JP7105314B2 - 断層画像生成装置、方法およびプログラム - Google Patents

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Description

本開示は、複数の線源位置のそれぞれにおいて被写体を撮影して複数の投影画像を取得し、複数の投影画像から断層画像を生成する断層画像生成装置、方法およびプログラムに関するものである。
近年、X線、ガンマ線等の放射線を用いた放射線画像撮影装置において、患部をより詳しく観察するために、放射線源を移動させて複数の線源位置から被写体に放射線を照射して撮影を行い、これにより取得した複数の投影画像を加算して所望の断層面を強調した断層画像を生成するトモシンセシス撮影が提案されている。トモシンセシス撮影では、撮影装置の特性および必要な断層画像に応じて、放射線源を放射線検出器と平行に移動させたり、円または楕円の弧を描くように移動させたりして、複数の線源位置において被写体を撮影することにより複数の投影画像を取得し、単純逆投影法あるいはフィルタ逆投影法等の逆投影法等を用いてこれらの投影画像を再構成して断層画像を生成する。
このような断層画像を被写体における複数の断層面において生成することにより、断層面が並ぶ深さ方向に重なり合った構造を分離することができる。このため、従来の単純撮影により取得される2次元画像においては検出が困難であった病変を発見することが可能となる。なお、単純撮影とは、被写体に1回放射線を照射して、被写体の透過像である1枚の2次元画像を取得する撮影方法である。
一方、トモシンセシス撮影は、複数の線源位置のそれぞれにおける撮影の時間差に起因する被写体の体動等の影響により、再構成された断層画像がぼけてしまうという問題もある。このように断層画像がぼけてしまうと、とくに乳房が被写体である場合において、乳癌の早期発見に有用な、微小な石灰化等の病変を発見することが困難となる。
このため、トモシンセシス撮影により取得した投影画像から断層画像を生成するに際し、体動を補正する手法が提案されている。例えば、特開2016-64119号公報には、トモシンセシス撮影により取得した複数の投影画像の画素値を保持しつつ、複数の投影画像のそれぞれについての撮影時の線源位置と放射線検出器との位置関係に基づいて、複数の投影画像の画素値を被写体の所望とする断層面上の座標位置に投影して複数の断層面投影画像を取得し、複数の断層面投影画像においてエッジ、エッジの交点およびエッジの角部等の特徴点を検出し、検出した特徴点を一致させるように複数の断層面投影画像間の位置ずれを補正し、位置ずれが補正された複数の断層面投影画像から断層画像を生成する手法が提案されている。
一方、トモシンセシス撮影により取得される投影画像は、被写体を透過した放射線により取得されるため、被写体内の複数の構造が重なり合った画像となっている。このため、放射線源の位置が変わると、被写体における放射線の透過方向が異なるものとなることから、投影画像に含まれるエッジ、エッジの交点およびエッジの角部等の特徴点の見え方が、投影画像に応じて異なるものとなる。例えば、ある投影画像においてはエッジの交点として見える構造が、別の投影画像では交点が存在しない複数のエッジとして見えるものとなることがある。したがって、特開2016-64119号公報に記載された手法のように、断層面投影画像において検出された特徴点を用いた場合、特徴点の対応関係を精度よく求めることができないため、位置ずれの補正の精度が低下し、その結果、高画質の断層画像が取得できなくなるおそれがある。
本開示は上記事情に鑑みなされたものであり、体動が精度よく補正された高画質の断層画像を取得できるようにすることを目的とする。
本開示による断層画像生成装置は、放射線源を検出部の検出面に対して相対的に移動させ、放射線源の移動による複数の線源位置において被写体に放射線を照射するトモシンセシス撮影を撮影装置に行わせることにより生成された、複数の線源位置のそれぞれに対応する複数の投影画像を取得する画像取得部と、
複数の投影画像の全部または一部を再構成することにより、被写体の複数の断層面のそれぞれにおける断層画像を生成する再構成部と、
複数の断層画像から少なくとも1つの特徴点を検出する特徴点検出部と、
特徴点が検出された断層画像に対応する対応断層面において、特徴点を基準として、被写体の体動に基づく複数の投影画像間の位置ずれ量を導出する位置ずれ量導出部とを備え、
再構成部は、位置ずれ量を補正して複数の投影画像を再構成することにより、被写体の少なくとも1つの断層面における補正済み断層画像を生成する。
「放射線源を検出部に対して相対的に移動させる」とは、放射線源のみを移動する場合、検出部のみを移動する場合、および放射線源と検出部との双方を移動する場合のいずれをも含む。
「複数の投影画像の全部または一部を再構成する」とは、複数の投影画像のすべてを用いて再構成を行ってもよく、複数の投影画像のすべてではなく、複数の投影画像のうちの2以上の投影画像を用いて再構成を行ってもよいことを意味する。
なお、本開示による断層画像生成装置においては、複数の投影画像のそれぞれについての撮影時の線源位置と検出部との位置関係に基づいて、複数の投影画像を対応断層面に投影して、複数の投影画像のそれぞれに対応する断層面投影画像を取得する投影部をさらに備え、
位置ずれ量導出部は、対応断層面において、特徴点を基準として、被写体の体動に基づく複数の断層面投影画像間の位置ずれ量を、複数の投影画像間の位置ずれ量として導出するものであってもよい。
また、本開示による断層画像生成装置においては、位置ずれ量導出部は、複数の断層面投影画像において、特徴点に対応する局所領域を設定し、局所領域に基づいて位置ずれ量を導出するものであってもよい。
また、本開示による断層画像生成装置においては、位置ずれ量導出部は、複数の断層面投影画像において、特徴点を含む複数の第1の局所領域を設定し、特徴点が検出された断層画像において、特徴点を含む第2の局所領域を設定し、第2の局所領域に対する複数の第1の局所領域の位置ずれ量を仮の位置ずれ量としてそれぞれ導出し、複数の仮の位置ずれ量に基づいて位置ずれ量を導出するものであってもよい。
この場合、位置ずれ量導出部は、第2の局所領域における特徴点の周囲の領域に基づいて、仮の位置ずれ量を導出するものであってもよい。
「局所領域」とは、断層画像または断層面投影画像における特徴点を含む領域であり、断層画像または断層面投影画像よりも小さい、任意の大きさの領域とすることができる。
なお、局所領域は、体動として動く範囲よりも大きくする必要がある。体動は大きい場合には2mm程度となることがある。このため、1画素の大きさが100μm四方の断層画像または断層面投影画像の場合、局所領域は、例えば特徴点の周辺の50×50画素、あるいは100×100画素等の領域とすればよい。
「局所領域における特徴点の周囲の領域」とは、局所領域内における特徴点を含む、局所領域よりも小さい領域を意味する。
また、本開示による断層画像生成装置においては、再構成部は、位置ずれ量を導出する対象となる対象断層面投影画像に対応する対象投影画像を除いた複数の投影画像を再構成して複数の断層画像を対象断層画像として生成し、
位置ずれ量導出部は、対象断層画像を用いて対象断層面投影画像についての位置ずれ量を導出するものであってもよい。
また、本開示による断層画像生成装置においては、特徴点検出部は、複数の断層画像から複数の特徴点を検出し、
複数の特徴点のそれぞれが検出された断層画像に対応する対応断層面が、焦点面であるか否かを判別する焦点面判別部をさらに備え、
位置ずれ量導出部は、焦点面と判別された対応断層面において位置ずれ量を導出するものであってもよい。
また、本開示による断層画像生成装置においては、複数の断層画像のうちの2以上の断層画像を合成して、合成2次元画像を生成する合成部をさらに備え、
特徴点検出部は、合成2次元画像における2次元特徴点を検出し、複数の断層画像から2次元特徴点に対応する特徴点を検出するものであってもよい。
また、本開示による断層画像生成装置においては、再構成部は、位置ずれ量を補正しつつ複数の投影画像の全部または一部を再構成することにより、被写体の複数の断層面における複数の補正済み断層画像を、新たな複数の断層画像として生成し、
特徴点検出部は、複数の新たな断層画像から特徴点を検出し、
位置ずれ量導出部は、新たな複数の投影画像間の新たな位置ずれ量を導出し、
再構成部は、新たな位置ずれ量を補正しつつ複数の投影画像を再構成することにより、被写体の少なくとも1つの断層面における新たな補正済み断層画像を生成するものであってもよい。
また、本開示による断層画像生成装置においては、再構成部、特徴点検出部および位置ずれ量導出部は、新たな断層画像の生成、新たな断層画像からの特徴点の検出、および新たな位置ずれ量の導出を、新たな位置ずれ量が収束するまで繰り返すものであってもよい。
「収束するまで繰り返す」とは、新たな複数の断層面投影画像間の位置ずれ量が、予め定められたしきい値以下となるまで繰り返すことを意味する。
また、本開示による断層画像生成装置においては、補正済み断層画像における特徴点を含む関心領域の画質評価を行い、画質評価の結果に基づいて、導出された位置ずれ量が適切であるか不適切であるかを判断する位置ずれ量判断部をさらに備えるものであってもよい。
また、本開示による断層画像生成装置においては、位置ずれ量判断部は、断層画像における特徴点を含む関心領域の画質評価を行い、補正済み断層画像についての画質評価の結果と、断層画像についての画質評価の結果とを比較し、画質評価の結果が良い方の断層画像を、最終的な断層画像に決定するものであってもよい。
また、本開示による断層画像生成装置においては、補正済み断層画像における特徴点を含む関心領域の画質評価を行うための評価関数を導出する評価関数導出部をさらに備え、
位置ずれ量導出部は、評価関数を最適化する位置ずれ量を導出するものであってもよい。
また、本開示による断層画像生成装置においては、被写体が乳房であってもよい。
また、本開示による断層画像生成装置においては、位置ずれ量導出部は、乳腺密度、乳房の大きさ、トモシンセシス撮影の撮影時間、トモシンセシス撮影時における乳房の圧迫圧、および乳房の撮影方向の少なくとも1つに応じて、位置ずれ量導出時の探索範囲を変更するものであってもよい。
本開示による断層画像生成方法は、放射線源を検出部の検出面に対して相対的に移動させ、放射線源の移動による複数の線源位置において被写体に放射線を照射するトモシンセシス撮影を撮影装置に行わせることにより生成された、複数の線源位置のそれぞれに対応する複数の投影画像を取得し、
複数の投影画像の全部または一部を再構成することにより、被写体の複数の断層面のそれぞれにおける断層画像を生成し、
複数の断層画像から少なくとも1つの特徴点を検出し、
特徴点が検出された断層画像に対応する対応断層面において、特徴点を基準として、被写体の体動に基づく複数の投影画像間の位置ずれ量を導出し、
位置ずれ量を補正して複数の投影画像を再構成することにより、被写体の少なくとも1つの断層面における補正済み断層画像を生成する。
なお、本開示による断層画像生成方法をコンピュータに実行させるためのプログラムとして提供してもよい。
本開示による他の断層画像生成装置は、コンピュータに実行させるための命令を記憶するメモリと、
記憶された命令を実行するよう構成されたプロセッサとを備え、プロセッサは、
