JP6932265B2 - 放射線計測装置 - Google Patents
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Description
本願は、放射線検出器で得られる検出パルスを計測する放射線計測装置に関するものである。
一般に、放射線計測装置は、放射線検出器で得られる検出パルスを増幅器で増幅した後、ノイズ成分などを除去するため波高選別回路によって予め設定された上下限のしきい値(Lsh、Hsh、ただしLsh<Hsh)の範囲内にある検出パルスのみを抽出し、これらの抽出された検出パルスをカウントすることで放射線の強さを計測する。
ところで、従来の波高選別回路は、抵抗R、コンデンサCなどの素子を用いたワンショットマルチバイブレータ、およびコンデンサC、リアクトルLなどの素子を用いたロジックICの応答時間を利用した遅延回路によって構成することにより、上下限のしきい値(Lsh、Hsh)の範囲内にある検出パルスを抽出する機能を達成している(例えば、下記の特許文献1参照)。
従来の放射線計測装置における波高選別回路は、上記のように、抵抗R、コンデンサCなどの素子を用いたワンショットマルチバイブレータ、およびコンデンサC、リアクトルLなどの素子を用いたロジックICの応答時間を利用した遅延回路によって構成されているため、抵抗R、コンデンサCなどの素子の特性のばらつきにより、ワンショットマルチバイブレータからの出力パルスのパルス幅または遅延回路の遅延時間が安定しない問題があった。その結果、検出パルスの数え落とし、または、本来は波高選別されるべき余分な検出パルスまでも計測してしまうなど、計測結果に誤差が生じるなどの不具合が生じていた。
本願は、上記のような課題を解決するための技術を開示するものであり、放射線検出器で得られる検出パルスについて、上下限のしきい値(Lsh、Hsh)の範囲内にある検出パルスのみを常に安定的かつ確実に抽出することができて、従来よりも精度良く放射線の強さを計測することが可能な放射線計測装置を提供することを目的とする。
本願に開示される放射線計測装置は、
放射線検出器から出力される検出パルスが、下限しきい値Lshよりも大きくなった場合に立上がり、上記下限しきい値Lshよりも小さくなった場合に立下がる第1の波高検出信号を出力する第1の波高検出回路と、
上記放射線検出器から出力される上記検出パルスが、上記下限しきい値Lshよりも大きな値である上限しきい値Hshよりも大きくなった場合に立上がり、上記上限しきい値Hshよりも小さくなった場合に立下がる第2の波高検出信号を出力する第2の波高検出回路と、
一定周期のクロックパルスを発生する水晶発振器と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第1の波高検出回路から出力される上記第1の波高検出信号の立上がりおよび立下がりエッジを共に検知する第1の立上がり及び立下がり検知回路と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第2の波高検出回路から出力される上記第2の波高検出信号の立上がりおよび立下がりエッジを共に検知する第2の立上がり及び立下がり検知回路と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第1の立上がり及び立下がり検知回路からの出力ならびに上記第2の立上がり及び立下がり検知回路からの出力を合成して上記下限しきい値Lshと上記上限しきい値Hshとの間の範囲にある上記検出パルスに対応した信号を出力する合成回路と、を備える。
放射線検出器から出力される検出パルスが、下限しきい値Lshよりも大きくなった場合に立上がり、上記下限しきい値Lshよりも小さくなった場合に立下がる第1の波高検出信号を出力する第1の波高検出回路と、
上記放射線検出器から出力される上記検出パルスが、上記下限しきい値Lshよりも大きな値である上限しきい値Hshよりも大きくなった場合に立上がり、上記上限しきい値Hshよりも小さくなった場合に立下がる第2の波高検出信号を出力する第2の波高検出回路と、
