JP7028335B2 - 顕微分光装置、及び顕微分光方法 - Google Patents
顕微分光装置、及び顕微分光方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7028335B2 JP7028335B2 JP2020550410A JP2020550410A JP7028335B2 JP 7028335 B2 JP7028335 B2 JP 7028335B2 JP 2020550410 A JP2020550410 A JP 2020550410A JP 2020550410 A JP2020550410 A JP 2020550410A JP 7028335 B2 JP7028335 B2 JP 7028335B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sample
- spectrum
- infrared
- wavelength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001634 microspectroscopy Methods 0.000 title claims description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 132
- 238000001237 Raman spectrum Methods 0.000 claims description 34
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 claims description 30
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 30
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 29
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 12
- 238000002189 fluorescence spectrum Methods 0.000 claims description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 description 24
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 5
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 description 2
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
- G01J3/4406—Fluorescence spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/171—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with calorimetric detection, e.g. with thermal lens detection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/1717—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with a modulation of one or more physical properties of the sample during the optical investigation, e.g. electro-reflectance
- G01N2021/1725—Modulation of properties by light, e.g. photoreflectance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N2021/6417—Spectrofluorimetric devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N2021/6463—Optics
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/65—Raman scattering
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
本発明は、試料のラマンスペクトル又は蛍光スペクトルと、赤外吸収スペクトルとを取得可能な顕微分光装置及び顕微分光法に関し、特に、これらを空間的、時間的に同時取得可能な一体型の顕微分光装置及び顕微分光法に関する。
従来、有機物サンプル(例えば、食品包装、塗料等)の同定のために赤外分光顕微鏡が用いられ、無機物サンプル(例えば、鉄やチタン等の金属酸化物)の同定のために、ラマン分光分顕微鏡が用いられている。
赤外分光顕微鏡は、フーリエ変換赤外分光計と顕微鏡とを組み合わせて、赤外線波長域で顕微分光を行う装置である。赤外分光顕微鏡は、赤外光束をごく小さな面積に集光させるように設計されており、近年、光源に中赤外レーザを用いて、5~10μm帯の赤外スペクトルが取得可能なシステムも実用に供されている。なお、このようなシステムの空間分解能は、赤外光束のスポットサイズに依存し、一般に、約10μmである。
また、ラマン分光顕微鏡は可視~近赤外光波長域で顕微分光を行う装置であり、励起光を試料に照射し、試料から発生するラマン散乱光をノッチフィルタ(ロングパスフィルタ)、レンズ、アパーチャーを介して分光器(CCD)に導入することでラマンスペクトルを得る(例えば、特許文献1)。このようなシステムにおいては、回折限界まで光束を集光させることで空間分解能を1μm以下に設定することが可能となる。
