JP7058769B2 - 電子ビーム観察装置、電子ビーム観察システム、電子ビーム観察装置における画像補正方法及び画像補正のための補正係数算出方法 - Google Patents
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Description
(1)電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置において、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正するための補正係数算出方法であって、第1の電子ビーム観察装置が、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して第1の画像を生成するステップと、第2の電子ビーム観察装置が、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成するステップと、前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、前記第1および第2の画像に基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出するステップと、を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正のための補正係数算出方法である。
(2)電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置において、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正する方法であって、第1の電子ビーム観察装置が、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して第1の画像を生成するステップと、第2の電子ビーム観察装置が、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成するステップと、前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、前記第1および第2の画像に基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出するステップと、前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像を前記補正係数で補正するステップと、を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正方法である。
(3)電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置を複数台備えた電子ビーム観察システムであって、第1の電子ビーム観察装置は、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して第1の画像を生成する第1のコンピュータシステムを備え、第2の電子ビーム観察装置は、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成する第2のコンピュータシステムを備え、前記第1または第2のコンピュータシステムは、 前記第1および第2の画像に基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出し、前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像を前記補正係数で補正するように構成されたことを特徴とする電子ビーム観察システムである。
(4)電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置において、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正するための補正係数算出方法であって、第1の電子ビーム観察装置が、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して第1の画像を生成するステップと、前記第1の電子ビーム観察装置が、前記第1の画像に基づいて第1の周波数特性を算出するステップと、第2の電子ビーム観察装置が、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成するステップと、前記第2の電子ビーム観察装置が、前記第2の画像に基づいて第2の周波数特性を算出するステップと、前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、前記第1および第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出するステップと、を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正のための補正係数算出方法である。
(5)電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置において、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正する方法であって、第1の電子ビーム観察装置が、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して第1の画像を生成するステップと、前記第1の電子ビーム観察装置が、前記第1の画像に基づいて第1の周波数特性を算出するステップと、第2の電子ビーム観察装置が、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成するステップと、前記第2の電子ビーム観察装置が、前記第2の画像に基づいて第2の周波数特性を算出するステップと、前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、前記第1および第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出するステップと、前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像を前記補正係数で補正するステップと、を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正方法である。
(6)電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置を複数台備えた電子ビーム観察システムであって、第1の電子ビーム観察装置は、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して第1の画像を生成し、前記第1の画像に基づいて第1の周波数特性を算出する第1のコンピュータシステムを備え、第2の電子ビーム観察装置は、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成し、前記第2の画像に基づいて第2の周波数特性を算出する第2のコンピュータシステムを備え、前記第1または第2のコンピュータシステムは、前記第1および第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出し、前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像を前記補正係数で補正するように構成されたことを特徴とする電子ビーム観察システムである。
(7)電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置と、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像差を管理するコンピュータシステムと、を備えた電子ビーム観察システムにおいて、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正するための補正係数算出方法であって、第1の電子ビーム観察装置が、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して画像を生成するステップと、第2の電子ビーム観察装置が、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成するステップと、前記コンピュータシステムが、前記第1および第2の画像に基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出するステップと、を含むことを特徴とする電子ビーム観察システムにおける画像補正のための補正係数算出方法である。
