JP7110083B2 - 内視鏡、処置具挿通路の破損検出方法、及び処置具挿通路の破損検出プログラム - Google Patents

Description

本発明は、内視鏡、内視鏡装置、処置具挿通路の破損検知方法、及び処置具挿通路の破損検知プログラムに関する。

内視鏡には一般に、処置具を挿脱するための処置具挿通チャンネルが挿入部内に全長にわたって挿通配置されている。挿入部が曲げられた状態になると、処置具挿通チャンネルもその内部において曲げられることになる。そして、そのような状態で処置具が処置具挿通チャンネル内に挿脱されると、処置具挿通チャンネルが処置具の先端等により内面側から次第に削り取られ、それが繰り返されているうちに処置具挿通チャンネルが穿孔して、内視鏡の挿入部内部の水密性が低下する場合がある。

そこで、特許文献１では、処置具挿通チャンネルを外層チューブと内層チューブの二重チューブ構造にすることで、処置具挿通チャンネルの強度を高めている。

特開２００６－０８７５３５号公報

しかし、特許文献１に記載されているように、処置具挿通チャンネルが二層構造になっていても、使用が繰り返されるにしたがって、処置具挿通チャンネルが内面部分から次第に削り取られて破損するのを完全に防ぐことはできない。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、処置具挿通路の破損を検知することのできる内視鏡、処置具挿通路の破損検出方法、及び処置具挿通路の破損検出プログラムを提供することを目的とする。

本発明の内視鏡は、軟性の筒状部材により構成された処置具挿通路を有する内視鏡であって、上記筒状部材と一体的に形成され、上記筒状部材の周方向且つ長手方向に渡って配置された線状の導電部材と、上記導電部材の導電状態を検出して上記筒状部材の破損を検知する破損検知部と、を備えるものである。

本発明の処置具挿通路の破損検出方法は、軟性の筒状部材により構成された処置具挿通路を有する内視鏡に設けられた、上記筒状部材と一体的に形成され、上記筒状部材の周方向且つ長手方向に渡って配置された線状の導電部材、の導電状態を検出して上記筒状部材の破損を検知するものである。

本発明の処置具挿通路の破損検出プログラムは、軟性の筒状部材により構成された処置具挿通路を有する内視鏡に設けられた、上記筒状部材と一体的に形成され、上記筒状部材の周方向且つ長手方向に渡って配置された線状の導電部材、の導電状態を検出して上記筒状部材の破損を検知するステップをコンピュータに実行させるためのものである。

本発明によれば、処置具挿通路の破損を検知することのできる内視鏡、処置具挿通路の破損検出方法、及び処置具挿通路の破損検出プログラムを提供することができる。

本発明の内視鏡システムの一実施形態である内視鏡装置１００の概略構成を示す図である。 図１に示す内視鏡装置１００の内部構成を示す模式図である。 図１に示す内視鏡１の挿入部１０及び操作部１１の内部に設けられた処置具挿通路１４の構成を示す断面模式図である。 図２に示す内視鏡１におけるスコープ制御部２６の機能ブロックを示す図である。 図３に示す導電部材１７の変形例を示す模式図である。 図３に示す導電部材１７の別の変形例を示す模式図である。

以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。

図１は、本発明の内視鏡装置の一実施形態である内視鏡装置１００の概略構成を示す図である。図１に示すように、内視鏡装置１００は、内視鏡１と、この内視鏡１が接続されるプロセッサ装置４及び光源装置５からなる本体部２と、を備える。

プロセッサ装置４には、撮像画像等を表示する表示部７と、プロセッサ装置４に対して各種情報を入力するためのインタフェースである入力部６と、が接続されている。プロセッサ装置４は、内視鏡１、光源装置５、及び表示部７を制御する。

内視鏡１は、一方向に延びる管状部材であって観察対象物としての体腔内に挿入される挿入部１０と、挿入部１０の基端部に連設された観察モード切替操作、撮影記録操作、鉗子操作、送気送水操作、吸引操作、及び電気メス操作等を行うための操作部材が設けられた操作部１１と、操作部１１に隣接して設けられたアングルノブ１２と、内視鏡１を光源装置５とプロセッサ装置４にそれぞれ着脱自在に接続するコネクタ部１３Ａ，１３Ｂを含むユニバーサルコード１３と、を備える。

