JP6949509B2 - 基板処理装置および基板処理方法 - Google Patents
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Description
この構成によれば、基板の処理回転速度に応じて、基板における処理液の着液位置および/または当該処理液ノズルから吐出される処理液の吐出流量を調整する。これにより、着液処理液の内周端の位置を、処理回転速度(処理時における基板の回転速度)に対応する位置に調整することができる。
以上により、基板の回転速度によらずに、基板の外周部における処理幅を精密に制御することができる。
前記基板回転工程は、前記基板保持ユニットに保持されている前記基板を前記基板回転ユニットによって前記回転軸線まわりに回転させる工程を含んでいてもよい。
前記処理液吐出工程は、前記着液位置に向けて処理液を吐出する工程を含んでいてもよい。
この発明の一実施形態では、前記基板処理装置は、前記処理液ノズルを駆動する処理液ノズル駆動ユニットをさらに含む。そして、前記制御装置は、前記内周端位置調整工程において、前記処理液ノズル駆動ユニットを制御して、前記処理液の着液位置を調整する工程を実行する。
この構成によれば、基板における処理液の着液位置を変更することにより、着液処理液の内周端の位置を、処理回転速度に対応する位置に調整する。処理液の着液位置は、着液処理液の内周端の位置に直接的に作用し、当該着液処理液の内周端の位置に大きな影響を与える。したがって、処理液の着液位置を変更することにより、着液処理液の内周端の位置をより効果的に変更させることができる。この場合、着液位置液幅をより精密に制御することも可能である。
前記内周端位置調整工程は、前記処理回転速度の高低に基づいて、前記処理液ノズル駆動ユニットによって前記着液位置を制御する工程を含んでいてもよい。
前記内周端位置調整工程は、前記着液位置を、前記処理回転速度の上昇に従って前記着液位置が前記基板の回転半径方向の内側に寄るように配置する工程を含んでいてもよい。
この構成によれば、第1の情報記憶部に記憶されている第1の対応関係規定情報によって規定されている、処理回転速度と処理液の着液位置との対応関係に基づいて内周端位置調整工程が実行される。これにより、着液処理液の内周端の位置を、処理時における処理回転速度に対応する位置に、確実に制御することができる。
この発明の一実施形態では、前記基板処理装置は、前記処理液の吐出流量を調整する吐出流量調整ユニットをさらに含む。そして、前記制御装置は、前記内周端位置調整工程において、前記吐出流量調整ユニットを制御して前記処理液の吐出流量を調整する吐出流量調整工程を実行する。
前記内周端位置調整工程は、前記処理回転速度の高低に基づいて、前記処理液ノズルから吐出される処理液の前記吐出流量を前記吐出流量調整ユニットによって制御する工程を含んでいてもよい。
前記内周端位置調整工程は、前記処理液ノズルから吐出される処理液の前記吐出流量を前記処理回転速度の上昇に従って前記吐出流量が増大するように調整する工程を含んでいてもよい。
この発明の一実施形態では、前記基板処理装置は、前記処理回転速度と、前記処理液の吐出流量との対応関係を規定する第2の対応関係規定情報を記憶する第2の情報記憶部をさらに含む。そして、前記制御装置は、前記第2の対応関係規定情報に基づいて前記内周端位置調整工程を実行する。
この発明の一実施形態では、前記基板保持ユニットは、前記基板の外周部を支持せずに当該基板の中央部を支持して当該基板を保持するユニットを含む。そして、前記基板処理装置は、前記基板保持ユニットに保持されている基板の周方向の各周端位置を計測するための各周端位置計測ユニットをさらに含む。そして、前記制御装置は、前記基板保持ユニットに保持されている基板の、周方向の各周端位置を計測する各周端位置計測工程をさらに実行する。そして、前記制御装置は、さらに、前記着液位置に着液している処理液の内周端が、当該処理液ノズルが配置されている周方向位置の周端である配置位置周端の位置変化に追従して往復移動するように、前記着液位置に着液している処理液の内周端の位置を調整する(第2の内周端位置調整工程)工程を実行する。