(8)電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置と、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像差を管理するコンピュータシステムと、を備えた電子ビーム観察システムにおいて、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正する方法であって、第1の電子ビーム観察装置が、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して画像を生成するステップと、第2の電子ビーム観察装置が、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成するステップと、前記コンピュータシステムが、前記第1および第2の画像に基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出するステップと、前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像を前記補正係数で補正するステップと、を含むことを特徴とする電子ビーム観察システムにおける画像補正方法である。
(9)電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置と、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像差を管理する第3のコンピュータシステムと、を備えた電子ビーム観察システムであって、第1の電子ビーム観察装置は、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して画像を生成する第1のコンピュータシステムを備え、第2の電子ビーム観察装置は、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成する第2のコンピュータシステムを備え、前記第3のコンピュータシステムは、前記第1および第2の画像に基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出し、前記第1または第2のコンピュータシステムは、前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像を前記補正係数で補正するように構成されたことを特徴とする電子ビーム観察システムである。
(10)電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置と、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像差を管理するコンピュータシステムと、を備えた電子ビーム観察システムにおいて、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正するための補正係数算出方法であって、第1の電子ビーム観察装置が、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して画像を生成するステップと、前記第1の電子ビーム観察装置が、前記第1の画像に基づいて第1の周波数特性を算出するステップと、第2の電子ビーム観察装置が、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成するステップと、前記第2の電子ビーム観察装置が、前記第2の画像に基づいて第2の周波数特性を算出するステップと、前記コンピュータシステムが、前記第1および第2の周波数特性に基づいて基準周波数特性を特定するステップと、前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、前記基準周波数特性および前記第1または第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出するステップと、を含むことを特徴とする電子ビーム観察システムにおける画像補正のための補正係数算出方法である。
(11)電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置と、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像差を管理するコンピュータシステムと、を備えた電子ビーム観察システムにおいて、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正する方法であって、第1の電子ビーム観察装置が、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して画像を生成するステップと、前記第1の電子ビーム観察装置が、前記第1の画像に基づいて第1の周波数特性を算出するステップと、第2の電子ビーム観察装置が、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成するステップと、前記第2の電子ビーム観察装置が、前記第2の画像に基づいて第2の周波数特性を算出するステップと、前記コンピュータシステムが、前記第1および第2の周波数特性に基づいて基準周波数特性を特定するステップと、前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、前記基準周波数特性および前記第1または第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出するステップと、前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像を前記補正係数で補正するステップと、を含むことを特徴とする電子ビーム観察システムにおける画像補正方法である。
(12)電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置と、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像差を管理する第3のコンピュータシステムと、を備えた電子ビーム観察システムにおいて、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正する方法であって、第1の電子ビーム観察装置は、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して画像を生成し、前記第1の画像に基づいて第1の周波数特性を算出する第1のコンピュータシステムを備え、第2の電子ビーム観察装置は、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成し、前記第2の画像に基づいて第2の周波数特性を算出する第2のコンピュータシステムを備え、前記第3のコンピュータシステムは、前記第1および第2の周波数特性に基づいて基準周波数特性を特定し、前記第1または第2のコンピュータシステムは、前記基準周波数特性および前記第1または第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出し、前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像を前記補正係数で補正するように構成されたことを特徴とする電子ビーム観察システムである。
(13)複数の電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置において、画像を補正するための補正係数算出方法であって、前記電子ビーム観察装置が、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して第1の画像を生成するステップと、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成するステップと、前記第1および第2の画像に基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出するステップと、を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正のための補正係数算出方法である。
