JP7045293B2 - 電子制御装置 - Google Patents

電子制御装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7045293B2
JP7045293B2 JP2018175217A JP2018175217A JP7045293B2 JP 7045293 B2 JP7045293 B2 JP 7045293B2 JP 2018175217 A JP2018175217 A JP 2018175217A JP 2018175217 A JP2018175217 A JP 2018175217A JP 7045293 B2 JP7045293 B2 JP 7045293B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit
circuit
diagnostic
processing
processing circuits
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018175217A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2020046974A (ja
Inventor
健一 新保
忠信 鳥羽
英之 坂本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Astemo Ltd
Original Assignee
Hitachi Astemo Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Astemo Ltd filed Critical Hitachi Astemo Ltd
Priority to JP2018175217A priority Critical patent/JP7045293B2/ja
Priority to US17/272,098 priority patent/US11327863B2/en
Priority to PCT/JP2019/031268 priority patent/WO2020059347A1/ja
Priority to CN201980051181.1A priority patent/CN112513819B/zh
Publication of JP2020046974A publication Critical patent/JP2020046974A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7045293B2 publication Critical patent/JP7045293B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/273Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/16Error detection or correction of the data by redundancy in hardware
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2236Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors
    • G06F11/2242Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors in multi-processor systems, e.g. one processor becoming the test master

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Hardware Redundancy (AREA)