この発明の一実施形態では、前記制御装置は、前記処理回転速度が予め定める速度以上である場合に前記内周端位置調整工程を実行せず、前記処理回転速度が予め定める速度未満である場合に前記内周端位置調整工程を実行する。
この構成によれば、着液位置に着液した処理液が基板の内側に広がるおそれがある、処理回転速度が遅い場合のみ内周端位置調整工程を実行する。すなわち、必要なときのみ内周端位置調整工程を実行することができる。
この構成によれば、処理液ノズルが処理液を斜め下方向に向けて吐出する。内側から着液位置に向けて処理液が吐出されるので、基板の中央部への処理液の液跳ねを抑制または防止しながら、基板の外周部に処理液を供給することができる。
前記制御装置は、前記内周端位置調整工程において、前記着液位置を回転速度−処理位置対応テーブルを基準として制御してもよい。前記制御装置は、前記内周端位置調整工程において、前記吐出流量を回転速度−吐出流量対応テーブルを基準として制御してもよい。前記制御装置は、前記内周端位置調整工程において、前記基板の回転半径方向の前記処理液の液膜の幅を予め定められた幅に調整してもよい。
この発明の一実施形態では、前記内周端位置調整工程は、前記処理液の着液位置を調整する工程を含む。
前記内周端位置調整工程は、前記処理回転速度の高低に基づいて、前記基板の外周部における処理液の前記着液位置を制御する工程を含んでいてもよい。
前記内周端位置調整工程は、前記着液位置を、前記処理回転速度の上昇に従って前記着液位置が前記基板の回転半径方向の内側に寄るように配置する工程を含んでいてもよい。
この発明の一実施形態では、前記基板処理方法は、前記基板の外周部を支持せずに当該基板の中央部を支持して当該基板を保持する前記基板保持ユニットを含む基板処理装置において実行される方法である。そして、前記基板処理方法は、前記基板保持ユニットに保持されている基板の、周方向の各周端位置を、各周端位置計測ユニットによって計測する各周端位置計測工程と、前記基板の外周部における前記処理液ノズルからの処理液の着液位置が、前記基板の周端のうち当該処理液ノズルが配置されている周方向位置の周端である配置位置周端の位置変化に追従して往復移動するように前記処理液ノズルを駆動する着液位置往復移動工程とをさらに含む。そして、前記内周端位置調整工程は、前記着液位置往復移動工程に並行して実行される。
前記内周端位置調整工程は、前記処理回転速度の高低に基づいて、前記処理液ノズルから吐出される処理液の吐出流量を制御する工程を含んでいてもよい。
前記内周端位置調整工程は、前記処理液ノズルから吐出される処理液の前記吐出流量を前記処理回転速度の上昇に従って前記吐出流量が増大するように調整する工程を含んでいてもよい。
前記内周端位置調整工程は、前記着液位置を回転速度−処理位置対応テーブルを基準として制御してもよい。前記内周端位置調整工程は、前記吐出流量を回転速度−吐出流量対応テーブルを基準として制御してもよい。前記内周端位置調整工程は、前記基板の回転半径方向の前記処理液の液膜の幅を予め定められた幅に調整してもよい。
図1は、この発明の第1の実施形態に係る基板処理装置の内部のレイアウトを説明するための図解的な平面図である。基板処理装置1は、半導体ウエハなどの円板状の基板Wを、処理液や処理ガスによって一枚ずつ処理する枚葉式の装置である。基板処理装置1は、処理液を用いて基板Wを処理する複数の処理ユニット2と、処理ユニット2で処理される複数枚の基板Wを収容するキャリヤC1が載置されるロードポートLPと、ロードポートLPと処理ユニット2との間で基板Wを搬送する搬送ロボットIRおよびCRと、基板処理装置1を制御する制御装置3とを含む。搬送ロボットIRは、キャリヤC1と搬送ロボットCRとの間で基板Wを搬送する。搬送ロボットCRは、搬送ロボットIRと処理ユニット2との間で基板Wを搬送する。複数の処理ユニット2は、たとえば、同様の構成を有している。
