、かつ、前記４種の物質それぞれの含有率が互いに異なる複数の指標部材の透過赤外光または反射赤外光の前記吸収スペクトルにおいて、前記４種の物質それぞれの含有率と、前記第１波長、前記第２波長、前記第３波長および前記第４波長の吸光度との関係を示す情報である。
さらに好ましい態様の測定装置では、前記算出部は、前記吸光度を、前記吸収スペクトルにおいて、前記所定波長の近傍でのベースラインの吸光度と前記所定波長の吸光度との差であるピーク補正高さに基づいて取得する。
さらに好ましい態様の測定装置では、前記算出部は、前記４種の物質において、前記４種の物質から選択された基準物質の含有率である基準物質含有率に対する、前記４種の物質のうち前記基準物質以外の３種の物質の前記含有率の比と、前記基準物質含有率における前記吸収スペクトルにおけるピーク補正高さと前記４種の物質のうち前記基準物質以外の物質の前記含有率におけるピーク補正高さとの比であるピーク補正高さ比と、に基づいて前記含有率を算出する。
さらに好ましい態様の測定装置では、前記支持部は、プリズム部材と、前記被測定物を前記プリズム部材に押圧して固定する押圧部とを有し、前記検出部は、前記プリズム部材を通して前記被測定物に照射され、前記プリズム部材に押圧された前記被測定物の押圧面で反射され、前記プリズム部材から出射した前記赤外光を受光する。
さらに好ましい態様の測定装置では、前記押圧部を駆動する駆動部と、前記駆動部の駆動を制御する制御部とをさらに有し、前記制御部は、前記押圧部が前記被測定物を前記プリズム部材に押圧する際の押圧力が所定の値になるように前記駆動部を駆動制御する。
さらに好ましい態様の測定装置では、前記制御部は、前記算出部が前記含有率算出を行った結果に基づいて前記被測定物をクラス分けするクラス分け部を含む。

本発明によれば、廃棄プラスチックから加工された被測定物に含まれる、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの４種の物質のそれぞれの含有率を、迅速かつ正確に算出することができる。

図１は、本発明の一実施形態の測定装置の概略構成図である。 図２は、一実施形態の測定方法により被測定物の組成を測定した結果を示す表であり、図２（ａ）は被測定物Ｍ１１の組成、図２（ｂ）は被測定物Ｍ１２の組成である。 図３は、試料１～５の組成を示す表である。 図４は、試料１～５の吸光スペクトルを示すグラフである。 図５は、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの含有率とピーク補正高さとの関係をそれぞれ示すグラフであり、図５（ａ）はポリエチレン（ＰＥ）に関するグラフ、図５（ｂ）はポリプロピレン（ＰＰ）に関するグラフ、図５（ｃ）はポリスチレン（ＰＳ）に関するグラフ、図５（ｄ）はポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）に関するグラフである。 図６は、一実施形態の測定方法を示すフローチャートである。 図７は、一実施形態の測定方法により被測定物の組成を測定した結果を示す表であり、図７（ａ）は被測定物Ｍ２１の組成、図７（ｂ）は被測定物Ｍ２２の組成である。 図８は、一実施形態の測定方法により被測定物の組成を測定した結果を示す表であり、図８（ａ）は被測定物Ｍ２１の組成、図８（ｂ）は被測定物Ｍ２２の組成である。 図９は、ポリプロピレンの含有率に対する、ポリエチレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの含有率比とピーク補正高さ比との関係をそれぞれ示すグラフであり、図９（ａ）はポリプロピレンに対するポリエチレン（ＰＥ／ＰＰ）に関するグラフ、図９（ｂ）はポリプロピレンに対するポリスチレン（ＰＳ／ＰＰ）に関するグラフ、図９（ｃ）はポリプロピレンに対するポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ／ＰＰ）に関するグラフである。 図１０は、一実施形態の測定方法を示すフローチャートである。 図１１は、被測定物の組成に基づくクラス分けの例を示す表である。 図１２は、一実施形態および変形例３の測定装置に処理を実行させるプログラムの説明のための概念図である。

以下、図を参照して本発明を実施するための形態について説明する。

図１は、本実施形態に係る測定装置１００の概略構成図を示す。測定装置１００は干渉光生成・検出部１１０と照射部１２０とを有する。干渉光生成・検出部１１０は赤外干渉光を生成する。照射部１２０は干渉光生成・検出部１１０で生成された赤外干渉光を被測定物Ｍに照射させ、被測定物Ｍからの赤外干渉光を干渉光生成・検出部１１０に伝播させる。干渉光生成・検出部１１０は、赤外光源１と、集光ミラー２と、コリメータミラー３と、ビームスプリッタ４と、固定ミラー５と、可動ミラー６と、検出器７と、制御部８、算出部９とを備える。照射部１２０は、集光ミラー２１、プリズム２２、集光ミラー２３、押圧部２４とを備える。

制御部８は、後述するプログラムや基準情報、測定結果データなどが記憶、記録されるメモリ８ａ、検出器７のアナログ出力信号をデジタル信号に変換する不図示のＡ／Ｄ変換器、および干渉光生成・検出部１１０の各構成要素の駆動を制御するＣＰＵなどの不図示のプロセッサなどを備えている。