なお、図１では省略されているが、操作部１１及び挿入部１０の内部には、細胞又はポリープ等の生体組織を採取するための採取器具である生検鉗子又は電気メス等の処置具を挿通するための処置具挿通路１４（図３参照）が設けられる。

挿入部１０は、可撓性を有する軟性部１０Ａと、軟性部１０Ａの先端に設けられた湾曲部１０Ｂと、湾曲部１０Ｂの先端に設けられた硬質の先端部１０Ｃとから構成される。先端部１０Ｃは、軟性部１０Ａ及び湾曲部１０Ｂよりも硬い部分である。

湾曲部１０Ｂは、アングルノブ１２の回動操作により湾曲自在に構成されている。この湾曲部１０Ｂは、内視鏡１が使用される被検体の部位等に応じて、任意の方向及び任意の角度に湾曲でき、先端部１０Ｃを所望の方向に向けることができる。

図２は、図１に示す内視鏡装置１００の内部構成を示す模式図である。

光源装置５は、光源制御部５１と、光源部５２と、を備える。

光源部５２は、観察部位を照明するための照明光を発生させるものである。光源部５２から射出された照明光は、ユニバーサルコード１３に内蔵されたライトガイド２０に入射し、挿入部１０の先端部１０Ｃに設けられた照明用レンズ２０ａを通って観察部位に照射される。

光源部５２としては、白色光を出射する白色光源、又は、白色光源とその他の色の光を出射する光源（例えば青色光を出射する青色光源）を含む複数の光源等が用いられる。本願明細書における光源に用いられる発光素子は、例えば、ＬＤ（Ｌａｓｅｒ Ｄｉｏｄｅ）又はＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）等である。

光源制御部５１は、プログラムを実行して処理を行う各種のプロセッサにより構成されており、プロセッサ装置４のシステム制御部４４と接続されている。光源制御部５１は、システム制御部４４からの指令に基づいて光源部５２を制御する。

内視鏡１の先端部１０Ｃには、対物レンズ２１及びレンズ群２２を含む撮像光学系と、この撮像光学系を通して被写体を撮像する撮像素子２３と、光源部５２から射出された照明光を照明用レンズ２０ａに導くためのライトガイド２０と、が設けられている。

ライトガイド２０は、先端部１０Ｃからユニバーサルコード１３のコネクタ部１３Ａまで延びている。ユニバーサルコード１３のコネクタ部１３Ａが光源装置５に接続された状態で、光源装置５の光源部５２から射出される照明光がライトガイド２０に供給可能な状態となる。ライトガイド２０は、具体的には、複数本の可撓性を持つ光ファイバ（例えばプラスチック製の光ファイバ）が束ねられた状態で被覆部材によって被覆された光ファイババンドルであり、光源部５２から射出される照明光を、先端部１０Ｃまで伝送する。

撮像素子２３は、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）イメージセンサ又はＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサ等が用いられる。

撮像素子２３は、複数の画素が二次元状に配置された受光面を有し、上記の撮像光学系によってこの受光面に結像された光学像を各画素において電気信号（撮像信号）に変換して出力する。撮像素子２３は、例えば原色又は補色等のカラーフィルタを搭載するものが用いられる。

なお、光源部５２として、白色光源から射出される白色光を複数色のカラーフィルタによって時分割で分光して照明光を生成するものを用いる場合には、撮像素子２３はカラーフィルタを搭載していないものを用いてもよい。

プロセッサ装置４は、信号処理部４２と、表示制御部４３と、システム制御部４４と、を備える。

信号処理部４２は、撮像素子２３から伝送されてきた信号を受信して処理することで、撮像画像データを生成する。信号処理部４２によって生成された撮像画像データは、図示省略のハードディスク又はフラッシュメモリ等の記録媒体に記録される。

