CN114353968B - 一种狭小空间温度测量现场校准方法及校准系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种狭小空间温度测量现场校准方法及校准系统，所述方法包括：将具有第一发射率的第一材料涂覆于所述被测对象的第一表面，并将具有第二发射率的第二材料涂覆于所述被测对象的第二表面；所述被测对象还具有第三表面；对被测对象的第一表面、第二表面以及第三表面同时进行红外热成像；分别接收所述第一表面的第一辐射亮度，所述第二表面的第二辐射亮度以及所述第三表面的第三辐射亮度；根据所述第一辐射亮度，第二辐射亮度以及第三辐射亮度对被测对象进行校准。上述方法适合于内部狭小空间范围内的被测对象的实际温度进行准确测量，最终可以实时监测被测对象的真实温度。

Description

一种狭小空间温度测量现场校准方法及校准系统

技术领域

本发明涉及红外成像测温领域，具体涉及一种狭小空间温度测量现场校准方法及校准系统。

背景技术

温度是度量物体冷热程度的物理量，是工业生产中既普遍又重要的热工参数，许多生产工艺过程均要求对温度进行监视和控制，特别是在化工、食品等行业生产过程中，温度的测量和控制直接影响到产品的质量和性能。传统的接触式测温仪表如热电偶、热电阻等，因要与被测物质进行充分的热交换，需经过一定的时间后才能达到热平衡，存在着测温的延迟现象，故在连续生产质量检验中存在一定的使用局限。目前，红外温度仪因具有使用方便，反应速度快，灵敏度高，测温范围广，可实现在线非接触连续测量等众多优点，正在逐步地得以推广应用。尤其在机械、电气、化工、航天等设备运行过程中，设备内部狭小空间温度分布的监测对于设备维护、系统改进等有着至关重要的作用。

红外成像监测技术是一种广泛开展的检测设备故障的手段，它对各部件运行情况的显示具有形象、直观、准确性高的优点，而且检测时不需要停电，不需要取样，不需要改变设备的运行参数，就能准确测温并判别设备工况或判断缺陷的部位和性质，是状态检修和装置改进最有效手段之一。其主要方法为采用红外辐射测温方式来获取被测对象的实际温度。具体而言，实际应用过程中，由于设备的正常运行常常伴随着发热温升等现象，而在其发生故障时，红外成像监测也都能排查出大多数的温升都会超出正常运行时的值。因此红外辐射测温方式通过使用经过标定的红外热像仪，对被测对象的辐射亮度进行测量，进而通过物体温度和其辐射亮度的关系公式得到被测对象的实际温度，式中L为被测对象的辐射亮度，ε_m为被测对象的发射率，σ为斯蒂芬-玻尔兹曼常数，T为被测对象的实际温度。

上述测量方法中，如果被测对象发射率和红外热像仪的响应函数已知，则可以准确测量得到被测对象的实际温度。然而，在绝大部分情况下，因为现场检测环境和条件的不同，被测对象的发射率无法准确测量，在这种情况下通过红外辐射测温的方法，所得温度测量值误差较大，尤其是对于狭小空间中的设备检测时容易受到各种因素的影响而造成温度测量误差偏大的问题。因此需要找到一种可靠且准确的测温方法，能够实现狭小空间温度分布现场的测温方法以提高红外成像监测的精确性。

发明内容

鉴于上述红外成像监测判断结果不精确的问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种狭小空间温度测量现场校准方法及校准系统。

依据本发明的一个方面，提供一种狭小空间温度测量现场校准方法，所述方法包括：

将具有第一发射率的第一材料涂覆于所述被测对象的第一表面，并将具有第二发射率的第二材料涂覆于所述被测对象的第二表面；所述被测对象还具有第三表面，所述第一表面、第二表面以及第三表面相互独立；

对被测对象的第一表面、第二表面以及第三表面同时进行红外热成像；

分别接收所述第一表面的第一辐射亮度，所述第二表面的第二辐射亮度以及所述第三表面的第三辐射亮度；

根据所述第一辐射亮度，第二辐射亮度以及第三辐射亮度对被测对象进行校准，所述校准至少包括以下之一：被测对象的实际温度、被测对象的发射率以及环境辐射在该表面的等效亮度。

