JP2019032214A - 分析装置およびプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
さらに好ましい実施形態では、前記測定制御部は、同時並行して行われる、前記赤外線スペクトル測定部による測定と前記蛍光X線スペクトル測定部による測定とを制御する。
さらに好ましい実施形態では、前記蛍光X線スペクトル測定部で測定された前記蛍光X線スペクトル、および/または、前記赤外線スペクトル測定部で測定された前記赤外線スペクトルと、前記対象物に対応する過去の基準物の測定情報とに基づいて、前記対象物の組成と前記基準物の組成とを比較する第1比較部と、前記第1比較部からの出力を表示する表示部と、を備える。
さらに好ましい実施形態では、前記第1比較部は、前記対象物と前記基準物とで、組成および/または原材料が異なっているか否かの第1判定を行い、前記表示部は、前記第1判定の結果を表示する。
さらに好ましい実施形態では、前記蛍光X線スペクトルに基づいて、前記対象物における特定物質の含有量が所定の閾値を超えているか否かの第2判定を行う第2比較部を備え、前記表示部は、表示画面の一部に前記第1判定の結果を表示し、前記表示画面の他の部分に前記第2判定の結果を表示する。
さらに好ましい実施形態では、前記蛍光X線スペクトルに基づいて、前記対象物における特定物質の含有量が所定の閾値を超えているか否かを比較する第2比較部を備え、前記表示部は、前記第2比較部からの出力を表示する。
さらに好ましい実施形態では、前記特定物質は、塩素、臭素、水銀、クロム、鉛、カドミウム、アンチモン、ヒ素、セレン、コバルト、スズ、硫黄およびニッケルから選択される少なくとも一つの元素である。
さらに好ましい実施形態では、前記特定物質は、RoHS指令で規制される全ての元素であり、前記表示部は、前記元素の測定を前記蛍光X線スペクトル測定部に開始させるためのアイコンを表示する。
さらに好ましい実施形態では、前記表示部は、表示画面の一部に前記対象物の前記赤外線スペクトルに関する情報を表示し、前記表示画面の他の部分に前記対象物の前記蛍光X線スペクトルに関する情報を表示する。
さらに好ましい実施形態では、前記表示部は、ユーザが、前記赤外線スペクトルの測定および前記蛍光X線スペクトルの測定を前記分析装置に開始させるためのアイコンを表示する。
本発明の好ましい実施形態によるプログラムは、赤外分光光度計における対象物の赤外線スペクトルの測定と、蛍光X線分析装置における前記対象物の蛍光X線スペクトルの測定とを制御する測定制御処理を、処理装置に行わせる。
さらに好ましい実施形態では、前記プログラムは、前記測定制御処理の際にユーザが前記処理装置に入力したパラメータに基づいて、前記赤外線スペクトルおよび前記蛍光X線スペクトルを解析する解析処理を、前記処理装置に行わせる。
なお、分析装置1の機能の少なくとも一部が物理的に離れた位置に配置され、赤外線スペクトル測定部10を備える赤外分光光度計と、蛍光X線スペクトル測定部20を備える蛍光X線分析装置と、情報処理部30を備える処理装置とを備える分析システムとして構成してもよい。
なお、図1では、透過法により試料Sからの赤外光を測定する構成となっているが、反射法を用いてもよい。
なお、測定元素の定量法は特に限定されず、検量線法でもFP(ファンダメンタルパラメータ)法でもよい。
なお、上記所定の閾値は、ユーザ等により適宜設定することができる。
なお、基準データ比較部44における比較対象は、過去の基準物に限定されず、対応する測定情報を取得可能な任意の物または理論的なスペクトル等とすることができる。
なお、以下の説明や図面等で示される表示画面の態様、元素および数値等は一例であり、本発明の内容を限定するものではない。また、以下では、RoHS指令に関する測定を蛍光X線スペクトル測定部20が行い、サイレントチェンジに関する測定を赤外線スペクトル測定部10および蛍光X線スペクトル測定部20が行う構成を説明するが、分析装置1は、適宜以下の(a)〜(c)等の構成でも分析可能に設定される。(a)RoHS指令に関する測定のみを蛍光X線スペクトル測定部20が行う構成。(b)RoHS指令に関する測定およびサイレントチェンジに関する測定を、赤外線スペクトルを測定せず、蛍光X線スペクトル部20が行う構成。(c)サイレントチェンジに関する測定のみを、赤外線スペクトルを測定せず、蛍光X線スペクトル測定部20が行う構成。
なお、サイレントチェンジ対策分析を赤外線スペクトルを取得せずに行う場合には、赤外線スペクトルの測定に関するパラメータの入力は省略することができる。このように、入力するパラメータは行う測定に合わせて適宜設定される。
なお、各項目の表示態様は特に限定されず、例えば「判定」項目では測定のばらつきを考慮し判定できないことを表示してもよく、また「OK」の代わりに「PASS」、「NG」の代わりに「FAIL」等を用いて表示してもよい。以下に説明される表でも同様である。
なお、蛍光X線スペクトル812と赤外線スペクトル821とを同一画面上に表示してもよい。