表示制御部４３は、信号処理部４２によって生成された撮像画像データに基づく撮像画像を表示部７に表示させる。

システム制御部４４は、プロセッサ装置４の各部を制御すると共に、内視鏡１のスコープ制御部２６と光源装置５の光源制御部５１とに指令を送り、内視鏡装置１００の全体を統括制御する。システム制御部４４は、スコープ制御部２６を介して撮像素子２３の制御を行い、光源制御部５１を介して光源部５２の制御を行う。

システム制御部４４は、プログラムを実行して処理を行う各種のプロセッサと、ＲＡＭ（Ｒａｍｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）を含む。

本明細書における各種のプロセッサとしては、プログラムを実行して各種処理を行う汎用的なプロセッサであるＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｓｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）等の製造後に回路構成を変更可能なプロセッサであるプログラマブルロジックデバイス（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ：ＰＬＤ）、又はＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）等の特定の処理を実行させるために専用に設計された回路構成を有するプロセッサである専用電気回路等が含まれる。これら各種のプロセッサの構造は、より具体的には、半導体素子等の回路素子を組み合わせた電気回路である。

システム制御部４４は、各種のプロセッサのうちの１つで構成されてもよいし、同種又は異種の２つ以上のプロセッサの組み合わせ（例えば、複数のＦＰＧＡの組み合わせ又はＣＰＵとＦＰＧＡの組み合わせ）で構成されてもよい。

ユニバーサルコード１３のコネクタ部１３Ｂの内部には、スコープ制御部２６が設けられている。スコープ制御部２６は、プログラムを実行して処理を行う上述した各種のプロセッサにより構成される。

スコープ制御部２６は、コネクタ部１３Ｂ内部の配線によってプロセッサ装置４のシステム制御部４４と接続されている。スコープ制御部２６は、システム制御部４４からの指令に基づいて、撮像素子２３を制御する。

図３は、図１に示す内視鏡１の挿入部１０及び操作部１１の内部に設けられた処置具挿通路１４の構成を示す断面模式図である。処置具挿通路１４は、鉗子又は電気メス等の処置具を操作部１１に設けられた処置具挿入口１１ａから、先端部１０Ｃの先端面に設けられた処置具突出口１０Ｄまで挿通させるための通路である。

処置具挿通路１４は、筒状の内周部材１５と、内周部材１５の外周に配置された筒状の外周部材１６とにより構成されている。より具体的には、内周部材１５の外径と外周部材１６の内径は略同じであり、内周部材１５は、外周部材１６の内周部に挿嵌された構成となっている。内周部材１５と外周部材１６は、樹脂又はゴム等の軟性の部材によって構成されている。このように、処置具挿通路１４は、内周部材１５と外周部材１６からなる軟性の筒状部材によって構成されている。

処置具挿通路１４は、先端部１０Ｃに設けられた処置具突出口１０Ｄから、操作部１１に設けられた処置具挿入口１１ａまで延設されている。操作部１１の処置具挿入口１１ａは、操作部１１における挿入部１０の長手方向に対して交差する方向に突出した部分に設けられている。処置具挿通路１４は、挿入部１０の長手方向に延びる直線部Ｐ１と、直線部Ｐ１の内視鏡１の基端側端部から処置具挿入口１１ａの方向に屈曲して延びる屈曲部Ｐ２とにより構成されている。

処置具挿通路１４の直線部Ｐ１には、処置具挿通路１４の周方向且つ長手方向に渡って配置された線状の導電部材１７が、この直線部Ｐ１と一体的に形成されている。導電部材１７は、導電性を有する１本の導線、換言すると１つの線状の導体である。導電部材１７は、例えば、ニクロム線又はタングステン線等の固有抵抗の大きい１本の導線が用いられる。

導電部材１７は、具体的には、直線部Ｐ１における内周部材１５の外周面に巻回されている。導電部材１７は、内周部材１５の外表面に接着等によって固着されている。なお、導電部材１７は、内周部材１５の外周面ではなく、内周部材１５に埋め込まれていてもよい。或いは、導電部材１７は、外周部材１６の内周面に固着されていてもよいし、外周部材１６に埋め込まれていてもよい。導電部材１７は、直線部Ｐ１の全体に満遍なく配置されるよう巻回されている。