优选的，所述方法包括：

通过喷涂或刷涂将所述第一材料以及第二材料分别涂覆于所述被测对象的第一表面以及第二表面。

优选的，所述方法包括：

根据所述第一辐射亮度、第二辐射亮度以及第三辐射亮度对被测对象进行校准具体包括：

根据所述第一辐射亮度以及第二辐射亮度获取被测对象的实际温度以及环境辐射在该表面的等效亮度；

根据所述第三辐射亮度、所述被测对象的实际温度以及环境辐射在该表面的等效亮度获取所述被测对象的发射率。

优选的，所述第一辐射亮度满足等式一：

L_d1＝τ_aε_m1L_B(T_m)+τ_a(1-ε_m1)L_a 等式一；

所述第二辐射亮度满足等式二：

L_d2＝τ_aε_m2L_B(T_m)+τ_a(1-ε_m2)L_a 等式二；

所述第三辐射亮度满足等式三：

L_d＝τ_aε_mL_B(T_m)+τ_a(1-ε_m)L_a 等式三；

L_d1为第一辐射亮度，L_d2为第二辐射亮度，ε_m1为第一发射率，ε_m2为第二发射率，L_B(T_m)为温度为T_m的黑体辐射亮度；L_d为第三辐射亮度，τ_a为介质的透过率，ε_m为被测对象的发射率，T_m为被测对象的实际温度，L_a为环境辐射在该表面的等效辐射亮度。

根据本发明的另一个方面，提供一种狭小空间温度测量现场校准系统，用于对被测对象进行校准，包括：

第一材料、第二材料、红外热像设备、检测器以及校准单元；

所述第一材料涂覆于被测对象的第一表面，所述第二材料涂覆于所述被测对象的第二表面，所述被测对象还具有第三表面，所述第一表面、第二表面以及第三表面相互独立；

所述红外热像设备用于对被测对象的第一表面、第二表面以及第三表面同时进行红外热成像；

所述检测器用于分别接收所述第一表面的第一辐射亮度，所述第二表面的第二辐射亮度以及所述第三表面的第三辐射亮度；

所述校准单元用于根据所述第一辐射亮度，第二辐射亮度以及第三辐射亮度以对被测对象进行校准，所述校准至少包括以下之一：被测对象的实际温度、被测对象的发射率以及环境辐射在该表面的等效亮度。

优选的，所述第一材料为具有第一发射率的标准高发射率漆，所述第二材料为具有第二发射率的标准低发射率漆。

优选的，所述第一发射率大于0.9，所述第二发射率小于0.5。

优选的，所述标准高发射率漆以及标准低发射率漆的面积在所述红外热像设备中占据的像素点个数均不小于3×3。

根据本发明的另一个方面，还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项所述的狭小空间温度测量现场校准方法。

根据本发明的另一个方面，还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有执行计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任一项所述的狭小空间温度测量现场校准方法。

本发明上述方法基于对狭小空间中的被测对象的发射率以及外部辐射源的影响进行了分析，并得到了上述校准方法以对被测对象实际温度、发射率以及环境辐射在该表面的等效亮度对所述被测对象的影响进行校准，实现温度分布的高精度测量。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例中一种狭小空间温度测量现场校准方法流程图；

图2为本发明实施例中一种狭小空间温度测量现场校准系统结构示意图；

图3为本发明另一实施例中一种狭小空间温度测量现场校准系统结构示意图；

图4为本发明实施例中的计算机设备结构图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供一种狭小空间温度测量现场校准方法，如图1所示，所述方法包括：

步骤101，将具有第一发射率的第一材料涂覆于所述被测对象的第一表面，并将具有第二发射率的第二材料涂覆于所述被测对象的第二表面；所述被测对象还具有第三表面，所述第一表面、第二表面以及第三表面相互独立；

步骤102，对被测对象的第一表面、第二表面以及第三表面同时进行红外热成像；

步骤103，分别接收所述第一表面的第一辐射亮度，所述第二表面的第二辐射亮度以及所述第三表面的第三辐射亮度；

步骤104，根据所述第一辐射亮度，第二辐射亮度以及第三辐射亮度对被测对象进行校准，所述校准至少包括以下之一：被测对象的实际温度、被测对象的发射率以及环境辐射在该表面的等效亮度。

本发明上述实施例所述的狭小空间温度测量现场校准方法基于对狭小空间中的被测对象的发射率以及外部辐射源的影响进行了分析，并得到了上述校准方法以对被测对象实际温度、发射率以及环境辐射在该表面的等效亮度对所述被测对象的影响进行校准，实现温度分布的高精度测量。

