JP7100432B2 - 光伝送装置および光伝送方法 - Google Patents

Description

本発明は、光伝送装置および光伝送方法に関する。

光通信における多値振幅変調は、複数ビットの情報を一つのシンボルで伝達するために光の強度を、３つ以上のレベルで変調する変調方法である。多値振幅変調によれば、光伝送を高速化できる（例えば、引用文献１及び２参照）。光通信における多値振幅変調は、半導体レーザの直接変調、ＥＡ（electro-absorption）変調器による外部変調、およびＭＺ（Mach-Zehnder）変調器による外部変調の何れかによって実行される（例えば、引用文献２参照）。

ところで、ＭＺ変調器による多値振幅変調に、予等化を適用する技術が報告されている（例えば、引用文献２参照）。上記報告には、予等化は、ＥＡ変調器による外部変調および半導体レーザの直接変調には適用されないと記載されている。なお予等化は、ＭＺ光変調器に印加する電気信号を調整して、群遅延時間差による光信号の波形変形を抑制する技術である。

米国特許出願公開第２０１５／００７１６５１号明細書 特開２０１６－１３９９７６号公報

半導体レーザの直接変調で消費される電力は、ＥＡ変調器による外部変調で消費される電力より小さい。更に、半導体レーザの直接変調により得られる光信号のパワーは、ＥＡ変調器による外部変調で得られる光信号のパワーよい大きい。これらの点では、半導体レーザの直接変調は、ＥＡ変調器による外部変調より優れている。ＭＺ変調器による外部変調に対しても同様である。

一方、半導体レーザの直接変調により得られる光信号の波長は、光信号の光強度（すなわち、光パワー）に応じて変動する。この波長変動は、光の多値信号（以下、光多値信号と呼ぶ）の伝送に好ましくない影響を及ぼす。

分散媒質である光伝送路（例えば、光ファイバ）を介して光信号を伝送すると、光信号が光伝送路に入射してから出射するまでの時間（以下、到達時間と呼ぶ）は、光信号の波長に応じて変化する。

直接変調により得られる光多値信号の値が変化すると、光多値信号の値（すなわち、光強度）の変化に応じて波長も変化する。従って、直接変調により得られる光多値信号の到達時間は、光多値信号の値に応じて変動する。その結果、光多値信号のシンボル間の間隔が変動して、光多値信号の復調に誤りが生じる。

すなわち、直接変調により得られる光多値信号には、光伝送路における到達時間の差（すなわち、群遅延時間差）により受信品質が劣化するという問題がある。そこで本発明は、このような問題を解決することを課題とする。

上記の問題を解決するために、一つの実施の形態では、光伝送装置は、入力信号に応じた強度の光信号を送信するように構成された光伝送装置であって、前記入力信号が有する値に応じた強度を付加する変調マッピング部と、前記変調マッピング部から並列に出力された複数の信号に、遅延を与える複数のスキュー部と、前記遅延が与えられた前記複数の信号を和算して和信号を発生する和算部と、前記和信号を、光強度が前記和信号の強度に応じて変調され前記光強度に応じて波長が変動する前記光信号に変換して送信する電気光変換部と、前記複数のスキュー部に、前記遅延の量である遅延量を与えるスキュー制御部とを有する。

一つの側面では、本発明によれば、光強度に応じて波長が変動する光多値信号に生じる群遅延時間差による受信品質の劣化を抑制することができる。

図１は、実施の形態１の光伝送装置２の構成を示す図である。 図２は、光伝送装置２における信号の流れを示す図である。 図３は、デジタル信号１４、複数の信号１６、および和信号２０夫々の一例を示す表である。 図４は、光信号２２の波長変動の一例を示す図である。 図５は、光信号２２の光パルス列３３に、光伝送路３０が与える影響を示す図である。 図６は、光信号２２の波長が光伝送路３０の異常分散領域（正分散領域）内にある場合に、光伝送路３０が光パルス列３３に与える影響の一例を示す図である。 図７は、実施の形態１の光伝送装置２のハードウエア構成の一例を示す図である。 図８は、図７における信号の流れの一例を示す図である。 図９は、各乗算回路に与えられる重み付け係数の一例を示す図である。 図１０は、電気光変換回路４４のハードウエア構成の一例を示す図である。 図１１は、IEEE 802.3bsで検討されているＰＡＭ４の規格に規定された８つのレーンＬ０～Ｌ７夫々の中心波長を示す図である。 図１２は、光多値信号のアイパターンである。 図１３は、分散補償器６２により群遅延時間差（すなわち、到達時間差）を抑制するシステムの一例である。 図１４は、ＤＳＰ７２を有する光伝送装置２のハードウエア構成の一例を示す図である。 図１５は、実施の形態２の光伝送装置２０２が適用されたシステム２６４の一例を示す図である。 図１６は、図１５における信号の流れを示す図である。 図１７は、実施の形態２の光伝送装置２０２のハードウエア構成の一例を示す図である。 図１８は、図１７における信号の流れを示す図である。 図１９は、光伝送装置２０２と光受信機７６とが協働して実行する処理の流れを示すシーケンス図である。 図２０は、監視部９０が実行する監視プログラムのフローチャートである。 図２１は、監視部９０が実行する監視プログラムのフローチャートである。 図２２は、光伝送装置２０２が実行する処理の流れを示す図である。 図２３は、光伝送装置２０２が実行する処理の流れを示す図である。 図２４は、制御回線７８が光伝送路２３０であるシステム１２６４の一例を示す図である。 図２５は、図２４における信号の流れを示す図である。 図２６は、実施の形態３の光伝送装置３０２のハードウエア構成の一例を示す図である。 図２７は、図２６における信号の流れを示す図である。 図２８は、不揮発性メモリ３１８に記録されるルックアップテーブル１４２の一例を示す図である。 図２９は、光伝送装置３０２と光受信機７６とが協働して実行する処理の流れを示すシーケンス図である。 図３０は、光受信機７６が実行する処理の流れの一例を示す図である。 図３１は、光受信機７６が実行する処理の流れの一例を示す図である。 図３２は、光伝送装置３０２が実行する処理の流れを示す図である。 図３３は、光伝送装置３０２が実行する処理の流れを示す図である。 図３４は、実施の形態４の光伝送装置４０２が適用されたシステム４６４の一例を示す図である。 図３５は、実施の形態４のシステム４６４のハードウエア構成の一例を示す図である。 図３６は、光伝送装置４０２が実行する処理の流れを示す図である。

以下、図面にしたがって本発明の実施の形態について説明する。但し、本発明の技術的範囲はこれらの実施の形態に限定されず、特許請求の範囲に記載された事項とその均等物まで及ぶものである。図面が異なっても同じ構造を有する部分等には同一の符号を付し、その説明を省略する。

（実施の形態１）
（１）構成および動作
図１は、実施の形態１の光伝送装置２の構成を示す図である。図２は、光伝送装置２における信号の流れを示す図である。

光伝送装置２は、ｎ値信号（ｎは３以上の整数）である多値信号を送信するように構成された装置である。光伝送装置２が送信する多値信号は、デジタル信号１４に応じた強度を有する光信号である。デジタル信号１４は例えば、外部の通信機器（図示せず）から光伝送装置２に入力される信号（以下、入力信号９４と呼ぶ）である。

図１に示すように、光伝送装置２は、変調マッピング部４、複数のスキュー部６、和算部８、電気光変換部１０、およびスキュー制御部１２を有する。

変調マッピング部４は、複数の信号１６(図２参照)のうちの一つであってデジタル信号１４が有する値（例えば、３）に対応する信号（例えば、ｂ_１１）に、デジタル信号１４が有する値に応じた強度（すなわち、振幅）を付加する。

変調マッピング部４は例えば、複数の信号１６のうちの一つの信号のみにゼロより大きい強度を与えるＰＡＭマッパー（pulse amplitude modulation mapper）である。複数の信号１６は例えば、０以上ｎ－１以下の複数の整数（例えば、０～３）に１対１で対応する信号である。デジタル信号１４は例えば、複数の２値信号である。デジタル信号１４は例えば、通信機器が複数のレーンで送信する電気信号である。

デジタル信号１４は、例えばＯＩＦ（Ｔｈｅ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｉｎｔｅｒｎｅｔ Ｆｏｒｕｍ）やＩＥＥＥ（Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ Ｏｆ Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌ ａｎｄ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｓ）といった業界団体や学会の規格に準拠した電気信号である。デジタル信号１４は、国際電気通信標準化部門ＩＴＵ－Ｔ（Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｔｅｌｅｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ Ｕｎｉｏｎ Ｔｅｌｅｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ Ｓｔａｎｄａｒｉｚａｔｉｏｎ Ｓｅｃｔｏｒ）Ｇ．７０９で定義されるＯｐｔｉｃａｌ Ｔｒａｎｓｐｏｒｔ Ｎｅｔｗｏｒｋ（ＯＴＮ）の標準規格に準拠した電気信号であってもよい。これらの電気信号は今日では２値信号であるが、将来的には４値信号の適用がＯＩＦ ＣＥＩ－５６Ｇ－ＶＳＲ等で予定されている。

複数のスキュー部６は、変調マッピング部４から並列に出力された複数の信号１６夫々に遅延を与える。複数の信号１６は、デジタル信号１４が有する値に応じた強度が付加された信号を含む。

和算部８は、夫々に遅延が与えられた複数の信号１６を和算（すなわち、積算）して和信号２０を発生する。

電気光変換部１０は、和信号２０を、光強度が和信号２０の強度に応じて変調された光信号２２に変換して送信する。光信号２２の波長は、光強度に応じて変動する。光信号２２は、光の多値信号（以下、光多値信号と呼ぶ）である。

スキュー制御部１２は、複数のスキュー部６夫々に、上記遅延の量である遅延量を与える。

図３は、デジタル信号１４、複数の信号１６、および和信号２０夫々の一例を示す表である。図３に示すデジタル信号１４は、２つのＮＲＺ(non return to zero)信号である。

図３の1列目には、２つのＮＲＺ信号の一方であるＮＲＺ－１信号の値が示されている。２列目には、２つのＮＲＺ信号の他方であるＮＲＺ－２信号の値が示されている。１～２列目の数字（例えば、０ｂ）の最後に付けられた「ｂ」は、数字が２進数であることを示している。

ＮＲＺ－１信号は、デジタル信号１４のＭＳＢ（most significant bit)を示している。ＮＲＺ－２信号は、デジタル信号１４のＬＳＢ（LEAST SIGNIFICANT BIT)を示している。

第３～６列目には、変調マッピング部４が並行して出力する複数の信号１６の強度が示されている。第７列目には、和算部８が発生する和信号２０の強度が示されている。Ｖ_Ｈは、一定の電圧（例えば、０．５Ｖ）を表している。図３の３～７行目の値は、電圧である。

複数の信号１６は例えば、複数のビット（例えば、２ビット）の２進数が示す複数の整数（例えば、００ｂ～１１ｂ）に１対１で対応している。図２～３に示す例では、複数の信号１６のうちの第１信号ｂ_００は００ｂに対応している。同様に、複数の信号１６のうちの第２信号ｂ_０１は、０１ｂに対応している。複数の信号１６のうちの第３信号ｂ_１０は１０ｂに対応している。複数の信号１６のうちの第４信号ｂ_１１は１１ｂに対応している。

図１～２の光伝送装置２は、具体的には、４値信号を送信するように構成されている。複数の信号１６は、０以上３以下（＝４－１）の整数に１対１で対応している。

変調マッピング部４は、複数の信号１６を並行して出力する。変調マッピング部４は更に、複数の信号１６のうちのデジタル信号１４が示す値（例えば、１１ｂ）に対応する信号（例えば、ｂ_１１）に、デジタル信号１４の値に応じた強度（例えば、３Ｖ_Ｈ）を付加する。変調マッピング部４はその他の信号（例えば、ｂ_００～ｂ_１０）には、振幅を与えない。

複数のスキュー部６のうちの第１スキュー部ｄ_００は、第１信号ｂ_００に遅延を与える。同様に、複数のスキュー部６のうちの第２スキュー部ｄ_０１は、第２信号ｂ_０１に遅延を与える。複数のスキュー部６のうちの第３スキュー部ｄ_１０は、第３信号ｂ_１０に遅延を与える。複数のスキュー部６のうちの第４スキュー部ｄ_１１は、第４信号ｂ_１１に遅延を与える。

和算部８は、夫々に遅延が与えられた複数の信号１６を積算して和信号２０を発生する。例えば、デジタル信号１４が示す値が１１ｂの場合、和算部８が発生する和信号２０の強度（すなわち、振幅）は３Ｖ_Ｈ（＝０+０+０+３Ｖ_Ｈ）である（図３の５行目参照）。

電気光変換部１０は、和信号２０を、光強度が和信号２０の強度（例えば、３Ｖ_Ｈ）に応じて変調された光信号２２に変換して送信する。光信号２２の波長は、光信号２２の光強度に応じて変動する。光信号２２は例えば、２ビットの情報を一つのシンボルで示すＰＡＭ４（4-level Pulse Amplitude Modulation）信号である。