また、上記赤外分光顕微鏡とラマン分光顕微鏡の測定原理である赤外分光法とラマン分光法は、いずれも振動分光法であるが、上述のように、測定対象によって活性が異なるため、同一微小領域のラマンと赤外の両方のスペクトルを同時に測定可能な、ラマン赤外一体型顕微分光装置も提案されている(例えば、特許文献1)。
特許文献1のような構成によれば、1台の顕微分光装置でラマンと赤外の両方のスペクトルを測定できるため、設置スペース、測定時間、及び経費が節約できる。しかしながら、特許文献1の構成は、試料に対して赤外光と可視光を同時に入射させ、試料を透過した赤外光を赤外検出器で検出して赤外分光スペクトルを取得し、試料を透過した可視光を可視検出器で検出してラマンスペクトルを取得する構成であり、ラマンスペクトルの空間分解能(約1μm)に比較して、赤外分光スペクトルの空間分解能(約10μm)が低下してしまうといった問題がある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、高い空間分解能(約1μm)のラマンスペクトルと赤外スペクトルを空間的、時間的に同時に取得可能な顕微分光装置及び顕微分光方法を提供することである。
上記目的を達成するため、本発明の顕微分光装置は、中赤外波長域のポンプ光を出射する波長可変の第1の光源と、可視域のプローブ光を出射する第2の光源と、赤外光源の波長を変化させる光源制御部と、ポンプ光とプローブ光を合成し、試料の微小部位に集光する第1光学系と、試料の透過光又は反射光からプローブ光を少なくとも遮断する第2光学系と、第2光学系からの光が入射し、該入射光を検出する検出器と、プローブ光が試料に照射されているときの、入射光のスペクトルを、試料のラマンスペクトル又は蛍光スペクトルとして取得する第1スペクトル取得手段と、プローブ光及びポンプ光が試料に照射されているときの、光源制御部による波長の変化に対する入射光のスペクトルの変化に基づいて、試料の赤外吸収スペクトルを取得する第2スペクトル取得手段と、を備えることを特徴とする。
なお、ここで言う「波長」は「波数」と一義的に対応するものであり、「波数」を用いて同様の構成を組み立てることも可能である。
また、第2スペクトル取得手段は、ポンプ光の波長をνとし、プローブ光のみが試料に照射されているときの、入射光のスペクトルをI1(ν)とし、プローブ光及びポンプ光が試料に照射されているときの、入射光のスペクトルをI2(ν)としたとき、以下の式(1)に基づいて試料の赤外透過率又は反射率IRR(ν)を求め、該赤外透過率又は反射率IRR(ν)に基づいて、試料の赤外吸収スペクトルを作成することができる。
IRR(ν)= k × I1(ν)/I2(ν) ・・・(1)
ただし、式(1)において、kは、所定の係数である。
IRR(ν)= k × I1(ν)/I2(ν) ・・・(1)
ただし、式(1)において、kは、所定の係数である。
また、赤外光源が、外部共振器型半導体レーザであってもよい。
また、第1光学系は、ポンプ光とプローブ光が同軸上の光となるように合成することができる。
また、赤外光源の波長を測定する波長計をさらに備え、光源制御部は、波長計で測定される波長に基づいて、赤外光源の波長を変化させるように構成することができる。
また、ポンプ光が試料に照射されているときに、微小部位周辺に熱レンズ効果Eによる屈折率分布が生じるように構成することができる。
また、別の観点からは、本発明の顕微分光方法は、波長可変の第1の光源から出射される中赤外波長域のポンプ光と、第2の光源から出射される可視域のプローブ光とを合成し、試料の微小部位に集光する工程と、試料の透過光又は反射光からプローブ光を少なくとも遮断して測定光を得る工程と、プローブ光を試料に照射して、測定光のスペクトルを、試料のラマンスペクトル又は蛍光スペクトルとして取得する工程と、プローブ光及びポンプ光を試料に照射して、ポンプ光の波長の変化に対する測定光のスペクトルの変化に基づいて、試料の赤外吸収スペクトルを取得する工程と、を含むことを特徴とする。
以上のように、本発明の顕微分光装置及び顕微分光方法によれば、可視域の入射光(又は測定光)のみを検出して、該入射光(又は測定光)からラマンスペクトル又は蛍光スペクトルと、赤外吸収スペクトルとを取得するため、高い空間分解能(約1μm)のラマンスペクトル又は蛍光スペクトルと、赤外スペクトルとを空間的、時間的に同時に取得することが可能となる。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。なお、図中同一又は相当部分には同一の符号を付してその説明は繰り返さない。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係る顕微分光装置の概略構成を示す図である。図1に示すように、本実施形態の顕微分光装置100は、試料Sの透過光Tからラマンスペクトル及び赤外吸収スペクトルを取得する装置である。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る顕微分光装置の概略構成を示す図である。図1に示すように、本実施形態の顕微分光装置100は、試料Sの透過光Tからラマンスペクトル及び赤外吸収スペクトルを取得する装置である。
顕微分光装置100は、中赤外波長域のポンプ光IRを出射する波長可変の赤外光源(第1の光源)111と、赤外光源111の波長を変化させる光源制御部112と、可視域のプローブ光Vを出射する可視光源(第2の光源)113と、試料Sが載置されるステージ150と、赤外光源111及び可視光源113からのポンプ光IR及びプローブ光Vをステージ150上に導光する第1光学系120と、試料Sの透過光Tを検出する検出器140と、試料Sの透過光Tを試料Sから検出器140に導光する第2光学系130と、光源制御部112、可視光源113及び検出器140を制御すると共に、ラマンスペクトル及び赤外吸収スペクトルを算出するコンピュータ160と、を備えている。