導電部材１７を構成する導線の一端１７ａと他端１７ｂは、それぞれ、内視鏡１の基端側に引き出されており、ユニバーサルコード１３内を通って、スコープ制御部２６に接続されている。なお、導電部材１７を構成する導線は、絶縁部材によって被覆されていることが好ましい。スコープ制御部２６には、導電部材１７の一端１７ａと他端１７ｂ間に電圧を印加する通電部と、この一端１７ａと他端１７ｂ間の電圧を測定する電圧測定部と、が設けられる。

導電部材１７は、処置具挿通路１４の直線部Ｐ１において、周方向及び長手方向に渡って形成されている。このため、この直線部Ｐ１における内周部材１５が処置具によって破れた場合には、この直線部Ｐ１に一体的に形成されている導電部材１７も、この破れた箇所において断線することになる。つまり、導電部材１７に断線が生じているか否かを調べることで、処置具挿通路１４に破損が生じているか否かを判断することができる。

図４は、図２に示す内視鏡１におけるスコープ制御部２６の機能ブロックを示す図である。

スコープ制御部２６のプロセッサは、スコープ制御部２６に内蔵されるＲＯＭに格納されたプログラム（破損検知プログラムを含むプログラム）を実行することにより、破損検知部２６Ａ及び報知制御部２６Ｂとして機能する。

破損検知部２６Ａは、上記の通電部から導電部材１７に通電を行った状態にて、上記の電圧測定部により測定された電圧の情報を取得する。破損検知部２６Ａは、この電圧が予め決められた閾値以上の場合には、導電部材１７には断線が生じていない、すなわち、処置具挿通路１４は破損していないと判断する。破損検知部２６Ａは、この電圧が上記閾値未満の場合には、導電部材１７には断線が生じている、すなわち、処置具挿通路１４は破損していると判断する。この電圧の情報は、導電部材１７の導電状態を示す情報となる。

報知制御部２６Ｂは、破損検知部２６Ａによって処置具挿通路１４が破損していると判定された場合には報知処理を行う。報知制御部２６Ｂは、例えば、システム制御部４４を介して、例えば予め決められたメッセージ（処置具挿通路１４の破損が生じていること、又は、内視鏡１の検査の必要性があること等を示す警告メッセージ等）を表示部７に表示させる報知処理を行う。報知制御部２６Ｂは、表示部７にメッセージを表示させる代わりに、内視鏡装置１００に設けられる図示しないスピーカから上記メッセージを出力させてもよい。或いは、報知制御部２６Ｂは、プロセッサ装置４と接続された外部の電子機器に上記メッセージを送信させることで、修理の必要性を内視鏡装置１００の管理者に報知させてもよい。

以上のように構成された内視鏡装置１００における処置具挿通路１４の破損検知動作を説明する。

内視鏡１のコネクタ部１３Ａ，１３Ｂが本体部２に接続され、内視鏡１に通電がなされると、破損検知部２６Ａが上記の通電部から導電部材１７に電圧を印加させる。この状態にて、破損検知部２６Ａは、上記の電圧測定部から電圧の情報を取得し、その情報に基づいて、処置具挿通路１４の破損の有無を判定する。処置具挿通路１４の破損があったと判定された場合には、報知制御部２６Ｂによって報知処理が行われる。一方、処置具挿通路１４の破損がないと判定された場合には、報知処理は行われない。

また、報知処理が行われず、その後に、内視鏡１を用いた検査が開始された場合には、破損検知部２６Ａは、導電部材１７への通電、電圧の情報の取得、及び取得した情報に基づく破損の検知の処理を定期的に行い、処置具挿通路１４に破損があったと判定された場合には、報知処理を行う。

以上のように、内視鏡装置１００によれば、処置具挿通路１４に破損が生じている場合には、内視鏡１を本体部２に接続し、内視鏡１を体腔内に挿入する前の段階にて、その旨が使用者等に報知される。このため、内視鏡１を体腔内に挿入してから、検査を中断して内視鏡１を別のものに交換する等の事態が生じるのを防ぐことができる。したがって、被検査者と検査者の双方にとっての負担を減らすことができ、効率的な検査が可能になる。また、破損が生じている状態にて内視鏡１が体腔内で使用されるのを防ぐことができ、安全性を高めることができる。