処理ユニット2は、基板Wの外周部41(図3等参照)を、より具体的には基板Wの上面(主面)の外周領域42(図3等参照)および基板Wの周端面44(図3等参照)を、処理液を用いて処理(トップサイド処理)するユニットである。この実施形態では、基板Wの外周部41とは、基板Wの上面の外周領域42、基板Wの下面(主面)の外周領域43(図3等参照)、および基板Wの周端面44を含む部分をいう。また、外周領域42,43とは、たとえば、基板Wの周端縁からコンマ数ミリ〜数ミリメートル程度の幅を有する環状の領域をいう。
FFU14は隔壁13の上方に配置されており、隔壁13の天井に取り付けられている。FFU14は、隔壁13の天井から処理チャンバ4内に清浄空気を送る。排気装置は、処理カップ12内に接続された排気ダクト15を介して処理カップ12の底部に接続されており、処理カップ12の底部から処理カップ12の内部を吸引する。FFU14および排気装置により、処理チャンバ4内にダウンフロー(下降流)が形成される。
図3は、処理位置に配置されている処理液ノズル19から処理液を吐出している状態を示す断面図である。
スピンチャック5は、基板Wの中央部を支持するタイプのものである。このようなタイプのスピンチャックは基板Wの外周部41を支持しない。そのため、基板Wの保持状態において、図4および図5に示すように、基板Wの中心がスピンチャック5による基板Wの回転軸線A1からずれる(すなわち、スピンチャック5に対して基板Wが偏芯している)おそれがある。
図7は、基板処理装置1の主要部の電気的構成を説明するためのブロック図である。
図8は、情報記憶部55に記憶されている回転速度−処理位置対応テーブル107を説明するための図である。
回転速度−処理位置対応テーブル107には、基板Wの回転速度(処理回転速度)と、各回転速度に対応する、処理液ノズル19の処理位置(径方向RDの位置)との対応関係が規定されている。回転速度−処理位置対応テーブル107によって規定される「処理位置」は、処理液ノズル19の処理位置の位置情報そのものであってもよいし、処理液ノズル19を駆動する第1のノズル移動機構24を構成するモータの駆動値であって、当該処理液ノズル19の処理位置に対応する駆動値であってもよい。
また、回転速度−処理位置対応テーブル107は、処理幅(着液位置液幅W1)毎に用意されており、情報記憶部55には、互いに異なる処理幅用の複数の回転速度−処理位置対応テーブル107が記憶されている。
まず、未処理の基板Wが、処理チャンバ4の内部に搬入される(図9のS1)。具体的には、基板Wを保持している搬送ロボットCRのハンドHを処理チャンバ4の内部に進入させることにより、基板Wがデバイス形成面を上方に向けた状態でスピンチャック5に受け渡される。
スピンチャック5に基板Wが保持された後、制御装置3はスピンモータ18を制御して、基板Wを回転開始させる(図9のS3)。
各周端径方向位置計測工程(S4)では、制御装置3は、基板Wの回転速度を、所定の計測回転速度(次に述べる液処理速度よりも遅い速度。たとえば約50rpm)まで上昇させ、その計測回転速度に保つ(図10のS11)。基板Wの回転が計測回転速度に達すると(S11でYES)、制御装置3は、径方向位置センサ47を用いて各周端径方向位置を計測開始する(図10のS12)。具体的には、制御装置3は、スピンモータ18を制御して基板Wを回転軸線A1まわりに回動させながら、径方向位置センサ47によって、基板Wの周端面44のうち所定の計測対象位置の径方向位置を検出させる。