JP7062339B2 - 温度測定方法及び温度測定装置 - Google Patents
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Description
<実施形態>
<概要>
<測定原理>
<式1>
<式2>
<機能的構成>
<式5>
<式6>
<ハードウェア構成>
<処理の流れ>
<効果>
<実施形態2>
<概要>
<構成>
<効果>
<実施形態3>
<概要>
<構成>
<効果>
0201 第一放射輝度取得部
0202 第二放射輝度取得部
0203 反射分布特性情報取得部
0204 演算部
Claims (7)
- 測温対象からの放射束を後述するキャビティならびに後述する反射分布特性の計測手段を退避させた状態で直接計測し第一放射輝度を取得する第一放射輝度取得ステップと、
内面が高反射率であるキャビティ内で測温対象からの放射束を多重反射させ、キャビティに設けられた小孔部の放射束を計測して第二放射輝度を取得する第二放射輝度取得ステップと、
別途設けた光源から測温対象に光を照射し、光束の反射分布状態を計測することにより反射分布特性情報を取得する反射分布特性情報取得ステップと、
予め保持されている第一放射輝度と第二放射輝度と反射分布特性情報を変数とした波長λにおける分光放射率の検量関数と、取得した第一放射輝度と、取得した第二放射輝度と、取得した反射分布特性情報とを用いて測温対象の波長λにおける分光放射率を演算する演算ステップと、
を有する測温対象の温度を取得する温度測定方法。 - 前記キャビティは、円筒形又は部分球形である請求項1に記載の温度測定方法。
- 前記キャビティの一端は開放端であり、この開放端は測温対象に近接して被せるものであり、開放端の下端部は徐々に空洞部が径大となるように構成するスカート部を有する請求項1に記載の温度測定方法。
- 測温対象からの放射束を後述するキャビティならびに後述する反射分布特性の計測手段を退避させた状態で直接計測し第一放射輝度を取得する第一放射輝度取得部と、
内面が高反射率であるキャビティ内で測温対象からの放射束を多重反射させ、キャビティに設けられた小孔部の放射束を計測して第二放射輝度を取得する第二放射輝度取得部と、
別途設けた光源から測温対象に光を照射し、光束の反射分布状態を計測することにより反射分布特性情報を取得する反射分布特性情報取得部と、
予め保持されている第一放射輝度と第二放射輝度と反射分布特性情報を変数とした波長λにおける分光放射率の検量関数と、取得した第一放射輝度と、取得した第二放射輝度と、取得した反射分布特性情報とを用いて測温対象の波長λにおける分光放射率を演算する演算部と、
を有する測温対象の温度を取得する温度測定装置。 - 前記キャビティは、円筒形又は部分球形である請求項4に記載の温度測定装置。
- 前記キャビティの一端は開放端であり、この開放端は測温対象に近接して被せるものであり、開放端の下端部は徐々に空洞部が径大となるように構成するスカート部を有する請求項4に記載の温度測定装置。
- 前記別途設けた光源は、レーザー光源又はLED光源である請求項4から請求項6のいずれか一に記載の温度測定装置。
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