赤外光源111は、試料Sの赤外吸収スペクトルの波長範囲(例えば、3~10μm)で波長可変のものであり、例えば、量子カスケードレーザ(QCL)、注入電流制御型波長可変ダイオードレーザによって構成される。なお、赤外光源111からは、ポンプ光IRが略平行光として出射されるように構成されている。
光源制御部112は、赤外光源111とコンピュータ160に接続され、コンピュータ160の指示によって赤外光源111を制御する電子回路である。光源制御部112は、コンピュータ160からの指示に従って、赤外光源111をオン/オフすると共に、所定の波長及び光量で赤外光源111を発光させる。
可視光源113は、試料Sのラマンスペクトルを測定可能な波長(例えば、500~900nm)のものであり、例えば、半導体レーザによって構成される。可視光源113は、コンピュータ160に接続され、コンピュータ160からの指示に従って、オン/オフされる。なお、可視光源113からは、プローブ光Vが略平行光として出射されるように構成されている。
第1光学系120は、フィルタ121と、ミラー123と、ミラー125と、ミラー127と、対物レンズ129とから構成されている。フィルタ121は、赤外光源111からのポンプ光IRを透過させると共に、可視光源113からのプローブ光Vをミラー123に向けて反射させる、いわゆるロングパスフィルタである。なお、本実施形態においては、フィルタ121によって、ポンプ光IRとプローブ光Vが重なり、同軸上の光となるように合成される。ミラー123、125、127は、フィルタ121からのポンプ光IR及びプローブ光Vを対物レンズ129に導くための反射部材である。対物レンズ129は、ミラー127からのポンプ光IR及びプローブ光Vをステージ150上の試料Sの微小部位に集光させる光学部材である。
ステージ150は、試料Sが載置される、ガラス等の透明の板状部材である。対物レンズ129からのポンプ光IR及びプローブ光Vは、集光しながらステージ150を透過し、ステージ150上の試料Sに入射する。そして、試料Sを透過した透過光Tが第2光学系130の対物レンズ131に向けて出射されるようになっている。なお、本実施形態の透過光Tには、プローブ光Vと試料Sで発生するストークス・ラマン散乱光(以下、「ラマン散乱光SL」という。)が含まれている(詳細は後述)。
第2光学系130は、対物レンズ131と、ミラー133と、フィルタ135と、レンズ137と、アパーチャー139と、から構成されている。対物レンズ131は、試料Sを透過した透過光Tを略平行光となるように整形する光学部材であり、整形後の透過光Tをミラー133に出射する。ミラー133は、対物レンズ131からの透過光Tをフィルタ135に導くための反射部材である。フィルタ135は、透過光Tに含まれるプローブ光Vを透過させると共に、透過光Tに含まれる、プローブ光Vよりも長い波長のラマン散乱光SLをレンズ137に向けて反射させる、いわゆるショートパスフィルタ又はノッチフィルタである。レンズ137は、フィルタ135からのラマン散乱光SLを検出器140の入射口(不図示)に集光させる光学部材である。また、アパーチャー139は、レンズ137と検出器140の入射口との間に配置された、円形の開口絞りを有する部材であり、レンズ137からのラマン散乱光SLを所定のビーム径に整形すると共に、不要光をカットする。
検出器140は、アパーチャー139を介して入射するラマン散乱光SLを検出する装置であり、例えば、ラマン散乱光SLのスペクトル及び光量を測定可能な分光器である。検出器140は、コンピュータ160に接続され、コンピュータ160からの指示に従って、ラマン散乱光SLのスペクトルを測定する。
コンピュータ160は、ユーザからの指示に従い、光源制御部112、可視光源113及び検出器140を制御し、ラマンスペクトル及び赤外吸収スペクトルを算出する装置であり、例えば、汎用のPC(Personal computer)によって構成される。
(ラマンスペクトル及び赤外吸収スペクトルの測定手順)
図2は、本実施形態に係る顕微分光装置100を用いて、ラマンスペクトル及び赤外吸収スペクトルを測定する場合の手順を示すフローチャートである。図2に示すように、本実施形態の測定手順では、先ず、ユーザからの指示を受けて、コンピュータ160が、可視光源113を制御し、所定の光量のプローブ光Vを照射させる(ステップS1)。可視光源113からのプローブ光Vは、フィルタ121、ミラー123、ミラー125、ミラー127、対物レンズ129を介して、ステージ150上の試料Sに照射される。そして、試料Sの透過光Tが、対物レンズ131、ミラー133を介してフィルタ135に照射され、フィルタ135によってラマン散乱光SLのみが抽出される。そして、ラマン散乱光SLは、レンズ137、アパーチャー139を介して検出器140に入射する。次いで、コンピュータ160が、検出器140を制御し、検出器140で検出された全光量(スペクトル)I1(ν1)を得る(ステップS2)。
図2は、本実施形態に係る顕微分光装置100を用いて、ラマンスペクトル及び赤外吸収スペクトルを測定する場合の手順を示すフローチャートである。図2に示すように、本実施形態の測定手順では、先ず、ユーザからの指示を受けて、コンピュータ160が、可視光源113を制御し、所定の光量のプローブ光Vを照射させる(ステップS1)。可視光源113からのプローブ光Vは、フィルタ121、ミラー123、ミラー125、ミラー127、対物レンズ129を介して、ステージ150上の試料Sに照射される。そして、試料Sの透過光Tが、対物レンズ131、ミラー133を介してフィルタ135に照射され、フィルタ135によってラマン散乱光SLのみが抽出される。そして、ラマン散乱光SLは、レンズ137、アパーチャー139を介して検出器140に入射する。次いで、コンピュータ160が、検出器140を制御し、検出器140で検出された全光量(スペクトル)I1(ν1)を得る(ステップS2)。