スキュー制御部１２は、複数のスキュー部６夫々に、夫々が複数の信号１６の一つに与える上記遅延の量（第１遅延量τ_００～第４遅延量τ_１１）を与える。

スキュー制御部１２は例えば、第１スキュー部ｄ_００に第１遅延量τ_００を与える。スキュー制御部１２は更に、第２スキュー部ｄ_０１に第２遅延量τ_０１を与える。スキュー制御部１２は更に、第３スキュー部ｄ_１０に第３遅延量τ_１０を与える。スキュー制御部１２は更に、第４スキュー部ｄ_１１に第４遅延量τ_１１を与える。第１遅延量τ_００～第４遅延量τ_１１は、互いに異なる遅延量である。

スキュー制御部１２には、フィードバック制御のための制御回線が接続されてもよい。

光伝送装置２は以上の構成により、多値信号である光信号２２を送信する。

図３に示す例では、変調マッピング部４が複数の信号１６に与える強度（すなわち、０～３Ｖ_Ｈ）はデジタル信号１４の値に比例している。しかし、変調マッピング部４が複数の信号１６に与える強度は、デジタル信号１４の値に比例しなくてもよい。例えば、変調マッピング部４が複数の信号１６に与える強度は、グレイコードに従った強度であってもよい。

―受信品質劣化の抑制―
図４は、光信号２２の波長変動の一例を示す図である。電気光変換部１０の光源は、例えば分布帰還型半導体レーザまたは面発光レーザである。図４中のグラフ２４は、電気光変換部１０の光源である分布帰還型半導体レーザ（以下、半導体レーザと呼ぶ）の駆動電流とレーザ光（すなわち、光信号２２）の波長の関係の一例を示す図である。グラフ２４の横軸は、駆動電流である。グラフ２４の縦軸は波長である。グラフ２４中の「Ｔ」は、半導体レーザの温度である。

図４中のグラフ２６は、半導体レーザの駆動電流の時間変化の一例を示す図である。グラフ２６の横軸は、駆動電流である。グラフ２６の縦軸は時間である。

図４中のグラフ２８は、光信号２２の波長と光強度の関係の一例を示す図である。グラフ２８の横軸は光強度である。グラフ２８の縦軸は波長である。

グラフ２６の駆動電流Ｉ_１１は、２進数で表した値が１１ｂであるデジタル信号１４に対応する和信号２０に応答して、電気光変換部１０が発生する駆動電流である。駆動電流Ｉ_００～Ｉ_１０についても同様である。

グラフ２８の光強度Ｌ_１１は、駆動電流Ｉ_１１に応答して、半導体レーザが出力する光信号２２の光強度である。光強度Ｌ_００～Ｌ_１０についても同様である。グラフ２８の波長λ_１１は、駆動電流Ｉ_１１に応答して、半導体レーザが出力する光信号２２の波長である。波長λ_００～λ_１０についても同様である。

デジタル信号１４が示す値が増加すると、図３に示すように、和信号２０の強度が増加する。その結果、駆動電流が増加して、光信号２２の光強度と波長が増加する。

例えば、デジタル信号１４の値が０１ｂから１０ｂに増加すると、和信号２０の強度がＶ_Ｈから２Ｖ_Ｈに増加する。その結果、駆動電流の強度がＩ_０１からＩ_１０に増加して、光信号２２の光強度はＬ_０１からＬ_１０に増加する。この光強度の増加に伴い、光信号２２の波長は、λ_０１からλ_１０に増加する。すなわち、電気光変換部１０が出力する光信号２２は、和信号２０に応じて変調され、光強度に波長が応じて変動する光である。

図５は、光信号２２の光パルス列３３に、光伝送路３０が与える影響を示す図である。図５の左側のグラフ３２は、光伝送路３０に入射する前の光パルス列３３の一例を示す。図５の右側のグラフ３４は、光伝送路３０から出射する光パルス列３３の一例を示す。光伝送路３０から出射する光パルス列３３の波形は、光伝送路３０の波長分散により崩される。しかし、図の簡素化のため、グラフ３４には波形が崩れていないパルス列が示されている（後述する図６についても同様）。

グラフ３２および３４の横軸は、時間である。グラフ３２および３４の縦軸は、光信号２２の光強度である。ここでは先ず、複数のスキュー部６が複数の信号１６に遅延を与えない場合を考える。

グラフ３２および３４に示された光パルスＰ_１１は、２進数で表した値が１１ｂであるデジタル信号１４に応答して、光伝送装置２が出力する光信号２２である。光パルスＰ_００～Ｐ_１０についても同様である。光パルスＰ_００～Ｐ_１１は夫々、一シンボルの光信号２２である。

図５に示す例は、光信号２２の波長が光伝送路３０の正常分散領域（すなわち、負分散領域）内にある場合に、光伝送路３０が光パルス列３３に与える影響を示している。

図５に示す光伝送路３０は、例えば、単一モード光ファイバである。δ１は、光パルスＰ_１０が光伝送路３０に入射する時刻ｔ_１０と光パルスＰ_１１が光伝送路３０に入射する時刻ｔ_１１との差（＝ｔ_１０－ｔ_１１、以下、入射時間差と呼ぶ）である。δ２は、光パルスＰ_０１と光パルスＰ_１０との入射時刻差（＝ｔ_０１－ｔ_１０）である。δ３は、光パルスＰ_００と光パルスＰ_０１との入射時間差（＝ｔ_００－ｔ_０１）である。ｔ_０１は、光パルスＰ_０１が光伝送路３０に入射する時刻である。ｔ_００は、光パルスＰ_００が光伝送路３０に入射する時刻である。

Δ１は、光パルスＰ_１０が光伝送路３０から出射する時刻Ｔ_１０と光パルスＰ_１１が光伝送路３０から出射する時刻Ｔ_１１との差（＝Ｔ_１０－Ｔ_１１、以下、出射時間差と呼ぶ）である。Δ２は、光パルスＰ_０１と光パルスＰ_１０との出射時間差（＝Ｔ_０１－Ｔ_１０）である。Δ３は、光パルスＰ_００と光パルスＰ_０１との出射時間差（＝Ｔ_００－Ｔ_０１）である。Ｔ_０１は、光パルスＰ_０１が光伝送路３０から出射する時刻である。Ｔ_００は、光パルスＰ_００が光伝送路３０から出射する時刻である。

図４のグラフ２８に示すように、光強度がＬ_１１である光パルスＰ_１１の波長λ_１１は、光強度がＬ_１０である光パルスＰ_１０の波長λ_１０より長い。従って、光パルスＰ_１１が光伝送路３０に入射してから出射するまでの時間ＡＴ_１１（すなわち、到達時間）は、光伝送路３０の負の波長分散により、光パルスＰ_１０の到達時間ＡＴ_１０より短くなる（すなわち、ＡＴ_１１＜ＡＴ_１０）。

このため、下記の式（１）～（２）から明らかなように、出射時間差Δ１は入射時間差δ１より長い（図５参照）。出射時間差Δ２～Δ３についても同様である。

Δ１＝Ｔ_１０－Ｔ_１１
＝（ｔ_１０+ＡＴ_１０）－（ｔ_１１+ＡＴ_１１）
＝（ｔ_１０－ｔ_１１）+（ＡＴ_１０－ＡＴ_１１）
＝δ１+Ｄ１ ・・・ （１）
Ｄ１＝ＡＴ_１０－ＡＴ_１１＞０ ・・・ （２）
Ｄ１は、光パルスＰ_１０と光パルスＰ_１１との到達時間の差（すなわり、群遅延時間差）である。以下、「到達時間の差」を到達時間差と呼ぶ。

図６は、光信号２２の波長が光伝送路３０の異常分散領域（正分散領域）内にある場合に、光伝送路３０が光パルス列３３に与える影響の一例を示す図である。図６に示す例では、光パルスＰ_１１の到達時間は、光伝送路３０の正の波長分散により、光パルスＰ_１０の到達時間より長くなる。このため、出射時間差Δ１は入射時間差δ１より短い（図６参照）。出射時間差Δ２～Δ３についても同様である。

以上のように、波長が互いに異なる光信号２２が光伝送路３０を通過すると、光伝送路３０の波長分散により、出射時間差Δが入射時間差δからずれる。

今、変調マッピング部４が出力する複数の信号１６に、複数のスキュー部６が遅延を与えない場合（すなわち、図５～６に示す場合）を考える。この場合の入射時間差δ１～δ３は、変調マッピング部４が複数の信号１６を出力する周期（以下、変調周期ＭＰと呼ぶ）である。光パルス列３３は、出射時間差Δ１～Δ３が、変調周期ＭＰからずれる事で乱れる。

光パルス列３３の乱れは、波長が互いに異なる光パルス間の到達時間の差（すなわち、群遅延時間差）Ｄを打ち消す方向に、入射時間差δを変化させることで抑制できる。

例えば、到達時間差Ｄ１（＝ＡＴ_１０－ＡＴ_１１）がゼロより大きい場合には、入射時間差δ１（＝ｔ_１０－ｔ_１１）を変調周期ＭＰより小さくする。すると、到達時間差Ｄ１による出射時間差Δ１の増加が抑制（または、相殺）される。その結果、光パルス列３３の乱れが抑制される。同様に、入射時間差δ２～δ３を減少させる事で、光パルス列３３の乱れを更に抑制できる。

入射時間差δ１（＝ｔ_１０－ｔ_１１）の減少は、第３スキュー部ｄ_１０に与える第３遅延量τ_１０を第４スキュー部ｄ_１１に与える第４遅延量τ_１１より小さくすることで実現可能である。入射時間差δ２～δ３の減少についても同様である。

従って、実施の形態１によれば、互いにレベルが異なる光パルス間に生じる群遅延時間差による受信品質の劣化を抑制することができる。すなわち、実施の形態１によれば、直接変調により得られる光多値信号の群遅延時間差による受信品質の劣化を抑制できる。

ところで、複数の信号１６に互いに異なる遅延を与えて光信号２２の入射時間差δを変化させると、送信側（すなわち、光伝送装置２の側）では光信号２２の端部が互いに重なって、ヒゲのような波形が発生することがある。しかし複数の信号１６に与えられる遅延は、図１２（ａ）のような開いたアイパターンに受信側の光信号２２の中央のピークを合わせるような遅延（すなわち、光信号２２の受信側のアイパターンを開かせるような遅延）である。従って、送信側における光信号２２の端部の重なりは、光信号２２の受信品質には影響を及ぼさない。

（２）ハードウエア
図７は、実施の形態１の光伝送装置２のハードウエア構成の一例を示す図である。図８は、図７における信号の流れの一例を示す図である。

光伝送装置２は例えば、第１集積回路３６ａ、複数の乗算回路３８、複数の遅延回路４０、加算回路４２、電気光変換回路４４、および第２集積回路３６ｂを有する。

第１集積回路３６ａは、複数の信号線４６を介して複数の乗算回路３８に接続される。各信号線４６ａ～４６ｄの一端には第１集積回路３６ａされ、各信号線４６ａ～４６ｄの他端には複数の乗算回路３８の一つが接続される。

―第１集積回路３６ａ―
第１集積回路３６ａは例えば、ＡＳＩＣ（application specific integrated circuit）である。第１集積回路３６ａは、ＦＰＧＡ（field-programmable gate array）であってもよい。

第１集積回路３６ａは、デジタル信号１４（図８参照）に応答して、複数の電気信号５０を複数の信号線４６（図７参照）に並行して出力する。デジタル信号１４は、Ｎビット（Ｎは、２以上の整数）の情報が示す複数の整数（例えば、００ｂ～１１ｂ）の一つを示す信号である。複数の電気信号５０は、Ｎビットの２進数が示す複数の整数（例えば、００ｂ～１１ｂ）に１対１対応で対応している。同様に、複数の信号線４６（図７参照）は、Ｎビットの２進数が示す複数の整数（例えば、００ｂ～１１ｂ）に１対１対応で対応している。

第１集積回路３６ａは更に、複数の電気信号５０のうちデジタル信号１４が示す値（例えば、１１ｂ）に対応する信号のみに一定の強度（すなわち、振幅）を与えて出力する。与えられる強度は例えば、Ｖ_Ｈ（Ｖ）である（図３参照）。Ｖ_Ｈは例えば、０Ｖ以外の電圧である。強度が与えられた電気信号５０は例えば、矩形パルスである。パルスオンしている間の電気信号５０の電圧はＶ_Ｈ（Ｖ）である。パルスオフしている間の電気信号５０の電圧は、例えば０Ｖである。複数の電気信号５０のうち強度が与えられない信号は例えば、０Ｖの定電圧である。

具体的には、図８に示す第１電気信号５０ａ（複数の電気信号５０の一つ、以下同様）は例えば、００ｂに対応する信号である。第２電気信号５０ｂは、０１ｂに対応する信号である。第３電気信号５０ｃは、１０ｂに対応する信号である。第４電気信号５０ｄは、１１ｂに対応する信号である。

同様に、第１信号線４６ａ（複数の信号線４６の一つ、以下同様）は例えば、００ｂに対応する信号線である。第２信号線４６ｂは、０１ｂに対応する信号線である。第３信号線４６ｃは、１０ｂに対応する信号線である。第４信号線４６ｄは、１１ｂに対応する信号線である。

第１電気信号５０ａは、第１信号線４６ａに出力される。第２電気信号５０ｂは、第２信号線４６ｂに出力される。第３電気信号５０ｃは、第３信号線４６ｃに出力される。第４電気信号５０ｄは、第４信号線４６ｄに出力される。そして第１集積回路３６ａは、複数の電気信号５０のうちデジタル信号１４が示す値（例えば、１１ｂ）に対応する信号（例えば、第４電気信号５０ｄ）のみに一定の強度（例えば、Ｖ_Ｈ）を与えて出力する。