赤外光源１は、ハロゲン光源やセラミック光源等の赤外線発生装置を備え赤外光を出射する。赤外光の波長は、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの４種の物質のそれぞれの含有率を算出するために必要な波長範囲を有している必要がある。具体的には、少なくとも６９８ｃｍ^－１、７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１の４種の波数に相当する波長範囲、例えば、５μｍ以上５０μｍ以下の波長範囲を有している必要がある。なお、図１では、赤外光の光路を二点鎖線により模式的に示している。

赤外光源１から出射された赤外光は、集光ミラー２およびコリメータミラー３により反射されて平行光となり、ビームスプリッタ４に入射する。ビームスプリッタ４では、赤外光は部分的に固定ミラー５に向けて反射され、赤外光の残りの部分は可動ミラー６に向けて透過する。固定ミラー５および可動ミラー６においてそれぞれ反射した赤外光は、それぞれビームスプリッタ４に入射して合波される。可動ミラー６は可動ミラーアクチュエータ６ａに光軸方向に移動可能に配置されており、可動ミラー６の反射面を制御できるように構成されている。すなわち、コリメータミラー３、ビームスプリッタ４、固定ミラー５および可動ミラー６によりマイケルソンの干渉計を構成し、赤外干渉光が生成される。生成された赤外干渉光は、ビームスプリッタ４から照射部１２０に向けて伝播する。

照射部１２０に入射した赤外干渉光は、集光ミラー２１により反射されプリズム２２に集光しながら入射する。押圧部２４は被測定物Ｍをプリズム２２の表面に押圧した状態で固定する。プリズム２２は光屈折率材料、例えばダイヤモンド結晶を材料として加工されたものが用いられる。プリズム２２に入射した赤外干渉光は、被測定物Ｍが押圧された被押圧面で全反射した後、プリズム２２を出射する。この時、被押圧面から被測定物Ｍにもぐりこんだ赤外干渉光が全反射した光に合わさってプリズム２２の内部を伝播し出射する。プリズム２２を出射した赤外干渉光は、集光ミラー２３により反射・集光され、干渉光生成・検出部１１０の検出器７により検出される。すなわち、被測定物Ｍは全反射吸収法（ＡＴＲ法）により測定される。

検出器７としては、ＴＧＳ検出器、ＩｎＡｓ検出器またはＭＣＴ検出器等の赤外光検出器を用いることができる。検出器７が検出した赤外光の検出信号は、不図示のＡ／Ｄ変換器でデジタル信号に変換され、制御部８のメモリ８ａに格納される。算出部９は、メモリ８ａに格納したデジタル信号をフーリエ変換赤外分光法（ＦＴＩＲ）により処理して、被測定物Ｍの赤外干渉光の吸収スペクトルを取得する。取得された吸収スペクトルは制御部８で表示用データとして加工されて表示部１０により表示されると共に、メモリ８ａに記憶される。メモリ８ａには、被測定物Ｍに含有される物質の含有率、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの少なくとも４種の物質の含有率を算出するための基準情報が記憶されている。
なお、基準情報については後述するが、本明細書中においては、後述する実施例１と２とのそれぞれの基準情報は異なり、それぞれを基準情報１，２と呼ぶ。

表示部１０は、液晶モニタ等の表示装置を備え、測定条件の入力画面、測定開始を指示する画面、測定結果の表示画面等の各種画面を表示する。入力部１１は、マウス、キーボードまたはタッチパネル等の入力装置を備え、測定装置１００で行う測定および解析に関する情報や指示をユーザから受け付ける。通信部１２は、インターネット等の不図示のネットワークを介して通信を行う通信装置を備える。通信部１２は、測定結果との比較を行うため、例えば図１１に示すクラス分けに関する情報を取得したり、測定結果に関する情報を送信したりする等、測定装置１００の測定に関するデータを送受信する。

［実施例１］
（廃棄プラスチックの組成測定１）
図１に示す測定装置１００を用いて組成が未知の廃棄プラスチックの組成、すなわち、含有される複数種類の物質のそれぞれの含有率を測定する手順について説明する。破砕された廃棄プラスチックをシート状に加工して被測定物Ｍ１１およびＭ１２を用意する。被測定物Ｍ１１およびＭ１２のそれぞれについて、次の手順により測定を行う。

すなわち、被測定物Ｍ１１およびＭ１２のそれぞれについて次のように測定する。測定装置１００を構成する照射部１２０のプリズム２２に被測定物を載せる。押圧部２４により被測定物を所定の力でプリズム２２に押し付ける。制御部８により可動ミラーアクチュエータ６ａが駆動制御されて可動ミラー６が駆動されることにより、干渉光生成・検出部１１０で赤外干渉光が生成される。赤外干渉光は照射部１２０に入射してプリズム２２を透過して被測定物Ｍを照射する。干渉光生成・検出部１１０の検出器７により、被測定物に照射された赤外干渉光が検出される。