図3は、ステップS2のときの状態を説明する図であり、図3(a)は、プローブ光Vとラマン散乱光SLとの関係を説明する模式図であり、図3(b)は、ステップS2で得られる全光量I1(ν1)の一例を示すグラフである。なお、図3(a)においては、説明の便宜のため、対物レンズ129から検出器140までの光線を示し、対物レンズ131、ミラー133、フィルタ135、レンズ137は省略している。
図3(a)に示すように、ステップS2のとき、プローブ光Vがステージ150上の試料Sに照射され、試料Sのラマン散乱光SLがアパーチャー139によって整形されて検出器140に入射する。そして、検出器140によって全光量I1(ν1)が検出される(図3(b))。
図2に戻り、ステップS2が終了すると、コンピュータ160は、光源制御部112を介して赤外光源111を制御し、所定の最低波長(ν1)のポンプ光IRを照射させる(ステップS3)。赤外光源111からのポンプ光IRは、フィルタ121、ミラー123、ミラー125、ミラー127、対物レンズ129を介して、ステージ150上の試料Sに照射される。そして、コンピュータ160が、検出器140を制御し、検出器140で検出された全光量I2(ν1)を得る(ステップS4)。
図4は、ステップS4のときの状態を説明する図であり、図4(a)は、プローブ光V及びポンプ光IRとラマン散乱光SLとの関係を説明する模式図であり、図4(b)は、ステップS4で得られる全光量I2(ν1)の一例を示すグラフである。なお、図4(a)においては、説明の便宜のため、図3(a)と同様、対物レンズ129から検出器140までの光線を示し、対物レンズ131、ミラー133、フィルタ135、レンズ137は省略している。
図4(a)に示すように、ステップS4のとき、ポンプ光IRとプローブ光Vがステージ150上の試料Sに照射されるため、試料Sの周辺にはポンプ光IRによる熱レンズ効果Eが発生し(つまり、屈折率が変化し)、ステップS2のとき(図3(a))と比較して、ラマン散乱光SLの拡がり角が小さくなる。従って、アパーチャー139によるケラレが減少し(つまり、アパーチャー139の開口を通る光量が増加し)、検出器140によって検出される全光量I2(ν1)は、ポンプ光IRのないときの全光量I1(ν1)と比較して増加することとなる(図4(b))。なお、熱レンズ効果Eによる赤外透過率IRRは、一般に、以下の式(1)で表すことができ、ポンプ光IRの波長によって変化する(つまり、赤外透過率IRRに波長依存性がある)ことが知られている。
IRR(ν1)=k×I1(ν1)/I2(ν1)・・・(1)
なお、式(1)において、kは、所定の係数である。
IRR(ν1)=k×I1(ν1)/I2(ν1)・・・(1)
なお、式(1)において、kは、所定の係数である。
そこで、本実施形態においては、ステップS4のときの全光量I2(ν1)と赤外透過率IRRからラマンスペクトルR(λ)を算出し、さらに、赤外透過率IRRの波長依存性を利用して、赤外吸収スペクトルIR(ν)を算出している。
具体的には、ステップS5において、コンピュータ160が、ステップS4で得られた全光量I2(ν1)と式(1)に基づいて、ラマンスペクトルR(λ)を算出する(図2)。
また、ステップS6、S7、S8において、コンピュータ160は、光源制御部112を介して赤外光源111を制御すると共に、検出器140を制御し、ポンプ光IRの波長をν2、ν3、ν4・・・と掃引させながら(ステップS6)、各波長(ν2、ν3、ν4・・・)において、プローブ光Vのみ照射して全光量I1(ν2、ν3、ν4・・・)を取得し(ステップS7)、プローブ光V及びポンプ光IRを照射して全光量I2(ν2、ν3、ν4・・・)を取得する(ステップS8)。そして、ステップS5で得られた全光量I2(ν1)及びステップS8で得られた全光量I2(ν2、ν3、ν4・・・)と、式(1)で求まる各波長での赤外透過率IRR(ν1、ν2、ν3、ν4・・・)から、赤外吸収スペクトルIR(ν)を算出する(ステップS9)。
つまり、本実施形態の赤外吸収スペクトルIR(ν)について、一般化すると、ポンプ光IRの波長をνとし、プローブ光Vのみが試料Sに照射されているときの、入射光の光量をI1(ν)とし、プローブ光V及びポンプ光IRが試料Sに照射されているときの、入射光の光量をI2(ν)としたとき、以下の式(2)に基づいて試料Sの赤外透過率IRR(ν)を求め、赤外透過率IRR(ν)に基づいて、試料Sの赤外吸収スペクトルを作成している。
IRR(ν)= k × I1(ν)/I2(ν) ・・・(2)
ただし、式(2)において、kは、所定の係数である。
IRR(ν)= k × I1(ν)/I2(ν) ・・・(2)
ただし、式(2)において、kは、所定の係数である。
そして、コンピュータ160は、不図示のモニタに、ステップS5で求めたラマンスペクトルR(λ)とステップS9で求めた赤外吸収スペクトルIR(ν)を表示する。
このように、本実施形態においては、ポンプ光IRによる熱レンズ効果Eによって、赤外透過率IRRが変化することを利用して、赤外吸収スペクトルIR(ν)を算出している。つまり、本実施形態においては、従来のような赤外の吸収を直接測定する代わりに、ポンプ光IRの波長の変化に伴う可視光(つまり、ラマン散乱光SL)のスペクトルの変化を測定して、赤外吸収スペクトルIR(ν)を得ている。従って、本実施形態の構成によれば、ラマンスペクトルR(λ)と同様、高い空間分解能(約1μm)の赤外吸収スペクトルIR(ν)が得られる。また、本実施形態の構成によれば、可視光(つまり、ラマン散乱光SL)のスペクトルのみが得られる検出器140を1台使用すればよいため、従来のような赤外域のスペクトルを得るための分光器が不要となる。