放射線源を検出部の検出面に対して相対的に移動させ、放射線源の移動による複数の線源位置において被写体に放射線を照射するトモシンセシス撮影を撮影装置に行わせることにより生成された、複数の線源位置のそれぞれに対応する複数の投影画像を取得し、
複数の投影画像の全部または一部を再構成することにより、被写体の複数の断層面のそれぞれにおける断層画像を生成し、
複数の断層画像から少なくとも1つの特徴点を検出し、
特徴点が検出された断層画像に対応する対応断層面において、特徴点を基準として、被写体の体動に基づく複数の投影画像間の位置ずれ量を導出し、
位置ずれ量を補正して複数の投影画像を再構成することにより、被写体の少なくとも1つの断層面における補正済み断層画像を生成する処理を実行する。
本開示によれば、体動が精度よく補正された高画質の断層画像を取得できる。
本開示の第1の実施形態による断層画像生成装置を適用した放射線画像撮影装置の概略構成図 放射線画像撮影装置を図1の矢印A方向から見た図 第1の実施形態において、コンピュータに断層画像生成プログラムをインストールすることにより実現された断層画像生成装置の概略構成を示す図 投影画像の取得を説明するための図 断層画像の生成を説明するための図 断層画像からの特徴点の検出を説明するための図 断層面投影画像の生成を説明するための図 断層画像の画素値の補間を説明するための図 関心領域の設定を説明するための図 断層面投影画像に設定された関心領域を示す図 第1の実施形態において、体動が発生していない場合の関心領域内の画像を示す図 第1の実施形態において、体動が発生した場合の関心領域内の画像を示す図 関心領域の探索範囲を説明するための図 3次元空間における特徴点を示す図 補正済み断層画像の表示画面を示す図 第1の実施形態において行われる処理を示すフローチャート 第2の実施形態において、体動が発生していない場合の関心領域内の画像を示す図 第2の実施形態において、体動が発生した場合の関心領域内の画像を示す図 特徴点の周囲の領域を説明するための図 第3の実施形態において行われる処理を模式的に示す図 コンピュータに第4の実施形態による断層画像生成プログラムをインストールすることにより実現された断層画像生成装置の概略構成を示す図 特徴点マップの生成を説明するための図 第5の実施形態において行われる処理を示すフローチャート 警告表示を示す図 コンピュータに第6の実施形態による断層画像生成プログラムをインストールすることにより実現された断層画像生成装置の概略構成を示す図 リップルアーチファクトを説明するための図 対応点の導出を説明するための図 特徴点および対応点の画素値をプロットした結果を示す図 第6の実施形態において行われる処理を示すフローチャート コンピュータに第7の実施形態による断層画像生成プログラムをインストールすることにより実現された断層画像生成装置の概略構成を示す図 第7の実施形態における関心領域の設定を説明するための図 第7の実施形態において行われる処理を示すフローチャート コンピュータに第8の実施形態による断層画像生成プログラムをインストールすることにより実現された断層画像生成装置の概略構成を示す図
以下、図面を参照して本開示の実施形態について説明する。図1は本開示の第1の実施形態による断層画像生成装置を適用した放射線画像撮影装置の概略構成図、図2は放射線画像撮影装置を図1の矢印A方向から見た図である。放射線画像撮影装置1は、乳房のトモシンセシス撮影を行って断層画像を生成するために、複数の線源位置から被写体である乳房Mを撮影して、複数の放射線画像、すなわち複数の投影画像を取得するマンモグラフィ撮影装置である。図1に示すように放射線画像撮影装置1は、撮影部10、撮影部10に接続されたコンピュータ2、並びにコンピュータ2に接続された表示部3および入力部4を備えている。
撮影部10は、不図示の基台に対して回転軸11により連結されたアーム部12を備えている。アーム部12の一方の端部には撮影台13が、その他方の端部には撮影台13と対向するように放射線照射部14が取り付けられている。アーム部12は、放射線照射部14が取り付けられた端部のみを回転することが可能に構成されており、これにより、撮影台13を固定して放射線照射部14のみを回転することが可能となっている。なお、アーム部12の回転は、コンピュータ2により制御される。
撮影台13の内部には、フラットパネルディテクタ等の放射線検出器15が備えられている。放射線検出器15はX線等の放射線の検出面15Aを有する。また、撮影台13の内部には、放射線検出器15から読み出された電荷信号を電圧信号に変換するチャージアンプ、チャージアンプから出力された電圧信号をサンプリングする相関2重サンプリング回路、および電圧信号をデジタル信号に変換するAD(Analog Digital)変換部等が設けられた回路基板等も設置されている。なお、放射線検出器15が検出部に対応する。また、本実施形態においては、検出部として放射線検出器15を用いているが、放射線を検出して画像に変換することができれば、放射線検出器15に限定されるものではない。
放射線検出器15は、放射線画像の記録および読み出しを繰り返して行うことができるものであり、X線等の放射線を直接電荷に変換する、いわゆる直接型の放射線検出器を用いてもよいし、放射線を一旦可視光に変換し、その可視光を電荷信号に変換する、いわゆる間接型の放射線検出器を用いるようにしてもよい。また、放射線画像信号の読出方式としては、TFT(Thin Film Transistor)スイッチをオンおよびオフすることによって放射線画像信号が読み出される、いわゆるTFT読出方式のもの、または読取光を照射することによって放射線画像信号が読み出される、いわゆる光読出方式のものを用いることが望ましいが、これに限らずその他のものを用いるようにしてもよい。
放射線照射部14の内部には、放射線源であるX線源16が収納されている。X線源16から放射線であるX線を照射するタイミングおよびX線源16におけるX線発生条件、すなわちターゲットおよびフィルタの材質の選択、管電圧並びに照射時間等は、コンピュータ2により制御される。
また、アーム部12には、撮影台13の上方に配置されて乳房Mを押さえつけて圧迫する圧迫板17、圧迫板17を支持する支持部18、および支持部18を図1および図2の上下方向に移動させる移動機構19が設けられている。なお、圧迫板17と撮影台13との間隔、すなわち圧迫厚はコンピュータ2に入力される。
表示部3は、CRT(Cathode Ray Tube)または液晶モニタ等の表示装置であり、後述するように取得された投影画像および2次元画像、並びに生成された断層画像の他、操作に必要なメッセージ等を表示する。なお、表示部3は音声を出力するスピーカを内蔵するものであってもよい。
入力部4はキーボード、マウスまたはタッチパネル方式等の入力装置からなり、操作者による放射線画像撮影装置1の操作を受け付ける。また、トモシンセシス撮影を行うために必要な、撮影条件等の各種情報の入力および情報の修正の指示も受け付ける。本実施形態においては、操作者が入力部4から入力した情報に従って、放射線画像撮影装置1の各部が動作する。
コンピュータ2には、本実施形態による断層画像生成プログラムがインストールされている。本実施形態においては、コンピュータは、操作者が直接操作するワークステーションあるいはパーソナルコンピュータでもよいし、それらとネットワークを介して接続されたサーバコンピュータでもよい。断層画像生成プログラムは、DVD(Digital Versatile Disc)、CD-ROM(Compact Disc Read Only Memory)等の記録媒体に記録されて配布され、その記録媒体からコンピュータにインストールされる。もしくは、ネットワークに接続されたサーバコンピュータの記憶装置、あるいはネットワークストレージに、外部からアクセス可能な状態で記憶され、要求に応じてコンピュータにダウンロードされ、インストールされる。
図3はコンピュータ2に第1の実施形態による断層画像生成プログラムをインストールすることにより実現される断層画像生成装置の概略構成を示す図である。図3に示すように、断層画像生成装置は、標準的なコンピュータの構成として、CPU(Central Processing Unit)21、メモリ22およびストレージ23を備えている。
ストレージ23は、ハードディスクドライブまたはSSD(Solid State Drive)等のストレージデバイスからなり、放射線画像撮影装置1の各部を駆動するためのプログラムおよび断層画像生成プログラムを含む各種情報が記憶されている。また、トモシンセシス撮影により取得された投影画像、並びに後述するように生成された断層画像および断層面投影画像も記憶される。
メモリ22には、各種処理をCPU21に実行させるために、ストレージ23に記憶されたプログラム等が一時的に記憶される。断層画像生成プログラムは、CPU21に実行させる処理として、放射線画像撮影装置1にトモシンセシス撮影を行わせて、複数の線源位置のそれぞれに対応する乳房Mの複数の投影画像を取得する画像取得処理、複数の投影画像の全部または一部を再構成することにより、被写体である乳房Mの複数の断層面のそれぞれにおける断層画像を生成する再構成処理、複数の断層画像から少なくとも1つの特徴点を検出する特徴点検出処理、複数の投影画像のそれぞれについての撮影時のX線源16の位置と放射線検出器15との位置関係に基づいて、複数の投影画像を特徴点が検出された断層画像に対応する対応断層面に投影して、複数の投影画像のそれぞれに対応する断層面投影画像を取得する投影処理、対応断層面において、特徴点を基準として、乳房Mの体動に基づく複数の断層面投影画像間の位置ずれ量を導出する位置ずれ量導出処理、位置ずれ量を補正して複数の投影画像を再構成することにより、被写体の少なくとも1つの断層面における補正済み断層画像を生成する再構成処理、並びに断層画像等を表示部3に表示する表示制御処理を規定する。
そして、CPU21が断層画像生成プログラムに従いこれらの処理を実行することで、コンピュータ2は、画像取得部31、再構成部32、特徴点検出部33、投影部34、位置ずれ量導出部35、および表示制御部36として機能する。
画像取得部31は、画像取得処理を行うに際し、アーム部12を回転軸11の周りに回転させることによりX線源16を移動させ、X線源16の移動による複数の線源位置において、トモシンセシス撮影用の予め定められた撮影条件により被写体である乳房MにX線を照射し、乳房Mを透過したX線を放射線検出器15により検出して、複数の線源位置における複数の投影画像Gi(i=1~n、nは線源位置の数であり、例えばn=15)を取得する。
図4は投影画像Giの取得を説明するための図である。図4に示すように、X線源16をS1、S2、・・・、Snの各線源位置に移動し、各線源位置においてX線源16を駆動して乳房MにX線を照射し、乳房Mを透過したX線を放射線検出器15により検出することにより、各線源位置S1~Snに対応して、投影画像G1、G2、・・・、Gnが取得される。なお、各線源位置S1~Snにおいては、同一の線量のX線が乳房Mに照射される。取得された複数の投影画像Giはストレージ23に保存される。また、断層画像生成プログラムとは別個のプログラムにより複数の投影画像Giを取得してストレージ23または外部保存装置に保存するようにしてもよい。この場合、画像取得部31は、ストレージ23または外部保存装置に保存された複数の投影画像Giを、再構成処理等のためにストレージ23または外部保存装置から読み出すものとなる。