検出器７により検出された検出信号は制御部８に備えられたＡ／Ｄ変換器よりデジタル信号に変換されてメモリ８ａに格納される。メモリ８ａに格納されたデジタル信号は、フーリエ変換赤外分光法（ＦＴＩＲ）に基づいて処理され、被測定物の赤外干渉光の吸収スペクトルが生成される。ここでは、吸収スペクトルとして吸光度スペクトルが生成される。取得した吸光度スペクトルについて、６９８ｃｍ^－１、７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１の４種の波数におけるピーク補正高さを算出し、制御部８のメモリ８ａに格納する。ピーク補正高さとは、吸光度スペクトルにおいて、所定の波数にける吸光度とベースライン吸光度との差である。

ここで、６９８ｃｍ^－１はポリスチレン（ＰＳ）に対応する波数、７１９ｃｍ^－１はポリエチレン（ＰＥ）に対応する波数、８４１ｃｍ^－１はポリプロピレン（ＰＰ）に相当する波数、１７２２ｃｍ^－１はポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）に対応する波数である。

上記のようにして求めた、６９８ｃｍ^－１、７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１の４種の波数におけるピーク補正高さについて、制御部８のメモリ８ａに格納された基準情報１を参照することにより、被測定物のそれぞれに含有されるＰＳ、ＰＥ、ＰＰおよびＰＥＴの含有率を算出部９により算出する。被測定物Ｍ１１およびＭ１２のそれぞれについて、同様の手順で合計５回の測定（測定１～５）を行った結果を図２の表に示す。図２（ａ）は被測定物Ｍ１１の組成であり、図２（ｂ）は被測定物Ｍ１２の組成である。

（基準情報１）
基準情報１について説明する。上記の通り、基準情報１は、所定の物質に関して、その物質が含有されることにより吸光度スペクトルに現れる特定の波数でのピークのピーク補正高さとその含有率との関係を示す情報である。基準情報１は予めメモリ８ａに格納されている。基準情報１により、被測定物Ｍの吸光度スペクトルを取得し、所定波数におけるピーク補正高さを求め、そのピーク補正高さに対応する含有率を算出することで、その波数に対応する物質の含有率を求めることができる。基準情報１は、例えば次の手順により生成される。

組成、すなわち、含有される物質の種類と含有率が既知の試料を用意する。この場合、組成は正確に把握されている必要がある。そのために、試料の組成を、核磁気共鳴装置（ＮＭＲ）のように正確に組成が測定できる装置により正確に求めておくことが望ましい。ここでは、図３に示すように、異なる組成を有する５種類の物質を用意し、これらをそれぞれ試料１～５とした。試料１～５はいずれもシート状に加工されている。なお、図３に示した組成はＮＭＲにより測定されたものである。

試料１～５のそれぞれを、被測定物の吸光度スペクトルを求めた実施例１に説明の手順と同様の手順により吸光度スペクトルを求める。求めた吸光スペクトルを図４のグラフに示す。吸光度スペクトルはメモリ８ａに記憶される。吸光スペクトルから、ＰＥ、ＰＰ、ＰＳおよびＰＥＴに対応する波数におけるピーク補正高さを求める。すなわち、ＰＥに対応する波数７１９ｃｍ^－１におけるピーク補正高さ、ＰＰに対応する波数８４１ｃｍ^－１におけるピーク補正高さ、ＰＳに対応する波数６９８ｃｍ^－１におけるピーク補正高さ、およびＰＥＴに対応する波数１７２２ｃｍ^－１におけるピーク補正高さを求める。それぞれの物質の含有率とこれらの物質に対応する波数におけるピーク補正高さとの関係を図５のグラフに示す。

図５（ａ）、（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）に示された丸印は、それぞれ、ＰＥ、ＰＰ、ＰＳおよびＰＥＴの含有率とピーク補正高さとの関係を示す。符号１～５は試料１～５のそれぞれについての値であることを示す。また、図５（ａ）、（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）のそれぞれに示された直線は、これら４種の物質の含有率とピーク補正高さとの関係に基づいて求めた検量線である。各検量線の情報は、基準情報１としてメモリ８ａに格納される。上記の通り、被測定物Ｍ１１およびＭ１２のそれぞれの吸光スペクトルから求めた、波数７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１、６９８ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１のそれぞれにおけるピーク補正高さについて、基準情報１を参照することにより、被測定物Ｍ１１およびＭ１２のそれぞれに含有されるＰＥ、ＰＰ、ＰＳおよびＰＥＴの含有率が決定される。

図２（ａ）、（ｂ）には、被測定物Ｍ１１およびＭ１２のそれぞれにおける各物質の含有率に関して、実施例１に説明した手順により５回の測定で求めた値を示す。また、比較のためにＮＭＲにより測定したこれらの含有率も、図２（ａ）、（ｂ）に示す。図２（ａ）、（ｂ）を参照すると、実施例１に説明した手順により、測定１～５の値には多少のバラツキはあるものの、被測定物Ｍ１１およびＭ１２のそれぞれに含有されるＰＥ、ＰＰ、ＰＳおよびＰＥＴの含有率が所定の精度で求められていることがわかる。すなわち、実施例１で行った５回の測定による含有率のバラツキは比較的小さく、また各測定値はＮＭＲにより測定した含有率の値から大きく乖離していないことが分かる。

本発明の実施例１による測定方法について図６に示すフローチャートに沿って説明する。図６に示すフローチャートの各処理は、測定装置１００の干渉光生成・検出部１１０に設けられた制御部８のプロセッサがメモリ８ａに記憶させている物質の含有率測定処理プログラムを実行して行われる。

