JP7107180B2 - 多波長光送信機 - Google Patents

多波長光送信機 Download PDF

Info

Publication number
JP7107180B2
JP7107180B2 JP2018212353A JP2018212353A JP7107180B2 JP 7107180 B2 JP7107180 B2 JP 7107180B2 JP 2018212353 A JP2018212353 A JP 2018212353A JP 2018212353 A JP2018212353 A JP 2018212353A JP 7107180 B2 JP7107180 B2 JP 7107180B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dbr
laser
optical
soa
modulator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018212353A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019212888A (ja
Inventor
隆彦 進藤
直樹 藤原
啓之 石井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to US15/734,649 priority Critical patent/US20210234332A1/en
Priority to PCT/JP2019/020458 priority patent/WO2019235235A1/ja
Publication of JP2019212888A publication Critical patent/JP2019212888A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7107180B2 publication Critical patent/JP7107180B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/026Monolithically integrated components, e.g. waveguides, monitoring photo-detectors, drivers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/026Monolithically integrated components, e.g. waveguides, monitoring photo-detectors, drivers
    • H01S5/0265Intensity modulators
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/04Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042Electrical excitation ; Circuits therefor
    • H01S5/0425Electrodes, e.g. characterised by the structure
    • H01S5/04256Electrodes, e.g. characterised by the structure characterised by the configuration
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/0625Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
    • H01S5/06255Controlling the frequency of the radiation
    • H01S5/06256Controlling the frequency of the radiation with DBR-structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • H01S5/125Distributed Bragg reflector [DBR] lasers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
    • H01S5/4087Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar emitting more than one wavelength
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/028Coatings ; Treatment of the laser facets, e.g. etching, passivation layers or reflecting layers
    • H01S5/0287Facet reflectivity
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/06226Modulation at ultra-high frequencies
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/1039Details on the cavity length
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/20Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
    • H01S5/22Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure
    • H01S5/2205Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure comprising special burying or current confinement layers
    • H01S5/2222Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure comprising special burying or current confinement layers having special electric properties
    • H01S5/2224Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure comprising special burying or current confinement layers having special electric properties semi-insulating semiconductors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/20Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
    • H01S5/22Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure
    • H01S5/227Buried mesa structure ; Striped active layer
    • H01S5/2275Buried mesa structure ; Striped active layer mesa created by etching
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4012Beam combining, e.g. by the use of fibres, gratings, polarisers, prisms
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/50Amplifier structures not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Description