なお、図4において、線源位置Scは、X線源16から出射されたX線の光軸X0が放射線検出器15の検出面15Aと直交する線源位置である。線源位置Scを基準線源位置Scと称し、基準線源位置Scにおいて乳房MにX線を照射することにより取得される投影画像Gcを基準投影画像Gcと称するものとする。ここで、「X線の光軸X0が放射線検出器15の検出面15Aと直交する」とは、X線の光軸X0が放射線検出器15の検出面15Aに対して90度の角度で交わることを意味するが、これに限定されるものではなく、90度に対してある程度の誤差を持って交わる場合も含む。例えば、90度に対して±3度程度の誤差を持ってX線の光軸X0が放射線検出器15の検出面15Aと交わる場合も、本実施形態における「X線の光軸X0が放射線検出器15の検出面15Aと直交する」に含まれる。
再構成部32は、複数の投影画像Giの全部または一部を再構成することにより、乳房Mの所望とする断層面を強調した断層画像を生成する。具体的には、再構成部32は、単純逆投影法あるいはフィルタ逆投影法等の周知の逆投影法等を用いて複数の投影画像Giの全部または一部を再構成して、図5に示すように、乳房Mの複数の断層面のそれぞれにおける複数の断層画像Dj(j=1~m)を生成する。この際、乳房Mを含む3次元空間における3次元の座標位置が設定され、設定された3次元の座標位置に対して、複数の投影画像Giの対応する画素位置の画素値が再構成されて、その座標位置の画素値が算出される。なお、再構成部32は、後述するようにトモシンセシス撮影中における乳房Mの体動に基づく位置ずれ量が導出されると、位置ずれ量を補正して複数の投影画像Giを再構成することにより、体動が補正された補正済み断層画像を生成する。
特徴点検出部33は、複数の断層画像Djから少なくとも1つの特徴点を検出する。図6は特徴点の検出を説明するための図である。ここでは、複数の断層画像Djのうちの1つの断層画像Dkからの特徴点の検出について説明する。図6に示すように、断層画像Dkには、断層画像Dkを取得した乳房Mの断層面における石灰化等の点状構造物E1~E3および血管の交点等のエッジの交点E4,E5が含まれる。
特徴点検出部33は、公知のコンピュータ支援画像診断(CAD: Computer Aided Diagnosis、以下CADと称する)のアルゴリズムを用いて、断層画像Dkから石灰化等の点状構造物を特徴点として検出する。また、Harrisのコーナー検出法、SIFT(Scale-Invariant Feature Transform)、FAST(Features from Accelerated Segment Test)あるいはSURF(Speeded Up Robust Features)等のアルゴリズムを用いて、断層画像Dkに含まれる、エッジ、エッジの交点およびエッジの角部等を特徴点として検出する。例えば、特徴点検出部33は、図6に示す断層画像Dkに含まれる点状構造物E1を特徴点F1として検出する。
なお、ここでは説明のために1つの断層画像Dkから1つの特徴点F1のみを検出しているが、複数の特徴点を検出することが好ましい。例えば、図6に示す断層画像Dkに含まれる点状構造物E1~E3および交点E4,E5のすべてを特徴点として検出してもよい。なお、特徴点は断層画像Dkにおける1つの画素のみであってもよく、特徴となる構造の位置を表す複数の画素からなるものであってもよい。また、ここでは説明のため、1つの断層画像Dkからのみ特徴点を検出しているが、実際には複数の断層画像のそれぞれから複数の特徴点が検出されるものとする。
投影部34は、複数の投影画像Giのそれぞれについての撮影時の線源位置と放射線検出器15との位置関係に基づいて、特徴点F1が検出された断層画像に対応する断層面である対応断層面に、複数の投影画像Giを投影する。そしてこれにより、投影部34は、複数の投影画像Giのそれぞれに対応する断層面投影画像GTiを取得する。以下、断層面投影画像GTiの取得について説明する。なお、本実施形態においては、複数の断層画像Djのそれぞれにおいて特徴点が検出されているため、複数の断層画像Djに対応する複数の断層面Tjのそれぞれに複数の投影画像Giが投影されて、断層面投影画像GTiが生成される。
図7は投影画像の投影を説明するための図である。なお、図7においては、線源位置Siにおいて取得された1つの投影画像Giを、乳房Mにおける1つの断層面Tjに投影する場合について説明する。本実施形態においては、図7に示すように、線源位置Siと投影画像Gi上の画素位置とを結ぶ直線と、断層面Tjとが交差する位置に、この直線上に位置する投影画像Giの画素値を投影する。
なお、投影画像Giおよび断層面Tjにおいて生成される断層画像は、所定のサンプリング間隔にて2次元状に離散的に配置された複数の画素からなるものであり、所定のサンプリング間隔となる格子点に画素が配置される。図7においては、投影画像Giおよび断層面Tjに直交する短い線分が、画素の区切り位置を示す。したがって、図7においては、画素の区切り位置の中央の位置が格子点である画素位置となる。
ここで、線源位置Siにおける線源位置の座標(sxi,syi,szi)、投影画像Gi上の画素位置Piの座標(pxi,pyi)、および断層面Tjにおける投影位置の座標(tx,ty,tz)の関係は、下記の式(1)により表される。なお、本実施形態においては、放射線検出器15の検出面15Aに垂直な方向にz軸を、放射線検出器15の検出面においてX線源16が移動する方向と平行な方向にy軸を、y軸に直交する方向にx軸をそれぞれ設定するものとする。
pxi=(tx×szi-sxi×tz)/(szi-tz)
pyi=(ty×szi-syi×tz)/(szi-tz) (1)
したがって、式(1)におけるpxi,pyiを投影画像Giの画素位置とし、式(1)をtx,tyについて解くことにより、投影画像Giの画素値が投影される断層面Tj上の投影位置を算出することができる。したがって、算出した断層面Tj上の投影位置に投影画像Giの画素値を投影することにより、断層面投影画像GTiが生成される。
この場合、線源位置Siと投影画像Gi上の画素位置とを結ぶ直線と断層面Tjとの交点が、断層面Tj上の画素位置とならない場合がある。例えば、図8に示すように、断層面Tj上の投影位置tx,ty,tz)が、断層面Tj上の断層画像Djの画素位置O1~O4の間に位置する場合がある。この場合、各画素位置O1~O4の周囲にある複数の投影位置における投影画像の画素値を用いた補間演算を行って各画素位置の画素値を算出すればよい。なお、補間演算としては、画素位置とその周囲にある複数の投影位置との距離に応じて、投影位置における投影画像の画素値に重み付けをする線形補間演算を用いることができる。またこれ以外に、画素位置の周囲におけるより多くの投影位置の画素値を用いた非線形のバイキュービック補間演算、およびB-スプライン補間演算等の任意の手法を用いることができる。また、補間演算の他、画素位置に最も近い投影位置の画素値をその画素位置の画素値として用いるようにしてもよい。これにより、投影画像Giについて、断層面Tjの全画素位置における画素値が求められる。本実施形態においては、複数の投影画像Giのそれぞれについて、このようにして断層面Tjの全画素位置において求められた画素値を有する断層面投影画像GTiが生成される。したがって、1つの断層面において、断層面投影画像GTiの数は投影画像Giの数と一致する。
位置ずれ量導出部35は、トモシンセシス撮影中の乳房Mの体動に基づく、複数の断層面投影画像GTi間の位置ずれ量を導出する。まず、位置ずれ量導出部35は、複数の断層面投影画像GTiに対して、特徴点F1に対応する局所領域を関心領域として設定する。具体的には、特徴点F1の座標位置を中心とする予め定められた大きさの局所領域を関心領域として設定する。図9は関心領域の設定を説明するための図である。なお、図9においては、説明のために断層面Tjに3つの投影画像G1~G3が投影されて断層面投影画像GT1~GT3が生成されているものとする。図9に示すように、位置ずれ量導出部35は、断層面Tjにおける断層画像Djにおいて、特徴点F1の座標位置を中心とする関心領域Rf0を設定する。そして、断層面投影画像GT1~GT3のそれぞれにおいて、関心領域Rf0に対応する関心領域R1~R3を設定する。なお、図9における破線が関心領域R1~R3とそれ以外の領域との境界を示す。したがって、断層面Tj上において、関心領域Rf0および関心領域R1~R3の位置は一致することとなる。図10は断層面投影画像GT1~GT3に設定された関心領域R1~R3を示す図である。なお、体動は大きい場合には2mm程度となることがある。このため、1画素の大きさが100μm四方の断層画像または断層面投影画像の場合、関心領域R1~R3は、例えば特徴点F1の周辺の50×50画素、あるいは100×100画素等の領域とすればよい。
さらに、位置ずれ量導出部35は、関心領域R1~R3の位置合わせを行う。この際、基準となる断層面投影画像に設定した関心領域を基準として位置合わせを行う。本実施形態においては、X線源16からのX線の光軸X0が放射線検出器15と直交する線源位置Scにおいて取得した基準投影画像(Gsとする)についての断層面投影画像(基準断層面投影画像とする)に設定した関心領域を基準として、他の関心領域の位置合わせを行う。
ここで、図10に示す関心領域R2が基準断層面投影画像に設定されたものとする。この場合、位置ずれ量導出部35は、関心領域R2に対する関心領域R1,R3の位置合わせを行い、関心領域R2に対する関心領域R1,R3の移動方向および移動量を表すシフトベクトルを位置ずれ量として導出する。なお、位置合わせは、関心領域R2に対する関心領域R1,R3の相関が最大となるように、予め定められた探索範囲において、関心領域R2に対する関心領域R1,R3の移動方向および移動量を求めることを意味する。ここで、相関としては正規化相互相関を用いればよい。また、断層面投影画像GTiのうちの1つの基準断層面投影画像を基準としているため、シフトベクトルは断層面投影画像の数よりも1つ少ないものとなる。例えば断層面投影画像の数が15であれば、シフトベクトルの数は14となり、断層面投影画像の数が3であれば、シフトベクトルの数は2となる。
図11は、投影画像G1~G3を取得する間に体動が発生していない場合の3つの関心領域R1~R3内の画像を示す図である。なお、図11においては、関心領域R1~R3の中心位置、すなわち断層面投影画像GT1~GT3における特徴点F1に対応する位置P1~P3を示し、関心領域R1~R3に含まれる特徴点F1の像F2を大きい丸印により示している。図11に示すように、投影画像G1~G3を取得する間に体動が発生していない場合、3つの関心領域R1~R3のすべてにおいて、特徴点F1に対応する位置P1~P3と、特徴点F1の像F2の位置とが一致する。このため、関心領域R2に対する関心領域R1,R3のシフトベクトル、すなわち位置ずれ量はいずれも0となる。
図12は投影画像G1~G3のうち、投影画像G2および投影画像G3を取得する間に体動が発生した場合の3つの関心領域R1~R3内の画像を示す図である。図12においては、投影画像G1および投影画像G2を取得する間には体動が発生していないため、関心領域R1,R2における特徴点F1に対応する位置P1,P2と、関心領域R1,R2に含まれる特徴点F1の像F2の位置とが一致する。このため、関心領域R2に対する関心領域R1の位置ずれ量は0となる。一方、投影画像G2および投影画像G3を取得する間には体動が発生しているため、関心領域R3における特徴点F1に対応する位置P3と、関心領域R3に含まれる特徴点F1の像F2の位置とが一致しない。このため、関心領域R3は関心領域R2に対して移動量および移動方向が発生し、その結果、大きさおよび方向を有するシフトベクトルV10が位置ずれ量として導出される。