―乗算回路３８―
複数の乗算回路３８は例えば、バイポーラトランジスタの特性を利用したアナログ乗算回路である。複数の乗算回路３８は例えば、オペアンプ（operational amplifier）を利用した乗算回路であってもよい。

複数の乗算回路３８は夫々、複数の信号線４６の一つを介して入力された電気信号に重み付け係数を乗じて出力する。例えば第１乗算回路３８ａ（図７参照）は、第１電気信号５０ａ（図８参照）に重み付け係数を乗じて出力する。各乗算回路の重み付け係数は、第１集積回路３６ａにより第１制御線５２ａ（図７参照）を介して各乗算回路に与えられる。第１制御線５２ａは、信号線（すなわち、電気信号を伝達する配線）である。

各乗算回路の重み付け係数は、各乗算回路に接続された信号線が対応する値に応じた係数である。例えば、第１乗算回路３８ａの重み付け係数は、第１乗算回路３８ａに接続された第１信号線４６ａが対応する値である００ｂに応じた値（例えば、０）である。

図９は、各乗算回路に与えられる重み付け係数の一例を示す図である。

Ｃ_００は、００ｂに対応する第１信号線４６ａに接続された第１乗算回路３８ａの重み付け係数である。Ｃ_０１は、０１ｂに対応する第２信号線４６ｂに接続された第２乗算回路３８ｂの重み付け係数である。Ｃ_１０は、１０ｂに対応する第３信号線４６ｃに接続された第３乗算回路３８ｃの重み付け係数である。Ｃ_１１は、１１ｂに対応する第４信号線４６ｄに接続された第４乗算回路３８ｄの重み付け係数である。

図２を参照して説明した複数の信号１６は、重み付け係数が乗じられた複数の電気信号５０により実現される。

―遅延回路４０―
複数の遅延回路４０は例えば、可変同軸線と可変同軸線の駆動回路とを有する回路である。

複数の遅延回路４０は夫々、抵抗素子、インダクタ、およびキャパシタを有する受動回路であってもよい。抵抗素子、インダクタ、およびキャパシタの少なくとも一つは、可変素子である。複数の遅延回路４０は更に、この可変素子の駆動回路を有する。

複数の遅延回路４０は夫々、ＡＤＣ（analog to digital converter）、ＡＤＣに接続されたＤＳＰ（digital signal processor）、およびＤＳＰに接続されたＤＡＣ（digital to analog converter）を有する回路であってもよい。

複数の遅延回路４０は、複数の乗算回路３８から出力される電気信号（すなわち、重み付け係数が乗じられた電気信号５０）に遅延を与える。

具体的には第１遅延回路４０ａ（図７参照）は、重み付け係数Ｃ_００が乗じられた第１電気信号５０ａ（第１信号ｂ_００に相当）に遅延を与える。第２遅延回路４０ｂは、重み付け係数Ｃ_０１が乗じられた第２電気信号５０ｂ（第２信号ｂ_０１に相当）に遅延を与える。第３遅延回路４０ｃは、重み付け係数Ｃ_１０が乗じられた第３電気信号５０ｃ（第３信号ｂ_１０に相当）に遅延を与える。第４遅延回路４０ｄは、重み付け係数Ｃ_１１が乗じられた第４電気信号５０ｄ（第４信号ｂ_１１に相当）に遅延を与える。

複数の遅延回路４０は夫々、第２制御線５２ｂを介して、夫々の遅延量が与えられる。

―加算回路４２―
加算回路４２は例えば、オペアンプと複数の抵抗素子を有するアナログ加算回路である。

加算回路４２は、複数の遅延回路４０から出力された複数の電気信号５０を積算して、和信号２０を発生する。加算回路４２が発生する和信号２０は、電気信号である。

―電気光変換回路４４―
図１０は、電気光変換回路４４のハードウエア構成の一例を示す図である。電気光変換回路４４は例えば、レーザドライバ５４と半導体レーザ（例えば、分布帰還型半導体レーザ）５６とを有する。

電気光変換回路４４は、和信号２０（図８参照）を、光強度が和信号２０の強度に応じて変調され、波長が光強度に応じて変動する光信号２２に変換する。光信号２２は、光伝送路３０に送出される。具体的には、レーザドライバ５４が、和信号２０を駆動電流に変換して、半導体レーザ５６に供給する。駆動電流は例えば、半導体レーザ５６の閾値より僅かに大きいバイアス電流に、和信号２０の強度に略比例した電流を重畳した電流である。

―第２集積回路３６ｂ―
第２集積回路３６ｂは例えば、ＡＳＩＣである。第２集積回路３６ｂは、ＦＰＧＡであってもよい。

第２集積回路３６ｂは、複数の遅延回路４０夫々に夫々の遅延量を与える。第２集積回路３６ｂには、フィードバック制御のための制御回線（図示せず）が接続されてもよい。

具体的には、第２集積回路３６ｂは、第１遅延回路４０ａに第１電気信号５０ａの第１遅延量τ_００を与える。第２集積回路３６ｂは更に、第２遅延回路４０ｂに第２電気信号５０ｂの第２遅延量τ_０１を与える。第２集積回路３６ｂは更に、第３遅延回路４０ｃに第３電気信号５０ｃの第３遅延量τ_１０を与える。第２集積回路３６ｂは更に、第４遅延回路４０ｄに第４電気信号５０ｄの第４遅延量τ_１１を与える。

変調マッピング部４（図１参照）は例えば、第１集積回路３６ａと複数の乗算回路３８とにより実現される。複数のスキュー部６は例えば、複数の遅延回路４０により実現される。和算部８は例えば、加算回路４２により実現される。電気光変換部１０は例えば、電気光変換回路４４により実現される。スキュー制御部１２は例えば、第２集積回路３６ｂにより実現される。

（３）使用例
実施の形態１の光伝送装置２は例えば、光送信機（図示せず）と共に一つの光送受信装置に実装される。光伝送装置（すなわち、光送信機）２は例えば、光ファイバ対の一方に接続される。光受信機は、この光ファイバ対の他方に接続される。

実施の形態１の光伝送装置２は例えば、IEEE 802.3bs作業部会で検討が進められている４値振幅変調（すなわち、ＰＡＭ４）の規格に適応できる装置である。IEEE 802.3bsで検討されているＰＡＭ４の規格には、８つのレーンが規定されている。

図１１は、IEEE 802.3bsで検討されているＰＡＭ４の規格に規定された８つのレーンＬ０～Ｌ７夫々の中心波長を示す図である。各レーンの波長幅は、約２ｎｍである。図１１には、IEEE 802.3bsで検討されているＰＡＭ４の規格に規定された光ファイバの波長分散５８の一例も示されている。波長分散は、波長が単位波長（例えば、１ｎｍ）異なる２つの光が、単位長（例えば、１ｋｍ）伝搬したときに生ずる群遅延時間差である。横軸は波長である。縦軸は波長分散である。

図１１に示す波長分散５８の零分散波長は、１３２４ｎｍである。IEEE 802.3bsで検討されているＰＡＭ４の伝送距離は、２～１０ｋｍである。１３２４ｎｍは、IEEE 802.3bsで検討されているＰＡＭ４の規格に規定された最も長い零分散波長である。

図１１の波長分散５８が光多値信号に与える影響を評価する。光ファイバの長さは、１０ｋｍとする。評価する光多値信号は、４値信号である。伝送速度は５３．１２５Ｇｂ／ｓ（２６．５６２６ ＧＢ／ｓ）とする。従って、シンボル間の時間差は３７．６ｐｓである。評価する光多値信号の波長は、図４に示した波長λ_００～λ_１１である。図４の波長λ_００～λ_１１は、最も零分散波長から離れたレーンＬ０の波長範囲内の波長である。

００ｂに対応する光多値信号の波長λ_００と０１ｂに対応する光多値信号の波長λ_０１の差は０．４ｎｍである。同様に、０１ｂに対応する光多値信号の波長λ_０１と１０ｂに対応する光多値信号の波長λ_１０の差は０．４ｎｍである。１０ｂに対応する光多値信号の波長λ_１０と１１ｂに対応する光多値信号の波長λ_１１の差も０．４ｎｍである。

図１２は、以上の条件で評価した光多値信号のアイパターンである。図１２（ａ）は光ファイバに入射する前の光多値信号のアイパターンである。図１２（ｂ）は光ファイバから出射した光多値信号のアイパターンである。図１２（ａ）および図１２（ｂ）の横軸は時間である。縦軸は光強度である。白抜きの矢印は、光多値信号の光強度を示している。例えば、１１ｂの左側の矢印は、１１ｂに対応するシンボルの光強度Ｌ_１１の位置を示している。

図１２（ａ）に示すように、光ファイバに入射する前のアイパターンは綺麗に開いておる。すなわち、各シンボルの位相は揃っている。シンボルの間隔（すなわち、光多値信号の周期）は、３７．６ｐｓである。

図１２（ｂ）の第１破線６０ａは、１１ｂに対応するシンボルの立ち上がり位置（または、立下り位置）を示している。第２破線６０ｂは、１０ｂに対応するシンボルの立ち上がり位置（または、立下り位置）を示している。第３破線６０ｃは、０１ｂに対応するシンボルの立ち上がり位置（または、立下り位置）を示している。

１１ｂに対応するシンボルは、１０ｂに対応するシンボルに対し約２０ｐｓ進む。一方、０１ｂに対応するシンボルは、１０ｂに対応するシンボルに対し約２０ｐｓ遅れる。すなわち、１１ｂに対応するシンボルは、０１ｂに対応するシンボルに対して略１周期進む。その結果、符号間干渉が発生し、符号誤りが発生する。

実施の形態１によれば、変調マッピング部４が出力する複数の信号１６に互いに異なる遅延を与える事で、レベルが異なるシンボル（例えば、光パルスＰ_００～Ｐ_１１）間に生じる群遅延時間差を補償できる（「（１）構成および動作」参照）。従って光伝送装置２によれば、レベルが異なるシンボル間に生じる群遅延時間差による符号誤りを抑制できる。

（４）分散補償器による符号誤りの抑制
群遅延時間差は、分散補償器によっても抑制することができる。図１３は、分散補償器６２により群遅延時間差（すなわち、到達時間差）を抑制するシステムの一例である。

分散補償器６２は例えば、分散補償ファイバまたはチャープファイバーブラッググレーティング(chirped fiber bragg grating)により実現できる。分散補償器６２は、補償量の変更が可能な可変分散補償器（virtually imaged phase array: VIPA）であってもよい。

図１３のシステム６４は、ＰＡＭ変調器６６、電気光変換回路４４、光伝送路３０、分散補償器６２、光電気変換回路６８、およびＰＡＭ復調器７０を有する。

ＰＡＭ変調器６６は、デジタル信号（例えば、２つのＮＲＺ信号）を電気の多値信号に変換する。電気光変換回路４４は、半導体レーザの直接変調により、ＰＡＭ変調器６６が出力した電気の多値信号を光多値信号に変換する。分散補償器６２は、光伝送路３０を通過した光多値信号に群遅延時間差とは逆の時間差を与える。この逆の時間差により、レベルが異なるシンボル間に生じる群遅延時間差が補償される。

群遅延時間差が補償された光多値信号は、光電気変換回路６８により電気の多値信号に変換される。変換された電気の多値信号はその後、ＰＡＭ復調器７０により電気の２値信号（例えば、２つのＮＲＺ信号）に変換される。

図１３のシステム６４によれば、レベルが異なるシンボル間に生じる群遅延時間差は分散補償器６２により補償される。従って、ＰＡＭ復調器７０における符号誤りの発生を抑制することができる。

しかし、分散補償器６２の挿入損失は、光伝送路３０による損失と略同じである。例えば、１０ｋｍの単一モード光ファイバの群遅延時間差を補償するための分散補償器６２（例えば、分散補償ファイバ）の損失は６．３ｄＢである。このように大きな損失は、光多値信号のＳＮＲ（Signal-to-Noise Ratio）を劣化させて、符号誤り率を増加させる。

実施の形態１の光伝送装置２を用いるシステムでは、光伝送路３０は光電気変換回路６８に直接接続される。従って、実施の形態１の光伝送装置２を用いるシステムの符号誤り率は、分散補償器６２を用いるシステム６４の符号誤り率より低い。

（５）変形例
（５－１）変形例１
図７の光伝送装置２は、遅延回路４０により複数のスキュー部６（図１参照）を実現する。しかし複数のスキュー部６は、ＤＳＰ（digital signal processor）により実現されてもよい。

図１４は、ＤＳＰ７２を有する光伝送装置２のハードウエア構成の一例を示す図である。図１４の光伝送装置２は、ＤＳＰ７２、ＤＡＣ（digital to analog converter）７４、電気光変換回路４４、および第２集積回路３６ｂを有する。電気光変換回路４４および第２集積回路３６ｂは、図７および８を参照して説明した回路である。

変調マッピング部４（図１参照）、複数のスキュー部６、および和算部８は、ＤＳＰ７２により実現される。電気光変換部１０は、ＤＡＣ（digital to analog converter）７４および電気光変換回路４４により実現される。スキュー制御部１２は、第２集積回路３６ｂにより実現される。