ステップＳ１０で、測定装置１００を構成する照射部１２０のプリズム１２２に被測定物を載置し、押圧部２４により被測定物をプリズム２２に押圧して固定する。干渉光生成・検出部１１０は、制御部８の制御に基づき可動ミラー６を移動させながら各波長の干渉光を連続的に生成する。生成された赤外干渉光は照射部１２０に入射されて被測定物を照射する。干渉光生成・検出部１１０の検出器７は被測定物からの反射光を含む赤外干渉光を検出し、算出部９は、被測定物の吸光度スペクトルを算出し、ステップＳ１１に進む。ステップＳ１１において、算出部９は、吸光度スペクトルに基づいて、６９８ｃｍ^－１、７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１の４種の波数におけるピーク補正高さを算出し、ステップＳ１２に進む。ステップＳ１２において、算出部９は、基準情報１を参照して、ピーク補正高さに対応する、ＰＥ、ＰＰ、ＰＳおよびＰＥＴの各含有率を決定し、被測定物の４種の物質含有率のデータをメモリ８ａで保存して一連の処理を終了する。

上述した実施例１によれば、次の作用効果が得られる。
（１）実施例１において、被測定物の透過赤外光または反射赤外光の吸収スペクトルを取得し、その吸収スペクトルにおける複数の所定波長での吸光度と、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの４種の物質の含有率と吸収スペクトルにおける吸光度との関係を示す基準情報とに基づいて、被測定物に含有される４種の物質の含有率を算出する。これにより、廃棄プラスチックから加工された被測定物に含まれる、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの４種の物質のそれぞれの含有率を、迅速かつ正確に算出することができる。
（２）実施例１において、複数の所定波長は、６９８ｃｍ^－１、７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１の４種の波数にそれぞれ対応する第１波長、第２波長、第３波長および第４波長であり、基準情報は、被測定物における、ポリスチレンの含有率と吸収スペクトルにおける第１波長の吸光度との関係を示す第１情報と、ポリエチレンの含有率と吸収スペクトルにおける第２波長の吸光度との関係を示す第２情報と、ポリプロピレンの含有率と吸収スペクトルにおける第３波長の吸光度との関係を示す第３情報と、ポリエチレンテレフタレートの含有率と吸収スペクトルにおける第４波長の吸光度との関係を示す第４情報と、を含む。これにより、上記４種の物質の含有率をより正確に算出することができる。
（３）実施例１において、第１情報、第２情報、第３情報および第４情報は、４種の物質それぞれの含有率が既知であり、かつ、４種の物質それぞれの含有率が互いに異なる複数の指標部材の透過赤外光または反射赤外光の吸収スペクトルにおいて、４種の物質それぞれの含有率と、第１波長、第２波長、第３波長および第４波長の吸光度との関係を示す情報である。これにより、様々な吸光度について、含有率をより迅速かつ正確に算出することができる。
（４）実施例１において、吸光度は、吸収スペクトルにおいて、所定波長の近傍でのベースラインの吸光度と所定波長の吸光度との差であるピーク補正高さに基づいて取得する。これにより、吸光度を正確に取得することができ、含有率をより正確に算出することができる。
（５）実施例１において、吸収スペクトルは、被測定物の前記反射赤外光から取得される。これにより、含有率をより正確に算出することができる。
（６）実施例１において、吸収スペクトルは、高屈折光学部材に押圧された被測定物の押圧面に対して赤外光を照射し、押圧面近傍で反射した前記赤外光を検出することにより取得される。これにより、含有率をより正確に算出することができる。
（７）実施例１において、含有率の算出結果に基づいて被測定物をクラス分けする。これにより、廃棄プラスチックの分類がより迅速かつ正確に行える。

［実施例２］
（廃棄プラスチックの組成測定２）
廃棄プラスチックの組成、すなわち、含有される複数種類の物質のそれぞれの含有率を測定する別の手順について説明する。本実施例における測定は、実施例１に説明した測定と次の点で異なる。１つ目は、被測定物の形状がペレット状であることである。２つ目は、異なる波数における各ピーク補正高さの比（ピーク補正高さ比）とその波数に対応する各物質の含有率比との関係に基づいて各物質の含有率を求めることである。３つ目は、上記のピーク補正高さ比と各物質の含有率比との関係を示す基準情報２を用いることである。基準情報２については後述する。

廃棄プラスチックから加工されたペレット状の被測定物Ｍ２１およびＭ２２を用意する。被測定物Ｍ２１は実施例１において用いた被測定物Ｍ１１と同じ廃棄プラスチックから作製したものであり、被測定物Ｍ２２は実施例１において用いた被測定物Ｍ１２と同じ廃棄プラスチックから作製したものである。従って、被測定物Ｍ２１は被測定物Ｍ１１と同じ組成であり、被測定物Ｍ２２は被測定物Ｍ１２と同じ組成である。被測定物Ｍ１１およびＭ１２のそれぞれについて次の手順により測定を行う。被測定物Ｍ２１およびＭ２２のそれぞれについて、実施例１に説明した手順と同様の手順により測定を行う。

