JP7062705B2 - 移動端末試験装置及び移動端末試験方法 - Google Patents

Description

本発明は、移動端末試験装置及び移動端末試験方法に関し、特に、移動端末を試験するための擬似基地局として機能する移動端末試験装置及び移動端末試験方法に関する。

従来、携帯電話やデータ通信端末等の移動端末との間で通信を行い、移動端末が正常に通信を行えるか否かを試験するための移動端末試験装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。

このような移動端末試験装置は、移動端末から入力されたアナログの被測定信号のキャリア周波数を中間周波数ｆ_ＩＦに変換する周波数変換部と、周波数変換部により周波数変換された被測定信号をサンプリングしてデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器と、Ａ／Ｄ変換器により変換されたデジタルデータをＩベースバンド信号及びＱベースバンド信号に直交復調する直交復調器と、を備えている。これら、周波数変換部、Ａ／Ｄ変換器、及び直交復調器を経たアナログの被測定信号は、有限ビット長のデジタルのＩベースバンド信号及びＱベースバンド信号となる。

図１０は、Ｉベースバンド信号及びＱベースバンド信号の振幅値の時間変化と、コンスタレーションの測定例の一例を示している。被測定信号は、周波数が１９５０ＭＨｚのＣＷ（Continuous Wave）であり、周波数変換後のＣＷの周波数は０Ｈｚである。Ａ／Ｄ変換器のサンプリング周波数Ｆｓは７３７．２８ＭＨｚであって、図１０（ａ）にプロットされたサンプル数は３０７２である。図１０（ａ）の例では、Ｉベースバンド信号の振幅値は正値確定であり、Ｑベースバンド信号の振幅値は負値確定である。このため、図１０（ｂ）に示すように、コンスタレーションはＩＱ平面上の第４象限のみにプロットされる。

直交復調器から出力された有限ビット長のデジタルのＩ，Ｑベースバンド信号を後段の演算ブロックに渡す際、ロジックの削減のためにＩ，Ｑベースバンド信号に対して「丸め処理」を行い、直交復調器からの出力ビット数を減らす処理が必要である。このため、従来の移動端末試験装置では、有限ビット長のＩ，Ｑベースバンド信号に通常「四捨五入丸め」を行っていた。「四捨五入丸め」は丸める前の数値が０．５を取った場合の丸め方の規則を与えるもので、符号の正負に従って数値原点０から遠ざかる方向に丸める方法である。

特許第５８９０８５２号公報

しかしながら、特許文献１に開示されたような従来の移動端末試験装置で行われている「四捨五入丸め」には、以下に説明するような問題がある。

図１１は、小数点以下のビット数が２ビットの真値に対して四捨五入丸めを行った場合における、丸め誤差を示す表である。図１０（ａ）に示すような正値確定のＩベースバンド信号の測定結果から振幅値の時間平均値を求める際、丸め処理前の値を真値Ａとする。例えば真値Ａとして、０．２５，０．５０，０．７５，１．００，１．２５，１．５０，１．７５，２．００が等しい頻度で出現すれば、小数第一位が５となる真値Ａの丸め誤差＋０．５０のみが打ち消されずに累積して行くことが分かる。一方、図１０（ａ）に示すような負値確定のＱベースバンド信号の振幅値の時間平均値を求める際、丸め処理前の値を真値Ａとして、例えば、－０．２５，－０．５０，－０．７５，－１．００，－１．２５，－１．５０，－１．７５，－２．００が等しい頻度で出現すれば、小数第一位が５となる真値Ａの丸め誤差－０．５０のみが打ち消されずに累積して行くことが分かる。

このため、図１０（ａ）の測定例に示すような正値確定のＩベースバンド信号と負値確定のＱベースバンド信号それぞれの振幅値の丸め誤差の分布は、図１２の測定例に示すように一様でないものとなる。特徴として、Ｉベースバンド信号については、丸め誤差が－０．５のイベント数が０であるため、丸め誤差が＋０．５のイベントとの打ち消しが起こらず、平均値を算出する処理で正の方向にバイアスがかかってしまう。逆に、Ｑベースバンド信号については、丸め誤差が＋０．５のイベント数が０であるため、平均値を算出する処理で負の方向にバイアスがかかってしまう。

このように、Ｉベースバンド信号とＱベースバンド信号から得られる振幅値の符号が確定している場合、四捨五入丸めによってこれらの時間平均振幅値の測定確度が劣化してしまうという問題があった。

本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号から得られる、符号が確定した振幅値に対して四捨五入丸めを行った場合と比較して、これらの時間平均振幅値の測定確度を向上させることができる移動端末試験装置及び移動端末試験方法を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、本発明に係る移動端末試験装置は、アナログの被測定信号を周波数変換する周波数変換部と、前記周波数変換部により周波数変換された被測定信号をサンプリングして、所定のビット数の２進数のデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器と、前記Ａ／Ｄ変換器から出力されたデジタルデータを直交復調して、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号を生成する直交復調器と、前記Ｉベースバンド信号の振幅値と前記Ｑベースバンド信号の振幅値を、それらの下位の所定数のビットが小数点以下の値になるように、前記所定数のビット分だけ下位方向にシフトする第１シフト部と、前記第１シフト部によりシフトされた前記Ｉベースバンド信号の振幅値と前記Ｑベースバンド信号の振幅値に対して、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行う第１丸め処理部と、前記第１丸め処理部により丸められた前記Ｉベースバンド信号の振幅値と前記Ｑベースバンド信号の振幅値の時間平均値をそれぞれ算出する第１平均処理部と、を備える構成である。

この構成により、本発明に係る移動端末試験装置は、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号から得られる、符号が確定した振幅値に対して四捨五入丸めを行った場合と比較して、これらの平均振幅値の測定確度を向上させることができる。

また、本発明に係る移動端末試験装置は、前記被測定信号が時分割複信方式に基づいた信号である場合に、前記第１平均処理部により算出された時間平均値のうち、時分割複信方式の無送信時間における時間平均値を抽出する信号処理を行う第１信号処理部を更に備える構成であってもよい。