ＤＳＰ７２は、デジタル信号１４（図２参照）に応答して、和信号２０を出力する。図１４の光伝送装置２における複数の信号１６（図２参照）は、数値化された複数の信号（すなわち、データ）である。同様に、図１４の光伝送装置２における和信号２０も、数値化された信号である。

ＤＡＣ７４は、数値化された和信号２０を電気信号に変換する。電気光変換回路４４は、この電気信号を光信号２２に変換して送信する。

図１４の光伝送装置２によれば、ＤＳＰ７２のプログラムを変更するだけで、スキュー部６の遅延量の制御方法（実施の形態２～４参照）を変更できる。更に、図１４の光伝送装置２によれば、光伝送装置２の小型化が容易になる。

（５－２）変形例２
以上の例では、複数のスキュー部６は、変調マッピング部４から出力された複数の信号１６の全部に遅延を与える。しかし複数のスキュー部６は、変調マッピング部４から出力された複数の信号１６の一部だけに遅延を与えてもよい。

図３に示す例では、第１信号ｂ_００に与えられる強度は、デジタル信号１４が示す全ての値（００ｂ～１１ｂ）に対して０である。従って、第１信号ｂ_００に遅延を与えなかった場合の和信号２０と、第１信号ｂ_００に遅延を与えた場合の和信号２０との間に差異はない。従って、複数のスキュー部６は、複数の信号１６のうちの第２信号ｂ_０１～第４信号ｂ_１１だけに遅延を与えてもよい。

具体的には、複数のスキュー部６は例えば、第２スキュー部ｄ_０１～第４スキュー部ｄ_１１（図２）だけを有してもよい。変形例２によれば、複数のスキュー部６の数を削減できる。

（５－３）変形例３
以上の例では、和算部８は、複数のスキュー部６から出力された複数の信号１６の全部を積算して和信号２０を発生する。しかし和算部８は、複数のスキュー部６から出力された複数の信号１６の一部を積算して、和信号２０を発生してもよい。

具体的には和算部８は、複数のスキュー部６から出力された複数の信号１６のうちの第２信号ｂ_０１～第４信号ｂ_１１だけを積算してもよい。第１信号ｂ_００の強度は０なので、複数の信号１６全てを積算して得られる和信号２０と、第２信号ｂ_０１～第４信号ｂ_１１だけを積算して得られる和信号２０との間に差異はない。従って和算部８は、遅延が与えられた複数の信号１６のうちの第２信号ｂ_０１～第４信号ｂ_１１だけを積算してもよい。

変形例３によれば、和算部８の構成を簡略化できる。

（５－４）変形例４
以上の例では、光伝送装置２が送信する光多値信号がｎ値信号（ｎは３以上の整数）の場合、変調マッピング部４が出力する複数の信号１６は、０以上ｎ－１以下の複数の整数に１対１で対応する。しかし複数の信号１６は、０以上ｎ－１以下の複数の整数の一部だけに1対１で対応する信号であってもよい。

例えば図１～３に示す例では、複数の信号１６は、１以上３以下の整数（０以上３以下の整数の一部）に1対１で対応する信号（すなわち、第２信号ｂ_０１～第４信号ｂ_１１）であってもよい。

第１信号ｂ_００に付加される強度は０なので、第１信号ｂ_００～第４信号ｂ_１１を積算して得られる和信号２０と、第２信号ｂ_０１～第４信号ｂ_１１を積算して得られる和信号２０との間に差異はない。従って複数の信号１６は、１以上３以下の整数に1対１で対応する第２信号ｂ_０１～第４信号ｂ_１１であってもよい。

変形例４によれば、複数のスキュー部６の数を削減できると共に、変調マッピング部４および和算部８の構成を簡素化できる。

（６）光伝送方法
以上のように実施の形態１では、デジタル信号１４（すなわち、入力信号９４）が有する値に対応する信号に、この値に応じた強度を付加する。実施の形態１では更に、この信号を含む複数の信号１６に遅延を与える。実施の形態１では更に、強度が付加され更に遅延が与えられた複数の信号１６を和算して、和信号２０を発生する。実施の形態１では更に、和信号２０を、光強度が和信号２０の強度に応じて変調され光強度に応じて波長が変動する光信号２２に変換して送信する。

実施の形態１によれば、変調マッピング部４が出力する複数の信号１６に遅延を与える事が可能なので、光信号２２のシンボル間に生じる群遅延時間差を補償できる。従って実施の形態１によれば、光強度に応じて波長が変動する光多値信号（すなわち、直接変調による光多値信号）の群遅延時間差による受信品質の劣化を抑制できる。

（実施の形態２）
実施の形態２の光伝送装置２０２（図１５参照）は、複数の信号１６に与える遅延量をフィードバック制御する装置である。その他の構成等は、実施の形態１の光伝送装置２の構成等と略同じである。従って、実施の形態１と同じ構成等については、説明を省略または簡単にする。

（１）構成および動作
図１５は、実施の形態２の光伝送装置２０２が適用されたシステム２６４の一例を示す図である。図１６は、図１５における信号の流れを示す図である。

システム２６４は、光伝送装置２０２、光伝送路３０、および光伝送路３０を介して光伝送装置２０２に接続された光受信機７６を有する。光伝送路３０は例えば、単一モード光ファイバである。

（１－１）光伝送装置
光伝送装置２０２のスキュー制御部２１２は例えば、制御回線（例えば、メタルケーブル）７８を介して光受信機７６に接続される。この点を除き、光伝送装置２０２の構成は、実施の形態１の光伝送装置２の構成と実質的に同じである。

図１５に示す例では、スキュー制御部２１２には、入力部８２と表示部８０とが接続される。入力部８２と表示部８０は例えば、実施の形態３で説明するフィードフォワード制御のためのデータ入力に使用できる。入力部８２と表示部８０は省略されてもよい。

（１－２）光受信機
光受信機７６は、光電気変換部８４、多値復調部８６、測定部８８、および監視部９０を有する。光電気変換部８４は、光伝送路３０を介して光伝送装置２０２の電気光変換部１０に接続される。光電気変換部８４は、光伝送路３０を介して受信した光信号２２（図１６参照）を電気信号である受信信号９２に変換する。

多値復調部８６は例えば、受信信号９２を復調してデジタル信号１５に出力する。

測定部８８は、受信信号９２の符号誤り率（すなわち、bit error rate）を測定する。監視部９０は、測定部８８が測定した符号誤り率９６を監視して、符号誤り率９６の変化に基づいてスキュー制御部２１２にコマンドを送出する。監視部９０には、入力部９８と表示部１００とが接続されてもよい。

多値復調部８６（図１５参照）が出力するデジタル信号１５（図１６参照）は、受信信号９２から再生された光伝送装置２０２の入力信号９４である。入力信号９４は所謂、実信号である。

測定部８８が測定する符号誤り率は、多値復調部８６により再生されるデジタル信号１４の符号誤り率である。具体的には、測定部８８が測定する符号誤り率は例えば、デジタル信号１４に含まれる２つの２値信号の一方の符号誤り率である。

デジタル信号１４は例えば、「遅延量の調整の間」（下記「―制御―」参照）は試験信号１７であり、運用開始後（下記「―運用開始（ステップＳ１２８）―）」参照）は入力信号９４である。入力信号９４は、外部の通信機器から光伝送装置２０２に入力する信号である。

図１６に示す例では、試験信号１７は、光伝送装置２０２の外部から光伝送装置２０２に供給される外部信号である。しかし試験信号１７は、光伝送装置２６４の内部で発生する内部信号であってもよい。

―制御―
スキュー制御部２１２は、光受信機７６が受信する光信号２２の受信品質（例えば、受信信号９２の符号誤り率）に基づいて、複数のスキュー部６夫々に与えた遅延量を調整する。すなわちスキュー制御部１２は、フィードバック制御を実行する。

各スキュー部６に与えられる遅延量は、例えば０ｐｓである。与えられた遅延量の調整（以下、遅延量の調整と呼ぶ）は、受信信号９２の信号雑音比 (signal-noise ratio)に基づいて行われてもよい。

具体的には、スキュー制御部２１２は例えば、監視部９０からのコマンドに応答して、複数の信号１６に与えた遅延量を調整する。

上述したように、遅延量の調整の間は、光伝送装置２０２は入力信号９４の代わりに、試験信号１７（例えば、２つの疑似ランダム信号）を光信号２２に変換して送信する。

実施の形態２のスキュー制御部２１２は、複数のスキュー部６に与えた遅延量を、フィードバック制御により調整する。従って実施の形態２によれば、光強度に応じて波長が変動する光多値信号の群遅延時間差による受信品質の劣化を、抑制することができる。

以下に示す例では、試験信号が内部信号である場合の光伝送装置２０２の構成および処理を説明する。

（２）ハードウエア
図１７は、実施の形態２の光伝送装置２０２のハードウエア構成の一例を示す図である。図１７には、光受信機７６のハードウエア構成も示されている。図１８は、図１７における信号の流れを示す図である。

（２－１）光伝送装置２０２
光伝送装置２０２の第２集積回路２３６ｂは、例えば制御回線７８を介して光受信機７６の第１インターフェイス回路１０６ａに接続される。第２集積回路２３６ｂは更に、第５信号線４６ｅを介して第１集積回路２３６ａに接続される。第２集積回路２３６ｂは更に、第６信号線４６ｆを介して入力信号９４を送信する通信機器（図示せず）に接続される。

第２集積回路２３６ｂは、表示装置１０８と入力装置１１０に接続されてもよい。以上の点を除き、光伝送装置２０２のハードウエア構成は、実施の形態１の光伝送装置２のハードウエア構成と実質的に同じである。表示装置１０８と入力装置１１０は省略されてもよい。

入力装置１１０は例えば、マウス等のポインティング・デバイスおよびキーボードを含む装置である（後述する入力装置１２４についても同様）。表示装置１０８は例えば、液晶ディスプレイである（後述する表示装置１２２についても同様）。

スキュー制御部２１２は、第２集積回路２３６ｂにより実現される。表示部８０（図１５参照）は、表示装置１０８により実現される（後述する表示部１００についても同様）。入力部８２は、入力装置１１０により実現される（後述する入力装置１２４についても同様）。

図１７に示す例では、光伝送装置２０２は第１集積回路２３６ａ等により実現される。光伝送装置２０２は、実施の形態１の変形例１（図１４参照）と同様、ＤＳＰ７２等により実現されてもよい。

（２－２）光受信機７６
光受信機７６は例えば、光電気変換回路１１２、第３集積回路３６ｃ、ＣＰＵ（central processing unit）１１４、メモリ１１５、および不揮発性メモリ１１８を有する。光受信機７６は更に、第１インターフェイス回路１０６ａ、第２インターフェイス回路１０６ｂ、およびバス１２１を有する。ＣＰＵ１１４（プロセッサ）は、ハードウエアである。

光電気変換回路１１２は例えば、フォトダイオードとＴＩＡ（trans-impedance amplifier）とを有する回路である。第３集積回路３６ｃ、ＣＰＵ１１４、メモリ１１５、不揮発性メモリ１１８、第１インターフェイス回路１０６ａ、および第２インターフェイス回路１０６ｂは、バス１２１を介して互いに接続される。光受信機７６は、第２インターフェイス回路１０６ｂを介して、入力装置１２４および表示装置１２２に接続されてもよい。

第３集積回路３６ｃは例えば、ＡＳＩＣまたはＦＰＧＡである。メモリ１１５は例えば、ＲＡＭ（random access memory）である。不揮発性メモリ１１８は例えば、フラッシュメモリである。不揮発性メモリ１１８には、後述する監視プログラムが記録される。

光電気変換部８４（図１５参照）は例えば、光電気変換回路１１２により実現される。多値復調部８６および測定部８８は例えば、第３集積回路３６ｃにより実現される。監視部９０は例えば、ＣＰＵ１１４とメモリ１１５とにより実現される。

（３）処理
（３－１）光受信機の処理
図１９は、光伝送装置２０２と光受信機７６とが協働して実行する処理の流れを示すシーケンス図である。図１９には、制御回線７８を介して送受信されるコマンド等の流れが示されている。エコー要求１２８、エコー応答１３０、第１コマンド１３２ａ～第５コマンド１３２ｅは、制御回線７８を介して送受信される。

図２０～２１は、監視部９０が実行する監視プログラムのフローチャートである。監視プログラムは例えば、不揮発性メモリ１１８に記録されている。

―監視プログラムの起動―
ＣＰＵ１１４は、起動指示操作に応答して、不揮発性メモリ１１８から監視プログラムを読み出してメモリ１１５に展開する。その後、ＣＰＵ１１４は、監視プログラムが有するプロセスを順次実行する。起動指示操作は例えば、入力装置１２４に対する操作である。

―応答時間の測定（ステップＳ２）―
ＣＰＵ１１４は、光伝送装置２０２の応答時間を測定する（図２０参照）。

具体的には、例えばｐｉｎｇツールを用いてエコー要求１２８（図１９参照）を送信して、エコー要求１２８の送信からエコー応答１３０の受信までの時間を測定する。エコー応答１３０は、制御回線７８を介して返信される。

ステップＳ２は、監視部９０により実行される。

―待機時間の決定（ステップＳ４）―
ステップＳ２の後、ＣＰＵ１１４は、ステップＳ２で測定した応答時間に基づいて、ステップＳ１６等で用いる待機時間を決定する。

待機時間は例えば、光受信機７６が第２コマンド１３２ｂ～第４コマンド１３２ｄを送信してから、光信号２２に変換された試験信号を受信するまでの時間より長い時間である。

ステップＳ４は、監視部９０により実行される。

―試験信号の送信要求（ステップＳ６）―
ステップＳ４の後、ＣＰＵ１１４は、第１コマンド１３２ａを、制御回線７８を介して光伝送装置２０２に送信する。第１コマンド１３２ａは、光伝送装置２０２に、試験信号の送信を要求するコマンドである。