すなわち、被測定物Ｍ２１およびＭ２２のそれぞれについて、測定装置１００を構成する照射部１２０のプリズム２２に被測定物を載せ、押圧部２４により被測定物を所定の力でプリズム２２に押し付ける。上述したように制御部８により可動ミラー６を移動させながら、干渉光生成・検出部１１０で生成された赤外干渉光は照射部１２０に入射され、被測定物を照射する。干渉光生成・検出部１１０の検出器７により、被測定物に照射された赤外干渉光を検出する。
なお、押圧部２４による被測定物をプリズム２２に押し付ける力は、被測定物のプリズム２２に対する接触状態が一定となるように制御部８が制御することが好ましい。

検出器７により検出した検出信号は、制御部８に備えられたＡ／Ｄ変換器よりデジタル信号に変換されてメモリ８ａに格納される。メモリ８ａに格納されたデジタル信号は、算出部９でＦＴＩＲにより処理され、被測定物の赤外干渉光の吸光度スペクトルが取得される。取得した吸光度スペクトルについて、６９８ｃｍ^－１、７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１の４種の波数におけるピーク補正高さを算出する。

制御部８において、４種の波数におけるピーク補正高さのうち、ＰＰに対応する波数６９８ｃｍ^－１における補正ピーク高さを基準ピーク補正高さとし、７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１の３種の波数におけるピーク補正高さのそれぞれの基準ピーク補正高さに対する比が算出される。これらは制御部８のメモリ８ａに格納される。すなわち、６９８ｃｍ^－１、７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１の４種の波数におけるピーク補正高さをそれぞれ、Ｐ（６９８ｃｍ^－１）、Ｐ（７１９ｃｍ^－１）、Ｐ（８４１ｃｍ^－１）およびＰ（１７２２ｃｍ^－１）とした場合、Ｐ（７１９ｃｍ^－１）／Ｐ（６９８ｃｍ^－１）、Ｐ（８４１ｃｍ^－１）／Ｐ（６９８ｃｍ^－１）およびＰ（１７２２ｃｍ^－１）／Ｐ（６９８ｃｍ^－１）の３種類のピーク補正強度比が算出され、メモリ８ａに格納される。

算出部９は、上記ピーク補正強度比を用いて制御部８のメモリ８ａに格納された基準情報２を参照することにより、被測定物のそれぞれについて、ＰＰの含有率に対するＰＳ、ＰＥおよびＰＥＴの各含有率比を算出する。被測定物Ｍ２１およびＭ２２のそれぞれについて、同様の手順で合計５回の測定（測定１～５）を行った結果を図７の表に示す。図７（ａ）は被測定物Ｍ２１についての結果であり、図７（ｂ）は被測定物Ｍ２２についての結果である。図７（ａ）、（ｂ）に示す５回の測定の平均値に基づいて、被測定物Ｍ２１およびＭ２２のそれぞれに含有されるＰＥ、ＰＰ、ＰＳおよびＰＥＴの含有率を算出した結果を図８の表に示す。
図８（ａ）は被測定物Ｍ２１の組成であり、図８（ｂ）は被測定物Ｍ２２の組成である。なお、比較のためにＮＭＲにより測定したこれらの含有率も図８（ａ）および図８（ｂ）に示す。

図８より、被測定物Ｍ２１およびＭ２２のそれぞれに含有されるＰＥ、ＰＰ、ＰＳおよびＰＥＴの含有率を実施例２で説明した手順で算出した結果が、ＮＭＲにより測定した値に近く、充分な精度であることがわかる。被測定物の形状がペレット状であることを考慮すると、図８（ａ）および図８（ｂ）に示した測定結果は非常に精度が高いと言える。

（基準情報２）
基準情報２について説明する。基準情報２は、上記の通り、異なる波数における各ピーク補正高さ比と、その波数に対応する各物質の含有率比との関係を示す情報である。基準情報２は予めメモリ８ａに格納される。被測定物Ｍの吸光度スペクトルを取得し、特定の２つの波数における各ピーク補正高さ比を求め、基準情報２を参照してそのピーク補正高さ比に対応する含有率比を算出し、さらに、算出された含有率比から各物質の含有率を求めることができる。基準情報２は、例えば次の手順により生成される。

実施例１に説明した手順により求めた試料１～５におけるＰＥ、ＰＰ、ＰＳおよびＰＥＴに対応する波数におけるピーク補正高さのうち、ＰＰに対応する波数８４１ｃｍ^－１におけるピーク補正高さを基準ピーク補正高さとする。次に、基準ピーク補正高さに対する、ＰＥ、ＰＳおよびＰＥＴに対応する波数におけるピーク補正高さの比（ピーク補正高さ比）を算出する。例えば、図４に示した試料１の吸光度スペクトルに関して、ＰＰに対応する波数８４１ｃｍ^－１でのピーク補正高さは約０．００５であり、ＰＥに対応する７１９ｃｍ^－１でのピーク補正高さは約０．１１である。従って、ピーク補正高さ比（ＰＥ／ＰＰ）は、０．１１／０．００５＝２２となる。一方、試料１におけるＰＰの含有率に対するＰＥの含有率（含有率比）は、図３より、７４／１４≒５．３となる。

