JP7045293B2 - 電子制御装置 - Google Patents
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Description
本発明の第2の態様による電子制御装置は、入力される信号を処理する複数の処理回路のそれぞれを診断するために用いられる、再構成可能な診断回路部と、前記入力される信号を一時的に格納する入力データ格納部と、前記複数の処理回路の出力信号を一時的に格納する出力データ格納部と、前記診断回路部に前記複数の処理回路と同一の回路情報を、前記診断回路部へ回路構成情報として順番に書き込む再構成制御部と、前記診断回路部に前記回路構成情報が書き込まれると、前記診断回路部に前記入力データ格納部に格納された前記入力される信号を用いて演算を行わせる診断制御部と、前記診断回路部の出力、および前記出力データ格納部に格納された前記出力信号を比較することで複数の処理回路のそれぞれを診断する比較器とを備え、前記診断回路部は、前記複数の処理回路に含まれる処理回路と同一の回路情報をそれぞれ書き込み可能な、第1領域と第2領域とを含み、前記診断制御部は、前記再構成制御部による前記第1領域への回路情報の書き込みと、前記第2領域に構成した処理回路による演算とを時系列的に重複して実行させる。
以下、図1~図4を参照して、本発明に係る電子制御装置の第1の実施の形態を説明する。本実施の形態では、電子制御装置は車両に搭載されるが、車両の外部、たとえば計算室で使用されてもよい。
(1)電子制御装置3は、入力されるセンサ情報を処理する複数の処理回路101のそれぞれを診断するために用いられる、再構成可能な診断回路部111と、入力されるセンサ情報を一時的に格納する入力データ格納部114と、複数の処理回路の出力信号を一時的に格納する出力データ格納部115と、診断回路部111に処理回路101と同一の回路情報を、回路構成情報として順番に書き込む再構成制御部118と、診断回路部111に回路構成情報が書き込まれると、診断回路部111に入力データ格納部114に格納されたセンサ情報を用いて演算を行わせる診断制御部117と、診断回路部111の出力、および出力データ格納部115に格納された出力信号を比較することで複数の処理回路のそれぞれを診断する比較器116とを備える。そのため入力データ格納部114および出力データ格納部115を利用して、実使用時と同じ動作条件における診断が可能となり、電子制御装置および車載システムの更なる信頼性向上を実現できる。
比較器116がエラー信号を出力した場合、すなわち診断回路部111が出力する演算結果と、出力データ格納部115が出力する出力データ115aとが一致しない場合に次のように異常個所を特定してもよい。たとえば、1度目の制御周期における診断でエラーが検出され、次の制御周期の診断でエラーが再発しない場合は、再構成によってリフレッシュされた診断回路側に異常があったと判断する。また2回連続でエラーが検出された場合は、常に再構成されない処理回路101に異常があると判断する。
上述した第1の実施の形態では、FPGA100には診断回路部111だけでなく、処理回路101、同期受信部112、入力データ格納部114など様々な構成要素が実装された。しかしFPGA100には診断回路部111のみが実装され、他の構成要素はFPGA100以外に実装されてもよい。たとえば処理回路101は、ハードウエア回路により実現されてもよいし、ソフトウエア処理により実現されてもよいし、FPGA100とは異なる論理回路上に構成されてもよい。入力データ格納部114および出力データ格納部115は、FPGA100の外部に設けられた半導体メモリにより実現されてもよいし、ラッチ回路により実現されてもよい。
再構成制御部118は、必要に応じて処理回路101を再構成してもよい。
図5を参照して、電子制御装置の第2の実施の形態を説明する。以下の説明では、第1の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付して相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第1の実施の形態と同じである。本実施の形態では、主に、一部の処理回路を使用しない場合がある点で、第1の実施の形態と異なる。
(5)電子制御装置3は、複数の処理回路101のうち演算が不要な処理回路101を決定する制御CPU1を備える。再構成制御部118は、不要回路を除く複数の処理回路と同一の回路情報を、診断回路部111へ回路構成情報として順番に書き込む。そのため、不要な再構成時間や診断時間を削減することで、制御周期内における異常検出時間を短縮できるため、電子制御装置3および車載システムの信頼性を向上できる。また使用していない処理回路を停止することで消費電力を削減する効果も有する。