径方向位置センサ47による検出開始後、基板Wが少なくとも一周(360°)回動し終えると(図10のS13でYES)、全ての各周端径方向位置を検出したとして(YES)、計測が終了する(図10のS14)。これにより、スピンチャック5に対する基板Wの偏芯状態を検出することができる。制御装置3は、計測された各周端径方向位置に基づいて、着液位置45の往復移動に関する情報(たとえば、往復移動の振幅、周期および位相)を算出する(図10のS15)。算出された情報は、各周端径方向位置記憶部59に記憶される(図10のS16)。その後、各周端径方向位置計測工程(S4)は、終了する。各周端径方向位置計測工程(S4)の実行時間は、たとえば約5秒間である。
外周部薬液処理工程(S5)では、制御装置3の演算ユニット51は、レシピ記憶部54(図8参照)に記憶されているレシピを参照して、外周部薬液処理工程(S5)における基板Wの回転速度(処理回転速度)を取得する。そして、制御装置3は、スピンモータ18を制御して基板Wの回転速度を、所定の処理回転速度に設定する(図11のS31)。
また、外周部薬液処理工程(S5)では、ヒータ11の熱源がオンされて、ヒータ11によって、基板Wの下面の外周領域43が加熱される。これにより、外周部薬液処理の処理速度を高めている。また、外周部薬液処理工程(S5)では、処理位置に配置される気体吐出ノズル27から吐出される不活性ガスによって、中央部から外周部41に向けて流れる放射状気流が基板Wの上方に形成される。この放射状気流によって、デバイス形成領域である基板Wの上面中央部が保護される。また、外周部薬液処理工程(S5)では、基板の上面の外周領域42において、処理液ノズル19の処理位置とは異なる周方向位置に設定された処理位置に位置する上外周部気体ノズル31から基板Wの上面の外周領域42の吹き付け位置に対し不活性ガスが吹き付けられる。この不活性ガスの吹き付けにより、基板Wの上面の外周領域42における薬液の処理幅を、基板Wの周方向の複数位置において制御することができる。また、外周部薬液処理工程(S5)では、処理位置に位置する下外周部気体ノズル36から基板Wの下面の外周領域43の吹き付け位置に対し不活性ガスが吹き付けられる。この不活性ガスの吹き付けにより、基板Wの下面への薬液の回り込みを防止することができる。
また、外周部リンス液処理工程(S6)では、処理位置に位置する気体吐出ノズル27から吐出される不活性ガスによって、中央部から外周部41に向けて流れる放射状気流が基板Wの上方に形成される。また、外周部リンス液処理工程(S6)では、処理位置に位置する上外周部気体ノズル31から基板Wの上面の外周領域42の吹き付け位置に対し不活性ガスが吹き付けられる。また、外周部リンス液処理工程(S6)では、処理位置に位置する下外周部気体ノズル36から基板Wの下面の外周領域43の吹き付け位置に対し不活性ガスが吹き付けられる。外周部リンス液処理工程(S6)では、ヒータ11の熱源がオンされて、基板Wの下面の外周領域43が、ヒータ11によって加熱されてもよいし、加熱されなくてもよい。
次いで、基板Wを乾燥させるスピンドライ(図9のS7)が行われる。具体的には、制御装置3はスピンモータ18を制御して、各処理工程S2〜S6における回転速度よりも大きい乾燥回転速度(たとえば数千rpm)まで基板Wを加速させ、その乾燥回転速度で基板Wを回転させる。また、これにより、大きな遠心力が基板W上の液体に加わり、基板Wの外周部に付着している液体が基板Wの周囲に振り切られる。このようにして、基板Wの外周部から液体が除去され、基板Wの外周部が乾燥する。
その後、処理チャンバ4内から基板Wが搬出される(図9のS8)。具体的には、制御装置3は、搬送ロボットCRのハンドを処理チャンバ4の内部に進入させる。そして、制御装置3は、搬送ロボットCRのハンドにスピンチャック5上の基板Wを保持させる。その後、制御装置3は、搬送ロボットCRのハンドを処理チャンバ4内から退避させる。これにより、処理後の基板Wが処理チャンバ4から搬出される。