試験信号は、符号誤り率の測定のための信号である。光伝送装置２０２は第１コマンド１３２ａに応答して、試験信号を光信号２２に変換して光受信機７６に送信する。光伝送装置２０２は、第５コマンド１３２ｅ（図１９参照）を受信するまで、試験信号の送信を継続する。

ステップＳ６は、監視部９０により実行される。

―測定パラメータを決定（ステップＳ８）―
ステップＳ６の後、ＣＰＵ１１４は、符号誤り率の測定のためのパラメータを決定する。

具体的には、ＣＰＵ１１４は先ず、光電気変換回路１１２と第３集積回路３６ｃを介して、光伝送装置２０２により送信された試験信号を取得する。すなわちＣＰＵ１１４は、光信号２２に変換され更に光電気変換回路１１２により光電気変換された受信信号９２である試験信号を取得する。

ＣＰＵ１１４は更に、取得した試験信号に基づいて、符号誤り率の測定のためのパラメータを決定する。ＣＰＵ１１４は例えば、多値信号の符号レベル（すなわち、多値信号の値）を判定するための振幅の判定レベルを決定する。ＣＰＵ１１４は更に、位相の判定レベルを決定する。

ステップＳ８は、測定部８８により実行される。

―符号誤り率の測定(ステップＳ１０)―
ステップＳ８の後、ＣＰＵ１１４は、ステップＳ８で決定した判定レベルに基づいて、受信信号９２の符号誤り率を測定する（ステップＳ１８、Ｓ２８、Ｓ３８についても同様）。ステップＳ１０は、測定部８８により実行される。

―符号誤り率の記録(ステップＳ１２)―
ステップＳ１０の後、ＣＰＵ１１４は、測定した符号誤り率をメモリ１１５に記録する。ステップＳ１２は、監視部９０により実行される。

―加算要求（第２コマンド１３２ｂ）の送信（ステップＳ１４）―
ＣＰＵ１１４は、第２コマンド１３２ｂを、制御回線７８を介して第２集積回路２３６ｂに送信する。第２コマンド１３２ｂは、光伝送装置２０２に第２遅延量τ_０１の増加を要求するコマンドである。ステップＳ１４は、監視部９０により実行される。

―符号誤り率の測定および記録(ステップＳ１６～Ｓ２０)―
ステップＳ１４の後、ＣＰＵ１１４は暫く待機する(ステップＳ１６)。待機する時間は、ステップＳ４で決定した待機時間である（ステップＳ２６およびＳ３６についても同様）。ステップＳ１６は、監視部９０により実行される。

ステップＳ１６の後、ＣＰＵ１１４は、受信信号９２の符号誤り率を測定する（ステップＳ１８）。ステップＳ１８は、測定部８８により実行される。

ステップＳ１８の後、ＣＰＵ１１４は、ステップＳ１８で測定した符号誤り率をメモリ１１５に記録する（ステップＳ２０）。ステップＳ２０は、監視部９０により実行される。

―判定(ステップＳ２２)―
ステップＳ２０の後、ＣＰＵ１１４はメモリ１１５から、最後に記録された符号誤り率Ｅ_ｆと、符号誤り率Ｅ_ｆの一つ前に記録された符号誤り率Ｅ_ｆ－１とを読み出す。ＣＰＵ１１４は更に、符号誤り率Ｅ_ｆが符号誤り率Ｅ_ｆ－１より小さいか否かを判定する。

符号誤り率Ｅ_ｆが符号誤り率Ｅ_ｆ－１より小さい場合、ＣＰＵ１１４はステップＳ１４に戻る。符号誤り率Ｅ_ｆが符号誤り率Ｅ_ｆ－１以上の場合、ＣＰＵ１１４はステップＳ２４に進む。ステップＳ２２は、監視部９０により実行される。

―加算要求（第３コマンド１３２ｃ）の送信（ステップＳ２４）―
ＣＰＵ１１４は、第３コマンド１３２ｃを、制御回線７８を介して第２集積回路２３６ｂに送信する。第３コマンド１３２ｃは、光伝送装置２０２に第３遅延量τ_１０の増加を要求するコマンドである。ステップＳ２４は、監視部９０により実行される。

―待機(ステップＳ２６)―
ステップＳ２４の後、ＣＰＵ１１４は暫く待機する。ステップＳ２６は、監視部９０により実行される。

―符号誤り率の測定(ステップＳ２８)―
ステップＳ２６の後、ＣＰＵ１１４は、受信信号９２の符号誤り率を測定する。ステップＳ２８は、測定部８８により実行される。

―符号誤り率の記録(ステップＳ３０)―
ステップＳ２８の後、ＣＰＵ１１４は、ステップＳ２８で測定した符号誤り率をメモリ１１５に記録する。ステップＳ３０は、監視部９０により実行される。

―判定(ステップＳ３２)―
ステップＳ３２の後、ＣＰＵ１１４は、メモリ１１５から、最後に記録された符号誤り率Ｅ_ｆと、符号誤り率Ｅ_ｆの一つ前に記録された符号誤り率Ｅ_ｆ－１とを読み出す。ＣＰＵ１１４は更に、符号誤り率Ｅ_ｆが符号誤り率Ｅ_ｆ－１より小さいか否かを判定する。

符号誤り率Ｅ_ｆが符号誤り率Ｅ_ｆ－１より小さい場合、ＣＰＵ１１４はステップＳ２４に戻る。符号誤り率Ｅ_ｆが符号誤り率Ｅ_ｆ－１以上の場合、ＣＰＵ１１４はステップＳ３４に進む。ステップＳ３２は、監視部９０により実行される。

―加算要求（第４コマンド１３２ｄ）の送信（ステップＳ３４）―
ＣＰＵ１１４は、第４コマンド１３２ｄを、制御回線７８を介して第２集積回路２３６ｂに送信する。第４コマンド１３２ｄは、光伝送装置２０２に第４遅延量τ_１１の増加を要求するコマンドである。ステップＳ３４は、監視部９０により実行される。

―待機(ステップＳ３６)―
ステップＳ３４の後、ＣＰＵ１１４は暫く待機する。ステップＳ３６は、監視部９０により実行される。

―符号誤り率の測定(ステップＳ３８)―
ステップＳ３６の後、ＣＰＵ１１４は、受信信号９２の符号誤り率を測定する。ステップＳ３８は、測定部８８により実行される。

―符号誤り率の記録(ステップＳ４０)―
ステップＳ３８の後、ＣＰＵ１１４は、ステップＳ３８で測定した符号誤り率をメモリ１１５に記録する。ステップＳ４０は、監視部９０により実行される。

―判定(ステップＳ４２)―
ＣＰＵ１１４は、メモリ１１５から、最後に記録された符号誤り率Ｅ_ｆと、符号誤り率Ｅ_ｆの一つ前に記録された符号誤り率Ｅ_ｆ－１とを読み出す。ＣＰＵ１１４は、符号誤り率Ｅ_ｆが符号誤り率Ｅ_ｆ－１より小さいか否かを判定する。符号誤り率Ｅ_ｆが符号誤り率Ｅ_ｆ－１より小さい場合、ＣＰＵ１１４はステップＳ３４に戻る。符号誤り率Ｅ_ｆが符号誤り率Ｅ_ｆ－１以上の場合、ＣＰＵ１１４はステップＳ４４に進む。ステップＳ４２は、監視部９０により実行される。

―運用開始要求の送信（ステップＳ４４）―
ＣＰＵ１１４は、第５コマンド１３２ｅを、制御回線７８を介して第２集積回路２３６ｂに送信する。第５コマンド１３２ｅは、光伝送装置２０２に、試験信号の送信の終了および入力信号９４の送信の開始を要求するコマンドである。

入力信号９４は例えば、通信機器により送信され変調マッピング部２０４（図１５参照）により受信されるデジタル信号１４である。入力信号９４は、試験信号とは異なる信号である。ステップＳ４４は、監視部９０により実行される。

以上により、監視プログラムは終了する。

第５コマンド１３２ｅの送信により、運用期間１３６（図１９参照）が開始する。

ステップＳ１４～Ｓ２２、ステップＳ２４～Ｓ３２、およびステップＳ３４～Ｓ４２夫々を実行する順番は、互いに入れ替えられてもよい。

（３－２）光伝送装置の処理
図２２～２３は、光伝送装置２０２が実行する処理の流れを示す図である。

―遅延量の初期化（ステップＳ１０２）―
第２集積回路２３６ｂ（すなわち、スキュー制御部２１２）は、複数の遅延回路４０夫々に所定の遅延量を与える。第２集積回路２３６ｂは例えば、複数の遅延回路４０夫々に０ｐｓの遅延量を与える。

具体的には例えば、第２集積回路２３６ｂは、第２制御線５２ｂ（図１７参照）を介して複数の遅延回路４０夫々にリセット信号を送信して、複数の遅延回路４０夫々の遅延量を０ｐｓに設定する。第２制御線５２ｂは、信号線である。

ステップＳ１０２は、スキュー制御部２１２により実行される。

―エコー要求の受信（ステップＳ１０４）―
ステップＳ１０２の後、第２集積回路２３６ｂは、エコー要求１２８を受信するまで待機する。ステップＳ１０２は、スキュー制御部２１２により実行される。

―エコー応答の送信（ステップＳ１０６）―
ステップＳ１０４の後、第２集積回路２３６ｂは、制御回線７８を介してエコー応答１３０を監視部９０に送信する。ステップＳ１０６は、スキュー制御部２１２により実行される。

―試験信号の送信要求の受信（ステップＳ１０８）―
ステップＳ１０６の後、第２集積回路２３６ｂは、第１コマンド１３２ａを受信するまで待機する。第１コマンド１３２ａは、光伝送装置２０２に、光信号２２に変換された試験信号の送信を要求するコマンドである。第１コマンド１３２ａの受信により、調整期間１３４（図１９参照）が開始する。

ステップＳ１０８は、スキュー制御部２１２により実行される。

―試験信号の送信（ステップＳ１１０）―
ステップＳ１０８の後、第２集積回路２３６ｂは第１集積回路２３６ａ等と協働して、試験信号を光信号２２に変換して、光伝送路３０を介して光受信機７６に送信する。

具体的には例えば、第２集積回路２３６ｂは、第１コマンド１３２ａに応答して、第６コマンド１３２ｆ（図１８参照）を第１集積回路２３６ａに送出する。第２集積回路２３６ｂは更に、光伝送装置２０２に接続された通信機器に、デジタル信号１４の送信を禁止する信号１３８（例えば、disable信号）を送信する。

第１集積回路２３６ａは、第６コマンド１３２ｆに応答して、内部メモリ（第１集積回路２３６ａ内部のメモリ）に記録された２つの疑似ランダム（Pseudo Random Binary Sequence）信号を読み出す。第１集積回路２３６ａは、読み出した２つの疑似ランダム信号を複数の電気信号５０に変換して、並行して出力する。具体的には、２つの疑似ランダム信号の一方をＭＳＢとし他方をＬＳＢとする２ビット信号を、電気信号５０に変換する。この２ビット信号が、試験信号の一例である。

複数の乗算回路３８、複数の遅延回路４０、加算回路４２、および電気光変換回路４４は協働して、複数の電気信号５０を光信号２２に変換して送信する。

以上の例では試験信号は、第１集積回路２３６ａが発生する２つの疑似ランダム信号である。試験信号１７（図１６参照）は、第１集積回路２３６ａに光伝送装置２０２の外部から入力される２つの疑似ランダム信号であってもよい。

ステップＳ１０８は、スキュー制御部２１２、変調マッピング部２０４、複数のスキュー部６、和算部８、および電気光変換部１０により実行される。

―コマンド受信の判定（ステップＳ１１２）―
ステップＳ１１０の後、第２集積回路２３６ｂは、監視部９０からコマンドを受信するまで待機する。第２集積回路２３６ｂは、コマンドを受信するとステップＳ１１４に進む。

ステップＳ１１２は、スキュー制御部２１２により実行される。

―コマンドの判定（Ｓ１１４）―
ステップＳ１１２の後、第２集積回路２３６ｂは、ステップＳ１１２で受信したコマンドが第２コマンド１３２ｂであるか否か判定する。第２コマンド１３２ｂは、第２遅延量τ_０１の加算を要求するコマンドである。

ステップＳ１１２で受信したコマンドが第２コマンド１３２ｂである場合、第２集積回路２３６ｂはステップＳ１１６に進む。ステップＳ１１２で受信したコマンドが第２コマンド１３２ｂでない場合、第２集積回路２３６ｂはステップＳ１１８に進む。

ステップＳ１１４は、スキュー制御部２１２により実行される。

―第２遅延量τ_０１の加算（Ｓ１１６）―
第２集積回路２３６ｂは第２遅延回路４０ｂと協働して、複数の乗算回路３８から出力された複数の電気信号５０のうちの第２電気信号５０ｂ（第２信号ｂ_０１に相当）に与える第２遅延量τ_０１にΔτを加算する。加算後の第２遅延量τ_０１は、τ_０１+Δτである。ステップＳ１１６の後、第２集積回路２３６ｂはステップＳ１１４に戻る。遅延量の増分Δτは例えば、０．０１～０．１ｐｓである。