検査開始前に処置具挿通路１４の破損が検知されなかった場合でも、検査中に、処置具挿通路１４が破損する可能性はある。内視鏡装置１００によれば、検査開始後も破損検知が定期的に行われることで、検査中であっても、処置具挿通路１４の破損の可能性を使用者に知らせることができ、検査精度が低下する事態を防ぐことができる。また、安全性を高めることができる。

また、内視鏡１では、処置具挿通路１４が内周部材１５と外周部材１６により構成されている。このため、内周部材１５が破れた段階でも、外周部材１６によって、処置具挿通路１４の内周部と外部との連通を防ぐことが可能である。内視鏡１では、内周部材１５と外周部材１６の間に導電部材１７が設けられているため、内周部材１５のみが破損した段階でこれを検知することができる。検査中に処置具挿通路１４が完全に破損したり、処置具挿通路１４が完全に破損した状態で内視鏡１の洗浄が行われたりすると、内視鏡１内部の電気部品が損傷する可能性がある。内視鏡装置１００によれば、処置具挿通路１４が完全に破損する前の時点で修理対応が可能となる。このため、処置具挿通路１４以外の部品の損傷を防いで、修理期間の短縮、修理コストの低減を図ることができる。

また、内視鏡１では、処置具挿通路１４の内周面と外周面との間に導電部材１７が配置されており、導電部材１７が処置具挿通路１４の外部に露出しない構成となっている。このため、処置具挿通路１４の周囲にある部材に導電部材１７が接触するのを防ぐことができる。したがって、処置具挿通路１４の破損以外の要因で導電部材１７が断線する可能性を減らすことができ、処置具挿通路１４の破損の検知精度を高めることができる。

また、内視鏡装置１００によれば、内視鏡１だけで、処置具挿通路１４の破損を検知することができる。このため、プロセッサ装置４及び光源装置５の改良が不要となり、内視鏡装置１００の製造コストを下げることができる。また、既存の内視鏡装置に対しても内視鏡１を交換するのみで機能の追加が可能となり、汎用性を高めることができる。

なお、処置具挿通路１４は、内周部材１５と外周部材１６の２層構造とされているが、これに限らず、１つの筒状部材によって構成されてもよい。この場合には、例えば、この筒状部材の内周面と外周面との間（換言すると筒状部材の内部）に、導電部材１７を埋め込んで配置した構成とすればよい。

また、導電部材１７は、処置具挿通路１４の内周面と外周面との間に配置される構成に限らず、処置具挿通路１４の外周面（図３の例であれば外周部材１６の外周面）に固着される構成としてもよい。この構成によれば、内視鏡１の製造コストを下げることができる。

また、導電部材１７は、処置具挿通路１４の直線部Ｐ１の全体に渡って設けられているが、これに限らない。処置具挿通路１４において、処置具が内壁を破損させる可能性が特に高い部分は、処置具挿通路１４が様々な方向に湾曲し得る湾曲部１０Ｂ及び軟性部１０Ａの内部の部分である。したがって、導電部材１７は、湾曲部１０Ｂと軟性部１０Ａの内部に少なくとも設けられていればよい。

また、処置具挿通路１４の直線部Ｐ１における屈曲部Ｐ２に隣接する部分は、処置具挿入口１１ａから処置具を挿入したときに、内壁に処置具が強く当たる可能性が高い部分である。このため、湾曲部１０Ｂと軟性部１０Ａの内部に加えて、この部分にも導電部材１７を設けておくことが好ましい。

図５は、図３に示す導電部材１７の変形例を示す模式図である。図５に示す導電部材１７は、直線部Ｐ１において長手方向に一定の密度にて配置されるのではなく、長手方向において非一定の密度にて配置されている点が図３とは異なる。