本発明は、光変調器を集積した半導体レーザ素子を用いた多波長光送信機に関する。より詳細には、例えばInP基板上に電界吸収型(EA)光変調器、半導体光増幅器(SOA)および分布ブラッグ反射器(Distributed Bragg Reflector:DBR)レーザを集積した半導体レーザ素子を用いた多波長光送信機に関する。
近年の動画配信サービスの普及やモバイルトラフィック需要の増大に伴い、ネットワークトラフィックが爆発的に増大しており、特にアクセス系と呼ばれるネットワーク領域において次世代ネットワークに関する議論が活発化している。これら次世代のアクセス系ネットワークのトレンドとしては伝送距離の長延化・多分岐化が求められており、ここで用いられる半導体変調光源にも分岐比の増加を補うために光出力の高出力化への要求が高まっている。
(従来のEADFBレーザ)
従来より、分布帰還型(Distributed Feedback:DFB)レーザに電界吸収型(EA)光変調器を集積した電界吸収型変調器集積型DFB(EADFB)レーザは、直接変調型のレーザと比較し高い消光特性とすぐれたチャープ特性を有することから、これまでにアクセス系ネットワーク用光源を含め幅広い用途で用いられてきた。
図1に、従来の一般的なEADFBレーザ10の光軸に沿った基板断面の概略図を示す。図1のEADFBレーザ10は、光軸となる光導波路に沿ってDFBレーザ11およびEA変調器12が同一チップ内に集積された構造を有する。DFBレーザ11は多重量子井戸(MQW)からなる活性層14を有し、共振器内の活性層14に形成された回折格子17によって単一波長で発振する。また、EA変調器12はDFBレーザとは異なる組成の多重量子井戸(MQW)からなる光吸収層15を有し、電圧制御により光吸収量を変化させることができる。DFBレーザ11からの出力光を透過・吸収する条件で、EA変調器12を変調電気信号で駆動することで光を明滅させ、電気信号を光信号に変換して右端より出射する。
このEADFBレーザの課題として、光変調にEA変調器における光吸収を用いるため、原理的に十分な消光特性と高光出力化はトレードオフの関係にあることが挙げられる。
図2に、従来の一般的なEADFBレーザの消光曲線と強度変調原理の概略図を示す。従来の一般的なEADFBレーザにおいて、EA変調器への逆方向印加電圧の絶対値を大きくしてゆくと消光比は減少し、所定のEA逆方向印加電圧(バイアス電圧)Vdcに所定の振幅Vppの変調電圧を重畳して印加すると所定の動的消光比DERが得られる。
一般的なEADFBレーザにおいて、高出力化を達成するための一つの手法は、EA変調器への逆方向印加電圧の絶対値を小さくしEA変調器での光吸収を抑えることが挙げられる。しかし、この場合EA変調器の消光曲線の急峻性が低下するため、変調特性すなわち動的消光比(DER)が劣化してしまう。
もう一つの高出力化の手法として、DFBレーザの駆動電流を増大させ、DFBレーザからEA変調器に入射する光強度を増やす方法が挙げられる。しかし、この方法ではDFBレーザの消費電力が増大するとともに、EA変調器における光吸収とそれに伴うフォトカレントの増加から消光特性が劣化し、チップ全体の消費電力が増大してしまう。以上から、従来のEADFBレーザでは、十分な光出力と変調特性(動的消光比)とを両立させるためには、過剰な消費電力の増大が避けられなかった。
この課題に対して、EADFBレーザの光出射端にさらに半導体光増幅器(SOA)を集積したSOA集積EADFBレーザが提案されている(非特許文献1)。
(従来のSOA集積EADFBレーザ)
図3に、従来のSOA集積EADFBレーザ30の光軸に沿った基板断面の概略図を示す。図3のSOA集積EADFBレーザ30は、光軸となる光導波路に沿ってDFBレーザ31、EA変調器32、SOA領域33が、この順に同一チップ内に集積された構造を有する。
DFBレーザ31は図1と同様な回折格子を備えた活性層34を、EA変調器32は活性層35を、SOA領域33は活性層36を備えており、通常、活性層34と36は同一のMQWで構成され、EA変調器32の活性層35は別構造のMQWで構成される。
SOA集積EADFBレーザ30においては、DFBレーザ31からのレーザ光がEA変調器32によって変調された信号光が、集積されたSOA領域33によってEA変調器32とは独立して増幅されるため、光信号波形の品質を劣化させることなく、光出力の増大が可能となる。
また、従来のEADFBレーザと比べてSOA集積EADFBレーザ30では、DFBレーザ31の駆動電流やEA変調器32のフォトカレントを過剰に増大させることなく高出力化が可能である。さらに、SOA集積EADFBレーザでは、SOA33の活性層36にDFBレーザ31の活性層34と同一のMQW構造を用いている。従って、素子作製の際にSOA領域33の集積のための再成長プロセスを追加することなく、従来のEADFBレーザと同一の製造工程でデバイス作製が可能である。
このようなSOA集積EADFBレーザは、大容量化のために同時に異なる複数の波長の光を通信に使用する、波長多重技術(WDM)のための多波長光送信機で必要となるアレイ化多波長光源にも用いることができる。
W Kobayashi et al., "Novel approach for chirp and output power compensation applied to a 40-Gbit/s EADFB laser integrated with a short SOA," Opt. Express, Vol. 23, No. 7, pp. 9533-9542, Apr. 2015
従来のSOA集積EADFBレーザでは、高出力動作時に出射端面や素子外部の反射点から素子内部に戻る反射戻り光が、DFBレーザの動作を不安定にすることが課題として挙げられる。一般的なEADFBレーザにおいては、出射端面での光反射を抑制するために無反射(AR)コーティングが施されており、端面からチップ内部への反射戻り光は一般的に0.1%以下に抑制されている。加えて、光送信機としてEADFBレーザを用いる場合には、光出力側に光アイソレータを用いることで、光ファイバを通して遠距離から伝搬される反射戻り光についても大幅に抑制されている。
しかし、SOA集積EADFBレーザの場合には、その高出力特性によって、わずかな反射戻り光でも動作特性に大きな影響を与える。仮に、従来のEADFBレーザに対してSOA集積EADFBレーザのSOAによる光増幅効果が+3dBである場合、平均光出力が+3dB高出力化すると同時に、反射戻り光強度も3dB増加することになる。加えて、端面での反射戻り光は再びSOA内で増幅されるため、EADFBレーザと比較してDFBレーザ部に達する反射戻り光強度は+6dB増加することになる。
一般に半導体レーザは、内部反射による光の正帰還現象と、活性層での誘導放出による光の増幅現象を利用してレーザ発振する。ここで、素子外部から戻り光が入射すると、誘導放出により戻り光が増幅され発振状態が大きく乱れ、レーザ発振光において雑音が大きく増加する。一般的にこの雑音は、戻り光誘起雑音と呼ばれる。
また、SOA集積EADFBレーザの場合、素子の端面から素子内部に戻る光はEA変調器において強度変調が加えられた信号光の一部である。従って、反射戻り光は信号光と同じビットレートで強度が変動している。この戻り光はEA変調器で再び強度変調をくわえられた後、DFBレーザに到達する。したがって、DFBレーザに到達した戻り光の強度は複雑な変動を伴っており、これに伴いDFBレーザの発振状態も時間的に大きく変動することになる。
DFBレーザの動作が不安定化した場合は、EA変調器で変調された光信号波形の品質および伝送特性は低下する。前述した通り、戻り光強度はSOA集積EADFBレーザの光出力強度に依存して増加するため、特にSOA集積EADFBレーザの高出力動作時には伝送特性の低下が顕著に発生する。
この様な事情から、WDM用の多波長光送信機に用いられるアレイ化多波長光源においては、波長に応じて戻り光の状況も異なり、素子の特性も変化するため、異なる複数の波長の光を光出力強度を揃えて生成するのが困難であるという課題もあった。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、高出力動作時においても高い戻り光耐性を有しており、光波形品質と伝送特性の劣化を抑制することができる光送信機を備えた多波長光送信機のアレイ化多波長光源において光出力強度を揃えることにある。
上記問題を解決するために、本発明の実施形態ではSOA集積EADFBレーザのDFBレーザの代わりにDBR(Distributed Bragg Reflector:分布ブラッグ反射器)レーザを導入する。DBRレーザは、電流注入により光利得を得る活性領域と、活性領域の光軸上両端に配置され反射ミラーの役割をする2つのブラッグ反射器(DBR)から構成される。DBRレーザでは、活性領域には回折格子は設けられていない。SOA集積EADFBレーザと同様に、DBRレーザ光源からの出力光はEA変調器で変調され、SOAで増幅された後出射端面から出射される。しかし、戻り光は出射側のDBR領域において反射されDBRレーザの活性領域に達する戻り光が低減されるため、戻り光がDBRレーザの活性領域に与える影響は抑えられる。したがって、本発明の実施形態にかかるSOA集積EADBRレーザでは、光軸上にDBR、活性領域、DBR、EA変調器、SOAの順に各領域がモノリシック集積された光送信機となり、高い戻り光耐性を有する。
本発明は、以下のような構成を備えることを特徴とする。