一定周期のクロックパルスを発生する水晶発振器と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第1の波高検出回路から出力される上記第1の波高検出信号の立上がりおよび立下がりエッジを共に検知する第1の立上がり及び立下がり検知回路と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第2の波高検出回路から出力される上記第2の波高検出信号の立上がりおよび立下がりエッジを共に検知する第2の立上がり及び立下がり検知回路と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第1の立上がり及び立下がり検知回路からの出力ならびに上記第2の立上がり及び立下がり検知回路からの出力を合成して上記下限しきい値Lshと上記上限しきい値Hshとの間の範囲にある上記検出パルスに対応した信号を出力する合成回路と、を備える。
本願に開示される放射線計測装置によれば、放射線検出器で得られる検出パルスに対して、下限しきい値Lshと上限しきい値Hshとの間の範囲にある波高値をもつ検出パルスのみを水晶発振器からのクロックパルスに同期して常に安定的、かつ確実に抽出することができるので、精度良く放射線の強さを計測することが可能となる。
本願の内容を一層理解するために、これに先立って本願の参考となる技術の構成とその課題について、以下、説明する。
図1は本願の参考例の放射線計測装置の概略構成を示すブロック図、図2は本願の参考例の放射線計測装置の動作説明に供するタイミングチャートである。
図1の参考例となる放射線計測装置は、放射線検出器1、増幅器2、第1の波高検出回路3a、第2の波高検出回路3b、第1のワンショット回路4a、第2のワンショット回路4b、OR回路5、第1の遅延回路6a、第2の遅延回路6b、合成回路7、およびAND回路8を備える。なお、放射線検出器1と増幅器2を除いた後段の回路が波高選別回路に該当する。
放射線検出器1は、例えばシンチレーションカウンタまたは半導体検出器などで構成され、放射線の強度に応じた検出パルスを出力する。増幅器2は、図2(a)に示すように、放射線検出器1により検出した検出パルスを所定のレベルまで増幅した検出パルスIampを出力する。
第1の波高検出回路3aは、図2(b)に示すように、増幅器2による増幅後の検出パルスIampの信号レベルが予め設定された一定の下限しきい値Lshよりも大きくなったときに立上がり、下限しきい値Lshよりも小さくなったときに立下がる第1の波高検出信号IN−LOを出力する。また、第2の波高検出回路3bは、図2(c)に示すように、増幅器2による増幅後の検出パルスIampの信号レベルが予め設定された一定の上限しきい値Hsh(ただし、Hsh>Lsh)よりも大きくなったときに立上がり、上限しきい値Hshよりも小さくなったときに立下がる第2の波高検出信号IN−HIを出力する。
第1のワンショット回路4aは、抵抗R、コンデンサCなどの素子を用いた単安定ワンショットマルチバイブレータからなり、図2(d)に示すように、第1の波高検出回路3aからの第1の波高検出信号IN−LOの立上がりに応じて所定のパルス幅T1を持つパルス信号LOを出力する。同様に、第2のワンショット回路4bは、抵抗R、コンデンサCなどの素子を用いた単安定ワンショットマルチバイブレータからなり、図2(e)に示すように、第2の波高検出信号IN−HIの立上がりに応じて所定のパルス幅T1を持つパルス信号HIを出力する。
OR回路5は、第1のワンショット回路4aの出力LOと、第2のワンショット回路4bの出力HIを合成して共にクロックパルスCLKとして出力する。
第1の遅延回路6aは、コンデンサC、リアクトルLなどの素子を用いたロジックICから構成されており、図2(f)に示すように、第1のワンショット回路4aから出力されるパルス信号LOを一定時間T2だけ遅延したパルス信号LO−Dを出力する。同様に、第2の遅延回路6bは、コンデンサC、リアクトルLなどの素子を用いたロジックICから構成されており、図2(g)に示すように、第2のワンショット回路4bから出力されるパルス信号HIを一定時間T2だけ遅延したパルス信号HI−Dを出力する。
合成回路7は、ここではJKフリップフロップからなり、第1の遅延回路6aから出力されるパルス信号LO−DがJ入力端子に、第2の遅延回路6bから出力されるパルス信号HI_DがK入力端子に、また、第1のワンショット回路4aから出力されるパルス信号LOと第2のワンショット回路4bから出力されるパルス信号HIが共にOR回路5を通じてクロックパルスCLKとしてサンプリング端子Tにそれぞれ入力される。その結果、図3に示す真理値表に従い、合成回路7の出力端子Qからは、図2(h)に示すような方形波の信号OUT1が出力される。