Description

本発明は、電子制御装置に関する。
自動運転の実用化を目指した技術開発が進められている。自動運転は人間に代わり認知、判断、操作を行う必要があり、高度な情報処理や走行制御が求められる。また、自動運転に必要となる処理性能や機能はAIを含めて加速度的に増大しており、その要求に柔軟に対応するため、従来のCPUや、GPU、専用ハードウェアチップに加え、論理回路を自由にアップデート可能なFPGA(Field-Programmable Gate Array)などのプログラマブルデバイスの活用が注目されている。特許文献1には、プログラミングにより再構成が可能な素子と、前記素子にプログラミングにより構成された回路を検査するため、少なくとも前記回路の複製である複製回路と、前記回路および前記複製回路の両出力を比較する比較器とを含む検査回路を、前記素子の再構成が可能に用意された領域の部分構成により構成させる手段と、検査対象の前記回路を変更する手段とを含む、情報処理装置が開示されている。
特開2017-120966号公報
特許文献1に記載されている発明では、信頼性に改善の余地がある。
本発明の第1の態様による電子制御装置は、入力される信号を処理する複数の処理回路のそれぞれを診断するために用いられる、再構成可能な診断回路部と、前記入力される信号を一時的に格納する入力データ格納部と、前記複数の処理回路の出力信号を一時的に格納する出力データ格納部と、前記診断回路部に前記複数の処理回路と同一の回路情報を、前記診断回路部へ回路構成情報として順番に書き込む再構成制御部と、前記診断回路部に前記回路構成情報が書き込まれると、前記診断回路部に前記入力データ格納部に格納された前記入力される信号を用いて演算を行わせる診断制御部と、前記診断回路部の出力、および前記出力データ格納部に格納された前記出力信号を比較することで複数の処理回路のそれぞれを診断する比較器とを備え、前記複数の処理回路は、あらかじめ定められた処理周期ごとに動作し、前記診断回路部には一度には前記複数の処理回路のいずれか1つの回路情報が書き込まれ、前記処理周期は、前記複数の処理回路のそれぞれの演算時間の和よりも長い
本発明の第2の態様による電子制御装置は、入力される信号を処理する複数の処理回路のそれぞれを診断するために用いられる、再構成可能な診断回路部と、前記入力される信号を一時的に格納する入力データ格納部と、前記複数の処理回路の出力信号を一時的に格納する出力データ格納部と、前記診断回路部に前記複数の処理回路と同一の回路情報を、前記診断回路部へ回路構成情報として順番に書き込む再構成制御部と、前記診断回路部に前記回路構成情報が書き込まれると、前記診断回路部に前記入力データ格納部に格納された前記入力される信号を用いて演算を行わせる診断制御部と、前記診断回路部の出力、および前記出力データ格納部に格納された前記出力信号を比較することで複数の処理回路のそれぞれを診断する比較器とを備え、前記診断回路部は、前記複数の処理回路に含まれる処理回路と同一の回路情報をそれぞれ書き込み可能な、第1領域と第2領域とを含み、前記診断制御部は、前記再構成制御部による前記第1領域への回路情報の書き込みと、前記第2領域に構成した処理回路による演算とを時系列的に重複して実行させる。
本発明によれば、電子制御装置の更なる信頼性向上を実現できる。上記した以外の課題、構成および効果は、以下の発明を実施するための形態の説明により明らかにされる。
第1の実施の形態における電子制御装置3の構成図 シーケンサ113に含まれるシーケンステーブルの一例を示す図 第1の実施の形態における電子制御装置3の処理シーケンス図 第2処理回路1012の動作を表す模式図 第2の実施の形態における電子制御装置3Aの構成図 第3の実施の形態における電子制御装置3Bの構成図 第3の実施の形態における電子制御装置3のシーケンス図 第4の実施の形態におけるFPGA100Cの構成を示す概念図
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下の記載および図面は、本発明を説明するための例示であって、説明の明確化のため、適宜、省略および簡略化がなされている。本発明は、他の種々の形態でも実施する事が可能である。特に限定しない限り、各構成要素は単数でも複数でも構わない。
―第1の実施の形態―
以下、図1~図4を参照して、本発明に係る電子制御装置の第1の実施の形態を説明する。本実施の形態では、電子制御装置は車両に搭載されるが、車両の外部、たとえば計算室で使用されてもよい。
図1は、第1の実施の形態における電子制御装置3の構成図である。電子制御装置3は、再構成可能な論理回路であるFPGA100と、FPGA100に構成する回路の情報が格納される再構成データメモリ11と、中央演算装置である制御CPU1とを備える。電子制御装置3は、車両に搭載される外部センサ群10からセンサ情報が入力される。
外部センサ群10には2つ以上のセンサが含まれる。センサとはたとえば、カメラ、ミリ波レーダ、LIDAR(Laser Imaging Detection and Ranging)、超音波センサなどである。なお外部センサ群10には同種のセンサが複数含まれてもよい。
制御CPU1は、FPGA100の出力である後述するデータ1011a~1013aを用いて車両制御のための演算を行う。以下ではこの演算を「CPU演算」と呼び、CPU演算に要する時間を「CPU演算時間」と呼ぶ。CPU演算はたとえば、車両周辺に存在する物体の移動予測や、車両の軌道計画である。制御CPU1は、FPGA100から後述するエラー信号116aを受信すると、エラー時の処理を行う。エラー時の処理とは、演算を中断して直前の制御周期における出力を継続することや、縮退動作へと移行することである。
FPGA100は、第1処理回路1011と、第2処理回路1012と、第3処理回路1013と、診断回路部111と、同期受信部112と、シーケンサ113と、入力データ格納部114と、出力データ格納部115と、比較器116と、診断制御部117と、再構成制御部118とを備える。以下では、第1処理回路1011、第2処理回路1012、および第3処理回路1013をまとめて「処理回路」101と呼ぶ。FPGA100の構成のうち、電子制御装置3の中核機能を実行するのが同期受信部112および処理回路101である。詳しくは後述するが、他の構成は処理回路101の診断のために用いられる。