この構成により、本発明に係る移動端末試験装置は、時分割複信方式に基づく被測定信号の無送信時間におけるキャリアリークの振幅測定精度を向上させることが可能となる。

また、本発明に係る移動端末試験装置は、アナログの変調信号である被測定信号を周波数変換する周波数変換部と、前記周波数変換部により周波数変換された被測定信号をサンプリングして、所定のビット数の２進数のデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器と、前記Ａ／Ｄ変換器から出力されたデジタルデータを直交復調して、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号を生成する直交復調器と、前記被測定信号の変調シンボルごとに、前記Ｉベースバンド信号及び前記Ｑベースバンド信号をＩＱ平面上でコンスタレーションとして表すためのＩシンボルデータ及びＱシンボルデータを算出するコンスタレーション算出部と、前記コンスタレーション上の各前記変調シンボルに対応する前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値を、それらの下位の所定数のビットが小数点以下の値になるように、前記所定数のビット分だけ下位方向にシフトする第２シフト部と、前記第２シフト部によりシフトされた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値に対して、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行う第２丸め処理部と、前記第２丸め処理部により丸められた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値の時間平均値をそれぞれ算出する第２平均処理部と、を備える構成である。

この構成により、本発明に係る移動端末試験装置は、コンスタレーションの各変調シンボルにおけるＩシンボルデータ及びＱシンボルデータの符号が確定した振幅値に対して四捨五入丸めを行った場合と比較して、これらのシンボルデータの振幅値の時間平均振幅値の測定確度を向上させることができる。

また、本発明に係る移動端末試験装置は、前記第２平均処理部により算出された時間平均値を用いて、前記第２丸め処理部により丸められた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値を前記コンスタレーション上の測定点に変換するための正規化因子を算出する正規化因子算出部と、前記正規化因子算出部により算出された正規化因子で、前記第２丸め処理部により丸められた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値を正規化することにより、前記コンスタレーション上の測定点を算出する正規化処理部と、前記コンスタレーション上の理想点と、前記正規化処理部により得られた測定点とのエラーベクトルの振幅絶対値を算出し、算出した振幅絶対値の時間平均値を算出するＥＶＭ平均値算出部と、を更に備える構成であってもよい。

この構成により、本発明に係る移動端末試験装置は、偶数丸めされたＩシンボルデータ及びＱシンボルデータの振幅値を、コンスタレーション上の理想点に合わせて正規化した測定点に変換するため、ＥＶＭ平均値算出部において、丸め誤差による劣化を防いでＥＶＭ時間平均値を算出することが可能となる。

また、本発明に係る移動端末試験方法は、アナログの被測定信号を周波数変換する周波数変換ステップと、前記周波数変換ステップにより周波数変換された被測定信号をサンプリングして、所定のビット数の２進数のデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換ステップと、前記Ａ／Ｄ変換ステップから出力されたデジタルデータを直交復調して、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号を生成する直交復調ステップと、前記Ｉベースバンド信号の振幅値と前記Ｑベースバンド信号の振幅値を、それらの下位の所定数のビットが小数点以下の値になるように、前記所定数のビット分だけ下位方向にシフトする第１シフトステップと、前記第１シフトステップによりシフトされた前記Ｉベースバンド信号の振幅値と前記Ｑベースバンド信号の振幅値に対して、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行う第１丸め処理ステップと、前記第１丸め処理ステップにより丸められた前記Ｉベースバンド信号の振幅値と前記Ｑベースバンド信号の振幅値の時間平均値をそれぞれ算出する第１平均処理ステップと、を含む構成である。

この構成により、本発明に係る移動端末試験方法は、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号から得られる、符号が確定した振幅値に対して四捨五入丸めを行った場合と比較して、これらの平均振幅値の測定確度を向上させることができる。

また、本発明に係る移動端末試験方法は、アナログの変調信号である被測定信号を周波数変換する周波数変換ステップと、前記周波数変換ステップにより周波数変換された被測定信号をサンプリングして、所定のビット数の２進数のデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換ステップと、前記Ａ／Ｄ変換ステップから出力されたデジタルデータを直交復調して、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号を生成する直交復調ステップと、前記被測定信号の変調シンボルごとに、前記Ｉベースバンド信号及び前記Ｑベースバンド信号をＩＱ平面上でコンスタレーションとして表すためのＩシンボルデータ及びＱシンボルデータを算出するコンスタレーション算出ステップと、前記コンスタレーション上の各前記変調シンボルに対応する前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値を、それらの下位の所定数のビットが小数点以下の値になるように、前記所定数のビット分だけ下位方向にシフトする第２シフトステップと、前記第２シフトステップによりシフトされた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値に対して、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行う第２丸め処理ステップと、前記第２丸め処理ステップにより丸められた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値の時間平均値をそれぞれ算出する第２平均処理ステップと、を含む。

この構成により、本発明に係る移動端末試験方法は、コンスタレーションの各変調シンボルにおけるＩシンボルデータ及びＱシンボルデータの符号が確定した振幅値に対して四捨五入丸めを行った場合と比較して、これらのシンボルデータの振幅値の時間平均振幅値の測定確度を向上させることができる。

また、本発明に係る移動端末試験方法は、前記第２平均処理ステップにより算出された時間平均値を用いて、前記第２丸め処理ステップにより丸められた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値を前記コンスタレーション上の測定点に変換するための正規化因子を算出する正規化因子算出ステップと、前記正規化因子算出ステップにより算出された正規化因子で、前記第２丸め処理ステップにより丸められた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値を正規化することにより、前記コンスタレーション上の測定点を算出する正規化処理ステップと、前記コンスタレーション上の理想点と、前記正規化処理ステップにより得られた測定点とのエラーベクトルの振幅絶対値を算出し、算出した振幅絶対値の時間平均値を算出するＥＶＭ平均値算出ステップと、を更に含む構成であってもよい。

