JP7078115B2 - Light scattering detector - Google Patents

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Description

本発明は、液体試料中に分散している微粒子の分子量や回転半径(サイズ)等を測定するための微粒子検出装置に利用される光散乱検出装置に関する。 The present invention relates to a light scattering detection device used in a fine particle detection device for measuring the molecular weight, turning radius (size), etc. of fine particles dispersed in a liquid sample.

液体試料中に分散しているタンパク質等の微粒子を分離するための手法として、サイズ排除クロマトグラフィ(SEC)が知られている。近年、クロマトグラフィ検出装置としては、紫外線(UV)吸光度検出装置や示差屈折率検出装置に加え、多角度光散乱(MALS)検出装置が用いられている。MALS検出装置は、測定試料の分子量や粒子径が算出可能であるという特長がある(特許文献1および2参照)。 Size exclusion chromatography (SEC) is known as a method for separating fine particles such as proteins dispersed in a liquid sample. In recent years, as a chromatography detection device, a multi-angle light scattering (MALS) detection device has been used in addition to an ultraviolet (UV) absorbance detection device and a differential refractive index detection device. The MALS detector has a feature that the molecular weight and particle size of the measurement sample can be calculated (see Patent Documents 1 and 2).

図7は、原点に散乱光発生光源を配置した場合の散乱光放射方向の座標系を示している。図7に示すように、XY面上においてX方向正方向に光が入射し、XY面上における光の進行方向からの散乱角度をθ、XY面上からの角度をφと定義する。 FIG. 7 shows a coordinate system in the scattered light radiation direction when a scattered light generating light source is arranged at the origin. As shown in FIG. 7, light is incident on the XY plane in the positive direction in the X direction, and the scattering angle of the light on the XY plane from the traveling direction is defined as θ, and the angle from the XY plane is defined as φ.

次に、図8は、MALS検出装置の基本構成例の平面図を、図9は側面図を示している。図8および図9において、110は試料セル、111は液体試料、120は光源、121は集光レンズ、140はスリット板、150は結像レンズ、160はアパーチャ板、170は検出器である。図8および図9に示すように、円筒体状の試料セル110の内部に液体試料111を通液し、試料セル110および流路中心を通るように光源120から光を照射する。光源としては、通常、可視レーザ光が用いられる。光の進行方向からの角度θが水平面上(XY平面上)の散乱角として定義され、異なる散乱角を検出するように試料セル110および流路中心を通る水平面上(XY平面上)に検出器170が複数配置される。図8は、θ1,θ2の配置角度で検出器170を2個配置した例である。 Next, FIG. 8 shows a plan view of a basic configuration example of the MALS detection device, and FIG. 9 shows a side view. In FIGS. 8 and 9, 110 is a sample cell, 111 is a liquid sample, 120 is a light source, 121 is a condenser lens, 140 is a slit plate, 150 is an imaging lens, 160 is an aperture plate, and 170 is a detector. As shown in FIGS. 8 and 9, the liquid sample 111 is passed through the inside of the cylindrical sample cell 110, and light is irradiated from the light source 120 so as to pass through the sample cell 110 and the center of the flow path. Visible laser light is usually used as the light source. The angle θ from the traveling direction of light is defined as the scattering angle on the horizontal plane (on the XY plane), and the detector is placed on the horizontal plane (on the XY plane) passing through the sample cell 110 and the center of the flow path so as to detect different scattering angles. A plurality of 170s are arranged. FIG. 8 shows an example in which two detectors 170 are arranged at the arrangement angles of θ1 and θ2.

円筒体状の試料セル110の場合、ガラスと空気との界面及びガラスと流路との界面における反射光が迷光として検出器170に入り、検出器170の検出精度を悪化させるという課題があった。その解決策として、発明者は、図9に示すように、試料セル110に対して入射光をチルト(角度α)させることによって、上記迷光を低減させる手法を見出した(非特許文献1参照)。 In the case of the cylindrical sample cell 110, there is a problem that the reflected light at the interface between the glass and the air and the interface between the glass and the flow path enters the detector 170 as stray light and deteriorates the detection accuracy of the detector 170. .. As a solution to this, the inventor has found a method for reducing the stray light by tilting (angle α) the incident light with respect to the sample cell 110 as shown in FIG. 9 (see Non-Patent Document 1). ..

次に、図10および図11は、散乱光強度と散乱角の関係を示している。すなわち、図10及び図11は、Mie散乱の理論式に従って、入射波長660nm、屈折率1.33の溶媒中での屈折率1.59の粒子の散乱パターンを計算した結果である。粒子径は、1nm、100nm、500nmとした。図10は水平方向(θ方向)の散乱角度パターンであり、図11は鉛直方向(φ方向)の散乱角度パターンである。試料が入射光の波長に比べて十分小さい場合、θ方向への散乱光は等方的に発生し、散乱光強度の散乱角依存性はない。試料の粒子径が大きくなるに従い、散乱光は前方(θが小さい方向)への散乱が強くなる。φ方向には、φが大きくなるに従い、散乱光強度が小さくなる傾向がある。 Next, FIGS. 10 and 11 show the relationship between the scattered light intensity and the scattered angle. That is, FIGS. 10 and 11 are the results of calculating the scattering pattern of particles having a refractive index of 1.59 in a solvent having an incident wavelength of 660 nm and a refractive index of 1.33 according to the theoretical formula of Mie scattering. The particle size was 1 nm, 100 nm, and 500 nm. FIG. 10 is a scattering angle pattern in the horizontal direction (θ direction), and FIG. 11 is a scattering angle pattern in the vertical direction (φ direction). When the sample is sufficiently smaller than the wavelength of the incident light, the scattered light in the θ direction is isotropically generated, and the scattered light intensity does not depend on the scattering angle. As the particle size of the sample increases, the scattered light becomes more scattered forward (in the direction in which θ is smaller). In the φ direction, the scattered light intensity tends to decrease as φ increases.