具体到步骤101中，将发射率已知且不同的两种材料分别涂覆于被测对象的表面以形成第一表面和第二表面，两种材料在被测对象的表面上相互独立，且同时在被测对象的表面预留未涂覆任何材料的第三表面，以便于步骤102中通过红外热像设备分别对被测对象的第一表面、第二表面以及第三表面分别进行红外热成像以获取涂覆有第一材料的第一表面的第一辐射亮度，涂覆有第二材料的第二表面的第二辐射亮度以及被测对象原始的所述第三表面的第三辐射亮度。具体的实施方式中，涂覆有两种材料的红外热像设备同时接受被测对象的三个表面的辐射亮度，即同时获取第一表面、第二表面及第三表面的辐射亮度。为了保证三个表面的测试情况完全一致，因此需要三个表面同时接受红外热成像，即成像画面里必须同时存在三个表面。其中，第一表面、第二表面以及第三表面的面积可以相同也可以不同，具体大小以可以实现红外热成像并获得足够的辐射亮度为准。

具体到本发明的实施例，在实际通过红外热像设备对被测对象进行温度测量时，获取的辐射亮度包括来自于被测对象外部辐射的反射，介质的程辐射以及被测对象的辐射亮度的衰减辐射亮度，因此往往无法准确获取被测对象的发射率。本发明实施例所提供一种基于狭小空间的常规测温过程，由于空间位置的限定，红外热像设备的所在位置距离被测对象很近，即介质的光学厚度很小，此时可以忽略介质衰减的影响。由于第一材料、第二材料和被测对象原本的材料在经过红外热成像时所形成的辐射亮度均不相同，因此在步骤103中可以得到三个数值不同的辐射亮度，即第一辐射亮度、第二辐射亮度以及第三辐射亮度。同时由于涂覆的第一材料和第二材料的第一发射率和第二发射率是已知的，因此通过他们在探测器中形成的辐射亮度可以获取被测对象的实际温度、被测对象的发射率以及环境辐射在该表面的等效亮度，即对被测对象的实际温度、被测对象的发射率以及环境辐射在该表面的等效亮度进行了校准，其中，环境辐射在该表面的等效亮度为外部高温热源在被测对象处形成的等效亮度，将所述环境辐射在该表面的等效亮度对获取的第三辐射亮度的影响以及被测对象的发射率影响排除后，可以获得被测对象准确的真实温度，且由于三个表面距离非常近，因此可以近似认为三个表面各自位置的环境辐射等效亮度相等，即环境辐射在三个表面的等效亮度是相等的。因此本发明上述实施例所用的方法适合于内部狭小空间范围内的被测对象的实际温度进行准确测量，最终可以实时监测被测对象的真实温度。

较佳的，所述第三表面为所述被测对象除去第一表面以及第二表面所占用的表面以外的部分表面，或者为所述被测对象上且与第一表面以及第二表面均不重合的表面，第一表面、第二表面以及第三表面相互独立便可以获得其对应的辐射亮度以进行后续的计算。

本发明实施例所述的一种狭小空间温度测量现场校准方法，较佳的，所述方法包括：通过表面喷涂或刷涂的方式将所述第一材料以及第二材料分别涂覆于所述被测对象的第一表面以及第二表面。具体而言，采用喷涂或刷涂方式可以最大程度减小第一材料以及第二材料在被测对象上的厚度，此时可以近似认为第一材料、第二材料与被测对象之间达到热平衡，即第一材料、第二材料与被测对象之间的温度均是相等，避免第一材料、第二材料与被测对象的实际温度不相等而无法实现校准的目的。

本发明实施例所述的一种狭小空间温度测量现场校准方法，较佳的，根据所述第一辐射亮度、第二辐射亮度以及第三辐射亮度对被测对象进行校准具体包括：

根据所述第一辐射亮度以及第二辐射亮度获取的第一材料的温度或第二材料的温度和环境辐射在该表面的等效亮度；其中，由于第一材料的第一发射率以及第二材料的第二发射率是已知的，第一材料的温度、第二材料的温度与被测对象的实际温度是相等的，因此在获取到所述第一辐射亮度以及第二辐射亮度后便可以得到被测对象的实际温度，进而获得环境辐射在该表面的等效亮度。