同様にして、試料１～５について、ＰＰに対するＰＥ、ＰＳおよびＰＥＴのピーク補正高さ比および含有率比を求めることができる。これらの関係を図９のグラフに示す。図９（ａ）、（ｂ）および（ｃ）に示された丸印は、それぞれ、ＰＰに対するＰＥ、ＰＳおよびＰＥＴの含有率比とピーク補正高さ比との関係を示す。符号１～５は試料１～５のそれぞれについての値であることを示す。また、図９（ａ）、（ｂ）および（ｃ）のそれぞれに示された直線は、これら４種の物質の含有率比とピーク補正高さ比との関係に基づいて求めた検量線である。各検量線の情報は、基準情報２としてメモリ８ａに格納される。上記の通り、被測定物Ｍ２１およびＭ２２のそれぞれの吸光スペクトルから、波数７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１、６９８ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１のそれぞれにおけるピーク補正高さが算出される。算出されたピーク補正高さからピーク補正高さ比が算出される。各ピーク補正高さ比について、基準情報２を参照することにより、被測定物Ｍ２１およびＭ２２のそれぞれにおける、ＰＰの含有率に対するＰＥ、ＰＳおよびＰＥＴの含有率比が算出される。それらの結果にもとづいて、ＰＥ、ＰＰ、ＰＳおよびＰＥＴの含有率が決定される。

実施例２においては、ペレット状の被測定物を用いている。上記の通り、廃棄プラスチックは、破砕・溶融された後、ペレットに加工される。実施例２により、被測定物がペレット形状であっても、含有されるポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの少なくとも４種の物質の各含有率を充分な精度で測定できることが示されている。
なお、実施例２において、実施例１で用いたシート状被測定物と同様の被測定物を用いた場合には、さらに高い精度で各物質の含有率が算出できる。

また、実施例２においては、ＰＰを基準に定め、ＰＰに対応する波数におけるピーク補正高さを基準ピーク補正高さとした。しかし、ＰＰ以外の物質、すなわち、ＰＥ、ＰＳ、ＰＥＴのいずれの物質を基準に定めても構わない。ただし、吸光度スペクトルにおいて、ピーク補正高さが正確に把握できる物質を基準に定めることが、測定の精度を高める上で好ましい。

上述した実施例２による測定方法について図１０に示すフローチャートに沿って説明する。図１０に示すフローチャートの各処理は、測定装置１００においてプログラムを実行して行われる。このプログラムは、メモリ８ａに格納されており、測定装置１００において起動され、実行される。

図１０で例示する測定方法では、被測定物に含有される４種の物質の含有率を測定する。プリズム２２の上面にはペレット状の被測定部が載置され、押圧部２４で所定の押圧力で押圧されて支持される。
ステップＳ２０で、干渉光生成・検出部１１０で生成される赤外干渉光を被測定物に照射しつつ、検出器７から検出信号を受信する。算出部９で受信した検出信号に基づき、被測定物の吸光度スペクトルが生成される。吸光度スペクトルが生成されるとステップＳ２１に進む。ステップＳ２１において、算出部９は、吸光度スペクトルに基づいて、６９８ｃｍ^－１、７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１の４種の波数におけるピーク補正高さを算出し、ステップＳ２２に進む。

ステップＳ２２において、算出部９は、４種の波数におけるピーク補正高さに基づいて、ピーク補正高さ比を算出し、ステップＳ２３に進む。ステップＳ２３において、算出部９は、基準情報２を参照して、ピーク補正高さ比を決定する。例えば、７１９ｃｍ^－１におけるピーク補正高さ／波数８４１ｃｍ^－１におけるピーク補正高さに対応する含有率比等を決定し、ステップＳ２４に進む。ステップＳ２４において、算出部９は、決定された含有率比に基づいて、ＰＥ、ＰＰ、ＰＳおよびＰＥＴの各含有率を算出し、被測定物の４種の物質含有率のデータをメモリ８ａで保存して一連の処理を終了する。

上述した実施例２の測定方法によれば、既に説明した（１）～（７）の作用効果に加えて、次の作用効果が得られる。
（８）含有率は、４種の物質において、４種の物質から選択された基準物質の含有率である基準物質含有率に対する、４種の物質のうち基準物質以外の物質の含有率の比と、基準物質含有率における吸収スペクトルにおけるピーク補正高さに対する４種の物質のうち基準物質以外の物質の含有率における吸収スペクトルにおけるピーク補正高さの比であるピーク補正高さ比と、に基づいて算出される。これにより、仮に、吸収スペクトルにノイズが含まれている場合であっても、ピーク補正高さ比を求める段階でノイズが低減されるので、より正確に算出することができる。従って、ペレットのような形状の被測定物についても、上記４種の物質の含有率を迅速かつ正確に算出することができる。

実施例１および２で説明した廃棄プラスチックの組成測定１および２において、測定された組成に基づいて、被測定物の加工に用いた廃棄プラスチックのロットをクラス分けすることができる。その一例を図１１の表に示す。図１１には、ＰＥおよびＰＰの含有率に基づいてクラス分けを行った例が示されている。クラス分けにより設定したクラス名は、メモリ８ａに格納され、表示部１０に表示することができる。ＰＳやＰＥＴについても含有率に基づいてクラス分けを行うことができる。