この構成により、本発明に係る移動端末試験方法は、偶数丸めされたＩシンボルデータ及びＱシンボルデータの振幅値を、コンスタレーション上の理想点に合わせて正規化した測定点に変換するため、ＥＶＭ平均値算出ステップにおいて、丸め誤差による劣化を防いでＥＶＭ時間平均値を算出することが可能となる。

本発明は、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号から得られる、符号が確定した振幅値に対して四捨五入丸めを行った場合と比較して、これらの時間平均振幅値の測定確度を向上させることができる移動端末試験装置及び移動端末試験方法を提供するものである。

本発明の第１の実施形態に係る移動端末試験装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第１の実施形態に係る移動端末試験装置が備える第１シフト部と第１丸め処理部の動作説明図である。 小数点以下のビット数が２ビットの真値に対して、四捨五入丸めと偶数への丸めを行った場合の丸め誤差を示す表である。 四捨五入丸めされたＣＷの直線性誤差を示すグラフである。 偶数丸めされたＣＷの直線性誤差を示すグラフである。 本発明の第１の実施形態に係る移動端末試験装置による移動端末試験方法の処理を説明するためのフローチャートである。 本発明の第２の実施形態に係る移動端末試験装置の構成を示すブロック図である。 １６ＱＡＭで変調された被測定信号の正規化済みの理想的なコンスタレーションを示す図である。 本発明の第２の実施形態に係る移動端末試験装置による移動端末試験方法の処理を説明するためのフローチャートである。 （ａ）はＩベースバンド信号及びＱベースバンド信号の振幅値の時間変化の測定例を示すグラフであり、（ｂ）はＩベースバンド信号及びＱベースバンド信号から得られるコンスタレーションの測定例を示すグラフである。 小数点以下のビット数が２ビットの真値に対して、四捨五入丸めを行った場合の丸め誤差を示す表である。 正値確定のＩベースバンド信号と負値確定のＱベースバンド信号それぞれの振幅値の測定例における丸め誤差の分布を示すヒストグラムである。

以下、本発明に係る移動端末試験装置及び移動端末試験方法の実施形態について、図面を用いて説明する。

（第１の実施形態）
図１に示すように、本発明の第１の実施形態に係る移動端末試験装置１は、被試験対象（Device Under Test：ＤＵＴ）１００を試験するための擬似基地局として機能するものであって、周波数変換部１１と、Ａ／Ｄ変換器１２と、直交復調器１３と、第１シフト部１４と、第１丸め処理部１５と、第１平均処理部１６と、第１信号処理部１７と、表示部１８と、操作部１９と、制御部２０と、を備える。

ＤＵＴ１００は、例えば、無線通信アンテナとＲＦ回路を有し、アナログＲＦ信号を出力可能な移動端末や基地局などである。ＤＵＴ１００の通信規格としては、例えば、５Ｇ ＮＲ、ＴＤ－ＬＴＥ、ＦＤＤ－ＬＴＥ、ＬＴＥ－Ａｄｖａｎｃｅｄ、ＧＳＭ（登録商標）、ＴＤ－ＳＣＤＭＡ、Ｗ－ＣＤＭＡ（登録商標）、ＣＤＭＡ２０００、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）などが挙げられる。ＤＵＴ１００と周波数変換部１１とは、同軸ケーブルなどで有線接続されてもよく、あるいは、無線通信アンテナを介して無線接続されてもよい。

周波数変換部１１は、ＤＵＴ１００から出力される被測定信号としてのアナログＲＦ信号を周波数変換するものであって、ローカル信号発生器１１ａと、ミキサ１１ｂと、ローパスフィルタ１１ｃと、を有する。

ローカル信号発生器１１ａは、例えばＰＬＬ回路により構成されており、被測定信号の元の周波数ｆ_Ｒの値よりも変換先の周波数の値の分だけ高い又は低い周波数ｆ_Ｌの正弦波をローカル信号として、ミキサ１１ｂに出力するものである。

ミキサ１１ｂは、周波数ｆ_Ｒの被測定信号と、ローカル信号発生器１１ａから出力された周波数ｆ_Ｌのローカル信号とを混合し、２つの信号の周波数の和成分又は差成分の出力信号、すなわち中間周波数ｆ_ＩＦ（｜ｆ_Ｌ－ｆ_Ｒ｜又はｆ_Ｌ＋ｆ_Ｒ）の中間周波数信号を生成するものである。つまり、ミキサ１１ｂは、被測定信号をローカル信号と混合することにより周波数変換するようになっている。

ローパスフィルタ１１ｃは、ミキサ１１ｂの出力信号のうちの差成分の中間周波数信号を抽出するようになっている。このローパスフィルタ１１ｃのカットオフ周波数（高域遮断周波数）は、中間周波数ｆ_ＩＦ（｜ｆ_Ｌ－ｆ_Ｒ｜）を含む。

Ａ／Ｄ変換器１２は、周波数変換部１１により周波数変換された被測定信号を所定のサンプリング周波数Ｆｓでサンプリングして、所定のビット数の２進数のデジタルデータに変換するようになっている。

直交復調器１３は、Ａ／Ｄ変換器１２から出力されたデジタルデータを直交復調して、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号を生成するようになっている。

第１シフト部１４は、直交復調器１３から出力されたＩベースバンド信号とＱベースバンド信号の振幅値Ｉａ，Ｑａを、それらの下位の所定数のビットが小数点以下の値になるように、当該所定数のビット分だけ下位方向にシフトするようになっている。

以下、直交復調器１３から出力されたＩベースバンド信号とＱベースバンド信号の振幅値Ｉａ，Ｑａのビット数を２ビット分減らす処理を例に挙げて、第１シフト部１４の動作を説明する。

図２の例において、直交復調器１３から出力されたシフト前の振幅値Ｉａ，Ｑａは、２^１５～２^１２の桁が符号ビットＳになっており、２^１１～２^０の桁に絶対値が含まれている１６ビットのデジタルデータであるとしている。第１シフト部１４は、直交復調器１３から出力された１６ビットの振幅値Ｉａ，Ｑａを２ビット分下位方向（右方向）にシフトする。このシフトにより生成される新たな振幅値Ｉａ'，Ｑａ'においては、元の振幅値Ｉａ，Ｑａの２^１と２^０の桁のビットｂ，ａが、小数点以下の２^－１と２^－２の桁のビットとなる。