随后根据所述第三辐射亮度、所述被测对象的实际温度以及环境辐射在该表面的等效亮度获取所述被测对象的发射率。由于在被测对象的第三辐射亮度、所述被测对象的实际温度以及环境辐射在该表面的等效亮度均为已知的情况下，便可直接获取被测对象的发射率，此时通过上述步骤便可获得准确的被测对象的实际温度、被测对象的发射率以及环境辐射在该表面的等效亮度，即对被测对象进行了校准。

本发明实施例所述的一种狭小空间温度测量现场校准方法，较佳的，所述第一辐射亮度满足等式一：

L_d1＝τ_aε_m1L_B(T_m)+τ_a(1-ε_m1)L_a 等式一；

所述第二辐射亮度满足等式二：

L_d2＝τ_aε_m2L_B(T_m)+τ_a(1-ε_m2)L_a 等式二；

所述第三辐射亮度满足等式三：

L_d＝τ_aε_mL_B(T_m)+τ_a(1-ε_m)L_a 等式三；

L_d1为第一辐射亮度，L_d2为第二辐射亮度，ε_m1为第一发射率，ε_m2为第二发射率，L_B(T_m)为温度为T_m的黑体辐射亮度；L_d为第三辐射亮度，τ_a为介质的透过率，ε_m为被测对象的发射率，T_m为被测对象的实际温度，L_a为环境辐射在该表面的等效辐射亮度；其中，由于测试距离较短，介质透过率τ_a可近似为1，即τ_a＝1。

因此，本发明具体的实施例中通过等式一、等式二以及等式三来获取被测对象的实际温度、环境辐射在该表面的等效亮度以及被测对象的发射率。具体而言，由于上述等式中L_d、L_d1、L_d2、ε_m1、ε_m2已知，仅有被测对象的发射率ε_m、被测对象的实际温度T_m和环境辐射在该表面的等效亮度L_a三个未知量，因此可以利用第一材料和第二材料在探测器中形成的辐射亮度计算出ε_m和T_m，以及环境辐射在该表面的等效亮度L_a。

较佳的实施例中，所述第一材料为具有第一发射率的标准高发射率漆，所述第二材料为具有第二发射率的标准低发射率漆，所述第一发射率大于0.9，所述第二发射率小于0.5，所述标准高发射率漆以及标准低发射率漆需要具有合适的面积，具体的标准高发射率漆以及标准低发射率漆的面积在所述红外热像设备中占据的像素点个数均不小于3×3的矩阵型区域，即9个像素点。

本发明实施例还提供一种狭小空间温度测量现场校准系统，用于对被测对象进行校准，如图2所示，包括：

第一材料5、第二材料6、红外热像设备1、检测器以及校准单元；

所述第一材料5涂覆于被测对象2的第一表面，所述第二材料6涂覆于所述被测对象2的第二表面，所述被测对象2还具有第三表面，所述第一表面、第二表面以及第三表面相互独立；具体的，所述第三表面为所述被测对象除去第一表面以及第二表面所占用的部分以外的表面，或者为所述被测对象上与第一表面以及第二表面均不重合的表面。

所述红外热像设备1用于对被测对象的第一表面、第二表面以及第三表面同时进行红外热成像；

所述检测器用于分别接收所述第一表面的第一辐射亮度，所述第二表面的第二辐射亮度以及所述第三表面的第三辐射亮度；

所述校准单元用于根据所述第一辐射亮度，第二辐射亮度以及第三辐射亮度以对被测对象进行校准，所述校准至少包括以下之一：被测对象的实际温度、被测对象的发射率以及环境辐射在该表面的等效亮度。

本发明实施例所述的一种狭小空间温度测量现场校准系统，较佳的，所述第一材料为具有第一发射率的标准高发射率漆，所述第二材料为具有第二发射率的标准低发射率漆。较佳的，所述第一发射率大于0.9，所述第二发射率小于0.5。

本发明实施例所述的一种狭小空间温度测量现场校准系统，较佳的，所述标准高发射率漆以及标准低发射率漆的面积在所述红外热像设备中占据的像素点个数均不小于3×3，以获得合适的第一辐射亮度以及第二辐射亮度。