処置具挿通路１４の直線部Ｐ１のうち先端部１０Ｃよりも内視鏡１の基端側にある部分は、屈曲部Ｐ２に隣接する第一部分１４Ａと、操作部１１と先端部１０Ｃの間の湾曲部１０Ｂ及び軟性部１０Ａ内に配置された第二部分１４Ｂと、第一部分１４Ａと第二部分１４Ｂの間の第三部分１４Ｃとに分けられる。

図５に示す導電部材１７は、第一部分１４Ａと第二部分１４Ｂの各々における長手方向への配置密度が、第三部分１４Ｃにおける長手方向への配置密度よりも大きくなっている。なお、図５の例では、先端部１０Ｃにおける導電部材１７の長手方向への配置密度は、第三部分１４Ｃにおける長手方向への配置密度より大きくなっているが、第三部分１４Ｃと同等の配置密度とされてもよい。

図５に示す導電部材１７の構成によれば、処置具挿通路１４が破損する可能性の高い第一部分１４Ａ及び第二部分１４Ｂにおいて導電部材１７が密に配置される。このため、これらの部分における破損の検知感度を高めることができる。

図６は、図３に示す導電部材１７の別の変形例を示す模式図である。図６に示す導電部材１７は、単一の導線ではなく、互いに電気的に非接続の複数（図６の例では３つ）の導線３１、３２、３３によって構成されている点が、図３に示す導電部材１７と異なる。

導線３１は、１つの線状の導体であり、直線部Ｐ１のうちの操作部１１内の領域における内周部材１５の外周面に、処置具挿通路１４の周方向及び長手方向に渡って巻回されている。導線３１の一端３１ａ及び他端３１ｂは、内視鏡１の基端側に引き出されて、上述した通電部と電圧測定部に接続される。

導線３２は、１つの線状の導体であり、直線部Ｐ１のうちの湾曲部１０Ｂ及び軟性部１０Ａ内の領域における内周部材１５の外周面に、処置具挿通路１４の周方向及び長手方向に渡って巻回されている。導線３２の一端３２ａ及び他端３２ｂは、内視鏡１の基端側に引き出されて、上述した通電部と電圧測定部に接続される。

導線３３は、１つの線状の導体であり、直線部Ｐ１のうちの先端部１０Ｃ内の領域における内周部材１５の外周面に、処置具挿通路１４の周方向及び長手方向に渡って巻回されている。導線３３の一端３３ａ及び他端３３ｂは、内視鏡１の基端側に引き出されて、上述した通電部と電圧測定部に接続される。

図６に示す導電部材１７を持つ内視鏡１においては、スコープ制御部２６の通電部が、導線３１、導線３２、及び導線３３にそれぞれ電圧を印加する。また、スコープ制御部２６の電圧測定部が、導線３１の端子間の電圧Ｖ１と、導線３２の端子間の電圧Ｖ２と、導線３３の端子間の電圧Ｖ３と、を個別に測定する。そして、スコープ制御部２６の破損検知部２６Ａは、電圧Ｖ１、電圧Ｖ２、及び電圧Ｖ３のいずれか１つが上記の閾値未満となる場合には、処置具挿通路１４が破損していると判断し、電圧Ｖ１、電圧Ｖ２、及び電圧Ｖ３の各々が上記の閾値以上となる場合には、処置具挿通路１４が破損していないと判断する。

また、報知制御部２６Ｂは、電圧Ｖ１が閾値未満となった場合には、先端部１０Ｃにおいて処置具挿通路１４の破損が生じたことを報知させ、電圧Ｖ２が閾値未満となった場合には、湾曲部１０Ｂ及び軟性部１０Ａにおいて処置具挿通路１４の破損が生じたことを報知させ、電圧Ｖ３が閾値未満となった場合には、操作部１１において処置具挿通路１４の破損が生じたことを報知させる。

図６に示す導電部材１７の構成によれば、処置具挿通路１４を詳細に調べることなく、処置具挿通路１４において破損が生じた箇所の特定が可能となる。このため、内視鏡１のメンテナンスを効率的に行うことができる。

ここまで説明した導電部材１７は、単数又は複数の導線によって構成されるものとしたが、これに限らない。例えば、導電性材料を印刷して形成される薄膜の導電パターンによって導電部材１７を構成してもよい。