第１丸め処理部１５は、第１シフト部１４によりシフトされたＩベースバンド信号の振幅値Ｉａ'とＱベースバンド信号の振幅値Ｑａ'に対して、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行うようになっている。すなわち、図２の例での「偶数への丸め」とは、上記の振幅値Ｉａ'，Ｑａ'の小数点以下の値が１０進数表記でちょうど０．５０である場合に、上記の振幅値Ｉａ'，Ｑａ'の整数値を最も近い偶数に丸めることを意味する。第１丸め処理部１５による振幅値Ｉａ'，Ｑａ'に対する丸め処理により、２^９～２^０の桁に絶対値が含まれた振幅値Ｉａ"，Ｑａ"が生成される。すなわち、直交復調器１３から出力されたデジタルデータのビット数が２ビット分減ったことになる。

図３は、小数点以下のビット数が２ビットの真値に対して、四捨五入丸めと偶数への丸めを行った場合の丸め誤差をまとめた表である。図１０（ａ）の測定例に示すような正値確定のＩベースバンド信号の振幅値の時間平均値を求める際、丸め処理前の真値Ａとして、例えば０．２５，０．５０，０．７５，１．００，１．２５，１．５０，１．７５，２．００が等しい頻度で出現すれば、偶数への丸めにより丸め誤差が全て打ち消されることが分かる。同様に、図１０（ａ）の測定例に示すような負値確定のＱベースバンド信号の振幅値の時間平均値を求める際、丸め処理前の真値Ａとして、例えば－０．２５，－０．５０，－０．７５，－１．００，－１．２５，－１．５０，－１．７５，－２．００が等しい頻度で出現すれば、偶数への丸めにより丸め誤差が全て打ち消されることが分かる。

このように、偶数丸めに従う場合、小数点以下が０．５０となる複数の真値Ａについて、それらの整数値が偶数であるものと奇数であるものとが等しい頻度で現れる場合に、丸め誤差の打ち消しが生じる。実際のＩベースバンド信号又はＱベースバンド信号については、周波数変換部１１などのアナログ回路で発生する熱雑音が被測定信号に加わるため、整数値が偶数である振幅値Ｉａ'，Ｑａ'と、奇数である振幅値Ｉａ'，Ｑａ'とが等しい頻度で現れることが期待できる。

なお、第１シフト部１４によりシフトされるビット数は、上記の説明での２ビットに限定されず、任意のビット数であってよい。例えば、第１シフト部１４によりシフトされるビット数が１ビットである場合には、小数点以下が０．５となる振幅値Ｉａ'，Ｑａ'が第１丸め処理部１５により偶数丸めされることで、元の振幅値Ｉａ，Ｑａのビット数が１ビット分減少することになる。また、第１シフト部１４によりシフトされるビット数が３ビットである場合には、小数点以下が０．１２５，０．２５０，０．３７５，０．５００，０．６２５，０．７５０，０．８７５となる振幅値Ｉａ'，Ｑａ'が第１丸め処理部１５により偶数丸めされることで、元の振幅値Ｉａ，Ｑａのビット数が３ビット分減少することになる。

第１平均処理部１６は、第１丸め処理部１５により丸められたＩベースバンド信号の振幅値Ｉａ"とＱベースバンド信号の振幅値Ｑａ"の時間平均値をそれぞれ算出するようになっている。

図１０（ａ）は、直交復調器１３が１６ビットのデジタルデータを出力するものである場合に、－２４ｄＢＦＳに相当する被測定信号から得られた、Ｉベースバンド信号及びＱベースバンド信号の振幅値Ｉａ，Ｑａの時間変化の測定例を示している。振幅値Ｉａの時間平均値I_AVEは２０７８．５１０７であり、振幅値Ｑａの時間平均値Q_AVEは－２６４．４２６８である。また、この－２４ｄＢＦＳに相当する被測定信号の時間平均振幅値AMP_AVEは、下記の式（１）より２０９５．２６３３である。

一方、－２４ｄＢＦＳから４０ｄＢ低下させた－６４ｄＢＦＳに相当する被測定信号のＩベースバンド信号の振幅値Ｉａの時間平均値I_AVEは１６．２７８３であり、Ｑベースバンド信号の振幅値Ｑａの時間平均値Q_AVEは１２．９５８３である。また、この－６８ｄＢＦＳに相当する被測定信号の時間平均振幅値AMP_AVEは、式（１）より２０．８０６３である。

よって、－２４ｄＢＦＳでの時間平均振幅値に対する－６４ｄＢＦＳでの時間平均振幅値の相対パワーレベルは、下記の式（２）に示すように、－４０．０６０９ｄＢとなる。さらに、－４０ｄＢに対する相対パワーレベルの直線性誤差（Linearity Error）は、－０．０６０９ｄＢとなる。

以下、直交復調器１３から出力された１６ビットのＩベースバンド信号とＱベースバンド信号に対して、２ビット分の下位方向へのシフトを行った後に、従来のように四捨五入丸めを行った結果について説明する。

直交復調器１３から－２４ｄＢＦＳで出力され、第１シフト部１４により２ビット分だけ下位方向にシフトされた被測定信号のＩベースバンド信号の振幅値Ｉａ'の時間平均値I_AVEは５１９．７６１４であり、Ｑベースバンド信号の振幅値Ｑａ'の時間平均値Q_AVEは－６６．２３６７である。また、このシフト後の被測定信号の時間平均振幅値AMP_AVEは、式（１）より５２３．９６４８である。