本发明实施例所述的一种狭小空间温度测量现场校准系统，较佳的，所述红外热像设备包括：红外机芯以及红外镜头，所述红外镜头用于将被测对象的红外光成像聚焦至所述红外机芯上，所述红外镜头可根据现场情况进行设计，实现不同的测试距离、视场大小和成像清晰度，其设计方法是本领域从业人员所熟知的，在此不再赘述。所述红外机芯为用于红外光成像的非制冷型红外焦平面阵列结构。所述探测器优选氧化钒探测器，分辨率大于320×240，机械尺寸小于50×50×50mm，频率大于30Hz，工作温度和存储温度为-10～80℃。

本发明实施例所述的一种狭小空间温度测量现场校准系统，较佳的，所述系统还包括：机械防护结构以及热防护结构，所述机械防护结构用于对所述红外热像设备进行固定，并提供减震功能，防止在设备运行过程中由于震动造成红外热像设备的损坏并防止画面抖动。所述热防护结构用于隔绝所述红外热像设备中的热流，防止由于设备内部温度过高对红外热像设备造成物理破坏，并使得红外机芯处于其工作温度范围内。

本发明一具体的实施场景中，如图3所示，对汽车的发动机舱内的狭小空间进行温度测量的现场校准。其中所述系统包括：红外热像设备1，蓄电池3，冷却液管4，发动机7，标准高发射率漆5，标准低发射率漆6，检测器以及校准单元。

具体的，所述红外热机芯采用艾睿光电的MicroIII，所述红外镜头采用13mm焦距镜头，有效分辨率为640×512，整体尺寸为26×25×37mm。使用不锈钢支架作为机械防护结构用于红外将热像设备固定于汽车发动机附近，分别采用本发明上述实施例所述的校准方法和校准系统来监测发动机、蓄电池、冷却液等部件的温度，以及在以上各部件表面均涂刷第一发射率为0.95的标准高发射率漆以及第二发射率为0.20的标准低发射率漆，用于校正各部件的发射率。

图4为本申请一示意性实施例的一种狭小空间温度测量现场校准装置示意图，该校准装置402包括：

一个或多个处理设备404，诸如一个或多个中央处理单元(CPU)，每个处理单元可以实现一个或多个硬件线程。校准装置402还可以包括任何存储资源406，其用于存储诸如代码、设置、数据等之类的任何种类的信息。非限制性的，比如，存储资源406可以包括以下任一项或多种组合：任何类型的RAM，任何类型的ROM，闪存设备，硬盘，光盘等。更一般地，任何存储资源都可以使用任何技术来存储信息。进一步地，任何存储资源可以提供信息的易失性或非易失性保留。进一步地，任何存储资源可以表示校准装置402的固定或可移除部件。在一种情况下，当处理设备404执行被存储在任何存储资源或存储资源的组合中的相关联的指令时，校准装置402可以执行相关联指令的任一操作。校准装置402还包括用于与任何存储资源交互的一个或多个驱动机构408，诸如硬盘驱动机构、光盘驱动机构等。

校准装置402还可以包括输入/输出模块410(I/O)，其用于接收各种输入(经由输入设备412)和用于提供各种输出(经由输出设备414))。一个具体输出设备可以包括呈现设备416和相关联的图形用户接口(GUI)418。在其他实施例中，还可以不包括输入/输出模块410(I/O)、输入设备412以及输出设备414，仅作为网络中的一台计算设备。校准装置402还可以包括一个或多个网络接口420，其用于经由一个或多个通信链路422与其他设备交换数据。一个或多个通信总线424将上文所描述的部件耦合在一起。

通信链路422可以以任何方式实现，例如，通过局域网、广域网(例如，因特网)、点对点连接等、或其任何组合。通信链路422可以包括由任何协议或协议组合支配的硬连线链路、无线链路、路由器、网关功能、名称服务器等的任何组合。

较佳的，本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有一个或多个计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上所述的狭小空间温度测量现场校准方法的步骤。

本文实施例还提供一种计算机可读指令，其中当处理器执行所述指令时，其中的程序使得处理器执行上述任一实例所述的狭小空间温度测量现场校准方法。

综上所述，本发明上述实施例的有益效果在于：

1、适合于测量内部狭小空间范围内各部件的温度分布，获得各部件实时的温度数据；

2、通过本发明实施例所述的方法，可以对各部件的发射率和外部高温热源的影响进行校正并获得各部件准确的真实温度。

应理解，在本发明的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。

还应理解，在本发明实施例中，术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系。例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口、装置或单元的间接耦合或通信连接，也可以是电的，机械的或其它的形式连接。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本发明实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