次のような変形例も本発明の範囲内である。
(変形例１)
図１において、照射部１２０は、干渉光生成・検出部１１０で生成された赤外干渉光を被測定物Ｍの表面に照射させ、被測定物Ｍで反射された赤外干渉光を干渉光生成部１１０の検出器７に向けて集光させるように構成されている。しかし、被測定物Ｍの形態によっては、赤外干渉光を被測定物Ｍに照射させ、被測定物Ｍを透過した赤外干渉光を干渉光生成・検出部１１０の検出器７に向けて集光させるように構成してもよい。

（変形例２）
上述した実施の形態および実施例１、２においては、基準情報は、測定装置１００のメモリ８ａに格納されている構成について説明した。しかし、基準情報は、必ずしも測定装置１００に記憶されていなくてもよく、測定に際して、オペレータが入力部から入力してもよい。あるいは、通信部１２を介して、インターネット等の通信回線を利用して算出部８に入力されてもよい。

（変形例３）
上述した実施の形態および実施例１、２においては、測定装置１００の動作を実現するためのプログラムがメモリ８ａにあらかじめ記憶されているものとした。しかし、４種の物質の各含有率を測定する測定処理プログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録された、上述した測定処理プログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行させてもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ）や周辺機器のハードウェアを含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、光ディスク、メモリカード等の可搬型記録媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持するものを含んでもよい。また上記のプログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせにより実現するものであってもよい。

また、パーソナルコンピュータ（以下、ＰＣと記載）等に適用する場合、上述した制御に関するプログラムは、ＣＤ－ＲＯＭ等の記録媒体やインターネット等のデータ信号を通じて提供することができる。図１２は、測定処理を実行させるプログラムの説明のための概念図である。ＰＣ９５０は、ＣＤ－ＲＯＭ９５３を介してプログラムの提供を受ける。また、ＰＣ９５０は通信回線９５１との接続機能を有する。コンピュータ９５２は上記プログラムを提供するサーバーコンピュータであり、ハードディスク等の記録媒体にプログラムを格納する。通信回線９５１は、インターネット、パソコン通信などの通信回線、あるいは専用通信回線などである。コンピュータ９５２はハードディスクを使用してプログラムを読み出し、通信回線９５１を介してプログラムをＰＣ９５０に送信する。すなわち、プログラムをデータ信号として搬送波により搬送して、通信回線９５１を介して送信する。このように、プログラムは、記録媒体や搬送波などの種々の形態のコンピュータ読み込み可能なコンピュータプログラム製品として供給できる。

１…赤外光源、２…集光ミラー、３…コリメータミラー、４…ビームスプリッタ、５…固定ミラー、６…可動ミラー、７…検出器、８…制御部、８ａ…メモリ、９…算出部、１０…表示部、１１…入力部、１２…通信部、２１、２３…集光ミラー、２２…プリズム、２４…押圧部、１１０…干渉光生成・検出部、１２０…照射部

Claims (17)