(1)本実施形態の分析装置1は、赤外線スペクトル測定部10および蛍光X線スペクトル測定部20における測定を制御する測定制御部45aとを備える。これにより、赤外分光分析と蛍光X線分析とを1つのコンピュータ等から制御することができ、迅速かつ簡便に分析を行うことができる。
(変形例1)
上述の実施形態では、測定制御部45aは、IR制御部18およびX線分析制御部24を介して赤外線スペクトル測定部10および蛍光X線スペクトル測定部20をそれぞれ制御する構成とした。しかし、測定制御部がIR制御部18およびX線分析制御部24の機能も備え、測定制御部が直接赤外線スペクトル測定部10および蛍光X線スペクトル測定部20を制御する構成にしてもよい。
分析装置1および2の情報処理機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録された、上述した測定および解析の処理およびそれに関連する処理の制御に関するプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行させてもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、OS(Operating System)や周辺機器のハードウェアを含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、光ディスク、メモリカード等の可搬型記録媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持するものを含んでもよい。また上記のプログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせにより実現するものであってもよい。
Claims (12)
- 対象物の赤外線スペクトルを測定する赤外線スペクトル測定部と、
前記対象物の蛍光X線スペクトルを測定する蛍光X線スペクトル測定部と、
前記赤外線スペクトル測定部および前記蛍光X線スペクトル測定部における測定を制御する測定制御部と、を備える分析装置。 - 請求項1に記載の分析装置において、
前記測定制御部は、同時並行して行われる、前記赤外線スペクトル測定部による測定と前記蛍光X線スペクトル測定部による測定とを制御する分析装置。 - 請求項1または2に記載の分析装置において、
前記蛍光X線スペクトル測定部で測定された前記蛍光X線スペクトル、および/または、前記赤外線スペクトル測定部で測定された前記赤外線スペクトルと、前記対象物に対応する過去の基準物の測定情報とに基づいて、前記対象物の組成と前記基準物の組成とを比較する第1比較部と、
前記第1比較部からの出力を表示する表示部と、を備える分析装置。 - 請求項3に記載の分析装置において、
前記第1比較部は、前記対象物と前記基準物とで、組成および/または原材料が異なっているか否かの第1判定を行い、
前記表示部は、前記第1判定の結果を表示する分析装置。 - 請求項4に記載の分析装置において、
前記蛍光X線スペクトルに基づいて、前記対象物における特定物質の含有量が所定の閾値を超えているか否かの第2判定を行う第2比較部を備え、
前記表示部は、表示画面の一部に前記第1判定の結果を表示し、前記表示画面の他の部分に前記第2判定の結果を表示する分析装置。 - 請求項3または4に記載の分析装置において、
前記蛍光X線スペクトルに基づいて、前記対象物における特定物質の含有量が所定の閾値を超えているか否かを比較する第2比較部を備え、
前記表示部は、前記第2比較部からの出力を表示する分析装置。 - 請求項6に記載の分析装置において、
前記特定物質は、塩素、臭素、水銀、クロム、鉛、カドミウム、アンチモン、ヒ素、セレン、コバルト、スズ、硫黄およびニッケルから選択される少なくとも一つの元素である分析装置。 - 請求項6に記載の分析装置において、
前記特定物質は、RoHS指令で規制される全ての元素であり、
前記表示部は、前記元素の測定を前記蛍光X線スペクトル測定部に開始させるためのアイコンを表示する分析装置。 - 請求項5から8までのいずれか一項に記載の分析装置において、
前記表示部は、表示画面の一部に前記対象物の前記赤外線スペクトルに関する情報を表示し、前記表示画面の他の部分に前記対象物の前記蛍光X線スペクトルに関する情報を表示する分析装置。 - 請求項5から9までのいずれか一項に記載の分析装置において、
前記表示部は、ユーザが、前記赤外線スペクトルの測定および前記蛍光X線スペクトルの測定を前記分析装置に開始させるためのアイコンを表示する分析装置。 - 赤外分光光度計における対象物の赤外線スペクトルの測定と、蛍光X線分析装置における前記対象物の蛍光X線スペクトルの測定とを制御する測定制御処理を、処理装置に行わせるプログラム。
- 請求項11に記載のプログラムにおいて、
前記プログラムは、前記測定制御処理の際にユーザが前記処理装置に入力したパラメータに基づいて、前記赤外線スペクトルおよび前記蛍光X線スペクトルを解析する解析処理を、前記処理装置に行わせるプログラム。
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