(14)複数の電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置において、画像を補正する方法であって、前記電子ビーム観察装置が、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して第1の画像を生成するステップと、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成するステップと、前記第1および第2の画像に基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出するステップと、前記電子ビーム観察装置で取得した第3の画像を前記補正係数で補正するステップと、を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正方法である。
(15)複数の電子ビームを試料に走査することによって画像を生成する電子ビーム観察装置であって、前記電子ビーム観察装置は、第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを走査して第1の画像を生成し、前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを走査して第2の画像を生成し、前記第1および第2の画像に基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出したピーク周波数における補正係数を算出し、前記電子ビーム観察装置で取得した第3の画像を前記補正係数で補正するように構成されたことを特徴とする電子ビーム観察装置である。
補正係数=装置Aの周波数特性A/装置Bの周波数特性B ………(式1)
として算出する。装置Aは、当該(式1)を用いて、周波数特性Aと周波数特性Bから補正係数を算出する(305)。この補正係数は、画像を周波数領域へ変換した後の各画素に対して算出する。
補正係数=基準となる周波数特性/装置1-Kの周波数特性 ………(式2)
として算出できる。
補正係数=基準となる周波数特性/装置1-Kの周波数特性
=各装置の周波数特性の平均値(平均周波数特性)/装置1-Kの周波数特性 ………(式3)
として算出する。
以下、本実施例においては電子ビーム観察装置がマルチビーム装置である例を示すが、同一装置の中に複数のカラムが存在するマルチカラム装置であっても同様である。
本実施例において、このシステム制御部110と、入出力部113と、制御装置109等をも含め、制御部と総称する場合がある。更に、入出力部113は、キーボードやマウス等の入力手段と、液晶表示デバイスなどの表示手段が、入力部、出力部として別構成とされていても良いし、タッチパネルなどを利用した一体型の入出力手段で構成されていても良い。
なお、生成された画像は、記憶装置111や不揮発性記憶装置(図示省略)に格納することができる。記憶装置111や不揮発性記憶装置等の記憶部に格納された画像は、後述する画像処理部148によって処理される。
以上のフローにより電子ビーム差の低減を確認した後にオペレーターが完了ボタン1309を押下すると、電子ビーム差低減用の補正係数のテーブルが更新され、マルチビームの電子ビーム差低減を完了する(S1205)。
本発明の効果は装置間の機差低減や、ビーム形状の変換に限定されることなく、撮像画像を元にして、画像を周波数空間で補正する際に広く有効な発明である。
102 電子ビーム
103 変形照明絞り
104 検出器
105 走査偏向用偏向器
106 対物レンズ
107 ステージ
108 試料
109 制御装置
110 システム制御部
111 記憶装置
112 演算部
113 入出力部
114 二次電子
115 光軸
116 コンピュータシステム
120 制御プログラム
121 通信手段
148 画像処理部
154 開口板
Claims (28)
- 電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置において、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正するための補正係数算出方法であって、
第1の電子ビーム観察装置が、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成するステップと、
第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成するステップと、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1および第2の画像データに基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出するステップと、
を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正のための補正係数算出方法。 - 請求項1に記載の補正係数算出方法であって、
前記第1および第2の周波数特性は、前記第1および第2の画像データを周波数空間画像に変換した際の振幅を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正のための補正係数算出方法。 - 請求項2に記載の補正係数算出方法であって、
前記第1および第2の周波数特性の算出は、前記第1および第2の画像データを周波数空間画像に変換した際に生成される係数のそれぞれについて係数の乗算または除算で行うことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正のための補正係数算出方法。 - 請求項1に記載の補正係数算出方法であって、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、
前記算出した補正係数に基づいて補正係数表または補正係数関数を作成するステップと、を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正のための補正係数算出方法。 - 電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置において、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正する方法であって、
第1の電子ビーム観察装置が、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成するステップと、
第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成するステップと、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1および第2の画像データに基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出するステップと、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像データを前記補正係数で補正するステップと、
を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正方法。 - 電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置を複数台備えた電子ビーム観察システムであって、
第1の電子ビーム観察装置は、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成する第1のコンピュータシステムを備え、
第2の電子ビーム観察装置は、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成する第2のコンピュータシステムを備え、
前記第1または第2のコンピュータシステムは、
前記第1および第2の画像データに基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出し、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像データを前記補正係数で補正するように構成されたことを特徴とする電子ビーム観察システム。 - 電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置において、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正するための補正係数算出方法であって、