(構成1)
電流を注入し光利得を生じる活性領域および前記活性領域の両端に形成された2つのDBR領域を含むDBRレーザと、前記DBRレーザからのレーザ光を光変調するEA変調器と、前記EA変調器からの変調光を光増幅するSOAとが、同一基板上にモノリシック集積され、前記活性領域、前記EA変調器及び前記SOAを除く領域に同一のコア層を備え、前記DBR領域は、前記コア層と、前記コア層に形成された回折格子と、を含み、前記EA変調器と前記SOAの間の前記コア層前記EA変調器からの変調光を導波するパッシブ光導波路であり、発振波長が異なる複数の光送信機と、それぞれの前記光送信機からの出力光を合波する合波器と、を備えた多波長光送信機であって、
複数の前記光送信機の短波長側の少なくとも一つにおいて、前記活性領域または前記SOAの少なくとも一方の長さが他の前記光送信機よりも長く構成されていることにより全ての前記光送信機の出力光の強度が揃えられている
ことを特徴とする多波長光送信機。
(構成2)
電流を注入し光利得を生じる活性領域および前記活性領域の両端に形成された2つのDBR領域を含むDBRレーザと、前記DBRレーザからのレーザ光を光変調するEA変調器と、前記EA変調器からの変調光を光増幅するSOAとが、同一基板上にモノリシック集積され、前記活性領域、前記EA変調器及び前記SOAを除く領域に同一のコア層を備え、前記DBR領域は、前記コア層と、前記コア層に形成された回折格子と、を含み、前記EA変調器と前記SOAの間の前記コア層が前記EA変調器からの変調光を導波するパッシブ光導波路であり、発振波長が異なる複数の光送信機と、それぞれの前記光送信機からの出力光を合波する合波器と、を備えた多波長光送信機であって、
複数の前記光送信機の短波長側の少なくとも一つにおいて、前記2つのDBR領域の長さの前後比が他の前記光送信機よりも小さく構成されている、ことにより全ての前記光送信機の出力光の強度が揃えられている
ことを特徴とする多波長光送信機。
(構成3)
前記光送信機においては、前記パッシブ光導波路の上に、前記パッシブ光導波路を導波する前記変調光をモニタするための電極が形成されている、
ことを特徴とする構成1または2に記載の多波長光送信機。
(構成4)
前記光送信機は、前記DBRレーザの前記活性領域と前記SOAとは同一の制御端子によって電流を注入される
ことを特徴とする構成1から3のいずれか1項に記載の多波長光送信機。
(構成5)
前記光送信機においては、前記2つのDBR領域に電極が形成され、前記電極が接地されている
ことを特徴とする構成1から4のいずれか1項に記載の多波長光送信機。
(構成6)
前記光送信機は、前記DBRレーザに含まれる前記2つのDBR領域の回折格子周期が異なる
ことを特徴とする構成1から5のいずれか1項に記載の多波長光送信機。
(構成7)
前記DBRレーザに含まれる前記2つのDBR領域の回折格子が同じ屈折率結合係数を有し、
前記屈折率結合係数が40~100cm -1 の範囲の値である
ことを特徴とする構成6に記載の多波長光送信機。
(構成8)
前記2つのDBR領域のDBRにおいて、前記DBRレーザの前記活性領域と前記EA変調器との間に位置するDBRを第1のDBR、他方のDBRを第2のDBRとしたとき、
前記第1のDBRのブラッグ波長と、前記第2のDBRのブラッグ波長との波長差が、前記第1のDBRのストップバンドの帯域幅の1/2以下である
ことを特徴とする構成7に記載の多波長光送信機。
構成
電流を注入し光利得を生じる活性領域および前記活性領域の両端に形成された2つのDBR領域を含むDBRレーザと、前記DBRレーザからのレーザ光を光変調するEA変調器と、前記EA変調器からの変調光を光増幅するSOAとが、同一基板上にモノリシック集積されて構成され、発振波長が異なる複数の光送信機と、
それぞれの前記光送信機からの出力光を合波する合波器と、を備えた多波長光送信機であって、
複数の前記光送信機の短波長側の少なくとも一つにおいて、前記活性領域または前記SOAの少なくとも一方の長さが他の前記光送信機よりも長く構成されていることにより全ての前記光送信機の出力光の強度が揃えられている
ことを特徴とする多波長光送信機。
(構成10
電流を注入し光利得を生じる活性領域および前記活性領域の両端に形成された2つのDBR領域を含むDBRレーザと、前記DBRレーザからのレーザ光を光変調するEA変調器と、前記EA変調器からの変調光を光増幅するSOAとが、同一基板上にモノリシック集積されて構成され、発振波長が異なる複数の光送信機と、
それぞれの前記光送信機からの出力光を合波する合波器と、を備えた多波長光送信機であって、
複数の前記光送信機の短波長側の少なくとも一つにおいて、前記2つのDBR領域の長さの前後比が他の前記光送信機よりも小さく構成されている、ことにより全ての前記光送信機の出力光の強度が揃えられている
ことを特徴とする多波長光送信機。
以上記載したように、本発明によれば、高出力動作時においても高い戻り光耐性を有しており、光波形品質と伝送特性の劣化を抑制することができる光送信機を提供することが可能となる。
従来のEADFBレーザの光軸に沿った基板断面の概略図である。 従来のEADFBレーザの消光曲線と強度変調原理の概略図である。 従来のSOA集積EADFBレーザの基板断面の概略図である。 本発明の実施例1に係る光送信機のSOA集積EADBRレーザの基板断面図である。 (a)は、本発明に係るSOA集積EADBRレーザのアイ波形を示す図であり、(b)は、従来型のSOA集積EADFBレーザのアイ波形を示す図である。 本発明の実施例1の変形例1の基板断面図である。 本発明の実施例1の変形例2の基板断面図である。 本発明の実施例1の変形例3の基板断面図である。 本発明の実施例2に係るSOA集積EADBRレーザを複数設けた多波長光源の概略平面図である。 本発明の実施例2の変形例1の概略平面図である。 本発明の実施例2の変形例2の概略平面図である。 本発明の実施例3の課題を説明するための図である。 本発明の実施例3の課題を説明するための図である。 本発明の実施例3の課題を説明するための図である。 本発明の実施例3の課題を説明するための図である。 本発明の実施例3を説明するための図である。 本発明の実施例3を説明するための図である。 本発明の実施例3を説明するための図である。 本発明の実施例3を説明するための基板断面図である。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について詳細に説明する。
最初に、本発明で用いるDBRレーザの発振原理について説明する。DBRレーザは、活性領域の両端に回折格子を形成したDBR領域を有する。DBRレーザではDFBレーザとは異なり、活性領域内には回折格子が形成されていない。DBR領域は、回折格子の周期に対応した特定の波長のみを選択的に反射する。これによって、活性領域の両端のDBR領域で光共振器を形成し光正帰還することにより、特定波長のみで発振することができる。
DBRレーザは、誘導放出による光増幅効果を有する活性領域が、光軸上の前後2つのDBR領域で挟まれた構成を有する。従って、出射端面から素子内部に戻る反射戻り光は、活性領域に到達する前にDBR領域を透過することになる。反射戻り光は、DBRレーザからの発振光を起源とするため、DBRの反射帯域と必ず一致する波長である。従って、DBRの反射率に応じて戻り光が反射されるため、活性領域に到達する戻り光の強度を低下させることができる。
これに対して、従来のSOA集積EADFBレーザで用いられているDFBレーザは、活性領域内に回折格子が形成されている。DFBレーザでも回折格子によって戻り光は反射されるが、レーザに入射すると同時に増幅されながら伝搬するため、レーザ特性に与える影響が大きくなる。以上の理由から、DBRレーザはDFBレーザに比べて高い戻り光耐性を有しており、光波形品質と伝送特性の劣化を抑制することができる。
図4に、本発明の実施例1に係る光送信機の、SOA集積EADBRレーザ400の光軸に沿った基板断面図を示す。図4の本実施例1の光送信機のSOA集積EADBRレーザ400は、レーザ光の光軸となる光導波路に沿って、左からDBRレーザ44、EA変調器42、パッシブ導波路49、SOA43がこの順に、同一のn-InP基板401上にモノリシック集積されている。DBRレーザ44、EA変調器42、SOA43はそれぞれ、p-InPクラッド層402上に設けられた電極445、421、431を介して駆動され、右端より変調されたレーザ光を出射する。
DBRレーザ44は、活性領域440と、活性領域440の左右両端に回折格子471、472を有するDBR領域441、442を備えている。活性領域440の長さは300μmであり、DBR領域442(右端出射側、EA変調器42側)の長さは200μm、DBR領域441(左端反射側)の長さは400μmである。
また、DBRレーザ44の右端出射側に長さ150μmのEA変調器42と、長さ50μmのパッシブ導波路49、長さ100μmのSOA43が集積されて、モノリシック集積素子を構成している。
(本発明の素子の作製プロセス)
ここで、本実施例1の光送信機のSOA集積EADBRレーザ400の、素子作製プロセスを説明する。素子作製にはn-InP基板401上に、下部SCH(Separated Confinement Heterostructure)層、多重量子井戸層の活性層(MQW1)、上部SCH層を順次成長した初期基板を用いた。上記多重量子井戸層(MQW1)は、発振波長1.3μm帯に光利得を有する。n-InP基板401はクラッド層としても機能する。
初めに、DBRレーザ44の活性領域440、およびSOA領域43となる部分を残し、その他の活性層(MQW1)を選択的にエッチングし、バットジョイント再成長によりEA変調器42のための多重量子井戸層(MQW2)を成長した。続いて、上記、DBRレーザの活性領域440、EA変調器領域42、SOA領域43となる部分を残し、再び選択エッチングとバットジョイント再成長を行うことでパッシブ導波路49ほかの光導波路のコア層を形成した。
次に、形成した光導波路のコア層のうちDBR領域441,442となる部分の上に、発振波長1.3μm帯で動作するような回折格子471,472を形成した。その後、再び再成長により素子全面にp-InPクラッド層402を成長した。p-InPクラッド層402の厚さは電極領域に光のフィールドがかからないように設計し、本実施例1では2.0μmとした。
加えて次に、メサ構造をエッチングによって形成し、再び埋め込み再成長によってメサの両脇にFeをドーピングした半絶縁性InP層を形成した(不図示)。次に半導体基板上部表面にp側の電極445,421,431を形成した。その後、n-InP基板401を150μm程度まで研磨し、基板裏面に電極(不図示)を形成して半導体ウエハ上程での工程は完了となる。なお、基板の左右両端面には、無反射コーティング(AR)を施している。
本実施例の導波路構造は、共振器の垂直方向については、多重量子井戸層の活性層(MQW1、2)と上下のSCH層からなるコア層(層厚の合計200nm)と、コア層を上下から挟み込むInPクラッド層401,402からなる積層構造を持っている。水平方向については、メサ両脇にInP層が形成された埋め込みヘテロ構造を持っている。また、ストライプ幅は1.5μmとし、DBR領域に形成した回折格子に起因する単一波長で動作する。
またSOA43の部分では、初期成長基板で形成されたコア層構造がそのまま残存し、DBRレーザ44の活性領域440と同一の層構造(MQW1)を有する。加えて、DBR領域441,442とパッシブ導波路領域49も、バットジョイント成長で形成した同一のコア層を有し、これらの領域の層構造の差異は回折格子471,472の有無のみである。これにより、複数領域を集積した構造でありながら、再成長回数を抑制し低コストでの製造が可能である。
EA変調器42とSOA43との間にパッシブ導波路49を設けることで、順方向バイアスを印加するSOAと、逆方向バイアスを印加するEAとの間の絶縁性を高めることができる。パッシブ導波路49がない場合は、EA変調器42とSOA43それぞれの上部電極間の分離抵抗は1kΩ以下であるのに対し、長さ50μmのパッシブ導波路49を挿入することで分離抵抗を約50kΩ程度に向上させ、領域間の電気的なクロストークを低減できる。
(本発明の素子の変調特性評価)
作製した本発明の素子を用いて、25Gbit/sの変調特性評価を行った。同一基板上に作製した従来のSOA集積EADFBレーザについても同一条件で評価を行い、本発明の効果を検証した。変調信号はNRZ、231-1段周期の疑似ランダム信号(PRBS)を用い、EA変調器へのバイアス電圧は1.5V、振幅電圧は2.0Vとした。また、チップ温度は45℃に設定している。初めに変調時光出力特性を比較したところ、ファイバ結合時の光強度がSOA集積EADBRレーザで6.0dBm、SOA集積EADFBレーザで6.1dBmとなりほぼ同等の光出力強度が得られた。ここでどちらの素子にもレーザ部およびSOA部にそれぞれ90mA、30mAの電流を注入した。
図5には、本発明の実施例に係るSOA集積EADBRレーザのアイ波形(a)と、従来型のSOA集積EADFBレーザのアイ波形(b)を対比のために示す。いずれも25Gbit/sのビットレートで、NRZ無変調時のBack to back(BTB)でのアイ波形を示す。図5(b)の従来のSOA集積EADFBレーザでは光波形が歪み、十分なアイ開口が得られていないのに対し、図5(a)の本発明の実施例のSOA集積EADBRレーザにおいては、高光出力時においてもアイ波形品質の劣化が抑制され明瞭なアイの開口が得られた。
図6に示す本発明の実施例1の変形例1のSOA集積EADBRレーザ600のように、EA変調器42とSOA領域43の間に設けられたパッシブ導波路部分49に電極491を設け、その電流値をモニタすることで、出力光の強度をモニタすることが可能である。
また、図7に示す本発明の実施例1の変形例2のSOA集積EADBRレーザ700のように、バイアス方向が同じDBRレーザ44の活性領域440とSOA領域43を共通駆動することで、端子の数を減らすことが可能である。
さらに、図8に示す本発明の実施例1の変形例3のSOA集積EADBRレーザ800のように、DBRレーザ44のDBR領域441,442を電極443、444を介して接地することで、活性領域440からの電流リークによるDBR領域のブラッグ波長のシフトが抑制でき、戻り光抑制効果の低下を防ぐことが可能である。
図9に、本発明の実施例2の多波長光送信機に於いて、SOA集積EADBRレーザを複数設けたアレイ化多波長光源の概略平面図を示す。図9では、それぞれの波長λ0、λ1、λ2、λ3対応のSOA集積EADBRレーザが、実施例1と同様な構成で設けられている。それぞれの波長のレーザ光がEA変調器で変調され、SOAで光増幅されて出力される。出力光の発振波長λ0、λ1、λ2、λ3は、λ0<λ1<λ2<λ3となっており、右端の合波器91で合波されて出力されている。
このようなアレイ化多波長光源では、最も短波長の波長λ0のSOA集積EADBRレーザは、EA変調器がONの状態の時も光を吸収してしまい光出力が低下する。そこで本発明の実施例2のアレイ化多波長光源では、それを補うように、図9に示すように波長λ0のSOA長を150μmと他の波長よりも長くした。(他の波長ではSOA長は100μmである)その結果、波長λ0の光出力強度を1dB増加させることができ、すべての波長で合波器91からの出力光の強度を揃えることができた。
図10に示す本発明の実施例2の変形例1では、同じ目的でλ0を発振するSOA集積EADBRレーザのみ活性領域(Active)の長さを400μmとして、他の波長よりも長くした。(他の波長では300μmである)その結果、波長λ0の光出力強度を1dB増加させることができ、すべての波長で合波器91からの出力光の強度を揃えることができた。
図11に示す本発明の実施例2の変形例2では、λ0を発振するSOA集積EADBRレーザのみ2つのDBR領域の長さを、後(左端反射側):500μm、および前(右端出射側):100μmとして、2つのDBRの長さの前後比(前/後の値)を他の波長より小さくした。(他の波長では後:400μm および 前:200μm)その結果、DBRレーザの前方への光出力強度を1dB増加させることができ、すべての波長で合波器からの出力光の強度を揃えることができた。
(実施例3に係る課題の説明)
前述したSOA集積型EADBRレーザにおいて、反射戻り光耐性をさらに向上させるためにはDBRレーザの活性領域とEA変調器との間にあるDBR領域(前方DBR)の反射率を増加させる必要がある。前方DBRの反射率を増加させ、入射端面から活性領域に侵入する戻り光強度を低下させることで、戻り光耐性を向上させることができる。
しかし、単純にDBRレーザのDBR反射率を増加させると、DBRレーザの単一モード性を低下させマルチモードで発振しやすくなることが懸念される。一般的にDBRの反射率を向上させるには、回折格子の屈折率結合係数κを増加させるか、DBR領域長を長くする手法がある。回折格子の屈折率結合係数とは、回折格子内での進行波と反射によって生じた後進波の結合の影響を示すパラメータの一つであり、一般に回折格子深さを大きくし屈折率の変動を大きくするほど結合係数も増加する。また一般に屈折率結合係数が大きいほどDBR領域の最大反射率と反射帯域が増大するため、広帯域かつ高反射な反射ミラーを実現できる。
図12(a)、(b)では、図12(c)に示すような同一構造のDBRレーザにおいて、屈折率結合係数κだけを変えて、図12(a)ではκ=40 cm-1、図12(b)ではκ=80 cm-1とした場合の、DBRレーザのミラー損失(縦軸のmirror loss)の波長依存性を比較している。
一般的にDBRレーザの前後のDBR領域の回折格子は、同一プロセスで一括に作製されるため、屈折率結合係数κは前後のDBRで同じ値となる。ここでは図12(c)の基板断面図に示すように、前(右、光出射側)のDBR領域442の長さを150μm、後(左、光反射側)のDBR領域441の長さを300μmとし、活性領域440の長さを400μm、位相調整領域446の長さを150μmとしている。なお、位相調整領域446は、後述のFPレーザとしての発振スペクトルのリップル(共振ピーク)を、波長軸上で平行移動するため光の位相を調整する領域であり、位相調整電極447に印加される電圧で位相制御を行う。
DBRレーザは前後のDBRが反射ミラーの役割を果たし、DBR間を往復する光が活性領域で利得を得ることによって発振に至る。したがって、DBRレーザの発振モードを検討する場合、基本的には両端に通常の反射ミラーを持つファブリ・ペロー(FP)レーザとみなして考えることができる。
FPレーザにおいては、両端のミラー間を往復する光のうちミラー間の往復距離が波長の整数倍を満たす波長のみが発振する。そのためFPレーザの発振スペクトルは、等間隔にリップル(共振ピーク)がならぶ形状となる。DBRレーザでは、DBRをある浸透長Lをもつ反射ミラーとみなせるので、DBRレーザの場合もFPレーザと同じくミラー間の往復距離が波長の整数倍となるモードでのみ発振し、発振モードはスペクトル上で等間隔にならぶ。
図12(a)、(b)それぞれのグラフ下部には、両端の共振器両端のDBRミラーが波長依存性を持たない場合の、上述のFPレーザとしての透過強度のリップル(共振ピーク)を、横軸の波長を上のDBRレーザのミラー損失のグラフとそろえて模式的に示している。
DBRレーザがFPレーザと異なるのは、反射ミラーの役割を果たすDBRが波長選択性をもつ点である。このDBRの波長選択性は、図12(a)、(b)の上のグラフ中にDBRのミラー損失の波長依存性として表されており、ミラー損失が小さいほど共振器内に光が閉じこもっている状態となり発振しやすい条件となる。
したがって、DBRレーザの発振モードは、FP共振器内の位相整合条件と、DBRのミラー損失の波長選択性の両方を満たす条件で決まることになる。すなわち、DBRレーザではFP共振器としての位相整合条件を満たすモードのうち、DBRミラーの損失の小さいモードから発振することになる。
図12(a)、(b)の上のグラフ内には、縦軸のミラー損失(mirror loss)が50cm-1以下の条件を満たす発振モードを、黒丸●のポイントで図示している。
図12(a)の屈折率結合係数κ=40cm-1の場合では、3つの黒丸が示されており、中央の波長1550nmの発振モードが、ミラー損失ath1が最低で最も発振しやすい(1次モード)条件となる。
また、図12(a)で次に発振しやすい2次モードは、1次モードの長波長側、短波長側にそれぞれ約0.5 nm離れた黒丸●で示す2つの波長に存在しており、ともにミラー損失ath2を有する。1次モードのミラー損失ath1と2次モードのミラー損失ath2との差分は4.2cm-1程度であり、この1次モードと2次モードとミラー損失差が大きいほど、安定したシングルモード(単一モード)で動作する。
これに対して、図12(b)の屈折率結合係数κ=80 cm-1の場合には、DBRのブラッグ波長反射率が大きくなるためミラー損失が低下し、共振器内部に光が強く閉じこもり、低しきい値で発振しやすい条件となる。このため、図12(b)の上のグラフには中央の1次モード、両脇の2つの2次モードに加えて、3次モードまで含めた、5つの黒丸●が示されている。
しかし、同時にミラー損失の波長帯域幅がブロードに拡大しており、1次モードのミラー損失だけでなく、2次モードのミラー損失も低下する傾向にある。図12(b)の場合の1次モードと2次モードのミラー損失差は1.2cm-1程度となり、安定した単一モード動作を得るためには不十分なミラー損失差となってしまっている。
このように、高屈折率結合のDBRを採用した場合、1次モードと2次モードのミラー損失差が低下する原因について説明する。図13(a)は前方DBR長150μm、後方DBR長300μmを有するDBRレーザにおいて、一般的な屈折率結合係数であるκ=40 cm-1のときの、前方および後方DBRのそれぞれの反射スペクトルを示す。
前方DBRに後方DBRよりも短いDBR長を採用し、前方DBRを後方DBRよりも低反射率に設計してあるのは、前方からの光出力を後方よりも相対的に増加させるためである。DBRレーザの発振は前後のDBRによって共振器内に光が閉じ込められることに起因するため、前方DBRと後方DBRの反射率の積で表される合計反射スペクトルで考える必要がある。
図13(b)は、図13(a)の前後のDBRの反射スペクトルから算出した合計反射スペクトルである。このときの合計反射スペクトルの最大反射率は0.14、反射率が最大値の1/2以上である帯域幅(半値全幅)は0.87nmである。
図12(a)、(b)で示したDBRレーザのミラー損失スペクトルは、このような前後のDBRの合計反射スペクトルから導かれている。すなわち、DBRレーザを単一モードで安定動作させるためには、図13(b)で示した前後のDBRの合計反射スペクトルを狭帯域化させ、1次の発振モードと2次の発振モードのミラー損失差を大きくする必要がある。
図14(a)は、前方150μm、後方300μmのDBRを採用したDBRレーザにおいて、屈折率結合係数κを40、60、80、100cm-1の4通りに変えた際の合計反射スペクトルの変化を示した4本のグラフである。
また、図14(b)には、図14(a)の合計反射スペクトルの4本のグラフから、それぞれの屈折率結合係数κを横軸にとり、最大反射率と反射スペクトル帯域幅(反射率が最大値の1/2以上を満たす波長幅)を縦軸にとった、2組のプロットを示す。黒の菱形◆が最大反射率のプロットで、目盛りは左の縦軸にとり、黒四角■が反射スペクトル帯域幅(半値全幅:nm)のプロットで、目盛りは右の縦軸にとっている。
前述したとおり、高い戻り光耐性を得るためには合計反射スペクトルにおいて最大反射率を大きくする必要があり、さらに同時にDBRレーザのマルチモード発振を抑制するためには、反射スペクトル帯域が急峻で狭帯域であることが望ましい。
しかし、図14(a)、(b)から、DBRの屈折率結合係数が大きいとブラッグ波長における最大反射率が増加するだけでなく、反射スペクトル帯域幅も拡大する傾向が確認できる。図14(b)に示す通り、例えばκ=40cm-1の場合、最大反射率が約14%、反射帯域幅(半値全幅)が0.87nmであるのに対して、κ=60cm-1の場合、最大反射率35%、半値全幅は1.13nmとなり、反射率とともに反射スペクトル帯域も増加してしまっている。
図15には、DBRレーザのDBR領域の屈折率結合係数κ(横軸)を図14と同様に40~100cm-1の4通りに変化させた場合の、1次モードと2次モードのミラー損失差(縦軸)を示す。この結果からも明らかなように、屈折率結合係数κが大きくなるほど1次モードと2次モードのミラー損失差が小さくなり、不安定な単一モード動作となる傾向が確認できる。これは前述したとおり、屈折率結合係数κの増加に伴いDBRの反射スペクトルの帯域幅が増大し、複数の発振モードが反射帯域に含まれ発振しやすい条件となるためである。
以上の結果から、DBRレーザにおいて高出力動作時においても高い戻り光耐性を持たせるためDBR反射率を増加する場合、反射スペクトル帯域の増加を避けられず、マルチモード動作の可能性が増す問題があるため、SOA集積型EADBRレーザの戻り光耐性の増加には限界があった。
(実施例3のSOA集積EADBRレーザの構造と動作)
このような課題を解決するための、本実施例3に係る光送信機の構造と動作を、以下の図16~18に説明する。本実施例3ではSOA集積EADBRレーザにおいて、DBRレーザの前方DBRと後方DBRに異なる周期の回折格子を導入する。これにより、前方DBRと後方DBRの反射帯域の中心波長(ブラッグ波長)をずらす(異ならせる)ことができ、前方DBRの高反射率化による戻り光耐性の向上と同時に、前後のDBRの合計の反射スペクトルを狭帯域化することができ、シングルモード安定性を向上させることができる。
図16(a)、(b)には、DBRレーザの前後2つのDBRのブラッグ波長が、前後のDBRで同一である場合(図16(a)、比較例)と、前後のDBRで異なる場合(図16(b)、本実施例3)のそれぞれについて、前後2つのDBRのそれぞれの反射スペクトルを示している。図16(c)、(d)には、図16(a)、(b)に対応する合計反射スペクトルを示している。
図16の2つのDBRレーザでは、前後のDBRの屈折率結合係数κを同じ80cm-1とし、前後のDBRの領域長をそれぞれ150μmと300μmとしている。一方、前後の2つのDBRの回折格子周期については、比較例の図16(a)では同じ回折格子周期としているが、本実施例3の図16(b)では、後方DBRの回折格子周期を前方DBRのそれよりも大きくしてある。逆に、後方DBRの回折格子周期を、前方DBRの回折格子周期よりも小さくして異ならせてもよい。
その結果、図16(b)に示されるように、後方DBRのブラッグ波長(点線のピーク波長、約1550.75nm)は、前方DBRのブラッグ波長(実線のピーク波長、約1550nm)よりも0.75 nm長い波長になるように調整されている。DBRの回折格子周期の大小が逆の場合には、後方DBRのブラッグ波長は、前方DBRのブラッグ波長よりも短い波長になる。
また、後方DBRのブラッグ波長(約1550.75nm)は、前方DBRのストップバンド(実線のスペクトルの両矢印で示す帯域幅、約1548.5~1551.5nm)の帯域内になるように調整されている。
図16(c)、(d)に示される、比較例と本実施例3の合計反射スペクトルを比較する。比較例の図16(c)に示す、前後のDBRの回折格子周期を同一周期としたDBRレーザの場合では、最大反射率0.53、反射帯域(半値全幅)1.41nmである。これに対し、本実施例3の図16(d)に示す、前後のDBRの回折格子周期にブラッグ波長差0.75nmに相当する差を設けたDBRレーザの場合では、最大反射率0.48、反射帯域(半値全幅)1.08nmである。
比較例、図16(c)の同一回折格子周期DBRの場合に対して、本実施例3、図16(d)の前後のDBRの回折格子周期に差を設けた場合の方が、最大反射率は低下しているものの、反射スペクトルが狭帯域化し急峻なスペクトルとなっている。
図17には、本実施例3のκ=80cm-1のDBRレーザにおいて、前後のDBRの回折格子周期を変えて、前後のDBRのブラッグ波長差を変えた場合のモード間ミラー損失差を示す。図17横軸に示すブラッグ波長差ΔλBの4通りの値に対して、1次モードと2次モードのミラー損失差(図17縦軸)を、4つの黒四角■で示している。ブラッグ波長差を大きくすることで1次モードと2次モードのミラー損失差を拡大でき、安定した単一モード動作が実現できることがわかる。
特に図17において、κ=80 cm-1としてブラッグ波長差を1.1nm程度(図17のグラフの右端の黒四角■)まで拡大すると、1次-2次モード間のミラー損失差を40cm-1近くまで増加させることができる。これは、図15に示した通り、一般的なDBRレーザで採用される屈折率結合係数κ=40cm-1の場合と同程度のミラー損失差であり、実用上十分な単一モード安定性が獲得できる。
図18(a)は、本実施例3において屈折率結合係数κ=80 cm-1の場合、図18(b)はκ=100 cm-1の場合の、前後の2つのDBRの合計スペクトルを示す。図18(a)、(b)のそれぞれの図には、前後の2つのDBRの間のブラッグ波長差を0.15~1.1 nmの4通りに変えた場合の、合計反射スペクトルの4本のグラフを示している。
図14(a)からも明らかなように、本発明の効果発揮のためには屈折率結合係数が最低でも40cm-1以上は必要であり、より屈折率結合係数κの大きいほうが、急峻で高反射率な反射スペクトルが得られる。しかし、図18(b)に は、屈折率結合係数κが大きいほど、ストップバンド外側のリップルの反射率も高くなる傾向が示されている。これは、ブラッグ波長シフトによって、後方DBRの短波側のリップルが前方DBRのブラッグ波長に近づき、リップルの反射率が増加してしまうためであり、前方DBRの反射率が大きいほど顕著に表れる。屈折率結合係数が高すぎる場合はストップバンド外側のリップル反射率が高くなるため、単一モード性が劣化することが懸念される。したがって、本発明の効果は屈折率結合係数が40~100 cm-1のときに最も発揮される。
また、図16(b)、(d)からも理解されるとおり、前後のDBRのブラッグ波長差が拡大し、前後の反射スペクトルの重なりがなくなってしまうと、DBRレーザの共振器閉じ込め効果が失われ発振動作ができなくなる。前後のDBRでブラッグ波長に差を設けた場合には、合計反射率は前後のDBRのブラッグ波長差が前方DBRのストップバンドの帯域幅の1/2に達した点、すなわち後方DBRのブラッグ波長が前方DBRのストップバンド端に達した点から急速に合計スペクトルの最大反射率が低下してしまう。したがって、前後2つのDBRのブラッグ波長差は前方DBRのストップバンドの帯域幅の1/2以下とした場合、本発明の効果が最も発揮される。
以上の点を踏まえ、SOA集積型EADBRレーザの試作を行った。
(実施例3のSOA集積EADBRレーザの試作と評価)
図19には、本実施例3に係るSOA集積EADBRレーザ1900の、光軸に沿った基板断面図を示す。
本実施例3のSOA集積EADBRレーザ1900は、長さ300μmの活性領域440と、長さ150μm(前)および300μm(後)の2つのDBR領域442,441で構成されるDBRレーザ44を有する。活性領域440とEA変調器42との間に位置する長さの短いDBR領域442のDBRが、前方(第1の)DBRであり、左端の反射端面側に位置する長さのより長いDBR領域441のDBRが、後方(第2の)DBRである。
ここで、本発明のように戻り光耐性を向上させるため、前後のDBRの反射率を増加させた場合には、前後のDBRにより光が強く共振器内部に閉じ込められるため、前方DBRからの光出力が低下してしまう。そこで前方と後方のDBR領域長を調整し、前後からの光出力比を調整することで前方からの光出力の低下を抑制することができる。また、前方からの光出力低下を抑制するために活性領域長を大きくし高出力特性を維持することも可能である。図12(c)においても説明したように、実施例3のDBRレーザ44にも位相調整領域446、位相調整電極447を設けてよい。
また、DBRレーザ44の前方には、実施例1(図4~8)と同じく、長さ150μmのEA変調器42と、長さ50μmのパッシブ導波路49、長さ200μmのSOA43が集積されて、全体としてモノリシック集積素子を構成している。
本実施例3では、前方DBR442の回折格子は周期240.000nm、後方DBR441の回折格子周期を240.183nmとし、前後のDBRのブラッグ波長の差が約1.2nmとなるように設計した。これにより、前後2つのDBRの合計の反射スペクトルを狭帯域化することができ、シングルモード安定性を向上させることができる。また、前後のDBRの屈折率結合係数は80cm-1としている。
本実施例3のSOA集積EADBRレーザ1900の作製プロセスについては、実施例1で示したプロセスと同一である。ただし、各領域のバットジョイント成長後に行うDBRの回折格子構造の形成時に、前述したような前後異なる回折格子周期のDBRパターンを形成している。
一般的にDBRレーザの回折格子は半導体層をエッチングして形成され、前後のDBRの回折格子は同一プロセスで一括形成されるため、回折格子の深さは前後で別々に調整することはできない。したがって、屈折率結合係数κも前後のDBRで同一の値となる。
これに対して回折格子周期は、回折格子のパターン描画で任意の周期を形成できるため、前後のDBRで独立した異なる回折格子周期の導入は容易に可能である。本実施例3で試作した素子においても、描画パターンを変更するだけで回折格子周期の異なる2つのDBRの作製が可能であり、作製の工程やコストは一切変更を必要としない。
また、本実施例の効果を確認するための比較例1として、前後のDBRで回折格子周期を同一にしたSOA集積EADBRレーザも同一基板上に作製した。各領域長や屈折率結合係数等は、本実施例3に係るデバイスと同一である。
このように作製した二つのSOA集積EADBRレーザについて、その発振スペクトルを確認した。DBRレーザの活性領域とSOA領域に駆動電流80mA、40mAをそれぞれ注入している。
本実施例3に係る前後のDBRにブラッグ波長差を設けた素子では、安定した単一モード動作が得られており、1次モードと2次モードのSMSRは45dBが確認された。一方、前後のDBRの回折格子周期を同一とした比較例1の素子では、マルチモードでの発振が確認され、光ファイバ伝送用の光源としての適用が困難であった。このことから、前後のDBRで同一周期の回折格子を用いた場合は、比較的小さい屈折率結合係数を採用しない限り単一モードでの安定動作が困難であることが確認された。
また、同じく本実施例3の優位性を確認するために、一般的な屈折率結合係数である40cm-1を採用し、前後のDBRで同一の回折格子周期のDBRを採用したSOA集積型EADBRレーザを比較例2として作成し、これを用いて伝送特性の比較を行った。
ここで比較例2のκ=40cm-1の素子においても、前後のDBR長、活性領域長、EA変調器長、SOA長はすべて本実施例3の素子と同一の長さである。いずれのデバイスもDBRレーザ駆動電流を120mA、SOA駆動電流を80mAとしたときの光出力強度を比較した。
すると、比較例2のκ=40cm-1の素子では、光出力強度13.5 dBmであったのに対し、本実施例3のブラッグ波長差を設けたκ=80cm-1の素子では、光出力強度12dBmであることが確認された。本実施例3に係る素子のほうが出力がやや小さいのは、回折格子の反射率増加により前方からの光出力が低下したためである。
この動作条件において、10Gbit/sの変調特性評価を行った。アイ波形から10 Gbit/sのマスクテストを行ったところ、比較例2のκ=40cm-1の素子ではマスクテストをクリアできなかったのに対して、本実施例3のκ=80cm-1でブラッグ波長差を設けた素子では明瞭なアイ開口が確認され、マスクマージン10%でマスクテストをクリアすることが確認された。このことから、10 dBmを超える高出力動作時には戻り光も大きく増加し、DFBレーザよりも高い戻り光耐性を有するDBRレーザにおいても動作が不安定化しやすい。これに対してDBRレーザのκを増加させることで戻り光耐性をさらに向上させることができる。
最後に10Gbit/sの光ファイバ伝送特性評価を行った。変調信号はNRZ、231-1段周期の疑似ランダム信号(PRBS)を用い、EA変調器へのバイアス電圧は1.5 V、振幅電圧は2.0 Vとした。40km伝送時のビットエラーレート評価を行ったところ、比較例2のκ=40cm-1の素子ではエラーフリー動作に達することができなかった。これに対して、本実施例3のκ=80cm-1で前後DBRにブラッグ波長差を設けた素子では、ビット誤り率10-12に達するエラーフリー動作が確認され、光ファイバ伝送用光源として十分な特性が得られた。
以上述べたように本発明では、高出力動作時においても高い戻り光耐性を有しており、光波形品質と伝送特性の劣化を抑制することが可能な光送信機を提供することができ、またアレイ化多波長光源においても光出力強度を揃えることが可能な光送信機を提供することができる。
10 EADFBレーザ
11、31 DFBレーザ
12、32、42 EA変調器
14、34、36、440 活性層(活性領域)
15、35 光吸収層
17、471、472 回折格子
30 SOA集積EADFBレーザ
33、43 SOA
400、600、700、800、1900 SOA集積EADBRレーザ
401 n-InP基板
402 p-InPクラッド層
44 DBRレーザ
441、442 DBR領域
446 位相調整領域
421、431、443、444、445、447、491 電極
49 パッシブ導波路
91 合波器

Claims (10)

  1. 電流を注入し光利得を生じる活性領域および前記活性領域の両端に形成された2つのDBR領域を含むDBRレーザと、前記DBRレーザからのレーザ光を光変調するEA変調器と、前記EA変調器からの変調光を光増幅するSOAとが、同一基板上にモノリシック集積され、前記活性領域、前記EA変調器及び前記SOAを除く領域に同一のコア層を備え、前記DBR領域は、前記コア層と、前記コア層に形成された回折格子と、を含み、前記EA変調器と前記SOAの間の前記コア層前記EA変調器からの変調光を導波するパッシブ光導波路であり、発振波長が異なる複数の光送信機と、それぞれの前記光送信機からの出力光を合波する合波器と、を備えた多波長光送信機であって、
    複数の前記光送信機の短波長側の少なくとも一つにおいて、前記活性領域または前記SOAの少なくとも一方の長さが他の前記光送信機よりも長く構成されていることにより全ての前記光送信機の出力光の強度が揃えられている
    ことを特徴とする多波長光送信機。
  2. 電流を注入し光利得を生じる活性領域および前記活性領域の両端に形成された2つのDBR領域を含むDBRレーザと、前記DBRレーザからのレーザ光を光変調するEA変調器と、前記EA変調器からの変調光を光増幅するSOAとが、同一基板上にモノリシック集積され、前記活性領域、前記EA変調器及び前記SOAを除く領域に同一のコア層を備え、前記DBR領域は、前記コア層と、前記コア層に形成された回折格子と、を含み、前記EA変調器と前記SOAの間の前記コア層が前記EA変調器からの変調光を導波するパッシブ光導波路であり、発振波長が異なる複数の光送信機と、それぞれの前記光送信機からの出力光を合波する合波器と、を備えた多波長光送信機であって、
    複数の前記光送信機の短波長側の少なくとも一つにおいて、前記2つのDBR領域の長さの前後比が他の前記光送信機よりも小さく構成されている、ことにより全ての前記光送信機の出力光の強度が揃えられている
    ことを特徴とする多波長光送信機。
  3. 前記光送信機においては、 前記パッシブ光導波路の上に、前記パッシブ光導波路を導波する前記変調光をモニタするための電極が形成されている、
    ことを特徴とする請求項1または2に記載の多波長光送信機。
  4. 前記光送信機は、 前記DBRレーザの前記活性領域と前記SOAとは同一の制御端子によって電流を注入されることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の多波長光送信機。
  5. 前記光送信機においては、 前記2つのDBR領域に電極が形成され、前記電極が接地されていることを特徴とする請求項1からのいずれか1項に記載の多波長光送信機。
  6. 前記光送信機は、 前記DBRレーザに含まれる前記2つのDBR領域の回折格子周期が異なる
    ことを特徴とする請求項1からのいずれか1項に記載の多波長光送信機。
  7. 前記DBRレーザに含まれる前記2つのDBR領域の回折格子が同じ屈折率結合係数を有し、
    前記屈折率結合係数が40~100cm-1の範囲の値であることを特徴とする請求項に記載の多波長光送信機。
  8. 前記2つのDBR領域のDBRにおいて、前記DBRレーザの前記活性領域と前記EA変調器との間に位置するDBRを第1のDBR、他方のDBRを第2のDBRとしたとき、
    前記第1のDBRのブラッグ波長と、前記第2のDBRのブラッグ波長との波長差が、前記第1のDBRのストップバンドの帯域幅の1/2以下であることを特徴とする請求項に記載の多波長光送信機。
  9. 電流を注入し光利得を生じる活性領域および前記活性領域の両端に形成された2つのDBR領域を含むDBRレーザと、前記DBRレーザからのレーザ光を光変調するEA変調器と、前記EA変調器からの変調光を光増幅するSOAとが、同一基板上にモノリシック集積されて構成され、発振波長が異なる複数の光送信機と、
    それぞれの前記光送信機からの出力光を合波する合波器と、を備えた多波長光送信機であって、
    複数の前記光送信機の短波長側の少なくとも一つにおいて、前記活性領域または前記SOAの少なくとも一方の長さが他の前記光送信機よりも長く構成されていることにより全ての前記光送信機の出力光の強度が揃えられている
    ことを特徴とする多波長光送信機。
  10. 電流を注入し光利得を生じる活性領域および前記活性領域の両端に形成された2つのDBR領域を含むDBRレーザと、前記DBRレーザからのレーザ光を光変調するEA変調器と、前記EA変調器からの変調光を光増幅するSOAとが、同一基板上にモノリシック集積されて構成され、発振波長が異なる複数の光送信機と、
    それぞれの前記光送信機からの出力光を合波する合波器と、を備えた多波長光送信機であって、
    複数の前記光送信機の短波長側の少なくとも一つにおいて、前記2つのDBR領域の長さの前後比が他の前記光送信機よりも小さく構成されている、ことにより全ての前記光送信機の出力光の強度が揃えられている
    ことを特徴とする多波長光送信機。
JP2018212353A 2018-06-05 2018-11-12 多波長光送信機 Active JP7107180B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/734,649 US20210234332A1 (en) 2018-06-05 2019-05-23 Optical Transmitter and Multi-Wavelength Optical Transmitter
PCT/JP2019/020458 WO2019235235A1 (ja) 2018-06-05 2019-05-23 光送信機および多波長光送信機

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018107696 2018-06-05
JP2018107696 2018-06-05

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019212888A JP2019212888A (ja) 2019-12-12
JP7107180B2 true JP7107180B2 (ja) 2022-07-27

Family

ID=68845457

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018212353A Active JP7107180B2 (ja) 2018-06-05 2018-11-12 多波長光送信機

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20210234332A1 (ja)
JP (1) JP7107180B2 (ja)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009001861A1 (ja) 2007-06-25 2008-12-31 Nippon Telegraph And Telephone Corporation 光変調信号生成装置および光変調信号生成方法
JP2013219192A (ja) 2012-04-09 2013-10-24 Fujitsu Ltd 半導体レーザ
JP2017028231A (ja) 2015-07-28 2017-02-02 日本電信電話株式会社 波長可変半導体レーザ
JP2017118052A (ja) 2015-12-25 2017-06-29 日本電信電話株式会社 波長多重光送信器及びその制御方法
JP2018060974A (ja) 2016-10-07 2018-04-12 日本電信電話株式会社 半導体光集積素子

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02106084A (ja) * 1988-10-14 1990-04-18 Oki Electric Ind Co Ltd 分布反射形半導体レーザ
JPH0983078A (ja) * 1995-09-14 1997-03-28 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体レーザ送受信素子
US6628690B1 (en) * 1999-09-02 2003-09-30 Agility Communications, Inc. Opto-electronic laser with integrated modulator
US7283694B2 (en) * 2001-10-09 2007-10-16 Infinera Corporation Transmitter photonic integrated circuits (TxPIC) and optical transport networks employing TxPICs
JP4359252B2 (ja) * 2005-03-14 2009-11-04 株式会社日立製作所 波長可変半導体レーザ装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009001861A1 (ja) 2007-06-25 2008-12-31 Nippon Telegraph And Telephone Corporation 光変調信号生成装置および光変調信号生成方法
JP2013219192A (ja) 2012-04-09 2013-10-24 Fujitsu Ltd 半導体レーザ
JP2017028231A (ja) 2015-07-28 2017-02-02 日本電信電話株式会社 波長可変半導体レーザ
JP2017118052A (ja) 2015-12-25 2017-06-29 日本電信電話株式会社 波長多重光送信器及びその制御方法
JP2018060974A (ja) 2016-10-07 2018-04-12 日本電信電話株式会社 半導体光集積素子

Also Published As

Publication number Publication date
JP2019212888A (ja) 2019-12-12
US20210234332A1 (en) 2021-07-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8155161B2 (en) Semiconductor laser
US9065251B2 (en) Wavelength monitor, wavelength lockable laser diode and method for locking emission wavelength of laser diode
JP5100881B1 (ja) 集積型半導体レーザ素子
US20090092159A1 (en) Semiconductor light-emitting device with tunable emission wavelength
US6519270B1 (en) Compound cavity reflection modulation laser system
WO2019235235A1 (ja) 光送信機および多波長光送信機
US8149889B2 (en) Semiconductor laser device
JP2019083351A (ja) 半導体光増幅器、半導体レーザモジュール、および波長可変レーザアセンブリ
JP5022015B2 (ja) 半導体レーザ素子及びそれを用いた光モジュール
Adachi et al. 100° C, 25 Gbit/s direct modulation of 1.3 µm surface emitting laser
JP5001239B2 (ja) 半導体波長可変レーザ
JP2008147290A (ja) 量子構造及びそれを含む光増幅器、波長可変レーザ
US20050226283A1 (en) Single-mode semiconductor laser with integrated optical waveguide filter
EP2997632B1 (en) Laser with full c-band tunability and narrow linewidth
JP7107180B2 (ja) 多波長光送信機
US20100246618A1 (en) External resonator-type wavelength tunable laser device
US20070263688A1 (en) Semiconductor laser with side mode suppression
JP2019004093A (ja) 半導体光集積装置
JP2009087956A (ja) 外部共振器型波長可変レーザとそれに内蔵する半導体光増幅器
Nasu et al. 25 GHz-spacing wavelength monitor integrated DFB laser module using standard 14-pin butterfly package
JP4074534B2 (ja) 半導体レーザ
US6795472B2 (en) Laser with a resonant optical reflector
US20240047941A1 (en) Wavelength Tunable Optical Transmitter
JP2018206901A (ja) 光送信機
JP2000223774A (ja) 波長可変光源

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20201007

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210810

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211011

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211207

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20220204

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220405

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220614

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220627

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7107180

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150