このように、薄膜の導電パターンによって導電部材１７を構成することで、導電部材１７の両端を内視鏡１の基端側に引き出す構成を容易に実現することができる。また、図５に示すように配置密度を非一定にする構成、図６に示すように複数種の導体を長手方向の異なる箇所に配置する構成を容易に実現することができる。このため、内視鏡１の製造コストを低減することができる。

なお、内視鏡装置１００のスコープ制御部２６の破損検知部２６Ａと報知制御部２６Ｂは、システム制御部４４のプロセッサがプログラムを実行することにより、システム制御部４４によって実現されるものとしてもよい。この構成によれば、内視鏡１の製造コストを下げることができる。

以上説明してきたように、本明細書には以下の事項が開示されている。

（１）
軟性の筒状部材により構成された処置具挿通路を有する内視鏡であって、
上記筒状部材と一体的に形成され、上記筒状部材の周方向且つ長手方向に渡って配置された線状の導電部材を備える内視鏡。

（２）
（１）記載の内視鏡であって、
上記導電部材の上記長手方向における配置密度は非一定となっている内視鏡。

（３）
（２）記載の内視鏡であって、
上記処置具挿通路は、挿入部基端に連設された操作部内において屈曲して上記操作部に設けられた処置具挿入口まで延びる屈曲部を有し、
上記筒状部材の上記屈曲部に隣接する第一部分における上記配置密度と、上記筒状部材の上記操作部と上記挿入部の先端部との間の第二部分における上記配置密度は、上記筒状部材の上記第一部分と上記第二部分との間の第三部分における上記配置密度よりも大きくなっている内視鏡。

（４）
（１）から（３）のいずれか１つに記載の内視鏡であって、
上記導電部材は、上記内視鏡の基端側に両端を有する少なくとも１つの導体によって構成されている内視鏡。

（５）
（４）記載の内視鏡であって、
上記導電部材は、互いに電気的に非接続の複数の上記導体によって構成されており、
上記複数の上記導体は、上記長手方向の異なる箇所に配置されている内視鏡。

（６）
（１）から（５）のいずれか１つに記載の内視鏡であって、
上記筒状部材は、筒状の内周部材と、上記内周部材の外周に配置された筒状の外周部材とにより構成され、
上記導電部材は、上記内周部材の外周面と上記外周部材の内周面との間に形成されている内視鏡。

（７）
（１）から（６）のいずれか１つに記載の内視鏡であって、
上記導電部材は、薄膜の導電パターンである内視鏡。

（８）
（１）から（７）のいずれか１つに記載の内視鏡であって、
上記導電部材の導電状態を検出して上記筒状部材の破損を検知する破損検知部を備える内視鏡。

（９）
（８）記載の内視鏡であって、
上記破損検知部によって上記筒状部材の破損が検知された場合に報知処理を行う報知制御部を更に備える内視鏡。

（１０）
（１）から（７）のいずれか１つに記載の内視鏡と、
上記導電部材の導電状態を検出して上記筒状部材の破損を検知する破損検知部と、を備える内視鏡装置。

（１１）
（１０）記載の内視鏡装置であって、
上記破損検知部によって上記筒状部材の破損が検知された場合に報知処理を行う報知制御部を更に備える内視鏡装置。

（１２）
軟性の筒状部材により構成された処置具挿通路を有する内視鏡に設けられた、上記筒状部材と一体的に形成され、上記筒状部材の周方向且つ長手方向に渡って配置された線状の導電部材、の導電状態を検出して上記筒状部材の破損を検知する処置具挿通路の破損検知方法。

（１３）
軟性の筒状部材により構成された処置具挿通路を有する内視鏡に設けられた、上記筒状部材と一体的に形成され、上記筒状部材の周方向且つ長手方向に渡って配置された線状の導電部材、の導電状態を検出して上記筒状部材の破損を検知するステップをコンピュータに実行させるための処置具挿通路の破損検知プログラム。