本发明中应用了具体实施例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (9)

1.一种狭小空间温度测量现场校准方法，其特征在于，所述方法包括：

将具有第一发射率的第一材料涂覆于被测对象的第一表面，并将具有第二发射率的第二材料涂覆于所述被测对象的第二表面；所述被测对象还具有第三表面，所述第一表面、第二表面以及第三表面相互独立；

对被测对象的第一表面、第二表面以及第三表面同时进行红外热成像；

分别接收所述第一表面的第一辐射亮度，所述第二表面的第二辐射亮度以及所述第三表面的第三辐射亮度；

根据所述第一辐射亮度，第二辐射亮度以及第三辐射亮度对被测对象进行校准，所述校准至少包括以下之一：被测对象的实际温度、被测对象的发射率以及环境辐射在该表面的等效亮度；

根据所述第一辐射亮度、第二辐射亮度以及第三辐射亮度对被测对象进行校准具体包括：

根据所述第一辐射亮度以及第二辐射亮度获取被测对象的实际温度以及环境辐射在该表面的等效亮度；

根据所述第三辐射亮度、所述被测对象的实际温度以及环境辐射在该表面的等效亮度获取所述被测对象的发射率。

2.根据权利要求1所述的一种狭小空间温度测量现场校准方法，其特征在于，所述方法包括：

通过喷涂或刷涂将所述第一材料以及第二材料分别涂覆于所述被测对象的第一表面以及第二表面。

3.根据权利要求1所述的一种狭小空间温度测量现场校准方法，其特征在于，所述第一辐射亮度满足等式一：

L_d1＝τ_aε_m1L_B(T_m)+τ_a(1-ε_m1)L_a等式一；

所述第二辐射亮度满足等式二：

L_d2＝τ_aε_m2L_B(T_m)+τ_a(1-ε_m2)L_a等式二；

所述第三辐射亮度满足等式三：

L_d＝τ_aε_mL_B(T_m)+τ_a(1-ε_m)L_a等式三；

L_d1为第一辐射亮度，L_d2为第二辐射亮度，ε_m1为第一发射率，ε_m2为第二发射率，为温度为T_m的黑体辐射亮度；L_d为第三辐射亮度，τ_a为介质的透过率，ε_m为被测对象的发射率，T_m为被测对象的实际温度，L_a为环境辐射在该表面的等效辐射亮度。

4.一种狭小空间温度测量现场校准系统，用于对被测对象进行校准，其特征在于，包括：

第一材料、第二材料、红外热像设备、检测器以及校准单元；

所述第一材料涂覆于被测对象的第一表面，所述第二材料涂覆于所述被测对象的第二表面，所述被测对象还具有第三表面，所述第一表面、第二表面以及第三表面相互独立；

所述红外热像设备用于对被测对象的第一表面、第二表面以及第三表面同时进行红外热成像；

所述检测器用于分别接收所述第一表面的第一辐射亮度，所述第二表面的第二辐射亮度以及所述第三表面的第三辐射亮度；

所述校准单元用于根据所述第一辐射亮度，第二辐射亮度以及第三辐射亮度以对被测对象进行校准，所述校准至少包括以下之一：被测对象的实际温度、被测对象的发射率以及外环境辐射在该表面的等效辐射亮度；

根据所述第一辐射亮度、第二辐射亮度以及第三辐射亮度对被测对象进行校准具体包括：

根据所述第一辐射亮度以及第二辐射亮度获取被测对象的实际温度以及环境辐射在该表面的等效亮度；

根据所述第三辐射亮度、所述被测对象的实际温度以及环境辐射在该表面的等效亮度获取所述被测对象的发射率。

5.根据权利要求4所述的一种狭小空间温度测量现场校准系统，其特征在于，所述第一材料为具有第一发射率的标准高发射率漆，所述第二材料为具有第二发射率的标准低发射率漆。

6.根据权利要求5所述的一种狭小空间温度测量现场校准系统，其特征在于，所述第一发射率大于0.9，所述第二发射率小于0.5。

7.根据权利要求5所述的一种狭小空间温度测量现场校准系统，其特征在于，所述标准高发射率漆以及标准低发射率漆的面积在所述红外热像设备中占据的像素点个数均不小于3×3。

8.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至3中任一项所述的狭小空间温度测量现场校准方法。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有执行计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至3中任一项所述的狭小空间温度测量现场校准方法。