AND回路8は、合成回路7の出力信号OUT1と第1の遅延回路6aから出力されるパルス信号LO−Dとの論理積をとるものであり、AND回路8からは、図2(i)に示すようなパルス信号OUT2が出力される。
ここで、増幅器2から出力されるパルス信号Iampの波高値が上限しきい値Hshを越えた場合には、AND回路8の出力OUT2は、第1のワンショット回路4aの出力LOのパルス幅T1よりも短いパルス幅T3となる一方、増幅器2から出力されるパルス信号Iampの波高値が上限しきい値Hshと下限しきい値Lshとの範囲内にある場合には、AND回路の出力OUT2は、第1のワンショット回路4aのパルス信号LOのパルス幅T1と同じになる。
AND回路8からの出力パルスOUT2に対しては、その後、図示しないパルス幅選別回路によって、パルス幅T1未満のパルス幅を持つ信号が除かれるので、最終的には、増幅器2から出力されるパルス信号Iampの波高値が上限しきい値Hshと下限しきい値Lshとの範囲内にあるものだけが抽出される。
しかしながら、前述したように、第1のワンショット回路4aおよび第2のワンショット回路4bは、抵抗R、コンデンサCなどの素子が使用され、また、第1の遅延回路6aおよび第2の遅延回路6bは、コンデンサC、リアクトルLなどの素子を用いたロジックICの応答時間を利用して構成されているため、それらの素子の特性のばらつきにより、第1のワンショット回路4aおよび第2のワンショット回路4bの出力パルスLO、HIのパルス幅、あるいは第1の遅延回路6aおよび第2の遅延回路6bの遅延時間T2が安定しない。その結果、検出パルスの数え落とし、または本来は波高選別されるべき余分な検出パルスまでも計測してしまうなど、計測結果に誤差が生じるなどの不具合が生じていた。本願は、かかる不具合を防止した放射線計測装置を提供するものである。以下、本願の実施の形態について言及する。
実施の形態1.
図4は実施の形態1による放射線計測装置の概略構成を示すブロック図、図5は実施の形態1による放射線計測装置の立上がり及び立下がり検知回路および合成回路の詳細を示すブロック図である。また、図6は実施の形態1による放射線計測装置の動作説明に供するタイミングチャートである。
図4は実施の形態1による放射線計測装置の概略構成を示すブロック図、図5は実施の形態1による放射線計測装置の立上がり及び立下がり検知回路および合成回路の詳細を示すブロック図である。また、図6は実施の形態1による放射線計測装置の動作説明に供するタイミングチャートである。
実施の形態1の放射線計測装置は、放射線検出器1、増幅器2、第1の波高検出回路3a、第2の波高検出回路3b、水晶発振器10、第1の立上がり及び立下がり検知回路11a、第2の立上がり及び立下がり検知回路11b、および合成回路12を備える。
放射線検出器1は、例えばシンチレーションカウンタまたは半導体検出器などで構成され、放射線の強度に応じた検出パルスを出力する。増幅器2は、図6(a)に示すように、放射線検出器1の検出パルスを所定のレベルまで増幅した検出パルスIampを出力する。
第1の波高検出回路3aは、図6(b)に示すように、増幅後の検出パルスIampの信号レベルが予め設定された一定の下限しきい値Lshよりも大きくなったときに立上がり、一定の下限しきい値Lshよりも小さくなったときに立下がる第1の波高検出信号IN−LOを出力する。また、第2の波高検出回路3bは、図6(c)に示すように、増幅後の検出パルスIampの信号レベルが予め設定された一定の上限しきい値Hsh(ただし、Hsh>Lsh)よりも大きくなったときに立上がり、一定の上限しきい値Hshよりも小さくなったときに立下がる第2の波高検出信号IN−HIを出力する。
水晶発振器10は、図6(d)に示すように、安定した一定周波数のクロックパルスCLKを出力する。
第1の立上がり及び立下がり検知回路11aは、図5に示すように、Dフリップフロップ15とXOR回路(排他的論理和回路)16とからなり、図6(e)に示すように、水晶発振器10からのクロックパルスCLKに同期して、第1の波高検出回路3aからの第1の波高検出信号IN−LOの立上がりおよび立下がりエッジを検出し、これに応じてそれぞれ一定のパルス幅Taをもつパルス信号L−XORを出力する。