以上が本発明の実施形態の説明であるが、本発明は、本実施形態の構成および具体的数値構成等に限定されるものではなく、本発明の技術的思想の範囲において様々な変形が可能である。
例えば、本実施形態の顕微分光装置100は、試料Sの透過光Tからラマンスペクトル及び赤外吸収スペクトルを取得する装置であるとしたが、試料Sが蛍光を発する物質を含む場合、ラマンスペクトルに代えて、蛍光スペクトルが測定される。
また、本実施形態においては、最低波長(ν1)のポンプ光IRとプローブ光Vを照射したときの全光量I2(ν1)と、ポンプ光IRのないときの全光量I1(ν1)からラマンスペクトルR(λ)を算出しているが(図2:ステップS5)、必ずしもこのような構成に限定されるものではない。ラマンスペクトルR(λ)は、ポンプ光IRの波長に依存しないため、プローブ光Vのみを照射させたときの全光量I1(ν1、ν2、ν3、ν4・・・)のいずれかをラマンスペクトルR(λ)とすることができる。
(第2の実施形態)
図5は、本発明の第2の実施形態に係る顕微分光装置の概略構成を示す図である。図5に示すように、本実施形態の顕微分光装置200は、試料Sの反射光RLからラマンスペクトル及び赤外吸収スペクトルを取得する装置であり、第1光学系220と、第2光学系230の構成が異なる点で、第1の実施形態の顕微分光装置100と異なっている。
図5は、本発明の第2の実施形態に係る顕微分光装置の概略構成を示す図である。図5に示すように、本実施形態の顕微分光装置200は、試料Sの反射光RLからラマンスペクトル及び赤外吸収スペクトルを取得する装置であり、第1光学系220と、第2光学系230の構成が異なる点で、第1の実施形態の顕微分光装置100と異なっている。
本実施形態の第1光学系220は、フィルタ221と、フィルタ224と、ミラー227と、対物レンズ229とから構成されており、第2光学系230は、対物レンズ229と、ミラー227と、フィルタ224と、レンズ237と、アパーチャー239と、から構成されている。つまり、フィルタ224、ミラー227、及び対物レンズ229が第1光学系220及び第2光学系230として共用されている。
フィルタ221は、赤外光源111からのポンプ光IRを透過させると共に、可視光源113からのプローブ光Vをフィルタ224に向けて反射させる、いわゆるロングパスフィルタである。なお、本実施形態においても、フィルタ221によって、ポンプ光IRとプローブ光Vが重なり、同軸上の光となるように合成される。フィルタ224は、ポンプ光IR及びプローブ光Vをミラー227に向けて透過させると共に、ミラー227からフィルタ224に向けて出射される反射光RLに含まれるポンプ光IR及びプローブ光Vを透過させ、さらに反射光RLに含まれる、プローブ光Vよりも長い波長のラマン散乱光SLをレンズ237に向けて反射させる、いわゆるショートパスフィルタ又はノッチフィルタである。ミラー227は、フィルタ224からのポンプ光IR及びプローブ光Vを対物レンズ229に導くと共に、対物レンズ229からの反射光RLをフィルタ224に導くための反射部材である。対物レンズ229は、ミラー227からのポンプ光IR及びプローブ光Vをステージ150上の試料Sの微小部位に集光させると共に、試料Sで反射した反射光RLを略平行光となるように整形する光学部材である。このように、本実施形態においては、試料Sで反射した反射光RLは、対物レンズ229、ミラー227、フィルタ224を逆に(つまり、ポンプ光IR及びプローブ光Vとは逆方向に)進む。そして、フィルタ224によって反射されたラマン散乱光SLは、レンズ237によって集光され、アパーチャー239を通って、検出器140の入射口(不図示)に集光される。
なお、検出器140に入射したラマン散乱光SLは、上述のラマンスペクトル及び赤外吸収スペクトルの測定手順(図2~図4参照)に従って処理され、第1の実施形態と同様、赤外吸収スペクトルIR(ν)及びラマンスペクトルR(λ)が得られる。なお、この場合、第1の実施形態の「赤外透過率IRR」は、「赤外反射率IRR」として読み替えて適用すればよい。
(第3の実施形態)
図6は、本発明の第3の実施形態に係る顕微分光装置の概略構成を示す図である。図6に示すように、本実施形態の顕微分光装置300は、赤外光源111から出射されるポンプ光IRの波長を測定する波長計313を備える点で、第1の実施形態の顕微分光装置100と異なっている。
図6は、本発明の第3の実施形態に係る顕微分光装置の概略構成を示す図である。図6に示すように、本実施形態の顕微分光装置300は、赤外光源111から出射されるポンプ光IRの波長を測定する波長計313を備える点で、第1の実施形態の顕微分光装置100と異なっている。
本実施形態の波長計313は、2枚のエタロンを平行に置いたファブリ・ペロー干渉計やフィゾー干渉計からなる装置であり、赤外光源111から出射されるポンプ光IRの波長を測定し、その結果を光源制御部112に出力する。従って、光源制御部112が波長計313からの出力を赤外光源111にフィードバックする(つまり、赤外光源111の波長を補正する)ことにより、赤外光源111からは所望する正確な波長のポンプ光IRが出力される。
従って、本実施形態の構成によれば、より正確な赤外吸収スペクトルIR(ν)及びラマンスペクトルR(λ)が得られる。
なお、本実施形態においては、波長計313は、赤外光源111から出射されるポンプ光IRの波長を測定するものとしたが、第1光学系120内のポンプ光IRの波長を測定すればよく、例えば、ミラー127に近接して配置してもよい。この場合、第1光学系120中に存在する水の吸収や各光学部品による光吸収の影響なども含めて波長補正や強度補正が可能となる。
100、200、300 :顕微分光装置
111 :赤外光源
112 :光源制御部
113 :可視光源
120、220 :第1光学系
121、135、221、224 :フィルタ
123、125、127、133、227 :ミラー
129、131、229 :対物レンズ