また、MALS検出装置では、低い濃度の試料が測定でき、かつ、高いS/N比の装置が望ましい。そのためには、試料から発生する散乱光を効率的に検出器に入るようにする光学系が求められる。言い換えると、各検出器に入る散乱光の立体角が大きい必要がある。検出器の立体角を大きくする際に、水平方向(光軸面上)の立体角を大きくすると、各検出器の角度分解能が悪くなってしまうため、鉛直方向の立体角を大きく取ることが望ましい。ただし、立体角を大きくすべく検出器サイズを大きくすることは、暗電流が増加するため、好ましくない。 Further, in the MALS detection device, a device capable of measuring a sample having a low concentration and having a high S / N ratio is desirable. For that purpose, an optical system that efficiently enters the scattered light generated from the sample into the detector is required. In other words, the solid angle of the scattered light entering each detector needs to be large. When increasing the solid angle of the detector, if the solid angle in the horizontal direction (on the optical axis plane) is increased, the angular resolution of each detector will deteriorate, so it is desirable to increase the solid angle in the vertical direction. .. However, increasing the detector size in order to increase the solid angle is not preferable because the dark current increases.

検出器サイズを大きくすることなく、立体角を大きく取るためには、レンズ等で散乱光を集光する方法が採られる(非特許文献1)。具体的には、セル流路で発生した散乱光が結像レンズを介して、検出器で結像する配置である。そこで、水平方向の立体角を小さくし、鉛直方向の立体角を大きくするために、結像レンズの入射側に、水平方向の開口幅が狭く、鉛直方向に広い開口長を有するスリットが設けられる。これにより、角度分解能が悪化することなく、散乱光を効率的に検出することができる。 In order to increase the solid angle without increasing the detector size, a method of condensing scattered light with a lens or the like is adopted (Non-Patent Document 1). Specifically, the arrangement is such that the scattered light generated in the cell flow path is imaged by the detector via the imaging lens. Therefore, in order to reduce the solid angle in the horizontal direction and increase the solid angle in the vertical direction, a slit having a narrow opening width in the horizontal direction and a wide opening length in the vertical direction is provided on the incident side of the imaging lens. .. As a result, scattered light can be efficiently detected without deteriorating the angular resolution.

特開平07-72068号公報、Japanese Unexamined Patent Publication No. 07-72068, 特開2015-111163号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2015-11163 「光散乱法によるタンパク質の絶対分子量と複合体形成の解析」、尾高雅文、生物工学89巻"Analysis of Absolute Molecular Weight and Complex Formation of Proteins by Light Scattering Method", Masafumi Odaka, Biotechnology Vol. 89

検出器に入る光量を増加させるためには、結像レンズの入射側に配置されたスリットの鉛直方向の開口長を大きく設定する必要がある。しかし、スリットの鉛直方向の開口長を大きく設定すると、試料セルのガラスと空気との界面及びガラスと流路との界面での反射光が、迷光として検出器に入射される。反射光は散乱光に比べて強度が大きいため、検出器のダイナミックレンジが低下するとともに、迷光の強度変動により検出器の検出精度が悪化する。一方、この迷光を除去するために、入射光のチルト角度αを大きく設定すると、図11に示したように鉛直方向の散乱角度φが大きくなり、スリットに入る散乱光強度が低下し、S/N比が低下する。 In order to increase the amount of light entering the detector, it is necessary to set a large vertical aperture length of the slit arranged on the incident side of the imaging lens. However, if the vertical opening length of the slit is set large, the reflected light at the interface between the glass and air of the sample cell and the interface between the glass and the flow path is incident on the detector as stray light. Since the reflected light has a higher intensity than the scattered light, the dynamic range of the detector is lowered, and the detection accuracy of the detector is deteriorated due to the fluctuation of the intensity of the stray light. On the other hand, if the tilt angle α of the incident light is set large in order to remove this stray light, the scattering angle φ in the vertical direction becomes large as shown in FIG. 11, the scattered light intensity entering the slit decreases, and S / The N ratio decreases.

そこで、本発明は、入射光のチルト角度αを大きく設定することなく、結像レンズの入射側スリットの鉛直方向の立体角を大きく設定することができ、高いS/N比で検出精度よく測定することができる光散乱検出装置を提供することを目的とする。 Therefore, according to the present invention, the solid angle in the vertical direction of the incident side slit of the imaging lens can be set large without setting the tilt angle α of the incident light to be large, and the measurement is performed with high S / N ratio and high detection accuracy. It is an object of the present invention to provide a light scattering detection device capable of performing.