第2の立上がり及び立下がり検知回路11bは、図5に示すように、Dフリップフロップ17とXOR回路(排他的論理和回路)18とからなり、図6(f)に示すように、水晶発振器10からのクロックパルスCLKに同期して、第2の波高検出回路3bからの第2の波高検出信号IN−HIの立上がりエッジおよび立下がりエッジを検出し、これに応じてそれぞれ一定のパルス幅Taをもつパルス信号H−XORを出力する。
第2の立上がり及び立下がり検知回路11bは、図5に示すように、Dフリップフロップ17とXOR回路(排他的論理和回路)18とからなり、図6(f)に示すように、水晶発振器10からのクロックパルスCLKに同期して、第2の波高検出回路3bからの第2の波高検出信号IN−HIの立上がりエッジおよび立下がりエッジを検出し、これに応じてそれぞれ一定のパルス幅Taをもつパルス信号H−XORを出力する。
合成回路12は、第1の立上がり及び立下がり検知回路11aから出力されるパルス信号L−XORと、第2の立上がり及び立下がり検知回路11bから出力されるパルス信号H−XORを共に入力し、水晶発振器10からのクロックパルスCLKに同期して、増幅器2から出力されるパルス信号Iampの波高値が前述の上限しきい値Hshと下限しきい値Lshとの間の範囲内にある場合にのみ、図6(j)に示すように、これに対応する信号OUTを最終的に出力する。
上記作用を実現するための合成回路12の具体的な詳細を図5に示す。
この実施の形態1の合成回路12は、第1のAND回路19、XOR回路20、第2のAND回路21、第1のJKフリップフロップ22、第3のAND回路23、第4のAND回路24、NOR回路(否定論理和回路)25、および第2のJKフリップフロップ26を備える。
この実施の形態1の合成回路12は、第1のAND回路19、XOR回路20、第2のAND回路21、第1のJKフリップフロップ22、第3のAND回路23、第4のAND回路24、NOR回路(否定論理和回路)25、および第2のJKフリップフロップ26を備える。
第1のAND回路19は、第1の立上がり及び立下がり検知回路11aから出力されるパルス信号L−XORと第2のJKフリップフロップ26から出力される後述のパルス信号Trigとが共に入力されたとき(すなわち両者共に“H”のとき)にその出力が“H”になる。
第1のAND回路19にパルス信号L_XORとパルス信号Trigが共に入力され(すなわち両者ともに“H”)、かつ第2の立上がり及び立下がり検知回路11bからパルス信号H−XORが出力されない場合(つまり増幅器2の出力Iampが上限しきい値Hshを越えない状態にある場合)には、XOR回路20の出力は“H”になるので、第2のAND回路21の出力も“H”となる。これに対して、第1のAND回路19にパルス信号L_XORとパルス信号Trigが共に入力されても、第2の立上がり及び立下がり検知回路11bからパルス信号H−XORが出力される場合(つまり増幅器2の出力Iampが上限しきい値Hshを越えた場合)には、XOR回路20の出力は“L”になるので、第2のAND回路21の出力も“L”となる。
第1のJKフリップフロップ22には、J入力端子とK入力端子に共に第2のAND回路21の出力が入力され、またサンプリング端子Tに水晶発振器10からのクロックパルスCLKが入力される。そのため、第1のJKフリップフロップ22は、第2のAND回路21の出力が“H”の状態で、クロックパルスCLKが入力されるたびに(具体的にはクロックパルスCLKが立ち下るタイミングで)これに応じてその出力端子Qからその都度レベル反転する図6(j)に示すようなパルス信号OUTを出力する。
第3のAND回路23は、図6(g)に示すように、第1の立上がり及び立下がり検知回路11aから出力されるパルス信号L−XORの内から、第1の波高検出回路3aからの第1の波高検出信号IN−LOの立上がりに応じて発生されるパルス信号を抽出して抽出パルスSaを出力する。
第4のAND回路24およびNOR回路(否定論理和回路)25は、第1の立上がり及び立下がり検知回路11aから出力されるパルス信号L−XORの内から、第1の波高検出回路3aの第1の波高検出信号IN−LOの立下がりに応じて出力されるパルス信号を抽出するとともに、第2の立上がり及び立下がり検知回路11bから出力されるパルス信号H−XORを抽出して、図6(h)に示すような抽出パルスSbを出力する。