130、230 :第2光学系
137、237 :レンズ
139、239 :アパーチャー
140 :検出器
150 :ステージ
160 :コンピュータ
313 :波長計
111 :赤外光源
112 :光源制御部
113 :可視光源
120、220 :第1光学系
121、135、221、224 :フィルタ
123、125、127、133、227 :ミラー
129、131、229 :対物レンズ
130、230 :第2光学系
137、237 :レンズ
139、239 :アパーチャー
140 :検出器
150 :ステージ
160 :コンピュータ
313 :波長計
Claims (8)
- 中赤外波長域のポンプ光を出射する波長可変の第1の光源と、
可視域のプローブ光を出射する第2の光源と、
前記赤外光源の波長を変化させる光源制御部と、
前記ポンプ光と前記プローブ光を合成し、試料の微小部位に集光する第1光学系と、
前記試料の透過光又は反射光から前記プローブ光を少なくとも遮断する第2光学系と、
前記第2光学系からの光が入射し、該入射光を検出する検出器と、
前記プローブ光前記試料に照射されているときの、前記入射光のスペクトルを、前記試料のラマンスペクトル又は蛍光スペクトルとして取得する第1スペクトル取得手段と、
前記プローブ光及び前記ポンプ光が前記試料に照射されているときの、前記光源制御部による波長の変化に対する前記入射光のスペクトルの変化に基づいて、前記試料の赤外吸収スペクトルを取得する第2スペクトル取得手段と、
を備えることを特徴とする顕微分光装置。 - 前記第2スペクトル取得手段は、前記ポンプ光の波長をνとし、前記プローブ光のみが前記試料に照射されているときの、前記入射光のスペクトルをI1(ν)とし、前記プローブ光及び前記ポンプ光が前記試料に照射されているときの、前記入射光のスペクトルをI2(ν)としたとき、以下の式(1)に基づいて前記試料の赤外透過率又は反射率IRR(ν)を求め、該赤外透過率又は反射率IRR(ν)に基づいて、前記試料の赤外吸収スペクトルを作成することを特徴とする請求項1に記載の顕微分光装置。
IRR(ν)= k × I1(ν)/I2(ν) ・・・(1)
ただし、式(1)において、kは、所定の係数である。 - 前記赤外光源が、外部共振器型半導体レーザであることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の顕微分光装置。
- 前記第1光学系は、前記ポンプ光と前記プローブ光が同軸上の光となるように合成することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の顕微分光装置。
- 前記赤外光源の波長を測定する波長計をさらに備え、
前記光源制御部は、前記波長計で測定される波長に基づいて、前記赤外光源の波長を変化させる
ことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の顕微分光装置。 - 前記ポンプ光が前記試料に照射されているときに、前記微小部位周辺に熱レンズ効果による屈折率分布が生じることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の顕微分光装置。
- 波長可変の第1の光源から出射される中赤外波長域のポンプ光と、第2の光源から出射される可視域のプローブ光とを合成し、試料の微小部位に集光する工程と、
前記試料の透過光又は反射光から前記プローブ光を少なくとも遮断して測定光を得る工程と、
前記プローブ光を前記試料に照射して、前記測定光のスペクトルを、前記試料のラマンスペクトル又は蛍光スペクトルとして取得する工程と、
前記プローブ光及び前記ポンプ光を前記試料に照射して、前記ポンプ光の波長の変化に対する前記測定光のスペクトルの変化に基づいて、前記試料の赤外吸収スペクトルを取得する工程と、
を含むことを特徴とする顕微分光方法。 - 前記試料の赤外吸収スペクトルを取得する工程は、前記ポンプ光の波長をνとし、前記プローブ光のみが前記試料に照射されているときの、前記測定光のスペクトルをI1(ν)とし、前記プローブ光及び前記ポンプ光が前記試料に照射されているときの、前記抽出された光のスペクトルをI2(ν)としたとき、以下の式(1)に基づいて前記試料の赤外透過率又は反射率IRR(ν)を求め、該赤外透過率又は反射率IRR(ν)に基づいて、前記試料の赤外吸収スペクトルを作成することを特徴とする請求項7に記載の顕微分光方法。
IRR(ν)= k × I1(ν)/I2(ν) ・・・(1)
ただし、式(1)において、kは、所定の係数である。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018192292 | 2018-10-11 | ||
JP2018192292 | 2018-10-11 | ||
PCT/JP2019/038436 WO2020075548A1 (ja) | 2018-10-11 | 2019-09-27 | 顕微分光装置、及び顕微分光方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2020075548A1 JPWO2020075548A1 (ja) | 2021-09-02 |
JP7028335B2 true JP7028335B2 (ja) | 2022-03-02 |
Family
ID=70164511
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020550410A Active JP7028335B2 (ja) | 2018-10-11 | 2019-09-27 | 顕微分光装置、及び顕微分光方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11585758B2 (ja) |
JP (1) | JP7028335B2 (ja) |