具体的には、第２集積回路２３６ｂは例えば、第２制御信号４１ｂを第２遅延回路４０ｂに送出する。第２遅延回路４０ｂは、第２制御信号４１ｂに応答して、第２遅延量τ_０１にΔτを加算する。

ステップＳ１１６は、スキュー制御部２１２（図１５参照）と第２スキュー部ｄ_０１とにより実行される。

―コマンドの判定（Ｓ１１８）―
第２集積回路２３６ｂは、ステップＳ１１２で受信したコマンドが第３コマンド１３２ｃであるか否か判定する。第３コマンド１３２ｃは、第３遅延量τ_１０の加算を要求するコマンドである。

ステップＳ１１２で受信したコマンドが第３コマンド１３２ｃである場合、第２集積回路２３６ｂはステップＳ１２０に進む。ステップＳ１１２で受信したコマンドが第３コマンド１３２ｃでない場合、第２集積回路２３６ｂはステップＳ１２２に進む。

ステップＳ１１８は、スキュー制御部２１２により実行される。

―第３遅延量τ_１０の加算（Ｓ１２０）―
第２集積回路２３６ｂは第３遅延回路４０ｃと協働して、複数の乗算回路３８から出力された複数の電気信号５０のうちの第３電気信号５０ｃ（第３信号ｂ_１０に相当）に与える第３遅延量τ_１０にΔτを加算する。加算後の第３遅延量τ_１０は、τ_１０+Δτである。

ステップＳ１２０の後、第２集積回路２３６ｂはステップＳ１１８に戻る。遅延量の増分Δτは例えば、０．０１～０．１ｐｓである。

具体的には、第２集積回路２３６ｂは例えば、第３制御信号４１ｃを第３遅延回路４０ｃに送出する。第３遅延回路４０ｃは、第３制御信号４１ｃに応答して、第３遅延量τ_１０にΔτを加算する。

ステップＳ１２０は、スキュー制御部２１２と第３スキュー部ｄ_１０とにより実行される。

―コマンドの判定（Ｓ１２２）―
第２集積回路２３６ｂは、ステップＳ１１２で受信したコマンドが第４コマンド１３２ｄであるか否か判定する。第４コマンド１３２ｄは、第４遅延量τ_１１の加算を要求するコマンドである。

ステップＳ１１２で受信したコマンドが第４コマンド１３２ｄである場合、第２集積回路２３６ｂはステップＳ１２４に進む。ステップＳ１１２で受信したコマンドが第４コマンド１３２ｄでない場合、第２集積回路２３６ｂはステップＳ１２６に進む。

ステップＳ１２２は、スキュー制御部２１２により実行される。

―第４遅延量τ_１１の加算（Ｓ１２４）―
第２集積回路２３６ｂは第４遅延回路４０ｄと協働して、乗算回路３８から出力された複数の電気信号５０のうちの第４電気信号５０ｄ（第４信号ｂ_１１に相当）に与える第４遅延量τ_１１にΔτを加算する。加算後の第４遅延量τ_１１は、τ_１１+Δτである。

ステップＳ１２４の後、第２集積回路２３６ｂはステップＳ１２２に戻る。遅延量の増分Δτは例えば、０．０１～０．１ｐｓである。

具体的には、第２集積回路２３６ｂは例えば、第４制御信号４１ｄを第４遅延回路４０ｄに送出する。第４遅延回路４０ｄは、第４制御信号４１ｄに応答して、第４遅延量τ_１１にΔτを加算する。

ステップＳ１２４は、スキュー制御部２１２と第４スキュー部ｄ_１１とにより実行される。

―コマンドの判定（Ｓ１２６）―
第２集積回路２３６ｂは、ステップＳ１１２で受信したコマンドが第５コマンド１３２ｅであるか否か判定する。第５コマンド１３２ｅは、光伝送装置２０２の運用開始を要求するコマンドである。

ステップＳ１１２で受信したコマンドが第５コマンド１３２ｅである場合、第２集積回路２３６ｂはステップＳ１２８に進む。ステップＳ１１２で受信したコマンドが第５コマンド１３２ｅでない場合、第２集積回路２３６ｂはステップＳ１１２に戻る。

ステップＳ１２２は、スキュー制御部２１２により実行される。

―運用開始（ステップＳ１２８）―
第２集積回路２３６ｂは、第１集積回路２３６ａに試験信号の出力を終了させる。第２集積回路２３６ｂは更に、光伝送装置２０２に接続された装置に、デジタル信号１４の送信を許可する。第１集積回路２３６ａは、このデジタル信号１４に応答して複数の電気信号５０を出力する。

具体的には、第２集積回路２３６ｂは例えば、第１集積回路２３６ａに第７コマンド１３２ｇを送出する。第１集積回路２３６ａは、第７コマンド１３２ｇに応答して、試験信号の出力を終了する。

第２集積回路２３６ｂは更に、光伝送装置２０２に接続された通信機器に、デジタル信号１４の送信を許可する信号１４０（例えば、enable信号）を送信する。第１集積回路２３６ａは、通信機器からのデジタル信号１４に応答して、複数の電気信号５０を出力する。

ステップＳ１２８は、スキュー制御部２１２により実行される。

ステップＳ１１４～Ｓ１１６、ステップＳ１１８～Ｓ１２０、ステップＳ１２２～Ｓ１２４、およびステップＳ１２６～Ｓ１２８夫々を実行する順番は互いに入れ替えられてもよい。

第２集積回路２３６ｂは、ステップＳ１１２～Ｓ１２６（特に、ステップＳ１１４～Ｓ１１６）により、受信信号９２の符号誤り率の減少が止むまで、第２遅延量τ_０１を増加し続ける。すなわちスキュー制御部２１２は、光信号２２の受信品質に基づいて、第２スキュー部ｄ_０１に与えた所定の第２遅延量τ_０１（例えば、０ｐｓ）を調整する。

同様に、スキュー制御部２１２は、光信号２２の受信品質（例えば、符号誤り率）に基づいて、第３スキュー部ｄ_１０に与えた所定の第３遅延量τ_１０（０ｐｓ）を調整する。スキュー制御部２１２は更に、光信号２２の受信品質に基づいて、第４スキュー部ｄ_１１に与えた所定の第４遅延量τ_１１（０ｐｓ）を調整する。

各遅延量の調整は、光信号２２の受信品質に基づくフィードバック制御である。このフィードバック制御により、互いに光強度が異なるシンボル（すなわち、光信号２２の最小単位）間の群遅延時間差が補償され、光信号２２の受信品質の劣化が抑制される。

（４）変形例
（４－１）変形例１
図１５に示す例では、制御回線７８はメタルケーブルである。しかし、制御回線７８は光伝送路であってもよい。図２４は、制御回線７８が光伝送路２３０であるシステム１２６４の一例を示す図である。図２５は、図２４における信号の流れを示す図である。

監視部９０から送出された第１コマンド１３２ａ等（図２５参照）は、電気光変換部２１３により光信号２２２に変換される。光信号２２２に変換された第１コマンド１３２ａ等は、光伝送路２３０（図２４参照）を介して、光伝送装置２０２の光電気変換部２１４に送信される。

変形例１では、ＣＰＵ１１４は、ステップＳ２～Ｓ４（図２０参照）の代わりに、ステップＳ１６等で使用する待機時間を入力部９８から取得する。ステップＳ１０４～Ｓ１０６（図２２参照）は省略される。

第１コマンド１３２ａ等は、光電気変換部２１４により電気信号に変換されて、スキュー制御部２１２に送出される。スキュー制御部２１２は、第１コマンド１３２ａ等に応答して、複数のスキュー部６等（図２４参照）を制御する。

電気光変換部２１３は例えば、光伝送装置２０２の電気光変換部１０と実質的に同じ構造を有する。光電気変換部２１４は例えば、光受信機７６の光電気変換部８４と実質的に同じ構造を有する。

図２４のシステム１２６４によれば、光伝送装置２０２と光受信機７６の距離が長い場合でも、遅延量の調整を短時間で完了できる。

（４－２）変形例２
以上の例では、スキュー制御部２１２は、第１遅延量τ_００を調整しない。しかしスキュー制御部２１２は、第１遅延量τ_００を調整してもよい。第１信号ｂ_００に強度を与える場合には、第１遅延量τ_００を第２遅延量τ_０１～第４遅延量τ_１１と共に調整することで、群遅延時間差の補償の精度が向上する。

（４－３）変形例３
以上の例では、監視部９０は光受信機７６に設けられる。しかし監視部９０は、光伝送装置２０２に設けられてもよい。この場合、符号誤り率は制御回線７８を介して、測定部８８から監視部９０に送信される。監視部９０を光伝送装置２０２に設けることにより、光受信機７６の構造を簡素化できる。

（４－４）変形例４
以上の例では、第２遅延量τ_０１～第４遅延量τ_１１に加算するΔτの符号は正である。しかし、Δτの符号は負であってよい。

この場合、第２集積回路２３６ｂ（すなわち、スキュー制御部２１２）は、ステップＳ１０２（図２２参照）において、０ｐｓより十分に大きい所定の遅延量（遅延量の初期値）を複数の遅延回路４０夫々に与える。ステップＳ１０２で与えられる所定の遅延量は、具体的には、光伝送路３０における光信号２２の群遅延時間差の最大値（例えば、４０ｐｓ）より長い時間である。

この場合、第２集積回路２３６ｂは、例えばステップＳ１１０とステップＳ１１２の間で、Δτの符号を取得してもよい。第２集積回路２３６ｂは、ステップＳ１１６では、取得した符号のΔτを第２遅延量τ_０１に加算する。ステップＳ１２０およびＳ１２４においても同様である。

変形例４によれば、光信号２２の波長が光伝送路３０の正常分散領域内の波長および異常分散領域内の波長のいずれの波長であっても、遅延量の調整が可能である。

（４－５）変形例５
以上の例では、複数の信号１６に与えられる遅延量は夫々、試験信号に含まれる２つの疑似ランダム信号の一方に基づいて調整される。しかし、複数の信号１６に与えられる遅延量は、試験信号に含まれる２つの疑似ランダム信号の両方に基づいて調整されてもよい。

この場合まず、試験信号に含まれる２つの疑似ランダム信号の一方に基づいて、ステップＳ１４～Ｓ４２（図２０参照）が実行される。その後、試験信号に含まれる２つの疑似ランダム信号の他方に基づいて、ステップＳ１４～Ｓ４２が再度実行される。

或いは、試験信号に含まれる２つの疑似ランダム信号の一方に基づいて、ステップＳ１４～Ｓ２２（図２０～２１参照）が実行される。その後、試験信号に含まれる２つの疑似ランダム信号の他方に基づいて、ステップＳ１４～Ｓ２２（図２０参照）が再度実行される。同様、ステップＳ２４～Ｓ３２（図２１参照）が、一方の疑似ランダム信号に基づいて実行され更に、他方の疑似ランダム信号に基づいて再度実行される。最後に、ステップＳ３４～Ｓ４２（図２１参照）が、一方の疑似ランダム信号に基づいて実行され更に、他方の疑似ランダム信号に基づいて再度実行される。

或いは、試験信号に含まれる２つの疑似ランダム信号の合計に基づいて、ステップＳ１４～Ｓ４２（図２０～２１参照）が実行される。

変形例５によれば、２つの疑似ランダム信号に基づいて遅延量が調整されるので、遅延量の調整の精度が向上する。

実施の形態２のスキュー制御部２１２は、複数のスキュー部６に与える遅延量を、フィードバック制御により調整する。従って実施の形態２によれば、実施の形態１の利点に加え、光強度に応じて波長が変動する光多値信号の群遅延時間差による受信品質の劣化を、適応的に抑制することができる。

（実施の形態３）
実施の形態３の光伝送装置３０２（図１５参照）は、実施の形態２の光伝送装置２０２において、複数のスキュー部６に互いに異なる所定の遅延量（フィードバック制御の初期値）が与えられる装置である。その他の構成等は、実施の形態２の構成等と略同じである。従って、実施の形態２と同じ構成等については、説明を省略または簡単にする。

（１）構成および動作
実施の形態３のスキュー制御部３１２（図１５参照）は、複数のスキュー部６に互い異なる所定の遅延量を与える装置である。以上の点を除き、実施の形態３の光伝送装置３０２の構成および動作は、図１５～２３を参照して説明した光伝送装置２０２の構成および動作と略同じである。

複数のスキュー部６に与えられる所定の遅延量は例えば、互いに光強度が異なるシンボル（すなわち、光信号２２のシンボル）間の群遅延時間差が補償されるように予め定められた遅延量である。従って実施の形態３によれば、遅延量の調整（すなわち、フィードバック制御）のための時間を短縮できる。

（２）ハードウエア
図２６は、実施の形態３の光伝送装置３０２のハードウエア構成の一例を示す図である。図２６には、光受信機７６のハードウエア構成も示されている。図２７は、図２６における信号の流れを示す図である。

実施の形態３の光伝送装置３０２は例えば、第２集積回路３３６ｂに接続された不揮発性メモリ３１８を有する。不揮発性メモリ３１８は例えば、フラッシュメモリまたはＲＯＭ（read only memory）である。

不揮発性メモリ３１８には、光伝送路３０の波長分散等に基づいて予め定められた遅延量の候補（以下、遅延量の候補と呼ぶ）が記録される。遅延量の候補は、互いに光強度が異なるシンボル（光信号２２のシンボル）間の光伝送路３０における群遅延時間差が補償されるように定められた遅延量である。

不揮発性メモリ３１８には更に、電気光変換回路４４が出力する光信号２２の波長を波長範囲に含むレーンの識別子（以下、レーン識別子と呼ぶ）が記録される。例えば、電気光変換回路４４が出力する光信号２２の波長が図４に示すλ_００～λ_１１の場合、不揮発性メモリ３１８には、レーン識別子Ｌ０が記録される。レーン識別子Ｌ０に対応するレーンの波長範囲は、中心波長λｃが１２７３．５４ｎｍで幅が約２ｎｍの波長範囲である。

具体的には、不揮発性メモリ３１８には、遅延量の候補が記録されたルックアップテーブルが記録される。不揮発性メモリ３１８には更に、レーン識別子が記録されたファイル（例えば１行１列のテーブル、以下、レーンファイルと呼ぶ）が記録される。

実施の形態３のスキュー制御部３１２（図１５参照）は例えば、第２集積回路３３６ｂ（図２６参照）と不揮発性メモリ３１８とにより実現される。

（３）処理
（３－１）ルックアップテーブル
図２８は、不揮発性メモリ３１８に記録されるルックアップテーブル１４２の一例を示す図である。ルックアップテーブル１４２の行（１行目以外の行）は、IEEE 802.3bsで検討されているＰＡＭ４のレーンに１対１で対応している。

各行の第１列目には、レーン識別子（例えば、Ｌ０）が記録される。第２列目には、レーン識別子に対応するレーンの中心波長が記録されている。第３列目には、各レーンの中心波長における波長分散が記録されている。第４～７列目には、複数の信号１６に与えられる遅延量の候補が記録されている。例えば第４列目には、第１遅延量τ_００の候補が記録されている。第５～第７列目についても、同様である。

図２８のルックアップテーブル１４２には、零分散波長が１３２４ｎｍであってファイバ長（すなわち、光伝送路の長さ）が１０ｋｍの単一モード光ファイバを伝搬する光信号２２のための遅延量（すなわち、第１～第４遅延量）の候補が記録される。

不揮発性メモリ３１８には例えば、複数のルックアップテーブル１４４が記録される。複数のルックアップテーブル１４４は夫々、互いに異なる複数のファイバ長（例えば、２、４、６、８、および１０ｋｍ）に１対１で対応している。

各ルックアップテーブル１４４には例えば、光伝送装置３０２が適用されるシステム３６４の光伝送路３０のゼロ分散波長および各ルックアップテーブルが対応するファイバ長に基づいて、定められた第１遅延量τ_００～第４遅延量τ_１１の候補が記録される。第１遅延量τ_００～第４遅延量τ_１１の候補は、各ルックアップテーブル１４４が対応するファイバ長と同じ長さを有する光伝送路３０が、光信号２２の各シンボルに与える群遅延時間差を補償するように定められた遅延量である。

以下の説明では、システムに用いる光伝送路３０のゼロ分散波長は、予め与えられているものとする。ゼロ分散波長が与えられていない場合には、図２８のルックアップテーブル１４４の代わりに、ファイバ長およびゼロ分散波長の複数の組合せに１対１で対応する複数のルックアップテーブルを用いることができる。

（３－２）光受信機の処理
図２９は、光伝送装置３０２と光受信機７６とが協働して実行する処理の流れを示すシーケンス図である。図２９のシーケンス図は、図１９に示す実施の形態２のシーケンス図に類似している。従って、図１９に示す手順と類似する手順の説明は省略または簡単にする。図３０～３１は、光受信機７６が実行する処理の流れの一例を示す図である。

図３０～３１に破線で示されたステップは、図２０～２１を参照して説明したステップである。従って、図３０～３１に破線で示されたステップの説明は省略または簡単にする。

―基準誤り率の送信要求（ステップＳ３０２）―
ステップＳ２～Ｓ４の後、ＣＰＵ１１４は、第８コマンド１３２ｈを、制御回線７８を介して光伝送装置２０２に送信する。第８コマンド１３２ｈは、ステップＳ３１０（図３１参照）の判定に用いる基準誤り率の送信を要求するコマンドである。

ステップＳ３０２は、監視部９０（図１５参照）により実行される。

―基準誤り率の受信（ステップＳ３０４）―
ＣＰＵ１１４は、基準誤り率（以下、基準ＢＥＲと呼ぶ）を受信するまで待機する。ＣＰＵ１１４は、基準ＢＥＲを受信すると、ステップＳ６に進む。ステップＳ３０２は、監視部９０により実行される。

―試験信号の送信要求（ステップＳ６）―
ステップＳ３０４の後、ＣＰＵ１１４は、第１コマンド１３２ａ（すなわち、試験信号の送信要求）を、制御回線７８を介して光伝送装置３０２に送信する。ステップＳ６は、図２０を参照して説明したステップである。

―測定パラメータを決定（ステップＳ８）―
ステップＳ６の後、ＣＰＵ１１４は、符号誤り率の測定パラメータを決定する。ステップＳ８は、図２０を参照して説明したステップである。

―符号誤り率の測定(ステップＳ３０６)―
ステップＳ８の後、ＣＰＵ１１４は、受信信号９２（図１６参照）の符号誤り率を測定する。ステップＳ３０６は、測定部８８により実行される。

―符号誤り率の記録(ステップＳ３０８)―
ステップＳ３０６の後、ＣＰＵ１１４は、測定した符号誤り率をメモリ１１５に記録する。ステップＳ３０８は、監視部９０により実行される。

―判定(ステップＳ３１０)―
ステップＳ３０８の後、ＣＰＵ１１４は、メモリ１１５からステップＳ３０６で測定した符号誤り率を読み出して、ステップＳ３０４で受信した基準ＢＥＲと比較する。

ＣＰＵ１１４は、ステップＳ３０６で測定した符号誤り率が基準ＢＥＲより小さい場合は、ステップＳ４４に進む。ＣＰＵ１１４は、ステップＳ３０６で測定した符号誤り率が、ステップＳ３０４で受信した基準ＢＥＲ以上の場合には、ステップＳ１４－Ｓ４２に進む。

ステップＳ３１０は、監視部９０により実行される。

―遅延量の調整（ステップＳ１４～Ｓ４２）―
ＣＰＵ１１４は、光信号２２の符号誤り率が減少するように、第１遅延量τ_００～第４遅延量τ_１１をフィードバック制御する。ステップＳ１４～Ｓ４２は、図２０～２１を参照して説明したステップである。ＣＰＵ１１４は、ステップＳ１４～Ｓ４２の後、ステップＳ３０６に戻る。

ステップＳ１４～Ｓ４２は、測定部８８および監視部９０により実行される。

（３－３）光伝送装置の処理
図３２～３３は、光伝送装置３０２が実行する処理の流れを示す図である。

図３２～３３に破線で示されたステップは、図２２～２３を参照して説明したステップである。従って、図３２～３３に破線で示されたステップの説明は省略または簡単にする。

―制御情報の取得（ステップＳ４０２）―
第２集積回路３３６ｂ（図２７参照）は、制御情報を取得する。第２集積回路３３６ｂが取得する制御情報は、第１遅延量τ_００～第４遅延量τ_１１の制御のための情報である。

具体的には、第２集積回路３３６ｂは例えば、起動指示操作に応答して、複数のルックアップテーブル１４４夫々の識別子（以下、テーブル識別子と呼ぶ）を、表示装置１０８に表示する。起動指示操作は例えば、入力装置１１０に対してオペレータが行う操作である。

第２集積回路３３６ｂは更に、表示したテーブ識別子に関連付けて、各ルックアップテーブル１４４のファイバ長を、表示装置１０８に表示する。この表示は、オペレータに複数のルックアップテーブル１４４のいずれかを選択するように促すための表示である。

第２集積回路３３６ｂは、この表示に応答して、オペレータが選択したテーブル識別子を取得する。テーブル識別の選択は例えば、入力装置１１０に対する操作である。オペレータは例えば、システム３６４の実際の光伝送路３０の長さ（以下、実ファイバ長と呼ぶ）に基づいて、ルックアップテーブル１４４のテーブル識別子を選択する。具体的にはオペレータは、実ファイバ長（例えば、８．１ｋｍ）に最も近いファイバ長（例えば、８ｋｍ）に対応するルックアップテーブル１４４のテーブル識別子を選択する。

第２集積回路３３６ｂはテーブル識別子を取得すると、表示装置１０８に、コメントを表示する。このコメントは、オペレータに基準誤り率の入力を促すためのコメントである。第２集積回路３３６ｂは、この表示に応答してオペレータが入力した基準誤り率を取得する。基準誤り率の入力は、入力装置１１０に対する操作である。

基準誤り率は、ステップＳ３１０（図３１参照）の判定に用いられる基準値である。基準誤り率は例えば、IEEE 802.3bsで検討されているＰＡＭ４のための符号誤り率の許容値である。基準誤り率は例えば、ファイバ長が１０ｋｍの場合、１×１０^－４または２×１０^－４である。

ステップＳ４０２は、スキュー制御部３１２（図１５参照）により実行される。

―遅延量の候補の読出し（ステップＳ４０４）―
ステップＳ４０２の後、第２集積回路３３６ｂは先ず、不揮発性メモリ３１８から、レーン識別子を読み出す。第２集積回路３３６ｂは更に、読み出したレーン識別子とステップＳ４０２で取得したテーブル識別子に基づいて、不揮発性メモリ３１８から遅延量の候補を読み出す。

具体的には、第２集積回路３３６ｂは先ず、不揮発性メモリ３１８に記録された複数のルックアップテーブル１４４（図２８参照）から、ステップＳ４０２で取得したテーブル識別子に対応するルックアップテーブル１４４を選択する。第２集積回路３３６ｂは、選択したルックアップテーブル１４４の複数の行から、不揮発性メモリ３１８から読み出したレーン識別子（例えば、Ｌ０）に対応する行（例えば、２行目）を選択する。第２集積回路３３６ｂは、選択した行に記録された遅延量の候補（例えば、０．０ｐｓ、１５ｐｓ、３０．１ｐｓ、４５．１ｐｓ）を読み出す。

ステップＳ４０４は、スキュー制御部３１２（図１５参照）により実行される。

―遅延量の設定（ステップＳ４０６）―
ステップＳ４０４の後、第２集積回路３３６ｂは、ステップＳ４０４で読み出した遅延量の候補を、複数の遅延回路４０（図２７参照）に与える。換言するならば、スキュー制御部３１２（すなわち、第２集積回路３３６ｂ）は、複数のスキュー部６（すなわち、複数の遅延回路４０）に、所定の遅延量（すなわち、遅延量の候補）を与える。

例えば、第２集積回路３３６ｂは、第１データ３１０ａ（図２７参照）を第１遅延回路４０ａに送出する。第１データ３１０ａは、ステップＳ４０４で読み出した第１遅延量τ_００の候補（例えば、０ｐｓ）である。

第１遅延回路４０ａは、第１データ３１０ａに応答して、第１電気信号５０ａに与える第１遅延量τ_００を、第１データ３１０ａが示す第１遅延量τ_００の候補（例えば、０ｐｓ）に設定する。

同様に、第２遅延回路４０ｂ～第４遅延回路４０ｄは、第２集積回路３３６ｂが送出する第２データ３１０ｂ～第４データ３１０ｄに応答して、第２遅延量τ_０１～第４遅延量τ_１１を夫々の候補（例えば、１５ｐｓ、３０．１ｐｓ、４５．１ｐｓ）に設定する。

ステップＳ４０６は、スキュー制御部３１２により実行される。

―エコー要求の受信～エコー応答の送信（ステップＳ１０４～Ｓ１０６）―
ステップＳ４０６の後、第２集積回路３３６ｂは、ステップＳ１０４～Ｓ１０６を実行する。ステップＳ１０４～Ｓ１０６は、図２２を参照して説明したステップである。

―基準ＢＥＲ送信要求の受信（ステップＳ４０８）―
ステップＳ１０６の後、第２集積回路３３６ｂは、第８コマンド１３２ｈを受信するまで待機する。第８コマンド１３２ｈは、基準ＢＥＲの送信を要求するコマンドである。

ステップＳ４０８は、スキュー制御部３１２により実行される。

―基準ＢＥＲの送信（ステップＳ４１０）―
ステップＳ４０８の後、第２集積回路３３６ｂは、ステップＳ４０２で取得した基準ＢＥＲを、制御回線７８を介して光受信機７６に送信する。

ステップＳ４１０は、スキュー制御部３１２により実行される。

―試験信号の送信要求の受信～運用開始（ステップＳ１０８～Ｓ１２８）―
ステップＳ４１０の後、第２集積回路３３６ｂはステップＳ１０８～Ｓ１２８を実行する。ステップＳ１０８～Ｓ１２８は、図２２～２３を参照して説明したステップである。

以上のように、光伝送装置３０２は、ルックアップテーブル１４４に記録された遅延量の候補を、複数の遅延回路４０に与える。光伝送装置３０２は更に、光受信機３７６と協働して、複数の遅延回路４０の遅延量を調整する。複数の遅延回路４０に与えられた遅延量の候補は、遅延量の調整のための初期値である。