１００ 内視鏡装置
１ 内視鏡
２ 本体部
２０ ライトガイド
２０ａ 照明用レンズ
２１ 対物レンズ
２２ レンズ群
２３ 撮像素子
２６ スコープ制御部
２６Ａ 破損検知部
２６Ｂ 報知制御部
４ プロセッサ装置
４２ 信号処理部
４３ 表示制御部
４４ システム制御部
５ 光源装置
５１ 光源制御部
５２ 光源部
６ 入力部
７ 表示部
１０ 挿入部
１０Ａ 軟性部
１０Ｂ 湾曲部
１０Ｃ 先端部
１０Ｄ 処置具突出口
１１ 操作部
１１ａ 処置具挿入口
１２ アングルノブ
１３ ユニバーサルコード
１３Ａ，１３Ｂ コネクタ部
１４ 処置具挿通路
１４Ａ 第一部分
１４Ｂ 第二部分
１４Ｃ 第三部分
１５ 内周部材
１６ 外周部材
１７ 導電部材
１７ａ、３１ａ、３２ａ、３３ａ 一端
１７ｂ、３１ｂ、３２ｂ、３３ｂ 他端
Ｐ１ 直線部
Ｐ２ 屈曲部
３１、３２、３３ 導線

Claims (10)

1. 軟性の筒状部材により構成された処置具挿通路を有する内視鏡であって、
   前記筒状部材と一体的に形成され、前記筒状部材の周方向且つ長手方向に渡って配置された線状の導電部材と、
   前記導電部材の導電状態を検出して前記筒状部材の破損を検知する破損検知部と、
   を備える内視鏡。
2. 請求項１記載の内視鏡であって、
   前記導電部材の前記長手方向における配置密度は非一定となっている内視鏡。
3. 請求項２記載の内視鏡であって、
   前記処置具挿通路は、体腔内に挿入される挿入部の先端部に設けられた処置具突出口から、前記挿入部の基端部に連設された操作部の処置具挿入口まで延設され、前記操作部内の前記処置具挿通路は、屈曲して前記処置具挿入口にまで延びる屈曲部を有し、
   前記操作部内で前記屈曲部に隣接する前記筒状部材の第一部分、及び、前記挿入部の先端から前記操作部までの前記筒状部材の第二部分での前記導電部材の前記配置密度は、前記第一部分と第二部分との間の前記操作部内に含まれる前記筒状部材の第三部分の前記配置密度よりも大きくなっている内視鏡。
4. 請求項１から３のいずれか１項記載の内視鏡であって、
   前記導電部材は、前記内視鏡の基端側に両端を有する少なくとも１つの導体によって構成されている内視鏡。
5. 請求項４記載の内視鏡であって、
   前記導電部材は、互いに電気的に非接続の複数の前記導体によって構成されており、
   前記複数の前記導体は、前記長手方向の異なる箇所に配置されている内視鏡。
6. 請求項１から５のいずれか１項記載の内視鏡であって、
   前記筒状部材は、筒状の内周部材と、前記内周部材の外周に配置された筒状の外周部材とにより構成され、
   前記導電部材は、前記内周部材の外周面と前記外周部材の内周面との間に形成されている内視鏡。
7. 請求項１から６のいずれか１項記載の内視鏡であって、
   前記導電部材は、薄膜の導電パターンである内視鏡。
8. 請求項１記載の内視鏡であって、
   前記破損検知部によって前記筒状部材の破損が検知された場合に報知処理を行う報知制御部を更に備える内視鏡。
9. 軟性の筒状部材により構成された処置具挿通路を有する内視鏡に設けられた、前記筒状部材と一体的に形成され、前記筒状部材の周方向且つ長手方向に渡って配置された線状の導電部材、の導電状態を検出して前記筒状部材の破損を検知する処置具挿通路の破損検知方法。
10. 軟性の筒状部材により構成された処置具挿通路を有する内視鏡に設けられた、前記筒状部材と一体的に形成され、前記筒状部材の周方向且つ長手方向に渡って配置された線状の導電部材、の導電状態を検出して前記筒状部材の破損を検知するステップをコンピュータに実行させるための処置具挿通路の破損検知プログラム。

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