再構成制御部118は、制御CPU1が使用しないと判断した処理回路101を消去、すなわちブランク回路に再構成してもよい。この場合に、ブランク回路を診断回路部111が使用してもよい。
図6~図7を参照して、電子制御装置の第3の実施の形態を説明する。以下の説明では、第1の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付して相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第1の実施の形態と同じである。本実施の形態では、主に、診断回路部に論理回路を構成する時間を隠蔽する点で、第1の実施の形態と異なる。
(6)診断回路部111は、複数の処理回路101に含まれる処理回路と同一の回路情報をそれぞれ書き込み可能な、第1診断回路部111Aと第2診断回路部111Bとを含む。診断制御部117は、再構成制御部118による第1診断回路部111Aへの回路情報の書き込みと、第2診断回路部111Bに構成した処理回路による演算とを時系列的に重複して実行させる。このように、2つの診断回路部、すなわち第1診断回路部111Aと第2診断回路部111Bを設け、それぞれにおいて再構成処理と診断処理を交互に実行している。そのため、診断回路部111が演算を行わず再構成のみを行う時間を第1の実施の形態に比べて短縮でき、電子制御装置3および車載システムの信頼性向上につながる。
図8を参照して、電子制御装置の第4の実施の形態を説明する。以下の説明では、第1の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付して相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第1の実施の形態と同じである。
3、3A、3B…電子制御装置
10…外部センサ群
11…再構成データメモリ
20…制御CPU
100、100A、100B、100C…FPGA
101…処理回路部
111…診断回路部
111A…第1診断回路部
111B…第2診断回路部
112…同期受信部
113…シーケンサ
114…入力データ格納部
115…出力データ格納部
116…比較器
117…診断制御部
118…再構成制御部
319…選択部
1011…第1処理回路
1012…第2処理回路
1013…第3処理回路
Claims (2)
- 入力される信号を処理する複数の処理回路のそれぞれを診断するために用いられる、再構成可能な診断回路部と、
前記入力される信号を一時的に格納する入力データ格納部と、
前記複数の処理回路の出力信号を一時的に格納する出力データ格納部と、
前記診断回路部に前記複数の処理回路と同一の回路情報を、前記診断回路部へ回路構成情報として順番に書き込む再構成制御部と、
前記診断回路部に前記回路構成情報が書き込まれると、前記診断回路部に前記入力データ格納部に格納された前記入力される信号を用いて演算を行わせる診断制御部と、
前記診断回路部の出力、および前記出力データ格納部に格納された前記出力信号を比較することで複数の処理回路のそれぞれを診断する比較器とを備え、
前記複数の処理回路は、あらかじめ定められた処理周期ごとに動作し、
前記診断回路部には一度には前記複数の処理回路のいずれか1つの回路情報が書き込まれ、
前記処理周期は、前記複数の処理回路のそれぞれの演算時間の和よりも長い電子制御装置。 - 入力される信号を処理する複数の処理回路のそれぞれを診断するために用いられる、再構成可能な診断回路部と、
前記入力される信号を一時的に格納する入力データ格納部と、
前記複数の処理回路の出力信号を一時的に格納する出力データ格納部と、
前記診断回路部に前記複数の処理回路と同一の回路情報を、前記診断回路部へ回路構成情報として順番に書き込む再構成制御部と、
前記診断回路部に前記回路構成情報が書き込まれると、前記診断回路部に前記入力データ格納部に格納された前記入力される信号を用いて演算を行わせる診断制御部と、
前記診断回路部の出力、および前記出力データ格納部に格納された前記出力信号を比較することで複数の処理回路のそれぞれを診断する比較器とを備え、
前記診断回路部は、前記複数の処理回路に含まれる処理回路と同一の回路情報をそれぞれ書き込み可能な、第1領域と第2領域とを含み、
前記診断制御部は、前記再構成制御部による前記第1領域への回路情報の書き込みと、前記第2領域に構成した処理回路による演算とを時系列的に重複して実行させる電子制御装置。
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