第2のJKフリップフロップ26には、第3のAND回路23から出力される抽出パルスSaがJ入力端子に、NOR回路25から出力される抽出パルスSbがK入力端子に、サンプリング端子Tに水晶発振器10からのクロックパルスCLKが入力される。そのため、第2のJKフリップフロップ26は、図7に示すような真理値表に従い、クロックパルスCLKが入力されるたびに(具体的にはクロックパルスCLKが立ち下るタイミングで)、これに応じて出力端子Qから図6(i)に示すようなパルス信号Trigを出力する。
例えば、図7において、第3のAND回路23の出力の抽出パルスSaが“H”で、かつ、NOR回路25の出力の抽出パルスSbが“L”の場合には、クロックパルスCLKの立下がりのタイミングでパルス信号Trigは立上がり、第3のAND回路23の出力の抽出パルスSaが“L”で、かつ、NOR回路25の出力の抽出パルスSbが“H”の場合には、クロックパルスCLKの立下がりのタイミングでパルス信号Trigは立下がる。
このように、第1のJKフリップフロップ22の出力端子Qからは、図6(j)に示したように、増幅器2から出力される検出パルスIampの波高値が前述の上限しきい値Hshと下限しきい値Lshとの間にある場合にのみ、水晶発振器10からのクロックパルスCLKに同期して、これに対応してレベル反転する信号OUTが出力され、波高値が上限しきい値Hshと下限しきい値Lshの範囲から外れている場合には、第1のJKフリップフロップ22の出力端子Qからの出力OUTは阻止される。
以上のように、この実施の形態1の放射線計測装置は、放射線検出器1で得られる検出パルスに対して、その波高値が上限しきい値Lshと下限しきい値Hshの範囲内にある場合のみ水晶発振器10のクロックパルスに同期して抽出することができるので、常に安定的かつ確実に放射線の強さを計測することが可能となり、放射線計測の検出精度が高まる。
実施の形態2.
図8は実施の形態2による放射線計測装置の概略構成を示すブロック図であり、図4に示した実施の形態1の放射線計測装置と対応もしくは相当する構成部分には同一の符号を付す。また、図9は実施の形態2による放射線計測装置のパルス幅検知回路の詳細を示すブロック図である。
図8は実施の形態2による放射線計測装置の概略構成を示すブロック図であり、図4に示した実施の形態1の放射線計測装置と対応もしくは相当する構成部分には同一の符号を付す。また、図9は実施の形態2による放射線計測装置のパルス幅検知回路の詳細を示すブロック図である。
放射線検出器1で得られる検出パルスのパルス幅は物理現象によって決まっており、増幅器2で増幅した後の検出パルスIampのパルス幅Wが予め設定されたしきい値Wshよりも大きければノイズと考えられる。このようなノイズの発生要因としては、放射線検出器1とそれよりも後段の各種の信号処理回路間を接続するケーブルへの重畳ノイズなどが想定される。
そこで、この実施の形態2では、第1の波高検出回路から出力される第1の波高検出信号IN−LOのパルス幅Wを予め許容可能なパルス幅として予め設定した一定のしきい値Wshと比較し、第1の波高検出信号IN−LOのパルス幅Wがしきい値Wshよりも大きい場合(W>Wsh)には合成回路12のパルス出力OUTを阻止するパルス幅検知回路13を設けている。
パルス幅検知回路13の具体例としては、図9に示すように、カウンタ回路31、パルス幅設定器32、およびコンパレータ回路33を備えて構成されている。
そして、カウンタ回路31によって、第1の波高検出回路3aから出力される第1の波高検出信号IN−LOが“H”の期間に水晶発振器10からのクロックパルスCLKをカウントし(これは第1の波高検出信号IN−LOのパルス幅Wに相当する)、このカウントされたカウント値Cとパルス幅設定器32で予め設定されたカウント値Csh(これは許容可能として設定された一定のしきい値Wshに相当する)とをコンパレータ回路33で比較する。
そして、カウンタ回路31によって、第1の波高検出回路3aから出力される第1の波高検出信号IN−LOが“H”の期間に水晶発振器10からのクロックパルスCLKをカウントし(これは第1の波高検出信号IN−LOのパルス幅Wに相当する)、このカウントされたカウント値Cとパルス幅設定器32で予め設定されたカウント値Csh(これは許容可能として設定された一定のしきい値Wshに相当する)とをコンパレータ回路33で比較する。