1. 被測定物の透過赤外光または反射赤外光の吸収スペクトルを取得し、
   取得された前記吸収スペクトルにおける複数の所定波長での吸光度と、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの４種の物質の含有率と前記吸収スペクトルにおける吸光度との関係を示す基準情報とに基づいて、前記被測定物に含有される前記４種の物質の含有率を算出する、４種の物質の含有率を測定する測定方法。
2. 請求項１に記載の４種の物質の含有率を測定する測定方法であって、
   複数の前記所定波長は、６９８ｃｍ^－１、７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１の４種の波数にそれぞれ対応する第１波長、第２波長、第３波長および第４波長であり、
   前記基準情報は、前記被測定物における、
   ポリスチレンの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第１波長の吸光度との関係を示す第１情報と、
   ポリエチレンの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第２波長の吸光度との関係を示す第２情報と、
   ポリプロピレンの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第３波長の吸光度との関係を示す第３情報と、
   ポリエチレンテレフタレートの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第４波長の吸光度との関係を示す第４情報と、を含む、４種の物質の含有率を測定する測定方法。
3. 請求項２に記載の４種の物質の含有率を測定する測定方法であって、
   前記第１情報、前記第２情報、前記第３情報および前記第４情報は、前記４種の物質それぞれの含有率が既知であり、かつ、前記４種の物質それぞれの含有率が互いに異なる複数の指標部材の透過赤外光または反射赤外光の前記吸収スペクトルにおいて、前記４種の物質それぞれの含有率と、前記第１波長、前記第２波長、前記第３波長および前記第４波長の吸光度との関係を示す情報である、４種の物質の含有率を測定する測定方法。
4. 請求項１から３のいずれか一項に記載の４種の物質の含有率を測定する測定方法において、
   前記吸光度は、前記吸収スペクトルにおいて、前記所定波長の近傍でのベースラインの吸光度と前記所定波長の吸光度との差であるピーク補正高さに基づいて取得する、４種の物質の含有率を測定する測定方法。
5. 請求項１から４のいずれか一項に記載の４種の物質の含有率を測定する測定方法において、
   前記含有率は、前記４種の物質において、前記４種の物質から選択された基準物質の含有率である基準物質含有率に対する、前記４種の物質のうち前記基準物質以外の物質の前記含有率の比と、前記基準物質含有率における前記吸収スペクトルにおけるピーク補正高さに対する前記４種の物質のうち前記基準物質以外の物質の前記含有率における前記吸収スペクトルにおけるピーク補正高さの比であるピーク補正高さ比と、に基づいて算出される、４種の物質の含有率を測定する測定方法。
6. 請求項１から５のいずれか一項に記載の４種の物質の含有率を測定する測定方法において、
   前記吸収スペクトルは、前記被測定物の前記反射赤外光から取得される、４種の物質の含有率を測定する測定方法。
7. 請求項６に記載の４種の物質の含有率を測定する測定方法において、
   前記吸収スペクトルは、高屈折光学部材に押圧された前記被測定物の押圧面に対して赤外光を照射し、前記押圧面近傍で反射した前記赤外光を検出することにより取得される、４種の物質の含有率を測定する測定方法。
8. 請求項１から５のいずれか一項に記載の４種の物質の含有率を測定する測定方法において、
   前記含有率の算出結果に基づいて前記被測定物をクラス分けする、４種の物質の含有率を測定する測定方法。
9. 被測定物の透過赤外光または反射赤外光の吸収スペクトルを取得する処理と、
   取得された前記吸収スペクトルに基づいて、前記吸収スペクトルにおける複数の所定波長の吸光度と、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの４種の物質の含有率と吸収スペクトルにおける吸光度との関係を示す基準情報とに基づいて、前記被測定物に含有される、前記４種の物質の含有率を算出する処理とをコンピュータに実行させる測定処理プログラム。
10. 所定の波長範囲の赤外光を出射する赤外光源と、
    被測定物に前記赤外光が照射されるように当該被測定物を支持する支持部と、
    前記被測定物の透過赤外光または反射赤外光を検出する検出部と、
    前記透過赤外光または前記反射赤外光の吸収スペクトルを取得し、前記吸収スペクトルにおける複数の所定波長の吸光度と、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレンおよびポリエチレンテレフタレートの４種の物質の含有率と吸収スペクトルにおける吸光度との関係を示す基準情報とに基づいて、前記被測定物に含有される、前記４種の物質の含有率を算出する、算出部と、を有する測定装置。
11. 請求項１０に記載の測定装置であって、
    複数の前記所定波長は、６９８ｃｍ^－１、７１９ｃｍ^－１、８４１ｃｍ^－１および１７２２ｃｍ^－１の４種の波数にそれぞれ対応する第１波長、第２波長、第３波長および第４波長であり、
    前記基準情報は、前記被測定物における、
    ポリスチレンの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第１波長の吸光度との関係を示す第１情報と、
    ポリエチレンの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第２波長の吸光度との関係を示す第２情報と、
    ポリプロピレンの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第３波長の吸光度との関係を示す第３情報と、
    ポリエチレンテレフタレートの含有率と前記吸収スペクトルにおける前記第４波長の吸光度との関係を示す第４情報と、を含む、測定装置。
12. 請求項１１に記載の測定装置であって、
    前記第１情報、前記第２情報、前記第３情報および前記第４情報は、前記４種の物質それぞれの含有率が既知であり、かつ、前記４種の物質それぞれの含有率が互いに異なる複数の指標部材の透過赤外光または反射赤外光の前記吸収スペクトルにおいて、前記４種の物質それぞれの含有率と、前記第１波長、前記第２波長、前記第３波長および前記第４波長の吸光度との関係を示す情報である、測定装置。
13. 請求項１０から１２のいずれか一項に記載の測定装置において、
    前記算出部は、前記吸光度を、前記吸収スペクトルにおいて、前記所定波長の近傍でのベースラインの吸光度と前記所定波長の吸光度との差であるピーク補正高さに基づいて取得する、測定装置。
14. 請求項１０から１３のいずれか一項に記載の測定装置において、
    前記算出部は、前記４種の物質において、前記４種の物質から選択された基準物質の含有率である基準物質含有率に対する、前記４種の物質のうち前記基準物質以外の３種の物質の前記含有率の比と、前記基準物質含有率における前記吸収スペクトルにおけるピーク補正高さと前記４種の物質のうち前記基準物質以外の物質の前記含有率におけるピーク補正高さとの比であるピーク補正高さ比と、に基づいて前記含有率を算出する、測定装置。
15. 請求項１０から１４のいずれか一項に記載の測定装置において、
    前記支持部は、プリズム部材と、前記被測定物を前記プリズム部材に押圧して固定する押圧部とを有し、
    前記検出部は、前記プリズム部材を通して前記被測定物に照射され、前記プリズム部材に押圧された前記被測定物の押圧面で反射され、前記プリズム部材から出射した前記赤外光を受光する、測定装置。
16. 請求項１５に記載の測定装置において、
    前記押圧部を駆動する駆動部と、前記駆動部の駆動を制御する制御部とをさらに有し、前記制御部は、前記押圧部が前記被測定物を前記プリズム部材に押圧する際の押圧力が所定の値になるように前記駆動部を駆動制御する、測定装置。
17. 請求項１６に記載の測定装置において、
    前記制御部は、前記算出部が前記含有率算出を行った結果に基づいて前記被測定物をクラス分けするクラス分け部を含む、測定装置。

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