一方、－２４ｄＢＦＳから４０ｄＢ低下させた－６４ｄＢＦＳのレベルで直交復調器１３から出力され、第１シフト部１４により２ビット分だけ下位方向にシフトされた被測定信号のＩベースバンド信号の振幅値Ｉａ'の時間平均値I_AVEは４．１７８７であり、Ｑベースバンド信号の振幅値Ｑａ'の時間平均値Q_AVEは３．３５４２である。また、このシフト後の被測定信号の時間平均振幅値AMP_AVEは、式（１）より５．３５８４である。

よって、－２４ｄＢＦＳでの時間平均振幅値に対する－６４ｄＢＦＳでの時間平均振幅値の相対パワーレベルは、下記の式（３）に示すように、－３９．８０５３ｄＢとなる。さらに、－４０ｄＢに対する相対パワーレベルの直線性誤差は、０．１９４７ｄＢとなり、シフト前のＩベースバンド信号とＱベースバンド信号から得られた、－０．０６０９ｄＢと比較して悪化していることが分かる。

図４は、第１シフト部１４により２ビット分だけ下位方向にシフトされた後に四捨五入丸めされた、様々な入力レベルのＣＷの直線性誤差を、入力レベル（－２４ｄＢＦＳ）を基準（０ｄＢ）として示すグラフである。図４に示された複数回の測定結果から確認できるように、基準（０ｄＢ）に対して－４０ｄＢ相当（－６４ｄＢＦＳ）の入力レベルでは０．２ｄＢ程度の直線性誤差が生じている。

図５は、第１シフト部１４により２ビット分だけ下位方向にシフトされた後に、第１丸め処理部１５により偶数丸めされた、様々な入力レベルのＣＷの直線性誤差を、入力レベル（－２４ｄＢＦＳ）を基準（０ｄＢ）として示すグラフである。図５に示された複数回の測定結果から確認できるように、基準（０ｄＢ）に対して－４０ｄＢの入力レベルでも直線性誤差は０．０５ｄＢ程度であり、図４の四捨五入丸めの結果と比較して、直線性誤差が大幅に改善されていることが分かる。

以上のことから、本実施形態の移動端末試験装置１は、第１丸め処理部１５により偶数丸めされたＩベースバンド信号の振幅値Ｉａ"とＱベースバンド信号の振幅値Ｑａ"の時間平均値を第１平均処理部１６によりそれぞれ算出することにより、測定確度の高い時間平均振幅値の測定を行うことができる。ＤＵＴ１００が時分割複信（Time Division Duplex：ＴＤＤ）方式に従うものである場合、３ＧＰＰ等の規格に則った無送信時間において、キャリアリークなど微小なＣＷ信号を送信していることがある。特に、ＤＵＴ１００のＲＦ送信周波数と周波数変換部１１のＲＦ受信周波数が等しい場合には、キャリアリークが、デジタルベースバンドにおいて正負の符号が確定した振幅値（定振幅＋雑音）として検出される。

図１に示す第１信号処理部１７は、被測定信号がＴＤＤ方式に基づいた信号である場合に、第１平均処理部１６により算出された時間平均値のうち、ＴＤＤ方式の無送信時間における時間平均値を抽出するようになっている。これにより、第１信号処理部１７は、ＤＵＴ１００から出力される被測定信号のキャリアリーク値を測定することができる。

さらに、第１信号処理部１７は、例えば、被測定信号の振幅（パワー）などの時間変化を示す時系列データやスペクトラムの生成、チャネルパワー（ＣＨＰ）、占有帯域幅（ＯＢＷ）、隣接チャネル漏洩電力比（ＡＣＬＲ）、バースト平均電力、変調精度（ＥＶＭ）、ＳＮＲ（Signal to Noise Ratio）などの測定を行うものであってもよい。

表示部１８は、例えばＬＣＤやＣＲＴなどの表示機器で構成され、第１信号処理部１７によるキャリアリーク値の測定結果などを表示するようになっている。さらに、表示部１８は、制御部２０から出力される制御信号に応じて、測定条件などを設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象の表示を行うようになっている。

操作部１９は、ユーザによる操作入力を受け付けるためのものであり、例えば表示部１８に設けられたタッチパネルで構成される。あるいは、操作部１９は、キーボード又はマウスのような入力デバイスを含んで構成されてもよい。また、操作部１９は、リモートコマンドなどによる遠隔制御を行う外部制御装置で構成されてもよい。操作部１９への操作入力は、制御部２０により検知されるようになっている。例えば、操作部１９により、第１シフト部１４によるシフト量をユーザが指定することなどが可能である。

制御部２０は、例えばＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤなどを含むマイクロコンピュータ又はパーソナルコンピュータ等で構成され、移動端末試験装置１を構成する上記各部の動作を制御する。また、制御部２０は、ＲＯＭ等に記憶された所定のプログラムをＲＡＭに移して実行することにより、第１シフト部１４、第１丸め処理部１５、第１平均処理部１６、及び第１信号処理部１７の少なくとも一部をソフトウェア的に構成することが可能である。なお、第１シフト部１４、第１丸め処理部１５、第１平均処理部１６、及び第１信号処理部１７の少なくとも一部は、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）やＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）などのデジタル回路で構成することも可能である。あるいは、第１シフト部１４、第１丸め処理部１５、第１平均処理部１６、及び第１信号処理部１７の少なくとも一部は、デジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。

以下、図６のフローチャートを参照しながら、本実施形態の移動端末試験装置１を用いた移動端末試験方法について説明する。ここでは、被測定信号がＴＤＤ方式に基づいた信号であるとする。

まず、周波数変換部１１は、周波数ｆ_Ｌのローカル信号を用いて、周波数ｆ_Ｒのアナログの被測定信号を所定の中間周波数ｆ_ＩＦに周波数変換する（周波数変換ステップＳ１）。

次に、Ａ／Ｄ変換器１２は、ステップＳ１により周波数変換された被測定信号をサンプリング周波数Ｆｓでサンプリングして、所定のビット数の２進数のデジタルデータに変換する（Ａ／Ｄ変換ステップＳ２）。

次に、直交復調器１３は、ステップＳ２から出力されたデジタルデータを直交復調して、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号を生成する（直交復調ステップＳ３）。