なお、位置ずれ量を導出する際には、乳房Mについての乳腺密度、乳房Mの大きさ、トモシンセシス撮影の撮影時間、トモシンセシス撮影時における乳房Mの圧迫圧、および乳房の撮影方向の少なくとも1つに応じて、位置ずれ量導出時の探索範囲を変更してもよい。図13は探索範囲の変更を説明するための図である。図13に示すように、基準となる関心領域R2に対する関心領域R1,R3の探索範囲として、小さい探索範囲H1および大きい探索範囲H2の2種類の探索範囲が設定されている。
ここで、乳腺密度が小さい場合、乳房Mにおける脂肪量が多くなるため、撮影時において体動が大きくなる傾向にある。また、乳房Mが大きい場合も、撮影時において体動が大きくなる傾向にある。また、トモシンセシス撮影の時間が長いほど、撮影時において体動が大きくなる傾向にある。また、乳房Mの撮影方向がMLO(Medio-Lateral Oblique、内外斜位方向)の場合、CC(Cranio-Caudal、頭尾方向)よりも、撮影時において体動が大きくなる傾向にある。
このため、乳房Mについての乳腺密度、乳房Mの大きさ、トモシンセシス撮影の撮影時間、トモシンセシス撮影時における乳房Mの圧迫圧、および乳房Mの撮影方向の少なくとも1つの情報の入力部4からの入力を受けて、位置ずれ量導出部35は、位置ずれ量導出時の探索範囲を変更することが好ましい。具体的には、体動が大きくなる傾向の場合には、図13に示す大きい探索範囲H2を設定すればよい。逆に体動が小さくなる傾向の場合には、図13に示す小さい探索範囲H1を設定すればよい。
なお、上記では説明のために1つの断層面Tjにおいて検出した1つの特徴点F1についてのみ、複数の断層面投影画像GTiの位置ずれ量を導出している。しかしながら、実際には、位置ずれ量導出部35は、図14に示すように、複数の断層画像Djにより表される乳房M内の3次元空間において複数の異なる特徴点F(ここでは黒丸で表す10個の特徴点)に関して位置ずれ量を導出する。これにより、体動が発生した状態で取得された投影画像に対応する断層面投影画像については、複数の異なる特徴点Fに関する位置ずれ量が導出される。位置ずれ量導出部35は、断層画像Djを生成する3次元空間の座標位置に対して、複数の異なる特徴点Fについての位置ずれ量を補間する。これにより、位置ずれ量導出部35は、体動が発生した状態で取得された断層面投影画像について、断層画像を生成する3次元空間のすべての座標位置について、再構成を行う際の位置ずれ量を導出する。
そして再構成部32は、このようにして導出された位置ずれ量を補正しつつ、投影画像Giを再構成することにより、体動が補正された補正済み断層画像Dhjを生成する。具体的には、再構成が逆投影法を用いたものである場合、位置ずれが生じている投影画像Giの画素を、導出された位置ずれ量に基づいて、他の投影画像の対応する画素が逆投影される位置に投影されるように位置ずれを補正することにより、再構成を行う。
なお、複数の異なる特徴点Fにおいて位置ずれ量を導出することに代えて、複数の異なる特徴点Fから1つの位置ずれ量を導出するようにしてもよい。この場合、複数の異なる特徴点Fのそれぞれに対して関心領域を設定し、関心領域の全体が同じ方向に同じ量だけ移動していると仮定して、位置ずれ量を導出する。この場合、位置ずれ量導出の対象となる断層面投影画像間におけるすべての関心領域についての相関の代表値(例えば平均値、中間値および最大値等)が最大となるように位置ずれ量を導出すればよい。ここで、断層面投影画像における個々の特徴点Fの信号対ノイズ比があまりよくない場合には、位置ずれ量の導出精度が悪くなる。しかしながら、このように複数の異なる特徴点Fから1つの位置ずれ量を導出することにより、個々の特徴点Fの信号対ノイズ比があまりよくない場合であっても、位置ずれ量の導出精度を向上させることができる。
なお、複数の断層画像Djにより表される乳房M内の3次元空間を複数の3次元領域に分割し、領域毎に上記と同様に複数の特徴点Fから1つの位置ずれ量を導出するようにしてもよい。
表示制御部36は、生成された補正済み断層画像を表示部3に表示する。図15は補正済み断層画像の表示画面を示す図である。図15に示すように、表示画面40には、体動補正前の断層画像Djおよび体動補正がなされた補正済み断層画像Dhjが表示される。断層画像Djには体動補正されていないことが分かるように、「補正前」のラベル41が付与されている。補正済み断層画像Dhjには体動補正されていることが分かるように、「補正後」のラベル42が付与されている。なお、断層画像Djに対してのみラベル41を付与してもよく、補正済み断層画像Dhjに対してのみラベル42を付与してもよい。なお、補正済み断層画像Dhjのみを表示してもよいことはもちろんである。図15において、補正前の断層画像Djに含まれる構造物がぼけていることを破線で示し、補正済み断層画像Dhjに含まれる構造物がぼけていないことを実線にて示している。
また、断層画像Djおよび補正済み断層画像Dhjは同一の断面を表示することが好ましい。また、入力部4からの指示により表示する断層面を切り替える際に、断層画像Djおよび補正済み断層画像Dhjにおいて表示する断層面を連動させることが好ましい。また、断層画像Djおよび補正済み断層画像Dhjに加えて、投影画像Giを表示してもよい。
操作者は、表示画面40を見て、体動補正の成否の確認を行うことができる。また、体動が大きすぎる場合には、本実施形態のように位置ずれ量を補正しつつ再構成を行って断層画像を生成しても、体動を精度よく補正できず、体動補正に失敗する場合がある。このような場合は、体動補正に失敗して補正済み断層画像Dhjよりも断層画像Djの方が高画質となる場合がある。このため、入力部4において、断層画像Djおよび補正済み断層画像Dhjのいずれを保存するかの指示を受け付け、指示された画像をストレージ23または外部保存装置に保存するようにしてもよい。
次いで、第1の実施形態において行われる処理について説明する。図16は第1の実施形態において行われる処理を示すフローチャートである。操作者による処理開始の指示を入力部4が受け付けると、画像取得部31は放射線画像撮影装置1にトモシンセシス撮影を行わせて複数の投影画像Giを取得する(ステップST1)。そして、再構成部32が、複数の投影画像Giの全部または一部を再構成して複数の断層画像Djを生成する(ステップST2)。次いで、特徴点検出部33が、複数の断層画像Djから少なくとも1つの特徴点を検出する(ステップST3)。さらに、投影部34が、複数の投影画像Giのそれぞれについての撮影時の線源位置と放射線検出器15との位置関係に基づいて、複数の投影画像Giを特徴点F1が検出された断層画像に対応する対応断層面に投影して、複数の投影画像Giのそれぞれに対応する断層面投影画像GTiを取得する(ステップST4)。
そして、位置ずれ量導出部35が、複数の断層面投影画像GTi間の位置ずれ量を導出する(ステップST5)。さらに、再構成部32が、位置ずれ量を補正しつつ、複数の投影画像Giを再構成することにより補正済み断層画像Dhjを生成する(ステップST6)。そして、表示制御部36が補正済み断層画像Dhjを表示部3に表示し(ステップST7)、処理を終了する。なお、生成された補正済み断層画像Dhjは、不図示の外部保存装置に送信され、保存される。
このように、第1の実施形態によれば、トモシンセシス撮影による複数の投影画像Giが取得され、複数の投影画像Giの全部または一部が再構成されて、乳房Mの複数の断層面Tjのそれぞれにおける断層画像Djが生成される。そして、複数の断層画像Djから少なくとも1つの特徴点が検出され、複数の投影画像Giのそれぞれについての撮影時の線源位置と放射線検出器15との位置関係に基づいて、複数の投影画像Giが、特徴点が検出された断層画像に対応する対応断層面に投影されて、複数の投影画像Giのそれぞれに対応する断層面投影画像GTiが取得される。さらに、対応断層面において、特徴点を基準として複数の断層面投影画像間の位置ずれ量が導出され、位置ずれ量を補正して複数の投影画像Giを再構成することにより、補正済み断層画像Dhjが生成される。
このように、第1の実施形態においては、投影画像Giまたは断層面投影画像GTiからではなく、複数の断層画像Djから特徴点を検出している。ここで、断層画像Djは対応する断層面Tjに含まれる構造物のみを含む。このため、投影画像Giに含まれるような他の断層面における構造物は断層画像Djには含まれないこととなる。したがって、第1の実施形態によれば、他の断層面の構造物に影響されることなく、精度よく特徴点を検出することができる。よって、複数の投影画像Gi間の位置ずれ量を適切に導出することができ、その結果、本実施形態によれば、体動の影響が低減された、高画質の補正済み断層画像Dhjを取得することができる。
次いで、本開示の第2の実施形態について説明する。第2の実施形態による断層画像生成装置の構成は、図3に示す第1の実施形態による断層画像生成装置の構成と同一であり、行われる処理のみが異なるため、ここでは装置についての詳細な説明は省略する。上記第1の実施形態においては、断層面投影画像GTi間において位置ずれ量を導出している。第2の実施形態においては、断層画像Djにおいて特徴点F1の座標位置を中心とする関心領域Rf0を設定し、設定した関心領域Rf0に対する断層面投影画像GTiに設定した関心領域Riの位置ずれ量を仮の位置ずれ量として導出する。そして、導出した仮の位置ずれ量に基づいて、複数の断層面投影画像GTi間の位置ずれ量を導出するようにした点が第1の実施形態と異なる。なお、複数の断層面投影画像GTiに設定した関心領域Riが第1の局所領域に対応し、断層画像Djに設置した関心領域Rf0が第2の局所領域に対応する。
図17は第2の実施形態における位置ずれ量の導出を説明するための図である。なお、図17における関心領域Rf0および関心領域R1~R3は、上記図9等に示した関心領域Rf0および関心領域R1~R3と同一である。第2の実施形態においては、位置ずれ量導出部35は、まず断層画像Djに設定した関心領域Rf0を基準として、関心領域Rf0に対する断層面投影画像GTi(図17においてはGT1~GT3)に設定した関心領域R1~R3の位置ずれ量を仮の位置ずれ量として導出する。投影画像G1~G3を取得する間に体動が発生していない場合、3つの関心領域R1~R3のすべてにおいて特徴点F1に対応する位置P1~P3と、特徴点F1の像F2の位置とが一致する。このため、関心領域Rf0に対する関心領域R1~R3のシフトベクトル(以下、Vf1,Vf2,Vf3とする)、すなわち仮の位置ずれ量はいずれも0となる。