第1の電子ビーム観察装置が、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成するステップと、
前記第1の電子ビーム観察装置が、
前記第1の画像データに基づいて第1の周波数特性を算出するステップと、
第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成するステップと、
前記第2の電子ビーム観察装置が、
前記第2の画像データに基づいて第2の周波数特性を算出するステップと、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1および第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出するステップと、
を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正のための補正係数算出方法。 - 電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置において、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正する方法であって、
第1の電子ビーム観察装置が、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成するステップと、
前記第1の電子ビーム観察装置が、
前記第1の画像データに基づいて第1の周波数特性を算出するステップと、
第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成するステップと、
前記第2の電子ビーム観察装置が、
前記第2の画像データに基づいて第2の周波数特性を算出するステップと、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1および第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出するステップと、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像データを前記補正係数で補正するステップと、
を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正方法。 - 電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置を複数台備えた電子ビーム観察システムであって、
第1の電子ビーム観察装置は、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成し、前記第1の画像データに基づいて第1の周波数特性を算出する第1のコンピュータシステムを備え、
第2の電子ビーム観察装置は、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成し、前記第2の画像データに基づいて第2の周波数特性を算出する第2のコンピュータシステムを備え、
前記第1または第2のコンピュータシステムは、
前記第1および第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出し、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像データを前記補正係数で補正するように構成されたことを特徴とする電子ビーム観察システム。 - 電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置と、複数の前記電子ビーム観察装置と通信可能に構成されたコンピュータシステムと、を備えた電子ビーム観察システムにおいて、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正するための補正係数算出方法であって、
第1の電子ビーム観察装置が、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成するステップと、
第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成するステップと、
前記コンピュータシステムが、
前記第1および第2の画像データに基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出するステップと、
を含むことを特徴とする電子ビーム観察システムにおける画像補正のための補正係数算出方法。 - 電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置と、複数の前記電子ビーム観察装置と通信可能に構成されたコンピュータシステムと、を備えた電子ビーム観察システムにおいて、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正する方法であって、
第1の電子ビーム観察装置が、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成するステップと、
第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成するステップと、
前記コンピュータシステムが、
前記第1および第2の画像データに基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出するステップと、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像データを前記補正係数で補正するステップと、
を含むことを特徴とする電子ビーム観察システムにおける画像補正方法。 - 電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置と、複数の前記電子ビーム観察装置と通信可能に構成された第3のコンピュータシステムと、を備えた電子ビーム観察システムであって、
第1の電子ビーム観察装置は、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成する第1のコンピュータシステムを備え、
第2の電子ビーム観察装置は、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成する第2のコンピュータシステムを備え、
前記第3のコンピュータシステムは、
前記第1および第2の画像データに基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出し、
前記第1または第2のコンピュータシステムは、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像データを前記補正係数で補正するように構成されたことを特徴とする電子ビーム観察システム。 - 電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置と、複数の前記電子ビーム観察装置と通信可能に構成されたコンピュータシステムと、を備えた電子ビーム観察システムにおいて、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正するための補正係数算出方法であって、
第1の電子ビーム観察装置が、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成するステップと、
前記第1の電子ビーム観察装置が、
前記第1の画像データに基づいて第1の周波数特性を算出するステップと、
第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成するステップと、
前記第2の電子ビーム観察装置が、
前記第2の画像データに基づいて第2の周波数特性を算出するステップと、
前記コンピュータシステムが、
前記第1および第2の周波数特性に基づいて基準周波数特性を特定するステップと、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、
前記基準周波数特性および前記第1または第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出するステップと、