回転速度−吐出流量対応テーブル207には、外周部処理工程(S5,S6)における基板Wの回転速度(処理回転速度)と、各回転速度に対応する、処理液ノズル19から着液位置45に吐出される処理液の吐出流量との対応関係が規定されている。回転速度−吐出流量対応テーブル207によって規定される「処理液の吐出流量」は、吐出流量そのものであってもよいし、流量調整バルブ102の開度であってもよい。
また、回転速度−吐出流量対応テーブル207は、処理幅(着液位置液幅W1)毎に用意されており、情報記憶部55には、互いに異なる処理幅用の複数の回転速度−吐出流量対応テーブル207が記憶されている。
薬液の吐出開始から予め定める期間が経過すると(図17のS46でYES)、制御装置3は、薬液バルブ21を閉じる。これにより、処理液ノズル19からの薬液の吐出が停止(終了)する(図17のS47)。
リンス液の吐出開始から予め定める期間が経過すると(図17のS46でYES)、制御装置3は、リンス液バルブ23を閉じる。これにより、処理液ノズル19からのリンス液の吐出が停止(終了)する(図17のS47)。
この第3の基板処理例が、前述の第2の基板処理例と異なる点は、外周部処理工程(S5,S6)において、着液位置往復移動工程(処理液ノズル19の往復移動)を行わずに、処理液ノズル19からの処理液の吐出流量を変化させることにより、処理液の液膜LFの内周端301を、配置位置周端46の位置変化に追従して往復移動させている点である。偏芯している基板Wの回転に伴って、配置位置周端46が図18Aに示す実線で位置(図18Bに破線で示す位置)と、図18Bに実線で示す位置との間で移動する。この場合、制御装置3は、各周端径方向位置記憶部59(図7参照)に記憶されている情報(振幅、周期および位相(各周端径方向位置計測工程(S4)の計測結果))に基づいて、配置位置周端46の位置変化と同じ振幅、同じ周期、かつ同じ位相で処理液の液膜LFの内周端301が移動するように、流量調整バルブ101,102を制御して、処理液ノズル19の処理液吐出口19aから吐出される処理液の流量を調整する。これにより、処理液ノズル19を移動させることなく、処理液の液膜LFの内周端301と配置位置周端46との距離を一定に保つことができる。その結果、基板Wの偏芯状態によらずに、基板Wの上面の外周領域42における処理幅の均一性を高く保つことができる。ゆえに、処理液の液膜LFの内周端301と配置位置周端46との距離を一定に保つことができる。
以上、この発明の2つの実施形態について説明したが、この発明は他の形態で実施することもできる。
また、たとえば、周端位置計測工程として、各周端径方向位置計測工程(S4)に代えて、基板Wの周方向の各周端位置における高さ位置である各周端高さ位置を計測する各周端高さ位置計測工程が実行されてもよい。この場合、スピンチャック5によって保持されている基板Wの周端の高さ位置を検出するための高さ位置センサ(位置センサ)が設けられており、高さ位置センサの検出出力に基づいて、各周端高さ位置が計測されるようになっていてもよい。また、位置センサに限られず、CCDカメラを用いて、基板Wの周方向の各周端位置を計測するようにしてもよい。
着液位置45を径方向RDに往復移動させるための手法として、処理液ノズル19を径方向RDに往復移動させる手法を用いたが、これに代えて、処理液ノズル19の吐出方向を変えたり、あるいは処理液ノズル19の高さ位置変えたり、あるいは処理液ノズル19の径方向RDへの移動を組み合わせたりすることによって、着液位置45を径方向RDに往復移動させるようにしてもよい。
また、前述の各実施形態では、基板Wの偏芯状態に拘りなく、基板Wの上面の外周領域42における処理幅を均一にすべく、外周部処理工程(S5,S6)において配置位置周端46の位置変化に追従して、処理液の着液位置45や、処理液の液膜LFの内周端301を往復移動させるようにした。しかしながら、本発明は、処理液の着液位置45や、処理液の液膜LFの内周端301を往復移動させるものに限られない。すなわち、処理幅を細幅に調整することを目的として、処理液ノズル19からの処理液の吐出流量を変更することにより着液位置液幅W1を細く制御するものであってもよい。
その他、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能で
ある。
2 :処理ユニット
3 :制御装置
5 :スピンチャック(基板保持ユニット)
18 :スピンモータ(基板回転ユニット)
19 :処理液ノズル
41 :外周部
45 :着液位置
46 :配置位置周端
47 :径方向位置センサ(各周端位置計測ユニット)
55 :情報記憶部(第1の情報記憶部、第2の情報記憶部)
101 :薬液流量調整バルブ(吐出流量調整ユニット)
102 :リンス液流量調整バルブ(吐出流量調整ユニット)
107 :回転速度−処理位置対応テーブル(第1の対応関係規定情報)
207 :回転速度−吐出流量対応テーブル(2の対応関係規定情報)
301 :内周端
A1 :回転軸線
W :基板
W1 :着液位置液幅
Claims (17)
- 周端の少なくとも一部が円弧状をなす基板を保持する基板保持ユニットと、
前記基板保持ユニットによって保持されている基板を、当該基板の中央部を通る回転軸線まわりに回転させるための基板回転ユニットと、
前記基板保持ユニットによって保持されている基板の外周部の所定の着液位置に向けて処理液を吐出するための処理液ノズルと、
前記処理液ノズルを駆動するための処理液ノズル駆動ユニットと、
前記処理液ノズルから吐出される処理液の吐出流量を調整するための吐出流量調整ユニットとを含み、
前記基板回転ユニット、ならびに前記処理液ノズル駆動ユニットおよび前記吐出流量調整ユニットの少なくとも一方を制御して、前記基板保持ユニットによって保持されている前記基板を前記基板回転ユニットによって前記回転軸線まわりに所定の処理回転速度で回転させる基板回転工程と、前記基板回転工程に並行して、前記処理液ノズルから前記着液位置に向けて処理液を吐出する処理液吐出工程と、前記基板回転工程および前記処理液吐出工程に並行して、前記処理回転速度の高低に基づいて、前記処理液ノズル駆動ユニットによって前記基板における処理液の前記着液位置を制御して、および/または前記処理液ノズルから吐出される処理液の前記吐出流量を前記吐出流量調整ユニットによって制御して、前記着液位置に着液している処理液の内周端の位置を、前記処理回転速度に対応する位置に調整する内周端位置調整工程とを実行する制御装置とを含み、
前記内周端位置調整工程は、前記着液位置を、前記処理回転速度の上昇に従って前記着液位置が前記基板の回転半径方向の内側に寄るように配置する工程、および/または前記処理液ノズルから吐出される処理液の前記吐出流量を前記処理回転速度の上昇に従って前記吐出流量が増大するように調整する工程を含む、基板処理装置。 - 前記制御装置は、前記内周端位置調整工程において、前記処理液ノズル駆動ユニットを制御して、処理液の前記着液位置を、前記処理回転速度の上昇に従って前記着液位置が前記基板の回転半径方向の内側に寄るように配置する工程を実行する、請求項1に記載の基板処理装置。
- 前記処理回転速度と処理液の前記着液位置との対応関係を規定する第1の対応関係規定情報を記憶する第1の情報記憶部をさらに含み、
前記制御装置は、前記第1の対応関係規定情報に基づいて前記内周端位置調整工程を実行する、請求項2に記載の基板処理装置。 - 前記基板保持ユニットは、前記基板の外周部を支持せずに当該基板の中央部を支持して当該基板を保持するユニットを含み、
前記基板処理装置は、前記基板保持ユニットに保持されている基板の周方向の各周端位置を計測するための各周端位置計測ユニットをさらに含み、
前記制御装置は、前記基板保持ユニットに保持されている基板の、周方向の各周端位置を計測する各周端位置計測工程と、前記基板の外周部における前記処理液ノズルからの処理液の前記着液位置が、前記基板の周端のうち当該処理液ノズルが配置されている周方向位置の周端である配置位置周端の位置変化に追従して往復移動するように前記処理液ノズルを駆動する着液位置往復移動工程とをさらに実行し、かつ前記内周端位置調整工程を、前記着液位置往復移動工程に並行して実行する、請求項2または3に記載の基板処理装置。 - 前記制御装置は、前記内周端位置調整工程において、前記吐出流量調整ユニットを制御して処理液の前記吐出流量を前記処理回転速度の上昇に従って前記吐出流量が増大するように調整する吐出流量調整工程を実行する、請求項1〜4のいずれか一項に記載の基板処理装置。
- 前記処理回転速度と処理液の前記吐出流量との対応関係を規定する第2の対応関係規定情報を記憶する第2の情報記憶部をさらに含み、
前記制御装置は、前記第2の対応関係規定情報に基づいて前記内周端位置調整工程を実行する、請求項5に記載の基板処理装置。 - 前記基板保持ユニットは、前記基板の外周部を支持せずに当該基板の中央部を支持して当該基板を保持するユニットを含み、
前記基板処理装置は、前記基板保持ユニットに保持されている基板の周方向の各周端位置を計測するための各周端位置計測ユニットをさらに含み、
前記制御装置は、前記基板保持ユニットに保持されている基板の、周方向の各周端位置を計測する各周端位置計測工程と、前記着液位置に着液している処理液の内周端が、前記基板の周端のうち前記処理液ノズルが配置されている周方向位置の周端である配置位置周端の位置変化に追従して往復移動するように、前記着液位置に着液している処理液の内周端の位置を調整する第2の内周端位置調整工程とをさらに実行する、請求項5または6に記載の基板処理装置。 - 周端の少なくとも一部が円弧状をなす基板を保持する基板保持ユニットと、
前記基板保持ユニットによって保持されている基板を、当該基板の中央部を通る回転軸線まわりに回転させるための基板回転ユニットと、
前記基板保持ユニットによって保持されている基板の外周部の所定の着液位置に向けて処理液を吐出するための処理液ノズルと、
前記基板回転ユニットを制御して、前記基板保持ユニットに保持されている前記基板を前記回転軸線まわりに所定の処理回転速度で回転させる基板回転工程と、前記基板回転工程に並行して、前記処理液ノズルから前記着液位置に向けて処理液を吐出する処理液吐出工程と、前記基板回転工程および前記処理液吐出工程に並行して、前記着液位置を制御してまたは前記処理液ノズルから吐出される処理液の吐出流量を制御して、前記着液位置に着液している処理液の内周端の位置を、前記処理回転速度に対応する位置に調整する内周端位置調整工程とを実行する制御装置とを含み、
前記制御装置は、前記内周端位置調整工程において、
前記着液位置を回転速度−処理位置対応テーブルを基準として制御し、前記吐出流量を回転速度−吐出流量対応テーブルを基準として制御し、
前記基板の回転半径方向の前記処理液の液膜の幅を予め定められた幅に調整する、基板処理装置。 - 前記制御装置は、前記処理回転速度が予め定める速度以上である場合に前記内周端位置調整工程を実行せず、前記処理回転速度が予め定める速度未満である場合に前記内周端位置調整工程を実行する、請求項1〜8のいずれか一項に記載の基板処理装置。
- 前記処理液ノズルは、前記基板の外側かつ斜め下向きに処理液を吐出する、請求項1〜9のいずれか一項に記載の基板処理装置。
- 周端の少なくとも一部が円弧状をなす基板を、当該基板の中央部を通る回転軸線まわりに、所定の処理回転速度で回転させる基板回転工程と、
前記基板回転工程に並行して、前記基板の外周部の所定の着液位置に向けて処理液ノズルから処理液を吐出する処理液吐出工程と、
前記基板回転工程および前記処理液吐出工程に並行して、前記処理回転速度の高低に基づいて、前記基板の外周部における処理液の前記着液位置および/または前記処理液ノズルから吐出される処理液の吐出流量を制御して、前記着液位置に着液している処理液の内周端の位置を、前記処理回転速度に対応する位置に調整する内周端位置調整工程とを含み、
前記内周端位置調整工程は、前記着液位置を、前記処理回転速度の上昇に従って前記着液位置が前記基板の回転半径方向の内側に寄るように配置する工程、および/または前記処理液ノズルから吐出される処理液の前記吐出流量を前記処理回転速度の上昇に従って前記吐出流量が増大するように調整する工程を含む、基板処理方法。 - 前記内周端位置調整工程は、処理液の着液位置を、前記処理回転速度の上昇に従って前記着液位置が前記基板の回転半径方向の内側に寄るように配置する工程を含む、請求項11に記載の基板処理方法。
- 前記基板処理方法は、前記基板の外周部を支持せずに当該基板の中央部を支持して当該基板を保持する基板保持ユニットを含む基板処理装置において実行される方法であって、
前記基板処理方法は、
前記基板保持ユニットに保持されている基板の、周方向の各周端位置を、各周端位置計測ユニットによって計測する各周端位置計測工程と、
前記基板の外周部における前記処理液ノズルからの処理液の前記着液位置が、前記基板の周端のうち当該処理液ノズルが配置されている周方向位置の周端である配置位置周端の位置変化に追従して往復移動するように前記処理液ノズルを駆動する着液位置往復移動工程とをさらに含み、
前記内周端位置調整工程は、前記着液位置往復移動工程に並行して実行される、請求項11または12に記載の基板処理方法。 - 前記内周端位置調整工程は、処理液の前記吐出流量を前記処理回転速度の上昇に従って前記吐出流量が増大するように調整する吐出流量調整工程を含む、請求項11〜13のいずれか一項に記載の基板処理方法。
- 前記基板処理方法は、前記基板の外周部を支持せずに当該基板の中央部を支持して当該基板を保持する基板保持ユニットを含む基板処理装置において実行される方法であって、
前記基板処理方法は、
前記基板保持ユニットに保持されている基板の、周方向の各周端位置を計測する各周端位置計測工程と、
前記着液位置に着液している処理液の内周端が、前記基板の周端のうち前記処理液ノズルが配置されている周方向位置の周端である配置位置周端の位置変化に追従して往復移動するように、前記着液位置に着液している処理液の内周端の位置を調整する第2の内周端位置調整工程とをさらに含む、請求項14に記載の基板処理方法。 - 周端の少なくとも一部が円弧状をなす基板を、当該基板の中央部を通る回転軸線まわりに、所定の処理回転速度で回転させる基板回転工程と、
前記基板回転工程に並行して、前記基板の外周部の所定の着液位置に向けて処理液ノズルから処理液を吐出する処理液吐出工程と、
前記基板回転工程および前記処理液吐出工程に並行して、前記基板の外周部における処理液の前記着液位置または前記処理液ノズルから吐出される処理液の吐出流量を制御して、前記着液位置に着液している処理液の内周端の位置を、前記処理回転速度に対応する位置に調整する内周端位置調整工程とを含み、
前記内周端位置調整工程は、
前記着液位置を回転速度−処理位置対応テーブルを基準として制御し、
前記吐出流量を回転速度−吐出流量対応テーブルを基準として制御し、
前記基板の回転半径方向の前記処理液の液膜の幅を予め定められた幅に調整する、基板処理方法。 - 前記内周端位置調整工程は、前記処理回転速度が予め定める速度以上である場合には実行されず、前記処理回転速度が予め定める速度未満である場合に実行される、請求項11〜16のいずれか一項に記載の基板処理方法。
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