次に、第１シフト部１４は、Ｉベースバンド信号の振幅値ＩａとＱベースバンド信号の振幅値Ｑａを、それらの下位の所定数のビットが小数点以下の値になるように、当該所定数のビット分だけ下位方向にシフトする（第１シフトステップＳ４）。

次に、第１丸め処理部１５は、ステップＳ４によりシフトされたＩベースバンド信号の振幅値Ｉａ'とＱベースバンド信号の振幅値Ｑａ'に対して、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行う（第１丸め処理ステップＳ５）。

次に、第１平均処理部１６は、ステップＳ５により丸められたＩベースバンド信号の振幅値Ｉａ"とＱベースバンド信号の振幅値Ｑａ"の時間平均値をそれぞれ算出する（第１平均処理ステップＳ６）。

次に、第１信号処理部１７は、ステップＳ６により算出された時間平均値のうち、ＴＤＤ方式の無送信時間における時間平均値を抽出することにより、被測定信号のキャリアリーク値を測定する（ステップＳ７）。

以上説明したように、本実施形態に係る移動端末試験装置１は、Ｉベースバンド信号の振幅値とＱベースバンド信号の振幅値をビットシフト所定数のビット分だけ下位方向にシフトした後に、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行う。さらに、移動端末試験装置１は、偶数丸めされたＩベースバンド信号の振幅値とＱベースバンド信号の振幅値の時間平均値をそれぞれ算出する。このようにして、移動端末試験装置１は、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号から得られる、符号が確定した振幅値に対して四捨五入丸めを行った場合と比較して、これらの時間平均振幅値の測定確度を向上させることができる。

また、本実施形態に係る移動端末試験装置１は、上記のようにして得られた時間平均値のうち、時分割複信方式の無送信時間における時間平均値を抽出することにより、ＴＤＤ方式に基づく被測定信号の無送信時間におけるキャリアリークの振幅測定精度を向上させることが可能となる。

（第２の実施形態）
続いて、本発明の第２の実施形態に係る移動端末試験装置及び移動端末試験方法について図面を参照しながら説明する。なお、第１の実施形態と同様の構成については同一の符号を付して適宜説明を省略する。また、第１の実施形態と同様の動作についても適宜説明を省略する。

図７に示すように、本実施形態の移動端末試験装置２は、ＤＵＴ１００を試験するための擬似基地局として機能するものであって、周波数変換部１１と、Ａ／Ｄ変換器１２と、直交復調器１３と、コンスタレーション算出部２１と、第２シフト部２２と、第２丸め処理部２３と、第２平均処理部２４と、正規化因子算出部２５と、正規化処理部２６と、ＥＶＭ平均値算出部２７と、表示部１８と、操作部１９と、制御部２０と、を備える。本実施形態においては、ＤＵＴ１００から出力される被測定信号は、ＢＰＳＫ、ＱＰＳＫ、１６ＱＡＭ、６４ＱＡＭ、２５６ＱＡＭ等の多値変調方式により変調された変調信号であるとする。

コンスタレーション算出部２１は、ＤＵＴ１００から出力された被測定信号の変調シンボルごとに、直交復調器１３から出力されたＩベースバンド信号及びＱベースバンド信号をＩＱ平面上でコンスタレーションとして表すためのＩシンボルデータ及びＱシンボルデータを算出するようになっている。なお、コンスタレーション算出部２１は、コンスタレーションを算出するに当たって、変調シンボルごとのＩシンボルデータ及びＱシンボルデータがＩＱ平面上の特定の象限に位置するように（すなわち、符号確定するように）、Ｉベースバンド信号及びＱベースバンド信号の振幅特性及び位相特性の補正を行う。

第２シフト部２２は、コンスタレーション算出部２１により算出されたコンスタレーション上の各変調シンボルに対応するＩシンボルデータの振幅値とＱシンボルデータの振幅値を、それらの下位の所定数のビットが小数点以下の値になるように、当該所定数のビット分だけ下位方向にシフトするようになっている。なお、第２シフト部２２の動作は、シフト対象が異なることを除いて、第１シフト部１４の動作と同様である。

第２丸め処理部２３は、第２シフト部２２によりシフトされたＩシンボルデータの振幅値とＱシンボルデータの振幅値に対して、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行うようになっている。なお、第２丸め処理部２３の動作は、丸め対象が異なることを除いて、第１丸め処理部１５の動作と同様である。

第２平均処理部２４は、第２丸め処理部２３により丸められたＩシンボルデータの振幅値とＱシンボルデータの振幅値の時間平均値をそれぞれ算出するようになっている。

正規化因子算出部２５は、第２平均処理部２４により算出された時間平均値を用いて、第２丸め処理部２３により丸められたＩシンボルデータの振幅値とＱシンボルデータの振幅値をコンスタレーション上の測定点に変換するための正規化因子を算出するようになっている。例えば、正規化因子算出部２５は、コンスタレーション上の全ての測定点のパワーの和を１に変換するような正規化因子を算出する。

正規化処理部２６は、正規化因子算出部２５により算出された正規化因子で、第２丸め処理部２３により丸められたＩシンボルデータの振幅値とＱシンボルデータの振幅値を正規化することにより、コンスタレーション上の測定点３０を算出するようになっている。図８は、被測定信号の変調方式が１６ＱＡＭである場合の正規化済みのコンスタレーションを示している。図中の白丸は、正規化処理部２６により正規化された測定点３０を示している。また、図中の黒丸は、ＥＶＭが０％となる各変調シンボルのＩシンボルデータ及びＱシンボルデータの理想点３１を示している。なお、図８には各変調シンボルに対応する測定点３０を１つのみ図示しているが、実際には各変調シンボルに対応して複数の測定点３０が存在する。

ＥＶＭ平均値算出部２７は、コンスタレーション上の理想点３１と、正規化処理部２６により得られた測定点３０とのエラーベクトル３２の振幅絶対値を算出し、算出した振幅絶対値の時間平均値（ＥＶＭ時間平均値）を算出するようになっている。コンスタレーション上における理想点３１の位置は、例えば、多値変調方式ごとにあらかじめ制御部２０に記憶されており、被測定信号の多値変調方式に応じた理想点３１の位置の情報が、制御部２０からＥＶＭ平均値算出部２７に入力される。