を含むことを特徴とする電子ビーム観察システムにおける画像補正のための補正係数算出方法。 - 請求項13に記載の補正係数算出方法であって、
前記基準周波数特性は、前記第1の周波数特性または前記第2の周波数特性であることを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正のための補正係数算出方法。 - 請求項13に記載の補正係数算出方法であって、
前記基準周波数特性は複数の周波数特性の平均値であり、前記複数の周波数特性には前記第1および第2の周波数特性が含まれることを特徴とする電子ビーム観察システムにおける画像補正のための補正係数算出方法。 - 電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置と、複数の前記電子ビーム観察装置と通信可能に構成されたコンピュータシステムと、を備えた電子ビーム観察システムにおいて、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正する方法であって、
第1の電子ビーム観察装置が、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成するステップと、
前記第1の電子ビーム観察装置が、
前記第1の画像データに基づいて第1の周波数特性を算出するステップと、
第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成するステップと、
前記第2の電子ビーム観察装置が、
前記第2の画像データに基づいて第2の周波数特性を算出するステップと、
前記コンピュータシステムが、
前記第1および第2の周波数特性に基づいて基準周波数特性を特定するステップと、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、
前記基準周波数特性および前記第1または第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出するステップと、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置が、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像データを前記補正係数で補正するステップと、
を含むことを特徴とする電子ビーム観察システムにおける画像補正方法。 - 電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置と、複数の前記電子ビーム観察装置と通信可能に構成された第3のコンピュータシステムと、を備えた電子ビーム観察システムにおいて、複数の前記電子ビーム観察装置間での画像を補正する方法であって、
第1の電子ビーム観察装置は、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成し、前記第1の画像データに基づいて第1の周波数特性を算出する第1のコンピュータシステムを備え、
第2の電子ビーム観察装置は、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成し、前記第2の画像データに基づいて第2の周波数特性を算出する第2のコンピュータシステムを備え、
前記第3のコンピュータシステムは、
前記第1および第2の周波数特性に基づいて基準周波数特性を特定し、
前記第1または第2のコンピュータシステムは、
前記基準周波数特性および前記第1または第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出し、
前記第1または第2の電子ビーム観察装置で取得した第3の画像データを前記補正係数で補正するように構成されたことを特徴とする電子ビーム観察システム。 - 複数の電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置において、画像を補正するための補正係数算出方法であって、
前記電子ビーム観察装置が、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成するステップと、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成するステップと、
前記第1および第2の画像データに基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出するステップと、
を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正のための補正係数算出方法。 - 複数の電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置において、画像を補正する方法であって、
前記電子ビーム観察装置が、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成するステップと、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成するステップと、
前記第1および第2の画像データに基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出するステップと、
前記電子ビーム観察装置で取得した第3の画像データを前記補正係数で補正するステップと、
を含むことを特徴とする電子ビーム観察装置における画像補正方法。 - 複数の電子ビームを試料に照射することによって画像を生成する電子ビーム観察装置であって、
前記電子ビーム観察装置は、
第1のパターンおよび前記第1のパターンとは形状または大きさが異なる第2のパターンを有する試料、或いは前記第1のパターンを有する第1の試料および前記第2のパターンを有する第2の試料において、前記第1および第2のパターンに第1の電子ビームを照射して第1の画像データを生成し、
前記第1および第2のパターンに第2の電子ビームを照射して第2の画像データを生成し、
前記第1および第2の画像データに基づいて算出した第1および第2の周波数特性から選択的に抽出した周波数における補正係数を算出し、
前記電子ビーム観察装置で取得した第3の画像データを前記補正係数で補正するように構成されたことを特徴とする電子ビーム観察装置。 - 請求項1~4、7、10、13~15、18のいずれか1項に記載の補正係数算出方法であって、
前記第1の周波数特性を複数算出して平均化するステップ、
前記第2の周波数特性を複数算出して平均化するステップ、
を有することを特徴とする補正係数算出方法。 - 請求項5、8、11、16、19のいずれか1項に記載の画像補正方法であって、
前記第1の周波数特性を複数算出して平均化するステップ、
前記第2の周波数特性を複数算出して平均化するステップ、
を有することを特徴とする画像補正方法。 - 請求項6、9、12、17のいずれか1項に記載の電子ビーム観察システムであって、
前記第1の周波数特性は複数算出されて平均化され、
前記第2の周波数特性は複数算出されて平均化される
ことを特徴とする電子ビーム観察システム。 - 請求項20に記載の電子ビーム観察装置であって、
前記第1の周波数特性は複数算出されて平均化され、
前記第2の周波数特性は複数算出されて平均化される
ことを特徴とする電子ビーム観察装置。 - 請求項1~4、7、10、13~15、18のいずれか1項に記載の補正係数算出方法であって、
前記第1の画像データは、画像又は信号波形であり、
前記第2の画像データは、画像又は信号波形である
ことを特徴とする補正係数算出方法。 - 請求項5、8、11、16、19のいずれか1項に記載の画像補正方法であって、
前記第1の画像データは、画像又は信号波形であり、
前記第2の画像データは、画像又は信号波形である
ことを特徴とする画像補正方法。 - 請求項6、9、12、17のいずれか1項に記載の電子ビーム観察システムであって、
前記第1の画像データは、画像又は信号波形であり、
前記第2の画像データは、画像又は信号波形である
ことを特徴とする電子ビーム観察システム。 - 請求項20に記載の電子ビーム観察装置であって、
前記第1の画像データは、画像又は信号波形であり、
前記第2の画像データは、画像又は信号波形である
ことを特徴とする電子ビーム観察装置。
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