そして、カウンタ回路31のカウント値Cがパルス幅設定器32で予め設定されたカウント値Cshよりも小さい場合(すなわち、W≦Wshの場合)には“H”の信号を発生し、カウント値Cが上記カウント値Cshよりも大きい場合(すなわち、W>Wshの場合)には“L”の信号を発生して、これらの信号を合成回路12(具体的には、第2のAND回路21)に出力する。
これにより、パルス幅検知回路13の出力が“H”の場合、すなわち放射線検出器1から増幅器2を経由して得られる検出パルスIampのパルス幅Wが予め設定されたしきい値Wshよりも小さい(W≦Wsh)場合には、合成回路12のパルス出力OUTが許容されるが、パルス幅検知回路13の出力が“L”の場合、すなわち放射線検出器1から増幅器2を経由して得られる検出パルスIampのパルス幅Wが予め設定されたしきい値Wshよりも大きい(W>Wsh)場合には、ノイズと見做して合成回路12のパルス出力OUTが阻止される。
その他の構成、作用効果は、実施の形態1の場合と同様であるから、ここでは詳しい説明は省略する。
その他の構成、作用効果は、実施の形態1の場合と同様であるから、ここでは詳しい説明は省略する。
以上のように、この実施の形態2では、検出パルスIampに含まれる余分なノイズ成分まで抽出されるのを確実に防止でき、実施の形態1の場合よりもさらに精度良く放射線の強さを計測することが可能となる。
なお、本願は、様々な例示的な実施の形態が記載されているが、一つ、または複数の実施の形態に記載された様々な特徴、態様、および機能は特定の実施の形態の適用に限られるものではなく、単独で、または様々な組み合わせで実施の形態に適用可能である。
したがって、例示されていない無数の変形例が、本願に開示される技術の範囲内において想定される。例えば、少なくとも一つの構成要素を変形する場合、追加する場合、または省略する場合、さらには、少なくとも一つの構成要素を抽出し、他の実施の形態の構成要素と組み合わせる場合が含まれるものとする。
1 放射線検出器、2 増幅器、3a 第1の波高検出回路、3b 第2の波高検出回路、10 水晶発振器、11a 第1の立上がり及び立下がり検知回路、11b 第2の立上がり及び立下がり検知回路、12 合成回路、13 パルス幅検知回路、Lsh 下限しきい値、Hsh 上限しきい値。
Claims (2)
- 放射線検出器から出力される検出パルスが、下限しきい値Lshよりも大きくなった場合に立上がり、上記下限しきい値Lshよりも小さくなった場合に立下がる第1の波高検出信号を出力する第1の波高検出回路と、
上記放射線検出器から出力される上記検出パルスが、上記下限しきい値Lshよりも大きな値である上限しきい値Hshよりも大きくなった場合に立上がり、上記上限しきい値Hshよりも小さくなった場合に立下がる第2の波高検出信号を出力する第2の波高検出回路と、
一定周期のクロックパルスを発生する水晶発振器と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第1の波高検出回路から出力される上記第1の波高検出信号の立上がりおよび立下がりエッジを共に検知する第1の立上がり及び立下がり検知回路と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第2の波高検出回路から出力される上記第2の波高検出信号の立上がりおよび立下がりエッジを共に検知する第2の立上がり及び立下がり検知回路と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第1の立上がり及び立下がり検知回路からの出力ならびに上記第2の立上がり及び立下がり検知回路からの出力を合成して上記下限しきい値Lshと上記上限しきい値Hshとの間の範囲にある上記検出パルスに対応した信号を出力する合成回路と、
を備える放射線計測装置。 - 上記第1の波高検出回路から出力される上記第1の波高検出信号のパルス幅を予め設定された一定のしきい値と比較し、上記第1の波高検出信号のパルス幅が予め設定された上記しきい値よりも大きい場合には上記合成回路からの信号出力を阻止するパルス幅検知回路を備える請求項1に記載の放射線計測装置。
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