JP7016840B2 - 極紫外光源 - Google Patents
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Description
本願は2014年1月22日に出願された米国仮出願第61/930,392号及び2014年9月17日に出願された米国仮出願第14/489,411号の利益を主張し、これらは参照によりその全体が本明細書に組み込まれる。
Claims (14)
- 真空チャンバ内のターゲット位置に向けてターゲット経路に沿ってターゲットを導くことであって、前記ターゲットは、第1の方向に沿った第1の次元における第1の伸長と、前記第1の方向に直交する第2の方向に沿った第2の次元における第2の伸長とを含む幾何分布でターゲット材料を含み、前記第2の伸長は前記第1の伸長より大きい、ターゲットを導くことと、
前記ターゲット位置に向けて増幅光ビームを導くことであって、前記増幅光ビームは、伝搬経路に沿って進み、かつ、前記ターゲット内の前記ターゲット材料の少なくとも一部をEUV光を放出するプラズマに変換するのに十分なエネルギを有する、増幅光ビームを導くことと、を含み、
前記伝搬経路と前記ターゲット経路とは、前記ターゲット位置において非直交であり、
前記増幅光ビームは、前記第2の方向に延伸する前記ターゲットの一部分によって受け取られ、
前記増幅光ビームと前記ターゲットの前記一部分との間の相互作用によって生成される反射が前記伝搬経路及び前記ターゲットから離れて伝搬するように、前記伝搬経路と前記第2の方向とは、前記ターゲット位置において非直交であり、
前記ターゲットが焦点面にあるときと比べて前記ターゲットのより多くが前記増幅光ビームに曝されるように、前記ターゲット位置は、前記増幅光ビームの焦点面の外部にある、
方法。 - 前記ターゲット材料の前記幾何分布は、略楕円形状である、請求項1に記載の方法。
- ターゲット経路に沿ってターゲットを導くことは、前記ターゲット経路に沿って複数のターゲットを導くことを含み、前記複数のターゲットの前記幾何分布は、略楕円形状である、請求項1に記載の方法。
- 前記略楕円形状の幾何分布を形成することをさらに含む、請求項3に記載の方法。
- 前記ターゲット材料は、スズを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記増幅光ビームは、10.6ミクロン(μm)の波長を有する、請求項1に記載の方法。
- 増幅光ビームを受け取るように構成された真空チャンバと、
ある幾何分布で配置されたターゲット材料を含むターゲットを提供するように構成されたターゲット材料供給システムであって、前記ターゲットは、前記真空チャンバ内のターゲット位置へとターゲット経路に沿って進み、前記ターゲット材料は、プラズマ状態になるとEUV光を放出する、ターゲット材料供給システムと、を含み、
前記増幅光ビームは、前記ターゲット内の前記ターゲット材料の少なくとも一部をEUV光を放出するプラズマに変換するのに十分なエネルギを有し、
前記増幅光ビームは、伝搬経路に沿って伝搬し、
前記増幅光ビームは、第2の方向に沿って延伸する前記ターゲットの一部分によって受け取られ、前記ターゲットの前記第2の方向に沿った伸長は、直交する第1の方向に沿った伸長より大きく、
前記ターゲット経路と前記伝搬経路とは、前記ターゲット位置において非直交であり、
前記増幅光ビームと前記ターゲットの前記一部分との間の相互作用によって生成される反射が前記伝搬経路及び前記ターゲットから離れて伝搬するように、前記伝搬経路と前記第2の方向とは、前記ターゲット位置において非直交であり、
前記ターゲットが焦点面にあるときと比べて前記ターゲットのより多くが前記増幅光ビームに曝されるように、前記ターゲット位置は、前記増幅光ビームの焦点面の外部にある、
システム。 - 前記真空チャンバ内の光学素子をさらに含み、前記光学素子は、前記ターゲット位置から放出されるEUV光を受け取るように位置決めされる、請求項7に記載のシステム。
- 前記光学素子は、EUV光を反射する表面を含む集光器ミラーを含み、前記集光器ミラーは、孔を画定し、前記増幅光ビームの前記伝搬経路は、前記孔を通過する、請求項8に記載のシステム。
- 前記集光器ミラーは、第1の焦点及び中間焦点を画定し、前記ターゲット位置は、前記第1の焦点と少なくとも部分的に一致し、前記ターゲット位置から放出された前記EUV光の少なくとも一部が前記集光器ミラーの前記反射表面で反射され、前記第2の焦点に集束される、請求項9に記載のシステム。
- 前記ターゲット材料供給システムは、略楕円形状のターゲットを提供するように構成される、請求項7に記載のシステム。
- 前記増幅光ビームを放出するように構成された光源をさらに含み、前記光源は、炭酸ガス(CO2)レーザを含む、請求項7に記載のシステム。
- ウェーハを処理するように構成されたリソグラフィツールと、
極紫外光源と、を含むフォトリソグラフィシステムであって、
前記極紫外光源は、
内部のターゲット位置においてターゲットを受け取るように構成された真空チャンバであって、前記ターゲットは、プラズマに変換されたときに極紫外(EUV)光を放出するターゲット材料を含む、真空チャンバと、
少なくとも放射の第1のパルスと放射の第2のパルスとを含む放射パルスを生成するように構成された光源であって、前記放射の第1のパルスと前記放射の第2のパルスの少なくとも一方が、前記ターゲット内の前記ターゲット材料の少なくとも一部をEUV光を放出するプラズマに変換するのに十分なエネルギを有する増幅光ビームである、光源と、
前記真空チャンバ内のEUV集光光学素子であって、前記プラズマによって放出されたEUV光を前記リソグラフィツールに導くように構成されたEUV集光光学素子と、を含み、
前記放射の第1のパルス及び前記放射の第2のパルスは、伝搬経路に沿って伝搬し、
前記ターゲットは、ターゲット経路に沿って進み、
前記ターゲットは、第1の方向に沿った第1の次元における第1の伸長と、第2の方向に沿った第2の次元における第2の伸長とを有し、前記第2の伸長は前記第1の伸長より大きく、前記第1の方向は前記第2の方向に対して直交し、
前記ターゲットは、前記第2の方向に延伸する一部分で前記第1のパルス及び前記第2のパルスの一方を受け取るように位置決めされ、
前記伝搬経路と前記第2の方向とは、前記ターゲット位置において非直交であり、
前記増幅光ビームと前記ターゲットの前記一部分との間の相互作用によって生成される反射が前記伝搬経路及び前記ターゲットから離れて伝搬するように、前記ターゲット経路と前記伝搬経路とは、前記ターゲット位置において非直交である、
前記ターゲットが焦点面にあるときと比べて前記ターゲットのより多くが前記増幅光ビームに曝されるように、前記ターゲット位置は、前記増幅光ビームの焦点面の外部にある、
フォトリソグラフィシステム。 - 前記反射は、前記ターゲットからの前記増幅光ビームの反射、及び前記プラズマからの前記増幅光ビームの反射のうちの1つ以上である、請求項1に記載の方法。
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