本発明の一態様に係る光散乱検出装置は、液体試料中の微粒子を検出するための光散乱検出装置であって、液体試料を保持する透明な試料セルと、上記試料セルに、該液体試料の中心軸に対して傾斜した角度からコヒーレント光を照射する光源と、上記液体試料から周囲に異なる散乱角を以て散乱する光を集光する結像光学系と、上記結像光学系に入射する散乱角範囲を制限するためのスリットが形成されたスリット板と、上記結像光学系からの集光を受光する検出器と、を備え、上記スリットの中心軸は、前記結像光学系の中心軸から鉛直方向一方へ偏心して配置されていることを特徴とする。
The light scattering detection device according to one aspect of the present invention is a light scattering detection device for detecting fine particles in a liquid sample, and is a transparent sample cell holding the liquid sample and the liquid sample in the sample cell. A light source that irradiates coherent light from an angle inclined with respect to the central axis of the A slit plate having a slit for limiting an angular range and a detector that receives light from the imaging optical system are provided, and the central axis of the slit is the central axis of the imaging optical system. It is characterized in that it is arranged eccentrically in one direction from the vertical direction.

上記光散乱検出装置の構成において、上記スリットは、鉛直方向に縦長に形成されていることが好ましい。
In the configuration of the light scattering detection device, it is preferable that the slit is formed vertically in the vertical direction.

また、上記スリットは、少なくとも鉛直方向に沿った辺が直状であって、上記結像光学系の中心軸から鉛直方向の上方へ偏心して配置されており、上記スリットの前記結像光学系の中心軸からの鉛直方向の下方長さをa、上方長さをbとした場合に、a<bの関係を有することが好ましい。
Further, the slit has at least a straight side along the vertical direction and is arranged eccentrically upward in the vertical direction from the central axis of the imaging optical system. When the lower length in the vertical direction from the central axis is a and the upper length is b, it is preferable to have a relationship of a <b .

そして、上記試料セルから上記検出器に至る検出光学系は、上記試料セルの周囲にセル中心軸から等間隔で複数配されており、上記スリットの下方長さaと上方長さbとの長さ比は、上記試料セルに対する各検出器の配置角度に応じて、a≦bの条件下で調整されることが好ましい。 A plurality of detection optical systems from the sample cell to the detector are arranged around the sample cell at equal intervals from the cell center axis, and are the lengths of the lower length a and the upper length b of the slit. The ratio is preferably adjusted under the condition of a ≦ b according to the arrangement angle of each detector with respect to the sample cell.

本発明によれば、入射光のチルト角度αを大きく設定することなく、結像レンズの入射側スリットの鉛直方向の立体角を大きく設定することができ、高いS/N比で検出精度よく測定することができる光散乱検出装置を提供することができる。 According to the present invention, the solid angle in the vertical direction of the incident side slit of the imaging lens can be set large without setting the tilt angle α of the incident light to be large, and the measurement is performed with high S / N ratio and high detection accuracy. It is possible to provide a light scattering detection device that can be used.

本発明に係る光散乱検出装置の一実施形態の側面図である。It is a side view of one Embodiment of the light scattering detection apparatus which concerns on this invention. 本実施形態に係る光散乱検出装置の一部拡大側面図である。It is a partially enlarged side view of the light scattering detection apparatus which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る光散乱検出装置の平面図である。It is a top view of the light scattering detection apparatus which concerns on this embodiment. 光線追跡シミュレーションにおける配置および部材寸法を説明するための側面図である。It is a side view for demonstrating arrangement and member size in a ray tracing simulation. 検出器をθ=15度に配置した場合における光線追跡シミュレーション結果を説明するための平面図である。It is a top view for demonstrating the ray tracing simulation result when the detector is arranged at θ = 15 degrees. 検出器をθ=15度に配置した場合における光線追跡シミュレーション結果を説明するための側面図である。It is a side view for demonstrating the ray tracing simulation result when the detector is arranged at θ = 15 degrees. 原点に散乱光発生光源を配置した場合の散乱光放射方向の座標系である。This is a coordinate system in the scattered light radiation direction when a scattered light generation light source is placed at the origin. MALS検出装置の基本構成例の平面図である。It is a top view of the basic configuration example of a MALS detection device. MALS検出装置の基本構成例の側面図である。It is a side view of the basic configuration example of a MALS detection device. 散乱光強度と散乱角の関係(水平方向の散乱角度パターン)の説明図である。It is explanatory drawing of the relationship (horizontal scattering angle pattern) of the scattered light intensity and the scattering angle. 散乱光強度と散乱角の関係(鉛直方向の散乱角度パターン)の説明図である。It is explanatory drawing of the relationship (the scattering angle pattern in the vertical direction) of the scattered light intensity and the scattering angle.

以下、本発明に係る光散乱検出装置の一実施形態について図面を参照して説明する。なお、各図において、同一の符号を付したものは、同一又は同様の構成を有する。 Hereinafter, an embodiment of the light scattering detection device according to the present invention will be described with reference to the drawings. In each figure, those with the same reference numerals have the same or similar configurations.

〔光散乱検出装置の構成〕
まず、図1から図3を参照して、本発明に係る光散乱検出装置の一実施形態の構成について説明する。図1は、本発明に係る光散乱検出装置の一実施形態の側面図である。図2は、本実施形態に係る光散乱検出装置の一部拡大側面図である。図1および図2に示すように、本実施形態に係る光散乱検出装置1は、液体試料中に分散しているタンパク質等の微粒子の分子量や回転半径(サイズ)を検出する装置である。光散乱検出装置1は、試料セル10、光源20、スリット板40、結像光学系50、アパーチャ60および検出器70を備える。以下、各構成要素ごとに説明する。
[Structure of light scattering detector]
First, the configuration of one embodiment of the light scattering detection device according to the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3. FIG. 1 is a side view of an embodiment of a light scattering detection device according to the present invention. FIG. 2 is a partially enlarged side view of the light scattering detection device according to the present embodiment. As shown in FIGS. 1 and 2, the light scattering detection device 1 according to the present embodiment is a device that detects the molecular weight and the radius of gyration (size) of fine particles such as proteins dispersed in a liquid sample. The light scattering detection device 1 includes a sample cell 10, a light source 20, a slit plate 40, an imaging optical system 50, an aperture 60, and a detector 70. Hereinafter, each component will be described.

試料セル10は、内部の流路に液体試料を保持する透明な円筒体状のセルである。試料セル10は、例えば、無色透明な石英ガラスによって形成されている。 The sample cell 10 is a transparent cylindrical cell that holds a liquid sample in an internal flow path. The sample cell 10 is formed of, for example, colorless and transparent quartz glass.

光源20は、試料セル10にコヒーレント光を照射する。「コヒーレント光」とは、光束内の任意の2点における光波の位相関係が時間的に不変で一定に保たれており、任意の方法で光束を分割した後、大きな光路差を与えて再び重ね合わせても完全な干渉性を示す光をいう。光源20としては、例えば、可視光レーザを照射するためのレーザ光源が採用される。自然界には完全なコヒーレント光は存在せず、シングルモードで発振するレーザ光はコヒーレント状態に近い光である。 The light source 20 irradiates the sample cell 10 with coherent light. "Coherent light" means that the phase relationship of light waves at any two points in the luminous flux is constant over time and is kept constant. After dividing the luminous flux by an arbitrary method, a large optical path difference is given and superposition is performed again. Light that shows complete coherence even when combined. As the light source 20, for example, a laser light source for irradiating a visible light laser is adopted. There is no perfect coherent light in nature, and the laser light oscillated in single mode is close to the coherent state.

光源20から試料セル10に至る入射光の光路L1には、集光光学系21が配置されている。集光光学系21としては、例えば、単一の集光レンズが採用されている。この集光レンズは、平凸レンズであり、光源20からの光の入射側が凸面で、出射側が平面に形成されている。本実施形態では、集光光学系21として、単一の集光レンズを採用しているが、集光光学系21は複数の複合レンズや集光ミラーを組み合わせて構成してもよい。 A condensing optical system 21 is arranged in the optical path L1 of the incident light from the light source 20 to the sample cell 10. As the condensing optical system 21, for example, a single condensing lens is adopted. This condenser lens is a plano-convex lens, and the incident side of the light from the light source 20 is a convex surface, and the emission side is a flat surface. In the present embodiment, a single condensing lens is adopted as the condensing optical system 21, but the condensing optical system 21 may be configured by combining a plurality of composite lenses and condensing mirrors.

光源20および集光光学系21は、光源20から試料セル10に入射するコヒーレント光の光軸が、試料セル10及び検出器70を含む平面(XY平面)から所定の角度(チルト角度α)で傾斜するように配置されている。具体的には、試料セル10に対して入射光が斜め上方から入射するように、光源20および集光光学系21が配置されている。試料セル10に対して入射光をチルト(角度α)させることによって、試料セル10のガラスと空気との界面及びガラスと流路との界面〔以下、「セル界面」と総称する。)での反射光による迷光を低減させることができる。光源20から照射されたレーザ光は、集光光学系21を通過した後、試料セル10の中心軸付近に集光する。
In the light source 20 and the condensing optical system 21, the optical axis of the coherent light incident on the sample cell 10 from the light source 20 is at a predetermined angle (tilt angle α) from the plane (XY plane) including the sample cell 10 and the detector 70 . It is arranged so as to be inclined. Specifically, the light source 20 and the condensing optical system 21 are arranged so that the incident light is incident on the sample cell 10 from diagonally above. By tilting the incident light with respect to the sample cell 10 (angle α), the interface between the glass and air and the interface between the glass and the flow path of the sample cell 10 [hereinafter, collectively referred to as “cell interface”. ) Can reduce stray light due to reflected light. The laser light emitted from the light source 20 passes through the condensing optical system 21 and then condenses in the vicinity of the central axis of the sample cell 10.

試料セル10からの出射光の光路L2上には、検出光学系30が配置されている。本実施形態の検出光学系30は、スリット板40、結像光学系50、アパーチャ板60及び検出器70から構成されている。 The detection optical system 30 is arranged on the optical path L2 of the light emitted from the sample cell 10. The detection optical system 30 of this embodiment is composed of a slit plate 40, an imaging optical system 50, an aperture plate 60, and a detector 70.

結像光学系50は、試料セル10から周囲に異なる散乱角を以て散乱する光を集光する。結像光学系50としては、例えば、単一の結像レンズが採用されている。この結像レンズは、平凸レンズであり、試料セル10からの散乱光の入射側が平面で、出射側が凸面に形成されている。本実施形態では、結像光学系50として、単一の結像レンズを採用したが、結像光学系50は複数の複合レンズや結像ミラーを組み合わせて構成してもよい。 The imaging optical system 50 collects light scattered from the sample cell 10 to the surroundings with different scattering angles. As the imaging optical system 50, for example, a single imaging lens is adopted. This imaging lens is a plano-convex lens, and the incident side of the scattered light from the sample cell 10 is formed on a flat surface and the emitted side is formed on a convex surface. In the present embodiment, a single imaging lens is adopted as the imaging optical system 50, but the imaging optical system 50 may be configured by combining a plurality of composite lenses and imaging mirrors.

スリット板40は、試料セル10からの出射光の光路L2上において、試料セル10と結像光学系50との間に配置されている。スリット板40は、結像光学系50に入射する散乱角範囲を制限する。すなわち、スリット板40に開口されたスリット41は、水平方向の散乱角を制限し、且つ、鉛直方向の光束を多く取り込むために、鉛直方向に縦長であって、少なくとも鉛直方向に沿った辺が直状である。具体的には、スリット41は、鉛直方向に縦長の長方形状や長孔形状を呈している。 The slit plate 40 is arranged between the sample cell 10 and the imaging optical system 50 on the optical path L2 of the light emitted from the sample cell 10. The slit plate 40 limits the scattering angle range incident on the imaging optical system 50. That is, the slit 41 opened in the slit plate 40 is vertically long in the vertical direction in order to limit the scattering angle in the horizontal direction and capture a large amount of light beam in the vertical direction, and at least the sides along the vertical direction are provided. It is a plumb bob. Specifically, the slit 41 has a vertically long rectangular shape or an elongated hole shape.

スリット41の中心軸41Sは、結像光学系50の中心軸50Sから鉛直方向一方へ偏心して配置されている。光源20の照射光が試料セル10の斜め上方から入射するため、試料セル10の空気とガラスとの界面およびガラスと液体との界面(以下、「セル界面」という。)で生じた反射光RLが迷光として下方へ偏り易い。したがって、本実施形態のスリット41の中心軸41Sは、反射光(迷光)RLを制限すべく、結像光学系50の中心軸50Sから鉛直方向の上方へ偏心して配置されている。 The central axis 41S of the slit 41 is arranged eccentrically in one direction in the vertical direction from the central axis 50S of the imaging optical system 50. Since the irradiation light of the light source 20 is incident from diagonally above the sample cell 10, the reflected light RL generated at the interface between the air and the glass and the interface between the glass and the liquid (hereinafter referred to as “cell interface”) of the sample cell 10. Is likely to be biased downward as stray light. Therefore, the central axis 41S of the slit 41 of the present embodiment is arranged eccentrically upward in the vertical direction from the central axis 50S of the imaging optical system 50 in order to limit the reflected light (stray light) RL.

具体的には、図2に示すように、スリット41の結像光学系50の中心軸50Sからの鉛直方向の下方長さをa、上方長さをbとした場合に、スリット41の下方長さaと上方長さbの関係はa<bとなるように設定される。入射光は下方から上方へ入射してもよく、その場合は、スリット41の下方長さaと上方長さbとの関係はa>bとなるように設定される。 Specifically, as shown in FIG. 2, when the downward length of the slit 41 in the vertical direction from the central axis 50S of the imaging optical system 50 is a and the upward length is b, the downward length of the slit 41 is defined. The relationship between the a and the upper length b is set so that a <b. The incident light may be incident from below to above, and in that case, the relationship between the lower length a and the upper length b of the slit 41 is set so that a> b.

アパーチャ板60は、試料セル10からの出射光の光路L2上において、検出器70よりも結像光学系側に配置されている。アパーチャ板60は迷光を制限する機能を有し、アパーチャ61は検出器70の受光面前で開口している。 The aperture plate 60 is arranged on the optical path L2 of the light emitted from the sample cell 10 on the imaging optical system side of the detector 70. The aperture plate 60 has a function of limiting stray light, and the aperture 61 is open in front of the light receiving surface of the detector 70.

検出器70は、結像光学系50からの集光を受光する。すなわち、結像光学系50の焦点に、検出器70の受光面が位置している。本実施形態の検出器70としては、例えば、フォトダイオード(PD)を採用しているが、2次元CMOS等のアレイ検出器を採用してもよい。 The detector 70 receives light from the image pickup optical system 50. That is, the light receiving surface of the detector 70 is located at the focal point of the imaging optical system 50. As the detector 70 of this embodiment, for example, a photodiode (PD) is adopted, but an array detector such as a two-dimensional CMOS may be adopted.

図3は、本実施形態に係る光散乱検出装置の一実施形態の平面図である。図3に示すように、試料セル10から検出器70に至る検出光学系30は、試料セル10の周囲にセル中心軸Sから等間隔dで複数配されている。光の進行方向からの角度θが水平面上(XY平面上)の散乱角として定義される。異なる散乱角を検出できるように、試料セル10およびセル中心軸Sを通る水平面上(XY平面上)に検出器70が複数配置される。図3の態様では、θ1,θ2の配置角度で検出光学系30、31が2系配置されている。 FIG. 3 is a plan view of an embodiment of the light scattering detection device according to the present embodiment. As shown in FIG. 3, a plurality of detection optical systems 30 from the sample cell 10 to the detector 70 are arranged around the sample cell 10 at equal intervals d from the cell central axis S. The angle θ from the traveling direction of light is defined as the scattering angle on the horizontal plane (on the XY plane). A plurality of detectors 70 are arranged on a horizontal plane (on the XY plane) passing through the sample cell 10 and the cell central axis S so that different scattering angles can be detected. In the aspect of FIG. 3, two detection optical systems 30 and 31 are arranged at the arrangement angles of θ1 and θ2.

試料セル10の周囲に等間隔dで複数の検出器70を備える場合、試料セル10に対する各検出器70の配置角度に応じて、スリット41の下方長さaと上方長さbとの長さ比は、a≦bの条件下で調整される。すなわち、図3において、散乱角θ2に配置した検出光学系31は、散乱角θ1に配置した検出光学系30よりも、セル界面での反射光の影響が少ない。散乱角θ2=90度の検出光学系31は、セル界面での反射光の影響が少ないので、aを大きく設定して、bに近づけることで、鉛直方向の立体角を最適化することができる。 When a plurality of detectors 70 are provided around the sample cell 10 at equal intervals d, the lengths of the lower length a and the upper length b of the slit 41 are provided according to the arrangement angle of each detector 70 with respect to the sample cell 10. The ratio is adjusted under the condition of a ≦ b. That is, in FIG. 3, the detection optical system 31 arranged at the scattering angle θ2 is less affected by the reflected light at the cell interface than the detection optical system 30 arranged at the scattering angle θ1. Since the detection optical system 31 having a scattering angle θ2 = 90 degrees is less affected by the reflected light at the cell interface, it is possible to optimize the solid angle in the vertical direction by setting a large and bringing it closer to b. ..

〔光散乱検出装置の作用〕
次に、図1から図6を参照して、本実施形態に係る光散乱検出装置の作用について説明する。
[Action of light scattering detector]
Next, the operation of the light scattering detection device 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 6.

図1および図2に示すように、円筒体状の試料セル10の流路に液体試料11が通液される。液体試料11の通液が完了すると、光源20から集光光学系21を介してコヒーレント光である可視レーザ光が照射される。可視レーザ光は、光路L1に沿って進むことにより、レーザ光が試料セル10の流路内の液体試料11に入射する。液体試料11にレーザ光が入射されると、その光は液体試料11に含まれる微粒子に当たって所定の散乱角を以て散乱する。そして、試料セル10から出射した散乱光は、スリット板40のスリット41を通過した後、結像光学系50およびアパーチャ板60を経て、検出器70の受光面上に受光される。 As shown in FIGS. 1 and 2, the liquid sample 11 is passed through the flow path of the cylindrical sample cell 10. When the liquid sample 11 has been passed through the liquid sample 11, the visible laser light, which is coherent light, is irradiated from the light source 20 via the condensing optical system 21. The visible laser light travels along the optical path L1, so that the laser light is incident on the liquid sample 11 in the flow path of the sample cell 10. When the laser beam is incident on the liquid sample 11, the light hits the fine particles contained in the liquid sample 11 and is scattered with a predetermined scattering angle. Then, the scattered light emitted from the sample cell 10 passes through the slit 41 of the slit plate 40, passes through the imaging optical system 50 and the aperture plate 60, and is received on the light receiving surface of the detector 70.

試料セル10から散乱光が出射する際、試料セル10のセル界面において、反射光RLが迷光として生じる。光源20の照射光が試料セル10の斜め上方からチルト角度αで入射するため、試料セル10のセル界面で生じた反射光(迷光)は下方へ偏り易い。本実施形態のスリット41は、結像光学系50の中心軸50Sから鉛直方向の上方へ偏心配置されているので、スリット板40の板部分で下方へ偏った反射光(迷光)RLを制限することができる。 When scattered light is emitted from the sample cell 10, reflected light RL is generated as stray light at the cell interface of the sample cell 10. Since the irradiation light of the light source 20 is incident from diagonally above the sample cell 10 at a tilt angle α, the reflected light (stray light) generated at the cell interface of the sample cell 10 tends to be biased downward. Since the slit 41 of the present embodiment is eccentrically arranged upward in the vertical direction from the central axis 50S of the imaging optical system 50, the reflected light (stray light) RL biased downward by the plate portion of the slit plate 40 is limited. be able to.

このようにスリット板40のスリット41を結像光学系50の中心軸50Sから鉛直方向の上方へ偏心配置したことにより、分析に有益な散乱光を積極的に結像光学系50へ入射させることができる。結像光学系50は、検出器70の受光面に結像するが、受光面前にアパーチャ板60が配置されている。したがって、アパーチャ板60がさらに迷光を制限し、分析に必要な散乱光を検出器70の受光面に受光させることができる。 By eccentrically arranging the slit 41 of the slit plate 40 upward from the central axis 50S of the imaging optical system 50 in the vertical direction in this way, scattered light useful for analysis is positively incident on the imaging optical system 50 . Can be done. The imaging optical system 50 forms an image on the light receiving surface of the detector 70 , and the aperture plate 60 is arranged in front of the light receiving surface. Therefore, the aperture plate 60 further limits the stray light, and the scattered light required for the analysis can be received by the light receiving surface of the detector 70.

具体的には、スリット41の結像光学系50の中心軸50Sからの鉛直方向の下方長さをa、上方長さをbとした場合に、スリット41の下方長さaと上方長さbの関係はa<bとなるように設定される。すなわち、スリット41の下方向長さaを小さく設定することにより、セル界面での反射光RLをスリット板40の板部分で遮断することができる。上方向長さbについては、結像光学系50の有効径を上限として大きく設定することで、鉛直方向の立体角を大きくすることができる。 Specifically, when the lower length of the slit 41 in the vertical direction from the central axis 50S of the imaging optical system 50 is a and the upper length is b, the lower length a and the upper length b of the slit 41 are defined. The relationship of is set so that a <b. That is, by setting the downward length a of the slit 41 to be small, the reflected light RL at the cell interface can be blocked by the plate portion of the slit plate 40. By setting the length b in the upward direction to a large value with the effective diameter of the imaging optical system 50 as the upper limit, the solid angle in the vertical direction can be increased.

また、図3に示すように、試料セル10の周囲には、試料セル10から検出器70に至る検出光学系30がセル中心軸Sから等間隔dで複数配されている。光散乱検出装置1が試料セル10の周囲に等間隔dで複数の検出光学系30を備える場合に、スリット41の下方長さaと上方長さbとの長さ比は、試料セル10に対する各検出器70の配置角度に応じて、a≦bの条件下で調整される。すなわち、セル界面での反射光RLの影響が少ない散乱角θ2=90度に配置した検出光学系31では、aを大きく設定し、bに近づけることで、鉛直方向の立体角を最適化することができる。 Further, as shown in FIG. 3, a plurality of detection optical systems 30 from the sample cell 10 to the detector 70 are arranged around the sample cell 10 at equal intervals d from the cell central axis S. When the light scattering detection device 1 is provided with a plurality of detection optical systems 30 at equal intervals d around the sample cell 10, the length ratio between the lower length a and the upper length b of the slit 41 is the length ratio with respect to the sample cell 10. It is adjusted under the condition of a ≦ b according to the arrangement angle of each detector 70. That is, in the detection optical system 31 arranged at a scattering angle θ2 = 90 degrees, which is less affected by the reflected light RL at the cell interface, a is set large and is brought closer to b to optimize the solid angle in the vertical direction. Can be done.

〔光線追跡シミュレーション〕
上記実施形態の作用効果を確認すべく、光線追跡シミュレーションを実施した。図4は、光線追跡シミュレーションにおける配置および部材寸法を説明するための側面図である。図5は、検出器(PD)をθ=15度に配置した場合における光線追跡シミュレーションの結果を説明するための平面図、図6はその側面図である。
[Ray tracing simulation]
A ray tracing simulation was performed to confirm the action and effect of the above embodiment. FIG. 4 is a side view for explaining the arrangement and member dimensions in the ray tracing simulation. FIG. 5 is a plan view for explaining the result of the ray tracing simulation when the detector (PD) is arranged at θ = 15 degrees, and FIG. 6 is a side view thereof.

図4に示すように、試料セル10は、例えば、内径が1.6mmで、外径が8.0mmの透明な円筒体状のセルである。試料セル10の中心軸Sから47mmの位置には、結像レンズ(平凸レンズ)が配置されている。結像レンズは、例えば、凸径がφ12.7mmで、焦点距離が38mmに形成されている。試料セル10の中心軸Sから140mmの位置には、アパーチャ板60および2.4mmのPDが配置されている。スリット板40のスリット41は、例えば、水平方向(XY方向)幅が3mmで、鉛直方向(Z方向)長さ8.5mmの開口として形成されている。スリット41の鉛直方向開口については、例えば、結像光学系50の中心軸50Sを含むXY平面からの下方長さaが-Z方向に2.5mmで、上方向長さbが+Z方向に6.0mmに設定されている。 As shown in FIG. 4, the sample cell 10 is, for example, a transparent cylindrical cell having an inner diameter of 1.6 mm and an outer diameter of 8.0 mm. An imaging lens (plano-convex lens) is arranged at a position 47 mm from the central axis S of the sample cell 10. The imaging lens has, for example, a convex diameter of φ12.7 mm and a focal length of 38 mm. The aperture plate 60 and the PD of 2.4 mm are arranged at a position 140 mm from the central axis S of the sample cell 10. The slit 41 of the slit plate 40 is formed as an opening having a horizontal (XY direction) width of 3 mm and a vertical direction (Z direction) length of 8.5 mm, for example. Regarding the vertical opening of the slit 41, for example, the downward length a from the XY plane including the central axis 50S of the imaging optical system 50 is 2.5 mm in the −Z direction, and the upward length b is 6 in the + Z direction. It is set to 0.0 mm.

図5および図6に示すように、下方長さaと上方長さbとの関係をa<bに設定することにより、試料セル10のセル界面で生じた反射光RLがスリット板40の板部分により遮断されて検出器70に到達しないため、精度良い測定が可能である。 As shown in FIGS. 5 and 6, by setting the relationship between the lower length a and the upper length b to a <b, the reflected light RL generated at the cell interface of the sample cell 10 is the plate of the slit plate 40 . Since it is blocked by the portion and does not reach the detector 70, accurate measurement is possible.

また、セル界面での反射光RLによる迷光は、検出器70の配置角度θに依存する。θが小さい場合には、セル界面での反射光RLの影響が大きいため、aは短くする必要があるが、θが90度に近い場合にはセル界面での反射光RLは殆ど生じない。検出器70の配置角度に応じて、a≦bの条件の下でスリット41を最適化することで、迷光の低減とS/N比の向上を実現することができる。 Further, the stray light due to the reflected light RL at the cell interface depends on the arrangement angle θ of the detector 70. When θ is small, the influence of the reflected light RL at the cell interface is large, so a needs to be shortened, but when θ is close to 90 degrees, the reflected light RL at the cell interface hardly occurs. By optimizing the slit 41 under the condition of a ≦ b according to the arrangement angle of the detector 70, it is possible to reduce the stray light and improve the S / N ratio.

以上説明したように、本実施形態の光散乱検出装置1によれば、入射光のチルト角度αを大きく設定することなく、結像光学系50の入射側に配置したスリット板40のスリット41の鉛直方向の立体角を大きく設定することができ、高いS/N比で検出精度よく測定することができる光散乱検出装置を提供することができる。 As described above, according to the light scattering detection device 1 of the present embodiment, the slit 41 of the slit plate 40 arranged on the incident side of the imaging optical system 50 without setting the tilt angle α of the incident light to be large. It is possible to provide a light scattering detection device capable of setting a large stereoscopic angle in the vertical direction and measuring with high detection accuracy at a high S / N ratio.

上記の実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。実施形態が備える各要素並びにその配置、材料、条件、形状及びサイズ等は、例示したものに限定されるわけではなく適宜変更することができる。また、異なる実施形態で示した構成同士を部分的に置換し又は組み合わせることが可能である。 The above embodiment is for facilitating the understanding of the present invention, and is not for limiting the interpretation of the present invention. Each element included in the embodiment and its arrangement, material, condition, shape, size, and the like are not limited to those exemplified, and can be appropriately changed. Further, it is possible to partially replace or combine the configurations shown in different embodiments.

1…光散乱検出装置
10…試料セル
20…光源
30…検出光学系
40…スリット板
41…スリット
41S…スリットの中心軸
50…結像光学系
51S…結像光学系の中心軸
70…検出器
1 ... Light scattering detection device 10 ... Sample cell 20 ... Light source 30 ... Detection optical system 40 ... Slit plate 41 ... Slit 41S ... Slit central axis 50 ... Imaging optical system 51S ... Imaging optical system central axis 70 ... Detector

Claims (4)

液体試料中の微粒子を検出するための光散乱検出装置であって、
液体試料を保持する透明な試料セルと、
前記試料セルに、該液体試料の中心軸に対して傾斜した角度からコヒーレント光を照射する光源と、
前記液体試料から周囲に異なる散乱角を以て散乱する光を集光する結像光学系と、
前記結像光学系に入射する散乱角範囲を制限するためのスリットが形成されたスリット板と、
前記結像光学系からの集光を受光する検出器と、
を備え、
前記スリットの中心軸は、前記結像光学系の中心軸から鉛直方向一方へ偏心して配置されていることを特徴とする光散乱検出装置。
A light scattering detector for detecting fine particles in a liquid sample.
A transparent sample cell that holds a liquid sample,
A light source that irradiates the sample cell with coherent light from an angle inclined with respect to the central axis of the liquid sample .
An imaging optical system that collects light scattered from the liquid sample to the surroundings with different scattering angles.
A slit plate in which a slit for limiting the scattering angle range incident on the imaging optical system is formed , and
A detector that receives light from the imaging optical system and
Equipped with
A light scattering detection device characterized in that the central axis of the slit is eccentrically arranged in one direction in the vertical direction from the central axis of the imaging optical system.
前記スリットは、鉛直方向に縦長に形成されている、請求項1に記載の光散乱検出装置。 The light scattering detection device according to claim 1, wherein the slit is vertically elongated in the vertical direction. 前記スリットは、少なくとも鉛直方向に沿った辺が直状であって、前記結像光学系の中心軸から鉛直方向の上方へ偏心して配置されており、
前記スリットの前記結像光学系の中心軸からの鉛直方向の下方長さをa、上方長さをbとした場合に、a<bの関係を有する、請求項1または請求項2に記載の光散乱検出装置。
The slit has at least a straight side along the vertical direction, and is arranged eccentrically upward in the vertical direction from the central axis of the imaging optical system .
The first or second aspect of the present invention, which has a relationship of a <b when the lower length of the slit in the vertical direction from the central axis of the imaging optical system is a and the upper length is b . Light scattering detector.
前記試料セルから前記検出器に至る検出光学系は、前記試料セルの周囲にセル中心軸から等間隔で複数配置されており、
前記スリットの下方長さaと上方長さbとの長さ比は、前記試料セルに対する各検出器の配置角度に応じて、a≦bの条件下で調整される、請求項に記載の光散乱検出装置。
A plurality of detection optical systems from the sample cell to the detector are arranged around the sample cell at equal intervals from the cell central axis.
The third aspect of claim 3 , wherein the length ratio between the lower length a and the upper length b of the slit is adjusted under the condition of a ≦ b according to the arrangement angle of each detector with respect to the sample cell. Light scattering detector.
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