図18は投影画像G1~G3のうち、投影画像G2および投影画像G3を取得する間に体動が発生した場合の3つの関心領域R1~R3内の画像を示す図である。図18においては、投影画像G1および投影画像G2を取得する間には体動が発生していないため、関心領域R1,R2における特徴点F1に対応する位置P1,P2と、関心領域R1,R2に含まれる特徴点F1の像F2の位置とが一致する。このため、関心領域Rf0に対する関心領域R1,R2の位置ずれ量は0となる。一方、投影画像G2および投影画像G3を取得する間には体動が発生しているため、関心領域R3における特徴点F1に対応する位置P3と、関心領域R3に含まれる特徴点F1の像F2の位置とが一致しない。このため、関心領域R3は関心領域Rf0に対して移動量および移動方向が発生する。したがって、関心領域Rf0に対する関心領域R1,R2のシフトベクトルVf1,Vf2、すなわち、仮の位置ずれ量は0となるが、関心領域Rf0に対する関心領域R3のシフトベクトルVf3、すなわち仮の位置ずれ量は値を有するものとなる。
第2の実施形態において、位置ずれ量導出部35は、仮の位置ずれ量に基づいて断層面投影画像GTi間の位置ずれ量を導出する。具体的には、上記第1の実施形態と同様に、X線源16からのX線の光軸X0が放射線検出器15と直交する基準線源位置Scにおいて取得した投影画像を基準として、位置ずれ量を導出する。ここで、投影画像G2を基準断層面投影画像とすると、位置ずれ量導出部35は、断層面投影画像GT1と断層面投影画像GT2との位置ずれ量を、関心領域Rf0に対する関心領域R1,R2のシフトベクトルVf1,Vf2の差分値Vf1-Vf2により導出する。また、位置ずれ量導出部35は、断層面投影画像GT3と断層面投影画像GT2との位置ずれ量を、関心領域Rf0に対する関心領域R3,R2のシフトベクトルVf3,Vf2の差分値Vf3-Vf2により導出する。
このように、第2の実施形態においては、断層画像Djに設定した関心領域Rf0に対する、断層面投影画像GTiに設定した関心領域R1~R3との仮の位置ずれ量を導出し、仮の位置ずれ量に基づいて、断層面投影画像GTi間の位置ずれ量を導出するようにした。ここで、関心領域Rf0は断層画像Djに設定されているため、投影画像Giとは異なり、断層画像Djを取得した断層面にある構造物のみしか含まれていない。したがって、第2の実施形態によれば、特徴点を設定した断層面以外の断層面に含まれる構造物の影響を低減して、位置ずれ量が導出されることとなる。したがって、第2の実施形態によれば、他の断層面の構造物の影響をより低減して、複数の投影画像Gi間の位置ずれ量を精度よく導出することができ、その結果、第2の実施形態によれば、体動の影響が低減された、高画質の補正済み断層画像Dhjを取得することができる。
なお、第2の実施形態においても、第1の実施形態と同様に、乳房Mについての乳腺密度、乳房Mの大きさ、トモシンセシス撮影の撮影時間、トモシンセシス撮影時における乳房Mの圧迫圧、および乳房Mの撮影方向の少なくとも1つに応じて、位置ずれ量導出時の探索範囲を変更してもよい。
また、第2の実施形態においては、関心領域Rf0に対する関心領域R1~R3のシフトベクトルVf1~Vf3を仮の位置ずれ量として導出しているが、この際に、図19に示すように関心領域Rf0における特徴点F1の周囲に、関心領域Rf0よりも小さい周囲領域Ra0を設定し、周囲領域Ra0に基づいて、シフトベクトルを導出してもよい。この場合、周囲領域Ra0のみを用いてシフトベクトルを導出してもよい。また、関心領域R1~R3の間の相関を導出する際に、周囲領域Ra0に対して関心領域R1~R3における周囲領域Ra0以外の領域よりも大きい重み付けを行うようにしてもよい。
また、上記第2の実施形態においては、断層画像Djに関心領域Rf0を設定しているが、仮の位置ずれ量を導出する断層面投影画像GTi毎に、生成する断層画像を異なるものとしてもよい。具体的には、仮の位置ずれ量を導出する対象となる対象断層面投影画像に対応する対象投影画像を除いて断層画像を生成することが好ましい。以下、これを第3の実施形態として説明する。
図20は第3の実施形態において行われる処理を模式的に示す図である。なお、ここでは、乳房Mにおける断層面Tjにおいて、15の投影画像G1~G15のうちの投影画像G1を対象投影画像、断層面投影画像GT1を対象断層面投影画像として、投影画像G1についての仮の位置ずれ量を導出する場合について説明する。この場合、再構成部32において、断層面Tjにおいて投影画像G1以外の投影画像G2~G15を再構成して断層画像(Dj_1とする)を生成する。そして、特徴点検出部33が断層画像Dj_1から特徴点を検出し、投影部34が投影画像G1~G15から断層面投影画像GT1~GT15を生成し、位置ずれ量導出部35が、断層画像Dj_1に関心領域Rf0_1を設定し、関心領域Rf0_1に対する断層面投影画像GT1に設定した関心領域R1のシフトベクトルVf1を仮の位置ずれ量として導出する。
なお、投影画像G2についての仮の位置ずれ量を導出する場合、再構成部32において、投影画像G2以外の投影画像G1,G3~G15を再構成して断層画像(Dj_2とする)を生成する。そして、特徴点検出部33が断層画像Dj_2から特徴点を検出し、投影部34が投影画像G1~G15から断層面投影画像GT1~GT15を生成し、位置ずれ量導出部35が、断層画像Dj_2に関心領域Rf0_2を設定し、関心領域Rf0_2に対する断層面投影画像GT2に設定した関心領域R2のシフトベクトルVf2を仮の位置ずれ量として導出する。
そして、対象断層面投影画像を順次変更してすべての断層面投影画像GTiについての仮の位置ずれ量を導出し、仮の位置ずれ量から上記第2の実施形態と同様に、断層面投影画像GTi間の位置ずれ量を導出する。
このように、第3の実施形態によれば、対象投影画像による影響がない断層画像を用いて仮の位置ずれ量が導出されることとなる。このため、仮の位置ずれ量をより精度よく導出することができ,その結果、位置ずれ量を精度よく導出することができる。
なお、第3の実施形態においては、対象投影画像を除いた断層画像を再構成する際には、下記の式(2)に示すように、すべての投影画像Giを再構成することにより生成した断層画像Djの各画素の画素値Dpから対象投影画像の対応する画素値Gpを減算し、減算した画素値をn/(n-1)倍することにより算出してもよい。式(2)の手法は簡易な手法ではあるが、対象投影画像を除いた断層画像を生成するための演算量を低減することができるため、仮の位置ずれ量導出のための処理を高速に行うことができる。
対象投影画像を除いた断層画像=(Dp-Gp)×n/(n-1) (2)
次いで、本開示の第4の実施形態について説明する。図21はコンピュータ2に第4の実施形態による断層画像生成プログラムをインストールすることにより実現された断層画像生成装置の概略構成を示す図である。なお、図21において図3と同一の構成については図3と同一の参照番号を付与し、ここでは詳細な説明は省略する。第4の実施形態による断層画像生成装置は、複数の断層画像のうちの2以上の断層画像、または複数の断層画像の少なくとも1つと複数の投影画像Giの少なくとも1つとを合成して、合成2次元画像を生成する合成部37をさらに備えた点が第1の実施形態と異なる。
第4の実施形態においては、合成部37は例えば特開2014-128716号公報に記載された手法を用いて合成2次元画像を生成する。特開2014-128716号公報に記載された手法は、複数の断層画像のうちの2以上の断層画像、または複数の断層画像の少なくとも1つと少なくとも1つの投影画像とを被写体における断層面が並ぶ深さ方向に投影することにより、合成2次元画像を生成する手法である。なお、合成2次元画像を生成する手法はこれに限定されるものではない。例えば、複数の断層画像のうちの2以上の断層画像、または複数の断層画像の少なくとも1つと投影画像の少なくとも1つとを被写体における断層面が並ぶ深さ方向において、最小値投影法を用いることにより合成2次元画像を生成してもよい。
第4の実施形態においては、特徴点検出部33は、まず合成2次元画像から2次元特徴点を検出する。2次元特徴点の検出は上記各実施形態と同様に行えばよい。そして、特徴点検出部33は、予め作成された深さマップを参照して、複数の断層画像Djから2次元特徴点に対応する特徴点を検出する。
深さマップとは、合成2次元画像上の各位置と、各位置に対応する断層面の位置を表す深さ情報とを対応づけたマップである。深さマップは、例えば国際公開第2014/203531号に記載された手法を用いて予め作成しておく。国際公開第2014/203531号に記載された手法は、まず、合成2次元画像を複数の局所領域に分割し、分割により得られる各領域と複数の断層画像Djとの相関を求める。例えば、図22に示すように、合成2次元画像C0を6×8の局所領域に分割し、分割した各領域について、複数の断層画像Djとの相関を求める。そして、相関が最も大きくなった領域を含む断層画像Djの断層面の基準位置からの深さを、各領域の位置と対応づけて深さマップを作成する。基準位置は、例えば乳房Mの圧迫板17との接触面とすればよい。ここで、断層画像Djを生成する際の断層面Tjの位置は既知である。このため、深さマップを参照すれば、合成2次元画像C0における各局所領域に対応する断層面の位置を特定することができる。
第4の実施形態において、特徴点検出部33は、深さマップを参照して、検出した2次元特徴点の断層面を特定する。そして、特定した断層面において、2次元特徴点に対応する特徴点を検出する。
ここで、複数の断層画像Djは情報量が多いため、特徴点の検出のための演算量が多くなる。第4の実施形態においては、合成2次元画像C0から2次元特徴点を検出し、深さマップを参照して複数の断層画像Djから2次元特徴点に対応する特徴点を検出するようにした。このため、深さマップを予め作成しておけば、演算量を低減して迅速に特徴点を検出することができる。
なお、第4の実施形態においては、表示制御部36は、補正済み断層画像と併せて合成2次元画像を表示部3に表示するようにしてもよい。
次いで、第5の実施形態について説明する。なお、第5の実施形態による断層画像生成装置の構成は、図3に示す第1の実施形態による断層画像生成装置の構成と同一であり、行われる処理のみが異なるため、ここでは装置についての詳細な説明は省略する。第5の実施形態においては、補正済み断層画像Dhjを新たな断層画像として、特徴点の検出、断層面投影画像の取得、位置ずれ量の導出および新たな補正済み断層画像の生成を繰り返し行うようにした点が第1の実施形態と異なる。
図23は第5の実施形態において行われる処理を示すフローチャートである。なお、図23において、ステップST11~ステップST15までの処理は、図16に示すステップST1~ステップST5までの処理と同一であるため、ここでは詳細な説明は省略する。ステップST15において位置ずれ量が導出されると、位置ずれ量導出部35は、位置ずれ量が収束したか否かを判定する(ステップST16)。位置ずれ量が収束したか否かの判定は、各断層面投影画像GTiについて導出された位置ずれ量が予め定められたしきい値Th1以下となった否かを判定することにより行えばよい。しきい値Th1は、これ以上位置ずれ量を補正しなくても、断層画像に体動の影響がないといえる程度の値に設定すればよい。なお、複数の断層面投影画像GTiについて導出された位置ずれ量の平均値が、しきい値Th1以下となったか否かを判定することにより、位置ずれ量が収束したか否かの判定を行ってもよい。ステップST16が肯定されると、位置ずれ量を補正する必要はないことから、表示制御部36が断層画像を表示し(ステップST17)、処理を終了する。
ステップST16が否定されると、再構成部32は、位置ずれ量を補正しつつ、複数の投影画像Giを再構成することにより補正済み断層画像Dhjを新たな断層画像として生成する(ステップST18)。そして、ステップST13の処理に戻り、特徴点検出部33が、複数の新たな断層画像から特徴点を検出し、ステップST14において、投影部34が新たな複数の断層面投影画像を取得し、ステップST15において、位置ずれ量導出部35が、新たな複数の断層面投影画像間の新たな位置ずれ量を導出し、ステップST16において、位置ずれ量が予め定められたしきい値Th1以下であるか否かを判定する。そして、ステップST16が肯定されるまで、ステップST18およびステップST13~ステップST15の処理が繰り返される。なお、補正済み断層画像が新たな断層画像として生成された場合、ステップST17において表示される断層画像は新たな断層画像となる。
このように、第5の実施形態においては、新たな断層画像に基づく新たな位置ずれの導出を、位置ずれ量が収束するまで繰り返すようにした。このため、適切に体動に起因する位置ずれをより効果的に除去することができ、その結果、より高画質の断層画像を取得することができる。
なお、上記第2の実施形態から第4の実施形態においても、第5の実施形態と同様に、新たな断層画像に基づく新たな位置ずれの導出を、位置ずれ量が収束するまで繰り返すようにしてもよい。
また、上記各実施形態においては、位置ずれ量導出部35が導出した位置ずれ量を予め定められたしきい値と比較し、位置ずれ量がしきい値を超えた場合にのみ、位置ずれ量を補正しつつ、断層画像を再構成するようにしてもよい。なお、しきい値は、位置ずれ量を補正しなくても断層画像に体動の影響がないといえる程度の値に設定すればよい。この場合、図24に示すように、体動がしきい値を超えたことを通知するための警告表示45を表示部3に表示してもよい。操作者は警告表示45において、YESまたはNOを選択することにより、体動補正を行うか否かの指示を行うことができる。
また、上記各実施形態においては、位置ずれ量および仮の位置ずれ量の導出を容易に行うために、断層画像Djおよび断層面投影画像GTiに関心領域を設定し、関心領域の移動方向および移動量をシフトベクトル、すなわち位置ずれ量および仮の位置ずれ量として導出しているが、これに限定されるものではない。関心領域を設定することなく、位置ずれ量を導出してもよい。
次いで、本開示の第6の実施形態について説明する。図25はコンピュータ2に第6の実施形態による断層画像生成プログラムをインストールすることにより実現された断層画像生成装置の概略構成を示す図である。なお、図25において図3と同一の構成については図3と同一の参照番号を付与し、ここでは詳細な説明は省略する。第6の実施形態による断層画像生成装置は、複数の特徴点Fのそれぞれが検出された断層画像に対応する対応断層面が、焦点面であるか否かを判別する焦点面判別部38をさらに備え、位置ずれ量導出部35が、焦点面と判別された対応断層面において位置ずれ量を導出するようにした点が第1の実施形態と異なる。なお、第6の実施形態による処理は、第2から第5の実施形態にも適用可能であるが、ここでは第1の実施形態に適用した場合についてのみ説明する。
ここで、トモシンセシス撮影により取得される断層画像においては、構造物が存在する断層画像以外の断層画像に、その構造物の映り込みが発生する。これをリップルアーチファクトという。図26はリップルアーチファクトを説明するための図である。図26に示すように、ある構造物48が断層画像D3に含まれていたとすると、断層画像D3の上下の断層面に対応する断層画像に、構造物48のリップルアーチファクトが含まれる。リップルアーチファクトは、構造物48が含まれる断層面から離れるほど範囲が広がり、かつぼけることとなる。なお、リップルアーチファクトが広がる範囲は、X線源16が移動する範囲と対応する。
ここで、特徴点検出部33が対応断層面の断層画像Djから検出した特徴点Fがリップルアーチファクトであった場合、特徴点Fはぼけており、かつ広範囲に広がっているものとなる。このため、そのような特徴点Fを用いたのでは、位置ずれ量を精度よく導出することができない。
このため、第6の実施形態においては、特徴点Fが検出された対応断層面が焦点面であるか否かを、焦点面判別部38が判別するようにし、焦点面であると判別された対応断層面において、投影部34が断層面投影画像GTiを生成し、位置ずれ量導出部35が位置ずれ量を導出するようにした。具体的には、焦点面であると判別された対応断層面において検出された特徴点を用いて、位置ずれ量を導出するようにした。以下、焦点面であるか否かの判別について説明する。
焦点面判別部38は、特徴点検出部33が検出した特徴点について、複数の断層画像における特徴点に対応する対応点を導出する。図27は対応点の導出を説明するための図である。図27に示すように、ある断層画像Dkにおいて特徴点F3が検出されたとすると、位置ずれ量導出部35は、断層画像Dkの厚さ方向に位置する複数の断層画像において、特徴点F3に対応する対応点R1,R2,R3,R4…を導出する。なお、以降の説明においては、対応点の参照符号をRとする。対応点Rの導出は特徴点F3を含む関心領域と、断層画像Dk以外の断層画像との位置合せにより行えばよい。そして、焦点面判別部38は、特徴点F3および対応点Rの画素値を断層面が並ぶ順にプロットする。図28は特徴点および対応点の画素値をプロットした結果を示す図である。図28に示すように特徴点および対応点の画素値は、リップルアーチファクトの影響により、特徴点において極小値を有するように変化する。ここで、特徴点F3が焦点面にあれば、その特徴点F3はぼけておらず、輝度が高いすなわち画素値は小さいものとなる。一方、特徴点F3が焦点面にない場合、その特徴点F3はリップルアーチファクトであることから、画素値はぼけ、画素値は最小値よりも大きくなる。
このため、焦点面判別部38は、特徴点F3および対応点の画素値をプロットした結果において、特徴点F3を検出した断層面の位置が、画素値が最小となる図28に示す位置P0である場合、特徴点F3を検出した対応断層面は焦点面であると判別する。一方、特徴点F3を検出した断層面の位置が、画素値が最小とはならない図28に示す位置P1等である場合、特徴点F3を検出した対応断層面は焦点面でないと判別する。
投影部34は、焦点面であると判別された対応断層面のみにおいて、上記各実施形態と同様に断層面投影画像GTiを生成する。位置ずれ量導出部35は、焦点面であると判別された対応断層面において断層面投影画像GTiの位置ずれ量を導出する。すなわち、位置ずれ量導出部35は、焦点面であると判別された対応断層面において検出された特徴点を用いて、断層面投影画像GTiの位置ずれ量を導出する。
次いで、第6の実施形態において行われる処理について説明する。図29は第6の実施形態において行われる処理を示すフローチャートである。なお、図29におけるステップST21~ステップST23の処理は、図16におけるステップST1~ステップST3の処理と同一であるため、ここでは詳細な説明は省略する。なお、第6の実施形態においては、複数の特徴点が検出されたものとする。特徴点検出部33が複数の特徴点を検出すると、焦点面判別部38が、特徴点検出部33が検出した複数の特徴点のそれぞれが検出された断層画像に対応する対応断層面が、焦点面であるか否かを判別する(焦点面判別;ステップST24)。そして、投影部34が、焦点面であると判別された対応断層面において、断層面投影画像GTiを生成し(ステップST25)、位置ずれ量導出部35が、焦点面であると判別された対応断層面において検出された特徴点を用いて、位置ずれ量を導出する(ステップST26)。
さらに、再構成部32が、位置ずれ量を補正しつつ、複数の投影画像Giを再構成することにより補正済み断層画像Dhjを生成する(ステップST27)。そして、表示制御部36が補正済み断層画像Dhjを表示部3に表示し(ステップST28)、処理を終了する。なお、生成された補正済み断層画像Dhjは、不図示の外部保存装置に送信され、保存される。
このように、第6の実施形態においては、焦点面であると判別された対応断層面において位置ずれ量を導出するようにした。このため、リップルアーチファクトの影響を受けることなく、精度よく位置ずれ量を導出することができ、その結果、精度よく位置ずれが補正された補正済み断層画像Dhjを生成することができる。
なお、上記第6の実施形態においては、特徴点および対応点の画素値のプロット結果を用いて、対応断層面が焦点面であるか否かを判別しているが、焦点面であるか否かの判別はこれに限定されるものではない。特徴点とリップルアーチファクトとでは、周囲の画素とのコントラストの相違が特徴点の方が大きくなる。このため、特徴点および対応点における周囲の画素とのコントラストを導出し、特徴点についてのコントラストが最大である場合に、特徴点を検出した対応断層面が焦点面であると判別してもよい。また、投影画像における特徴点に対応する位置の画素値は、特徴点が焦点面にあれば投影画像間でのばらつきは小さいが、特徴点が焦点面にないと、投影画像上においては特徴点に対応する構造以外の構造を表す可能性があるため、投影画像間でのばらつきが大きくなる。このため、投影画像Gi間における特徴点に対応する画素値の分散値を導出し、分散値が予め定められたしきい値以下の場合に、特徴点を検出した対応断層面が焦点面であると判別してもよい。さらに、焦点面判別部38を、特徴点およびその周辺の画素値が入力されると、特徴点を検出した対応断層面が焦点面であるか否かの判別結果を出力するように機械学習がなされた判別器を有するものとし、特徴点を検出した対応断層面が焦点面であるか否かを判別器により判別するようにしてもよい。
次いで、本開示の第7の実施形態について説明する。図30はコンピュータ2に第7の実施形態による断層画像生成プログラムをインストールすることにより実現された断層画像生成装置の概略構成を示す図である。なお、図30において図3と同一の構成については図3と同一の参照番号を付与し、ここでは詳細な説明は省略する。第7の実施形態による断層画像生成装置は、補正済み断層画像Dhjにおける特徴点を含む関心領域の画質評価を行い、画質評価結果に基づいて、導出された位置ずれ量が適切であるか不適切であるかを判断する位置ずれ量判断部39をさらに備えた点が第1の実施形態と異なる。なお、第7の実施形態による処理は、第2から第6の実施形態にも適用可能であるが、ここでは第1の実施形態に適用した場合についてのみ説明する。
位置ずれ量判断部39は、画質評価を行うために、図31に示すように補正済み断層画像Dhjに含まれる複数(ここでは2つ)の特徴点F4,F5の座標位置を中心とする関心領域Rh1,Rh2を設定する。そして、関心領域Rh1,Rh2のそれぞれにおける高周波成分を抽出することにより高周波画像を生成する。高周波成分の抽出は、例えばラプラシアンフィルタ等によるフィルタリング処理を行って、2次微分画像を生成することにより行えばよいが、これに限定されるものではない。さらに、位置ずれ量判断部39は、関心領域Rh1,Rh2の高周波成分の大きさを導出する。高周波成分の大きさは、高周波画像の画素値の二乗和等により導出すればよいが、これに限定されるものではない。そして、位置ずれ量判断部39は、すべての関心領域Rh1,Rh2についての高周波成分の大きさ総和を導出する。
ここで、位置ずれ量が適切に導出されることにより、位置ずれ補正が適切に行われていれば、補正済み断層画像Dhjにおいては、画像のぼけが少なくなり、高周波成分が多くなる。一方、導出された位置ずれ量が適切でないために、位置ずれ補正が不適切であると、補正済み断層画像Dhjにおいては、画像のぼけが多くなり、高周波成分が少なくなる。このため、第7の実施形態においては、位置ずれ量判断部39は、高周波成分の大きさに基づいて画質評価を行う。すなわち、位置ずれ量判断部39は、上述したように導出した、すべての関心領域Rh1,Rh2についての高周波成分の大きさの総和が、予め定められたしきい値Th2以上であるか否かを判定する。総和がしきい値Th2以上である場合に、位置ずれ量判断部39は、位置ずれ量が適切であると判断し、総和がしきい値Th2未満である場合に、位置ずれ量判断部39は、位置ずれ量が不適切であると判断する。位置ずれ量判断部39が、位置ずれ量が不適切であると判断した場合、表示制御部36は、補正済み断層画像Dhjに代えて、補正前の断層画像Djを表示部3に表示する。この場合、補正済み断層画像Dhjに代えて、補正前の断層画像Djが外部保存装置に送信される。
次いで、第7の実施形態において行われる処理について説明する。図32は第7の実施形態において行われる処理を示すフローチャートである。なお、図32におけるステップST31~ステップST36の処理は、図16におけるステップST1~ステップST6の処理と同一であるため、ここでは詳細な説明は省略する。再構成部32が補正済み断層画像Dhjを生成すると、位置ずれ量判断部39が、補正済み断層画像Dhjにおける特徴点を含む関心領域の画質評価を行い、画質評価結果に基づいて、導出された位置ずれ量が適切であるか否かを判断する(ステップST37)。
位置ずれ量が適切であった場合、表示制御部36が補正済み断層画像Dhjを表示部3に表示し(ステップST38)、処理を終了する。なお、生成された補正済み断層画像Dhjは、不図示の外部保存装置に送信され、保存される。一方、位置ずれ量が不適切であった場合、表示制御部36が断層画像Djを表示部3に表示し(ステップST39)、処理を終了する。この場合、断層画像Djが不図示の外部保存装置に送信され、保存される。
ここで、位置ずれ量導出部35により位置ずれ量を導出するに際し、特徴点以外の構造の影響等により、適切な位置ずれ量を導出できない場合がある。第7の実施形態においては、補正済み断層画像Dhjの画質評価を行い、画質評価結果に基づいて、位置ずれ量が適切か不適切であるかを判断するようにした。このため、導出された位置ずれ量の適、不適を適切に判断することができる。また、位置ずれ量が不適切であると判断された場合には、補正前の断層画像Djを表示したり、保存したりするようにしたため、不適切な位置ずれ量に基づいて生成された補正済み断層画像Dhjにより、誤った診断が行われる可能性を低減できる。
なお、上記第7の実施形態においては、補正済み断層画像Dhjに設定した関心領域の高周波成分の大きさに基づいて画質評価を行っているが、これに限定されるものではない。位置ずれ量判断部39において、断層画像Djにおける特徴点を含む関心領域の画質評価をさらに行い、補正済み断層画像Dhjについての画質評価の結果と、断層画像Djについての画質評価の結果とを比較し、画質評価が高い方の断層画像を、最終的な断層画像に決定するようにしてもよい。ここで、最終的な断層画像とは、表示部3に表示されたり、外部装置に送信されて保存されたりする断層画像である。
なお、上記第6の実施形態および第7の実施形態においても、第5の実施形態と同様に、新たな断層画像に基づく新たな位置ずれの導出を、位置ずれ量が収束するまで繰り返すようにしてもよい。
また、上記第6の実施形態および第7の実施形態においても、位置ずれ量導出部35が導出した位置ずれ量を予め定められたしきい値と比較し、位置ずれ量がしきい値を超えた場合にのみ、位置ずれ量を補正しつつ、断層画像を再構成するようにしてもよい。
次いで、本開示の第8の実施形態について説明する。図33はコンピュータ2に第8の実施形態による断層画像生成プログラムをインストールすることにより実現された断層画像生成装置の概略構成を示す図である。なお、図33において図3と同一の構成については図3と同一の参照番号を付与し、ここでは詳細な説明は省略する。第8の実施形態による断層画像生成装置は、補正済み断層画像Dhjにおける特徴点を含む関心領域の画質評価を行うための評価関数を導出する評価関数導出部50を備え、位置ずれ量導出部35が、評価関数を最適化する位置ずれ量を導出するようにした点が第1の実施形態と異なる。なお、第8の実施形態による処理は、第2から第6の実施形態にも適用可能であるが、ここでは第1の実施形態に適用した場合についてのみ説明する。
第8の実施形態において、評価関数導出部50は、位置ずれ量導出部35が断層面投影画像GTiに対して設定した、特徴点Fに対応する関心領域について、高周波画像を生成する。高周波画像の生成は、第7の実施形態における位置ずれ量判断部39と同様に、ラプラシアンフィルタ等によるフィルタリング処理を行って、2次微分画像を生成することにより行えばよい。導出した関心領域内の高周波画像の画素値をqklとする。kはk番目の投影画像であることを表し、lは関心領域内の画素数を表す。
ここで、位置ずれ量を補正するための変換行列をWk、変換行列における変換パラメータをθkとする。変換パラメータθkが位置ずれ量に対応する。この場合、補正済み断層画像Dhjにおける特徴点Fに対応する関心領域における画質評価値は、投影画像Giのそれぞれにおける位置ずれ補正後の関心領域についての高周波画像の大きさの加算値と見なすことができる。この加算値が最大となるように、変換パラメータθk、すなわち位置ずれ量を導出することにより、適切に位置ずれ量が補正された補正済み断層画像Dhjを生成することができる。
このため、評価関数導出部50は,下記の式()に示す評価関数を導出する。なお、式()に示す評価関数Ecは、上記加算結果を最大とすべく、マイナスを付与した右辺の括弧内の値を最小とするための変換パラメータθkを求める評価関数Ecとなっている。なお、式()に示す評価関数は、局所解が複数存在する。このため、変換パラメータθkの範囲および平均値に制約条件を付与する。例えば、すべての投影画像についての変換パラメータθkの平均を0とするような制約条件を付与する。より具体的には、変換パラメータθkが平行移動を表す移動ベクトルである場合、すべての投影画像Giについての移動ベクトルの平均値を0とする制約条件を付与する。そして、第8の実施形態においては、位置ずれ量導出部35は、下記式()に示す評価関数Ecを最小とするような変換パラメータθk、すなわち位置ずれ量を導出する。
Figure 0007105314000001

このように、第8の実施形態においては、補正済み断層画像Dhjにおける特徴点を含む関心領域の画質評価を行うための評価関数を導出する評価関数導出部50を備え、位置ずれ量導出部35が、評価関数を最適化する位置ずれ量を導出するようにした。このため、不適切な位置ずれ量に基づいて生成された補正済み断層画像Dhjにより、誤った診断が行われる可能性を低減できる。
なお、上記各実施形態においては、位置ずれ量および仮の位置ずれ量の導出を容易に行うために、断層画像Djおよび断層面投影画像GTiに関心領域を設定し、関心領域の移動方向および移動量をシフトベクトル、すなわち位置ずれ量および仮の位置ずれ量として導出しているが、これに限定されるものではない。関心領域を設定することなく、位置ずれ量を導出してもよい。
また、上記各実施形態においては、投影部34により断層面投影画像GTiを取得し、位置ずれ量導出部35により断層面投影画像GTi間の位置ずれ量を導出しているが、これに限定されるものではない。断層面投影画像GTiを取得することなく、投影画像Gi間の位置ずれ量を導出するようにしてもよい。この場合、上記各実施形態において、投影部34は不要となる。また、位置ずれ量導出部35においては、特徴点Fが検出された断層画像に対応する対応断層面において、投影画像Giの位置関係に基づいて位置ずれ量を導出すればよい。
また、上記各実施形態においては、被写体を乳房Mとしているが、これに限定されるものではなく、人体の胸部、または腹部等、任意の部位を被写体としてもよいことはもちろんである。
また、上記各実施形態において、例えば、画像取得部31、再構成部32、特徴点検出部33、投影部34、位置ずれ量導出部35、表示制御部36、合成部37、焦点面判別部38、位置ずれ量判断部39、および評価関数導出部50といった各種の処理を実行する処理部(Processing Unit)のハードウェア的な構造としては、次に示す各種のプロセッサ(Processor)を用いることができる。上記各種のプロセッサには、上述したように、ソフトウェア(プログラム)を実行して各種の処理部として機能する汎用的なプロセッサであるCPUに加えて、FPGA(Field Programmable Gate Array)等の製造後に回路構成を変更可能なプロセッサであるプログラマブルロジックデバイス(Programmable Logic Device :PLD)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)等の特定の処理を実行させるために専用に設計された回路構成を有するプロセッサである専用電気回路等が含まれる。
1つの処理部は、これらの各種のプロセッサのうちの1つで構成されてもよいし、同種または異種の2つ以上のプロセッサの組み合わせ(例えば、複数のFPGAの組み合わせまたはCPUとFPGAとの組み合わせ)で構成されてもよい。また、複数の処理部を1つのプロセッサで構成してもよい。
複数の処理部を1つのプロセッサで構成する例としては、第1に、クライアントおよびサーバ等のコンピュータに代表されるように、1つ以上のCPUとソフトウェアとの組み合わせで1つのプロセッサを構成し、このプロセッサが複数の処理部として機能する形態がある。第2に、システムオンチップ(System On Chip:SoC)等に代表されるように、複数の処理部を含むシステム全体の機能を1つのIC(Integrated Circuit)チップで実現するプロセッサを使用する形態がある。このように、各種の処理部は、ハードウェア的な構造として、上記各種のプロセッサの1つ以上を用いて構成される。
さらに、これらの各種のプロセッサのハードウェア的な構造としては、より具体的には、半導体素子等の回路素子を組み合わせた電気回路(Circuitry)を用いることができる。
1 放射線画像撮影装置
2 コンピュータ
3 表示部
4 入力部
10 撮影部
11 回転軸
12 アーム部
13 撮影台
14 放射線照射部
15 放射線検出器
15A 検出面
16 X線源
17 圧迫板
18 支持部
19 移動機構
21 CPU
22 メモリ
23 ストレージ
31 画像取得部
32 再構成部
33 特徴点検出部
34 投影部
35 位置ずれ量導出部
36 表示制御部
37 合成部
38 焦点面判別部
39 位置ずれ量判断部
40 表示画面
41,42 ラベル
45 警告表示
48 構造物
50 評価関数導出部
C0 合成2次元画像
Dj,Dk 断層画像
Dhj 補正済み断層画像
F1,F3,F4,F5 特徴点
F2 特徴点の像
Gi(i=1~n) 投影画像
Gc 基準投影画像
GTi(i=1~n) 断層面投影画像
H1,H2 探索範囲
M 乳房
O1~O4 断層面上の画素位置
P1~P3 投影画像の画素位置
Rf0,R1~R3,Rh1,Rh2 関心領域
Ra0 周囲領域
Si(i=1~n) 線源位置
Sc 基準線位置
Tj 断層面
V10,Vf3 シフトベクトル
X0 光軸

Claims (15)

  1. 放射線源を検出部の検出面に対して相対的に移動させ、前記放射線源の移動による複数の線源位置において被写体に放射線を照射するトモシンセシス撮影を撮影装置に行わせることにより生成された、前記複数の線源位置のそれぞれに対応する複数の投影画像を取得する画像取得部と、
    前記複数の投影画像の全部または一部を再構成することにより、前記被写体の複数の断層面のそれぞれにおける断層画像を生成する再構成部と、
    前記複数の断層画像から少なくとも1つの特徴点を検出する特徴点検出部と、
    前記複数の投影画像のそれぞれについての撮影時の前記線源位置と前記検出部との位置関係に基づいて、前記特徴点が検出された断層画像に対応する対応断層面に前記複数の投影画像を投影して、前記複数の投影画像のそれぞれに対応する断層面投影画像を取得する投影部と、
    前記複数の断層面投影画像において、前記特徴点を含む複数の第1の局所領域を設定し、前記特徴点が検出された断層画像において、前記特徴点を含む第2の局所領域を設定し、前記第2の局所領域に対する前記複数の第1の局所領域の位置ずれ量を仮の位置ずれ量としてそれぞれ導出し、該複数の仮の位置ずれ量に基づいて、前記被写体の体動に基づく前記複数の投影画像間の位置ずれ量を導出する位置ずれ量導出部とを備え、
    前記再構成部は、前記位置ずれ量を導出する対象となる対象断層面投影画像に対応する対象投影画像を除いた前記複数の投影画像を再構成して前記複数の断層画像を対象断層画像として生成し、
    前記位置ずれ量導出部は、前記対象断層画像を用いて前記対象断層面投影画像についての前記位置ずれ量を導出し、
    前記再構成部は、前記位置ずれ量を補正して前記複数の投影画像を再構成することにより、前記被写体の少なくとも1つの断層面における補正済み断層画像を生成する断層画像生成装置。
  2. 前記位置ずれ量導出部は、前記第2の局所領域における前記特徴点の周囲の領域に基づいて、前記仮の位置ずれ量を導出する請求項に記載の断層画像生成装置。
  3. 放射線源を検出部の検出面に対して相対的に移動させ、前記放射線源の移動による複数の線源位置において被写体に放射線を照射するトモシンセシス撮影を撮影装置に行わせることにより生成された、前記複数の線源位置のそれぞれに対応する複数の投影画像を取得する画像取得部と、
    前記複数の投影画像の全部または一部を再構成することにより、前記被写体の複数の断層面のそれぞれにおける断層画像を生成する再構成部と、
    前記複数の断層画像から複数の特徴点を検出する特徴点検出部と、
    前記複数の特徴点のそれぞれが検出された断層画像に対応する対応断層面が、焦点面であるか否かを判別する焦点面判別部と、
    前記焦点面と判別された対応断層面において、前記特徴点を基準として前記被写体の体動に基づく前記複数の投影画像間の位置ずれ量を導出する位置ずれ量導出部とを備え、
    前記再構成部は、前記位置ずれ量を補正して前記複数の投影画像を再構成することにより、前記被写体の少なくとも1つの断層面における補正済み断層画像を生成する断層画像生成装置。
  4. 放射線源を検出部の検出面に対して相対的に移動させ、前記放射線源の移動による複数の線源位置において被写体に放射線を照射するトモシンセシス撮影を撮影装置に行わせることにより生成された、前記複数の線源位置のそれぞれに対応する複数の投影画像を取得する画像取得部と、
    前記複数の投影画像の全部または一部を再構成することにより、前記被写体の複数の断層面のそれぞれにおける断層画像を生成する再構成部と、
    前記複数の断層画像から少なくとも1つの特徴点を検出する特徴点検出部と、
    前記特徴点が検出された断層画像に対応する対応断層面において、前記特徴点を基準として、前記被写体の体動に基づく前記複数の投影画像間の位置ずれ量を導出する位置ずれ量導出部とを備え、
    前記再構成部は、前記位置ずれ量を補正して前記複数の投影画像を再構成することにより、前記被写体の少なくとも1つの断層面における補正済み断層画像を生成し、
    前記補正済み断層画像における前記特徴点を含む関心領域の画質評価を行い、該画質評価の結果に基づいて、導出された前記位置ずれ量が適切であるか不適切であるかを判断する位置ずれ量判断部をさらに備えた断層画像生成装置。
  5. 前記位置ずれ量判断部は、前記断層画像における前記特徴点を含む関心領域の画質評価を行い、前記補正済み断層画像についての画質評価の結果と、前記断層画像についての画質評価の結果とを比較し、前記画質評価の結果が良い方の断層画像を、最終的な断層画像に決定する請求項に記載の断層画像生成装置。
  6. 放射線源を検出部の検出面に対して相対的に移動させ、前記放射線源の移動による複数の線源位置において被写体に放射線を照射するトモシンセシス撮影を撮影装置に行わせることにより生成された、前記複数の線源位置のそれぞれに対応する複数の投影画像を取得する画像取得部と、
    前記複数の投影画像の全部または一部を再構成することにより、前記被写体の複数の断層面のそれぞれにおける断層画像を生成する再構成部と、
    前記複数の断層画像から少なくとも1つの特徴点を検出する特徴点検出部と、
    前記特徴点が検出された断層画像に対応する対応断層面において、前記特徴点を基準として、前記被写体の体動に基づく前記複数の投影画像間の位置ずれ量を導出する位置ずれ量導出部とを備え、
    前記再構成部は、前記位置ずれ量を補正して前記複数の投影画像を再構成することにより、前記被写体の少なくとも1つの断層面における補正済み断層画像を生成し、
    前記補正済み断層画像における前記特徴点を含む関心領域の画質評価を行うための評価関数を導出する評価関数導出部をさらに備え、
    前記位置ずれ量導出部は、前記評価関数を最適化する前記位置ずれ量を導出する断層画像生成装置。
  7. 前記複数の投影画像のそれぞれについての撮影時の前記線源位置と前記検出部との位置関係に基づいて、前記複数の投影画像を前記対応断層面に投影して、前記複数の投影画像のそれぞれに対応する断層面投影画像を取得する投影部をさらに備え、
    前記位置ずれ量導出部は、前記対応断層面において、前記特徴点を基準として、前記被写体の体動に基づく前記複数の断層面投影画像間の位置ずれ量を、前記複数の投影画像間の位置ずれ量として導出する請求項3から6のいずれか1項に記載の断層画像生成装置。
  8. 前記位置ずれ量導出部は、前記複数の断層面投影画像において、前記特徴点に対応する局所領域を設定し、該局所領域に基づいて前記位置ずれ量を導出する請求項に記載の断層画像生成装置。
  9. 前記被写体が乳房である請求項1からのいずれか1項に記載の断層画像生成装置。
  10. 放射線源を検出部の検出面に対して相対的に移動させ、前記放射線源の移動による複数の線源位置において被写体に放射線を照射するトモシンセシス撮影を撮影装置に行わせることにより生成された、前記複数の線源位置のそれぞれに対応する複数の投影画像を取得する画像取得部と、
    前記複数の投影画像の全部または一部を再構成することにより、前記被写体の複数の断層面のそれぞれにおける断層画像を生成する再構成部と、
    前記複数の断層画像から少なくとも1つの特徴点を検出する特徴点検出部と、
    前記特徴点が検出された断層画像に対応する対応断層面において、前記特徴点を基準として、前記被写体の体動に基づく前記複数の投影画像間の位置ずれ量を導出する位置ずれ量導出部とを備え、
    前記再構成部は、前記位置ずれ量を補正して前記複数の投影画像を再構成することにより、前記被写体の少なくとも1つの断層面における補正済み断層画像を生成し、
    前記被写体が乳房であり、
    前記位置ずれ量導出部は、乳腺密度、前記乳房の大きさ、前記トモシンセシス撮影の撮影時間、前記トモシンセシス撮影時における前記乳房の圧迫圧、および前記乳房の撮影方向の少なくとも1つに応じて、前記位置ずれ量導出時の探索範囲を変更する断層画像生成装置。
  11. 前記複数の断層画像のうちの2以上の断層画像を合成して、合成2次元画像を生成する合成部をさらに備え、
    前記特徴点検出部は、前記合成2次元画像における2次元特徴点を検出し、前記複数の断層画像から前記2次元特徴点に対応する前記特徴点を検出する請求項1から10のいずれか1項に記載の断層画像生成装置。
  12. 前記再構成部は、前記位置ずれ量を補正しつつ前記複数の投影画像の全部または一部を再構成することにより、前記被写体の複数の断層面における複数の前記補正済み断層画像を、新たな複数の断層画像として生成し、
    前記特徴点検出部は、前記複数の新たな断層画像から前記特徴点を検出し、
    前記位置ずれ量導出部は、前記新たな複数の投影画像間の新たな位置ずれ量を導出し、
    前記再構成部は、前記新たな位置ずれ量を補正しつつ前記複数の投影画像を再構成することにより、前記被写体の少なくとも1つの断層面における新たな補正済み断層画像を生成する請求項1から11のいずれか1項に記載の断層画像生成装置。
  13. 前記再構成部、前記特徴点検出部および前記位置ずれ量導出部は、前記新たな断層画像の生成、前記新たな断層画像からの前記特徴点の検出、および前記新たな位置ずれ量の導出を、前記新たな位置ずれ量が収束するまで繰り返す請求項12に記載の断層画像生成装置。
  14. 放射線源を検出部の検出面に対して相対的に移動させ、前記放射線源の移動による複数の線源位置において被写体に放射線を照射するトモシンセシス撮影を撮影装置に行わせることにより生成された、前記複数の線源位置のそれぞれに対応する複数の投影画像を取得し、
    前記複数の投影画像の全部または一部を再構成することにより、前記被写体の複数の断層面のそれぞれにおける断層画像を生成し、
    前記複数の断層画像から複数の特徴点を検出し、
    前記複数の特徴点のそれぞれが検出された断層画像に対応する対応断層面が、焦点面であるか否かを判別し、
    前記焦点面と判別された前記対応断層面において、前記特徴点を基準として前記被写体の体動に基づく前記複数の投影画像間の位置ずれ量を導出し、
    前記位置ずれ量を補正して前記複数の投影画像を再構成することにより、前記被写体の少なくとも1つの断層面における補正済み断層画像を生成する断層画像生成方法。
  15. 放射線源を検出部の検出面に対して相対的に移動させ、前記放射線源の移動による複数の線源位置において被写体に放射線を照射するトモシンセシス撮影を撮影装置に行わせることにより生成された、前記複数の線源位置のそれぞれに対応する複数の投影画像を取得する手順と、
    前記複数の投影画像の全部または一部を再構成することにより、前記被写体の複数の断層面のそれぞれにおける断層画像を生成する手順と、
    前記複数の断層画像から複数の特徴点を検出する手順と、
    前記複数の特徴点のそれぞれが検出された断層画像に対応する対応断層面が、焦点面であるか否かを判別する手順と、
    前記焦点面と判別された対応断層面において、前記特徴点を基準として前記被写体の体動に基づく前記複数の投影画像間の位置ずれ量を導出する手順と、
    前記位置ずれ量を補正して前記複数の投影画像を再構成することにより、前記被写体の少なくとも1つの断層面における補正済み断層画像を生成する手順とをコンピュータに実行させる断層画像生成プログラム。
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