CN (1) | CN112823279A (ja) |
WO (1) | WO2020075548A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7392856B2 (ja) * | 2020-06-24 | 2023-12-06 | 株式会社島津製作所 | 顕微ラマン分光測定装置、及び顕微ラマン分光測定装置の調整方法 |
US11519861B2 (en) * | 2020-07-20 | 2022-12-06 | Photothermal Spectroscopy Corp | Fluorescence enhanced photothermal infrared spectroscopy and confocal fluorescence imaging |
FR3122735B1 (fr) * | 2021-05-04 | 2024-02-23 | Centralesupelec | Installation de détection d’au moins un paramètre caractéristique d’un milieu et procédé de détection d’au moins un tel paramètre caractéristique. |
JPWO2023032352A1 (ja) * | 2021-08-31 | 2023-03-09 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003294618A (ja) | 2002-04-03 | 2003-10-15 | Jasco Corp | 赤外顕微分光装置及び近接場赤外顕微分光装置 |
US20080304047A1 (en) | 2007-06-08 | 2008-12-11 | Korea Research Institute Of Standards And Science | Imaging Apparatus for IR Four-Wave Mixing Polarization Microscopy |
US20170102532A1 (en) | 2015-10-13 | 2017-04-13 | Robert David Frankel | Depth enhanced and fluorescence lifetime stimulated fluorescent emission for in-vivo imaging |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1267713C (zh) * | 2001-12-05 | 2006-08-02 | 财团法人工业技术研究院 | 红外光谱、拉曼光谱及荧光光谱的量测光谱装置 |
WO2013007726A1 (en) * | 2011-07-11 | 2013-01-17 | Facultes Universitaires Notre-Dame De La Paix | Method for high resolution sum-frequency generation and infrared microscopy |
US10433731B2 (en) * | 2015-08-20 | 2019-10-08 | Alfano Robert R | Continuous diode laser stimulated Raman gain/loss vibrational microscope |
US10228284B2 (en) * | 2015-08-20 | 2019-03-12 | Massachusetts Institute Of Technology | Devices and methods for sensing targets using photothermal speckle detection |
US10677722B2 (en) * | 2016-04-05 | 2020-06-09 | University Of Notre Dame Du Lac | Photothermal imaging device and system |
CN110300883B (zh) * | 2016-11-29 | 2022-05-10 | 光热光谱股份有限公司 | 用于增强光热成像和光谱的方法和设备 |
US10969405B2 (en) * | 2016-11-29 | 2021-04-06 | Photothermal Spectroscopy Corp. | Method and apparatus for sub-diffraction infrared imaging and spectroscopy and complementary techniques |
US10942116B2 (en) * | 2017-10-09 | 2021-03-09 | Photothermal Spectroscopy Corp. | Method and apparatus for enhanced photo-thermal imaging and spectroscopy |
US11519861B2 (en) * | 2020-07-20 | 2022-12-06 | Photothermal Spectroscopy Corp | Fluorescence enhanced photothermal infrared spectroscopy and confocal fluorescence imaging |
-
2019
- 2019-09-27 US US17/284,115 patent/US11585758B2/en active Active
- 2019-09-27 WO PCT/JP2019/038436 patent/WO2020075548A1/ja active Application Filing