表示部１８は、第２平均処理部２４により算出されたコンスタレーションの平均値や、ＥＶＭ平均値算出部２７により算出されたＥＶＭ時間平均値の測定結果などを表示するようになっている。

なお、コンスタレーション算出部２１、第２シフト部２２、第２丸め処理部２３、第２平均処理部２４、正規化因子算出部２５、正規化処理部２６、及びＥＶＭ平均値算出部２７の少なくとも一部は、ソフトウェア的に構成されてもよく、ＦＰＧＡやＡＳＩＣなどのデジタル回路で構成されてもよく、あるいは、デジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成されてもよい。

以下、図９のフローチャートを参照しながら、本実施形態の移動端末試験装置２を用いた移動端末試験方法について説明する。

まず、周波数変換部１１は、周波数ｆ_Ｌのローカル信号を用いて、周波数ｆ_Ｒのアナログの被測定信号を所定の中間周波数ｆ_ＩＦに周波数変換する（周波数変換ステップＳ１１）。

次に、Ａ／Ｄ変換器１２は、ステップＳ１１により周波数変換された被測定信号をサンプリング周波数Ｆｓでサンプリングして、所定のビット数の２進数のデジタルデータに変換する（Ａ／Ｄ変換ステップＳ１２）。

次に、直交復調器１３は、ステップＳ１２から出力されたデジタルデータを直交復調して、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号を生成する（直交復調ステップＳ１３）。

次に、コンスタレーション算出部２１は、被測定信号の変調シンボルごとに、Ｉベースバンド信号及びＱベースバンド信号をＩＱ平面上でコンスタレーションとして表すためのＩシンボルデータ及びＱシンボルデータを算出する（コンスタレーション算出ステップＳ１４）。

次に、第２シフト部２２は、コンスタレーション上の各変調シンボルに対応するＩシンボルデータの振幅値とＱシンボルデータの振幅値を、それらの下位の所定数のビットが小数点以下の値になるように、当該所定数のビット分だけ下位方向にシフトする（第２シフトステップＳ１５）。

次に、第２丸め処理部２３は、ステップＳ１５によりシフトされたＩシンボルデータの振幅値とＱシンボルデータの振幅値に対して、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行う（第２丸め処理ステップＳ１６）。このステップＳ１６の処理により、後述するステップＳ２０において、ＥＶＭ時間平均値を四捨五入方式に比べて正確に算出できることになる。

次に、第２平均処理部２４は、ステップＳ１６により丸められたＩシンボルデータの振幅値とＱシンボルデータの振幅値の時間平均値をそれぞれ算出する（第２平均処理ステップＳ１７）。

次に、正規化因子算出部２５は、ステップＳ１７により算出された時間平均値を用いて、ステップＳ１６により丸められたＩシンボルデータの振幅値とＱシンボルデータの振幅値をコンスタレーション上の測定点３０に変換するための正規化因子を算出する（正規化因子算出ステップＳ１８）。

次に、正規化処理部２６は、ステップＳ１８により算出された正規化因子で、ステップＳ１６により丸められたＩシンボルデータの振幅値とＱシンボルデータの振幅値を正規化することにより、コンスタレーション上の測定点３０を算出する（正規化処理ステップＳ１９）。

次に、ＥＶＭ平均値算出部２７は、コンスタレーション上の理想点３１と、ステップＳ１９により得られた測定点３０とのエラーベクトル３２の振幅絶対値を算出し、算出した振幅絶対値のＥＶＭ時間平均値を算出する（ＥＶＭ平均値算出ステップＳ２０）。

以上説明したように、本実施形態に係る移動端末試験装置２は、ＩＱ平面上でコンスタレーションとして表すためのＩシンボルデータ及びＱシンボルデータの振幅値を所定数のビット分だけ下位方向にシフトした後に、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行う。さらに、移動端末試験装置２は、偶数丸めされたＩシンボルデータ及びＱシンボルデータの振幅値の時間平均値をそれぞれ算出する。このようにして、移動端末試験装置２は、コンスタレーションの各変調シンボルにおけるＩシンボルデータ及びＱシンボルデータの符号が確定した振幅値に対して四捨五入丸めを行った場合と比較して、これらの時間平均振幅値の測定確度を向上させることができる。

また、本実施形態に係る移動端末試験装置２は、偶数丸めされたＩシンボルデータ及びＱシンボルデータの振幅値を、コンスタレーション上の理想点３１に合わせて正規化した測定点３０に変換して、測定点３０のＥＶＭを測定することができる。

１，２ 移動端末試験装置
１１ 周波数変換部
１２ Ａ／Ｄ変換器
１３ 直交復調器
１４ 第１シフト部
１５ 第１丸め処理部
１６ 第１平均処理部
１７ 第１信号処理部
１８ 表示部
１９ 操作部
２０ 制御部
２１ コンスタレーション算出部
２２ 第２シフト部
２３ 第２丸め処理部
２４ 第２平均処理部
２５ 正規化因子算出部
２６ 正規化処理部
２７ ＥＶＭ平均値算出部
３０ 測定点
３１ 理想点
３２ エラーベクトル
１００ ＤＵＴ

Claims (7)

1. アナログの被測定信号を周波数変換する周波数変換部（１１）と、
   前記周波数変換部により周波数変換された被測定信号をサンプリングして、所定のビット数の２進数のデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器（１２）と、
   前記Ａ／Ｄ変換器から出力されたデジタルデータを直交復調して、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号を生成する直交復調器（１３）と、
   前記Ｉベースバンド信号の振幅値と前記Ｑベースバンド信号の振幅値を、それらの下位の所定数のビットが小数点以下の値になるように、前記所定数のビット分だけ下位方向にシフトする第１シフト部（１４）と、
   前記第１シフト部によりシフトされた前記Ｉベースバンド信号の振幅値と前記Ｑベースバンド信号の振幅値に対して、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行う第１丸め処理部（１５）と、
   前記第１丸め処理部により丸められた前記Ｉベースバンド信号の振幅値と前記Ｑベースバンド信号の振幅値の時間平均値をそれぞれ算出する第１平均処理部（１６）と、を備えることを特徴とする移動体端末試験装置。
2. 前記被測定信号が時分割複信方式に基づいた信号である場合に、前記第１平均処理部により算出された時間平均値のうち、時分割複信方式の無送信時間における時間平均値を抽出する信号処理を行う第１信号処理部（１７）を更に備えることを特徴とする請求項１に記載の移動体端末試験装置。
3. アナログの変調信号である被測定信号を周波数変換する周波数変換部（１１）と、
   前記周波数変換部により周波数変換された被測定信号をサンプリングして、所定のビット数の２進数のデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器（１２）と、
   前記Ａ／Ｄ変換器から出力されたデジタルデータを直交復調して、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号を生成する直交復調器（１３）と、
   前記被測定信号の変調シンボルごとに、前記Ｉベースバンド信号及び前記Ｑベースバンド信号をＩＱ平面上でコンスタレーションとして表すためのＩシンボルデータ及びＱシンボルデータを算出するコンスタレーション算出部（２１）と、
   前記コンスタレーション上の各前記変調シンボルに対応する前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値を、それらの下位の所定数のビットが小数点以下の値になるように、前記所定数のビット分だけ下位方向にシフトする第２シフト部（２２）と、
   前記第２シフト部によりシフトされた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値に対して、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行う第２丸め処理部（２３）と、
   前記第２丸め処理部により丸められた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値の時間平均値をそれぞれ算出する第２平均処理部（２４）と、を備えることを特徴とする移動体端末試験装置。
4. 前記第２平均処理部により算出された時間平均値を用いて、前記第２丸め処理部により丸められた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値を前記コンスタレーション上の測定点（３０）に変換するための正規化因子を算出する正規化因子算出部（２５）と、
   前記正規化因子算出部により算出された正規化因子で、前記第２丸め処理部により丸められた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値を正規化することにより、前記コンスタレーション上の測定点を算出する正規化処理部（２６）と、
   前記コンスタレーション上の理想点（３１）と、前記正規化処理部により得られた測定点とのエラーベクトル（３２）の振幅絶対値を算出し、算出した振幅絶対値の時間平均値を算出するＥＶＭ平均値算出部（２７）と、を更に備えることを特徴とする請求項３に記載の移動体端末試験装置。
5. アナログの被測定信号を周波数変換する周波数変換ステップ（Ｓ１）と、
   前記周波数変換ステップにより周波数変換された被測定信号をサンプリングして、所定のビット数の２進数のデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換ステップ（Ｓ２）と、
   前記Ａ／Ｄ変換ステップから出力されたデジタルデータを直交復調して、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号を生成する直交復調ステップ（Ｓ３）と、
   前記Ｉベースバンド信号の振幅値と前記Ｑベースバンド信号の振幅値を、それらの下位の所定数のビットが小数点以下の値になるように、前記所定数のビット分だけ下位方向にシフトする第１シフトステップ（Ｓ４）と、
   前記第１シフトステップによりシフトされた前記Ｉベースバンド信号の振幅値と前記Ｑベースバンド信号の振幅値に対して、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行う第１丸め処理ステップ（Ｓ５）と、
   前記第１丸め処理ステップにより丸められた前記Ｉベースバンド信号の振幅値と前記Ｑベースバンド信号の振幅値の時間平均値をそれぞれ算出する第１平均処理ステップ（Ｓ６）と、を含むことを特徴とする移動体端末試験方法。
6. アナログの変調信号である被測定信号を周波数変換する周波数変換ステップ（Ｓ１１）と、
   前記周波数変換ステップにより周波数変換された被測定信号をサンプリングして、所定のビット数の２進数のデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換ステップ（Ｓ１２）と、
   前記Ａ／Ｄ変換ステップから出力されたデジタルデータを直交復調して、互いに直交するＩベースバンド信号とＱベースバンド信号を生成する直交復調ステップ（Ｓ１３）と、
   前記被測定信号の変調シンボルごとに、前記Ｉベースバンド信号及び前記Ｑベースバンド信号をＩＱ平面上でコンスタレーションとして表すためのＩシンボルデータ及びＱシンボルデータを算出するコンスタレーション算出ステップ（Ｓ１４）と、
   前記コンスタレーション上の各前記変調シンボルに対応する前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値を、それらの下位の所定数のビットが小数点以下の値になるように、前記所定数のビット分だけ下位方向にシフトする第２シフトステップ（Ｓ１５）と、
   前記第２シフトステップによりシフトされた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値に対して、１０進数表記での丸め幅を１とする偶数への丸めを行う第２丸め処理ステップ（Ｓ１６）と、
   前記第２丸め処理ステップにより丸められた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値の時間平均値をそれぞれ算出する第２平均処理ステップ（Ｓ１７）と、を含むことを特徴とする移動体端末試験方法。
7. 前記第２平均処理ステップにより算出された時間平均値を用いて、前記第２丸め処理ステップにより丸められた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値を前記コンスタレーション上の測定点（３０）に変換するための正規化因子を算出する正規化因子算出ステップ（Ｓ１８）と、
   前記正規化因子算出ステップにより算出された正規化因子で、前記第２丸め処理ステップにより丸められた前記Ｉシンボルデータの振幅値と前記Ｑシンボルデータの振幅値を正規化することにより、前記コンスタレーション上の測定点を算出する正規化処理ステップ（Ｓ１９）と、
   前記コンスタレーション上の理想点（３１）と、前記正規化処理ステップにより得られた測定点とのエラーベクトル（３２）の振幅絶対値を算出し、算出した振幅絶対値の時間平均値を算出するＥＶＭ平均値算出ステップ（Ｓ２０）と、を更に含むことを特徴とする請求項６に記載の移動体端末試験方法。

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