FPGA100に含まれる診断回路部111を除く構成は、FPGA100の起動時にPFGA100の論理回路上に再構成される。これらの回路情報は、再構成データメモリ11または不図示のROMに格納される。
第1処理回路1011、第2処理回路1012、および第3処理回路1013は並列に動作し、外部センサ群10が出力する複数のセンサ情報を組み合わせるフュージョン処理を行う。フュージョン処理はたとえば、カメラの画像データとレーダ情報を組み合わせて物体までの距離を算出する処理や、悪天候下でカメラ情報の精度が悪い場合は、LIDARの情報を補完し、物体認識を行う処理などである。ただし処理回路101は、外部センサ群10からセンサ情報を直接に受け取るのではなく、同期受信部112を介してセンサ情報を受信する。
第1処理回路1011、第2処理回路1012、および第3処理回路1013のそれぞれの演算結果を、データ1011a、データ1012b、およびデータ1013aと呼ぶ。また以下では、処理回路101の演算結果を「出力データ」とも呼ぶ。また処理回路101に入力されるセンサ情報を「入力データ」とも呼ぶ。
以下では、処理回路101が行う演算をまとめて「FPGA演算」と呼び、FPGA演算に要する時間を「FPGA演算時間」と呼ぶ。ただしそれぞれの処理回路101が演算に要する時間が異なる場合は、最も長い処理時間をFPGA演算時間と呼ぶ。
電子制御装置3は、センサ情報の収集から制御CPU1による車両制御までをあらかじめ定められた時間である制御周期Tの間に実行し、これを繰り返す。制御CPU1の演算はFPGA100が出力するデータ1011a~1013aを用いるので、FPGA100による演算が完了してから制御CPU1が演算を行う。すなわち、FPGA演算時間とCPU演算時間の和よりも制御周期Tのほうが長い。また制御周期Tは、FPGA演算時間の少なくとも3倍の長さがある。詳しくは後述する。
同期受信部112は、それぞれのセンサから送信されるセンサ情報をバッファし、センサとFPGA100間のレイテンシ、たとえばケーブル長の違いによる信号伝達タイミングのばらつきなどを吸収する。同期受信部112の動作はたとえば次のとおりである。すなわち、あらかじめ判明しているケーブル長が最も長いセンサと他のセンサを区別し、同期受信部112は他のセンサから受信したセンサ情報は一時保存する。同期受信部112はケーブル長が最も長いセンサからセンサ情報を受信すると、一時保存した信号とともに処理回路101、および入力データ格納部114に出力する。ただし同期受信部112が入力データ格納部114に書き込みを行うのは、後述する制御周期Tにおいて最初の1回だけである。
入力データ格納部114は、センサ情報が一時的に格納される記憶領域である。ただし入力データ格納部114はメモリ回路でもよいしフリップフロップでもよい。出力データ格納部115は、処理回路101の演算結果が一時的に格納される記憶領域である。
診断回路部111は、処理回路101に対する共通の診断回路領域であり、動的再構成によって、診断対象と同じ処理回路に書き替えて使用する。再構成後の診断回路部111には、入力データ格納部114から読み出されたセンサ情報が入力され、演算結果は比較器116に出力される。たとえば診断回路部111はまず第1処理回路1011と同じ処理回路に書き換えられ、第1処理回路1011に入力されたセンサ情報が入力される。その次に診断回路部111は第2処理回路1012と同じ処理回路に書き換えられ、第2処理回路1012に入力されたセンサ情報が入力される。
比較器116は、診断回路部111が出力する演算結果と、出力データ格納部115が出力する出力データ115aとを比較する。ただし出力データ115aは、診断制御部117の働きにより出力データ格納部115から比較器116に出力される。比較器116は、両者が一致しない場合は制御CPU1にエラー信号116aを出力する。比較器116は、両者が一致する場合は制御CPU1に正常である旨を知らせる信号を出力してもよいし、信号を出力しなくてもよい。比較器116は比較が終了するとシーケンサ113に比較が終了した旨の信号を出力する。
シーケンサ113は、後述するシーケンステーブルに従って、処理回路101を診断する順序および診断回路の再構成タイミングを管理する。具体的にはシーケンサ113は、再構成制御部118に再構成開始タイミング信号113aと診断対象の処理回路を示す識別情報113bを送信し、診断制御部117に診断対象の処理回路を示す識別情報113bを出力する。なお以下では処理回路101を診断する順序を「診断順序」とも呼ぶ。
再構成制御部118は、シーケンサ113からの再構成開始タイミング信号113aを受信すると、診断対象の処理回路を示す識別情報113bに従って、診断回路部111を指定された処理回路に再構成する。再構成制御部118は、FPGA100の外部に存在する再構成データメモリ11から、識別情報113bで指定された処理回路の再構成データを読み出して診断回路部111の再構成を実行する。再構成制御部118は、再構成が完了すると診断制御部117に再構成完了信号118aを通知する。
診断制御部117は、診断回路部111の入力データおよび診断用の出力データの読み出し制御を行う。診断制御部117では、再構成制御部118と同様にシーケンサ113から入力される識別情報113bによって、診断対象の処理回路の番号を認識する。診断制御部117は、再構成制御部118から再構成完了信号118aを受信すると、入力データ格納部114から、診断対象の処理回路に入力されたデータと同じデータを読み出し、診断回路部111に入力する。さらに診断制御部117は、出力データ格納部115から診断対象の処理回路の出力データを読み出し、比較器116に入力する。
図2は、シーケンサ113に含まれるシーケンステーブルの一例を示す図である。シーケンサ113は、シーケンステーブルに従い、再構成開始タイミング信号113aや、診断対象回路の識別情報113bなどを出力する。図2に示すテーブルの左から1列目は処理番号を示し、2列目は診断対象回路の識別情報、3列目は次に実行される処理番号、4列目は次の処理に移る際の待ち時間を示す。図2の例では、処理番号0では、処理回路101を示す識別情報113aと合わせて再構成開始タイミング信号113bを出力する。処理番号0での診断処理が終了し、シーケンサ113に比較器116から信号が入力されると、次の処理番号1の内容が出力される。処理番号3まで進むと、次の処理番号が0になっており、処理番号0に戻って動作する。これは処理番号0~3の処理が繰り返されることを示す。
なおここでは便宜的にシーケンステーブルと呼んでいるにすぎず、テーブル形式で情報が格納されていなくてもよい。すなわち図2に示す情報が格納されていればよく、情報の格納に用いる形式は任意である。
図3は、電子制御装置3の処理シーケンス図である。図3では左から右に時間が経過している。前述のとおり制御周期Tは、FPGA演算の時間とCPU演算の時間の和以上の時間である。図3に示す例では外部センサ群10は3つのセンサから構成されており、出力するセンサ情報はA、B、Xである。ただし以下では出力するセンサ情報に出力順に数字を付加し、たとえばA0、A1、A2、A3、・・とする。図3に示すように外部センサ群10がセンサ情報を出力する周期は一定ではなく、Xの周期が最も長い。
図3には不図示の同期受信部112は、AおよびBを受信するとバッファし、Xを受信すると受信した最新のAおよびBとともに処理回路101および入力データ格納部114に格納する。入力データ格納部114に格納された情報は、その制御周期Tの間は保持される。また、それぞれの処理回路101の出力データは、出力データ格納部115に一括して格納され、本データも制御周期Tの終了間際まで保持される。
時刻t0では診断回路部111は、すでに第1処理回路1011と同じ回路が再構成によって書き込まれている。診断回路部111は、診断制御部117によって読み出された入力データ114aを用いて第1処理回路1011と同じ演算処理を行う。そして診断回路部111は比較器116を用いて、この演算結果と出力データ格納部115に格納されていた第1処理回路1011の演算結果、すなわち出力データ115aと比較することで診断を行う。診断結果116aは制御CPU1に通知される。
次に診断回路部111は、再構成制御部118によって、第2処理回路1012と同じ回路に再構成される。再構成が完了すると再構成完了信号118aをトリガとして、入力データ格納部114から入力データA0とX0を読み出して、診断回路部111の入力データとして使用する。この入力データA0とX0は、第2処理回路1012が演算に使用したデータと同一である。診断回路部111では、第2処理回路1012と同様の演算処理が行われる。この演算結果は、出力データ格納部115に一時格納されていた実際の処理回路1012の出力データと比較されることで診断が行われる。
最後に診断回路部111は、再構成制御部118によって、第3処理回路1013と同じ回路に再構成され、以下同様に演算と比較が行われる。そして診断回路部111は次の制御周期での演算に備えて、第1処理回路1011と同じ回路が再構成によって書き込まれる。このように診断回路部111は、再構成制御部118によって様々な処理回路101に再構成され、診断処理が繰り返される。
図3に示すように、診断回路部111による第1処理回路1011と同一の処理はFPGA処理とほぼ同時に行われるが、診断回路部111による第2処理回路1012と同一の処理はその後に行われる。そして診断回路部111による第3処理回路1013と同一の処理はさらにその後に行われ、その処理の終了は同一の制御周期Tが終わる前である。そのため制御周期TはFPGA処理時間の少なくとも3倍の長さがある。ただしこれは、FPGA処理が3つの回路による並列処理を含むからであり、仮にFPGA処理が5つの回路による並列処理を含む場合は、制御周期TはFPGA処理時間の少なくとも5倍の長さとなる。
図4は第2処理回路1012の動作を表す模式図である。図4に示す例では、第2処理回路1012には撮影画像と車速が入力される。第2処理回路1012は、入力された撮影画像が真っ白か否かを判断する。第2処理回路1012は、撮影画像が真っ白であると判断する場合は処理R1を実行し、撮影画像が真っ白ではないと判断する場合は処理R2を実行する。なお処理R1では撮影画像だけでなく車速も使用され、処理R2では撮影画像のみが用いられる。そして処理R1または処理R2の結果を出力して第1処理回路の処理を終了する。
第2処理回路1012の動作が図4に示すものの場合は、センサの出力、すなわち撮影画像によって実行する処理が大きく異なる。そのため、処理回路101に入力されるセンサデータと、診断回路部111に入力されるセンサデータが少しでも異なる場合は、両者の演算が乖離することになる。そのため電子制御装置3に入力データ格納部114を設けて、処理回路101に入力したセンサデータを格納することが必要となる。
なお処理の二重化に類似した演算(以下、「疑似二重化」と呼ぶ)として以下のような構成も考えられる。すなわち疑似二重化では入力データ格納部114を使用せず、診断回路部111が演算を行うタイミングで外部センサ群10の出力を読み込み、診断回路部111と処理回路101が同時に演算を行う。これにより両者が同一のセンサデータを用いて演算を行い、演算結果を比較することで疑似的に二重化が行われる。しかしこの疑似二重化では、制御CPU20が演算に用いているセンサデータとは異なるセンサデータを用いることになるので、制御CPU1が演算に用いているデータについては二重化が担保されていない。したがってこの疑似二重化では不十分であり、本実施の形態のように入力データ格納部114が必要である。
上述した第1の実施の形態によれば、次の作用効果が得られる。
(1)電子制御装置3は、入力されるセンサ情報を処理する複数の処理回路101のそれぞれを診断するために用いられる、再構成可能な診断回路部111と、入力されるセンサ情報を一時的に格納する入力データ格納部114と、複数の処理回路の出力信号を一時的に格納する出力データ格納部115と、診断回路部111に処理回路101と同一の回路情報を、回路構成情報として順番に書き込む再構成制御部118と、診断回路部111に回路構成情報が書き込まれると、診断回路部111に入力データ格納部114に格納されたセンサ情報を用いて演算を行わせる診断制御部117と、診断回路部111の出力、および出力データ格納部115に格納された出力信号を比較することで複数の処理回路のそれぞれを診断する比較器116とを備える。そのため入力データ格納部114および出力データ格納部115を利用して、実使用時と同じ動作条件における診断が可能となり、電子制御装置および車載システムの更なる信頼性向上を実現できる。
(2)電子制御装置3は、複数の処理回路における診断の順序である診断順序を管理し、再構成制御部118への再構成指示を行うシーケンサ113を備える。比較器116が比較に用いる出力データ格納部115に格納された出力信号は、シーケンサ113が管理する診断順序に基づき決定される。そのため、処理回路101を診断する順番を管理できる。
(3)処理回路101は、あらかじめ定められた処理周期ごとに動作する。診断回路部111には一度には複数の処理回路のいずれか1つの回路情報が書き込まれる。処理周期Tは、処理回路101のそれぞれの演算時間の和よりも長い。そのため制御周期Tの中で全ての処理回路101の二重化が可能である。すなわち、仮にエラーが検出された場合には、電子制御装置3は制御周期Tが完了する前にエラー発生を認識できるので、適切な対処が可能となる。
(4)処理回路101は、再構成可能なFPGA100に構成される。そのため電子制御装置3は状況に応じた様々な演算が可能であり、いずれの演算についても診断回路部111により二重化が可能である。
(変形例1)
比較器116がエラー信号を出力した場合、すなわち診断回路部111が出力する演算結果と、出力データ格納部115が出力する出力データ115aとが一致しない場合に次のように異常個所を特定してもよい。たとえば、1度目の制御周期における診断でエラーが検出され、次の制御周期の診断でエラーが再発しない場合は、再構成によってリフレッシュされた診断回路側に異常があったと判断する。また2回連続でエラーが検出された場合は、常に再構成されない処理回路101に異常があると判断する。
(変形例2)
上述した第1の実施の形態では、FPGA100には診断回路部111だけでなく、処理回路101、同期受信部112、入力データ格納部114など様々な構成要素が実装された。しかしFPGA100には診断回路部111のみが実装され、他の構成要素はFPGA100以外に実装されてもよい。たとえば処理回路101は、ハードウエア回路により実現されてもよいし、ソフトウエア処理により実現されてもよいし、FPGA100とは異なる論理回路上に構成されてもよい。入力データ格納部114および出力データ格納部115は、FPGA100の外部に設けられた半導体メモリにより実現されてもよいし、ラッチ回路により実現されてもよい。
(変形例3)
再構成制御部118は、必要に応じて処理回路101を再構成してもよい。
―第2の実施の形態―
図5を参照して、電子制御装置の第2の実施の形態を説明する。以下の説明では、第1の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付して相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第1の実施の形態と同じである。本実施の形態では、主に、一部の処理回路を使用しない場合がある点で、第1の実施の形態と異なる。
図5は、第2の実施の形態における電子制御装置3Aの構成図である。図1と同じ部分には同じ符号を付してあり、構成、動作が同じであるので、説明を省略する。FPGA100Aは、処理回路101を使用するか否かを制御CPU20からの制御信号20a~20cで制御可能な点が第1の実施の形態と異なる。制御信号20a~20cはシーケンサ213にも入力され、どの処理回路を使用しているのかをシーケンサ213が認識することができる。
制御CPU1は、あらかじめ定められたルール、または所定の演算に基づき演算が不要な処理回路101を決定し、演算が不要な処理回路101に対応する信号20a~20cをFPGA100Aに出力する。本実施の形態における制御CPU1は、演算が不要な処理回路101を決定するので、「不要回路決定部」と呼ぶこともできる。
シーケンサ113はこの情報を利用し、診断回路の再構成および診断制御に関して、使用していない処理回路については診断をスキップするように制御する。具体的には、シーケンサ213の内部に備えられるシーケンステーブルの情報を制御信号20a~20cを用いてマスクする。すなわち図2の左から2列目における診断対象回路の識別情報を、制御信号20a~20cを用いてマスクする。たとえば、第1処理回路1011を不使用に設定する場合の制御信号20aが”High”の場合は、識別情報の「1」の欄をマスクする。これにより「0」が記載されている場合と同様に扱い、第1処理回路1011の診断をスキップする。
上述した第2の実施の形態によれば、次の作用効果が得られる。
(5)電子制御装置3は、複数の処理回路101のうち演算が不要な処理回路101を決定する制御CPU1を備える。再構成制御部118は、不要回路を除く複数の処理回路と同一の回路情報を、診断回路部111へ回路構成情報として順番に書き込む。そのため、不要な再構成時間や診断時間を削減することで、制御周期内における異常検出時間を短縮できるため、電子制御装置3および車載システムの信頼性を向上できる。また使用していない処理回路を停止することで消費電力を削減する効果も有する。
(第2の実施の形態における変形例)
再構成制御部118は、制御CPU1が使用しないと判断した処理回路101を消去、すなわちブランク回路に再構成してもよい。この場合に、ブランク回路を診断回路部111が使用してもよい。
―第3の実施の形態―
図6~図7を参照して、電子制御装置の第3の実施の形態を説明する。以下の説明では、第1の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付して相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第1の実施の形態と同じである。本実施の形態では、主に、診断回路部に論理回路を構成する時間を隠蔽する点で、第1の実施の形態と異なる。
図6は、第3の実施の形態における電子制御装置3Bの構成図である。図1と同じ部分には同じ符号を付してあり、構成、動作が同じであるので、説明を省略する。第3の実施の形態では、診断回路部111は、第1診断回路部111Aと、第2診断回路部111Bと、どちらの診断回路を診断に使用するかを選択するための選択部319とから構成される。第1診断回路部111Aおよび第2診断回路部111Bのいずれも、第1処理回路1011、第2処理回路1012、および第3処理回路1013のうち任意の1つを構成可能な領域を有する。
本実施の形態におけるシーケンサ113は、診断制御部117および再構成制御部118に、診断制御用の回路識別情報113bだけでなく、再構成用の回路識別情報313cを出力する。本実施の形態においてシーケンサ313に備えられるシーケンステーブルには、第1診断回路部111Aと、第2診断回路部111Bのどちらの領域に対して再構成を行うかの情報も含まれる。
図7は、第3の実施の形態における電子制御装置3のシーケンス図である。図7では図2と同じ処理には同一の符号を付して説明を省略する。本シーケンス図では、まず第1診断回路部311Aに、第1処理回路1011と同等の回路が構成されている。また選択部319は、第1の診断回路部側を選択していることで、第1処理回路1011の診断が行われている。
ここで、第1診断回路部111Aの処理と平行して、再構成制御部118は、シーケンサ113からの再構成用の回路識別情報313cをもとに、第2診断回路部111Bの再構成処理を実施する。これにより第2診断回路部111Bには次の診断対象である第2処理回路1012と同等の回路が書き込まれる。再構成が完了し、さらに第1診断回路部111Aの診断が終了すると、選択部319は第2診断回路部111Bを選択することによって、再構成による待ち時間が無く、次の第2処理回路1012の診断を開始することができる。
上述した第3の実施の形態によれば、次の作用効果が得られる。
(6)診断回路部111は、複数の処理回路101に含まれる処理回路と同一の回路情報をそれぞれ書き込み可能な、第1診断回路部111Aと第2診断回路部111Bとを含む。診断制御部117は、再構成制御部118による第1診断回路部111Aへの回路情報の書き込みと、第2診断回路部111Bに構成した処理回路による演算とを時系列的に重複して実行させる。このように、2つの診断回路部、すなわち第1診断回路部111Aと第2診断回路部111Bを設け、それぞれにおいて再構成処理と診断処理を交互に実行している。そのため、診断回路部111が演算を行わず再構成のみを行う時間を第1の実施の形態に比べて短縮でき、電子制御装置3および車載システムの信頼性向上につながる。
―第4の実施の形態―
図8を参照して、電子制御装置の第4の実施の形態を説明する。以下の説明では、第1の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付して相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第1の実施の形態と同じである。
図8は、第4の実施の形態におけるFPGA100Cの構成を示す概念図である。FPGA100Cは、第1の実施の形態におけるFPGA100の構成を1つの機能ブロックとし、この機能ブロックを複数、たとえば3つ備える。また、センサデータの同期受信部は各機能ブロック間でさらに同期しており、全体のセンサデータの同期受信を実現する。たとえば外部センサ群10に数十個のセンサが含まれる場合に、外部センサ群10を前方、後方、左右などのクラスタに分けて処理し、その出力データを対象としてフュージョン処理を行う。
このように、もともと並列で動作する複数の処理回路で構成される機能ブロックが、さらに複数内蔵された場合も、それぞれの機能ブロックの中で、第1の実施の形態において示した時分割診断処理を並行して実行できる。
なお、本発明は前述した実施の形態および変形例に限定されるものではなく、添付した特許請求の範囲の趣旨内における様々な変形例及び同等の構成が含まれる。たとえば、前述した実施の形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに本発明は限定されるものではない。また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、実装上必要な全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には、ほとんど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
上述した各実施の形態および変形例は、それぞれ組み合わせてもよい。上記では、種々の実施の形態および変形例を説明したが、本発明はこれらの内容に限定されるものではない。本発明の技術的思想の範囲内で考えられるその他の態様も本発明の範囲内に含まれる。
1…制御CPU
3、3A、3B…電子制御装置
10…外部センサ群
11…再構成データメモリ
20…制御CPU
100、100A、100B、100C…FPGA
101…処理回路部
111…診断回路部
111A…第1診断回路部
111B…第2診断回路部
112…同期受信部
113…シーケンサ
114…入力データ格納部
115…出力データ格納部
116…比較器
117…診断制御部
118…再構成制御部
319…選択部
1011…第1処理回路
1012…第2処理回路
1013…第3処理回路

Claims (2)

  1. 入力される信号を処理する複数の処理回路のそれぞれを診断するために用いられる、再構成可能な診断回路部と、
    前記入力される信号を一時的に格納する入力データ格納部と、
    前記複数の処理回路の出力信号を一時的に格納する出力データ格納部と、
    前記診断回路部に前記複数の処理回路と同一の回路情報を、前記診断回路部へ回路構成情報として順番に書き込む再構成制御部と、
    前記診断回路部に前記回路構成情報が書き込まれると、前記診断回路部に前記入力データ格納部に格納された前記入力される信号を用いて演算を行わせる診断制御部と、
    前記診断回路部の出力、および前記出力データ格納部に格納された前記出力信号を比較することで複数の処理回路のそれぞれを診断する比較器とを備え
    前記複数の処理回路は、あらかじめ定められた処理周期ごとに動作し、
    前記診断回路部には一度には前記複数の処理回路のいずれか1つの回路情報が書き込まれ、
    前記処理周期は、前記複数の処理回路のそれぞれの演算時間の和よりも長い電子制御装置。
  2. 入力される信号を処理する複数の処理回路のそれぞれを診断するために用いられる、再構成可能な診断回路部と、
    前記入力される信号を一時的に格納する入力データ格納部と、
    前記複数の処理回路の出力信号を一時的に格納する出力データ格納部と、
    前記診断回路部に前記複数の処理回路と同一の回路情報を、前記診断回路部へ回路構成情報として順番に書き込む再構成制御部と、
    前記診断回路部に前記回路構成情報が書き込まれると、前記診断回路部に前記入力データ格納部に格納された前記入力される信号を用いて演算を行わせる診断制御部と、
    前記診断回路部の出力、および前記出力データ格納部に格納された前記出力信号を比較することで複数の処理回路のそれぞれを診断する比較器とを備え
    前記診断回路部は、前記複数の処理回路に含まれる処理回路と同一の回路情報をそれぞれ書き込み可能な、第1領域と第2領域とを含み、
    前記診断制御部は、前記再構成制御部による前記第1領域への回路情報の書き込みと、前記第2領域に構成した処理回路による演算とを時系列的に重複して実行させる電子制御装置。
JP2018175217A 2018-09-19 2018-09-19 電子制御装置 Active JP7045293B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018175217A JP7045293B2 (ja) 2018-09-19 2018-09-19 電子制御装置
US17/272,098 US11327863B2 (en) 2018-09-19 2019-08-07 Electronic control device for processing circuit diagnostics
PCT/JP2019/031268 WO2020059347A1 (ja) 2018-09-19 2019-08-07 電子制御装置
CN201980051181.1A CN112513819B (zh) 2018-09-19 2019-08-07 电子控制装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018175217A JP7045293B2 (ja) 2018-09-19 2018-09-19 電子制御装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020046974A JP2020046974A (ja) 2020-03-26
JP7045293B2 true JP7045293B2 (ja) 2022-03-31

Family

ID=69887212

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018175217A Active JP7045293B2 (ja) 2018-09-19 2018-09-19 電子制御装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US11327863B2 (ja)
JP (1) JP7045293B2 (ja)
CN (1) CN112513819B (ja)
WO (1) WO2020059347A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7065409B2 (ja) * 2018-09-25 2022-05-12 パナソニックIpマネジメント株式会社 処理システム、センサシステム、移動体、異常判定方法、及びプログラム

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017120966A (ja) 2015-12-28 2017-07-06 株式会社リコー 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6526559B2 (en) * 2001-04-13 2003-02-25 Interface & Control Systems, Inc. Method for creating circuit redundancy in programmable logic devices
US8161362B2 (en) * 2005-06-10 2012-04-17 Hitachi, Ltd. Task management control apparatus and method, having redundant processing comparison
JP2008009795A (ja) * 2006-06-30 2008-01-17 Hitachi Ltd 診断装置,回線診断方法及び回線診断プログラム
JP2009003557A (ja) * 2007-06-19 2009-01-08 Hitachi Computer Peripherals Co Ltd 装置起動時診断方法、診断プログラム及び起動時診断装置
CN101276298B (zh) * 2008-04-01 2010-06-02 中国科学院计算技术研究所 一种fpga电路故障检测装置
US9104403B2 (en) * 2010-08-18 2015-08-11 Freescale Semiconductor, Inc. Data processing system having selective redundancy and method therefor
US20120066551A1 (en) * 2010-09-15 2012-03-15 Alexandre Palus Run-time Verification of CPU Operation
JP2012150661A (ja) * 2011-01-19 2012-08-09 Toshiba Corp プロセッサ動作検査システム、及びその検査方法
WO2014041596A1 (ja) * 2012-09-11 2014-03-20 三菱電機株式会社 安全コントローラ
JP6111605B2 (ja) * 2012-11-08 2017-04-12 日本電気株式会社 コンピュータシステム、コンピュータシステムの診断方法及び診断プログラム
JP2014178793A (ja) * 2013-03-14 2014-09-25 Hitachi Ltd 情報処理システム
JP2015106594A (ja) * 2013-11-28 2015-06-08 富士通株式会社 診断装置、診断装置の制御方法、および診断装置の制御プログラム
JP2015115727A (ja) * 2013-12-11 2015-06-22 三菱電機株式会社 プログラマブルロジックデバイス
JP6280359B2 (ja) * 2013-12-17 2018-02-14 株式会社東芝 プログラマブルコントローラ
JP6464263B2 (ja) * 2015-06-22 2019-02-06 株式会社日立製作所 フィールドプログラマブルゲートアレイ
CN105843120B (zh) * 2016-04-06 2018-10-02 清华大学 一种可动态编程的信号检测电路及方法
US10628277B2 (en) * 2018-03-29 2020-04-21 Arm Ltd. Device, system and process for redundant processor error detection

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017120966A (ja) 2015-12-28 2017-07-06 株式会社リコー 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
CN112513819B (zh) 2024-08-13
WO2020059347A1 (ja) 2020-03-26
CN112513819A (zh) 2021-03-16
US11327863B2 (en) 2022-05-10
US20210318940A1 (en) 2021-10-14
JP2020046974A (ja) 2020-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3264117B1 (en) Semiconductor device, diagnostic test, and diagnostic test circuit
EP1232399B1 (en) High-speed failure capture apparatus and method for automatic test equipment
US7231562B2 (en) Memory module, test system and method for testing one or a plurality of memory modules
KR100328357B1 (ko) 개선된자동메모리테스터용용장성분석기
EP0095928B1 (en) Pipeline processing apparatus having a test function
US7788551B2 (en) System and method for repairing a memory
US20150130500A1 (en) Configurable Vertical Integration
JPS63141139A (ja) 構成の変更が可能なコンピュータ
US20170371560A1 (en) An apparatus for controlling access to a memory device, and a method of performing a maintenance operation within such an apparatus
US7308623B2 (en) Integrated circuit and method for testing memory on the integrated circuit
JP7045293B2 (ja) 電子制御装置
CN103729282B (zh) 一种用于从多个并联cpu追踪数据写入信号的方法和系统
US20240321384A1 (en) Npu with capability of built-in self-test
US7096396B2 (en) Test system for circuits
KR940002904B1 (ko) 데이타 처리 시스템 및 이 시스템에 있어서의 다수 메모리 어레이 테스팅 방법
JP2000148533A (ja) マルチプロセッサシステムで用いられるトレース方法及びトレース装置
CN110915138B (zh) 电子控制装置和电路的重构方法
JP6909128B2 (ja) 電子制御装置
US11506710B1 (en) Method for testing a circuit system and a circuit system thereof
KR100538286B1 (ko) 사용자 정의 메모리 내장형 자체 시험 회로의 자동 생성방법
CN116820868A (zh) 一种基于lbist的内核自测控制器电路及其自检方法
CN118366520A (zh) 一种fpga加速编程方法及装置
JP2023136763A (ja) 情報処理システム、情報処理システムが実行する処理方法、およびプログラム
JPS6292042A (ja) 記憶装置
US20080270860A1 (en) Integrated Circuit for Writing and Reading Registers Distributed Across a Semiconductor Chip

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20201015

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211109

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220106

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220315

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220318

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7045293

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150