遅延量の調整（ステップＳ１０８～Ｓ１２６）では、受信信号の符号誤り率が基準値（すなわち、基準ＢＥＲ）未満になるまで、遅延量が調整される。従って、図２９～３３に示す処理によれば、光信号２２の符号誤り率を所望の値（すなわち、基準ＢＥＲ）未満に抑制できる。

（４）変形例
以上の例では、遅延量の候補の全体が互い異なっている。しかし、遅延量の候補の一部だけが互いに異なっていてもよい。遅延量の候補の一部が同じ値であっても、遅延量の調整のための時間は短縮される。

実施の形態３によれば、光伝送路３０における光信号２２の群遅延時間差を補償するように予め定められた遅延量を、遅延量の初期値として複数のスキュー部６に与えることができる。従って実施の形態３によれば、実施の形態１～２の利点に加え、遅延量の調整のための時間を短縮できる。

（実施の形態４）
実施の形態４の光伝送装置は、変調マッピング部４（図１参照）が出力する複数の信号１６（図２参照）に与える遅延量をフィードフォワード制御する装置である。その他の構成等は、実施の形態１の構成等と略同じである。従って、実施の形態１と同じ構成等については、説明を省略または簡単にする。

（１）構成および動作
図３４は、実施の形態４の光伝送装置４０２が適用されたシステム４６４の一例を示す図である。

―光伝送装置―
実施の形態４のスキュー制御部４１２（図３４参照）は、複数のスキュー部６に互い異なる所定の遅延量を与える装置である。スキュー制御部４１２には、入力部８２および表示部８０が接続されてもよい。入力部８２および表示部８０は、複数のスキュー部６に与える所定の遅延量の選択のために使用できる。

以上の点を除き、実施の形態４の光伝送装置４０２の構成および動作は、図１～２を参照して説明した実施の形態１の光伝送装置２の構成および動作と略同じである。

―光受信機―
実施の形態４の光受信機４７６は、光電気変換部８４および多値復調部４８６を有する装置である。光電気変換部８４は、実施の形態２で説明した。多値復調部４８６は、測定部８８（図１５参照）に接続されない事以外は、実施の形態２の多値復調部８６と実質的に同じである。

―制御―
複数のスキュー部６に与えられる所定の遅延量は例えば、実施の形態３のスキュー制御部３１２（図１５参照）が複数のスキュー部６に与える所定の遅延量と実質的に同じである。すなわち、複数のスキュー部６に与えられる所定の遅延量は例えば、互いに光強度が異なるシンボル（すなわち、光信号２２のシンボル）間の光伝送路３０における群遅延時間差が補償されるように予め定められた遅延量である。

すなわち、実施の形態４の光伝送装置４０２は、複数の信号１６に与える遅延量をフィードフォワード制御する装置である。従って、実施の形態４によれば、フィードバック制御のための構成（例えば、測定部８８、監視部９０および制御回線７８）を省略できる。

（２）ハードウエア
図３５は、実施の形態４のシステム４６４のハードウエア構成の一例を示す図である。

―光送信機―
図３５に示すように、第２集積回路４３６ｂは、制御回線７８（図２６参照）に接続されなくてもよい。第２集積回路４３６ｂは、第１集積回路２３６ａに接続されない。これらの点を除き、実施の形態４の光伝送装置４０２のハードウエア構成は、実施の形態３の光伝送装置３０２（図２６参照）のハードウエア構成と実質的に同じである。

不揮発性メモリ３１８には、遅延量の候補（例えば、ルックアップテーブル１４４）が記録される。不揮発性メモリ３１８には更に、電気光変換回路４４が出力する光信号２２の波長を波長範囲に含むレーンの識別子が記録される。

実施の形態４のスキュー制御部４１２は、第２集積回路４３６ｂおよび不揮発性メモリ３１８により実現される。

―光受信機―
実施の形態４の光受信機４７６は、光電気変換回路１１２および第３集積回路４３６ｃを有する。光電気変換回路１１２は、実施の形態２で説明した回路である。第３集積回路４３６ｃは、ＣＰＵ１１４等（図１７参照）に接続されない事以外は、実施の形態２の第３集積回路３６ｃと実質的に同じ回路である。

多値復調部４８６は、第３集積回路４３６ｃにより実現される。

（３）処理
（３－１）ルックアップテーブル
実施の形態４のルックアップテーブルは例えば、実施の形態３で説明したルックアップテーブル１４４である。

（３－２）光伝送装置の処理
図３６は、光伝送装置４０２が実行する処理の流れを示す図である。

―制御情報の取得（ステップＳ１４０２）―
第２集積回路４３６ｂ（図３５参照）は、制御情報を取得する。第２集積回路４３６ｂが取得する制御情報は、第１遅延量τ_００～第４遅延量τ_１１の制御のための情報である。ステップＳ１４０２は、取得する制御情報に基準符号誤り率が含まれない事以外は、図３２を参照して説明したステップＳ４０２と略同じステップである。

第２集積回路４３６ｂは例えば、光伝送路３０の実際の長さに最も近いファイバ長に対応するルックアップテーブル１４４のテーブル識別子を取得する。

ステップＳ１４０２は、スキュー制御部４１２（図３４参照）により実行される。

―遅延量の候補の読出し（ステップＳ４０４）―
ステップＳ１４０２の後、第２集積回路４３６ｂは、ステップＳ１４０２で取得したテーブル識別子に基づいて、不揮発性メモリ３１８から遅延量の候補を読み出すＳ１４０２。ステップＳ４０４は、図３２を参照して説明したステップである。

ステップＳ４０４は、スキュー制御部４１２により実行される。

―遅延量の設定（ステップＳ４０６）―
ステップＳ４０４の後、第２集積回路４３６ｂは、ステップＳ４０４で読み出した遅延量の候補を、複数の遅延回路４０に与える。ステップＳ４０４は、図３２を参照して説明したステップである。

ステップＳ４０６は、スキュー制御部４１２により実行される。

―運用開始（ステップＳ１２８）―
ステップＳ４０６の後、第２集積回路４３６ｂは、光伝送装置４０２に接続された装置に、デジタル信号１４の送信を許可する。ステップＳ１２８は、図２３を参照して説明したステップである（実施の形態２参照）。

ステップＳ１２８は、スキュー制御部４１２により実行される。

実施の形態４によれば、光伝送路による群遅延時間差を補償できるので、光強度に応じて波長が変動する光多値信号の群遅延時間差による受信品質の劣化を抑制することができる。更に実施の形態４によれば、フィードフォワード制御により群遅延時間差を補償できるので、フィードバック制御のための構成を省略できる。

以上、本発明の実施の形態について説明したが、実施の形態１～４は、例示であって制限的なものではない。

例えば、実施の形態１～４のデジタル信号１４は、２つの並行した２値信号である。しかし、デジタル信号１４は、３つ以上の２値信号であってもよい。或いは、デジタル信号１４は、多値信号であってもよい。

以上の例では、第１集積回路と加算回路の間の信号線が複数の信号１６夫々に与える遅延の量は同じである。しかし、第１集積回路と加算回路の間の信号線は、複数の信号１６に互いに異なる遅延を与えてもよい。この場合には、複数の遅延回路４０は、光伝送路の群遅延時間差に加え、第１集積回路と加算回路の間の信号線が複数の信号１６に与える遅延の時間差を補償する。

以上の例では、第１遅延回路４０ａに与えられる所定の遅延量は０ｐｓである。しかし、第１遅延回路４０ａに与えられる所定の遅延量は０ｐｓより大きい遅延量であってもよい。この場合、第２遅延回路４０ｂ～第４遅延回路４０ｄに与えられる所定の遅延量は、第１遅延回路４０ａに与えられる所定の遅延量に応じて増加する。

以上の例では、光信号２２の波長は光伝送路３０の正常分散領域内の波長である。しかし、光信号２２の波長は光伝送路３０の異常分散領域内の波長であってもよい。この場合でも、光伝送路の群遅延時間差による受信品質の劣化は抑制できる。

以上の実施の形態１～４に関し、更に以下の付記を開示する。

（付記１）
入力信号に応じた強度の光信号を送信するように構成された光伝送装置であって、
前記入力信号が有する値に応じた強度を付加する変調マッピング部と、
前記変調マッピング部から並列に出力された複数の信号に、遅延を与える複数のスキュー部と、
前記遅延が与えられた前記複数の信号を和算して、和信号を発生する和算部と、
前記和信号を、光強度が前記和信号の強度に応じて変調され前記光強度に応じて波長が変動する前記光信号に変換して送信する電気光変換部と、
前記複数のスキュー部に、前記遅延の量である遅延量を与えるスキュー制御部とを有する
光伝送装置。

（付記２）
前記スキュー制御部は更に、前記電気光変換部に光伝送路を介して接続された装置が受信する光信号の受信品質に基づいて、前記複数のスキュー部に与えた前記遅延量を調整することを
特徴とする付記１に記載の光伝送装置。

（付記３）
前記受信品質は、前記装置が受信する光信号の符号誤り率であり、
前記スキュー制御部は、前記符号誤り率が減少するように、前記複数のスキュー部に与えた前記遅延量を調整することを
特徴とする付記２に記載の光伝送装置。

（付記４）
前記遅延量は互いに異なることを
特徴とする付記１乃至３のいずれか１項に記載の光伝送装置。

（付記５）
前記入力信号は、ｎ値信号（ｎは３以上の整数）であり、
前記複数の信号は、０以上ｎ－１以下の複数の整数に１対１で対応することを
特徴とする付記１乃至４のいずれか1項に記載の光伝送装置。

（付記６）
前記複数の信号は、複数の電気信号または数値化された複数の信号であり、
前記入力信号は、複数の２値信号または多値信号であることを
特徴とする付記１乃至５のいずれか1項に記載の光伝送装置。

（付記７）
前記変調マッピング部は、前記複数の信号のうちの一つの信号のみにゼロより大きい強度を与えることを
特徴とする付記１乃至６のいずれか1項に記載の光伝送装置。

（付記８）
入力信号が有する値に対応する信号に、前記値に応じた強度を付加し、
前記信号を含む複数の信号に遅延を与え、
前記強度が付加され更に前記遅延が与えられた前記複数の信号を和算して、和信号を発生し、
前記和信号を、光強度が前記和信号の強度に応じて変調され前記光強度に応じて波長が変動する光信号に変換して送信する
多値信号の光伝送方法。

２ ・・・ 光伝送装置
４ ・・・ 変調マッピング部
６ ・・・ スキュー部
８ ・・・ 和算部
１０ ・・・ 電気光変換部
１２ ・・・ スキュー制御部
１４ ・・・ デジタル信号
１５ ・・・ デジタル信号
２０ ・・・ 和信号
２２ ・・・ 光信号
３０ ・・・ 光伝送路
２０２ ・・・ 光伝送装置
２０４ ・・・ 変調マッピング部
２１２ ・・・ スキュー制御部
２１３ ・・・ 電気光変換部
２２２ ・・・ 光信号
２３０ ・・・ 光伝送路
３０２ ・・・ 光伝送装置
３１２ ・・・ スキュー制御部
４０２ ・・・ 光伝送装置
４１２ ・・・ スキュー制御部

Claims (4)

1. デジタル信号が入力され、入力された前記デジタル信号に応じた強度の光信号を送信するように構成された光伝送装置であって、
   複数の整数に１対１で対応する複数の信号のうちの一つであって前記デジタル信号が有する値に対応する信号に、前記値に応じた強度を付加する変調マッピング部と、
   前記変調マッピング部から並列に出力された前記複数の信号に、遅延を与える複数のスキュー部と、
   前記遅延が与えられた前記複数の信号を和算して、和信号を発生する和算部と、
   前記和信号を、光強度が前記和信号の強度に応じて変調され前記光強度に応じて波長が変動する前記光信号に変換して送信する電気光変換部と、
   前記複数のスキュー部に前記遅延の量である遅延量を与え更に、前記電気光変換部に光伝送路を介して接続された装置が受信する光信号の受信品質に基づいて、前記複数のスキュー部に与えた前記遅延量を調整するスキュー制御部とを有し、
   前記変調マッピング部による前記付加は、ゼロより大きい強度は、前記複数の信号のうちの一つの信号のみに付加される処理である
   光伝送装置。
2. 前記受信品質は、前記装置が受信する光信号の符号誤り率であり、
   前記スキュー制御部は、前記符号誤り率が減少するように、前記複数のスキュー部に与えた前記遅延量を調整することを
   特徴とする請求項１に記載の光伝送装置。
3. 前記遅延量は互いに異なることを
   特徴とする請求項１又は２に記載の光伝送装置。
4. デジタル信号に応じた強度の光信号を送信する光伝送方法であって、
   複数の整数に１対１で対応する複数の信号のうちの一つであって前記デジタル信号が有する値に対応する信号に、前記値に応じた強度を付加し、
   前記複数の信号に遅延を与え、
   前記信号に前記付加が行われ更に前記遅延が与えられた前記複数の信号を和算して、和信号を発生し、
   前記和信号を、光強度が前記和信号の強度に応じて変調され前記光強度に応じて波長が変動する前記光信号に変換して送信し、
   前記光信号を送信する光伝送装置に光伝送路を介して接続された装置が受信する光信号の受信品質に基づいて、前記遅延の量を調整し、
   前記付加は、ゼロより大きい強度は、前記複数の信号のうちの一つの信号のみに付加される処理である
   多値信号の光伝送方法。

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