- 2019-09-27 JP JP2020550410A patent/JP7028335B2/ja active Active
- 2019-09-27 CN CN201980066802.3A patent/CN112823279A/zh active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003294618A (ja) | 2002-04-03 | 2003-10-15 | Jasco Corp | 赤外顕微分光装置及び近接場赤外顕微分光装置 |
US20080304047A1 (en) | 2007-06-08 | 2008-12-11 | Korea Research Institute Of Standards And Science | Imaging Apparatus for IR Four-Wave Mixing Polarization Microscopy |
US20170102532A1 (en) | 2015-10-13 | 2017-04-13 | Robert David Frankel | Depth enhanced and fluorescence lifetime stimulated fluorescent emission for in-vivo imaging |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2020075548A1 (ja) | 2020-04-16 |
US20210381976A1 (en) | 2021-12-09 |
CN112823279A (zh) | 2021-05-18 |
US11585758B2 (en) | 2023-02-21 |
JPWO2020075548A1 (ja) | 2021-09-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7028335B2 (ja) | 顕微分光装置、及び顕微分光方法 | |
JP5092104B2 (ja) | 分光測定装置、及び分光測定方法 | |
US9869585B2 (en) | Dual spectrometer | |
JP2019500612A (ja) | コンパクトスペクトロメータ | |
JP6113730B2 (ja) | 放出及び透過光学分光計 | |
JP2021001915A (ja) | 共焦点変位計 | |
EP1784680B1 (en) | Alignment system for spectroscopic analysis | |
CN111694141B (zh) | 红外显微镜 | |
KR101990288B1 (ko) | 분광기 | |
Parfenov et al. | Calibration of the spectral sensitivity of instruments for the near infrared region | |
JP6941107B2 (ja) | 分光法を実施するためのシステム | |
JP2001141563A (ja) | 分光測定方法と装置および温度測定装置と膜圧測定装置 | |
CN116209884A (zh) | 用于光纤光热成像和光谱学的方法和设备 | |
US10458917B2 (en) | Method of measuring Raman scattering and related spectrometers and laser sources | |
TWI603067B (zh) | 光學檢測裝置及方法 | |
KR20150116999A (ko) | 다채널 여기 광원 스위칭용 마이크로 라만 및 형광 분광분석장치 | |
JP7012098B2 (ja) | 遠赤外光源、遠赤外分光装置 | |
JP2020159972A (ja) | 広帯域パルス光源装置、分光測定装置及び分光測定方法 | |
JP2006300808A (ja) | ラマン分光測定装置 | |
JP7486178B2 (ja) | 分光分析装置 | |
US20210131957A1 (en) | Far-Infrared Spectroscopic Device and Far-Infrared Spectroscopic Method | |
TWI377337B (en) | Spectrometer | |
Ren et al. | Optical design and investigation of a dual-interference channels and bispectrum static fourier-transform imaging spectrometer based on stepped micro-mirror | |
Elahi et al. | A grating-optic-less visible spectrometer using Fresnel zone plate patterns on a digital light processor | |
JP7407179B2 (ja) | 減衰全反射分光測定のための較正システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210126 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220118 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220131 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 7028335 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |